ISO 25178-73:2019

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 25178-73
First edition
2019-05
Geometrical product specifications
(GPS) — Surface texture: Areal —
Part 73:
Terms and definitions for surface
defects on material measures
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
surfacique —
Partie 73: Termes et définitions pour les défauts de surface sur les
mesures matérialisées
Reference number
©
ISO 2019
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Published in Switzerland
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Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
3.1 General terms and definitions . 1
3.2 Terms and definitions for classes of defects . 2
3.3 Terms and definitions for ways of responding to defects . 3
Annex A (informative) Stains and discolorations . 5
Annex B (informative) Relation to the GPS matrix model . 6
Bibliography . 7
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso
.org/iso/foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product
specifications and verification.
A list of all parts in the ISO 25178 series can be found on the ISO website.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/members .html.
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Introduction
0.1 General
This document is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general
GPS standard (see ISO 14638). It influences chain link F of the chain of standards on profile surface
texture, areal surface texture and surface imperfections.
The ISO GPS masterplan given in ISO 14638 gives an overview of the ISO GPS system of which this
document is a part. The fundamental rules of ISO GPS given in ISO 8015 apply to this document.
The default decision rules given in ISO 14253-1 apply to specifications made in accordance with this
document, unless otherwise stated.
For more detailed information on the relation of this document to the GPS matrix model, see Annex B.
This document is based on the premise that a material measure has a real geometrical surface which
is a realization of an ideal or nominal surface, which in turn can in most cases be regarded as a simple
mathematical concept: for example a plane, a sphere, a step function or a sinusoidal shape. In each
case there will be an associated precisely known quantity, which is used when the material measure is
measured by a surface texture-measuring instrument in one or more operations during the calibration
and set-up of that instrument.
Any portion of the measuring surface of the material measure at which the real surface deviates from
the ideal nominal surface is therefore more or less undesirable, and is here denoted by the term defect.
0.2 Relationship to ISO 8785
ISO 8785 was intended to apply to all types of surface, whether functional or otherwise. Examples
of functional surfaces are: brake disks, cylinder linings, optical lens and mirror surfaces, fluid pipe
couplings, marine propeller blades and artificial hip joints. In each case, the surface has to perform one
or more definite jobs and, consequently, the choice of method of manufacture and the type of surface
geometry, together with a certain range of parameter values which are specified for it, are usually a
compromise between conflicting requirements which might not all be perfectly fulfilled. The functional
surface can then be measured in order to find out how closely it matches the parameter values which
have been specified.
However, this is not the same as determining how well the surface functions. In many cases it is not
obvious exactly what the ideal profile shape from the point of view of best function would be. Therefore,
it is possible that a surface which deviates from the specified profile in some places actually performs
better than one which has no deviations. For this reason, ISO 8785 used the general term imperfections,
which does not suggest undesirability, in preference to the term defects, which does suggest this.
Unlike ISO 8785, this document does not deal with any classes of defect, other than geometrical, that
might appear upon the surfaces of material measures. Examples of other classes of defect are: unwanted
variations in such physical properties as:
— surface hardness;
— surface colour;
— electrical properties.
For the purposes of this document, no instance of such an unwanted variation in a physical property
is considered to be a defect unless it coincides spatially with the area of a geometrical defect. For
information on variations in surface colour, see Annex A.
0.3 Relationship to ISO 5436-1 and ISO 25178-70
The material measures and calibration specimens which are described in ISO 5436-1 and ISO 25178-70
are not functional surfaces as described in 0.2. Material measures exist only in order to be measured;
there are no physical jobs which they have to do. They are physical representations of a mathematically
simple shape, which is therefore the ideal shape and which can be specified precisely.
Any deviation from this ideal shape is therefore undesirable, and so the term defect is preferable to the
term imperfection. It is possible for a single calibration specimen to be used in two or more different
applications, but for each application there exists a theoretically ideal shape, although certain features
of the ideal might be more important in one application than in the other.
For example, a sinusoidal roughness specimen can be used to check Ra or RSm parameter values. In
the first application it is more important that the sinusoidal specimen exhibits uniformity of amplitude
(peak height) than uniformity of wavelength (peak spacing), but in the second application it is the
other way around. The fact that the calibration specimen can be used in two different applications does
not make it a functional surface; it is still a measurement standard which exists only in order to be
measured.
