IEC 61326:2002

NORME CEI
INTERNATIONALE
Première édition
2002-02
Matériels électriques de mesure, de commande
et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
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NORME CEI
INTERNATIONALE
Première édition
2002-02
Matériels électriques de mesure, de commande
et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM

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– 2 – 61326 © CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6

INTRODUCTION.10

1 Domaine d'application.12

2 Références normatives .14

2.1 Normes générales .14

2.2 Normes relatives à l'immunité .14

2.3 Normes relatives aux émissions.16
3 Définitions .16
4 Généralités.20
5 Plan d'essai de CEM.22
5.1 Généralités.22
5.2 Configuration de l'EST lors des essais .22
5.2.1 Généralités .22
5.2.2 Composition de l'EST.24
5.2.3 Assemblage de l'EST .24
5.2.4 Accès d’entrée/sortie .24
5.2.5 Matériel auxiliaire.24
5.2.6 Câblage et mise à la terre .24
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EST lors des essais .24
5.3.1 Modes de fonctionnement .24
5.3.2 Conditions d'environnement .24
5.3.3 Logiciel de l'EST durant l'essai.24
5.4 Spécification des critères d'aptitude à la fonction .24
5.5 Description de l'essai.26
6 Prescriptions relatives à l'immunité .26
6.1 Conditions lors des essais .26
6.2 Prescriptions pour les essais d'immunité.26
6.3 Aspects système et application .28
6.4 Aspects aléatoires .28
6.5 Critères d'aptitude à la fonction.28
7 Prescriptions relatives à l'émission.32

7.1 Conditions durant les mesures.32
7.2 Limites d'émission .32
8 Résultats d'essai et rapport d'essai .34
Annexe A (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
prévu pour utilisation sur sites industriels .36
Annexe B (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
en environnements électromagnétiques contrôlés.38
Annexe C (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
d’essai et de mesure portatif .40

– 4 – 61326 © CEI:2002
Annexe D (normative) Configurations d’essai, conditions de fonctionnement et critères

d’aptitude à la fonction pour les matériels d’essai et de mesure sensibles destinés

à des applications non protégées .42

Annexe E (normative) Configurations d'essai, conditions de fonctionnement et critères

d'aptitude à la fonction pour les matériels portatifs d'essai, de mesure et de contrôle

utilisés dans des systèmes de distribution basse tension .48

Annexe F (normative) Configurations d'essai, conditions de fonctionnement et critères

d'aptitude à la fonction pour les transducteurs à conditionnement

de signal intégré ou à distance .56

Figure 1 – Exemples d'accès.18

Figure E.1 – Configuration d'essai pour les matériels portatifs d'essai, de mesure
et de contrôle basée sur la CEI 61000-4-3.52
Figure E.2 – Exemple de détails de raccordement pour les mesures de tension .54
Figure E.3 – Exemples de détails de raccordement pour les mesures de courant.54
Figure F.1 – Exemple de transducteur à conditionnement de signal intégré.58
Figure F.2 – Exemple de transducteur à conditionnement de signal à distance.58
Figure F.3 – Exemple de configuration d'un transducteur de force avec traitement
à distance des valeurs mesurées .66
Figure F.4 – Erreur de mesure maximale additionnelle (f ) par rapport à l'erreur
z
de mesure maximale (f ), dans le cas de perturbations continues .70
y
Figure F.5 – Erreur de mesure maximale additionnelle f par rapport à l'erreur
z
de mesure maximale f dans le cas de perturbations transitoires .72
y
Figure F.6 – Exemple de configuration pour un transducteur de pression.74
Figure F.7 – Erreur de mesure maximale additionnelle (f ) en fonction de l’erreur
z
de mesure maximale (f ) .78
y
Tableau 1 – Prescriptions minimales pour les essais d'immunité.28
Tableau 2 – Exemple d'évaluation des résultats de l'essai d'immunité.32
Tableau 3 – Limites d'émission pour les matériels de la classe A.34
Tableau 4 – Limites d'émission pour les matériels de la classe B.34
Tableau A.1 – Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
prévu pour utilisation sur sites industriels .36
Tableau B.1 – Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
en environnements électromagnétiques contrôlés.38

Tableau C.1 – Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel d’essai
et de mesure portatif .40
Tableau F.1 – Critères d'aptitude à la fonction pour les différentes fonctions.62
Tableau F.2 – Actions du circuit produisant un signal de sortie qui simule une charge
mécanique sur le transducteur .68
Tableau F.3 – Critères d'aptitude à la fonction pour les différentes fonctions.68
Tableau F.4 – Erreur de mesure maximale additionnelle (f ) pour une erreur de mesure
z
maximale donnée (f ) dans le cas de perturbations continues.70
y
Tableau F.5 – Erreur de mesure maximale additionnelle f pour une erreur de mesure
z
maximale donnée f dans le cas de perturbations transitoires.70
y
Tableau F.6 – Critères d'aptitude à la fonction pour les différentes fonctions.76
Tableau F.7 – Erreur de mesure maximale additionnelle f pour une erreur de mesure
z
donnée f .76
y
– 6 – 61326 © CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE, DE COMMANDE

ET DE LABORATOIRE –
PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61326 a été établie par le sous-comité 65A: Aspects systèmes, du
comité d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels.
Cette norme annule et remplace la première édition de la CEI 61326-1 parue en 1997, son
amendement 1 (1998) et son amendement 2 (2000). Elle en constitue une révision technique.
Le texte anglais de cette norme est basé sur les documents 65A/345/FDIS et 65A/348/RVD.

Le rapport de vote 65A/348/RVD donne toute information sur le vote ayant abouti à
l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.
Les indications générales données dans le Guide 107 de la CEI ont été suivies.

– 8 – 61326 © CEI:2002
Les annexes A, B, C, D, E et F font partie intégrante de la présente norme.

La version française n'a pas été soumise au vote.

Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2003.

A cette date, la publication sera

• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
Le contenu du corrigendum de juillet 2002 a été pris en considération dans cet exemplaire.

– 10 – 61326 © CEI:2002
INTRODUCTION
Les instruments et les matériels concernés par la présente norme peuvent souvent être très

dispersés d'un point de vue géographique et il peuvent être amenés à fonctionner dans des

conditions d'environnement très différentes.

