IEC 61326-1:2005

NORME CEI
INTERNATIONALE 61326-1
Première édition
2005-12
Matériel électrique de mesure, de commande
et de laboratoire – Exigences relatives à la CEM –
Partie 1:
Exigences générales
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Numéro de référence
CEI 61326-1:2005(F)
Numérotation des publications
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60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

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amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2

indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

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travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
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NORME CEI
INTERNATIONALE 61326-1
Première édition
2005-12
Matériel électrique de mesure, de commande
et de laboratoire – Exigences relatives à la CEM –
Partie 1:
Exigences générales
© IEC 2005 Droits de reproduction réservés
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procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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– 2 – 61326-1  CEI:2005
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4

INTRODUCTION.8

1 Domaine d’application .10

2 Références normatives.12

3 Termes et définitions .14

4 Généralités.18

5 Plan d'essai de CEM .18
5.1 Généralités.18
5.2 Configuration de l'EST lors des essais .20
5.2.1 Généralités.20
5.2.2 Composition de l’EST .20
5.2.3 Assemblage de l’EST .20
5.2.4 Accès d’entré/sortie.20
5.2.5 Matériel auxiliaire .20
5.2.6 Câblage et mise à la terre .20
5.3 Conditions de fonctionnement de l'EST lors des essais .20
5.3.1 Modes de fonctionnement.20
5.3.2 Conditions d'environnement.22
5.3.3 Logiciel de l'EST durant l'essai .22
5.4 Spécification des critères d'aptitude à la fonction .22
5.5 Description de l'essai .22
6 Prescriptions relatives à l'immunité.22
6.1 Conditions lors des essais.22
6.2 Prescriptions pour les essais d'immunité .22
6.3 Aspects aléatoires.30
6.4 Critères d'aptitude à la fonction .30
6.4.1 Critère d'aptitude A.30
6.4.2 Critère d'aptitude B.30
6.4.3 Critère d'aptitude C .30
7 Prescriptions relatives à l'émission .32
7.1 Conditions durant les mesures .32

7.2 Limites d'émission .32
8 Résultats d'essai et rapport d'essai .32
9 Instructions pour l’utilisation .32

Annexe A (normative) Prescriptions concernant les essais d’immunité pour le matériel
d’essai et de mesure portatif.34

Bibliographie.36

– 4 – 61326-1  CEI:2005
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
MATÉRIEL ÉLECTRIQUE DE MESURE, DE COMMANDE

ET DE LABORATOIRE –
EXIGENCES RELATIVES À LA CEM –

Partie 1: Exigences générales
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour

responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61326-1 a été préparée par le sous-comité 65A: Aspects
systèmes, du comité d’études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus
industriels.
La série CEI 61326 annule et remplace la CEI 61326:2002 et constitue une révision technique.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
65A/456/FDIS 65A/464/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.

– 6 – 61326-1  CEI:2005
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.

La CEI 61326 est constituée des parties suivantes, sous le titre général Matériel électrique de
mesure, de commande et de laboratoire – Exigences relatives à la CEM:

Partie1: Exigences générales (les Annexes A et B de la CEI 61326:2002 sont intégrées

dans le texte de la CEI 61326-1)

Partie 2-1: Exigences particulières – Configurations d’essai, conditions fonctionnelles et

critères de performance pour essai de sensibilité et équipement de mesures

pour les application non protégées de la CEM (Annexe D de la CEI

61326:2002)
Partie 2-2: Exigences particulières – Configurations d’essai, conditions de fonctionnement
et critères d’aptitude à la fonction des matériels portatifs d’essai, de mesure et
de surveillance utilisés dans des systèmes de distribution basse tension

(Annexe E de la CEI 61326:2002)
Partie 2- 3: Exigences particulières – Configurations d’essai, conditions de fonctionnement
et critères d’aptitude à la fonction pour les transducteurs avec conditionnement

de signal intégré ou à distance (comprend l’Annexe F de la CEI 61326:2002)
Partie 2-4: Exigences particulières – Configurations d’essai, conditions de fonctionnement
et critères d’aptitude à la fonction pour les dispositifs de surveillance d’isolation
en accord avec la CEI 61557-8 et pour les équipements de localisation de

défaut d’isolation en accord avec la CEI 61557-9 (nouveau)
Partie 2-5: Exigences particulières – Configurations d’essai, conditions de fonctionnement
et critères d’aptitude à la fonction pour les dispositifs en exploitation avec des
interfaces en accord avec le profil 3/2 de la Famille 3 de profils de
communication (nouveau)
Partie 2-6: Exigences particulières – Matériel médical de diagnostic in vitro (IVD)
(nouveau)
Partie 3-1: Exigences d’immunité pour les matériels effectuant ou prévus pour exécuter
des fonction en relation avec la sécurité (sécurité fonctionnelle) – Applications
industrielles générales (le contenu du Tableau 2 de la CEI 61326:2002 est
incorporé dans la CEI 61326-3-1).
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
– 8 – 61326-1  CEI:2005
INTRODUCTION
Les instruments et équipements entrant dans le domaine d’application de cette norme

peuvent souvent être très dispersés géographiquement et doivent fonctionner dans une large

plage de conditions environnementales.

