IEC 61326-1:1997

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61326-1
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
1998-08
Edition 1:1997 consolidée par l’amendement 1:1998

Edition 1:1997 consolidated with amendment 1:1998
Matériels électriques de mesure,
de commande et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements
Numéro de référence
Reference number
CEI / IEC 61326-1:1997+A1:1998

Numéros des publications Numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60 000. issued with a designation in the 60 000 series.

Publications consolidées Consolidated publications

Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant des amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,

Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to

indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incor-
publication de base incorporant l’amendement 1, et la porating amendment 1 and the base publication

publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.

et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de re- Information relating to the date of the reconfirmation of
confirmation de la publication sont disponibles dans le the publication is available in the IEC catalogue.
Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from IEC
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de National Committees and from the following
la CEI et dans les documents ci-dessous: IEC sources:
• «Site web»* de la CEI • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Catalogue en ligne)* (On-line catalogue)*
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
Disponible sur le «site web»* de la CEI Available both at the IEC web site* and
et comme périodique imprimé as a printed periodical
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electrotech- IEC 60 050: International Electrotechnical Vocabu-
nique International (VEI). lary (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.

* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61326-1
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
1998-08
Edition 1:1997 consolidée par l’amendement 1:1998

Edition 1:1997 consolidated with amendment 1:1998
Matériels électriques de mesure,
de commande et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements
 IEC 1998 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in
copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch
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Commission Electrotechnique Internationale
R
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
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– 2 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION . 6

Articles
1 Domaine d'application . 8
2 Références normatives. 10
2.1 Normes générales. 10
2.2 Normes relatives à l'immunité. 10
2.3 Normes relatives aux émissions . 12
3 Définitions. 12
4 Généralités . 16
5 Plan d'essai de CEM . 18
5.1 Généralités . 18
5.2 Configuration de l'EST lors des essais. 18
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EST lors des essais. 20
5.4 Spécification des critères d'aptitude à la fonction. 20
5.5 Description de l'essai . 20
6 Prescriptions relatives à l'immunité. 20
6.1 Conditions lors des essais. 20
6.2 Prescriptions pour les essais d'immunité . 22
6.3 Aspects système et application. 24
6.4 Aspects aléatoires. 24
6.5 Critères d'aptitude à la fonction . 24
7 Prescriptions relatives à l'émission . 26
7.1 Conditions durant les mesures . 28
7.2 Limites d'émission. 28
8 Résultats d'essai et rapport d'essai . 30

Annexe A (normative) Prescriptions concernant les essais d'immunité pour le matériel
prévu pour l'utilisation sur sites industriels . 32
Annexe B (normative) Prescriptions concernant les essais d'immunité pour le matériel
en environnements électromagnétiques contrôlés . 34
Annexe C (normative) Prescriptions concernant les essais d'immunité pour le matériel
d'essai et de mesure portatif. 36

61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD . 5

INTRODUCTION . 7

Clause
1 Scope . 9
2 Normative references . 11
2.1 General standards. 11
2.2 Immunity standards. 11
2.3 Emission standards. 13
3 Definitions. 13
4 General. 17
5 EMC test plan . 19
5.1 General. 19
5.2 Configuration of EUT during testing. 19
5.3 Operation conditions of EUT during testing. 21
5.4 Specification of performance criteria . 21
5.5 Test description . 21
6 Immunity requirements . 21
6.1 Conditions during the tests . 21
6.2 Immunity test requirements . 23
6.3 System and application aspects. 25
6.4 Random aspects . 25
6.5 Performance criteria. 25
7 Emission requirements . 27
7.1 Conditions during measurements . 29
7.2 Emission limits. 29
8 Test results and test report. 31

Annex A (normative) Immunity test requirements for equipment intended
for use in industrial locations . 33
Annex B (normative) Immunity test requirements for equipment used in controlled
EM environments. 35
Annex C (normative) Immunity test requirements for portable test and
measurement equipment . 37

– 4 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

–––––––––––
MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE,

DE COMMANDE ET DE LABORATOIRE –

PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61326 a été établie par le sous-comité 65A: Aspects systèmes, du
comité d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels.
La présente version consolidée de la CEI 61326-1 est issue de la première édition (1997)
[documents 65A/211/FDIS et 65A/226/RVD] et de son amendement 1 (1998) [documents

65A/248/FDIS et 65A/252/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l'amendement 1.
Les indications générales données dans le Guide 107 de la CEI ont été suivies.

61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 5 –

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

––––––––––––
ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,

CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61326 has been prepared by subcommittee 65A: System aspects,
of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control.
This consolidated version of IEC 61326-1 is based on the first edition (1997) [documents

65A/211/FDIS and 65A/226/RVD] and its amendment 1 (1998) [documents 65A/248/FDIS and
65A/252/RVD].
It bears the edition number 1.1.
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendment 1.
The general indications given in IEC Guide 107 have been followed.

– 6 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

INTRODUCTION
Les instruments et les matériels concernés par la présente norme peuvent souvent être très
dispersés d'un point de vue géographique et il peuvent être amenés à fonctionner dans des

conditions d'environnement très différentes.

La limitation des émissions électromagnétiques indésirables permet d'éviter qu'un autre

matériel, installé à proximité, soit soumis à l'influence du matériel considéré. Les limites sont

plus ou moins spécifiées dans les publications de la CEI et du Comité International Spécial des

Perturbations Radioélectriques (CISPR) et proviennent donc de ces documents.
Par ailleurs, le matériel est appelé à fonctionner sans dégradation excessive dans un
environnement électromagnétique type. Les valeurs limites d'immunité indiquées dans la
présente norme ont été choisies à partir de cette hypothèse. Les risques particuliers, dus par
exemple à des coups de foudre proches ou directs, à l'ouverture d'un circuit ou à un
rayonnement électromagnétique exceptionnellement élevé dans les environs proches, ne sont
pas couverts.
Les systèmes électriques et/ou électroniques complexes nécessitent tout au long de leur
conception et de leur installation une planification de la CEM prenant en compte
l'environnement électromagnétique, les prescriptions particulières et la gravité des pannes.

