ISO 21920-2:2021

NORME ISO
INTERNATIONALE 21920-2
Première édition
2021-12
Version corrigée
2022-06
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil —
Partie 2:
Termes, définitions et paramètres
d’état de surface
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture:
Profile —
Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
Numéro de référence
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Publié en Suisse
ii
Sommaire Page
Avant-propos .v
Introduction .vii
1 Domaine d'application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
3.1 Termes généraux . 1
3.2 Termes relatifs aux paramètres géométriques . 10
3.3 Termes relatifs aux éléments géométriques . 14
4 Paramètres de champ . .22
4.1 Généralités .22
4.2 Paramètres de hauteur . 22
4.2.1 Généralités .22
4.2.2 Hauteur moyenne arithmétique . 22
4.2.3 Hauteur quadratique . 23
4.2.4 Asymétrie . 23
4.2.5 Aplatissement . . .23
4.2.6 Hauteur totale . 23
4.2.7 Hauteur maximale par section . 23
4.3 Paramètres d’espacement . 24
4.3.1 Généralités . 24
4.3.2 Longueur d’autocorrélation . 24
4.3.3 Longueur d’onde spatiale dominante . 25
4.4 Paramètres hybrides .25
4.4.1 Généralités . 25
4.4.2 Gradient quadratique moyen . 25
4.4.3 Gradient absolu moyen arithmétique . 25
4.4.4 Gradient absolu maximal . 25
4.4.5 Longueur développée .26
4.4.6 Taux de longueur développée . 26
4.5 Fonctions de taux de portance et paramètres associés . 26
4.5.1 Fonctions de taux de portance . 26
4.5.2 Paramètres de taux de portance . 31
4.5.3 Paramètres pour les surfaces stratifiées utilisant la courbe de taux de
portance . 33
4.5.4 Paramètres pour les surfaces stratifiées utilisant la courbe de probabilité
de longueur portante . 35
4.5.5 Paramètres de volume.36
5 Paramètres des motifs .38
5.1 Paramètres basés sur les hauteurs de colline et les profondeurs de creux .38
5.1.1 Généralités .38
5.1.2 Hauteur de pic maximale .39
5.1.3 Hauteur de pic moyenne . 39
5.1.4 Profondeur de creux maximale .39
5.1.5 Profondeur de creux moyenne .40
5.1.6 Hauteur maximale .40
5.2 Paramètres basé sur les éléments de profil .40
5.2.1 Généralités .40
5.2.2 Espacement moyen de l’élément de profil . 42
5.2.3 Espacement maximal de l’élément de profil. 42
5.2.4 Écart-type des espacements de l’élément de profil . 42
5.2.5 Hauteur moyenne de l’élément de profil . 43
5.2.6 Hauteur maximale de l’élément de profil . 43
iii
5.2.7 Écart-type des hauteurs de l’élément de profil . 43
5.2.8 Paramètre du nombre de pics . 43
5.3 Paramètres basés sur la caractérisation d’élément . 43
5.3.1 Généralités . 43
5.3.2 Paramètres d’élément désigné .44
Annexe A (informative) Détermination de la dérivée première et de la dérivée seconde .46
Annexe B (informative) Détermination de la courbure locale .49
Annexe C (normative) Détermination de la courbe de taux de portance .50
Annexe D (normative) Détermination des paramètres de profil pour des surfaces stratifiées .52
Annexe E (normative) Segmentation par croisement de lignes pour déterminer les
éléments de profil .60
Annexe F (normative) Caracterisation de l’élément .66
Annexe G (informative) Résumé des paramètres et des fonctions d’état de surface de profil .70
Annexe H (informative) Flux d’analyse de la spécification .73
Annexe I (informative) Modifications par rapport aux anciennes normes ISO de profil .75
Annexe J (informative) Vue d’ensemble des normes de profil et de surface dans le modèle
de matrice GPS . .76
Annexe K (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS .77
Bibliographie .79
iv
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www.
iso.org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brev
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