0.4 Defining defects by reference to geometrical shape rather than cause
ISO 8785:1998, Clause 4, contains several descriptions of surface imperfections in terms which make
reference to the cause of the imperfection, instead of just their geometrical shape. This can create the
following difficulties when applying these descriptions in practice:
a) the possibility of confusion, in cases where a feature has the shape of one type of imperfection, but
has the cause of a different one;
b) in many cases, particularly with very small features at the limits of visibility, the cause might be
unknown and hard to discover;
c) it becomes more difficult to translate the terms into other languages.
In this document the emphasis is on geometrical shape, and three terms will be defined corresponding
to the cases in which the deviation is upwards from the surface (outward defect, 3.2.6), downwards into
the surface (inward defect, 3.2.7) or neither upward nor downward (neutral defect, 3.2.8). However,
there is one exception: it is necessary to define one special type of defect (negative defect, 3.2.9) which
sometimes appears on material measures that have been manufactured by one of the widely-used
methods of replication and which appears on such a replicated material measure as the result of a
corresponding defect on the surface of the mother mould (often called a negative), which produced the
replica.
0.5 Terms for ways of responding to defects
Consistent with the general idea that defects are undesirable, this document contains a section which
defines terms for all possible responses to the presence of defects. It does not specify which of these
responses should be applied in any particular situation, it simply defines terms and names for them, and
thus enables users, manufacturers, calibration metrologists and writers of other standards documents
to state their own policies and procedures clearly and unambiguously.
0.6 Defect as a portion of the surface rather than a property of the whole surface
A defect is a geometrical feature limited by natural boundaries (in the language of ISO 8015:2011, 5.4
and ISO 22432:2011, 3.2), that is non-ideal and real (ISO 22432:2011, 3.2.2). In this document a defect
is considered to be a portion of the physical surface of a geometrical measurement standard, rather
than a property of the whole surface. This is necessary in order to distinguish between three common
responses to the presence of defects on a measurement standard, responses which are easily confused
with each other if they are not precisely defined. They are:
— first, to remove the defect (by either physically cutting it off the measuring area or else discarding
data points in the software);
— second, to avoid the defect (by redefining the limits of the measuring area);
— third, to repair the defect (by either reworking or cleaning the specimen, or else retouching data in
the software).
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In the absence of strict definitions for the terms remove, avoid and repair, the widely-used term remove is
ambiguous. However, it is important to distinguish between repairing and removing defects as defined
in this document, because many users of specimens and writers of procedures and policies will want to
forbid one of these while allowing or requiring the other to be done.
0.7 Parties involved: manufacturer, customer, user
Typically, in the case of material measures used in surface texture measurement, the manufacturer of
the material measures will sell them to a customer who simply acts as a distributor, by selling them on,
or including them as accessories, to end users who will ultimately use them to check surface measuring
instruments. Each of these three parties plays a different role in the identification and handling of
defects, and for this reason all three terms are used here.
0.8 Inapplicability of the definitions presented in this document to the case of functional surfaces
The statements in 0.6 make it difficult to extend the application of the new defi
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 25178-73
Première édition
2019-05
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
surfacique —
Partie 73:
Termes et définitions pour les
défauts de surface sur les mesures
matérialisées
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal —
Part 73: Terms and definitions for surface defects on material
measures
Numéro de référence
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ISO 2019
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Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
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Publié en Suisse
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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
3.1 Termes et définitions généraux . 2
3.2 Termes et définitions des classes de défauts . 2
3.3 Termes et définitions des manières de répondre aux défauts . 4
Annexe A (informative) Taches et décolorations .5
Annexe B (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS.6
Bibliographie .7
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www .iso .org/avant -propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et vérification
dimensionnelles et géométriques des produits.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 25178 se trouve sur le site web de l’ISO.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/fr/members .html.
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Introduction
0.1  Généralités
Le présent document, qui traite de la spécification géométrique des produits (GPS), est à considérer
comme une norme GPS générale (voir l’ISO 14638). Il influence le maillon F des chaînes de normes
concernant l’état de surface du profil, l’état de surface surfacique et les défauts de surface.
