IEC 61193-1:2001

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61193-1
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2001-12
Système d'assurance de la qualité –
Partie 1:
Enregistrement et analyse des défauts
sur les cartes imprimées équipées
Quality assessment systems –
Part 1:
Registration and analysis of defects
on printed board assemblies
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61193-1:2001
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
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avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
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Email: custserv@iec.ch
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Tél: +41 22 919 02 11
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Fax: +41 22 919 03 00
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61193-1
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2001-12
Système d'assurance de la qualité –
Partie 1:
Enregistrement et analyse des défauts
sur les cartes imprimées équipées
Quality assessment systems –
Part 1:
Registration and analysis of defects
on printed board assemblies
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utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, any form or by any means, electronic or mechanical,
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Commission Electrotechnique Internationale
S
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International Electrotechnical Commission
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For price, see current catalogue

– 2 – 61193-1 © CEI:2001
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4
INTRODUCTION.8
1 Domaine d'application .10
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .12
4 Enregistrement des défauts .18
4.1 Critères d'acceptation.18
4.2 Comptage des défauts.18
4.3 Enregistrement des défauts après brasage.20
4.3.1 Défauts trouvés après essai .20
4.4 Catégories de défauts .20
4.4.1 Origine des défauts .20
4.4.2 Formulaire d'enregistrement des défauts .20
4.5 Retouches immédiates pour le brasage .22
4.6 Enregistrement des catégories de défauts.22
5 Traitement des données .22
6 Analyse .24
Annexe A (normative)  Processus élémentaires .26
Annexe B (informative)  Exemples de définitions de défauts de produit.28
Annexe C (informative)  Exemples de calculs.32
Annexe D (informative)  Exemple d'enregistrement de défauts et de traitement de
données.36
Figure B.1 – Enregistrement des défauts .30
Figure D.1 – Les données de la notation de défauts.36
Figure D.2 – Classement en type de défaut .38
Figure D.3 – Classement en type de composant .38
Figure D.4 – Classement en source de défaut.38
Figure D.5 – Niveau de ppm de la carte imprimée A au cours des 10 derniers jours
de production.40
Figure D.6 – Niveau de ppm de la production par type de carte .40
Tableau A.1 – Descriptions pour les processus élémentaires.26
Tableau C.1 – Exemple 1 (vérification à 100 %).32
Tableau C.2 – Exemple 2 (vérification aléatoire) .34
Tableau D.1 – Trois sous-divisions .38

61193-1 © IEC:2001 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.9
1 Scope.11
2 Normative references .11
3 Terms and definitions .13
4 Defect registration .19
4.1 Accept criteria .19
4.2 Counting of defects .19
4.3 Post-soldering defect registration .21
4.3.1 Defects found after testing.21
4.4 Defect subdivision .21
4.4.1 Defect sources .21
4.4.2 Defect registration form .21
4.5 Rework immediately prior to soldering .23
4.6 Defect data categories .23
5 Processing the data.23
6 Analysis.25
Annex A (normative)  Subprocesses .27
Annex B (informative)  Examples of product defect qualification .29
Annex C (informative) Examples of calculations.33
Annex D (informative)  Example of registration of defects and processing of the data .37
Figure B.1 – Registration of defects .31
Figure D.1 – Data for defect registration .37
Figure D.2 – Subdivision into type of defect .39
Figure D.3 – Subdivision into type of component.39
Figure D.4 – Subdivision into defect source .39
Figure D.5 – ppm level printed board A, of the past 10 production days .41
Figure D.6 – ppm levels of the production per type of board.41
Table A.1 – Descriptions for subprocesses .27
Table C.1 – Example 1 (100 % check) .33
Table C.2 – Example 2 (random check) .35
Table D.1 – Three subdivisions.39

– 4 – 61193-1 © CEI:2001
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
SYSTÈME D'ASSURANCE DE LA QUALITÉ –
Partie 1: Enregistrement et analyse des défauts
sur les cartes imprimées équipées
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les d
...