61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 7 –

INTRODUCTION
Instruments and equipment within the scope of this standard may often be geographically

widespread and may have to operate under a wide range of environmental conditions.

The limitation of undesired electromagnetic emissions ensures that no other equipment,

installed nearby, is unduly influenced by the equipment under consideration. The limits are

more or less specified by, and therefore taken from, IEC and International Special Committee

on Radio Interference (CISPR) publications.
However, the equipment has to function without undue degradation in a typical electromagnetic
environment. The limit values for immunity, specified in this standard have been chosen under
this assumption. Special risks, involving for example nearby or direct lightning strikes, circuit-
breaking, or exceptionally high electromagnetic radiation in close proximity, are not covered.
Complex electric and/or electronic systems require EMC planning in all phases of their design
and installation, taking into consideration the electromagnetic environment, any special
requirements, and the severity of failures.

– 8 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE,

DE COMMANDE ET DE LABORATOIRE –

PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

1 Domaine d'application
La présente Norme internationale énonce les prescriptions minimales relatives à l'immunité et
aux émissions concernant la compatibilité électromagnétique (CEM) pour les matériels
électriques fonctionnant à partir d'une source d'alimentation inférieure à 1 000 V en courant
alternatif ou 1 500 V en courant continu ou à partir du circuit mesuré, prévus pour un usage
professionnel, pour les processus industriels et pour l'enseignement, comprenant les matériels
et les dispositifs informatiques pour:
– la mesure et les essais;
– la commande;
– les laboratoires;
– les accessoires prévus pour être utilisés dans les cas mentionnés ci-dessus (par exemple
matériel de manipulation échantillons), dans un usage en milieu industriel ou non industriel.
Les dispositifs informatiques et les matériels similaires entrant dans le domaine d'application
des appareils de traitement de l'information (ATI) et répondant aux normes de CEM des ATI
peuvent être utilisés sans essai supplémentaire.
Lorsqu’une norme CEM spécifique et appropriée existe, elle doit supplanter sous tous ses
aspects cette norme de famille de produits.
Les matériels cités ci-après entrent dans le domaine d'application de la présente norme.
a) Matériels électriques de mesure et d'essai
Matériels électriques permettant de mesurer, d'indiquer ou d'enregistrer une ou plusieurs
grandeurs électriques ou non électriques, et également des matériels qui ne sont pas des
matériels de mesure, tels que générateurs de signaux, étalons, alimentations et
transducteurs.
b) Matériels électriques de commande
Matériels servant à commander une ou plusieurs valeurs de sortie spécifiques, chacune de

ces grandeurs étant déterminée par des réglages manuels, par une programmation locale
ou à distance, ou par une ou plusieurs variables d'entrée. Cette catégorie comprend les
matériels de mesure et de commande dans les processus industriels (IPMC), tels que
– les régulateurs et contrôleurs de processus;
– les automates programmables (AP);
– les blocs d'alimentation des matériels et des systèmes (centralisés ou spécialisés);
– les indicateurs et les enregistreurs analogiques/numériques;
– les instruments de processus;
– les transducteurs, positionneurs, organes de commande intelligents, etc.
c) Matériels électriques de laboratoire
Matériels permettant de mesurer, d'indiquer, de contrôler ou d'analyser des substances, ou
servant à préparer diverses matières.

61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 9 –

ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,

CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS
1 Scope
This International Standard specifies minimum requirements for immunity and emissions

regarding electromagnetic compatibility (EMC) for electrical equipment, operating from a supply
of less than 1 000 V a.c. or 1 500 V d.c. or from the circuit being measured, intended for
professional, industrial process and educational use, including equipment and computing
devices for:
– measurement and test;
– control;
– laboratory use;
– accessories intended for use with the above (such as sample handling equipment),
intended to be used in industrial and non-industrial locations.
Computing devices and assemblies and similar equipment within the scope of information
technology equipment (ITE) and complying with applicable ITE EMC standards can be used
without additional testing.
Where a relevant dedicated EMC standard exists, it shall take precedence over all aspects of
this product-family standard.
The following equipment is covered in this standard.
a) Electrical measurement and test equipment
This is equipment which by electrical means measures, indicates or records one or more
electrical or non-electrical quantities, also non-measuring equipment such as signal
generators, measurement standards, power supplies and transducers.
b) Electrical control equipment
This is equipment which controls one or more output quantities to specific values, with each
value determined by manual settings, by local or remote programming, or by one or more
input variables. This includes industrial process measurement and control (IPMC)
equipment, which consists of devices such as:

– process controllers and regulators;
– programmable controllers (PC);
– power supply units of equipment and systems (centralized or dedicated);
– analogue/digital indicators and recorders;
– process instrumentation;
– transducers, positioners, intelligent actuators, etc.
c) Electrical laboratory equipment
This is equipment which measures, indicates, monitors or analyzes substances, or is used
to prepare materials.
– 10 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

Cette norme s’applique aux
– matériels utilisés sur les sites industriels;

– matériels utilisés dans les laboratoires ou dans les zones d’essai et de mesure en

environnement électromagnétique contrôlé;

– matériels d’essai et de mesure portatifs et alimentés par batterie ou par le circuit mesuré.