La limitation des émissions électromagnétiques indésirables permet d'éviter qu'un autre

matériel, installé à proximité, soit soumis à l'influence du matériel considéré. Les limites sont

plus ou moins spécifiées dans les publications de la CEI et du Comité International Spécial

des Perturbations Radioélectriques (CISPR) et proviennent donc de ces documents.

Toutefois, le matériel est appelé à fonctionner sans dégradation excessive dans un environ-
nement électromagnétique type. Les valeurs limites d'immunité indiquées dans la présente
norme ont été choisies à partir de cette hypothèse. Les risques particuliers, dus par exemple
à des coups de foudre proches ou directs, à l'ouverture d'un circuit ou à un rayonnement
électromagnétique exceptionnellement élevé dans les environs proches, ne sont pas
couverts.
Les systèmes électriques et/ou électroniques complexes nécessitent tout au long de leur
conception et de leur installation une planification de la CEM prenant en compte l'environ-
nement électromagnétique, les prescriptions particulières et la gravité des pannes.
Cette partie de la CEI 61326 spécifie les exigences relatives à la CEM qui sont généralement
applicables à tout équipement entrant dans son domaine d’application. Pour certains types
d’équipement, ces exigences seront augmentées ou modifiées par les exigences particulières
d’une ou plusieurs des parties de la CEI 61326-2. Il convient de lire celles-ci en conjonction
avec les exigences de la CEI 61326-1.

– 10 – 61326-1  CEI:2005
MATÉRIEL ÉLECTRIQUE DE MESURE, DE COMMANDE

ET DE LABORATOIRE –
EXIGENCES RELATIVES À LA CEM –

Partie 1: Exigences générales
1 Domaine d’application
La présente partie de la CEI 61326 énonce les exigences relatives à l'immunité et aux
émissions concernant la compatibilité électromagnétique (CEM) pour les matériels électriques
fonctionnant à partir d'une source d'alimentation inférieure à 1 000 V en courant alternatif ou
1 500 V en courant continu ou à partir du circuit mesuré, prévus pour un usage professionnel,
pour les processus industriels et pour l'enseignement, comprenant les matériels et les
dispositifs informatiques pour:
– la mesure et les essais;
– la commande;
– les laboratoires;
– les accessoires prévus pour être utilisés dans les cas mentionnés ci-dessus (par exemple
matériel de manipulation échantillons),
dans un usage en milieu industriel ou non industriel.
Les dispositifs informatiques et les matériels similaires entrant dans le domaine d'application
des appareils de traitement de l'information (ATI) et répondant aux normes de CEM des ATI
peuvent être utilisés dans les systèmes entrant dans le domaine d’application de la présente
partie de la CEI 61326, sans essai supplémentaire s’ils sont adaptés à l’environnement
électromagnétique prévu.
Les normes produits de cet ensemble de normes ont préséance sur les normes génériques.
Les matériels cités ci-après entrent dans le domaine d'application de la présente norme.
a) Matériels électriques de mesure et d'essai
Matériels électriques permettant de mesurer, d'indiquer ou d'enregistrer une ou plusieurs
grandeurs électriques ou non électriques, et également des matériels qui ne sont pas
des matériels de mesure, tels que générateurs de signaux, étalons, alimentations et
transducteurs.
b) Matériels électriques de commande
Matériels servant à commander une ou plusieurs valeurs de sortie spécifiques, chacune
de ces grandeurs étant déterminée par des réglages manuels, par une programmation
locale ou à distance, ou par une ou plusieurs variables d'entrée. Cette catégorie comprend
les matériels de mesure et de commande dans les processus industriels (IPMC), tels que:
– les régulateurs et contrôleurs de processus;
– les automates programmables (AP);
– les blocs d'alimentation des matériels et des systèmes (centralisés ou spécialisés);
– les indicateurs et les enregistreurs analogiques/numériques;
– les instruments de processus;
– les transducteurs, positionneurs, organes de commande intelligents, etc.

– 12 – 61326-1  CEI:2005
c) Matériels électriques de laboratoire

Matériels permettant de mesurer, d'indiquer, de contrôler ou d'analyser des substances,

ou servant à préparer diverses matières et incluent les équipements de diagnostic in vitro

(IVD). Ces matériels peuvent être aussi utilisés dans des emplacements autres que des

laboratoires, par exemple des équipements IVD d’auto-diagnostics pouvant être utilisés à

domicile.
Cette norme s’applique aux:
– matériels pour une utilisation privée, commerciale ou dans un environnement industriel

léger, en accord avec la CEI 61000-6-1;

– matériels utilisés sur les sites industriels;

– matériels utilisés dans les laboratoires ou dans les zones d’essai et de mesure en
environnement électromagnétique contrôlé;
– matériels d’essai et de mesure portatifs.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60050-161, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 61000-3-2:2000, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-2: Limites – Limites
pour les émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils <= 16 A par
phase)
CEI 61000-3-3:2002, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-3: Limites – Limitation
des variations de tension, des fluctuations de tension et du papillotement dans les réseaux
publics d'alimentation basse tension, pour les matériels ayant un courant assigné <= 16 A par
phase et non soumis à un raccordement conditionnel
CEI 61000-3-11:2000, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-11: Limites – Limita-
tion des variations de tension, des fluctuations de tension et du papillotement dans les
réseaux publics d'alimentation basse tension – Equipements ayant un courant appelé <= 75 A
et soumis à un raccordement conditionnel
CEI 61000-3-12:2004, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-12: Limites – Limites

pour les courants harmoniques produits par les appareils connectés aux réseaux publics
basse tension ayant un courant appelé >16 A et <=75 A par phase
CEI 61000-4-2:2001, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-2: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux décharges électrostatiques
CEI 61000-4-3:2002, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-3: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
CEI 61000-4-4:2004, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d'essai
et de mesure – Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves
CEI 61000-4-5:2001, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-5: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux ondes de choc

