IEC 60748-21:1997

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60748-21
INTERNATIONAL
QC 760100
STANDARD
Deuxième édition
Second edition
1997-04
Dispositifs à semiconducteurs –
Circuits intégrés –
Partie 21:
Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés
à couches et les circuits intégrés hybrides à couches
sur la base des procédures d'homologation
Semiconductor devices –
Integrated circuits –
Part 21:
Sectional specification for film integrated circuits
and hybrid film integrated circuits on the basis
of the qualification approval procedures
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60748-21: 1997
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est cons- The technical content of IEC publications is kept under
tamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de constant review by the IEC, thus ensuring that the content
la technique. reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation de Information relating to the date of the reconfirmation of the
la publication sont disponibles auprès du Bureau Central de publication is available from the IEC Central Office.
la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements peuvent editions and amendments may be obtained from IEC
être obtenus auprès des Comités nationaux de la CEI et National Committees and from the following IEC
dans les documents ci-dessous: sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Publié annuellement Published yearly
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
Terminologie Terminology
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se For general terminology, readers are referred to IEC 50:
reportera à la CEI 50: Vocabulaire Electrotechnique Inter- International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is
national (VEI), qui se présente sous forme de chapitres issued in the form of separate chapters each dealing
séparés traitant chacun d'un sujet défini. Des détails with a specific field. Full details of the IEV will be
complets sur le VEI peuvent être obtenus sur demande. supplied on request. See also the IEC Multilingual
Voir également le dictionnaire multilingue de la CEI. Dictionary.
Les termes et définitions figurant dans la présente publi- The terms and definitions contained in the present publi-
cation ont été soit tirés du VEI, soit spécifiquement cation have either been taken from the IEV or have been
approuvés aux fins de cette publication. specifically approved for the purpose of this publication.
Symboles graphiques et littéraux Graphical and letter symbols
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les For graphical symbols, and letter symbols and signs
signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur approved by the IEC for general use, readers are referred to
consultera: publications:
– la CEI 27: Symboles littéraux à utiliser en – IEC 27: Letter symbols to be used in electrical
électrotechnique; technology;
– la CEI 417: Symboles graphiques utilisables – IEC 417: Graphical symbols for use on
sur le matériel. Index, relevé et compilation des equipment. Index, survey and compilation of the
feuilles individuelles; single sheets;
– la CEI 617: Symboles graphiques pour schémas; – IEC 617: Graphical symbols for diagrams;
et pour les appareils électromédicaux, and for medical electrical equipment,
– la CEI 878: Symboles graphiques pour – IEC 878: Graphical symbols for electromedical
équipements électriques en pratique médicale. equipment in medical practice.
Les symboles et signes contenus dans la présente publi- The symbols and signs contained in the present publication
cation ont été soit tirés de la CEI 27, de la CEI 417, de la have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617
CEI 617 et/ou de la CEI 878, soit spécifiquement approuvés and/or IEC 878, or have been specifically approved for the
aux fins de cette publication. purpose of this publication.