Ces matériels peuvent également être utilisés dans d'autres endroits que les laboratoires.

2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente norme. Au moment de la
publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif est sujet à
révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente norme sont invitées à
rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes des documents normatifs
indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le registre des Normes
internationales en vigueur.
2.1 Normes générales
CEI 60050(151):1978, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 151:
Dispositifs électriques et magnétiques
CEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 61010: Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de régulation et de
laboratoire
2.2 Normes relatives à l'immunité
CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 2: Essai d'immunité aux décharges électrostatiques – Publication
fondamentale en CEM
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 3: Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux
fréquences radioélectriques
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 4: Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves –

Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 5: Essai d'immunité aux ondes de choc
CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 6: Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
CEI 61000-4-8:1993, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 8: Essai d’immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau.
Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-11:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 11: Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et
variations de tension
61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 11 –

This standard is applicable to

– equipment for use in industrial locations;

– equipment for use in laboratories or test and measurement areas with a controlled

electromagnetic environment;
– test and measurement equipment which is portable and powered by battery or from the

circuit being measured.
This equipment may also be used in areas other than laboratories.

2 Normative references
The following normative documents contain provision which, through reference in this text,
constitute provisions of this standard. At the time of publication, the editions indicated were
valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreement based on this
standard are encouraged to investigate the possibility of applying the most recent editions of
the normative documents indicated below. Members of IEC and ISO maintain registers of
currently valid International Standards.
2.1 General standards
IEC 60050(151):1978, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 151: Electrical
and magnetic devices
IEC 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161:
Electromagnetic compatibility
IEC 61010: Safety requirements for electrical equipment for measurement, control and
laboratory use
2.2 Immunity standards
IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 2: Electrostatic discharge immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement

techniques – Section 5: Surge immunity test
IEC 61000-4-6:1996, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
IEC 61000-4-8:1993, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 8: Power frequency magnetic field immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-11:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measuring
techniques – Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

– 12 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

2.3 Normes relatives aux émissions

CEI 61000-3-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 2:

Limites pour les émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils ≤16 A par

phase)
CEI 61000-3-3:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 3:

Limitation des fluctuations de tension et du flicker dans les réseaux basse tension pour les

équipements ayant un courant appelé ≤16 A

CISPR 11:1990, Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations

électromagnétiques des appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence
radioélectrique
CISPR 14:1993, Limites et méthodes de mesure des perturbations radioélectriques produites
par les appareils électrodomestiques ou analogues comportant des moteurs ou des dispositifs
thermiques, par les outils électriques et par les appareils électriques analogues
CISPR 16-1:1993, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
CISPR 16-2:1996, Spécifications pour les appareils et méthodes de mesure des perturbations
radioélectriques et de l’immunité – Partie 2: Méthodes de mesure des perturbations et de
l’immunité
CISPR 22:1993, Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations
radioélectriques produites par les appareils de traitement de l'information
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61326, les définitions données dans la
CEI 60050(161) s'appliquent conjointement avec les définitions suivantes.
D'autres définitions, qui ne se trouvent ni dans la CEI 60050(161) ni dans la présente norme
mais qui sont néanmoins nécessaires à l'application des différents essais, sont données dans
les publications fondamentales en CEM.
3.1
essai de type
essai effectué sur un ou plusieurs échantillons de matériel (ou de parties de matériel) réalisés
selon une conception particulière pour vérifier que la conception et la construction répondent à
une ou plusieurs prescriptions de la présente norme. L'échantillonnage statistique n'est pas
nécessaire pour les matériels de mesure, de commande et de laboratoire.
NOTE – La définition ci-dessus est une extension de la définition VEI 151-04-15 permettant de couvrir les
prescriptions relatives à la conception et à la construction.

61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 13 –

2.3 Emission standards
IEC 61000-3-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 2: Limits

for harmonic current emissions (equipment input current ≤16 A per phase)

IEC 61000-3-3:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 3:

Limitation of voltage fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with

rated current ≤16 A
CISPR 11:1990, Limits and methods of measurement of electromagnetic disturbance

characteristics of industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment

CISPR 14:1993, Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of
electrical motor-operated and thermal appliances for household and similar purposes, electric
tools and electric apparatus
CISPR 16-1:1993, Specification for radio disturbance and Immunity measuring apparatus and
methods – Part 1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus
CISPR 16-2:1996, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 2: Methods of measurement of disturbances and immunity
CISPR 22:1993, Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of
information technology equipment
3 Definitions
For the purposes of this part of IEC 61326, the definitions in IEC 60050(161) apply, together
with the following.
Other definitions, not included in IEC 60050(161) and this standard, but nevertheless
necessary for the application of the different tests, are given in the EMC basic publications.
3.1
type test
test of one or more samples of equipment (or parts of equipment) made to a particular design,
to show that the design and construction meet one or more requirements of this standard.
Statistical sampling is not required for measurement, control, and laboratory equipment.
–
NOTE This definition is an amplification of IEV 151-04-15 definition to cover both design and construction

requirements.
– 14 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

3.2
accès
interface particulière du dispositif ou du système spécifique concerné par la présente norme

avec l'environnement électromagnétique extérieur (voir à la figure 1 un exemple de matériel en

essai (EST))
NOTE – Les accès E/S sont des accès d'entrée, de sortie ou bidirectionnels, de mesure, de commande ou de

données.
Accès par l'enveloppe
Accès par l'alimentation c.a. Accès par la borne de terre

