IEC 61788-1:2006
(Main)Superconductivity - Part 1: Critical current measurement - DC critical current of Nb-Ti composite superconductors
Superconductivity - Part 1: Critical current measurement - DC critical current of Nb-Ti composite superconductors
This part of IEC 61788 covers a test method for the determination of the d.c. critical current of either Cu/Nb-Ti composite superconductors that have a copper/superconductor ratio larger than 1 or Cu/Cu-Ni/Nb-Ti wires that have a copper/superconductor ratio larger than 0,9 and a copper alloy (Cu-Ni)/superconductor ratio larger than 0,2, where the diameter of Nb-Ti superconducting filaments is larger than 1 micrometre. The changes for the Cu/Cu-Ni/Nb-Ti are described in Annex C. The Cu-Ni uses all of the main part of the standard with the exceptions listed in Annex C that replace (and in some cases are counter to) some of the steps inthe main text. This method is intended for use with superconductors that have critical currents less than 1 000 A and n-values larger than 12, under standard test conditions and at magnetic fields less than or equal to 0,7 of the upper critical magnetic field. The test specimen is immersed in a liquid helium bath at a known temperature during testing. The test conductor has a monolithic structure with a round or rectangular cross-sectional area that is less than 2 mm2. The specimen geometry used in this test method is an inductively coiled specimen. Deviations from this test method that are allowed for routine tests and other specific restrictions are given in this standard. Test conductors with critical currents above 1 000 A or cross-sectional areas greater than 2 mm2 could be measured with the present method with an anticipated increase in uncertainty and a more significant self-field effect (see Annex B). Other, more specialized, specimen test geometries may be more appropriate for larger conductor testing which have been omitted from this present standard for simplicity and to retain a lower uncertainty. The test method given in this standard is expected to apply to other superconducting composite wires after some appropriate modifications.
Supraconductivité - Partie 1: Mesure du courant critique - Courant critique continu de supraconducteurs en composite Nb-Ti
Cette partie de la CEI 61788 couvre une méthode d'essai pour la détermination du courant critique continu des supraconducteurs en composite Cu/Nb-Ti qui ont un rapport cuivre/supraconducteur supérieur à 1 ou des fils Cu/Cu-Ni/Nb-Ti qui ont un rapport cuivre/ supraconducteur supérieur à 0,9 et un alliage cuivre (Cu-Ni)/supraconducteur supérieur à 0,2, où le diamètre des filaments supraconducteurs Nb-Ti est supérieur à 1 micromètre. Les modifications pour les Cu/Cu-Ni/Nb-Ti sont décrites dans l' Annexe C. Les Cu-Ni pourront faire référence aux parties principales de cette norme avec les exceptions listées dans l'Annexe C qui remplacent (et dans certains cas contredisent) certaines étapes du texte principal. La présente méthode est destinée à être utilisée avec des supraconducteurs caractérisés par des courants critiques inférieurs à 1 000 A et des valeurs n supérieures à 12, dans des conditions d'essai normalisées et avec des champs magnétiques inférieurs ou égaux à 0,7 fois la valeur du champ magnétique critique le plus élevé. Le spécimen d'essai est immergé dans un bain d'hélium liquide à une température mesurée pendant l'essai. Le conducteur d'essai en composite Cu/Nb-Ti a une structure monolithique, avec une superficie de section ronde ou rectangulaire inférieure à 2 mm2. Le spécimen utilisé dans la présente méthode d'essai a la forme d'une bobine inductive. La présente norme présente les écarts par rapport à la méthode d'essai qui sont autorisés dans les essais de série, ainsi que d'autres restrictions spécifiques. Les conducteurs d'essai dont les courants critiques sont supérieurs à 1 000 A ou dont les superficies de section sont supérieures à 2 mm2 pourraient faire l'objet d'une mesure par la présente méthode, en prévoyant une augmentation de l'incertitude et avec un effet de champ induit plus important (voir Annexe B). Il est permis d'utiliser d'autres géométries de spécimen d'essai, plus spécialisées et mieux adaptées aux essais sur les conducteurs plus grands, qui ne sont pas incluses dans la présente norme, par souci de simplicité et pour réduire l'incertitude. La méthode d'essai décrite dans la présente norme est supposée adaptable à d'autres fils supraconducteurs en composite, après des modifications appropriées.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61788-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-11