La limitation des émissions électromagnétiques indésirables permet d'éviter qu'un autre

matériel, installé à proximité, soit soumis à l'influence du matériel considéré. Les limites sont

plus ou moins spécifiées dans les publications de la CEI et du Comité International Spécial des

Perturbations Radioélectriques (CISPR) et proviennent donc de ces documents.

Toutefois, le matériel est appelé à fonctionner sans dégradation excessive dans un environ-
nement électromagnétique type. Les valeurs limites d'immunité indiquées dans la présente
norme ont été choisies à partir de cette hypothèse. Les risques particuliers, dus par exemple à
des coups de foudre proches ou directs, à l'ouverture d'un circuit ou à un rayonnement
électromagnétique exceptionnellement élevé dans les environs proches, ne sont pas couverts.
Les systèmes électriques et/ou électroniques complexes nécessitent tout au long de leur
conception et de leur installation une planification de la CEM prenant en compte l'environ-
nement électromagnétique, les prescriptions particulières et la gravité des pannes.

– 12 – 61326 © CEI:2002
MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE, DE COMMANDE

ET DE LABORATOIRE –
PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

1 Domaine d'application
La présente Norme internationale énonce les prescriptions minimales relatives à l'immunité et

aux émissions concernant la compatibilité électromagnétique (CEM) pour les matériels
électriques fonctionnant à partir d'une source d'alimentation inférieure à 1 000 V en courant
alternatif ou 1 500 V en courant continu ou à partir du circuit mesuré, prévus pour un usage
professionnel, pour les processus industriels et pour l'enseignement, comprenant les matériels
et les dispositifs informatiques pour:
– la mesure et les essais;
– la commande;
– les laboratoires;
– les accessoires prévus pour être utilisés dans les cas mentionnés ci-dessus (par exemple
matériel de manipulation échantillons), dans un usage en milieu industriel ou non industriel.
Les dispositifs informatiques et les matériels similaires entrant dans le domaine d'application
des appareils de traitement de l'information (ATI) et répondant aux normes de CEM des ATI
peuvent être utilisés sans essai supplémentaire.
Lorsqu’une norme CEM spécifique et appropriée existe, elle doit supplanter sous tous ses
aspects cette norme de famille de produits.
Les matériels cités ci-après entrent dans le domaine d'application de la présente norme.
a) Matériels électriques de mesure et d'essai
Matériels électriques permettant de mesurer, d'indiquer ou d'enregistrer une ou plusieurs
grandeurs électriques ou non électriques, et également des matériels qui ne sont pas
des matériels de mesure, tels que générateurs de signaux, étalons, alimentations et
transducteurs.
b) Matériels électriques de commande
Matériels servant à commander une ou plusieurs valeurs de sortie spécifiques, chacune de
ces grandeurs étant déterminée par des réglages manuels, par une programmation locale

ou à distance, ou par une ou plusieurs variables d'entrée. Cette catégorie comprend les
matériels de mesure et de commande dans les processus industriels (IPMC), tels que
– les régulateurs et contrôleurs de processus;
– les automates programmables (AP);
– les blocs d'alimentation des matériels et des systèmes (centralisés ou spécialisés);
– les indicateurs et les enregistreurs analogiques/numériques;
– les instruments de processus;
– les transducteurs, positionneurs, organes de commande intelligents, etc.
c) Matériels électriques de laboratoire
Matériels permettant de mesurer, d'indiquer, de contrôler ou d'analyser des substances, ou
servant à préparer diverses matières.

– 14 – 61326 © CEI:2002
Cette norme s’applique aux
– matériels utilisés sur les sites industriels;

– matériels utilisés dans les laboratoires ou dans les zones d’essai et de mesure en

environnement électromagnétique contrôlé;

– matériels d’essai et de mesure portatifs et alimentés par batterie ou par le circuit mesuré.

Ces matériels peuvent également être utilisés dans d'autres endroits que les laboratoires.

2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
2.1 Normes générales
CEI 60050(151):2001, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 151:
Dispositifs électriques et magnétiques
CEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 60359, Appareils de mesure électriques et électroniques – Expression des performances
CEI 61010 (toutes les parties), Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de
régulation et de laboratoire
CEI 61557 (toutes les parties), Sécurité électrique dans les réseaux de distribution basse
tension de 1 000 V c.a. et 1 500 V c.c. – Dispositifs de contrôle, de mesure ou de surveillance
de mesures de protection
1)
IEEE 488.1:1987, IEE standard digital interface for programmable instrumentation
IEEE 1284:1994, IEEE standard signalling method for a bidirectional parallel peripherical
1)
interface for personal computers
TIA/EIA-232-F:1997, Interface between data terminal equipment and data circuit-terminating
1)
equipment employing serial binary data interchange
2.2 Normes relatives à l'immunité

CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-2: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux décharges électrostatiques – Publication fondamentale
en CEM
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-3: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d'essai
et de mesure – Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves – Publication
fondamentale en CEM
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-5: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux ondes de choc
________
1)
Ces publications ne sont disponibles qu'en anglais.

– 16 – 61326 © CEI:2002
CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-6: Techniques d'essai

et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs radioélectriques

CEI 61000-4-8:1993, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-8: Techniques d’essai

et de mesure – Essai d’immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau – Publication

fondamentale en CEM
CEI 61000-4-11:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-11: Techniques
d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension
2.3 Normes relatives aux émissions
CEI 61000-3-2:2000, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-2: Limites – Limites
pour les émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils ≤16 A par phase)
CEI 61000-3-3:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-3: Limites – Limitation
des fluctuations de tension et du flicker dans les réseaux basse tension pour les équipements
ayant un courant appelé ≤16 A
CISPR 11:1997, Appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence radio-
électrique – Caractéristiques de perturbations électromagnétiques – Limites et méthodes de
mesure
CISPR 14-1:2000, Compatibilité électromagnétique – Exigences pour les appareils électro-
domestiques, outillages électriques et appareils analogues – Partie 1: Emission
CISPR 16-1:1999, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
CISPR 16-2:1996, Spécification pour les appareils et méthodes de mesure des perturbations
radioélectriques et de l’immunité – Partie 2: Méthodes de mesure des perturbations et de
l’immunité
CISPR 22:1997, Appareils de traitement de l'information – Caractéristiques des perturbations
radioélectriques – Limites et méthodes de mesure
3 Définitions
Pour les besoins de la présente Norme internationale, les définitions données dans la
CEI 60050(161) s'appliquent conjointement avec les définitions suivantes.