Publications de la CEI établies par le IEC publications prepared by the same
même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à la fin The attention of readers is drawn to the end pages of this
de cette publication, qui énumèrent les publications de la publication which list the IEC publications issued by the
CEI préparées par le comité d'études qui a établi la technical committee which has prepared the present
présente publication. publication.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
60748-21
INTERNATIONAL
QC 760100
STANDARD
Deuxième édition
Second edition
1997-04
Dispositifs à semiconducteurs –
Circuits intégrés –
Partie 21:
Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés
à couches et les circuits intégrés hybrides à couches
sur la base des procédures d'homologation
Semiconductor devices –
Integrated circuits –
Part 21:
Sectional specification for film integrated circuits
and hybrid film integrated circuits on the basis
of the qualification approval procedures
 IEC 1997 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée No part of this publication may be reproduced or utilized in
sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique any form or by any means, electronic or mechanical, including
ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans photocopying and microfilm, without permission in writing from
l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE S
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60748-21 © CEI:1997
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
Articles
1 Domaine d'application et objet . 6
2 Généralités, caractéristiques préférentielles, valeurs limites et sévérités
pour les essais d’environnement . 6
2.1 Références normatives. 6
2.2 Valeurs limites et caractéristiques préférentielles . 8
2.3 Informations à donner dans la spécification particulière . 8
3 Procédures d’homologation. 10
3.1 Modèles associés. 10
3.2 Homologation. 10
3.3 Niveaux d’assurance. 18
3.4 Nouvelle présentation des lots refusés (contrôle lot par lot) . 26
3.5 Etapes de fabrication dans une usine d’un fabricant agréé située
dans un pays qui n’est pas membre de la CEI . 28
4 Procédures d’essais et de mesures. 28
5 Tableaux pour la méthode B . 30
Tableaux
1 Programme d’essai pour procédure d’homologation pour la méthode A . 14
2 Niveaux d’assurance et critères d’acceptation pour l’homologation pour la méthode A 20
3 Niveaux d’assurance et critères d’acceptation pour le contrôle de conformité
de la qualité pour la méthode A. 22
4 Sélection . 26
5 Programme d’essai pour la procédure d’homologation pour la méthode B. 30
6 Niveaux d’assurance et critères d’acceptation pour procédure d’homologation
pour la méthode B . 34
7 Niveaux d’assurance et critères d’acceptation pour le contrôle de conformité
de la qualité pour la méthode B. 36

60748-21 © IEC:1997 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
Clause
1 Scope and object. 7
2 General, preferred characteristics, ratings and severities for environmental tests . 7
2.1 Normative references . 7
2.2 Preferred ratings and characteristics . 9
2.3 Information to be given in a detail specification . 9
3 Qualification approval procedures . 11
3.1 Structural similarity . 11
3.2 Qualification approval . 11
3.3 Assessment levels . 19
3.4 Resubmission of rejected lots (for lot-by-lot inspection) . 27
3.5 Manufacturing stages in a factory of an approved manufacturer
in a non-IEC member country. 29
4 Test and measurement procedures . 29
5 Tables of method B . 31
Tables
1 Test schedule for qualification approval for method A. 15
2 Assessment levels and acceptance criteria for qualification approval for method A. 21
3 Assessment levels and acceptance criteria for quality conformance inspection
for method A. 23
4 Screening. 27
5 Test schedule for qualification approval for method B. 31
6 Assessment levels and acceptance criteria for qualification approval for method B. 35
7 Assessment levels and acceptance criteria for qualify conformance inspection
for method B. 37

– 4 – 60748-21 © CEI:1997
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS –
CIRCUITS INTÉGRÉS –
Partie 21: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés
à couches et les circuits intégrés hybrides à couches
sur la base des procédures d'homologation
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
Internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité
national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et
non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore
étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord
entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la
mesure du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer
de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa
responsabilité n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme Internationale CEI 60748-21 a été établie par le sous-comité 47A: Circuits intégrés,
du comité d'études 47 de la CEI: Dispositifs à semiconducteurs.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1991 et constitue une
révision technique.
Cette norme est une spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à couches et les
circuits intégrés hybrides à couches sur la base des procédures d’homologation.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
47A/444/FDIS 47A/476/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Le numéro QC qui figure sur la page de couverture de la présente publication est le numéro de
spécification dans le système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques
(IECQ).
60748-21 © IEC:1997 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
SEMICONDUCTOR DEVICES –
INTEGRATED CIRCUITS –
Part 21: Sectional specification for film integrated circuits
and hybrid film integrated circuits on the basis of
the qualification approval procedures
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic
fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt
with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations
liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that
sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the
subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 60748-21 has been prepared by subcommittee 47A: Integrated
circuits, of IEC technical committee 47: Semiconductor devices.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1991 and constitutes a
technical revision.