Le schéma directeur ISO/GPS indiqué dans l’ISO 14638 donne une vue d’ensemble du système ISO/
GPS dont fait partie le présent document. Les règles fondamentales de l’ISO/GPS fournies dans
l’ISO 8015 s’appliquent au présent document. Les règles de décision par défaut indiquées dans
l’ISO 14253-1 s’appliquent aux spécifications élaborées conformément au présent document, sauf
indication contraire.
Pour de plus amples informations sur la relation du présent document avec la matrice GPS, voir
l’Annexe B.
Le présent document repose sur l’hypothèse qu’une mesure matérialisée possède une surface
géométrique réelle qui est une réalisation d’une surface idéale ou nominale, celle-ci pouvant à son
tour être considérée, dans la plupart des cas, comme un concept mathématique simple: par exemple
un plan, une sphère, une fonction en escalier ou une forme sinusoïdale. Dans chaque cas, il y aura une
grandeur associée connue avec précision, qui sera utilisée lorsque la mesure matérialisée sera mesurée
par un instrument de mesure de l’état de surface surfacique, en une ou plusieurs opérations, pendant
l’étalonnage et la configuration de l’instrument.
Toute portion de la surface de mesure de la mesure matérialisée sur laquelle la surface réelle s’écarte
de la surface nominale idéale est donc plus ou moins indésirable, et est notée ici comme étant un défaut.
0.2  Relation de l’ISO 8785
L’ISO 8785 était destinée à s’appliquer à tous les types de surfaces, qu’il s’agisse de surfaces fonctionnelles
ou autres. Exemples de surfaces fonctionnelles: disques de frein, revêtements de tambour, lentilles
optiques et surfaces de miroir, raccordements de tubes de fluide, pales d’hélices marines, prothèses
de hanche artificielle. Dans chaque cas, la surface doit réaliser une ou plusieurs tâches définies et, par
conséquent, le choix de la méthode de fabrication et le type de géométrie de la surface associés à une
certaine plage de valeurs des paramètres qui sont spécifiées pour cette surface sont généralement un
compromis entre des exigences en conflit qui peuvent ne pas être toutes entièrement satisfaites. La
surface fonctionnelle peut alors être mesurée afin de déterminer dans quelle mesure les valeurs des
paramètres sont proches de celles qui ont été spécifiées.
Toutefois, cela n’équivaut pas à déterminer la bonne performance de la surface. Dans de nombreux
cas, il n’est pas évident de déterminer ce que pourrait être la forme du profil idéal du point de vue
de la meilleure fonction. Par conséquent, il est possible qu’une surface qui s’écarte du profil spécifié à
certains endroits ait une meilleure performance qu’une surface qui ne présente aucun écart. C’est la
raison pour laquelle l’ISO 8785 utilisait le terme général d’imperfection, qui ne suggère pas un aspect
indésirable, de préférence au terme défaut qui lui le suggère.
Contrairement à l’ISO 8785, le présent document ne traite pas des classes de défaut autres que les
défauts géométriques pouvant apparaître sur les surfaces des mesures matérialisées. Exemples d’autres
classes de défaut: les variations indésirables des propriétés physiques, telles que:
— la dureté de la surface;
— la couleur de la surface;
— des propriétés électriques.
Pour les besoins du présent document, aucun exemple de ce type de variation indésirable d’une
propriété physique n’est considéré comme un défaut à moins qu’elle ne coïncide spatialement avec la
zone d’un défaut géométrique. Pour plus d’informations sur les variations de couleur de la surface, voir
l’Annexe A.
0.3  Relation avec l’ISO 5436-1 et l’ISO 25178-70
Les mesures matérialisées et les échantillons d’étalonnage qui sont décrits dans l’ISO 5436-1 et
l’ISO 25178-70 ne sont pas des surfaces fonctionnelles au sens décrit en 0.2. Les mesures matérialisées
existent uniquement pour être mesurées, elles n’ont aucune tâche physique à réaliser. Ce sont des
représentations physiques d’une forme mathématiquement simple, qui est donc la forme idéale et qui
peut être spécifiée de manière précise.