– 14 – 61326-1  CEI:2005
CEI 61000-4-6:2003, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-6: Techniques d'essai
et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs

radioélectriques
CEI 61000-4-8:1993,Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-8: Techniques d'essai

et de mesure – Essai d'immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau

Amendment 1 (2000)
CEI 61000-4-11:2004, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-11: Techniques

d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations

de tension
CEI 61000-6-1:2005, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 6-1: Normes génériques
– Immunité pour les environnements résidentiels, commerciaux et de l'industrie légère
CISPR 11:2003, Appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence radio-
électrique – Caractéristiques de perturbations électromagnétiques – Limites et méthodes de
mesure
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans la CEI 60050-
161 s'appliquent ainsi que les définitions suivantes.
D'autres définitions, qui ne se trouvent ni dans la CEI 60050-161 ni dans la présente norme
mais qui sont néanmoins nécessaires à l'application des différents essais, sont données dans
les publications de base de la série CEI 61000.
3.1
essai de type
essai de conformité réalisé sur un ou plusieurs échantillons représentatifs d’une production
(IEV 151-16-16)
3.2
accès
interface particulière du dispositif ou du système spécifique avec l'environnement
électromagnétique extérieur et entrant dans le domaine d’application de la CEI 61326 (voir à
la figure 1 un exemple de matériel en essai (EST))
NOTE Les accès E/S sont des accès d'entrée, de sortie ou bidirectionnels, de mesure, de commande ou de données.

Accès par l'enveloppe
Accès par l'alimentation c.a. Accès par la borne de terre
EST
Accès par l'alimentation c.c Accès E/S
IEC  1119/98
Figure 1 – Exemples d'accès
– 16 – 61326-1  CEI:2005
3.3
accès par l'enveloppe
frontière physique d'un matériel à travers laquelle les champs électromagnétiques peuvent

rayonner ou sur laquelle ils peuvent venir buter

3.4
appareils de classe A
appareils prévus pour être utilisés dans tous les établissements autres que les locaux domes-

tiques et autres que ceux qui sont connectés directement à un réseau de distribution

d’électricité à basse tension alimentant des bâtiments à usage domestique

[CISPR 11, 4.2]
3.5
appareils de classe B
appareils prévus pour être utilisés dans les locaux domestiques et dans les établissements
raccordés directement à un réseau de distribution d’électricité à basse tension alimentant des
bâtiments à usage domestique
[CISPR 11, 4.2]
3.6
lignes à grande distance
lignes se trouvant à l'intérieur d'un bâtiment et dont la longueur dépasse 30 m, ou lignes
sortant du bâtiment (y compris les lignes des installations extérieure
...

IEC 61326-1
Edition 1.0 2005-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use –
EMC requirements –
Part 1: General requirements
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire – Exigences
relatives à la CEM –
Partie 1: Exigences générales
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IEC 61326-1
Edition 1.0 2005-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use –
EMC requirements –
Part 1: General requirements
Matériel électrique de mesure, de commande et de laboratoire – Exigences
relatives à la CEM –
Partie 1: Exigences générales
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX R
ICS 25.040.40; 33.100; 17.220 ISBN 2-8318-8394-6

61326-1 © IEC:2005 –– 3 2 – – 61326-1 © IEC:2005
CONTENTS
FOREWORD.3
INTRODUCTION.5
1 Scope.6
2 Normative references .7
3 Terms and definitions .8
4 General .10
5 EMC test plan.10
5.1 General .10
5.2 Configuration of EUT during testing.11
5.2.1 General .11
5.2.2 Composition of EUT.11
5.2.3 Assembly of EUT .11
5.2.4 I/O ports .11
5.2.5 Auxiliary equipment .11
5.2.6 Cabling and earthing (grounding).11
5.3 Operation conditions of EUT during testing.11
5.3.1 Operation modes .11
5.3.2 Environmental conditions.12
5.3.3 EUT software during test .12
5.4 Specification of performance criteria .12
5.5 Test description.12
6 Immunity requirements .12
6.1 Conditions during the tests .12
6.2 Immunity test requirements .12
6.3 Random aspects .16
6.4 Performance criteria .16
6.4.1 Performance criterion A .16
6.4.2 Performance criterion B .16
6.4.3 Performance criterion C.16
7 Emission requirements .17
7.1 Conditions during measurements .17
7.2 Emission limits .17
8 Test results and test report.17
9 Instructions for use.17
Annex A (normative) Immunity test requirements for portable test and measurement
equipment.18
Bibliography.19

61326-1 © IEC:2005 – 3 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,
CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS –
Part 1: General requirements
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61326-1 has been prepared by subcommittee 65A: System
aspects, of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control.
The IEC 61326 series cancels and replaces IEC 61326:2002 and constitutes a technical
revision.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
65A/456/FDIS 65A/464/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.

