IEC 60748-1:2002

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60748-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2002-05
Dispositifs à semiconducteurs –
Circuits intégrés –
Partie 1:
Généralités
Semiconductor devices –
Integrated circuits –
Part 1:
General
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60748-1:2002
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
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Tél: +41 22 919 02 11
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Fax: +41 22 919 03 00
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60748-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2002-05
Dispositifs à semiconducteurs –
Circuits intégrés –
Partie 1:
Généralités
Semiconductor devices –
Integrated circuits –
Part 1:
General
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U
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International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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For price, see current catalogue

– 2 – 60748-1 © CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4
1 Domaine d'application et objet .6
2 Références normatives .6
3 Présentation et prescriptions relatives à la série CEI 60748.6
4 Terminologie.6
4.1 Termes généraux .8
4.2 Types de dispositifs .10
4.3 Caractéristiques d'écrêtage des circuits intégrés.14
4.4 Concepts technologiques.14
4.5 Types particuliers de circuits intégrés .16
5 Symboles littéraux .18
5.1 Lettres fondamentales .18
5.2 Indices pour les circuits intégrés digitaux .18
5.3 Indices pour les circuits intégrés analogiques.22
6 Valeurs limites et caractéristiques essentielles.22
6.1 Introduction .22
6.2 Format cadre pour la présentation des données publiées .22
6.3 Méthode pour la description des valeurs limites et caractéristiques essentielles
et de la spécification de fonction des circuits intégrés .22
6.4 Définitions .26
6.5 Définitions des conditions de refroidissement.26
6.6 Liste des températures préférentielles .26
6.7 Liste des tensions préférentielles .26
6.8 Valeurs limites et caractéristiques mécaniques et autres données.28
6.9 Dispersion et conformité de la production.28
6.10 Câblages et circuits imprimés .28
6.11 Schéma général pour tous les types de circuits intégrés.28
7 Méthodes de mesure .44
7.1 Exigences générales.44
7.2 Exigences spécifiques aux méthodes de mesure.44
7.3 Système de numérotation pour les méthodes de mesure.44
8 Réception et fiabilité des circuits intégrés.50
8.1 Remarques générales.50
8.2 Principes généraux .50
8.3 Essais d'endurance électrique.50
9 Dispositifs sensibles aux charges électrostatiques .56
Figure 1 – Exemples montrant l’utilisation des indices A et B .20
Figure 2 – Exemple de blocs fonctionnels unitaires.24

60748-1 © IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
1 Scope and object.7
2 Normative references .7
3 Presentation and requirements of the IEC 60748 series .7
4 Terminology .7
4.1 General terms .9
4.2 Types of devices .11
4.3 Clamping characteristics of integrated circuits.15
4.4 Technological concepts .15
4.5 Particular device types of integrated circuits.17
5 Letter symbols.19
5.1 Basic letters .19
5.2 Subscripts for digital integrated circuits .19
5.3 Subscripts for analogue integrated circuits .23
6 Essential ratings and characteristics.23
6.1 Introduction .23
6.2 Standard format for the presentation of published data.23
6.3 Method for describing essential ratings and characteristics and function
specification of integrated circuits.23
6.4 Definitions .27
6.5 Definitions of cooling conditions .27
6.6 List of preferred temperatures .27
6.7 List of preferred voltages.27
6.8 Mechanical ratings, characteristics and other data .29
6.9 Production spread and compliance.29
6.10 Printed wiring and printed circuits.29
6.11 General scheme for all types of integrated circuits .29
7 Measuring methods .45
7.1 Basic requirements.45
7.2 Specific requirements on the measuring methods.45
7.3 Numbering system for measuring methods .45
8 Acceptance and reliability of integrated circuits .51
8.1 General remarks.51
8.2 General principles .51
8.3 Electrical endurance tests .51
9 Electrostatic sensitive devices .57
Figure 1 – Examples showing the use of subscripts A and B.21
Figure 2 – Example of unitary functional blocks .25

– 4 – 60748-1 © CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
__________
DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS –
CIRCUITS INTÉGRÉS –
Partie 1: Généralités
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toute
...