IEC 61124:1997

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-07
Essais de fiabilité –
Plans d'essai de conformité
d'un taux de défaillance constant
et d'une intensité de défaillance constante
Reliability testing –
Compliance tests for constant failure rate
and constant failure intensity

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61124: 1997
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Les publications de la CEI sont numérotées à partir de As from the 1st January 1997 all IEC publications are

60000 dès le 1er janvier 1997. issued with a designation in the 60000 series.

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Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant amendements sont disponibles. Par including amendments are available. For example,

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to

indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication

publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.

et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from IEC
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de National Committees and from the following IEC
la CEI et dans les documents ci-dessous: sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Accès en ligne* On-line access*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Accès en ligne)* (On-line access)*
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to IEC
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
symbols for use on equipment. Index, survey and
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.

Publications de la CEI établies par IEC publications prepared by the same
le même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant The attention of readers is drawn to the end pages of
à la fin de cette publication, qui énumèrent les this publication which list the IEC publications issued
publications de la CEI préparées par le comité by the technical committee which has prepared the
d'études qui a établi la présente publication. present publication.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-07
Essais de fiabilité –
Plans d'essai de conformité
d'un taux de défaillance constant
et d'une intensité de défaillance constante
Reliability testing –
Compliance tests for constant failure rate
and constant failure intensity

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utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
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Commission Electrotechnique Internationale
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– 2 – 61124 © CEI:1997
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION . 6

Articles
1 Domaine d'application. 8

2 Références normatives . 8
3 Définitions . 10
4 Symboles . 10
5 Nature de l'exigence et domaine d'applicabilité . 12
6 Méthode générale d'essai . 14
7 Plans d'essais progressifs . 18
8 Plans d'essais tronqués-censurés . 22
9 Plans d'essais à durée calendaire tronqués-censurés pour des entités non réparées/
non remplacées. 32
10 Présentation des résultats . 36
Annexes
A Tableaux et graphiques relatifs aux plans d'essais progressifs (voir article 7). 38
B Graphiques relatifs aux plans d'essai tronqués-censurés systématiques (voir 8.1). 74
C Graphiques pour les plans d'essai tronqués-censurés alternatifs (voir 8.2) . 82
D Exemple et références mathématiques relatifs aux plans d'essais progressifs
(voir article 7) . 90
E Exemples et références mathématiques relatifs aux plans d'essais tronqués-
censurés (voir 8.1). 96
F Exemples et références mathématiques relatifs à l'étude de plans d'essais tronqués-
censurés alternatifs (voir 8.2) . 100
G Exemples et références mathématiques relatifs à l'étude de plans d'essais à durée
calendaire tronqués (voir article 9) . 114

Tableaux
1 Récapitulatif des plans d'essais progressifs indiqués à l'annexe A. 20
2 Plans d'essais tronqués-censurés systématiques . 24
Figures
1 Exemple de calcul de T * pour une entité réparée. 16
2 Exemple de calcul de T * pour quatre entités réparées . 16
3 Exemple de calcul de T * pour cinq entités non réparées . 18

61124 © IEC:1997 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD. 5

INTRODUCTION. 7

Clause
1 Scope. 9

2 Normative references. 9
3 Definitions. 11
4 Symbols. 11
5 Nature of requirement and area of application. 13
6 General test procedure. 15
7 Sequential test plans. 19
8 Time/failure terminated test plans. 23
9 Calendar time/failure terminated test plans for non-repaired/non-replaced items . 33
10 Presentation of results . 37
Annexes
A Tables and graphs for sequential test plans (see clause 7). 39
B Graphs for fixed time/failure terminated test plans (see 8.1) . 75
C Graphs for alternative time/failure terminated test plans (see 8.2) . 83
D Example and mathematical reference for sequential test plans (see clause 7) . 91
E Examples and mathematical reference for time/failure terminated test plans
(see 8.1) . 97
F Examples and mathematical reference for the design of alternative time/failure
terminated test plans (see 8.2) . 101
G Examples and mathematical reference for the calendar time terminated test plans
(see clause 9) . 115
Tables
1 Overview of the sequential test plans given in annex A . 21
2 Fixed time/failure terminated test plans . 25
Figures
1 Example of calculation of T* for one repaired item . 17
2 Example of calculation of T* for four repaired items . 17
3 Example of calculation of T* for five non-repaired items . 19