D'autres définitions, qui ne se trouvent ni dans la CEI 60050(161) ni dans la présente norme
mais qui sont néanmoins nécessaires à l'application des différents essais, sont données dans
les publications fondamentales en CEM.
3.1
essai de type
essai effectué sur un ou plusieurs échantillons de matériel (ou de parties de matériel) réalisés
selon une conception particulière pour vérifier que la conception et la construction répondent à
une ou plusieurs prescriptions de la présente norme. L'échantillonnage statistique n'est pas
nécessaire pour les matériels de mesure, de commande et de laboratoire
NOTE La définition ci-dessus est une extension de la définition VEI 151-04-15 permettant de couvrir les
prescriptions relatives à la conception et à la construction.

– 18 – 61326 © CEI:2002
3.2
accès
interface particulière du dispositif ou du système spécifique concerné par la présente norme

avec l'environnement électromagnétique extérieur (voir à la figure 1 un exemple de matériel en

essai (EST))
NOTE Les accès E/S sont des accès d'entrée, de sortie ou bidirectionnels, de mesure, de commande ou de données.

Accès par l'enveloppe
Accès par l'alimentation c.a. Accès par la borne de terre

EST
Accès par l'alimentation c.c Accès E/S
IEC  1119/98
Figure 1 – Exemples d'accès
3.3
accès par l'enveloppe
frontière physique d'un matériel à travers laquelle les champs électromagnétiques peuvent
rayonner ou sur laquelle ils peuvent venir buter
3.4
appareils de classe A
appareils prévus pour être utilisés dans tous les établissements autres que les locaux domes-
tiques et autres que ceux qui sont connectés directement à un réseau de distribution
d’électricité à basse tension alimentant des bâtiments à usage domestique
[CISPR 11, 4.2]
3.5
appareils de classe B
appareils prévus pour être utilisés dans les locaux domestiques et dans les établissements
raccordés directement à un réseau de distribution d’électricité à basse tension alimentant des
bâtiments à usage domestique
[CISPR 11, 4.2]
3.6
lignes à grande distance
lignes se trouvant à l'intérieur d'un bâtiment et dont la longueur dépasse 30 m, ou lignes
sortant du bâtiment (y compris les lignes des installations extérieures)

3.7
sites industriels
sites caractérisés par la présence d’un réseau séparé de distribution électrique, alimenté dans
la plupart des cas par un transformateur haute ou moyenne tension, destiné à fournir l’énergie
à des installations alimentant les usines de fabrication ou similaires, avec l’une ou plusieurs
des conditions suivantes:
– commutation fréquente de fortes charges inductives ou capacitives;
– intensités et champs magnétiques associés importants;
– présence d’appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) (par exemple poste de
soudure)
3.8
laboratoire ou zone d’essai et de mesure
zone qui est spécifiquement consacrée à l’analyse, l’essai et l’entretien. Il faut que le matériel
rentrant dans ce champ soit utilisé par du personnel qualifié

– 20 – 61326 © CEI:2002
3.9
environnement électromagnétique contrôlé

environnement caractérisé d’ordinaire par la reconnaissance et le contrôle de dangers de

compatibilité électromagnétique par les utilisateurs du matériel ou par la conception de

l’installation
3.10
erreur intrinsèque
erreur d'un instrument de mesure ou d'essai lorsque celui-ci est utilisé dans les conditions de
référence
[CEI 60359, définition 4.20 modifiée]

3.11
variation
différence entre les valeurs indiquées pour la même valeur de la grandeur mesurée d'un ins-
trument indicateur ou enregistreur lorsqu'une seule grandeur d'influence prend successivement
deux valeurs différentes
[CEI 60359, définition 4.21 modifiée]
3.12
Vacant
3.13
transducteur à conditionnement de signal intégré
transducteur dans lequel tous les composants de conditionnement du signal sont intégrés dans
l'enveloppe (voir figure F.1)
3.14
transducteur à conditionnement de signal à distance
transducteur dont les composants de conditionnement du signal sont installés dans des
enveloppes séparées (voir figure F.2)
3.15
liaison de transmission
connexion entre les composants individuels d'un transducteur à conditionnement de signal à
distance
3.16
domaine nominal
valeur clairement spécifiée ou limite supérieure de l'étendue de mesure
4 Généralités
Les matériels et les systèmes concernés par la présente norme peuvent être soumis à divers
types de perturbations électromagnétiques conduites par les lignes d'alimentation, de mesure
ou de commande ou rayonnées par l'environnement. Les types et les niveaux des perturbations
dépendent des conditions spécifiques dans lesquelles les systèmes, sous-systèmes ou matériels
sont installés et fonctionnent.
Les matériels d'essai tels que générateurs, analyseurs, fréquencemètres doivent satisfaire aux
prescriptions dans des conditions définies par le fabricant (c'est-à-dire sans objet d'essai
associé ou connectant une terminaison de 50 Ω à la sortie d'un générateur de signal).

– 22 – 61326 © CEI:2002
Le fabricant doit donner des informations précisant que des émissions excédant les niveaux

exigés par la présente norme peuvent apparaître lorsque le matériel est associé à un objet

d'essai.
Les critères d'acceptation relatifs aux prescriptions d'immunité sont élaborés en prenant en

compte la fonctionnalité et la fiabilité.

Les matériels et les différents dispositifs d'un système concernés par la présente norme

peuvent également être une source de perturbations électromagnétiques couvrant une large

gamme de fréquences. Ces perturbations peuvent être conduites par les lignes d'alimentation

et de signalisation ou rayonner directement, et elles peuvent affecter les performances des