This standard is a sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated
circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
47A/444/FDIS 47A/476/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number
in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ).

– 6 – 60748-21 © CEI:1997
DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS –
CIRCUITS INTÉGRÉS –
Partie 21: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés
à couches et les circuits intégrés hybrides à couches
sur la base des procédures d'homologation
1 Domaine d'application et objet
Cette spécification intermédiaire s'applique aux circuits intégrés à couches et aux circuits
intégrés hybrides à couches, en tant que circuits catalogue ou construits à la demande dont la
qualité est garantie sur les bases de procédures d'homologation.
L'objet de cette spécification est de prescrire des valeurs préférentielles pour les valeurs
limites et les caractéristiques, de choisir dans la spécification générique les méthodes d'essai
et de mesure appropriées, et de donner les exigences de contrôle à utiliser dans les
spécifications particulières des circuits intégrés à couches et des circuits intégrés hybrides à
couches, rédigées suivant cette spécification.
Le concept de valeurs préférentielles s’applique directement aux circuits catalogue mais pas
nécessairement à ceux fabriqués à la demande.
Les exigences et les sévérités des essais prescrits dans les spécifications particulières se
référant à cette spécification intermédiaire sont d'un niveau égal ou supérieur à celles de la
présente spécification, des niveaux inférieurs ne sont pas autorisés.
Une ou plusieurs spécifications particulières cadres sont associées à cette spécification,
chacune portant un numéro CEI. Une spécification particulière cadre, complétée conformément
au paragraphe 2.3 de cette spécification, constitue une spécification particulière. De telles
spécifications particulières sont utilisées pour l'octroi de l'homologation des circuits intégrés à
couches et des circuits intégrés hybrides à couches et le contrôle de la conformité de la qualité
en accord avec le Système IECQ.
NOTE – Pour les procédures d'essai deux alternatives sont possibles: Méthode A ou Méthode B; cependant il
n'est pas autorisé de changer de méthode entre les essais de la méthode A ou de la méthode B.
En général la méthode A convient mieux aux circuits intégrés à couches passifs alors que la méthode B
s'applique mieux aux circuits intégrés à couches à technologie à semiconducteurs.
2 Généralités, caractéristiques préférentielles, valeurs limites et sévérités
pour les essais d’environnement
2.1 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 60748.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de la
CEI 60748 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l’ISO possèdent le
registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 60063: 1963, Séries de valeurs normales pour résistances et condensateurs

60748-21 © IEC:1997 – 7 –
SEMICONDUCTOR DEVICES –
INTEGRATED CIRCUITS –
Part 21: Sectional specification for film integrated circuits
and hybrid film integrated circuits on the basis of
the qualification approval procedures
1 Scope and object
This sectional specification applies to film integrated circuits and hybrid film integrated circuits,
manufactured as catalogue circuits or as custom-built circuits whose quality is assessed on the
basis of qualification approval.
The object of this specification is to present preferred values for ratings and characteristics, to
select from the generic specification the appropriate tests and measuring methods and to give
general performance requirements to be used in detail specifications for film integrated circuits
and hybrid film integrated circuits derived from this specification.
The concept of preferred values is directly applicable to catalogue circuits but does not
necessarily apply to custom-built circuits.
Test severities and requirements prescribed in detail specifications referring to this sectional
specification are of equal or higher performance level, because lower performance levels are
not permitted.
Associated with this specification are one or more blank detail specifications, each referenced
by an IEC number. A blank detail specification which has been completed as specified in 2.3 of
this specification forms a detail specification. Such detail specifications are used for the
granting of qualification approval of film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
and quality conformance inspection in accordance with the IECQ system.
NOTE – For test procedures two alternatives are available: method A or method B. However, it is not permitted
to change the methods between tests of method A, respectively B. In general, method A is more suitable for
passive-component based film integrated circuits, whereas method B is more applicable to semiconductor
integrated circuit technology based film integrated circuits.