– 4 – 61326-1 © IEC:2005
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
IEC 61326-1 consists of the following parts, under the general title Electrical equipment for
measurement, control and laboratory use – EMC requirements:
Part 1: General requirements – (Annexes A and B of IEC 61326: 2002 are integrated in
the main body of IEC 61326-1)
Part 2-1: Sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications
(Annex D of IEC 61326: 2002)
Part 2-2: Portable test, measuring and monitoring equipment used in low-voltage
distribution systems (Annex E of IEC 61326:2002)
Part 2-3: Transducers with integrated or remote signal conditioning (includes Annex F of
IEC 61326: 2002)
Part 2-4: Insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for
insulation fault location according to IEC 61557-9 (new)
Part 2-5: Test configurations, operational conditions and performance criteria for field
devices with interfaces according to communication profile Family 3 Profile 3/2
(new)
Part 2-6: In vitro diagnostic (IVD) medical equipment (new)
Part 3-1: Immunity requirements for equipment performing or intended to perform safety
related functions (functional safety) – Part 3.1: General industrial applications
(The matter of functional safety in Table 2 of IEC 61326:2002 is incorporated into
IEC 61326-3-1).
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
The contents of the corrigenda of February 2008 and February 2010 have been included in
this copy.
61326-1 © IEC:200561326-1 © IEC:2005 –– 9 5 – –
INTRODUCTION
Instruments and equipment within the scope of this standard may often be geographically
widespread and may have to operate under a wide range of environmental conditions.
The limitation of undesired electromagnetic emissions ensures that no other equipment,
installed nearby, is unduly influenced by the equipment under consideration. The limits are
more or less specified by, and therefore taken from, IEC and International Special Committee
on Radio Interference (CISPR) publications.
However, the equipment has to function without undue degradation in a typical
electromagnetic environment. The limit values for immunity specified in this standard have
been chosen under this assumption. Special risks, involving for example nearby or direct
lightning strikes, circuit-breaking, or exceptionally high electromagnetic radiation in close
proximity, are not covered.
Complex electric and/or electronic systems require EMC planning in all phases of their design
and installation, taking into consideration the electromagnetic environment, any special
requirements, and the severity of failures.
This part of IEC 61326 specifies the EMC requirements that are generally applicable to all
equipment within its scope. For certain types of equipment, these requirements will be
supplemented or modified by the special requirements of one, or more than one, particular
part within IEC 61326-2. These should be read in conjunction with the IEC 61326-1
requirements.
61326-1 © IEC:2005 –– 11 6 – – 61326-1 © IEC:2005
ELECTRICAL EQUIPMENT FOR MEASUREMENT,
CONTROL AND LABORATORY USE –
EMC REQUIREMENTS –
Part 1: General requirements
1 Scope
This part of IEC 61326 specifies requirements for immunity and emissions regarding electro-
magnetic compatibility (EMC) for electrical equipment, operating from a supply or battery of
less than 1 000 V a.c. or 1 500 V d.c. or from the circuit being measured, intended for
professional, industrial-process, industrial-manufacturing and educational use, including
equipment and computing devices for
– measurement and test;
– control;
– laboratory use;
– accessories intended for use with the above (such as sample handling equipment),
intended to be used in industrial and non-industrial locations.
Computing devices and assemblies and similar equipment within the scope of Information
Technology Equipment (ITE) and complying with applicable ITE EMC standards can be used
in systems within the scope of this part of IEC 61326 without additional testing, if it is suitable
for the intended electromagnetic environment.
This product family standard takes precedence over generic standards.
The following equipment is covered in this standard.
a) Electrical measurement and test equipment
This is equipment, which by electrical means measures, indicates or records one or more
electrical or non-electrical quantities, also non-measuring equipment such as signal
generators, measurement standards, power supplies and transducers.
b) Electrical control equipment
This is equipment, which controls one or more output quantities to specific values, with
each value determined by manual settings, by local or remote programming, or by one or
more input variables. This includes Industrial Process Measurement and Control (IPMC)
equipment, which consists of devices such as:
– process controllers and regulators;
– programmable controllers;
– power supply units for equipment and systems (centralized or dedicated);
– analogue/digital indicators and recorders;
– process instrumentation;
– transducers, positioners, intelligent actuators, etc.

61326-1 © IEC:2005 – 7 –
c) Electrical laboratory equipment
This is equipment which measures, indicates monitors or analyses substances, or is used
to prepare materials, and includes In Vitro Diagnostic (IVD) equipment. This equipment
may also be used in areas other than laboratories, for example self-test IVD equipment
may be used in the home.
This standard is applicable to
– equipment for use in residential, commercial and light-industrial environments, according
to IEC 61000-6-1;
– equipment for use in industrial locations;
– equipment for use in laboratories or test and measurement areas with a controlled
electromagnetic environment;
– portable test and measurement equipment.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60050-161, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
IEC 61000-3-2:2000, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-2: Limits – Limits for
harmonic current emissions (equipment input current ≤ 16A per phase)
IEC 61000-3-3:2002, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-3: Limits – Limitation of
voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems, for
equipment with rated current ≤ 16 A per phase and not subject to conditional connection.
IEC 61000-3-11:2000, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-11: Limits – Limitation of
voltage changes, voltage fluctuations and flicker in public low-voltage supply systems -
Equipment with rated current ≤ 75A and subject to conditional connection
IEC 61000-3-12:2004, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-12: Limits – Limits for
harmonic currents produced by equipment connected to public low voltage systems with input
current > 16A and ≤ 75A per phase
IEC 61000-4-2:2001, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and measure-
ment techniques – Electrostatic discharge immunity test
IEC 61000-4-3:2002, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-3: Testing and measure-
ment techniques – Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:2004, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-4: Testing and measure-
ment techniques – Electrical fast transient/burst immunity test