EST
Accès par l'alimentation c.c Accès E/S
IEC  1119/98
Figure 1 – Exemples d'accès
3.3
accès par l'enveloppe
frontière physique d'un matériel à travers laquelle les champs électromagnétiques peuvent
rayonner ou sur laquelle ils peuvent venir buter
3.4
appareils de classe A
appareils prévus pour être utilisés dans tous les établissements autres que les locaux
domestiques et autres que ceux qui sont connectés directement à un réseau de distribution
d’électricité à basse tension alimentant des bâtiments à usage domestique [CISPR 11]
3.5
appareils de classe B
appareils prévus pour être utilisés dans les locaux domestiques et dans les établissements
raccordés directement à un réseau de distribution d’électricité à basse tension alimentant des
bâtiments à usage domestique [CISPR 11]
3.6
lignes à grande distance
lignes se trouvant à l'intérieur d'un bâtiment et dont la longueur dépasse 30 m, ou lignes
sortant du bâtiment (y compris les lignes des installations extérieures)
3.7
sites industriels
sites caractérisés par la présence d’un réseau séparé de distribution électrique, alimenté dans
la plupart des cas par un transformateur haute ou moyenne tension, destiné à fournir l’énergie
à des installations alimentant les usines de fabrication ou similaires, avec l’une ou plusieurs
des conditions suivantes:
– commutation fréquente de fortes charges inductives ou capacitives;
– intensités et champs magnétiques associés importants;
– présence d’appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) (par ex: poste de soudure)
3.8
laboratoire ou zone d’essai et de mesure
un laboratoire ou une zone d’essai et de mesure rentrant dans le domaine d’application de
cette norme est une zone qui est spécifiquement consacrée à l’analyse, l’essai et l’entretien.
Le matériel rentrant dans ce champ doit être utilisé par du personnel qualifié

61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 15 –

3.2
port
any particular interface of the specific device or system with the external electromagnetic

environment within the scope of this standard (see figure 1 for an example of equipment under

test (EUT))
NOTE – I/O ports are input, output or bi-directional, measurement, control, or data ports.

Enclosure port
AC power port Earth port
EUT
DC power port I/O port
IEC  1119/98
Figure 1 – Examples of ports
3.3
enclosure port
physical boundary of equipment through which electromagnetic fields may radiate or impinge
3.4
class A equipment
equipment suitable for use in establishments other than domestic, and those directly connected
to a low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes
[CISPR 11]
3.5
class B equipment
equipment for use in domestic establishments, and in establishments directly connected to a
low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes
[CISPR 11]
3.6
long distance lines
lines within a building which are longer than 30 m, or which leave the building (including lines
of outdoor installations)
3.7
industrial locations
locations characterized by a separate power network, in most cases supplied from a high- or
medium-voltage transformer, dedicated for the supply of installations feeding manufacturing or
similar plants with one or more of the following conditions:
– frequent switching of heavy inductive or capacitive loads;
– high currents and associated magnetic fields;
– presence of industrial, scientific and medical (ISM) apparatus (e.g. welding machines)
3.8
laboratory or test and measurement area
a laboratory or test and measurement area within the scope of this standard is an area that is
specifically used for analysis, testing and servicing. Equipment within the scope has to be
operated by trained personnel
– 16 – 61326-1  CEI:1997+A.1:1998

3.9
environnement électromagnétique contrôlé

un environnement électromagnétique contrôlé rentrant dans le domaine d’application de cette

norme se caractérise d’ordinaire par la reconnaissance et le contrôle de dangers de

compatibilité électromagnétique par les utilisateurs du matériel ou par la conception de

l’installation
4 Généralités
Les matériels et les systèmes concernés par la présente norme peuvent être soumis à divers

types de perturbations électromagnétiques, conduites par les lignes d'alimentation, de mesure

ou de commande, ou rayonnées par l'environnement. Les types et les niveaux des
perturbations dépendent des conditions spécifiques dans lesquelles les systèmes, sous-
systèmes ou matériels sont installés et fonctionnent.
Les matériels d'essai tels que générateurs, analyseurs, fréquencemètres doivent satisfaire aux
prescriptions dans des conditions définies par le fabricant (c'est-à-dire sans objet d'essai
associé ou connectant une terminaison de 50 Ω à la sortie d'un générateur de signal).
Le fabricant doit donner des informations précisant que des émissions excédant les niveaux exigés
par la présente norme peuvent apparaître lorsque le matériel est associé à un objet d'essai.
Les critères d'acceptation relatifs aux prescriptions d'immunité sont élaborés en prenant en
compte la fonctionnalité et la fiabilité.
Les matériels et les différents dispositifs d'un système concernés par la présente norme
peuvent également être une source de perturbations électromagnétiques couvrant une large
gamme de fréquences. Ces perturbations peuvent être conduites par les lignes d'alimentation
et de signalisation ou rayonner directement, et elles peuvent affecter les performances des
autres matériels ou influencer l'environnement électromagnétique extérieur.
En ce qui concerne les émissions, l'objectif de ces prescriptions est que les perturbations
générées par les matériels et les systèmes, en fonctionnement normal, ne dépassent pas un
niveau qui pourrait empêcher les autres systèmes de fonctionner comme prévu. Les limites
d'émission pour les sites industriels sont indiquées au tableau 3. Les limites d'émission pour
les sites non industriels sont indiquées au tableau 4.
Pour se conformer à la présente norme, aucun essai additionnel de CEM n'est exigé en plus de
ceux mentionnés ici.
NOTE 1 – Des niveaux d'immunité supérieurs à ceux indiqués peuvent être nécessaires lors de certaines
applications (par exemple lorsqu'un fonctionnement fiable du matériel est indispensable pour des raisons de