Tout écart par rapport à cette forme idéale est donc indésirable et, de ce fait, le terme défaut est
préférable au terme imperfection. Il est possible qu’un échantillon d’étalonnage individuel soit
utilisé pour au moins deux applications différentes mais pour chaque application il existe une forme
théoriquement idéale, bien que certains éléments de la forme idéale puissent être plus importants pour
une application que pour une autre.
Par exemple, une éprouvette de rugosité sinusoïdale peut être utilisée pour contrôler les valeurs des
paramètres Ra ou RSm. Pour la première application, il est plus important que l’éprouvette sinusoïdale
présente une uniformité d’amplitude (hauteur de pic) qu’une uniformité de longueur d’onde (espacement
des pics), mais pour la seconde application, c’est le contraire. Le fait que l’échantillon d’étalonnage puisse
être utilisé pour deux applications différentes n’en fait pas pour autant une surface fonctionnelle; cet
échantillon reste un étalon de mesure qui existe uniquement pour être mesuré.
0.4  Définition des défauts par référence à la forme géométrique plutôt qu’à la cause
L’ISO 8785:1998, Article 4 contient plusieurs descriptions des imperfections de surface dans des termes
qui font référence à la cause de l’imperfection au lieu de simplement renvoyer à leur forme géométrique.
Cela peut créer les types de difficultés suivantes en cas d’application de ces descriptions dans la
pratique:
a) la possibilité de confusion, dans les cas où un élément a la forme d’un type d’imperfection, mais
dont la cause est différente;
b) dans de nombreux cas, en particulier pour de très petits éléments aux limites de la visibilité, la
cause peut être inconnue et difficile à déterminer;
c) cela rend plus difficile la traduction des termes dans d’autres langues.
Dans le présent document, l’accent est mis sur la forme géométrique, et trois termes seront définis
selon que l’écart sera situé vers le haut au-dessus de la surface (défaut externe, 3.2.6) ou vers le bas à
l’intérieur de la surface (défaut interne, 3.2.7), ou ni l’un ni l’autre (défaut neutre, 3.2.8). Il y a toutefois
une exception: il est nécessaire de définir un type spécial de défaut (défaut négatif, 3.2.9) qui apparaît
parfois sur les mesures matérialisées qui ont été réalisées par une des méthodes largement utilisées de
réplication et qui apparaît sur ce type de mesure matérialisée répliquée suite à un défaut correspondant
présent sur la surface du moule mère (souvent appelé un négatif ) ayant servi à produire la réplique.
0.5  Termes concernant la manière de répondre aux défauts
En accord avec l’idée générale que les défauts sont indésirables, le présent document contient une section
qui définit les termes désignant toutes les réponses possibles à la présence de défauts. Il ne spécifie
pas laquelle de ces réponses il convient d’appliquer dans une situation donnée; il définit simplement
les termes et les noms qui s’y rapportent, et permet aux utilisateurs, aux fabricants, aux métrologues
d’étalonnage et aux rédacteurs d’autres documents normatifs d’établir leurs propres politiques et
procédures de manière claire et non ambiguë.
0.6  Défaut comme portion de la surface plutôt que comme propriété qui se rapporte à la
surface entière
Dans le langage de l’ISO 8015:2011, 5.4 et de l’ISO 22432:2011, 3.2, un défaut est un élément géométrique
limité par des frontières naturelles, qui est non idéal et réel (ISO 22432:2011, 3.2.2). Dans le présent
vi © ISO 2019 – Tous droits réservés

document, un défaut est considéré comme une portion de la surface physique d’un étalon de mesure
géométrique, plutôt que comme une propriété qui se rapporte à la surface entière. Cela est nécessaire
pour distinguer trois réponses communes à la présence de défauts sur un étalon de mesure, réponses
qui sont facilement confondues les unes avec les autres si elles ne sont pas préci
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 25178-73
Première édition
2019-05
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
surfacique —
Partie 73:
Termes et définitions pour les
défauts de surface sur les mesures
matérialisées
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal —
Part 73: Terms and definitions for surface defects on material
measures
Numéro de référence
©
ISO 2019
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2019
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
3.1 Termes et définitions généraux . 2
3.2 Termes et définitions des classes de défauts . 2
3.3 Termes et définitions des manières de répondre aux défauts . 4
Annexe A (informative) Taches et décolorations .5
Annexe B (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS.6
Bibliographie .7
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www .iso .org/avant -propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et vérification
dimensionnelles et géométriques des produits.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 25178 se trouve sur le site web de l’ISO.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/fr/members .html.
