ISO 24173:2009

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 24173
First edition
2009-09-01

Microbeam analysis — Guidelines for
orientation measurement using electron
backscatter diffraction
Analyse par microfaisceaux — Lignes directrices pour la mesure
d'orientation par diffraction d'électrons rétrodiffusés




Reference number
ISO 24173:2009(E)
©
ISO 2009

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ISO 24173:2009(E)
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Published in Switzerland

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ISO 24173:2009(E)
Contents Page
Foreword .iv
Introduction.v
1 Scope.1
2 Normative references.1
3 Terms and definitions .1
4 Equipment for EBSD .7
5 Operating conditions .8
6 Calibrations required for indexing of EBSPs .13
7 Analytical procedure .16
8 Measurement uncertainty.17
9 Reporting the results .18
Annex A (informative) Principle of EBSD .19
Annex B (normative) Specimen preparation for EBSD.20
Annex C (informative) Brief introduction to crystallography and EBSP indexing, and other
information useful for EBSD .26
Bibliography.42

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ISO 24173:2009(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies
(ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been
established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and
non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborate
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 24173
Première édition
2009-09-01

Analyse par microfaisceaux — Lignes
directrices pour la mesure d'orientation
par diffraction d'électrons rétrodiffusés
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using
electron backscatter diffraction



Numéro de référence
ISO 24173:2009(F)
©
ISO 2009

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ISO 24173:2009(F)

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NORME ISO
INTERNATIONALE 24173
Première édition
2009-09-01

Analyse par microfaisceaux — Lignes
directrices pour la mesure d'orientation
par diffraction d'électrons rétrodiffusés
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using
electron backscatter diffraction




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Publié en Suisse

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ISO 24173:2009(F)
Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction.v
1 Domaine d'application .1
2 Références normatives.1
3 Termes et définitions .1
4 Équipement EBSD .7
5 Conditions de fonctionnement .8
6 Étalonnages requis pour l'indexation des clichés EBSP.13
7 Procédure d'analyse.17
8 Incertitude de mesure .18
9 Présentation des résultats d'analyse .19
Annexe A (informative) Principe de l'EBSD.20
Annexe B (normative) Préparation de l'échantillon pour l'EBSD .21
Annexe C (informative) Brève introduction à la cristallographie, à l'indexation du cliché EBSP, et
autres informations utiles pour l'EBSD.27
Bibliographie.44

© ISO 2009 – Tous droits réservés iii

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ISO 24173:2009(F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux de
normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général confiée
aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité
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