sécurité) ou lorsqu'il est prévu que le matériel fonctionne dans un environnement électromagnétique plus sévère.
NOTE 2 – La présente norme ne spécifie pas de prescriptions fondamentales de sécurité, telles que la protection
contre les chocs électriques, un fonctionnement dangereux, une coordination de l'isolement et des essais
diélectriques sur les matériels. Se reporter à la CEI 61010 pour les prescriptions de sécurité.
NOTE 3 – Les limites d'émission de cette norme ne peuvent cependant pas assurer une protection complète contre
les interférences de la réception radio ou télévision lorsque les matériels de mesure, de commande ou de
laboratoire sont utilisés à moins de 30 m de l'antenne de réception pour les applications industrielles ou
professionnelles, et à moins de 10 m pour les applications domestiques et commerciales.
NOTE 4 – Dans certains cas particuliers, par exemple lorsqu'un matériel hautement sensible est utilisé à proximité
immédiate, des mesures de réduction complémentaires peuvent se révéler nécessaires afin de ramener l'émission
électromagnétique en dessous des limites spécifiées.
NOTE 5 – Le fabricant peut choisir d'effectuer tous les essais sur un seul ou sur plusieurs EST. La séquence
d'essais est optionnelle.
61326-1  IEC:1997+A.1:1998 – 17 –

3.9
controlled electromagnetic environment

a controlled electromagnetic environment within the scope of this standard is usually

characterized by recognition and control of EMC threats by users of the equipment or design of

the installation
4 General
Equipment and systems within the scope of this standard can be subjected to various kinds of

electromagnetic disturbances, conducted by power, me
...

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61326-1
INTERNATIONAL
Edition 1.2
STANDARD
2000-11
Edition 1:1997 consolidée par les amendements 1:1998 et 2:2000
Edition 1:1997 consolidated with amendments 1:1998 and 2:2000
Matériels électriques de mesure,
de commande et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61326-1:1997+A1:1998+A2:2000

Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
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d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
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cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
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Fax: +41 22 919 03 00
Fax: +41 22 919 03 00
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61326-1
INTERNATIONAL
Edition 1.2
STANDARD
2000-11
Edition 1:1997 consolidée par les amendements 1:1998 et 2:2000
Edition 1:1997 consolidated with amendments 1:1998 and 2:2000
Matériels électriques de mesure,
de commande et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements
 IEC 2000 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
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– 2 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION .6

Articles
1 Domaine d'application . 8

2 Références normatives. 10

2.1 Normes générales. 10
2.2 Normes relatives à l'immunité. 10
2.3 Normes relatives aux émissions . 12
3 Définitions. 12
4 Généralités .16
5 Plan d'essai de CEM . 18
5.1 Généralités . 18
5.2 Configuration de l'EST lors des essais. 18
5.2.1 Généralités . 18
5.2.2 Composition de l'EST . 18
5.2.3 Assemblage de l'EST . 18
5.2.4 Accès d’entrée/sortie. 18
5.2.5 Matériel auxiliaire . 18
5.2.6 Câblage et mise à la terre . 18
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EST lors des essais. 20
5.3.1 Modes de fonctionnement. 20
5.3.2 Conditions d'environnement. 20
5.3.3 Logiciel de l'EST durant l'essai . 20
5.4 Spécification des critères d'aptitude à la fonction. 20
5.5 Description de l'essai . 20
6 Prescriptions relatives à l'immunité. 20
6.1 Conditions lors des essais. 20
6.2 Prescriptions pour les essais d'immunité . 22
6.3 Aspects système et application. 24
6.4 Aspects aléatoires. 24
6.5 Critères d'aptitude à la fonction . 24
7 Prescriptions relatives à l'émission . 26
7.1 Conditions durant les mesures . 28
7.2 Limites d'émission. 28
8 Résultats d'essai et rapport d'essai . 30
Annexe A (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
prévu pour utilisation sur sites industriels. 32
Annexe B (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
en environnements électromagnétiques contrôlés . 34
Annexe C (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
d’essai et de mesure portatif. 36
Annexe D (normative) Configurations d’essai, conditions de fonctionnement et critères
d’aptitude à la fonction pour les matériels d’essai et de mesure sensibles destinés à
des applications non protégées. 38

61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD . 5

INTRODUCTION .7

Clause
1 Scope . 9

2 Normative references . 11

2.1 General standards. 11
2.2 Immunity standards. 11
2.3 Emission standards. 13
3 Definitions. 13
4 General. 17
5 EMC test plan . 19
5.1 General. 19
5.2 Configuration of EUT during testing. 19
5.2.1 General. 19
5.2.2 Composition of EUT . 19
5.2.3 Assembly of EUT. 19
5.2.4 I/O ports. 19
5.2.5 Auxiliary equipment . 19
5.2.6 Cabling and earthing (grounding). 19
5.3 Operation conditions of EUT during testing. 21
5.3.1 Operation modes. 21
5.3.2 Environmental conditions. 21
5.3.3 EUT software during test . 21
5.4 Specification of performance criteria . 21
5.5 Test description . 21
6 Immunity requirements . 21
6.1 Conditions during the tests . 21
6.2 Immunity test requirements . 23
6.3 System and application aspects. 25
6.4 Random aspects . 25
6.5 Performance criteria. 25
7 Emission requirements . 27
7.1 Conditions during measurements . 29
7.2 Emission limits. 29
8 Test results and test report. 31
Annex A (normative) Immunity test requirements for equipment intended for use
in industrial locations . 33
Annex B (normative) Immunity test requirements for equipment used in
controlled EM environments. 35
Annex C (normative) Immunity test requirements for portable test and
measurement equipment . 37
Annex D (normative) Test configurations, operational conditions and performance criteria
for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications. 39

– 4 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

–––––––––––
MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE,

DE COMMANDE ET DE LABORATOIRE –

PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61326 a été établie par le sous-comité 65A: Aspects systèmes, du
comité d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels.
La présente version consolidée de la CEI 61326-1 est issue de la première édition (1997)
[documents 65A/211/FDIS et 65A/226/RVD], de son amendement 1 (1998) [documents
65A/248/FDIS et 65A/252/RVD] et de son amendement 2 (2000) [documents 65A/307/FDIS et
65A/312/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.2.

Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par les
amendements 1 et 2.
Les indications générales données dans le Guide 107 de la CEI ont été suivies.
Les annexes A, B, C et D font partie intégrante de la présente norme.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2001.
A cette date, la publication sera
reconduite;
supprimée;
remplacée par une édition révisée, ou
amendée.
61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 5 –

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

––––––––––––
ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,

CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61326 has been prepared by subcommittee 65A: System aspects,
of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control.
This consolidated version of IEC 61326-1 is based on the first edition (1997) [documents
65A/211/FDIS and 65A/226/RVD], its amendment 1 (1998) [documents 65A/248/FDIS and
65A/252/RVD] and amendment 2 (200) [documents 65A/307/FDIS and 65A/312/RVD].
It bears the edition number 1.2.

A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendments 1 and 2.
The general indications given in IEC Guide 107 have been followed.
Annexes A, B, C and D form an integral part of this standard.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged
until 2001. At this date, the publication will be
reconfirmed;
withdrawn;
replaced by a revised edition, or
amended.
– 6 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

INTRODUCTION
Les instruments et les matériels concernés par la présente norme peuvent souvent être très
dispersés d'un point de vue géographique et il peuvent être amenés à fonctionner dans des

conditions d'environnement très différentes.

La limitation des émissions électromagnétiques indésirables permet d'éviter qu'un autre

matériel, installé à proximité, soit soumis à l'influence du matériel considéré. Les limites sont

plus ou moins spécifiées dans les publications de la CEI et du Comité International Spécial des

Perturbations Radioélectriques (CISPR) et proviennent donc de ces documents.
Par ailleurs, le matériel est appelé à fonctionner sans dégradation excessive dans un
environnement électromagnétique type. Les valeurs limites d'immunité indiquées dans la
présente norme ont été choisies à partir de cette hypothèse. Les risques particuliers, dus par
exemple à des coups de foudre proches ou directs, à l'ouverture d'un circuit ou à un
rayonnement électromagnétique exceptionnellement élevé dans les environs proches, ne sont
pas couverts.
Les systèmes électriques et/ou électroniques complexes nécessitent tout au long de leur
conception et de leur installation une planification de la CEM prenant en compte
l'environnement électromagnétique, les prescriptions particulières et la gravité des pannes.

61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 7 –

INTRODUCTION
Instruments and equipment within the scope of this standard may often be geographically
widespread and may have to operate under a wide range of environmental conditions.

The limitation of undesired electromagnetic emissions ensures that no other equipment,
installed nearby, is unduly influenced by the equipment under consideration. The limits are

more or less specified by, and therefore taken from, IEC and International Special Committee

on Radio Interference (CISPR) publications.

However, the equipment has to function without undue degradation in a typical electromagnetic
environment. The limit values for immunity, specified in this standard have been chosen under
this assumption. Special risks, involving for example nearby or direct lightning strikes, circuit-
breaking, or exceptionally high electromagnetic radiation in close proximity, are not covered.
Complex electric and/or electronic systems require EMC planning in all phases of their design
and installation, taking into consideration the electromagnetic environment, any special
requirements, and the severity of failures.

– 8 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

MATÉRIELS ÉLECTRIQUES DE MESURE,

DE COMMANDE ET DE LABORATOIRE –

PRESCRIPTIONS RELATIVES À LA CEM

1 Domaine d'application
La présente Norme internationale énonce les prescriptions minimales relatives à l'immunité et
aux émissions concernant la compatibilité électromagnétique (CEM) pour les matériels
électriques fonctionnant à partir d'une source d'alimentation inférieure à 1 000 V en courant
alternatif ou 1 500 V en courant continu ou à partir du circuit mesuré, prévus pour un usage
professionnel, pour les processus industriels et pour l'enseignement, comprenant les matériels
et les dispositifs informatiques pour:
– la mesure et les essais;
– la commande;
– les laboratoires;
– les accessoires prévus pour être utilisés dans les cas mentionnés ci-dessus (par exemple
matériel de manipulation échantillons), dans un usage en milieu industriel ou non industriel.
Les dispositifs informatiques et les matériels similaires entrant dans le domaine d'application
des appareils de traitement de l'information (ATI) et répondant aux normes de CEM des ATI
peuvent être utilisés sans essai supplémentaire.
Lorsqu’une norme CEM spécifique et appropriée existe, elle doit supplanter sous tous ses
aspects cette norme de famille de produits.
Les matériels cités ci-après entrent dans le domaine d'application de la présente norme.
a) Matériels électriques de mesure et d'essai
Matériels électriques permettant de mesurer, d'indiquer ou d'enregistrer une ou plusieurs
grandeurs électriques ou non électriques, et également des matériels qui ne sont pas des
matériels de mesure, tels que générateurs de signaux, étalons, alimentations et
transducteurs.
b) Matériels électriques de commande
Matériels servant à commander une ou plusieurs valeurs de sortie spécifiques, chacune de

ces grandeurs étant déterminée par des réglages manuels, par une programmation locale
ou à distance, ou par une ou plusieurs variables d'entrée. Cette catégorie comprend les
matériels de mesure et de commande dans les processus industriels (IPMC), tels que
– les régulateurs et contrôleurs de processus;
– les automates programmables (AP);
– les blocs d'alimentation des matériels et des systèmes (centralisés ou spécialisés);
– les indicateurs et les enregistreurs analogiques/numériques;
– les instruments de processus;
– les transducteurs, positionneurs, organes de commande intelligents, etc.
c) Matériels électriques de laboratoire
Matériels permettant de mesurer, d'indiquer, de contrôler ou d'analyser des substances, ou
servant à préparer diverses matières.