– 4 – 61124 © CEI:1997
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

__________
ESSAIS DE FIABILITÉ –
Plans d'essai de conformité d'un taux de défaillance constant

et d'une intensité de défaillance constante

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
Internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité
national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et
non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore
étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord
entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la
mesure du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer
de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa
responsabilité n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61124 a été établie par le comité d'études 56 de la CEI: Sûreté de
fonctionnement.
Cette première édition de la CEI 61124 annule et remplace la CEI 60605-7, parue en 1978, et
son amendement 1 (1990), dont elle constitue une révision technique.

Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
56/531/FDIS 56/579/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Les annexes A, B et C font partie intégrante de cette norme.
Les annexes D, E, F et G sont données uniquement à titre d'information.

61124 © IEC:1997 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

___________
RELIABILITY TESTING –
Compliance tests for constant failure rate

and constant failure intensity

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic
fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt
with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations
liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that
sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the
subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61124 has been prepared by IEC technical committee 56: Depend-
ability.
This first edition of IEC 61124 cancels and replaces IEC 60605-7, published in 1978, and its
amendment 1 (1990), of which it constitutes a technical revision.
The text of this standard is based on the following documents:

FDIS Report on voting
56/531/FDIS 56/579/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
Annexes A, B and C form an integral part of this standard.
Annexes D, E, F and G are for information only.

– 6 – 61124 © CEI:1997
INTRODUCTION
La présente Norme internationale est une révision de la CEI 60605-7 (1978) et de son

amendement 1 (1990). Les plans d'essais tronqués-censurés ont été étendus pour couvrir un

risque à 5 %. Un nouvel article traitant des plans d'essais à durée calendaire tronqués-
censurés pour des entités non réparées/non remplacées a été incorporé à la présente norme.

Plusieurs annexes ont été ajoutées pour présenter des exemples et des références

mathématiques. La présente norme couvre désormais aussi bien l'intensité de défaillance

(entités réparées) que le taux de défaillance (entités non réparées).

61124 © IEC:1997 – 7 –
INTRODUCTION
This International Standard is a revision of IEC 60605-7 (1978) and its amendment 1 (1990).
The time/failure terminated test plans have been extended to cover 5 % risk. A new clause

covering calendar time/failure terminated test plans for non-repaired items has been included.

Several annexes have been added dealing with examples and mathematical references. This

standard now covers failure intensity (repaired items) as well as failure rate (non-repaired

items).
– 8 – 61124 © CEI:1997
ESSAIS DE FIABILITÉ –
Plans d'essai de conformité d'un taux de défaillance constant

et d'une intensité de défaillance constante

1 Domaine d'application
La présente Norme internationale spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur
observée:
– du taux de défaillance;
– de l'intensité de défaillance;
– de la durée moyenne de fonctionnement avant défaillance;
– de la moyenne des temps de bon fonctionnement entre défaillances;
est conforme à une prescription donnée.
Il est supposé (sauf spécification contraire) que, pendant la période d'observation (temps
d'essai cumulé à prendre en compte), la durée moyenne de fonctionnement avant défaillance
ou la moyenne des temps de bon fonctionnement sont répartis de façon identique,
indépendante et exponentielle.
NOTE – Cette supposition implique que le taux/l'intensité de défaillance est constant(e).
Trois types de plans d'essai sont spécifiés comme indiqué ci-après:
– plans d'essais progressifs;
– plans d'essais tronqués-censurés systématiques et alternatifs conçus pour satisfaire un
besoin particulier;
– plans d'essais à durée calendaire tronqués-censurés.
Un guide général relatif au choix des plans d'essai est indiqué en 7.3 de la CEI 60605-1.
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au
moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme
internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes

des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 60050(191): 1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 191: Sûreté
de fonctionnement et qualité de service
CEI 60605-1: 1978, Essai de fiabilité des équipements – Partie 1: Prescriptions générales
CEI 60605-6: 1986
, Essai de fiabilité des équipements – Partie 6: Test de validité de
l'hypothèse d'un taux de défaillance constant
CEI 61123: 1991, Essai de fiabilité – Plans d'essai de conformité pour une proportion de
succès
ISO 3534-1: 1993, Statistiques – Vocabulaire et symboles – Partie 1: Probabilités et termes
statistiques généraux
61124 © IEC:1997 – 9 –
RELIABILITY TESTING –
Compliance tests for constant failure rate