autres matériels ou influencer l'environnement électromagnétique extérieur.
En ce qui concerne les émissions, l'objectif de ces prescriptions consiste à assurer que les
perturbations générées par les matériels et les systèmes, en fonctionnement normal, ne
dépassent pas un niveau qui pourrait empêcher les autres systèmes de fonctionner comme
prévu. Les limites d'émission pour les sites industriels sont indiquées au tableau 3. Les limites
d'émission pour les sites non industriels sont indiquées au tableau 4.
Pour se conformer à la présente norme, aucun essai additionnel de CEM n'est exigé en plus de
ceux mentionnés ici.
NOTE 1 Des niveaux d'immunité supérieurs à ceux indiqués peuvent être nécessaires lors de certaines
applications (par exemple lorsqu'un fonctionnement fiable du matériel est indispensable pour des raisons de
sécurité) ou lorsqu'il est prévu que le matériel fonctionne dans un environnement électromagnétique plus sévère.
NOTE 2 La présente norme ne spécifie pas de prescriptions fondamentales de sécurité, telles que la protection
contre les chocs électriques, un fonctionnement dangereux, une coordination de l'isolement et des essais
diélectriques sur les matériels. Se reporter à la CEI 61010 pour les prescriptions de sécurité.
NOTE 3 Les limites d'émission de cette norme ne peuvent cependant pas assurer une protection complète contre
les interférences de la réception radio ou télévision lorsque les matériels de mesure, de commande ou de
laboratoire sont utilisés à moins de 30 m de l'antenne de réception pour les applications industrielles ou
professionnelles, et à moins de 10 m pour les applications domestiques et commerciales.
NOTE 4 Dans certains cas particuliers, par exemple lorsqu'un matériel hautement sensible est utilisé à proximité
immédiate, des mesures de réduction complémentaires peuvent se révéler nécessaires afin de ramener l'émission
électromagnétique en dessous des limites spécifiées.
NOTE 5 Le fabricant peut choisir d'effectuer tous les essais sur un seul ou sur plusieurs EST. La séquence
d'essais est optionnelle.
5 Plan d'essai de CEM
5.1 Généralités
Avant d'effectuer les essais, un plan d'essai de CEM doit être établi. Ce plan doit contenir au
minimum les éléments mentionnés de 5.2 à 5.5.

Il peut être décidé, après considération des caractéristiques électriques et utilisation d’un
appareil particulier, que certains essais ne sont pas adaptés et par conséquent inutiles. Dans
ce cas, la décision de ne pas réaliser un essai doit être enregistrée dans le plan d’essai
de CEM.
5.2 Configuration de l'EST lors des essais
5.2.1 Généralités
Les matériels de mesure, de commande et de laboratoire consistent souvent en systèmes dont
la configuration n'est pas figée. Le type, le nombre et l'installation des différents sous-
ensembles à l'intérieur du matériau peuvent donc varier d'un système à l'autre. Il est raison-
nable, et même recommandé, de ne pas essayer tous les arrangements possibles.

– 24 – 61326 © CEI:2002
Afin de simuler de façon réaliste les conditions de CEM (en ce qui concerne les émissions et

l'immunité), les matériels doivent représenter une installation type telle que celle spécifiée par

le fabricant. Ces essais doivent être effectués comme essais de type dans des conditions de

fonctionnement normales telles que celles spécifiées par le fabricant.

5.2.2 Composition de l'EST
Tous les dispositifs, baies, modules, cartes, etc. importants pour la CEM et appartenant à

l'EST doivent être documentés.

5.2.3 Assemblage de l'EST
Si l'EST a plusieurs configurations internes et externes possibles, les essais de type doivent
être effectués avec une ou plusieurs configurations types, représentatives de l'utilisation
normale. Tous les types de modules doivent être essayés au moins une fois. La raison de ce
choix doit être explicitée dans le plan d'essai de CEM.
5.2.4 Accès d’entrée/sortie
Lorsqu’il y a plusieurs accès d’entrée/sortie du même type, la connexion d’un câble à un seul
accès est suffisante à condition qu’il soit possible de démontrer que des câbles supplé-
mentaires ne vont pas affecter les résultats de façon significative.
5.2.5 Matériel auxiliaire
Lorsqu’il est possible d’utiliser une variété de dispositifs avec l'EST, au moins un dispositif de
chaque type doit être choisi pour simuler les conditions réelles de fonctionnement. Le dispositif
auxiliaire peut être simulé.
5.2.6 Câblage et mise à la terre
Les câbles de mise à la terre doivent être raccordés à l'EST conformément aux spécifications
du fabricant. Il ne doit y avoir aucun raccordement supplémentaire à la terre.
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EST lors des essais
5.3.1 Modes de fonctionnement
Une sélection des modes de fonctionnement représentatifs doit être effectuée, en considérant
que seules les fonctions les plus typiques du matériel électronique peuvent être essayées. Les
modes de fonctionnement estimés comme étant les plus défavorables dans des conditions
d'utilisation normales doivent être sélectionnés.

5.3.2 Conditions d'environnement
Les essais doivent être réalisés dans les plages d'environnement indiquées par le fabricant
(par exemple température ambiante, humidité, pression atmosphérique) et dans les plages
assignées pour la tension d'alimentation et la fréquence.
5.3.3 Logiciel de l'EST durant l'essai
Le logiciel utilisé pour simuler les différents modes de fonctionnement doit être précisé. Ce
logiciel doit représenter le cas estimé comme étant le plus défavorable pour une application
normale.
5.4 Spécification des critères d'aptitude à la fonction
Les critères d'aptitude à la fonction pour chaque accès et chaque essai doivent être précisés
et, lorsque cela est possible, ils doivent être précisés sous la forme de valeurs quantitatives.

– 26 – 61326 © CEI:2002
5.5 Description de l'essai
Chaque essai à effectuer doit être spécifié dans le plan d'essai de CEM. La description des

essais, les méthodes d'essai, les caractéristiques des essais et les montages d'essai sont

indiqués dans les normes fondamentales mentionnées en 6.2 et 7.2. Il n'est pas nécessaire de

reproduire le contenu de ces normes fondamentales dans le plan d'essai; toutefois des infor-
mations complémentaires nécessaires à la mise en œuvre pratique des essais se trouvent dans

la présente norme. Dans certains cas, le plan d'essai de CEM doit détailler toute l'application.

NOTE Tous les phénomènes de perturbation connus n'ont pas été spécifiés pour les essais dans la présente

norme, mais seulement ceux considérés comme les plus critiques.

6 Prescriptions relatives à l'immunité
6.1 Conditions lors des essais
La configuration et les modes de fonctionnement utilisés lors des essais doivent être consignés
de façon précise dans le rapport d'essai.
Les essais doivent être réalisés sur les accès pertinents conformément aux tableaux 1, A.1,
B.1 ou C.1 en fonction de ce qui s'applique.
Les essais doivent être menés conformément aux normes fondamentales. Les essais doivent
être effectués un par un. Si des méthodes supplémentaires sont nécessaires, elles doivent être
justifiées et documentées.
6.2 Prescriptions pour les essais d'immunité
Les prescriptions d'essai relatives à l'immunité sont indiquées au tableau 1.
Les prescriptions particulières pour les sites industriels sont données dans le tableau A.1.
Les prescriptions particulières pour les laboratoires ou les zones d’essai et de mesure en
environnement électromagnétique contrôlé sont données dans le tableau B.1.
Les prescriptions particulières pour les appareils d’essai et de mesure portatifs alimentés par
batterie ou par le circuit mesuré sont données dans le tableau C.1.
En ce qui concerne les câbles d’entrée/sortie, lorsque le fabricant indique qu'il faut utiliser des
câbles blindés ou qu'il faut placer les câbles sur des chemins de câbles métalliques ou dans
des gaines, les prescriptions pour les perturbations conduites peuvent ne pas être respectées
dans la plage de fréquences de 150 kHz à 80 MHz.