61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 9 –

ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,

CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS
1 Scope
This International Standard specifies minimum requirements for immunity and emissions

regarding electromagnetic compatibility (EMC) for electrical equipment, operating from a supply
of less than 1 000 V a.c. or 1 500 V d.c. or from the circuit being measured, intended for
professional, industrial process and educational use, including equipment and computing
devices for:
– measurement and test;
– control;
– laboratory use;
– accessories intended for use with the above (such as sample handling equipment),
intended to be used in industrial and non-industrial locations.
Computing devices and assemblies and similar equipment within the scope of information
technology equipment (ITE) and complying with applicable ITE EMC standards can be used
without additional testing.
Where a relevant dedicated EMC standard exists, it shall take precedence over all aspects of
this product-family standard.
The following equipment is covered in this standard.
a) Electrical measurement and test equipment
This is equipment which by electrical means measures, indicates or records one or more
electrical or non-electrical quantities, also non-measuring equipment such as signal
generators, measurement standards, power supplies and transducers.
b) Electrical control equipment
This is equipment which controls one or more output quantities to specific values, with each
value determined by manual settings, by local or remote programming, or by one or more
input variables. This includes industrial process measurement and control (IPMC)
equipment, which consists of devices such as:

– process controllers and regulators;
– programmable controllers (PC);
– power supply units of equipment and systems (centralized or dedicated);
– analogue/digital indicators and recorders;
– process instrumentation;
– transducers, positioners, intelligent actuators, etc.
c) Electrical laboratory equipment
This is equipment which measures, indicates, monitors or analyzes substances, or is used
to prepare materials.
– 10 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

Cette norme s’applique aux
– matériels utilisés sur les sites industriels;

– matériels utilisés dans les laboratoires ou dans les zones d’essai et de mesure en

environnement électromagnétique contrôlé;

– matériels d’essai et de mesure portatifs et alimentés par batterie ou par le circuit mesuré.

Ces matériels peuvent également être utilisés dans d'autres endroits que les laboratoires.

2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente norme. Au moment de la
publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif est sujet à
révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente norme sont invitées à
rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes des documents normatifs
indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le registre des Normes
internationales en vigueur.
2.1 Normes générales
CEI 60050(151):1978, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 151:
Dispositifs électriques et magnétiques
CEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 61010: Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de régulation et de
laboratoire
2.2 Normes relatives à l'immunité
CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 2: Essai d'immunité aux décharges électrostatiques – Publication
fondamentale en CEM
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 3: Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux
fréquences radioélectriques
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 4: Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves –

Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 5: Essai d'immunité aux ondes de choc
CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 6: Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
CEI 61000-4-8:1993, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et
de mesure – Section 8: Essai d’immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau.
Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-11:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 11: Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et
variations de tension
61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 11 –

This standard is applicable to

– equipment for use in industrial locations;

– equipment for use in laboratories or test and measurement areas with a controlled

electromagnetic environment;
– test and measurement equipment which is portable and powered by battery or from the

circuit being measured.
This equipment may also be used in areas other than laboratories.

2 Normative references
The following normative documents contain provision which, through reference in this text,
constitute provisions of this standard. At the time of publication, the editions indicated were
valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreement based on this
standard are encouraged to investigate the possibility of applying the most recent editions of
the normative documents indicated below. Members of IEC and ISO maintain registers of
currently valid International Standards.
2.1 General standards
IEC 60050(151):1978, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 151: Electrical
and magnetic devices
IEC 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161:
Electromagnetic compatibility
IEC 61010: Safety requirements for electrical equipment for measurement, control and
laboratory use
2.2 Immunity standards
IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 2: Electrostatic discharge immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement

techniques – Section 5: Surge immunity test
IEC 61000-4-6:1996, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
IEC 61000-4-8:1993, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 8: Power frequency magnetic field immunity test – Basic EMC Publication
IEC 61000-4-11:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measuring
techniques – Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

– 12 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

2.3 Normes relatives aux émissions

CEI 61000-3-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 2:

Limites pour les émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils ≤16 A par

phase)
CEI 61000-3-3:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 3:

Limitation des fluctuations de tension et du flicker dans les réseaux basse tension pour les

équipements ayant un courant appelé ≤16 A

CISPR 11:1990, Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations

électromagnétiques des appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence
radioélectrique
CISPR 14:1993, Limites et méthodes de mesure des perturbations radioélectriques produites
par les appareils électrodomestiques ou analogues comportant des moteurs ou des dispositifs
thermiques, par les outils électriques et par les appareils électriques analogues
CISPR 16-1:1993, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques
CISPR 16-2:1996, Spécifications pour les appareils et méthodes de mesure des perturbations
radioélectriques et de l’immunité – Partie 2: Méthodes de mesure des perturbations et de
l’immunité
CISPR 22:1993, Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations
radioélectriques produites par les appareils de traitement de l'information
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61326, les définitions données dans la
CEI 60050(161) s'appliquent conjointement avec les définitions suivantes.
D'autres définitions, qui ne se trouvent ni dans la CEI 60050(161) ni dans la présente norme
mais qui sont néanmoins nécessaires à l'application des différents essais, sont données dans
les publications fondamentales en CEM.
3.1
essai de type
essai effectué sur un ou plusieurs échantillons de matériel (ou de parties de matériel) réalisés
selon une conception particulière pour vérifier que la conception et la construction répondent à
une ou plusieurs prescriptions de la présente norme. L'échantillonnage statistique n'est pas
nécessaire pour les matériels de mesure, de commande et de laboratoire.
NOTE La définition ci-dessus est une extension de la définition VEI 151-04-15 permettant de couvrir les
prescriptions relatives à la conception et à la construction.