and constant failure intensity

1 Scope
This International Standard specifies procedures to test whether an observed value of:

– failure rate;
– failure intensity;
– mean time to failure;
– mean operating time between failures;
complies with a given requirement.
It is assumed (except where otherwise stated) that during the observation period (accumulated
relevant test time) the time intervals to or between the failures are independent, and
identically exponentially distributed.
NOTE – This assumption implies that the failure rate or failure intensity is constant.
Three types of test plans are prescribed as follows:
– sequential test plans;
– time/failure terminated test plans, including fixed time/failure terminated test plans and
alternative time/failure terminated test plans that can be designed to meet a particular
need;
– fixed calendar time/failure terminated test plans.
General guidance on the choice of test plans is given in 7.3 of IEC 60605-1.
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility
of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of

IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
IEC 60050(191): 1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 191:
Depend-ability and quality of service
IEC 60605-1: 1978, Equipment reliability testing – Part 1: General requirements
IEC 60605-6: 1986, Equipment reliability testing – Part 6: Test for the validity of a constant
failure rate assumption
IEC 61123: 1991, Reliability testing – Compliance test plans for success ratio
ISO 3534-1: 1993, Statistics – Vocabulary and symbols – Part 1: Probability and general
statistical terms
– 10 – 61124 © CEI:1997
3 Définitions
Pour les besoins de la présente norme les termes et définitions de la CEI 60050(191)

s'appliquent.
Cependant, les termes:
– taux de défaillance;
– intensité de défaillance;
sont respectivement employés dans le sens de:

– taux de défaillance constant;
– intensité de défaillance constante.
4 Symboles
4.1 Liste des symboles
α risque fournisseur nominal (risque de type I)
α′ risque fournisseur vrai (risque de type I)
β risque client nominal (risque de type II)
β risque client vrai (risque de type II)
′
λ taux de défaillance vrai par entité
λ taux de défaillance acceptable spécifié par entité
λ taux de défaillance inacceptable par entité
Δρ quantité annexe pour déterminer c, Δρ = c – ρ
0 0 0
ρ espérance mathématique du nombre de défaillances pendant l'essai pour le
taux/l'intensité de défaillance vrai(e) inconnu(e)
NOTE 1 – ρ n'est pas nécessairement un entier.
ρ espérance mathématique du nombre de défaillances pendant l'essai pour le
*
taux/l'intensité de défaillance acceptable spécifié(e), ρ = v × T
0 0 t
c nombre acceptable d'événements (de défaillances) pendant l'essai
NOTE 2 – Le nombre final de défaillances dans la CEI 60605-7, remplacée par la présente norme,
correspond à c + 1.
D rapport de discrimination, D = w /w ou D = m /m
1 0 0 1
D ′ rapport de discrimination vrai

m temps moyen vrai de fonctionnement avant/entre événement(s)
m temps moyen acceptable de fonctionnement avant/entre événement(s), m = 1/w
0 0 0
m temps moyen non acceptable de fonctionnement avant/entre événement(s)
n nombre d'entités soumises à l'essai
P probabilité d'acceptation
a
r nombre d'événements (ou de défaillances) à prendre en compte relevés pendant
l'essai
*
t temps d'essai à prendre en compte, supposé identique pour toutes les entités
soumises à l'essai
*
t temps d'essai à prendre en compte pour toutes les entités, établi comme critère de fin
t
*
t temps d'essai écoulé à prendre en compte, établi comme critère de fin (voir 6.2)
cal,t
61124 © IEC:1997 – 11 –
3 Definitions
For the purpose of this standard the terms and definitions of IEC 60050(191) apply.