2 General, preferred characteristics, ratings and severities for environmental tests
2.1 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 60748. At the time of publication, the editions indicated
were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreements based
on this part of IEC 60748 are encouraged to investigate the possibility of applying the most
recent editions of the normative documents indicated below. Members of IEC and ISO maintain
registers of currently valid International Standards.
IEC 60063: 1963, Preferred number series for resistors and capacitors

– 8 – 60748-21 © CEI:1997
CEI 60748-20: 1988, Dispositifs à semiconducteurs – Circuits Intégrés – Partie 20: Spécification
générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches
CEI 60748-20-1: 1994, Dispositifs à semiconducteurs – Circuits Intégrés – Partie 20:
Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à
couches – Section 1: Exigence pour l’examen visuel interne
2.2 Valeurs limites et caractéristiques préférentielles
Les valeurs préférentielles des tensions et des courants sont données dans la CEI 60747-1;
pour les résistances et les condensateurs, les valeurs préférentielles sont données dans la
CEI 60063; pour les circuits construits à la demande, on peut choisir toutes les valeurs et
toutes les tolérances.
2.3 Informations à donner dans la spécification particulière
Les spécifications particulières doivent être dérivées de la spécification particulière cadre
applicable.
Les spécifications particulières ne doivent pas spécifier de sévérités inférieures à celles de la
spécification générique ou intermédiaire. Lorsque des exigences plus sévères sont introduites,
elles doivent être détaillées dans la spécification particulière et indiquées dans le programme
d'essais, par exemple par un astérisque.
NOTE – Les dimensions, caractéristiques et valeurs limites peuvent être présentées par commodité sous forme
de tableaux.
Les informations suivantes doivent être données dans chaque spécification particulière et les
valeurs mentionnées doivent être choisies de préférence dans l’article approprié de cette
spécification intermédiaire.
Chaque spécification particulière doit indiquer tous les essais et mesures exigés pour les
contrôles lot par lot et les essais périodiques. Elle doit comprendre au minimum les essais
applicables donnés dans cette spécification avec les méthodes et les sévérités.
2.3.1 Dessin d'encombrement et dimensions
Une représentation du circuit doit être donnée pour pouvoir facilement le reconnaître et le
comparer avec d'autres. Les dimensions et leurs tolérances associées, qui affectent
l'interchangeabilité et le montage, doivent être données dans la spécification particulière.
Toutes les dimensions doivent être indiquées en millimètres.
Des valeurs numériques doivent être normalement données pour la longueur, la largeur, la
hauteur du corps, l'espace entre les connexions ou, pour les types cylindriques, le diamètre du
corps, la longueur et le diamètre des connexions.
Si nécessaire, par exemple lorsqu'une spécification particulière couvre plusieurs boîtiers, les
dimensions et leurs tolérances associées doivent être présentées dans un tableau sous le
dessin.
Quand la configuration est différente de celle décrite plus haut, la spécification particulière doit
préciser les informations dimensionnelles pour décrire correctement le circuit.
2.3.2 Montage
La spécification particulière doit prescrire la méthode de montage pour une utilisation normale
et pour l'application des essais de vibrations et de secousses ou de chocs. La conception du
circuit peut être telle que des systèmes spéciaux de montage peuvent être exigés pour son
utilisation. Dans ce cas, la spécification particulière doit les prescrire et ils doivent être utilisés
pour les essais de vibrations et de secousses ou de chocs.

60748-21 © IEC:1997 – 9 –
IEC 60748-20: 1988, Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 20: Generic
specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits
IEC 60748-20-1: 1994, Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 20: Generic
specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits – Section 1:
Requirements for internal visual examination
2.2 Preferred ratings and characteristics
Preferred values of voltages and currents are given in IEC 60747-1; for resistors and
capacitors, preferred values are given in IEC 60063; for custom-built circuits, any values and
tolerances may be chosen.
