IEC 61967-4:2002/AMD1:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61967-4
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
2006-02
Amendement 1
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

Amendment 1
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 Ω/150 Ω direct coupling method
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G
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE
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– 2 – 61967-4 Amend. 1  CEI:2006
AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le sous-comité 47A: Circuits intégrés, du comité
d'études 47 de la CEI: Dispositifs à semiconducteurs.
Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
47A/735/FDIS 47A/743/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
Le comité a décidé que le contenu de cet amendement et de la publication de base ne sera
pas modifié avant la date de maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous
"http://webstore.iec.ch" dans les données relatives à la publication recherchée. A cette date,
la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
_____________
Page 2
SOMMAIRE
Ajouter le nouveau titre d'annexe suivant:
Annexe F (informative) Réseaux de couplage directs 150 Ω pour mesures d’émission en
mode commun des CI de transfert de données en mode différentiel et circuits analogues
Page 4
Ajouter les nouveaux titres de figures suivants:
Figure F.1 – Couplage direct de base pour mesures CEM en mode commun
Figure F.2 – Montage de mesure pour la mesure de S21 du couplage en mode commun
Figure F.3 – Utilisation d’une terminaison de charge divisée comme couplage pour
l’équipement de mesure
Figure F.4 – Utilisation d’une terminaison de charge divisée comme couplage pour
l’équipement de mesure
Figure F.5 – Exemple d’une adaptation acceptable pour les exigences spéciales de réseau

61967-4 Amend. 1  IEC:2006 – 3 –
FOREWORD
This amendment has been prepared by subcommittee 47A: Integrated circuits, of IEC
technical committee 47:Semiconductor devices.
The text of this amendment is based on the following documents:
FDIS Report on voting
47A/735/FDIS 47A/743/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of this amendment and the base publication will
remain unchanged until the maintenance result date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
_____________
Page 3
CONTENTS
Add the following new annex title:
Annex F (informative) 150 Ω direct coupling networks for common mode emission
measurements of differential mode data transfer ICs and similar circuits

Page 5
Add the following new figure titles:
Figure F.1 – Basic direct coupling for common mode EMC measurements
Figure F.2 – Measurement set-up for the S21 measurement of the common-mode coupling
Figure F.3 – Using split load termination as coupling for measuring equipment
Figure F.4 – Using split load termination as coupling for measuring equipment
Figure F.5 – Example of an acceptable adaptation for special network requirements

– 4 – 61967-4 Amend. 1  CEI:2006
Page 10
2 Références normatives
Remplacer les références de la CISPR 16-1 par les suivantes:
CISPR 16-1-1, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-1: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
– Appareils de mesure
CISPR 16-1-2, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-2: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
– Matériels auxiliaires – Perturbations conduites
CISPR 16-1-3, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-3: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
– Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice
CISPR 16-1-4, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-4: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
– Matériels auxiliaires – Perturbations rayonnées
CISPR 16-1-5, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-5: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
– Emplacements d'essai pour l'étalonnage des antennes de 30 MHz à 1 000 MHz

Page 56
Ajouter, après l’Annexe E, la nouvelle Annexe F suivante:

61967-4 Amend. 1  IEC:2006 – 5 –
Page 11
2 Normative references
Replace the reference to CISPR 16-1 by the following:
CISPR 16-1-1, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Measuring
apparatus
CISPR 16-1-2, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Conducted disturbances
CISPR 16-1-3, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Disturbance power
CISPR 16-1-4, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Radiated disturbances
CISPR 16-1-5, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-5: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Antenna
calibration test sites for 30 MHz to 1 000 MHz

Page 57
Add, after Annex E, the following new Annex F:

– 6 – 61967-4 Amend. 1  CEI:2006
Annexe F
(informative)
Réseaux de couplage directs 150 Ω pour mesures d’émission
en mode commun des CI de transfert de données en mode différentiel
et circuits analogues
F.1 Réseau de couplage direct de base
La Figure F.1 illustre le circuit de base d’un réseau de couplage. Les résistances R4, R5 et
R6 représentent les résistances terminales qui peuvent être nécessaires pour faire
fonctionner le DEE de façon appropriée. Elles peuvent également être incorporées dans le
réseau de couplage en totalité ou en partie le cas échéant. Des exemples sont illustrés plus
loin (voir F.2, F.3 et F.4).
NOTE D’autres types de réseaux de couplage par exemple des transformateurs-z et des coupleurs adaptés tels
que définis dans la série CISPR 16-1 peuvent être également utilisés.

Connecteur SMB
C1 R1
C Port 2
A
240 Ω
DEE
Port 1
240 Ω
B
Résistance
C2
R2
d’entrée 50 Ω
V
R3
3,3 nF chacun
du récepteur
d’essai
IEC  2627/05
Figure F.1 – Couplage direct de base pour mesures CEM en mode commun
Les connexions A et B ont été reliées au DEE au cours des mesures d’émission ou
d’immunité. Pour la mesure d’émission, un récepteur de mesures est relié à la connexion C.
Par défaut, les valeurs de résistances R1, R2 seront choisies pour représenter une charge de
150 Ω en mode commun ainsi que R3 en connexion parallèle avec l’impédance d’entrée du
récepteur d’essai. Les tolérances d’impédance en mode commun de la CEI 61000-4-6 doivent
s’appliquer.
R1 et R2 doivent s’adapter de près. Par défaut, la tolérance d’adaptation doit être meilleure
–3
que 10 . La valeur de C1 et de C2 est d’environ la moitié de la valeur du condensateur
utilisé pour un montage de mesure sur broche unique. C1 et C2 doivent également être
apairées. Du fait que l’impédance de C1 et C2 doit être petite devant R1 et R2
respectivement, la tolérance d’adaptation peut ne pas être aussi étroite qu’avec les
–2
résistances. Par défaut pour C1 et C2 une tolérance d’adaptation meilleure que 10 est
suffisante.
La valeur absolue de R1 et R2 peut être modifiée si nécessaire pour une fonction appropriée
du CI ou d’autres besoins. Dans ce cas, les nouvelles valeurs doivent être présentées dans le
rapport d’essai et la spécification d’essai, ainsi que la mesure de S21 et le calcul de S21.

R5 R4
R6
51 Ω
61967-4 Amend. 1  IEC:2006 – 7 –
Annex F
(informat
...