Information technology - Radio frequency identification device conformance test methods - Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz

ISO/IEC TR 18047-3:2011 defines test methods for determining the conformance of radio frequency identification devices (tags and interrogators) for item management with the specifications given in ISO/IEC 18000-3, but does not apply to the testing of conformity with regulatory or similar requirements. The test methods require only that the mandatory functions, and any optional functions which are implemented, be verified. This can, in appropriate circumstances, be supplemented by further, application-specific functionality criteria that are not available in the general case. ISO/IEC TR 18047-3:2011 includes the following interrogator and tag conformance parameters: mode-specific conformance parameters including nominal values and tolerances; parameters that apply directly affecting system functionality and inter-operability. ISO/IEC TR 18047-3:2011 does not include the following: parameters that are already included in regulatory test requirements; high-level data encoding conformance test parameters (these are specified in ISO/IEC 15962).

Technologies de l'information β€” MΓ©thodes d'essai de conformitΓ© du dispositif d'identification de radiofrΓ©quence β€” Partie 3: MΓ©thodes d'essai pour des communications d'une interface d'air Γ  13,56 MHz

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
29-May-2011
Current Stage
9599 - Withdrawal of International Standard
Start Date
04-Mar-2022
Completion Date
30-Oct-2025
Ref Project

Relations

Technical report
ISO/IEC TR 18047-3:2011 - Information technology -- Radio frequency identification device conformance test methods
English language
41 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview
Technical report
ISO/IEC TR 18047-3:2011
Russian language
50 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Frequently Asked Questions

ISO/IEC TR 18047-3:2011 is a technical report published by the International Organization for Standardization (ISO). Its full title is "Information technology - Radio frequency identification device conformance test methods - Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz". This standard covers: ISO/IEC TR 18047-3:2011 defines test methods for determining the conformance of radio frequency identification devices (tags and interrogators) for item management with the specifications given in ISO/IEC 18000-3, but does not apply to the testing of conformity with regulatory or similar requirements. The test methods require only that the mandatory functions, and any optional functions which are implemented, be verified. This can, in appropriate circumstances, be supplemented by further, application-specific functionality criteria that are not available in the general case. ISO/IEC TR 18047-3:2011 includes the following interrogator and tag conformance parameters: mode-specific conformance parameters including nominal values and tolerances; parameters that apply directly affecting system functionality and inter-operability. ISO/IEC TR 18047-3:2011 does not include the following: parameters that are already included in regulatory test requirements; high-level data encoding conformance test parameters (these are specified in ISO/IEC 15962).

ISO/IEC TR 18047-3:2011 defines test methods for determining the conformance of radio frequency identification devices (tags and interrogators) for item management with the specifications given in ISO/IEC 18000-3, but does not apply to the testing of conformity with regulatory or similar requirements. The test methods require only that the mandatory functions, and any optional functions which are implemented, be verified. This can, in appropriate circumstances, be supplemented by further, application-specific functionality criteria that are not available in the general case. ISO/IEC TR 18047-3:2011 includes the following interrogator and tag conformance parameters: mode-specific conformance parameters including nominal values and tolerances; parameters that apply directly affecting system functionality and inter-operability. ISO/IEC TR 18047-3:2011 does not include the following: parameters that are already included in regulatory test requirements; high-level data encoding conformance test parameters (these are specified in ISO/IEC 15962).

ISO/IEC TR 18047-3:2011 is classified under the following ICS (International Classification for Standards) categories: 35.040 - Information coding; 35.040.50 - Automatic identification and data capture techniques. The ICS classification helps identify the subject area and facilitates finding related standards.

ISO/IEC TR 18047-3:2011 has the following relationships with other standards: It is inter standard links to ISO/IEC 18047-3:2022, ISO/IEC TR 18047-3:2004. Understanding these relationships helps ensure you are using the most current and applicable version of the standard.

You can purchase ISO/IEC TR 18047-3:2011 directly from iTeh Standards. The document is available in PDF format and is delivered instantly after payment. Add the standard to your cart and complete the secure checkout process. iTeh Standards is an authorized distributor of ISO standards.