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Introduction
0.1  Généralités
Le présent document, qui traite de la spécification géométrique des produits (GPS), est à considérer
comme une norme GPS générale (voir l’ISO 14638). Il influence le maillon F des chaînes de normes
concernant l’état de surface du profil, l’état de surface surfacique et les défauts de surface.
Le schéma directeur ISO/GPS indiqué dans l’ISO 14638 donne une vue d’ensemble du système ISO/
GPS dont fait partie le présent document. Les règles fondamentales de l’ISO/GPS fournies dans
l’ISO 8015 s’appliquent au présent document. Les règles de décision par défaut indiquées dans
l’ISO 14253-1 s’appliquent aux spécifications élaborées conformément au présent document, sauf
indication contraire.
Pour de plus amples informations sur la relation du présent document avec la matrice GPS, voir
l’Annexe B.
Le présent document repose sur l’hypothèse qu’une mesure matérialisée possède une surface
géométrique réelle qui est une réalisation d’une surface idéale ou nominale, celle-ci pouvant à son
tour être considérée, dans la plupart des cas, comme un concept mathématique simple: par exemple
un plan, une sphère, une fonction en escalier ou une forme sinusoïdale. Dans chaque cas, il y aura une
grandeur associée connue avec précision, qui sera utilisée lorsque la mesure matérialisée sera mesurée
par un instrument de mesure de l’état de surface surfacique, en une ou plusieurs opérations, pendant
l’étalonnage et la configuration de l’instrument.
Toute portion de la surface de mesure de la mesure matérialisée sur laquelle la surface réelle s’écarte
de la surface nominale idéale est donc plus ou moins indésirable, et est notée ici comme étant un défaut.
0.2  Relation de l’ISO 8785
L’ISO 8785 était destinée à s’appliquer à tous les types de surfaces, qu’il s’agisse de surfaces fonctionnelles
ou autres. Exemples de surfaces fonctionnelles: disques de frein, revêtements de tambour, lentilles
optiques et surfaces de miroir, raccordements de tubes de fluide, pales d’hélices marines, prothèses
de hanche artificielle. Dans chaque cas, la surface doit réaliser une ou plusieurs tâches définies et, par
conséquent, le choix de la méthode de fabrication et le type de géométrie de la surface associés à une
certaine plage de valeurs des paramètres qui sont spécifiées pour cette surface sont généralement un
compromis entre des exigences en conflit qui peuvent ne pas être toutes entièrement satisfaites. La
surface fonctionnelle peut alors être mesurée afin de déterminer dans quelle mesure les valeurs des
paramètres sont proches de celles qui ont été spécifiées.
Toutefois, cela n’équivaut pas à déterminer la bonne performance de la surface. Dans de nombreux
cas, il n’est pas évident de déterminer ce que pourrait être la forme du profil idéal du point de vue
de la meilleure fonction. Par conséquent, il est possible qu’une surface qui s’écarte du profil spécifié à
certains endroits ait une meilleure performance qu’une surface qui ne présente aucun écart. C’est la
raison pour laquelle l’ISO 8785 utilisait le terme général d’imperfection, qui ne suggère pas un aspect
indésirable, de préférence au terme défaut qui lui le suggère.
Contrairement à l’ISO 8785, le présent document ne traite pas des classes de défaut autres que les
défauts géométriques pouvant apparaître sur les surfaces des mesures matérialisées. Exemples d’autres
classes de défaut: les variations indésirables des propriétés physiques, telles que:
— la dureté de la surface;
— la couleur de la surface;
— des propriétés électriques.
Pour les besoins du présent document, aucun exemple de ce type de variation indésirable d’une
propriété physique n’est considéré comme un défaut à moins qu’elle ne coïncide spatialement avec la
zone d’un défaut géométrique. Pour plus d’informations sur les variations de couleur de la surface, voir
l’Annexe A.