2.3 Information to be given in a detail specification
Detail specifications shall be derived from the relevant blank detail specifications.
Detail specifications shall not specify severities inferior to those of the generic or sectional
specification. When more severe requirements are included, they shall be listed in the detail
specification and indicated in the test schedules, for example by an asterisk.
NOTE – The information given on dimensions, characteristics and ratings may, for convenience, be presented in
tabular form.
The following information shall be given in each detail specification and the values quoted shall
preferably be selected from those given in the appropriate clause of this sectional specification.
Each detail specification shall prescribe all the tests and measurements required for lot-by-lot
inspection and periodic testing. This shall, as a minimum, include the relevant tests given in
this specification with methods and severities.
2.3.1 Outline drawing and dimensions
There shall be an illustration of the circuit as an aid to easy recognition and for comparison of
the circuit with others. Dimensions and their associated tolerances, which affect interchange-
ability and mounting, shall be prescribed in the detail specifications. All dimensions shall be
stated in millimetres.
Normally, numerical values shall be given for length, width and height of the body, and the
termination spacing or, for cylindrical types, the body diameter and length and diameter of the
terminations.
When necessary, for example when in a detail specification more than one package is covered,
the dimensions and their associated tolerances shall be placed in a table below the drawing.
When the configuration is other than that described above, the detail specification shall state
such dimensional information so as to adequately describe the circuit.
2.3.2 Mounting
The detail specification shall prescribe the method of mounting to be applied for normal use
and for the application of the vibration, and the bump or shock tests. The design of the circuit
may be such that special mounting fixtures are required in its use. In this case, the detail
specification shall prescribe the mounting fixtures and they shall be used in the application of
the vibration, and bump or shock tests.

– 10 – 60748-21 © CEI:1997
2.3.3 Sévérités pour les essais climatiques et de robustesse mécanique
La spécification particulière doit spécifier la méthode d'essai et les sévérités appropriées
choisies dans la section 4 de la spécification générique.
2.3.4 Marquage
La spécification particulière doit spécifier le contenu du marquage sur le circuit et sur
l'emballage primaire. Les différences par rapport à 2.6 de la spécification générique doivent
être données avec précision.
2.3.5 Informations pour la commande
La spécification particulière doit indiquer que les informations suivantes sont exigées pour la
commande des circuits:
a) le type de circuit (par exemple circuit intégré hybride à couche épaisse);
b) le numéro et l'édition de la spécification particulière avec la référence du modèle et le
niveau d'assurance (s'il y a lieu);
c) la fonction du circuit (s'il y a lieu);
d) les caractéristiques fonctionnelles fondamentales avec leurs tolérances (s'il y a lieu)
2.3.6 Informations supplémentaires (non applicables aux exigences de contrôle)
La spécification particulière peut comporter des informations, qu'il n'est pas normalement
nécessaire de vérifier par la procédure de contrôle, telles que schémas, courbes, dessins et
notes nécessaires pour clarifier la spécification particulière.
3 Procédures d’homologation
Voir 3.5 de la spécification générique avec les détails suivants:
3.1 Modèles associés
Pour les essais d'endurance de la qualité, une association peut être utilisée si l'essai d'un type
représentatif donne au moins le même niveau de qualité pour les autres types qui lui sont
associés.
Le contrôleur du fabricant doit déclarer, avec l'accord de l'ONS, le plan d'association utilisé
dans son usine et le choix du ou des types représentatifs pour chaque groupe d'association.
Pour la procédure d'homologation, deux ou plusieurs circuits peuvent être considérés comme
associables et donc le nombre de spécimens exigé pour un essai doit être choisi dans la
production de l'ensemble, s'ils ont le même type de fonction, utilisent les mêmes règles de
conception, matériaux, procédés et méthodes (par exemple: une série d'atténuateurs à
couches épaisses à cellules en T utilisant la même catégorie d'encre, ou des convertisseurs
numériques/analogiques à couches minces utilisant le même matériau de couche et la même
série de composants rapportés provenant du même fournisseur).