61326-1 © IEC:2005 –– 15 8 – – 61326-1 © IEC:2005
IEC 61000-4-5:2001, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-5: Testing and measure-
ment techniques – Surge immunity test
IEC 61000-4-6:2003, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-6: Testing and measure-
ment techniques – Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
IEC 61000-4-8:1993, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measure-
ment techniques – Power frequency magnetic field immunity test
Amendment 1 (2000)
IEC 61000-4-11:2004, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-11: Testing and measure-
ment techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
IEC 61000-6-1:2005, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 6-1: Generic standards –
Immunity for residential, commercial and light-industrial environments
CISPR 11:2003, Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment –
Electromagnetic disturbance characteristics – Limits and methods of measurement.
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in IEC 60050-161 as well
as the following apply.
Other definitions, not included in IEC 60050-161 and this standard, but nevertheless
necessary for the application of the different tests, are given in the EMC basic publications of
the IEC 61000 series.
3.1
type test
conformity test made on one or more items representative of the production
[IEV 151-16-16]
3.2
port
any particular interface of the specific device or system with the external electromagnetic
environment within the scope of this part of IEC 61326 (see Figure 1 for an example of
Equipment Under Test (EUT))
NOTE I/O ports are input, output or bi-directional, measurement, control, or data ports.
Enclosure port
AC power port   Functional earth port
EUT
DC power port I/O port
IEC  1119/98
Figure 1 – Examples of ports
61326-1 © IEC:200561326-1 © IEC:2005 –– 17 9 – –
3.3
enclosure port
physical boundary of equipment through which electromagnetic fields may radiate or impinge
3.4
class A equipment
equipment suitable for use in all establishments other than domestic and those directly
connected to a low-voltage power supply network which supplies buildings used for domestic
purposes
[CISPR 11, 4.2]
3.5
class B equipment
equipment suitable for use in domestic establishments and in establishments directly
connected to a low-voltage power supply network which supplies buildings used for domestic
purposes
[CISPR 11, 4.2]
3.6
long-distance lines
lines within a building which are longer than 30 m, or which leave the building (including lines
of outdoor installations)
3.7
industrial locations
locations characterized by a separate power network, in most cases supplied from a high- or
medium-voltage transformer, dedicated for the supply of installations feeding manufacturing
or similar plants with one or more of the following conditions:
– frequent switching of heavy inductive or capacitive loads;
– high currents and associated magnetic fields;
– presence of Industrial, Scientific and Medical (ISM) apparatus (for example, welding machines)
3.8
laboratory or test and measurement area
area that is specifically used for analysis, testing and servicing and where equipment is
operated by trained personnel
3.9
controlled electromagnetic environment
environment usually characterized by recognition and control of EMC threats by users of the
equipment or design of the installation
3.10
functional earthing
earthing a point or points in a system or in an installation or in equipment, for purposes other
than electrical safety
[IEV 195-01-13, modified]
NOTE The EUT port used for functional earthing is called functional earth port.

61326-1 © IEC:2005 –– 19 10 – – 61326-1 © IEC:2005
4 General
Equipment and systems within the scope of this standard can be subjected to various kinds of
electromagnetic disturbances, conducted by power, measurement or control lines, or radiated
from the environment. The types and levels of disturbances depend on the particular
conditions in which the systems, subsystems or equipment are installed and operate.
Equipment such as generators, analysers or frequency meters shall fulfil the requirements
under the conditions defined by the manufacturer (that is without a test object connected, or
connecting a 50 Ω termination to the output of a signal generator).
The manufacturer shall give information that emissions, which exceed the levels required by
this standard, may occur when equipment is connected to a test object.
Equipment and individual devices of a system within the scope of this standard may also be a
source of electromagnetic disturbances over a wide frequency range. These disturbances may
be conducted through power and signal lines, or be directly radiated, and may affect the
performance of other equipment, or influence the external electromagnetic environment.
For emissions, the objective of these requirements is to ensure that the disturbances
generated by the equipment and systems, when operated normally, do not exceed a level
which could prevent other systems from operating as intended. The emission limits are
considered in 7.2
To comply with this standard, no additional EMC tests are required beyond those stated here.
NOTE 1 Higher immunity levels than those specified may be necessary for particular applications (for example,
when reliable operation of the equipment is essential for safety) or when the equipment is intended for use in
harsher electromagnetic environments.
NOTE 2 This standard does not specify basic safety requirements such as protection against electric shock,
unsafe operation, insulation co-ordination and related dielectric tests for equipment. See IEC 61010 for safety
requirements.
NOTE 3 The emission limits of this standard may not, however, provide full protection against interference to
radio and television reception when the measurement, control or laboratory equipment is used closer than 30 m to
the receiving antenna for industrial or professional applications, and closer than 10 m for domestic and commercial
applications.
NOTE 4 In special cases, for example when highly susceptible equipment is being used in close proximity,
additional mitigation measures may have to be employed to reduce the influencing electromagnetic emission
further below the specified limits.
NOTE 5 The manufacturer may elect to perform all tests either on a single EUT or more than one. The testing
sequence is optional.
5 EMC test plan
5.1 General
An EMC test plan shall be established prior to testing. It shall contain, as a minimum, the
elements given in 5.2 to 5.5.
It may be determined from consideration of the electrical characteristics and usage of a
particular apparatus that some tests are inappropriate and therefore unnecessary. In such
cases, the decision not to test shall be recorded in the EMC test plan.