Les essais sur les accès par les bornes de terre ne sont pas spécifiés séparément car ils sont
couverts par les normes fondamentales concernées:
– les accès par les bornes de terre de protection spécifiques sont essayés comme accès par
l'alimentation c.a.;
– les connexions à la terre fonctionnelles sont essayés comme accès entrée/sortie.

– 28 – 61326 © CEI:2002
Tableau 1 – Prescriptions minimales pour les essais d'immunité

Accès Phénomènes Normes Valeurs d'essai

fondamentales
Enveloppe Décharges électrostatiques (DES) CEI 61000-4-2 4 kV/4 kV contact/air

Champ électromagnétique CEI 61000-4-3 3 V/m

Alimentation c.a. Interruption de tension/brèves interruptions CEI 61000-4-11 1 période/100 %

Transitoires rapides en salves CEI 61000-4-4 1 kV
a b
Onde de choc CEI 61000-4-5 0,5 kV /1 kV
Perturbations RF conduites CEI 61000-4-6 3 V

d
Alimentation c.c. Transitoires rapides en salves CEI 61000-4-4 1 kV
a b
Onde de choc CEI 61000-4-5 0,5 kV /1 kV

Perturbations RF conduites CEI 61000-4-6 3 V
d
Entrée/Sortie Transitoires rapides en salves CEI 61000-4-4 0,5 kV

b c
Signal/ Onde de choc CEI 61000-4-5 1 kV
d
Commande Perturbations RF conduites CEI 61000-4-6 3 V
Entrée/Sortie Transitoires rapides en salves CEI 61000-4-4 1 kV
a b
Signal/Commande Onde de choc CEI 61000-4-5 0,5 kV /1 kV
connectés directement Perturbations RF conduites CEI 61000-4-6 3 V
à l’alimentation secteur
a
Ligne – ligne
b
Ligne – terre
c
Seulement dans le cas des lignes à grande distance (voir 3.6)
d
Seulement dans le cas de lignes >3 m
Le matériel ne doit pas devenir dangereux ou perdre ses fonctions de sécurité à la suite de
l’application des essais.
6.3 Aspects système et application
Si des niveaux supérieurs ou des essais relatifs à d'autres phénomènes du système sont
nécessaires pour des applications particulières, l'immunité doit être augmentée ou des
mesures de réduction doivent être appliquées dans l'installation.
6.4 Aspects aléatoires
Le critère d'aptitude à la fonction doit être observable durant l'essai et ne doit pas être un
phénomène aléatoire. La durée de l'essai et le nombre d'essais doivent être suffisants pour
permettre de tester chaque fonction de l'EST comme indiqué dans le plan d’essai de CEM. Il
faut porter une attention particulière pour s'assurer que cela est couvert avec les EST à
commande automatique (processeur).
NOTE Par exemple, dans le cas d'un essai de décharges électrostatiques sur un dispositif numérique, il convient
que l'EST soit exposé à au moins 10 décharges dans chaque polarité, point d'application et niveau d'essai, pour

exclure tout effet aléatoire. En cas d'essai de transitoires rapides en salves, il peut être conseillé de porter la durée
de l'essai à plus de 1 min.
6.5 Critères d'aptitude à la fonction
Les principes généraux (critères de performance) pour l'évaluation des résultats de l'essai
d'immunité sont les suivants.
6.5.1 Critère d'aptitude A: Durant l'essai, comportement normal dans les limites de la
spécification
Exemple 1
Si un matériel électronique possède une unité centrale de traitement et qu'il est prescrit qu'il
fonctionne avec une fiabilité élevée, le processeur doit fonctionner sans aucune dégradation
apparente par rapport aux spécifications du fabricant.

– 30 – 61326 © CEI:2002
6.5.2 Critère d'aptitude B: Durant l'essai, dégradation temporaire ou perte de fonction ou

de comportement qui est autorécupérable

Exemple 1
Un transfert de données est commandé/contrôlé par un contrôle de parité ou par d'autres

moyens. Dans le cas d'un mauvais fonctionnement dû par exemple à un coup de foudre, le

transfert de données est répété automatiquement. La réduction de vitesse de ce transfert de

données est alors acceptable.
Exemple 2
Durant l'essai, la valeur d'une fonction analogique s'écarte tout en restant dans une marge
autorisée. Après l'essai, l'écart disparaît.
Exemple 3
Dans le cas d'un appareil de surveillance utilisé uniquement pour un contrôle homme-machine,
une certaine dégradation est acceptable durant un court laps de temps, par exemple des
éclairs lors de l'application des transitoires rapides en salves.
6.5.3 Critère d'aptitude C: Durant l'essai, dégradation temporaire ou perte de fonction ou
de comportement nécessitant l'intervention d'un l'opérateur ou une remise à zéro du système.
Exemple 1
Dans le cas d'une interruption du secteur plus longue que la période tampon spécifiée, l'unité
d'alimentation du matériel est coupée. La remise sous tension peut être automatique ou être
effectuée par l'opérateur.
Exemple 2
Après une interruption de programme due à une perturbation, les fonctions processeur du
matériel doivent s'arrêter dans une position sûre, et non être laissées dans un «état
d'abandon». Des suggestions d'aide à la décision de l'opérateur peuvent être nécessaires.
Exemple 3
L'essai aboutit à l'ouverture d'un dispositif de protection contre les surintensités, lequel doit
être remplacé ou réarmé par l'opérateur.
Critère d'aptitude D: Dégradation o
...