Pour l'examen visuel, le marquage, les dimensions, l'étanchéité, la soudabilité, la robustesse
des sorties, une encapsulation identique sont les seules conditions exigées. Des boîtiers vides
et/ou des pièces non conformes électriquement peuvent être utilisés.
3.2 Homologation
Les procédures pour les essais d'homologation sont données en 3.5 de la spécification
générique.
60748-21 © IEC:1997 – 11 –
2.3.3 Severities for environmental tests
The detail specification shall prescribe the appropriate method of testing and the appropriate
severities selected from section 4 of the generic specification.
2.3.4 Marking
The detail specification shall prescribe the content of the marking on the circuit and on the
primary package. Deviations from 2.6 of the generic specification shall be specifically stated.
2.3.5 Ordering information
The detail specification shall prescribe that the following information is required when ordering
circuits:
a) circuit type (for example, hybrid thick film integrated circuit);
b) number and issue of the detail specification with style reference and assessment level (if
appropriate);
c) function of the circuit (if appropriate);
d) basic functional characteristics with tolerance (if appropriate).
2.3.6 Additional information (not for inspection purposes)
The detail specification may include information which is not normally required to be verified by
the inspection procedure, such as circuit diagrams, curves, drawings and notes needed for
clarification.
3 Qualification approval procedures
See 3.5 of the generic specification with the following details
3.1 Structural similarity
For the purpose of assessment testing, structural similarity can be used if the testing of one
representative type of circuit gives at least the same quality for the rest of the types which are
grouped together.
The chief inspector shall declare, to the satisfaction of the NSI, the method of operating the
structural similarity plan within the manufacturing facilities and shall agree to the representative
type(s) from each structurally similar group.
For the qualification approval procedure, two or more circuits can be considered structurally
similar, and thus the required numbers of specimens for a test shall be selected from the
combined production, when they have the same function type, use the same design rules,
materials, processes and methods (for example, a range of T-cell thick-film attenuators using
the same line of inks; or thin-film D/A convertors using the same film material and same added
components from the same supplier).
For visual examination the only requirements are: marking, dimensions, sealing, solderability,
robustness of terminations, and identical envelopes. Empty packages and/or electrical rejects
may be used.
3.2 Qualification approval
The procedures for qualification approval testing are given in 3.5 of the generic specification.

– 12 – 60748-21 © CEI:1997
Les procédures d'homologation sur la base du programme d'essais pour échantillons d'effectif
fixe sont données dans le tableau 1 ou 5.
Les programmes d'essais à utiliser pour les essais d'homologation sur la base des essais lot
par lot et périodiques sont donnés dans les tableaux 2 et 3 ou 6 et 7.
Les tableaux pour l'homologation (programme d'essais pour échantillons d'effectif fixe) et le
contrôle de la conformité de la qualité (essais lot par lot et essais périodiques), pris ensemble,
prescrivent le programme d'essai minimal sur des circuits finis.
Le fabricant peut choisir le niveau d'assurance K, L ou M qu'il souhaite adopter, mais il ne peut
livrer les produits que de la façon suivante:
Niveau d'assurance Niveau d'assurance utilisé
pour l'acceptation des produits
K K, L ou M
L L ou M
M M
Un fabricant peut modifier le niveau d'assurance de ses produits par des essais
complémentaires. Avec l'accord de l'ONS il peut passer à un niveau inférieur sans autre essai
périodique jusqu'à l'expiration de la période en cours.
Tout essai complémentaire exigé pour des applications spécifiques doit être donné dans la
spécification particulière.
Les limites électriques après essai pour les essais climatiques et de robustesse mécanique
applicables doivent être données dans la spécification particulière.