61326-1 © IEC:200561326-1 © IEC:2005 –– 21 11 – –
5.2 Configuration of EUT during testing
5.2.1 General
Measurement, control and laboratory equipment often consists of systems with no fixed
configuration. The kind, number and installation of different subassemblies within the equip-
ment may vary from system to system. Thus it is reasonable, and also recommended, not to
test every possible arrangement.
To realistically simulate EMC conditions (related both to emission and immunity), the
equipment assembly shall represent a typical installation as specified by the manufacturer.
Such tests shall be carried out as type tests under normal conditions as specified by the
manufacturer.
5.2.2 Composition of EUT
All devices, racks, modules, boards, etc. significant to EMC and belonging to the EUT shall be
documented. If relevant, the software version shall be documented.
5.2.3 Assembly of EUT
If an EUT has a variety of internal and external configurations, the type tests shall be made with
one or more typical configurations that represent normal use. All types of module shall be tested
at least once. The rationale for this selection shall be documented in the EMC test plan.
5.2.4 I/O ports
Where there are multiple I/O ports, which are all of the same type, connecting a cable to just
one of those ports is sufficient, provided that it can be shown that the additional cables would
not affect the results significantly.
If not otherwise specified in more specific parts of the IEC 61326 series, electrostatic
discharges shall not be applied to inner pins of plug-in ports or cable connectors (but to
connected connectors accessible during the intended use of the EUT).
5.2.5 Auxiliary equipment
When a variety of devices is provided for use with the EUT, at least one of each type of
device shall be selected to simulate actual operating conditions. Auxiliary devices can be
simulated.
5.2.6 Cabling and earthing (grounding)
The cables and earth (ground) shall be connected to the EUT in accordance with the
manufacturer's specifications. There shall be no additional earth connections.
5.3 Operation conditions of EUT during testing
5.3.1 Operation modes
A selection of representative operation modes shall be made, taking into account that not all
functions, but only the most typical functions of the electronic equipment can be tested. The
estimated worst-case operating modes for normal application shall be selected.

61326-1 © IEC:2005 –– 23 12 – – 61326-1 © IEC:2005
5.3.2 Environmental conditions
The tests shall be carried out within the manufacturer’s specified environmental operating
range (for example, ambient temperature, humidity, atmospheric pressure), and within the
rated ranges of supply voltage and frequency.
5.3.3 EUT software during test
The software used for simulating the different modes of operation shall be documented. This
software shall represent the estimated worst-case operating mode for normal application.
5.4 Specification of performance criteria
For immunity tests, performance criteria for each operating mode and test shall be specified;
where possible, as quantitative values.
5.5 Test description
Each test to be applied shall be specified in the EMC test plan. The description of the tests,
the test methods, the characteristics of the tests, and the test set-ups are given in the basic
standards, which are referred to in 6.2 and 7.2. Additional information needed for the practical
implementation of the tests is given in this standard. The contents of standards need not be
reproduced in the test plan. In some cases, the EMC test plan shall specify the application in
detail.
NOTE Not all known disturbance phenomena have been specified for testing purposes in this part of IEC 61326,
but only those which are considered as most critical.
6 Immunity requirements
6.1 Conditions during the tests
The configuration and modes of operation during the tests shall be precisely noted in the test
report.
Tests shall be applied to the relevant ports in accordance with Tables 1 or 2 or 3, as
applicable.
The tests shall be conducted in accordance with the basic standards. The tests shall be
carried out one at a time. If additional methods are required, the method and rationale shall
be documented.
6.2 Immunity test requirements
The basic immunity testing requirements are given in Table 1.
Particular immunity requirements for equipment intended for use in industrial locations are
given in Table 2.
Particular immunity requirements for equipment intended for use in laboratories or test and
measurement areas with a controlled electromagnetic environment are given in Table 3.