Standards Content (Sample)


TECHNICAL ISO/IEC
REPORT TR
18047-3
Second edition
2011-06-01
Information technology β€” Radio
frequency identification device
conformance test methods β€”
Part 3:
Test methods for air interface
communications at 13,56 MHz
Technologies de l'information β€” MΓ©thodes d'essai de conformitΓ© du
dispositif d'identification de radiofrΓ©quence β€”
Partie 3: MΓ©thodes d'essai pour des communications d'une interface
d'air Γ  13,56 MHz
Reference number
Β©
ISO/IEC 2011
Β©  ISO/IEC 2011
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either ISO at the address below or
ISO's member body in the country of the requester.
ISO copyright office
Case postale 56 β€’ CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Published in Switzerland
ii Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

Contents Page
Foreword .iv
Introduction.v
1 Scope.1
2 Normative references.1
3 Terms and definitions .2
4 Symbols and abbreviated terms .2
5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 β€” 13,56 MHz .3
5.1 General .3
5.2 Default conditions applicable to the test methods .3
5.2.1 Test environment.3
5.2.2 Pre-conditioning .3
5.2.3 Default tolerance .3
5.2.4 Spurious inductance .3
5.2.5 Total measurement uncertainty .3
5.3 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 1 .3
5.3.1 General .3
5.3.2 Test apparatus and test circuits .3
5.3.3 Functional test – tag.7
5.3.4 Functional test β€” interrogator.8
5.4 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 2 .10
5.4.1 General .10
5.4.2 Test apparatus and test circuits .10
5.4.3 Functional test – tag.11
5.4.4 Functional test – interrogator.12
5.5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 3 (mandatory ASK part).13
5.5.1 General .13
5.5.2 Test apparatus and test circuits .13
5.5.3 Functional test – tag.17
5.5.4 Functional test β€” interrogator.18
Annex A (normative) Test setup parameters and dimensions for tags smaller than or equal to an
ISO/IEC 7810 ID-1 outline.20
Annex B (normative) Guideline for RFID tags larger than ISO/IEC 7810 ID-1 size.23
Annex C (normative) Test interrogator antenna.27
Annex D (informative) Test interrogator antenna tuning .30
Annex E (normative) Sense coil .32
Annex F (normative) Reference tag for interrogator power test.34
Annex G (informative) Reference tag for load modulation test.36
Annex H (informative) Program for evaluation of the spectrum .37
Bibliography.41

Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved iii

Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) and IEC (the International Electrotechnical
Commission) form the specialized system for worldwide standardization. National bodies that are members of
ISO or IEC participate in the development of International Standards through technical committees
established by the respective organization to deal with particular fields of technical activity. ISO and IEC
technical committees collaborate in fields of mutual interest. Other international organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO and IEC, also take part in the work. In the field of information
technology, ISO and IEC have established a joint technical committee, ISO/IEC JTC 1.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2.
In exceptional circumstances, when the joint technical committee has collected data of a different kind from
that which is normally published as an International Standard (β€œstate of the art”, for example), it may decide to
publish a Technical Report. A Technical Report is entirely informative in nature and shall be reviewed every
five years in the same manner as an International Standard.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent
rights. ISO and IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
ISO/IEC TR 18047-3, was prepared by Joint Technical Committee ISO/IEC JTC 1, Information technology,
Subcommittee SC 31, Automatic identification and data capture techniques.
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO/IEC TR 18047-3:2004), which has been
technically revised. It also incorporates the Technical Corrigendum ISO/IEC TR 18047-3:2004/Cor.1:2007.
ISO/IEC TR 18047 consists of the following parts, under the general title Information technology β€” Radio
frequency identification device conformance test methods:
⎯ Part 2: Test methods for air interface communications below 135 kHz
⎯ Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz
⎯ Part 4: Test methods for air interface communications at 2,45 GHz
⎯ Part 6: Test methods for air interface communications at 860 MHz to 960 MHz
⎯ Part 7: Test methods for active air interface communications at 433 MHz
iv Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

Introduction
ISO/IEC 18000 defines the air interfaces for radio frequency identification (RFID) devices used in item
management applications. ISO/IEC 18000-3 defines the air interface for these devices operating in the
13,56 MHz Industrial, Scientific, and Medical (ISM) band and used in these applications.
The purpose of ISO/IEC TR 18047 is to provide test methods for conformance with the various parts of
ISO/IEC 18000.
Each part of ISO/IEC TR 18047 contains all measurements required to be made on a product in order to
establish whether it conforms to the corresponding part of ISO/IEC 18000. For ISO/IEC TR 18047-3, each
product needs to be assessed following either the procedure defined for Mode 1, for Mode 2 or for Mode 3.

Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved v

TECHNICAL REPORT ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)

Information technology β€” Radio frequency identification device
conformance test methods β€”
Part 3:
Test methods for air interface communications at 13,56 MHz
1 Scope
This part of ISO/IEC TR 18047 defines test methods for determining the conformance of radio frequency
identification devices (tags and interrogators) for item management with the specifications given in
ISO/IEC 18000-3, but does not apply to the testing of conformity with regulatory or similar requirements.
The test methods require only that the mandatory functions, and any optional functions which are
implemented, be verified. This can, in appropriate circumstances, be supplemented by further, application-
specific functionality criteria that are not available in the general case.
This part of ISO/IEC TR 18047 includes the following interrogator and tag conformance parameters:
⎯ mode-specific conformance parameters including nominal values and tolerances;
⎯ parameters that apply directly affecting system functionality and inter-operability.
This part of ISO/IEC TR 18047 does not include the following:
⎯ parameters that are already included in regulatory test requirements;
⎯ high-level data encoding conformance test parameters (these are specified in ISO/IEC 15962).
Clause 5 describes all necessary conformance tests, while 5.3 applies to Mode 1 products only, 5.4 applies to
Mode 2 products only and 5.5 applies to Mode 3 (mandatory ASK part) only.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For dated
references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced
document (including any amendments) applies.
ISO/IEC 7810, Identification cards β€” Physical characteristics
ISO/IEC 18000-1, Information technology β€” Radio frequency identification for item management β€” Part 1:
Reference architecture and definition of parameters to be standardized
ISO/IEC 18000-3, Information technology β€” Radio frequency identification for item management β€” Part 3:

Parameters for air interface communications at 13,56 MHz
ISO/IEC 19762 (all parts), Information technology β€” Automatic identification and data capture (AIDC)
techniques β€” Harmonized vocabulary
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 1

3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO/IEC 19762 (all parts) apply.
4 Symbols and abbreviated terms
ar reference tag width
asp air spacing
br reference tag height
ca calibration coil width
cb calibration coil height
co calibration coil corner radius
dis distance between test interrogator antenna and sense coils
DUT device under test
fc frequency of the operating field
fs frequency of sub-carrier
H maximum field strength of the interrogator antenna field
max
H minimum field strength of the interrogator antenna field
min
lx length of test interrogator assembly connection cable
lya test interrogator and sense coil PCB width
lyb test interrogator and sense coil PCB height
lyd test interrogator coil diameter
lyw test interrogator coil track width
nr number of turns of reference tag
oa calibration coil outline width
ob calibration coil outline height
PCB printed circuit board
rs sense coil corner radius
sa sense coil width
sb sense coil height
sr reference tag track spacing
wr reference tag track width
2 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 β€” 13,56 MHz
5.1 General
This part of ISO/IEC TR 18047 specifies a series of tests to determine the conformance of interrogators and
tags. The results of these tests shall be compared with the values of the parameters specified in
ISO/IEC 18000-3 to determine whether the interrogator-under-test or tag-under-test conforms.
Unless otherwise specified, the tests in this part of ISO/IEC TR 18047 shall be applied exclusively to RFID
tags and interrogators defined in ISO/IEC 18000-3 Mode 1, Mode 2 and Mode 3.
5.2 Default conditions applicable to the test methods
5.2.1 Test environment
Unless otherwise specified, testing shall take place in an environment of temperature 23 Β°C +/- 3 Β°C
(73 Β°F +/- 5 Β°F) and of relative humidity 40 % to 60 %.
5.2.2 Pre-conditioning
Where pre-conditioning is required by the test method, the identification tags to be tested shall be conditioned
to the test environment for a period of 24 h before testing.
5.2.3 Default tolerance
Unless otherwise specified, a default tolerance of +/- 5 % shall be applied to the quantity values given to
specify the characteristics of the test equipment (e.g. linear dimensions) and the test method procedures (e.g.
test equipment adjustments).
5.2.4 Spurious inductance
Resistors and capacitors should have negligible inductance.
5.2.5 Total measurement uncertainty
The total measurement uncertainty for each quantity determined by these test methods shall be stated in the
test report.
NOTE Basic information is given in ISO/IEC Guide 98-3:2008.
5.3 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 1
5.3.1 General
The conformance tests for ISO/IEC 18000-3 mode 1 are described independent of the tag size. For tests of
tags smaller or equal to ID-1 (as defined in ISO/IEC 7810) all dimensions are specified in Annex A, while
Annex B applies to larger tags.
5.3.2 Test apparatus and test circuits
This clause defines the test apparatus and test circuits for verifying the operation of a tag or an interrogator
according to the base standard, ISO/IEC 18000-3. The test apparatus includes:
β€’ Calibration coil (see 5.3.2.1)
β€’ Test interrogator assembly (see 5.3.2.2)
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 3