61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 13 –

2.3 Emission standards
IEC 61000-3-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 2: Limits

for harmonic current emissions (equipment input current ≤16 A per phase)

IEC 61000-3-3:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 3:

Limitation of voltage fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with

rated current ≤16 A
CISPR 11:1990, Limits and methods of measurement of electromagnetic disturbance

characteristics of industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment

CISPR 14:1993, Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of
electrical motor-operated and thermal appliances for household and similar purposes, electric
tools and electric apparatus
CISPR 16-1:1993, Specification for radio disturbance and Immunity measuring apparatus and
methods – Part 1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus
CISPR 16-2:1996, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 2: Methods of measurement of disturbances and immunity
CISPR 22:1993, Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of
information technology equipment
3 Definitions
For the purposes of this part of IEC 61326, the definitions in IEC 60050(161) apply, together
with the following.
Other definitions, not included in IEC 60050(161) and this standard, but nevertheless
necessary for the application of the different tests, are given in the EMC basic publications.
3.1
type test
test of one or more samples of equipment (or parts of equipment) made to a particular design,
to show that the design and construction meet one or more requirements of this standard.
Statistical sampling is not required for measurement, control, and laboratory equipment.
NOTE This definition is an amplification of IEV 151-04-15 definition to cover both design and construction

requirements.
– 14 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

3.2
accès
interface particulière du dispositif ou du système spécifique concerné par la présente norme

avec l'environnement électromagnétique extérieur (voir à la figure 1 un exemple de matériel en

essai (EST))
NOTE Les accès E/S sont des accès d'entrée, de sortie ou bidirectionnels, de mesure, de commande ou de

données.
Accès par l'enveloppe
Accès par l'alimentation c.a. Accès par la borne de terre

EST
Accès par l'alimentation c.c Accès E/S
IEC  1119/98
Figure 1 – Exemples d'accès
3.3
accès par l'enveloppe
frontière physique d'un matériel à travers laquelle les champs électromagnétiques peuvent
rayonner ou sur laquelle ils peuvent venir buter
3.4
appareils de classe A
appareils prévus pour être utilisés dans tous les établissements autres que les locaux
domestiques et autres que ceux qui sont connectés directement à un réseau de distribution
d’électricité à basse tension alimentant des bâtiments à usage domestique [CISPR 11]
3.5
appareils de classe B
appareils prévus pour être utilisés dans les locaux domestiques et dans les établissements
raccordés directement à un réseau de distribution d’électricité à basse tension alimentant des
bâtiments à usage domestique [CISPR 11]
3.6
lignes à grande distance
lignes se trouvant à l'intérieur d'un bâtiment et dont la longueur dépasse 30 m, ou lignes
sortant du bâtiment (y compris les lignes des installations extérieures)
3.7
sites industriels
sites caractérisés par la présence d’un réseau séparé de distribution électrique, alimenté dans
la plupart des cas par un transformateur haute ou moyenne tension, destiné à fournir l’énergie
à des installations alimentant les usines de fabrication ou similaires, avec l’une ou plusieurs
des conditions suivantes:
– commutation fréquente de fortes charges inductives ou capacitives;
– intensités et champs magnétiques associés importants;
– présence d’appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) (par ex: poste de soudure)
3.8
laboratoire ou zone d’essai et de mesure
un laboratoire ou une zone d’essai et de mesure rentrant dans le domaine d’application de
cette norme est une zone qui est spécifiquement consacrée à l’analyse, l’essai et l’entretien.
Le matériel rentrant dans ce champ doit être utilisé par du personnel qualifié

61326-1 © IEC:1997+A1:1998+A2:2000 – 15 –

3.2
port
any particular interface of the specific device or system with the external electromagnetic

environment within the scope of this standard (see figure 1 for an example of equipment under

test (EUT))
NOTE I/O ports are input, output or bi-directional, measurement, control, or data ports.

Enclosure port
AC power port Earth port
EUT
DC power port I/O port
IEC  1119/98
Figure 1 – Examples of ports
3.3
enclosure port
physical boundary of equipment through which electromagnetic fields may radiate or impinge
3.4
class A equipment
equipment suitable for use in establishments other than domestic, and those directly connected
to a low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes
[CISPR 11]
3.5
class B equipment
equipment for use in domestic establishments, and in establishments directly connected to a
low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes
[CISPR 11]
3.6
long distance lines
lines within a building which are longer than 30 m, or which leave the building (including lines
of outdoor installations)
3.7
industrial locations
locations characterized by a separate power network, in most cases supplied from a high- or
medium-voltage transformer, dedicated for the supply of installations feeding manufacturing
or similar plants with one or more of the following conditions:
– frequent switching of heavy inductive or capacitive loads;
– high currents and associated magnetic fields;
– presence of industrial, scientific and medical (ISM) apparatus (e.g. welding machines)
3.8
laboratory or test and measurement area
a laboratory or test and measurement area within the scope of this standard is an area that is
specifically used for analysis, testing and servicing. Equipment within the scope has to be
operated by trained personnel
– 16 – 61326-1 © CEI:1997+A1:1998+A2:2000

3.9
environnement électromagnétique contrôlé

un environnement électromagnétique contrô
...