Supraconductivité –
Partie 1:
Mesure du courant critique –
Courant critique continu de supraconducteurs
en composite Nb-Ti
Superconductivity –
Part 1:
Critical current measurement –
DC critical current of Nb-Ti composite
superconductors
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61788-1:2006
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61788-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-11
Supraconductivité –
Partie 1:
Mesure du courant critique –
Courant critique continu de supraconducteurs
en composite Nb-Ti
Superconductivity –
Part 1:
Critical current measurement –
DC critical current of Nb-Ti composite
superconductors
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– 2 – 61788-1 © CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4
INTRODUCTION.8
1 Domaine d’application .10
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .10
4 Principe.14
5 Exigences .14
6 Appareillage .16
6.1 Matériau du mandrin de mesurage .16
6.2 Construction du mandrin .16
7 Préparation du spécimen.18
7.1 Fixation du spécimen .18
7.2 Montage du spécimen .18
8 Procédure de mesure .20
9 Incertitude de la méthode d'essai .22
9.1 Courant critique.22
9.2 Température.22
9.3 Champ magnétique .22
9.4 Structure de support du spécimen et du mandrin.24
9.5 Protection du spécimen .24
10 Calcul des résultats .24
10.1 Critères de courant critique .24
10.2 Valeur n (calcul facultatif, se reporter à A.7.2).26
11 Compte rendu d'essai.28
11.1 Identification du spécimen d'essai .28
11.2 Compte rendu des valeurs I .28
c
11.3 Compte rendu des conditions d'essai .28
Annexe A (informative) Informations supplémentaires relatives à la norme .30
Annexe B (informative) Effet de champ induit.46
Annexe C (normative) Méthode d'essai pour les supraconducteurs composites
Cu/Cu-Ni/Nb-Ti .50
Annexe D (informative) Guide pour l'estimation de la force de traction d'enroulement.52
Bibliographie.56
Figure 1 – Caractéristique U-I intrinsèque.26
Figure 2 – Caractéristique U-I avec une composante de transfert de courant.26
Figure A.1 – Instrumentation du spécimen avec une paire de prises de tension nulle.44
Tableau D.1 – Valeurs typiques de E à température ambiante pour divers matériaux.54
61788-1 © IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.9
1 Scope.11
2 Normative references .11
3 Terms and definitions .11
4 Principle .15
5 Requirements .15
6 Apparatus.17
6.1 Measurement mandrel material .17
6.2 Mandrel construction .17
7 Specimen preparation.19
7.1 Specimen bonding.19
7.2 Specimen mounting.19
8 Measurement procedure.21
9 Uncertainty of the test method.23
9.1 Critical current.23
9.2 Temperature.23
9.3 Magnetic field.23
9.4 Specimen and mandrel support structure.25
9.5 Specimen protection.25
10 Calculation of results .25
10.1 Critical current criteria .25
10.2 n-value (optional calculation, refer to A.7.2) .27
11 Test report.29
11.1 Identification of test specimen .29
11.2 Report of I values .29
c
11.3 Report of test conditions.29
Annex A (informative) Additional information relating to the standard.31
Annex B (informative) Self-field effect.47
Annex C (normative) Test method for Cu/Cu-Ni/Nb-Ti composite superconductors .51
Annex D (informative) Guidance for estimating winding tensile force.53
Bibliography.57
Figure 1 – Intrinsic U-I characteristic .27
Figure 2 – U-I characteristic with a current transfer component.27
Figure A.1 – Instrumentation of specimen with a null voltage tap pair .45
Table D.1 – Typical values of E at room temperature for various materials .55
– 4 – 61788-1 © CEI:2006
COMMISSION ÉLECTR
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.