61326-1 © IEC:200561326-1 © IEC:2005 –– 25 13 – –
Table 1 – Basic immunity test requirements
Perform-
Basic
Port Phenomenon Test value ance
standard
criteria
Enclosure Electrostatic discharge (ESD) IEC 61000-4-2 4 kV/4 kV contact/air B
EM field IEC 61000-4-3 3 V/m (80 MHz to 1 GHz)
3 V/m (1,4 GHz to 2 GHz)
A
1 V/m (2,0 GHz to 2,7 GHz)
0 % during half cycle
AC power Voltage dip IEC 61000-4-11 B
0 % during 1 cycle
B
e
)
70 % during 25/30 cycles
C
(including protective
earth)
e
)
0 % during 250/300 cycles
C
Short interruptions IEC 61000-4-11
1 kV (5/50 ns, 5 kHz)
B
Burst IEC 61000-4-4
a) b)
B
Surge IEC 61000-4-5 0,5 kV /1 kV
A
Conducted RF IEC 61000-4-6 3 V (150 kHz to 80 MHz)
d)
DC power Burst IEC 61000-4-4 1 kV(5/50 ns, 5 kHz) B
a) b)
Surge IEC 61000-4-5 0,5 kV /1 kV
(including protective B
earth)
Conducted RF IEC 61000-4-6
3 V (150 kHz to 80 MHz) A
d)
I/O signal/control Burst IEC 61000-4-4 0,5 kV (5/50 ns, 5 kHz) B
(including lines
b), c)
connected to Surge IEC 61000-4-5 1 kV B
functional earth
d)
port) Conducted RF IEC 61000-4-6 3 V (150 kHz to 80 MHz)
A
I/O signal/control Burst IEC 61000-4-4 1 kV(5/50 ns, 5 kHz) B
connected directly
a) b)
to mains supply Surge IEC 61000-4-5 0,5 kV /1 kV B
Conducted RF IEC 61000-4-6 A
3 V (150 kHz to 80 MHz)
a)
Line to line.
b)
Line to earth (ground).
c)
Only in the case of long-distance lines (see 3.6).
d)
Only in the case of lines >3 m.
e)
25/30 cycles" means "25 cycles for 50 Hz test" and "30 cycles for 60 Hz test.

61326-1 © IEC:2005 –– 27 14 – – 61326-1 © IEC:2005
Table 2 – Immunity test requirements for equipment intended for use
in industrial locations
Port Phenomenon Basic standard Test value Perform-
ance
criteria
Enclosure Electrostatic discharge (ESD) IEC 61000-4-2 4 kV/8 kV contact/air B
EM field IEC 61000-4-3 10 V/m (80 MHz to 1 GHz) A
3 V/m (1,4 GHz to 2 GHz)
1 V/m (2,0 GHz to 2,7 GHz)
e)
Rated power frequency IEC 61000-4-8 30 A/m A
magnetic field
AC power Voltage dip IEC 61000-4-11 0 % during 1 cycle B
h)
40 % during 10/12 cycles C
h)
70 % during 25/30 cycles C
h)
Short interruptions IEC 61000-4-11 0 % during 250/300 cycles C
Burst IEC 61000-4-4 2 kV(5/50 ns, 5 kHz) B
a) b)
/2 kV
Surge IEC 61000-4-5 1 kV B
f)
Conducted RF IEC 61000-4-6 3 V (150 kHz to 80 MHz) A
g)
DC power Burst IEC 61000-4-4 2 kV (5/50 ns, 5 kHz) B
a) b)
Surge IEC 61000-4-5 1 kV /2 kV B
f
Conducted RF IEC 61000-4-6 3 V (150 kHz to 80 MHz) A
d)
I/O signal/ control Burst IEC 61000-4-4 1 kV (5/50 ns, 5 kHz) B
(including functional
b), c)
Surge IEC 61000-4-5 1 kV B
earth lines)
d), f )
Conducted RF IEC 61000-4-6 3 V (150 kHz to 80 MHz) A
I/O signal/ control Burst IEC 61000-4-4 2 kV (5/50 ns, 5 kHz) B
connected directly
a) b)
Surge IEC 61000-4-5 1 kV /2 kV B
to power supply
f)
network
Conducted RF IEC 61000-4-6 3 V (150 kHz to 80 MHz) A
a)
Line to line.
b)
Line to ground.
c)
Only in the case of long-distance lines (see 3.6).
d)
Only in the case of lines > 3 m.
e)
Only to magnetically sensitive equipment. CRT display interference is allowed above 1 A/m.
f)
The test level for the conducted RF test is lower than the level for the EM field test because the conducted RF test
simulates the resonance condition at each frequency and is thus a more severe test.
g)
DC connections between parts of equipment/system which are not connected to a d.c. distribution network are
treated as I/O signal/control ports.
h)
25/30 cycles" means "25 cycles for 50 Hz test" and "30 cycles for 60 Hz test.