In addition, the terms:
– failure rate;
– failure intensity;
are used in the meaning of:
– constant failure rate;
– constant failure intensity;
respectively.
4 Symbols
4.1 List of symbols
α nominal producer's risk (type I risk)
α′ true producer's risk (type I risk)
β nominal consumer's risk (type II risk)
β′ true consumer's risk (type II risk)
λ true failure rate per item
λ specified acceptable failure rate per item
λ unacceptable failure rate per item
Δρ auxiliary quantity for determination of c, Δρ = c – ρ
0 0 0
ρ expected number of failures during the test at the true failure rate/intensity
NOTE 1 – ρ is not necessarily an integer.
ρ expected number of failures during the test at the specified acceptable failure
*
rate/intensity, ρ = w × T
0 0
t
c acceptable number of events (or failures) during the test
NOTE 2 – Termination number of failures in IEC 60605-7 (superseded by this standard), corresponds to c + 1.
D discrimination ratio, D = w /w or D = m /m
1 0 0 1
D ′ true discrimination ratio
m true mean time to/between events
m specified acceptable mean time to/between events, m = 1/w
0 0 0
m unacceptable mean time to/between events
n number of test items
P probability of acceptance
a
r observed number of relevant events (or failures) during the test
*
t relevant test time, assumed to be the same for all test items
*
t relevant test time for all test items stated as termination criterion
t
*
t relevant calendar test time stated as termination criterion (see 6.2)
cal,t
– 12 – 61124 © CEI:1997
*
T temps d'essai cumulé à prendre en compte (voir 6.3)

*
T temps d'essai cumulé à prendre en compte, établi comme critère d'acceptation
a
*
T valeur moyenne du temps d'essai cumulé à prendre en compte au moment de la

e
décision
*
T temps d'essai cumulé à prendre en compte, établi comme critère de rejet
r
*
T temps d'essai cumulé à prendre en compte, établi comme critère de fin
t
w taux/intensité vrai(e) de défaillances par entité (voir 4.2)

NOTE 3 – w est généralement inconnu(e).

w taux/intensité de défaillances acceptable spécifié(e) par entité
NOTE 4 – w correspond au niveau de qualité acceptable (NQA).
w taux/intensité de défaillances non acceptable par entité
NOTE 5 – w correspond à la qualité limite (QL).
z intensité vraie de défaillances
z intensité de défaillances acceptable spécifiée par entité
z intensité de défaillances non acceptable par entité
4.2 Transformation des symboles
Etant donné que les méthodes définies dans la présente norme sont applicables à différentes
mesures de la fiabilité, le symbole générique «w» est utilisé pour le taux/l'intensité de
défaillances.
D'où:
– pour l'intensité de défaillance w = z ;
– pour le taux de défaillances w = λ.
Si les mesures de fiabilité suivantes, toutes deux désignées par «m»:
– moyenne des temps de bon fonctionnement entre défaillances, MTBF;
– durée moyenne de fonctionnement avant défaillance, MTTF,
sont utilisées, la transformation (selon les hypothèses données) doit être:
w = 1/m
Pour les plans d'essai progressifs (voir article 7) et les plans d'essai tronqués-censurés
systématiques (voir 8.1), m est une mesure de fiabilité; par conséquent, dans ces cas:

m = 1/w
5 Nature de l'exigence et domaine d'applicabilité
5.1 Prescription
On suppose que la prescription est spécifiée en termes de taux/intensité de défaillances
constants acceptable, w , exprimé(e) comme le nombre moyen acceptable d'événements à
prendre en compte par unité de temps ou comme le temps moyen de fonctionnement
avant/entre défaillance(s), m .
S'il est nécessaire de tester l'hypothèse du taux de défaillance/de l'intensité de défaillance
constant(e), il convient d'utiliser la procédure de la CEI 60605-6. Voir également 6.4.

61124 © IEC:1997 – 13 –
*
T accumulated relevant test time (see 6.3)

*
T accumulated relevant test time stated as accept criterion
a
*
T expected accumulated relevant test time to decision
e
*
T accumulated relevant test time stated as reject criterion
r
*
T accumulated relevant test time stated as termination criterion
t
w true failure rate/intensity per item (see 4.2)

NOTE 3 – w is generally unknown.

