IEC 60269-4:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60269-4
INTERNATIONAL
Quatrième édition
STANDARD
Fourth edition
2006-11
Fusibles basse tension –
Partie 4:
Exigences supplémentaires concernant les
éléments de remplacement utilisés pour la
protection des dispositifs à semiconducteurs

Low-voltage fuses –
Part 4:
Supplementary requirements for fuse-links
for the protection of semiconductor devices

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60269-4:2006
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

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Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1

base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
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Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
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comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
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ainsi que sur les corrigenda.
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nible par courrier électronique. Veuillez prendre by email. Please contact the Customer Service
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60269-4
INTERNATIONAL
Quatrième édition
STANDARD
Fourth edition
2006-11
Fusibles basse tension –
Partie 4:
Exigences supplémentaires concernant les
éléments de remplacement utilisés pour la
protection des dispositifs à semiconducteurs

Low-voltage fuses –
Part 4:
Supplementary requirements for fuse-links
for the protection of semiconductor devices

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International Electrotechnical Commission
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– 2 – 60269-4 © CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.8

INTRODUCTION.12

1 Généralités.14

1.1 Domaine d’application et objet.14

1.2 Références normatives.14

2 Termes et définitions .16

2.2  Termes généraux .16
3 Conditions de fonctionnement en service.16
3.4 Tension.16
3.4.1 Tension assignée.16
3.4.2 Tension appliquée en service .18
3.5 Courant.18
3.6 Fréquence, facteur de puissance et constante de temps .18
3.6.1 Fréquence.18
3.6.3 Constante de temps (τ).18
3.10 Température à l’intérieur d’une enveloppe.20
4 Classification.20
5 Caractéristiques des fusibles.20
5.1 Enumération des caractéristiques.20
5.1.2 Eléments de remplacement .20
5.2 Tension assignée.20
5.4 Fréquence assignée.20
5.5 Puissance dissipée assignée de l’élément de remplacement .20
5.6 Limites des caractéristiques temps-courant .22
5.6.1 Caractéristiques temps-courant, zones temps-courant.22
5.6.2 Courants et temps conventionnels .22
5.6.3 Balises.24
5.6.4 Courbes de surcharge.24
5.7.1 Pouvoir de coupure et catégorie d’emploi .24
5.7.2 Pouvoir de coupure assigné .26
5.8 Caractéristiques d’amplitude du courant coupé et I t .26

5.8.1 Caractéristiques d’amplitude du courant coupé.26
5.8.2 Caractéristiques I t.26
5.9 Caractéristiques de la tension de coupure .28
6 Marquage.28
6.2 Marquages et indications des éléments de remplacement .28
7 Conditions normales de réalisation .30
7.3 Echauffement et puissance dissipée de l’élément de remplacement .30
7.4 Fonctionnement.30
7.5 Pouvoir de coupure.30
7.7 Caractéristiques I t.30
7.14 Caractéristiques de la tension de coupure .30
7.15 Conditions de fonctionnement particulières .30

60269-4 © IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.9

INTRODUCTION .

1 General.15

1.1 Scope.15

1.2 Object.8

2 Terms and definitions .15

2.2 General terms.17
3 Conditions for operation in service.17
3.4 Voltage.17
3.4.1 Rated voltage.17
3.4.2 Applied voltage in service.19
3.5 Current.19
3.6 Frequency, power factor and time constant .19
3.6.1 Frequency.19
3.6.3 Time constant (τ).19
3.10 Temperature inside an enclosure .21
4 Classification.21
5 Characteristics of fuses .21
5.1 Summary of characteristics.21
5.1.2 Fuse-links.21
5.2 Rated voltage.21
5.4 Rated frequency.21
5.5 Rated power dissipation of the fuse-link .21
5.6 Limits of time-current characteristics .23
5.6.1 Time-current characteristics, time-current zones .23
5.6.2 Conventional times and currents.23
5.6.3 Gates.25
5.6.4 Overload curves.25
5.7.1 Breaking range and utilization category .25
5.7.2 Rated breaking capacity .27
5.8 Cut-off current and I t characteristics.27

5.8.1 Cut-off current characteristics.27
5.8.2 I t characteristics .27
5.9 Arc voltage characteristics .29
6 Markings.29
6.2 Markings on fuse-links.29
7 Standard conditions for construction.31
7.3 Temperature rise and power dissipation of the fuse-link .31
7.4 Operation.31
7.5 Breaking capacity.31
7.7 I t characteristics .31
7.14 Arc voltage characteristics .31
7.15 Special operating conditions.31