3.2.1 Homologation (procédure pour échantillons d'effectif fixe)
3.2.1.1 Echantillonnage
L'échantillon doit être représentatif de la gamme des circuits pour laquelle l'agrément est
demandé. L'effectif de l'échantillon et le critère d'acceptation dépendent du niveau d'assurance
déclaré et sont détaillés dans le tableau 2 ou 6.
Quand les groupes supplémentaires sont introduits dans le programme d'essais, le nombre de
circuits exigés pour le groupe «0» doit être augmenté du même nombre de pièces que celui
exigé pour les groupes supplémentaires.
3.2.1.2 Essais
Les séries complètes d'essais spécifiés dans les tableaux 1 ou 5 sont exigées pour l'homo-
logation des circuits couverts par une spécification particulière. Dans chaque groupe les essais
doivent être exécutés dans l'ordre donné.
L'échantillon complet doit subir les essais du groupe «0» et ensuite être réparti dans les autres
groupes.
Les circuits défectueux au cours des essais du groupe «0» ne doivent pas être utilisés dans
les autres groupes.
«Un dispositif défectueux» est compté lorsqu'un circuit n'a pas satisfait à la totalité ou à une
partie des essais d'un groupe.
L'homologation est accordée lorsque le nombre de dispositifs défectueux n'excède pas le
nombre spécifié de dispositifs défectueux autorisé pour chaque groupe ou sous-groupe et le
nombre total de dispositifs défectueux autorisé.

60748-21 © IEC:1997 – 13 –
The procedure for qualification approval on the basis of the fixed sample size schedule is given
in table 1 or 5.
The schedules to be used for qualification approval testing on the basis of lot-by-lot and
periodic testing are given in tables 2 and 3, or 6 and 7.
The tables for qualification approval (fixed sample size schedule) and quality conformance
inspection (lot-by-lot and periodic tests) collectively prescribe the minimum test programme on
completed circuits.
The manufacturer may select which assessment level K, L or M he wishes to adopt, but may
release products only as follows:
Assessment level Release
assessment levels
K K, L or M
L L or M
M M
A manufacturer may change the assessment level of his approval by completing the relevant
tests. Subject to NSI agreement, he may downgrade without further periodic testing until
current test interval dates expire.
Any additional tests required for specific applications shall be prescribed in the detail
specification.
The post-test electrical limits for the relevant environmental tests shall be prescribed in the
detail specification.
3.2.1 Qualification approval (fixed sample size procedure)
3.2.1.1 Sampling
The sample shall be representative of the range of circuits for which approval is sought. The
size of the sample and the criterion of acceptability depend on the assessment level which is
claimed and detailed in table 2 or 6.
When additional groups are introduced into the test schedule, the number of circuits required
for group "0" shall be increased by the same number as that required for the additional groups.
3.2.1.2 Tests
The complete series of tests specified in table 1 or 5 is required for the approval of circuits
covered by one detail specification. The tests in each group shall be carried out in the given
order.
The whole sample shall be subjected to the tests of group "0" and then divided for the other
groups.
Circuits found defective during the tests of group "0" shall not be used for the other groups.
"One defective" is counted when a circuit has not satisfied the whole or a part of the tests of a
group.
The approval is granted when the number of defectives does not exceed the specified number
of permissible defectives for each group or subgroup and the total number of permissible
defectives.
– 14 – 60748-21 © CEI:1997
Tableau 1 – Programme d'essai pour procédure d'homologation pour la méthode A
L'effectif de l'échantillon et les critères d'acceptation sont détaillés pour chaque niveau
d'assurance dans le tableau 2.
Les numéros de paragraphes correspondent à ceux de la section 4 de la spécification
générique.