β€’ Reference tag (see 5.3.2.4)
β€’ Digital sampling oscilloscope (see 5.3.2.5).
These are described in the following clauses.
5.3.2.1 Calibration coil
This clause defines the size, thickness and characteristics of the calibration coil PCB.
5.3.2.1.1 Size of the Calibration coil
The calibration coil PCB consists of an area, which has the height and width defined in Figure 1 β€” Example
calibration coil containing a single turn coil concentric with the tag outline.
Outline oa x ob
connections
Coil ca x cb
1 turn
Figure 1 β€” Example calibration coil
5.3.2.1.2 Thickness and material of the calibration coil substrate
The thickness of the calibration coil PCB shall be 0,76 mm +/- 10 %. It shall be constructed of a suitable
insulating material such as FR4 or equivalent.
5.3.2.1.3 Coil characteristics
The coil on the calibration coil PCB shall have one turn. The outer size of the coil shall be as defined in
Figure 1 β€” Example calibration coil with a corner radius co.
The coil is made as a printed coil on PCB plated with 35 Β΅m copper. Track width shall be 500 Β΅m +/- 20 %.
The size of the connection pads shall be 1,5 mm Γ— 1,5 mm.
A high impedance oscilloscope probe (e.g. >1 MΩ, <14 pF) shall be used to measure the open circuit voltage
in the coil. The resonant frequency of the whole set (calibration coil, connecting leads and probe) shall be
above 60 MHz.
5.3.2.2 Test interrogator assembly
The test interrogator assembly for load modulation consists of an interrogator antenna and two parallel sense
coils: sense coil A and sense coil B. The test set-up is shown in Figure 2 β€” Example test set-up. The sense
coils are connected such that the signal from one coil is in opposite phase to the other. The 50 Ω
potentiometer P1 serves to fine adjust the balance point when the sense coils are not loaded by a tag or any
magnetically coupled circuit. The capacitive load of the probe including its parasitic capacitance shall be less
than 14 pF.
IMPORTANT The capacitance of the connections and oscilloscope probe should be kept to a minimum for reproducibility.
4 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

+ +
sense coil B
220 Ohm
- -
P1
identical length
twisted pairs of less
50 Ohm
than lx mm
220 Ohm
Interrogator
probe
antenna
+ +
sense coil A
- -
to
oscilloscope
NOTE The values for the parameters are listed in Table A.2 β€” Definition of test interrogator for ID-1 or smaller.
Figure 2 β€” Example test set-up
5.3.2.2.1 Test interrogator antenna
The test interrogator antenna shall have a diameter and a construction conforming to the drawings in Annex C.
The tuning of the antenna may be accomplished with the procedure given in Annex D.
5.3.2.2.2 Sense coils
The size and the sense coil construction shall conform to the drawings in Annex E.
5.3.2.3 Assembly of test interrogator
The sense coils and test interrogator antenna shall be assembled parallel to each other. The sense and
antenna coils shall be coaxial and the distance between the active conductors shall be as defined in
Figure 3 β€” Test interrogator assembly. The distance between the coil in the DUT and the coil of the test
interrogator antenna shall be equal to the distance between the calibration coil and the coil of the test
interrogator antenna.
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 5