61326-1 © IEC:200561326-1 © IEC:2005 –– 29 15 – –
Table 3 – Immunity test requirements for equipment used
in controlled EM environments
Port Phenomenon Basic standard Test value Perfor
mance
criteria
Enclosure Electrostatic discharge (ESD) IEC 61000-4-2 4 kV/8 kV contact/air B
EM field IEC 61000-4-3 1 V/m (80 MHz to 1 GHz) A
1 V/m (1,4 GHz to 2 GHz)
1 V/m (2,0 GHz to 2,7 GHz
AC power Voltage dip IEC 61000-4-11 0% during half cycle B
Burst IEC 61000-4-4 1 kV (5/50 ns, 5 kHz) B
a) b)
Surge IEC 61000-4-5 0,5 kV /1 kV B
Conducted RF IEC 61000-4-6 1 V (150 kHz to 80 MHz) A
c), d)
DC power Burst IEC 61000-4-4 1 kV (5/50 ns, 5 kHz) B
Surge IEC 61000-4-5 Not required -
Conducted RF IEC 61000-4-6 1 V (150 kHz to 80 MHz) A
c)
I/O signal/ control Burst IEC 61000-4-4 0,5 kV (5/50 ns, 5 kHz)
B
(including
Surge IEC 61000-4-5 Not required
functional earth
c)
wire)
Conducted RF IEC 61000-4-6 1 V (150 kHz to 80 MHz) A
c) e)
Measurement I/O Burst IEC 61000-4-4 X -
Surge IEC 61000-4-5 Not required -
e)
Conducted RF IEC 61000-4-6 X -
a)
Line to line.
b)
Line to ground.
c)
Only in the case of lines >3 m.
d)
DC connections between parts of equipment/system which are not connected to a d.c. distribution network are
treated as I/O signal/control ports.
e)
The rated disturbance values shall be stated in the product specification by the manufacturer.
The manufacturer shall state that equipment fulfilling the requirements in Table 3 is designed
to operate in a controlled electromagnetic environment, i.e. where r.f. transmitters such as
mobile telephones may not be used in close proximity.
NOTE In general, analysis, test and service laboratories have controlled EM environments, and personnel in
these areas are usually trained to be able to interpret results. Such environments normally contain equipment
which requires protection by such apparatus as Uninterruptible Power Supplies (UPS), filters, or surge
suppressers. Hence, the test values shown in Table 3 are relaxed from those in Table 1.

61326-1 © IEC:2005 –– 31 16 – – 61326-1 © IEC:2005
6.3 Random aspects
The performance criterion shall be observable during the test and shall not be a random
phenomenon. The duration of the test and number of tests shall be sufficient to test each
function of the EUT as specified in the EMC test plan. Special care shall be given to ensure
that this is covered with automatic (processor) controlled EUTs.
NOTE For instance, in the case of electrostatic discharge testing of a digital device, the EUT should be exposed
to at least 10 discharges at each polarity, test point and test level to exclude random effects. In case of burst
testing, it may be advisable to extend the testing time to more than 1 min.
6.4 Performance criteria
The general principles (performance criteria) for the evaluation of the immunity test results
are the following.
6.4.1 Performance criterion A
During testing, normal performance within the specification limits.
Example 1
If electronic equipment is required to work with high reliability, the EUT shall operate without
any apparent degradation from the manufacturer's specification.
6.4.2 Performance criterion B
During testing, temporary degradation, or loss of function or performance which is self-
recovering.
Example 1
A data transfer is controlled/checked by parity check or by other means. In the case of
malfunctioning, such as caused by a lightning strike, the data transfer will be repeated
automatically. The reduced data transfer rate at this time is acceptable.
Example 2
During testing, an analogue function value may deviate. After the test, the deviation vanishes.
Example 3
In the case of a monitor used only for man-machine monitoring, it is acceptable that some
degradation takes place for a short time, such as flashes during the burst application.
6.4.3 Performance criterion C
During testing, temporary degradation, or loss of function or performance which requires
operator intervention or system reset occurs.
Example 1
In the case of an interruption in the mains longer than the specified buffer time, the power
supply unit of the equipment is switched off. The switch-on may be automatic or carried out by
the operator.
61326-1 © IEC:200561326-1 © IEC:2005 –– 33 17 – –
Example 2
After a programme interruption caused by a disturbance, the processor functions of the equip-
ment stops at a defined position and is not left in a "crashed state". The operator's decision
prompts may be necessary.
Example 3
The test results in an opening of an over-current protection device that is replaced or reset by
the operator.
7 Emission requirements
7.1 Conditions during measurements
The measurements shall be made in the operating mode in accordance with the EMC test
plan (see Clause 5).
The description of the tests, the test methods, and the test set-ups are given in the reference
standards as stated in 7.2. The contents of the reference standards are not reproduced here;
however, modifications or additional information needed for the practical implementation of
application of the tests may be given in the different parts of the IEC 61326 series.
7.2 Emission limits
For Class B equipment, the limits, the measuring methods and the provisions given in
CISPR 11, IEC 61000-3-2 (or IEC 61000-3-12) and IEC 61000-3-3 (or IEC 61000-3-11) apply.
For Class A equipment, the limits, the measuring methods and the provisions given in
CISPR 11 apply. Equipment classification and choice of respective limits shall be determined
after taking into account the intended environment and emission requirement in the areas of
use.
The equipment shall be classified and respective information is provided per the applicable
group and class as specified within CISPR 11, Clause 4.
For equipment using frequencies in the ISM bands, see CISPR 11.
8 Test results and test report
The test results shall be documented in a comprehensive test report with sufficient detail to
provide for test repeatability.
The test report shall contain the following minimum information:
– EUT description;
– EMC test plan;
– test data and results;
– test equipment and set-up.
9 Instructions for use
If required in some part of the IEC 61326 series, relevant instructions for use may be included
in the user documentation.
– 18 – 61326-1 © IEC:2005
Annex A
(normative)
Immunity test requirements for
portable test and measurement equipment

Equipment covered within this Annex is portable and measurement equipment that is powered
by battery or from the circuit being measured. Equipment that can be operated while charging
is excluded from this Annex.
The basic immunity testing requirements are given in Table A.1. The performance criteria are
identical to those of Table 1 ports.
NOTE 1 Test and measurement instruments within the scope of this Annex can be used in a wide range of
locations,
...