w specified acceptable failure rate/intensity per item
NOTE 4 – w corresponds to acceptable quality level (AQL).
w unacceptable failure rate/intensity per item
NOTE 5 – w corresponds to limiting quality (LQ).
z true failure intensity
z specified acceptable failure intensity per item
z unacceptable failure intensity per item
4.2 Transformation of symbols
Because the procedures in this standard are applicable to different reliability measures the
generic symbol "w" is used for failure rate/intensity.
Hence
– for failure intensity w = z ;
– for failure rate w = λ.
If the following reliability measures, both designated "m":
– mean operating time between failures, MTBF;
– mean time to failure, MTTF,
are used, the transformation, under the given assumptions, shall be:
w = 1/m
Sequential test plans (see clause 7) and fixed time/failure terminated test plans (see 8.1) are
based on m as a reliability measure, thus in these cases:
m = 1/w
5 Nature of requirement and area of application

5.1 Requirement
It is assumed that the requirement is specified in terms of the acceptable constant failure
rate/constant failure intensity, w , expressed as the acceptable mean number of relevant
failures per time unit, or the acceptable mean operating time to/between failures, m .
If it is necessary to test the constant failure rate/constant failure intensity assumption, the
procedures in IEC 60605-6 should be used. See also 6.4.

– 14 – 61124 © CEI:1997
5.2 Applicabilité aux entités réparées et remplacées

Les plans d'essai progressifs (article 7) et les plans d'essai tronqués-censurés (article 8) sont

applicables dans les cas suivants:

– entités non réparées;
– entités non remplacées;
– entités réparées;
– entités remplacées,
si l'on suppose que:
– le temps d'essai cumulé à prendre en compte est calculé comme le temps de
fonctionnement de l'entité, conformément à 6.1;
– les entités remplacées appartiennent à la même population que les entités originales;
– les entités réparées peuvent être considérées «comme neuves», c'est-à-dire avec la
même intensité de défaillance après réparation qu'avant réparation.
Cependant, les plans d'essai à durée calendaire tronqués-censurés décrits à l'article 9 sont
applicables à des entités non réparées/non remplacées lorsqu'un nombre déterminé d'entités
est soumis à l'essai pendant une durée déterminée. Cela signifie que l'essai se poursuit même
si le nombre d'entités soumises à l'essai ne demeure pas constant, certaines entités étant
susceptibles de ne pas survivre.
5.3 Types de plans d'essai
Des plans d'essai sont indiqués pour trois types d'essais:
– essais progressifs tronqués, voir article 7;
– essais tronqués-censurés systématiques, voir 8.1, et essais tronqués-censurés
alternatifs, voir 8.2;
– essais à durée calendaire tronqués-censurés pour des entités non réparées/non
remplacées, voir article 9.
6 Méthode générale d'essai
6.1 Caractéristiques générales des plans d'essai et critères de décision
Tous les plans d'essai et tous les critères de décision sont fondés sur l'une ou l'autre des
caractéristiques suivantes:
– un nombre acceptable de défaillances à prendre en compte durant un temps d'essai à
prendre en compte spécifié; ou
– un temps d'essai acceptable pour un nombre spécifié de défaillances à prendre en
compte.
Les critères détaillés relatifs aux trois types de plans d'essai avec leurs variantes sont indiqués
en 7.2, 8.1.2, 8.2.2 et 9.2.
6.2 Données à enregistrer
Les données suivantes doivent être enregistrées pour la mise en application des méthodes
données dans la présente norme:

61124 © IEC:1997 – 15 –
5.2 Applicability to repaired and replaced items

The sequential test plans (clause 7) and the time/failure terminated test plans (clause 8) are

applicable to the following:
– non-repaired items;
– non-replaced items;
– repaired items;
– replaced items,
under the assumption that:
– the accumulated relevant test time is calculated as elapsed operating item-time, in
accordance with 6.1;
– replaced items belong to the same population as the original items;
– repaired items can be considered "good as new", that is they have the same failure
intensity after repair as they had before they failed.
The calendar time/failure terminated test plans in clause 9, however, are applicable to
non-repaired and non-replaced items where a fixed number of items are placed on test for a
fixed calendar time. This means that the test is running, even though the number of items
under test may not remain constant because some items may not survive.
5.3 Types of test plans
Test plans are given for three types of tests:
– truncated sequential tests, see clause 7;
– time/failure terminated tests (for fixed time/failure terminated tests see 8.1, and for
alternative time/failure terminated tests, see 8.2);
– fixed calendar time terminated tests without repair/replacement, see clause 9.
6 General test procedure
6.1 General characteristics of the test plans and decision criteria
All test plans and decision criteria are based on either of two characteristics, as follows:
– an acceptable number of relevant failures in a specified relevant test time; or
– an acceptable test time for a specified number of relevant failures.
The detailed criteria for the three types of test plans, with variants, are given in 7.2, 8.1.2,