Numéros des paragraphes, essais et D ou ND Conditions d’essais Exigences
séquences d’essais de contrôle
8)
Groupe 0
Sous-groupe 01 ND
4.3.1 Examen visuel interne
avant encapsulation
Sous-groupe 02a ND
4.3.2 Examen visuel externe
et examen du marquage
Sous-groupe 02b ND
4.3.3 Dimensions
7) 5)
Sous-groupe 03 D
4.5.16 Inflammabilité induite (pour
information uniquement)
1)
ND
Sous-groupe 04
4.5.9 Etanchéité
Sous-groupe 05 ND
4.4.11 Caractéristiques électriques
statiques et dynamiques
principales à la température
ambiante
Sous-groupe 06 ND
4.4.11 Caractéristiques électriques
statiques et dynamiques
principales aux températures
extrêmes de fonctionnement
1) 2)
Groupe 1 – Séquence D/ND
Mesures initiales 4.4.11 Sous-groupe 05
4.5.6 Vibrations, balayage
de fréquence et
3)
4.5.7 Accélération constante ou
4.5.5 Chocs et
4.5.7 Accélération constante
4.5.9 Etanchéité
Mesures finales
4.4.11 Sous-groupe 05
Groupe 2 – Séquence D
Mesures initiales 4.4.11 Sous-groupe 05
4.5.11 Résistance à la chaleur
de soudage
7)
4.5.15.2 Résistance aux solvants
4.5.8 Variation de température
4.5.3 Essai continu de chaleur
4)
humide
1)
4.5.9 Etanchéité
Mesures finales
4.4.11 Sous-groupe 05
4.3.2 Examen visuel externe et
examen du marquage
Les notes sont à la fin du tableau (suite)

60748-21 © IEC:1997 – 15 –
Table 1 – Test schedule for qualification approval for method A
Sample sizes and acceptance criteria are detailed for each assessment level in table 2.
Subclause numbers refer to section 4 of the generic specification.
Subclause numbers, tests D or ND Test conditions Performance
and test sequences requirements
8)
Group 0
Subgroup 01 ND
4.3.1 Precap visual examination
Subgroup 02a ND
4.3.2 External visual and marking
examination
Subgroup 02b ND
4.3.3 Dimensions
5) 7)
Subgroup 03 D
4.5.16 Induced flammability
(for information only)
1)
Subgroup 04 ND
4.5.9 Sealing
Subgroup 05 ND
4.4.11 Major static and dynamic
electrical characteristics at room
temperature
Subgroup 06 ND
4.4.11 Major static and dynamic
electrical characteristics at
extreme operating temperatures
1) 2)
Group 1 – Sequence D/ND
Initial measurements 4.4.11 Subgroup 05
4.5.5 Vibrations, swept frequency and
4.5.7 Acceleration, steady-state
3)
or
4.5.5 Shock and
4.5.7 Acceleration, steady-state
4.5.9 Sealing
Final measurements 4.4.11 Subgroup 05
Group 2 – Sequence D
Initial measurements 4.4.11 Subgroup 05
4.5.11 Resistance to soldering heat
7)
4.5.15.2 Resistance to solvents
4.5.8 Change of temperature
4)
4.5.3 Damp heat, steady-state
1)
Final measurements 4.5.9 Sealing
4.4.11 Subgroup 05
4.3.2 External visual and marking
examination
For the notes, see the end of the table (continued)

– 16 – 60748-21 © CEI:1997
Tableau 1 (fin)
Numéros des paragraphes, essais et D ou ND Conditions d’essais Exigences
séquences d’essais de contrôle
5)
Groupe 3 – Séquence D
4.5.10 Soudabilité
4.5.12.1 Traction
4.5.12.3 Pliage (fils ou méplats)
1)
Mesures finales 4.5.9 Etanchéité
3)
ou
4.5.10 Soudabilité
4.5.12.1 Traction
4.5.12.3 Pliage (rangée)
4.5.12.2 Poussée
1)
Mesures finales 4.5.9 Etanchéité
Groupe 4 – Séquence ND
Mesure
...