– 4 – 60269-4 © CEI:2006
8 Essais.32

8.1 Généralités.32

8.1.4 Disposition du fusible .32

8.1.5 Essais des éléments de remplacement .32

8.3 Vérification des limites d’échauffement et de la puissance dissipée.34

8.3.1 Disposition de l’élément de remplacement.34

8.3.3 et 8.3.4.2  Mesure de la puissance dissipée de l’élément de

remplacement .36

8.3.5 Résultats à obtenir .36

8.4 Vérification du fonctionnement .36
8.4.1 Disposition du fusible .36
8.4.3 Méthodes d’essai et résultats à obtenir.36
8.5 Vérification du pouvoir de coupure .40
8.5.1 Disposition du fusible .40
8.5.5 Méthode d’essai.40
8.5.8 Résultats à obtenir .44
8.6 Vérification de la caractéristique d’amplitude du courant coupé.46
8.6.1 Méthode d’essai.46
8.6.2 Résultats à obtenir .48
8.7 Vérification des caractéristiques I t et sélectivité en cas de surintensités .50
8.7.1 Méthode d’essai.50
8.7.2 Résultats à obtenir .50
8.7.3 Essai de vérification pour éléments de remplacement «gG» et «gM».50
8.7.4 Vérification de la sélectivité en cas de surintensités .50
8.7.5 Vérification des caractéristiques de la tension de coupure et résultats
à obtenir .50

Annexe A (informative) Lignes directrices pour la coordination entre les éléments de
remplacement et les dispositifs à semiconducteurs.60
Annexe B (normative) Informations à fournir par le constructeur dans sa
documentation (catalogue) sur les fusibles destinés à assurer la protection de
dispositifs à semiconducteurs .74
Annexe C (normative)  Exemples d’éléments de remplacement normalisés pour la
protection des semiconducteurs.76

Figure 101 – Courbe conventionnelle de surcharge (exemple) (X et Y sont des points

correspondant à une capacité de surcharge vérifiée) .52
Figure 102 – Exemple de montage d’essai conventionnel (suite de la figure à la page
56) .54
Figure 103 – Exemple de montage d’essai conventionnel .58
Figure C.1 – Eléments de remplacement à corps simple .78
Figure C.2 – Eléments de remplacement à double corps.80
Figure C.3 – Eléments de remplacement jumelés.82
Figure C.4 – Eléments de remplacement à percuteur .82
Figure C.5 – Éléments de remplacement à platines de type B, Fusibles de tailles 000
et 00 .86
Figure C.6 – Éléments de remplacement à platines de type B, Fusibles de tailles 0, 1,

2 et 3 .88

60269-4 © IEC:2006 – 5 –
8 Tests.33

8.1 eneral.33

8.1.4 Arrangement of the fuse-link.33

8.1.5 Testing of fuse-links.33

8.3 Verification of temperature rise limits and power dissipation.35

8.3.1 Arrangement of the fuse-link.35

8.3.3 and 8.3.4.2 Measurement of power dissipation of the fuse-link .37

8.3.5 Acceptability of test results.37

8.4 Verification of operation.37

8.4.1 Arrangement of fuse-link.37
8.4.3 Test method and acceptability of test results .37
8.5 Verification of the breaking capacity .41
8.5.1 Arrangement of the fuse .41
8.5.5 Test method.41
8.5.8 Acceptability of test results.45
8.6 Verification of the cut-off current characteristic.47
8.6.1 Test method.47
8.6.2 Acceptability of test results.49
8.7 Verification of the I t characteristics and over-current discrimination.51
8.7.1 Test method .51
8.7.2 Acceptability of test results.51
8.7.3 Verification of compliance for “gG” and “gM” fuse-links.51
8.7.4 Verification of overcurrent discrimination .51
8.7.5 Verification of arc voltage characteristics and acceptability of test
results .51

Annex A (informative) Guide for the coordination of fuse-links with semiconductor
devices .61
Annex B (normative) Survey on information to be supplied by the manufacturer in his
literature (catalogue) for a fuse designed for the protection of semiconductor devices .75
Annex C (normative) Examples of standardized fuse-links for the protection of
semiconductor devices .77

Figure 101 – Conventional overload curve (example) (X and Y are points of verified
overload capability).53
Figure 102 – Example of a conventional test arrangement (continued on page 57) .55
Figure 103 – Example of a conventional test arrangement .59
Figure C.1 – Single body fuse-links.79
Figure C.2 – Double body fuse-links .81
Figure C.3 – Twin body fuse-links .83
Figure C.4 – Trip indicator fuse-links .83
Figure C.5 – Fuse-links with bolted connections, type B, body sizes 000 and 00.87
Figure C.6 – Fuse-links with bolted connections, type B, body sizes 0, 1, 2 and 3.89