0.3  Relation avec l’ISO 5436-1 et l’ISO 25178-70
Les mesures matérialisées et les échantillons d’étalonnage qui sont décrits dans l’ISO 5436-1 et
l’ISO 25178-70 ne sont pas des surfaces fonctionnelles au sens décrit en 0.2. Les mesures matérialisées
existent uniquement pour être mesurées, elles n’ont aucune tâche physique à réaliser. Ce sont des
représentations physiques d’une forme mathématiquement simple, qui est donc la forme idéale et qui
peut être spécifiée de manière précise.
Tout écart par rapport à cette forme idéale est donc indésirable et, de ce fait, le terme défaut est
préférable au terme imperfection. Il est possible qu’un échantillon d’étalonnage individuel soit
utilisé pour au moins deux applications différentes mais pour chaque application il existe une forme
théoriquement idéale, bien que certains éléments de la forme idéale puissent être plus importants pour
une application que pour une autre.
Par exemple, une éprouvette de rugosité sinusoïdale peut être utilisée pour contrôler les valeurs des
paramètres Ra ou RSm. Pour la première application, il est plus important que l’éprouvette sinusoïdale
présente une uniformité d’amplitude (hauteur de pic) qu’une uniformité de longueur d’onde (espacement
des pics), mais pour la seconde application, c’est le contraire. Le fait que l’échantillon d’étalonnage puisse
être utilisé pour deux applications différentes n’en fait pas pour autant une surface fonctionnelle; cet
échantillon reste un étalon de mesure qui existe uniquement pour être mesuré.
0.4  Définition des défauts par référence à la forme géométrique plutôt qu’à la cause
L’ISO 8785:1998, Article 4 contient plusieurs descriptions des imperfections de surface dans des termes
qui font référence à la cause de l’imperfection au lieu de simplement renvoyer à leur forme géométrique.
Cela peut créer les types de difficultés suivantes en cas d’application de ces descriptions dans la
pratique:
a) la possibilité de confusion, dans les cas où un élément a la forme d’un type d’imperfection, mais
dont la cause est différente;
b) dans de nombreux cas, en particulier pour de très petits éléments aux limites de la visibilité, la
cause peut être inconnue et difficile à déterminer;
c) cela rend plus difficile la traduction des termes dans d’autres langues.
Dans le présent document, l’accent est mis sur la forme géométrique, et trois termes seront définis
selon que l’écart sera situé vers le haut au-dessus de la surface (défaut externe, 3.2.6) ou vers le bas à
l’intérieur de la surface (défaut interne, 3.2.7), ou ni l’un ni l’autre (défaut neutre, 3.2.8). Il y a toutefois
une exception: il est nécessaire de définir un type spécial de défaut (défaut négatif, 3.2.9) qui apparaît
parfois sur les mesures matérialisées qui ont été réalisées par une des méthodes largement utilisées de
réplication et qui apparaît sur ce type de mesure matérialisée répliquée suite à un défaut correspondant
présent sur la surface du moule mère (souvent appelé un négatif ) ayant servi à produire la réplique.
0.5  Termes concernant la manière de répondre aux défauts
En accord avec l’idée générale que les défauts sont indésirables, le présent document contient une section
qui définit les termes désignant toutes les réponses possibles à la présence de défauts. Il ne spécifie
pas laquelle de ces réponses il convient d’appliquer dans une situation donnée; il définit simplement
les termes et les noms qui s’y rapportent, et permet aux utilisateurs, aux fabricants, aux métrologues
d’étalonnage et aux rédacteurs d’autres documents normatifs d’établir leurs propres politiques et
procédures de manière claire et non ambiguë.
0.6  Défaut comme portion de la surface plutôt que comme propriété qui se rapporte à la
surface entière
Dans le langage de l’ISO 8015:2011, 5.4 et de l’ISO 22432:2011, 3.2, un défaut est un élément géométrique
limité par des frontières naturelles, qui est non idéal et réel (ISO 22432:2011, 3.2.2). Dans le présent
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document, un défaut est considéré comme une portion de la surface physique d’un étalon de mesure
géométrique, plutôt que comme une propriété qui se rapporte à la surface entière. Cela est nécessaire
pour distinguer trois réponses communes à la présence de défauts sur un étalon de mesure, réponses
qui sont facilement confondues les unes avec les autres si elles ne sont pas préci
...