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-02
Matériels électriques de mesure, de commande
et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61326:2002
Numérotation des publications Publication numbering

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sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-02
Matériels électriques de mesure, de commande
et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements
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– 2 – 61326 © CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6

INTRODUCTION.10

1 Domaine d'application.12

2 Références normatives .14

2.1 Normes générales .14

2.2 Normes relatives à l'immunité .14

2.3 Normes relatives aux émissions.16
3 Définitions .16
4 Généralités.20
5 Plan d'essai de CEM.22
5.1 Généralités.22
5.2 Configuration de l'EST lors des essais .22
5.2.1 Généralités .22
5.2.2 Composition de l'EST.24
5.2.3 Assemblage de l'EST .24
5.2.4 Accès d’entrée/sortie .24
5.2.5 Matériel auxiliaire.24
5.2.6 Câblage et mise à la terre .24
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EST lors des essais .24
5.3.1 Modes de fonctionnement .24
5.3.2 Conditions d'environnement .24
5.3.3 Logiciel de l'EST durant l'essai.24
5.4 Spécification des critères d'aptitude à la fonction .24
5.5 Description de l'essai.26
6 Prescriptions relatives à l'immunité .26
6.1 Conditions lors des essais .26
6.2 Prescriptions pour les essais d'immunité.26
6.3 Aspects système et application .28
6.4 Aspects aléatoires .28
6.5 Critères d'aptitude à la fonction.28
7 Prescriptions relatives à l'émission.32

7.1 Conditions durant les mesures.32
7.2 Limites d'émission .32
8 Résultats d'essai et rapport d'essai .34
Annexe A (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
prévu pour utilisation sur sites industriels .36
Annexe B (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
en environnements électromagnétiques contrôlés.38
Annexe C (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
d’essai et de mesure portatif .40

61326 © IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 7

INTRODUCTION .11

1 Scope .13

2 Normative references.15

2.1 General standards .15

2.2 Immunity standards.15

2.3 Emission standards.17

3 Definitions.17
4 General.21
5 EMC test plan .23
5.1 General .23
5.2 Configuration of EUT during testing.23
5.2.1 General.23
5.2.2 Composition of EUT .25
5.2.3 Assembly of EUT .25
5.2.4 I/O ports.25
5.2.5 Auxiliary equipment.25
5.2.6 Cabling and earthing (grounding).25
5.3 Operation conditions of EUT during testing.25
5.3.1 Operation modes.25
5.3.2 Environmental conditions .25
5.3.3 EUT software during test.25
5.4 Specification of performance criteria .25
5.5 Test description .27
6 Immunity requirements.27
6.1 Conditions during the tests.27
6.2 Immunity test requirements .27
6.3 System and application aspects .29
6.4 Random aspects .29
6.5 Performance criteria .29
7 Emission requirements.33
7.1 Conditions during measurements .33

7.2 Emission limits.33
8 Test results and test report .35
Annex A (normative) Immunity test requirements for equipment intended for use
in industrial locations .37
Annex B (normative) Immunity test requirements for equipment used in
controlled EM environments.39
Annex C (normative) Immunity test requirements for portable test and
measurement equipment .41

– 4 – 61326 © CEI:2002
Annexe D (normative) Configurations d’essai, conditions de fonctionnement et critères

d’aptitude à la fonction pour les matériels d’essai et de mesure sensibles destinés

à des applications non protégées .42

Annexe E (normative) Configurations d'essai, conditions de fonctionnement et critères

d'aptitude à la fonction pour les matériels portatifs d'essai, de mesure et de contrôle

utilisés dans des systèmes de distribution basse tension .48

Annexe F (normative) Configurations d'essai, conditions de fonctionnement et critères

d'aptitude à la fonction pour les transducteurs à conditionnement

de signal intégré ou à distance .56

Figure 1 – Exemples d'accès.18

Figure E.1 – Configuration d'essai pour les matériels portatifs d'essai, de mesure
et de contrôle basée sur la CEI 61000-4-3.52
Figure E.2 – Exemple de détails de raccordement pour les mesures de tension .54
Figure E.3 – Exemples de détails de raccordement pour les mesures de courant.54
Figure F.1 – Exemple de transducteur à conditionnement de signal intégré.58
Figure F.2 – Exemple de transducteur à conditionnement de signal à distance.58
Figure F.3 – Exemple de configuration d'un transducteur de force avec traitement
à distance des valeurs mesurées .66
Figure F.4 – Erreur de mesure maximale additionnelle (f ) par rapport à l'erreur
z
de mesure maximale (f ), dans le cas de perturbations continues .70
y
Figure F.5 – Erreur de mesure maximale additionnelle f par rapport à l'erreur
z
de mesure maximale f dans le cas de perturbations transitoires .72
y
Figure F.6 – Exemple de configuration pour un transducteur de pression.74
Figure F.7 – Erreur de mesure maximale additionnelle (f ) en fonction de l’erreur
z
de mesure maximale (f ) .78
y
Tableau 1 – Prescriptions minimales pour les essais d'immunité.28
Tableau 2 – Exemple d'évaluation des résultats de l'essai d'immunité.32
Tableau 3 – Limites d'émission pour les matériels de la classe A.34
Tableau 4 – Limites d'émission pour les matériels de la classe B.34
Tableau A.1 – Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
prévu pour utilisation sur sites industriels .36
Tableau B.1 – Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
en environnements électromagnétiques contrôlés.38

Tableau C.1 – Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel d’essai
et de mesure portatif .40
Tableau F.1 – Critères d'aptitude à la fonction pour les différentes fonctions.62
Tableau F.2 – Actions du circuit produisant un signal de sortie qui simule une charge
mécanique sur le transducteur .68
Tableau F.3 – Critères d'aptitude à la fonction pour les différentes fonctions.68
Tableau F.4 – Erreur de mesure maximale additionnelle (f ) pour une erreur de mesure
z
maximale donnée (f ) dans le cas de perturbations continues.70
y
Tableau F.5 – Erreur de mesure maximale additionnelle f pour une erreur de mesure
z
maximale donnée f dans le cas de perturbations transitoires.70
y
Tableau F.6 – Critères d'aptitude à la fonction pour les différentes fonctions.76
Tableau F.7 – Erreur de mesure maximale additionnelle f pour une erreur de mesure
z
donnée f .76
y
61326 © IEC:2002 – 5 –
Annex D (normative) Test configurations, operational conditions and performance criteria

for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications.43

Annex E (normative) Test configurations, operational conditions and performance

criteria for portable test, measuring and monitoring equipment used in low-voltage

