IEC 62228-7:2022
(Main)Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 7: CXPI transceivers
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 7: CXPI transceivers
IEC 62228-7:2022 specifies test and measurement methods for the EMC evaluation of CXPI transceiver ICs under network condition. It defines test configurations, test conditions, test signals, failure criteria, test procedures, test setups and test boards. This specification is applicable for standard CXPI transceiver ICs and ICs with embedded CXPI transceiver and covers
the emission of RF disturbances,
the immunity against RF disturbances,
the immunity against impulses and
the immunity against electrostatic discharges (ESD).
Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 7: Émetteurs-récepteurs CXPI
L’IEC 62228-7:2022 spécifie les méthodes d’essai et de mesure pour l’évaluation de la compatibilité électromagnétique (CEM) des circuits intégrés émetteurs-récepteurs CXPI placés en réseau. Elle définit les configurations d’essai, les conditions d’essai, les signaux d’essai, les critères de défaillance, les modes opératoires d’essai, les montages d’essai et les cartes d’essai. La présente spécification s’applique aux circuits intégrés émetteurs-récepteurs CXPI standard et aux circuits intégrés avec émetteur-récepteur CXPI intégré, et couvre:
l’émission de perturbations radioélectriques;
l’immunité aux perturbations radioélectriques;
l’immunité aux transitoires électriques;
l’immunité aux décharges électrostatiques (DES).
General Information
Standards Content (Sample)
IEC 62228-7 ®
Edition 1.0 2022-02
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
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inside
Integrated circuits – EMC evaluation of transceivers –
Part 7: CXPI transceivers
Circuits intégrés – Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs –
Partie 7: Émetteurs-récepteurs CXPI
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IEC 62228-7 ®
Edition 1.0 2022-02
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Integrated circuits – EMC evaluation of transceivers –
Part 7: CXPI transceivers
Circuits intégrés – Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs –
Partie 7: Émetteurs-récepteurs CXPI
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 31.200 ISBN 978-2-8322-1083-2
– 2 – IEC 62228-7:2022 © IEC 2022
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope . 7
2 Normative references . 7
3 Terms, definitions and abbreviated terms . 8
3.1 Terms and definitions . 8
3.2 Abbreviated terms . 8
4 General . 9
5 Test and operating conditions . 11
5.1 Supply and ambient conditions. 11
5.2 Test operation modes . 11
5.3 Test configuration . 12
5.3.1 General test configuration for functional test . 12
5.3.2 General test configuration for unpowered ESD test . 13
5.3.3 Coupling ports and coupling networks for functional tests . 13
5.3.4 Coupling ports and coupling networks for unpowered ESD tests . 14
5.3.5 Power supply with decoupling network . 15
5.4 Test signals . 15
5.4.1 General . 15
5.4.2 Test signals for normal operation mode . 15
5.4.3 Test signal for wake-up from sleep mode . 17
5.5 Evaluation criteria . 18
5.5.1 General . 18
5.5.2 Evaluation criteria in functional operation modes during exposure to
disturbances . 18
5.5.3 Evaluation criteria in unpowered condition after exposure to
disturbances . 20
5.5.4 Status classes . 21
6 Test and measurement . 21
6.1 Emission of RF disturbances . 21
6.1.1 Test method . 21
6.1.2 Test setup . 21
6.1.3 Test procedure and parameters . 22
6.2 Immunity to RF disturbances . 22
6.2.1 Test method . 22
6.2.2 Test setup . 23
6.2.3 Test procedure and parameters . 24
6.3 Immunity to impulses . 26
6.3.1 Test method . 26
6.3.2 Test setup . 26
6.3.3 Test procedure and parameters . 27
6.4 Electrostatic discharge (ESD) . 30
6.4.1 Test method . 30
6.4.2 Test setup . 30
6.4.3 Test procedure and parameters . 32
7 Test report . 32
Annex A (normative) CXPI test circuits . 33
A.1 General . 33
A.2 CXPI test circuit for functional tests on standard type-A CXPI transceiver ICs . 33
A.3 CXPI test circuit for functional tests on standard type-B CXPI transceiver ICs . 36
A.4 CXPI test circuit for functional tests on ICs with embedded CXPI transceiver . 38
A.5 CXPI test circuit for unpowered ESD test on a standard type-A CXPI
transceiver IC . 39
A.6 CXPI test circuit for unpowered ESD test on a standard type-B CXPI
transceiver IC . 40
Annex B (normative) Test circuit boards. 42
B.1 Test circuit board for functional tests . 42
B.2 ESD test . 43
Annex C (informative) Examples for test limits for CXPI transceiver in automotive
application . 44
C.1 General . 44
C.2 Emission of RF disturbances . 44
C.3 Immunity to RF disturbances . 44
C.4 Immunity to impulse . 44
C.5 Electrostatic discharge (ESD) . 44
Annex D (informative) Example of setting for test signals . 45
Annex E (informative) Points to note for impulse immunity measurement for functional
status class A . 47
IC
E.1 General . 47
E.2 Points to note when testing Pulse 1 . 47
Bibliography . 49
Figure 1 – PHY sub-layers overview and CXPI transceiver types . 10
Figure 2 – General test configuration for tests in functional operation modes . 12
Figure 3 – General test configuration for unpowered ESD test . 13
Figure 4 – Coupling ports and networks for functional tests . 13
Figure 5 – Coupling ports and networks for unpowered ESD tests . 14
Figure 6 – Principal drawing of the maximum deviation in the I-V characteristic . 20
Fig
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.