– 6 – 60269-4 © CEI:2006
Figure C.7 – Eléments de remplacement à platines du type C.92

Figure C.8 – Eléments de remplacement à plots du type A .96

Figure C.9 – Eléments de remplacement à plots du type B .100

Figure C.10 – Eléments de remplacement à capsules cylindriques du type A.104

Tableau 101 – Courants et temps conventionnels pour les éléments de remplacement
«gR» et «gS».24

Tableau 102 – Liste des essais complets.32

Tableau 103 – Liste des essais des éléments de remplacement de courant assigné le

plus faible dans une série homogène .34
Tableau 104 – Valeurs pour les essais de vérification du pouvoir de coupure des
fusibles pour courant alternatif.44
Tableau 105 – Valeurs pour les essais de vérification du pouvoir de coupure de
fusibles pour courant continu .46
Tableau 106 – Valeurs pour les essais de vérification des caractéristiques d’amplitude
du courant coupé, I t et de la tension de coupure en courant alternatif.48

60269-4 © IEC:2006 – 7 –
Figure C.7– Bolted fuse-links, type C .93

Figure C.8 – Flush end fuse-links, type A.97

Figure C.9 – Flush end fuse-links, type B.101

Figure C.10 – Fuse-links with cylindrical contact caps, type A.105

Table 101 – Conventional times and currents for “gR” and “gS” fuse-links .25

Table 102 – List of complete tests.33

Table 103 – Survey of tests on fuse-links of the smallest rated current of a

homogeneous series.35

Table 104 – Values for breaking-capacity tests on a. c. fuses .45
Table 105 – Values for breaking-capacity tests on d.c. fuses .47
Table 106 – Values for verification of cut-off current, I t and arc voltage
characteristics tests for a.c. .49

– 8 – 60269-4 © CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

–––––––––––
FUSIBLES BASSE TENSION –
Partie 4: Exigences supplémentaires concernant

les éléments de remplacement utilisés pour la protection

des dispositifs à semiconducteurs

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour

responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 60269-4 a été établie par le sous-comité 32B: Coupe-circuit à
fusibles à basse tension, du comité d'études 32 de la CEI: Coupe-circuit à fusibles.
Cette quatrième édition annule et remplace la troisième édition parue en 1986 et les
amendements 1 (1995) et 2 (2002) ainsi que la CEI 60269-4-1 (2002). Cette édition constitue
une révision mineure.
La restructuration générale de la série CEI 60269 a conduit à la création de cette nouvelle
édition.
La présente partie doit être utilisée conjointement avec la quatrième édition de la CEI 60269-1:
2006, Fusibles à basse tension – Partie 1: Exigences générales
Cette Partie 4 complète ou modifie les articles ou paragraphes correspondant de la Partie 1.

60269-4 © IEC:2006 – 9 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
LOW-VOLTAGE FUSES –
Part 4: Supplementary requirements for fuse-Iinks

for the protection of semiconductor devices

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 60269-4 has been prepared by subcommittee 32B: Low-voltage
fuses, of IEC technical committee 32: Fuses.
This fourth edition cancels and replaces the third edition published in 1986, amendment 1
(1995) and amendment 2 (2002) as well as IEC 60269-4-1(2002) and constitutes a minor
revision.
The general re-organization of the IEC 60269 series has led to the creation of this new
edition.
This part is to be used in conjunction with IEC 60269-1:2006, Part 1:General requirements.
This Part 4 supplements or modifies the corresponding clauses or subclauses of Part 1.

– 10 – 60269-4 © CEI:2006
Lorsqu’aucune modification n’est nécessaire, la Partie 4 indique que l’article ou le paragraphe
approprié est applicable.
Les tableaux et les figures qui sont complémentaires à ceux de la Partie 1 sont numérotés à
partir de 101.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
32B/485/FDIS 32B/492/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
La CEI 60269, sous le titre général Fusibles basse tension, est composée des parties
suivantes:
Partie 1: Exigences générales
NOTE Cette partie inclut la CEI 60269-1 (troisième édition, 1998) et des parties de la CEI 60269-2
(deuxième édition, 1986) et de la CEI 60269-3 (deuxième édition, 1987).
Partie 2: Exigences supplémentaires pour les fusibles destinés à être utilisés par des
personnes habilitées (fusibles pour usages essentiellement industriels) –
Exemples de systèmes de fusibles normalisés A à I
NOTE Cette partie inclut des parties de la CEI 60269-2 (deuxième édition, 1986) et la totalité de la
CEI 60269-2-1 (quatrième édition, 2004).
Partie 3: Exigences supplémentaires pour les fusibles destinés à être utilisés par des
personnes non qualifiées (fusibles pour usages essentiellement domestiques et
analogues) – Exemples de systèmes de fusibles normalisés A à F
NOTE Cette partie inclut des parties de la CEI 60269-3 (deuxième édition, 1987) et la totalité de la
CEI 60269-3-1 (deuxième édition, 2004).
Partie 4: Exigences supplémentaires concernant les éléments de remplacement utilisés
pour la protection des semiconducteurs
NOTE Cette partie inclut la CEI 60269-4 (troisième édition, 1986) et la CEI 60269-4-1 (première
édition, 2002).
Partie 5: Lignes directrices pour l’application des fusibles basse tension (A l’étude)
NOTE Actuellement CEI/TR 61818 (2003).
Par commodité, lorsqu'une partie de cette publlication est reprise d'une autre publication, une
remarque a été insérée dans le texte à cet effet.

Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
60269-4 © IEC:2006 – 11 –
Where no change is necessary, this Part 4 indicates that the relevant clause or subclause
applies.
Tables and figures which are additional to those in Part 1 are numbered starting from 101.

The text of this standard is based on following documents:

FDIS Report on voting
32B/485/FDIS 32B/492/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
IEC 60269 consists of the following parts, under the general title Low-voltage fuses:
Part 1: General requirements
NOTE This part includes the IEC 60269-1 (third edition, 1998) and parts of the IEC 60269-2
(second edition, 1986) and IEC 60269-3 (second edition, 1987).
Part 2: Supplementary requirements for fuses for use by authorized persons (fuses
mainly for industrial application) – Examples of standardized systems of fuses A
to I
NOTE This part includes parts of the IEC 60269-2 (second edition, 1986) and the entire IEC 60269-
2-1 (fourth edition, 2004).
Part 3: Supplementary requirements for fuses for use by unskilled persons (fuses mainly
for household or similar application) – Examples of standardized systems of fuses
A to F
NOTE This part includes parts of the IEC 60269-3 (second edition, 1987) and the entire IEC 60269-
3-1 (second edition, 2004).
Part 4: Supplementary requirements for fuse-links for the protection of semiconductor
devices
NOTE This part includes the IEC 60269-4 (third edition, 1986) and the IEC 60269-4-1 (first edition,
2002).
Part 5: Guidance for the application of low-voltage fuses
NOTE Currently IEC/TR 61818 (2003).
For reasons of convenience, when a part of this publication has come from other publications,
a remark to this effect has been inserted in the text.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until

the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 12 – 60269-4 © CEI:2006
INTRODUCTION
Une réorganisation des différentes parties de la série CEI 60269 a été effectuée afin d’en

simplifier l’utilisation, notamment par les laboratoires d’essai testant les fusibles.

La CEI 60269-1, la CEI 60269-2, la CEI 60269-2-1, la CEI 60269-3 et la CEI 60269-3-1 ont

été intégrées soit dans la nouvelle partie 1, soit dans les nouvelles parties 2 et 3, selon les

sujets considérés, de façon que les articles traitant exclusivement des « fusibles pour

personnes autorisées » soient séparés des articles traitant des « fusibles pour personnes non

habilitées».
La CEI 60269-4 et la CEI 60296-4-1 ont, quant à elles, été intégrées dans la nouvelle partie 4
consacrée aux éléments de remplacement utilisés pour la protection des semiconducteurs.

60269-4 © IEC:2006 – 13 –
INTRODUCTION
A reorganization of the different parts of the IEC 60269 series has been carried out, in order

to simplify its use, especially by the laboratories which test the fuses.

IEC 61269-1, IEC 60269-2, IEC 60269-3 and IEC 60269-3-1 have been integrated into either

the new part 1 or the new parts 2 or 3, according to the subjects considered, so that the

clauses which deal exclusively with “fuses for authorized persons” are separated from the

clauses dealing with “fuses for unauthorized persons”.

As far as IEC 60269-4 and IEC 60269-4-1 are concerned, they have been integrated into the

new part 4 which deals with the fuse-links used for semiconductor protection.

– 14 – 60269-4 © CEI:2006
FUSIBLES BASSE TENSION –
Partie 4: Exigences supplémentaires concernant

les éléments de remplacement utilisés pour la protection

des dispositifs à semiconducteurs

1 Généralités
La CEI 60269-1 s’applique avec les exigences supplémentaires suivantes.

Sauf indication contraire dans le texte qui suit, les éléments de remplacement utilisés pour la
protection des dispositifs à semiconducteurs doivent répondre à l’ensemble des exigences
énoncées dans la CEI 60269-1 ainsi qu’aux exigences supplémentaires fixées ci-après.
1.1
...