distribution systems.49

Annex F (normative) Test configurations, operational conditions and performance

criteria for transducers with integrated or remote signal conditioning .57

Figure 1 – Examples of ports .19

Figure E.1 – Test set-up for portable test, measuring and monitoring equipment based

on IEC 61000-4-3 .53
Figure E.2 – Example of connection details for voltage measurements.55
Figure E.3 – Example of connection details for current measurements .55
Figure F.1 – Example of a transducer with integrated signal conditioning .59
Figure F.2 – Example of a transducer with remote signal conditioning .59
Figure F.3 – Example of the configuration of a force transducer with remote measured-
value processing .67
Figure F.4 – Additional maximum measuring error (f ) versus the maximum measuring
z
error (f ) for continuous disturbances.71
y
Figure F.5 – Additional maximum measuring error (f ) versus the maximum measuring
z
error (f ) for transient disturbances .73
y
Figure F.6 – Example of the configuration of a pressure transducer .75
Figure F.7 – Additional maximum measuring error (f ) versus the maximum measuring
z
error (f ) .79
y
Table 1 – Minimum immunity test requirements.29
Table 2 – Example of evaluation of immunity test results .33
Table 3 – Emission limits for class A equipment.35
Table 4 – Emission limits for class B equipment.35
Table A.1 – Immunity test requirements for equipment intended for use in industrial
locations .37
Table B.1 – Immunity test requirements for equipment used in controlled EM
environments.39
Table C.1 – Immunity test requirements for portable test and measurement equipment .41
Table F.1 – Performance criteria for the different functions .63

Table F.2 – Circuitry actions for generating an output signal for simulation of a
mechanical load on the transducer .69
Table F.3 – Performance criteria for the different functions .69
Table F.4 – Additional maximum measuring error (f for a given maximum measuring
z)
error (f ) for continuous disturbances.71
y
Table F.5 – Additional maximum measuring error (f ) for a given maximum measuring
z
error (f ) for transient disturbances .71
y
Table F.6 – Performance criteria for the different functions .77
Table F.7 – Additional maximum measuring error (f ) for a given maximum measuring
z
error (f ) .77
y
– 6 – 61326 © CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE, DE COMMANDE

ET DE LABORATOIRE –
PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61326 a été établie par le sous-comité 65A: Aspects systèmes, du
comité d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels.
Cette norme annule et remplace la première édition de la CEI 61326-1 parue en 1997, son
amendement 1 (1998) et son amendement 2 (2000). Elle en constitue une révision technique.
Le texte anglais de cette norme est basé sur les documents 65A/345/FDIS et 65A/348/RVD.

Le rapport de vote 65A/348/RVD donne toute information sur le vote ayant abouti à
l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.
Les indications générales données dans le Guide 107 de la CEI ont été suivies.

61326 © IEC:2002 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

___________
ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,

CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for
Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61326 has been prepared by subcommittee 65A: System aspects,
of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control.
This standard cancels and replaces the first edition of IEC 61326-1 published in 1997, its
amendment 1 (1998) and its amendment 2 (2000), and constitutes a technical revision.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
65A/345/FDIS 65A/348/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.
The general indications given in IEC Guide 107 have been followed.

– 8 – 61326 © CEI:2002
Les annexes A, B, C, D, E et F font partie intégrante de la présente norme.

La version française n'a pas été soumise au vote.

Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2003.

A cette date, la publication sera

• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
Le contenu du corrigendum de juillet 2002 a été pris en considération dans cet exemplaire.

61326 © IEC:2002 – 9 –
Annexes A, B, C, D, E and F form an integral part of this standard.

The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged
until 2003. At this date, the publication will be

• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or

• amended.
The contents of the corrigendum of July 2002 have been included in this copy.

– 10 – 61326 © CEI:2002
INTRODUCTION
Les instruments et les matériels concernés par la présente norme peuvent souvent être très

dispersés d'un point de vue géographique et il peuvent être amenés à fonctionner dans des

conditions d'environnement très différentes.

La limitation des émissions électromagnétiques indésirables permet d'éviter qu'un autre

matériel, installé à proximité, soit soumis à l'influence du matériel considéré. Les limites sont

plus ou moins spécifiées dans les publications de la CEI et du Comité International Spécial des

Perturbations Radioélectriques (CISPR) et proviennent donc de ces documents.

Toutefois, le matériel est appelé à fonctionner sans dégradation excessive dans un environ-
nement électromagnétique type. Les valeurs limites d'immunité indiquées dans la présente
norme ont été choisies à partir de cette hypothèse. Les risques particuliers, dus par exemple à
des coups de foudre proches ou directs, à l'ouverture d'un circuit ou à un rayonnement
électromagnétique exceptionnellement élevé dans les environs proches, ne sont pas couverts.
Les systèmes électriques et/ou électroniques complexes nécessitent tout au long de leur
conception et de leur installation une planification de la CEM prenant en compte l'environ-
nement électromagnétique, les prescriptions particulières et la gravité des pannes.

61326 © IEC:2002 – 11 –
INTRODUCTION
Instruments and equipment within the scope of this standard may often be geographically

widespread and may have to operate under a wide range of environmental conditions.

The limitation of undesired electromagnetic emissions ensures that no other equipment,

installed nearby, is unduly influenced by the equipment under consideration. The limits are

more or less specified by, and therefore taken from, IEC and International Special Committee

on Radio Interference (CISPR) publications.

However, the equipment has to function without undue degradation in a typical electromagnetic

environment. The limit values for immunity specified in this standard have been chosen under
this assumption. Special risks, involving for example nearby or direct lightning strikes, circuit-
breaking, or exceptionally high electromagnetic radiation in close proximity, are not covered.
Complex electric and/or electronic systems require EMC planning in all phases of their design
and installation, taking into consideration the electromagnetic environment, any special
requirements, and the severity of failures.