8.2.2 and 9.2.
6.2 Data to be recorded
In order to apply the procedures defined in this standard, the following data shall be recorded:

– 16 – 61124 © CEI:1997
– nombre observé de défaillances à prendre en compte;

– temps d'essai cumulé à prendre en compte, ou temps d'essai écoulé à prendre en
compte.
S'il est nécessaire de vérifier l'hypothèse exposée à l'article 1, il faut aussi enregistrer:

– l'instant où se produit la défaillance.

6.3 Calcul du temps d'essai cumulé à prendre en compte, T*

Les figures 1 à 3 expliquent, à l'aide d'exemples de cas généraux, comment effectuer les

différents types de calculs du temps d'essai cumulé à prendre en compte pour tous les types

de plans d'essai.
6.3.1 Cas 1, une entité réparée
Dans le cas d'une entité réparée soumise à l'essai, le temps d'essai à prendre en compte se
limite au temps de fonctionnement (à l'exclusion des temps de réparation et autres temps
d'indisponibilité); se reporter à la figure 1.
IEC  817/97
T *= t + t + t + t ; r = 4
1 2 3 4
Figure 1 – Exemple de calcul de T * pour une entité réparée
6.3.2 Cas 2, plus d'une entité réparée
Lorsqu'au moins deux entités soumises à l'essai sont réparées, le temps d'essai à prendre en
compte est égal à la somme des temps de fonctionnement (à l'exclusion des temps de
réparation et autres temps d'indisponibilité); se reporter à la figure 2.
On suppose que toutes les entités peuvent être considérées comme nominalement identiques
et qu'elles fonctionnent dans des conditions nominalement identiques (par exemple,
environnement et charge).
IEC  818/97
T * = 4 × t*; r = 6
Figure 2 – Exemple de calcul de T* pour quatre entités réparées
(temps de réparation négligeable)

61124 © IEC:1997 – 17 –
– the observed number of relevant failures;

– the accumulated relevant test time, or relevant calendar test time.

If it is necessary to test the assumption stated in clause 1, the following data shall also be

recorded:
– the time of occurrence of each failure.

6.3 Calculation of accumulated relevant test time, T*

Figures 1 to 3 explain, using three general cases, how the accumulated relevant test time can

be calculated in all types of test plans.

6.3.1 Case 1, one repaired item
For one repaired item under test, the relevant test time is simply the elapsed time under
operation (excluding repair and other down times); see figure 1.
IEC  817/97
T* = t + t + t + t ; r = 4
1 2 3 4
Figure 1 – Example of calculation of T* for one repaired item
6.3.2 Case 2, more than one repaired item
For more than one repaired item under test, the relevant test time is the sum of all elapsed
times under operation (excluding all repair and other down times); see figure 2.
It is assumed that all items can be considered nominally equal and operating under nominally
equal conditions (such as environment and load).

IEC  818/97
T * = 4 × t *; r = 6
Figure 2 – Example of calculation of T* for four repaired items
(negligible repair time)
– 18 – 61124 © CEI:1997
6.3.3 Cas 3, au moins deux entités non réparées

Lorsque deux entités au moins ne sont pas réparées, il n'existe qu'un seul temps d'essai à

prendre en compte pour chaque entité (durée de vie), à savoir, le temps écoulé jusqu'au

premier événement (défaillance). Le temps d'essai cumulé à prendre en compte dans ce cas

(et dans ce cas uniquement) est égal à la somme de ces durées de vie; se reporter à la

figure 3.
IEC  819/97
T* = t + t + t + t + t ; r = 3
1 2 3 4 5
Figure 3 – Exemple de calcul de T * pour cinq entités non réparées
*
6.4 Temps d 'essai écoulé à prendre en compte, t
cal,t
*
Le temps d'essai écoulé à prendre en compte, t , est le temps écoulé pendant le
cal,t
déroulement de l'essai.
7 Plans d'essais progressifs
7.1 Caractéristiques
Les plans d'essais progressifs sont caractérisés par des règles de décision relatives à
l'acceptation ou au rejet de la conformité, ou à la poursuite de l'essai à n'importe quel moment
de l'essai. Ces règles sont déterminées par des valeurs sélectives de risques et par un rapport
de discrimination. Une valeur m doit être spécifiée (ou déduite) pour exécuter un plan d'essai.
Se reporter à l'annexe A pour ce qui concerne les courbes d'efficacité associées et la valeur
moyenne de la durée d'essai à prendre en compte au moment de la décision. Un exemple et
une référence mathématique sont donnés à l'annexe D.