– 12 – 61326 © CEI:2002
MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE, DE COMMANDE

ET DE LABORATOIRE –
PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

1 Domaine d'application
La présente Norme internationale énonce les prescriptions minimales relatives à l'immunité et

aux émissions concernant la compatibilité électromagnétique (CEM) pour les matériels
électriques fonctionnant à partir d'une source d'alimentation inférieure à 1 000 V en courant
alternatif ou 1 500 V en courant continu ou à partir du circuit mesuré, prévus pour un usage
professionnel, pour les processus industriels et pour l'enseignement, comprenant les matériels
et les dispositifs informatiques pour:
– la mesure et les essais;
– la commande;
– les laboratoires;
– les accessoires prévus pour être utilisés dans les cas mentionnés ci-dessus (par exemple
matériel de manipulation échantillons), dans un usage en milieu industriel ou non industriel.
Les dispositifs informatiques et les matériels similaires entrant dans le domaine d'application
des appareils de traitement de l'information (ATI) et répondant aux normes de CEM des ATI
peuvent être utilisés sans essai supplémentaire.
Lorsqu’une norme CEM spécifique et appropriée existe, elle doit supplanter sous tous ses
aspects cette norme de famille de produits.
Les matériels cités ci-après entrent dans le domaine d'application de la présente norme.
a) Matériels électriques de mesure et d'essai
Matériels électriques permettant de mesurer, d'indiquer ou d'enregistrer une ou plusieurs
grandeurs électriques ou non électriques, et également des matériels qui ne sont pas
des matériels de mesure, tels que générateurs de signaux, étalons, alimentations et
transducteurs.
b) Matériels électriques de commande
Matériels servant à commander une ou plusieurs valeurs de sortie spécifiques, chacune de
ces grandeurs étant déterminée par des réglages manuels, par une programmation locale

ou à distance, ou par une ou plusieurs variables d'entrée. Cette catégorie comprend les
matériels de mesure et de commande dans les processus industriels (IPMC), tels que
– les régulateurs et contrôleurs de processus;
– les automates programmables (AP);
– les blocs d'alimentation des matériels et des systèmes (centralisés ou spécialisés);
– les indicateurs et les enregistreurs analogiques/numériques;
– les instruments de processus;
– les transducteurs, positionneurs, organes de commande intelligents, etc.
c) Matériels électriques de laboratoire
Matériels permettant de mesurer, d'indiquer, de contrôler ou d'analyser des substances, ou
servant à préparer diverses matières.

61326 © IEC:2002 – 13 –
ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,

CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS
1 Scope
This International Standard specifies minimum requirements for immunity and emissions regarding

electromagnetic compatibility (EMC) for electrical equipment, operating from a supply of less
than 1 000 V a.c. or 1 500 V d.c. or from the circuit being measured, intended for professional,
industrial-process and educational use, including equipment and computing devices for
– measurement and test;
– control;
– laboratory use;
– accessories intended for use with the above (such as sample handling equipment),
intended to be used in industrial and non-industrial locations.
Computing devices and assemblies and similar equipment within the scope of information
technology equipment (ITE) and complying with applicable ITE EMC standards can be used
without additional testing.
Where a relevant dedicated EMC standard exists, it shall take precedence over all aspects of
this product-family standard.
The following equipment is covered in this standard.
a) Electrical measurement and test equipment
This is equipment which by electrical means measures, indicates or records one or more
electrical or non-electrical quantities, also non-measuring equipment such as signal
generators, measurement standards, power supplies and transducers.
b) Electrical control equipment
This is equipment which controls one or more output quantities to specific values, with each
value determined by manual settings, by local or remote programming, or by one or more
input variables. This includes industrial process measurement and control (IPMC)
equipment, which consists of devices such as:
– process controllers and regulators;

– programmable controllers (PC);
– power supply units of equipment and systems (centralized or dedicated);
– analogue/digital indicators and recorders;
– process instrumentation;
– transducers, positioners, intelligent actuators, etc.
c) Electrical laboratory equipment
This is equipment which measures, indicates, monitors or analyses substances, or is used
to prepare materials.
– 14 – 61326 © CEI:2002
Cette norme s’applique aux
– matériels utilisés sur les sites industriels;

– matériels utilisés dans les laboratoires ou dans les zones d’essai et de mesure en

environnement électromagnétique contrôlé;

– matériels d’essai et de mesure portatifs et alimentés par batterie ou par le circuit mesuré.

Ces matériels peuvent également être utilisés dans d'autres endroits que les laboratoires.

2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
2.1 Normes générales
CEI 60050(151):2001, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 151:
Dispositifs électriques et magnétiques
CEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 60359, Appareils de mesure électriques et électroniques – Expression des performances
CEI 61010 (toutes les parties), Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de
régulation et de laboratoire
CEI 61557 (toutes les parties), Sécurité électrique dans les réseaux de distribution basse
tension de 1 000 V c.a. et 1 500 V c.c. – Dispositifs de contrôle, de mesure ou de surveillance
de mesures de protection
1)
IEEE 488.1:1987, IEE standard digital interface for programmable instrumentation
IEEE 1284:1994, IEEE standard signalling method for a bidirectional parallel peripherical
1)
interface for personal computers
TIA/EIA-232-F:1997, Interface between data terminal equipment and data circuit-terminating
1)
equipment employing serial binary data interchange
2.2 Normes relatives à l'immunité

CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-2: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux décharges électrostatiques – Publication fondamentale
en CEM
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-3: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d'essai
et de mesure – Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves – Publication
fondamentale en CEM
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-5: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux ondes de choc
________
1)
Ces publications ne sont disponibles qu'en anglais.

61326 © IEC:2002 – 15 –
This standard is applicable to

– equipment for use in industrial locations;

– equipment for use in laboratories or test and measurement areas with a controlled
electromagnetic environment;
– test and measurement equipment which is portable and powered by battery or from the

circuit being measured.
This equipment may also be used in areas other than laboratories.

2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For
dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of
the referenced document (including any amendments) applies.
2.1 General standards
IEC 60050-151:2001, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Part 151: Electrical and
magnetic devices
IEC 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
IEC 60359, Expression of the performance of electrical and electronic measuring equipment
IEC 61010 (all parts), Safety requirements for electrical equipment for measurement, control,
and laboratory use
IEC 61557 (all parts), Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V a.c.
and 1 500 V d.c. – Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures
IEEE 488.1:1987, IEEE standard digital interface for programmable instrumentation
IEEE 1284:1994, IEEE standard signalling method for a bidirectional parallel peripheral
interface for personal computers
TIA/EIA-232-F:1997, Interface between data terminal equipment and data circuit-terminating
equipment employing serial binary data interchange
2.2 Immunity standards
IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and measure-
ment techniques –Electrostatic discharge immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-3: Testing and measure-
ment techniques –Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-4: Testing and measure-
ment techniques –Electrical fast transient/burst immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-5: Testing and measure-
ment techniques –Surge immunity test

– 16 – 61326 © CEI:2002
CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-6: Techniques d'essai

et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les
...