7.2 Méthode d'essai commune
– Spécifier le temps moyen acceptable avant/entre les événements (défaillances), m ,
selon prescription ou convention;
– choisir les risques, α = β, et le rapport de discrimination, D, en tenant compte du fait que
des valeurs basses de α = β et D rendent l'essai plus performant, mais nécessitent un
temps plus long et davantage d'entités;
– sélectionner un plan d'essai approprié à partir du tableau 1 et de l'annexe A;
* *
– noter les temps d'essai, T pour l'acceptation, et T pour le rejet;
a r
– réaliser l'essai et appliquer les critères de décision suivant 7.3.

61124 © IEC:1997 – 19 –
6.3.3 Case 3, non-repaired items

For non-repaired items, only one relevant test time exists for each item (lifetime), namely the

time to first event (failure). The accumulated relevant test time in this – and only in this – case

is the sum of these lifetimes; see figure 3.

IEC  819/97
T * = t + t + t + t + t ; r = 3
1 2 3 4 5
Figure 3 – Example of calculation of T* for five non-repaired items
*
6.4 Relevant calendar test time, t
cal,t
*
The relevant calendar test time, t is the elapsed time when the test is running.
cal,t
7 Sequential test plans
7.1 Characteristics
Sequential test plans are characterized by decision rules for accepting or rejecting
compliance, or continuing the test at any test time. They are determined by selected values of
risks and discrimination ratio. To implement a test plan, m shall be specified (or derived).
Associated operating characteristic curves and expected relevant test time to decision are
included, see annex A. An example and a mathematical reference are given in annex D.
7.2 Common test procedure
– Specify acceptable mean time to/between events (failures), m , according to
requirement or agreement;
– choose risks, αβ= , and discrimination ratio, D, considering that low values of αβ= and
D make a more powerful test, but require longer time and/or more items;
– select an appropriate test plan from table 1 and annex A;
* *
– note the test times, T for accept, and T for reject;
a r
– perform the test and apply the decision criteria according to 7.3.

– 20 – 61124 © CEI:1997
7.3 Critères de décision
La durée d'essai cumulée à prendre en compte et le nombre de défaillances correspondant

doivent être comparés aux critères d'acceptation et de rejet d'une manière continue ou à des

intervalles ne dépassant pas la durée du cycle d'essai et l'intervalle adopté pour les contrôles

(se reporter aux 8.1 et 9.1 de la CEI 60605-1).

Les critères suivants doivent être appliqués:

* *
– si le temps écoulé T > T (établi comme multiple de m ) pour une valeur de r observée,
a 0
l'exigence spécifiée est considérée comme satisfaite, et l'essai doit être arrêté et sanctionné

par une acceptation;
*
* * *
– si le temps écoulé T se situe entre les limites, c'est-à-dire T < T < T , aucune
r a
décision ne peut être prise, et l'essai doit être poursuivi;
*
*
– si le temps écoulé T < T (établi comme multiple de m ) pour une valeur de r observée,
r 0
l'exigence spécifiée est considérée comme n'étant pas satisfaite, et l'essai doit être arrêté
et sanctionné par un rejet.
7.4 Tableaux et graphiques
Le tableau 1 récapitule les plans d'essais progressifs indiqués à l'annexe A. Pour chaque plan
d'essai, l'annexe A fournit un graphique de décision, un tableau de décision et des graphiques
de la courbe d'efficacité et de la valeur moyenne de la durée d'essai à prendre en compte au
moment de la décision.
Tableau 1 – Récapitulatif des plans d'essais progressifs indiqués à l'annexe A
Numéro Durée moyenne
du Caractéristiques du plan jusqu'à décision Valeurs vraies des risques
plan en multiples de m
d'essai pour m = m m = m m = m
0 0 1
Risques nominaux Rapport de
...