dis  dis
active
conductors
DUT
asp air
calibration coil
spacing
sense coil b
Interrogator
sense coil a
antenna
NOTE 1 The asp air spacing avoids parasitic effects such as detuning by closer spacing or ambiguous results due to
noise and other environmental effects.
NOTE 2 The values for the parameters are listed in Table A.2 β€” Definition of test interrogator for ID-1 or smaller.
Figure 3 β€” Test interrogator assembly
5.3.2.4 Reference tags
Reference tags are defined
⎯ to test H and H produced by an interrogator (under conditions of loading by a tag) and thus to
min max
test the ability of an interrogator to power a tag
⎯ to generate the minimum tag reply load modulation signal.
5.3.2.4.1 Reference tag for interrogator power
The schematic for the power test is shown in Annex F. Power dissipation can be set by the resistor R1 or R2,
in order to measure H and H respectively as defined in clause 5.3.4.1.2. The resonant frequency can be
min max
adjusted with C2.
5.3.2.4.2 Reference tag for load modulation reception test
A suggested schematic for the load modulation reception test is shown in Annex G. The load modulation can
be chosen to be resistive or reactive.
This reference tag is calibrated by using the test interrogator assembly as follows:
The reference tag is placed in the position of the DUT. The load modulation signal amplitude is measured as
described in clause 5.3.3. This amplitude should correspond to the minimum amplitude at all values of field
strength required by the base standard, ISO/IEC 18000-3.
5.3.2.4.3 Dimensions of the reference tags
The reference tag which is used for the measurements has to be described in the measurement report.
Figure 4 β€” Example of an ISO card sized reference tag shows as an example an ISO card sized reference
tag which consists of an area containing a coil which has the same height and width as those defined in
ISO/IEC 7810 for ID-1 type.
6 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

An area external to this, containing the circuitry that emulates the required tag functions, is appended so as to
allow insertion into the test set-ups described below and so as to cause no interference to the tests.

Example outline ISO/
Coil
Circuitry
IEC 7810 ID-1 type
172 mm
Figure 4 β€” Example of an ISO card sized reference tag
5.3.2.4.4 Thickness of the reference tag board
The thickness of the reference tag active area shall be 0,76 mm +/- 10 %.
5.3.2.4.5 Coil characteristics
The coil in the active area of the reference tag shall have nr turns and shall be concentric with the area
outline.
The outer size of the coils shall be ar x br.
The coil is printed on PCB plated with 35 Β΅m copper.
Track width shall be wr and spacing shall be sr.
NOTE The values for the parameters are listed in Table A.3.
5.3.2.5 Digital sampling oscilloscope
The digital sampling oscilloscope shall be capable of sampling at a rate of at least 100 million samples per
second with a resolution of at least 8 bits at optimum scaling. The oscilloscope should have the capability to
output the sampled data as a text file to facilitate mathematical and other operations such as windowing on
the sampled data using external software programs. An example of the program is shown in Annex H.
5.3.3 Functional test – tag
5.3.3.1 Purpose
The purpose of this test is to determine the amplitude of the tag load modulation signal within the operating
field range [H , H ] as specified in the base standard, ISO/IEC 18000-3 and the functionality of the tag with
min max
the modulation under emitted fields as defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for tag to interrogator link
(reference M1-Tag:7).
5.3.3.2 Test procedure
Step 1: The load modulation test circuit of Figure 2 β€” Example test set-up and the test interrogator assembly
of Figure 3 β€” Test interrogator assembly are used.
The RF power delivered by the signal generator to the test interrogator antenna shall be adjusted to produce
the required field strength (H and H ) and modulation waveforms defined in ISO/IEC 18000-3 as
min max
measured by the calibration coil without any tag. The output of the load modulation test circuit of Figure 2 β€”
Example test set-up is connected to a digital sampling oscilloscope. The 50 Ω potentiometer P1 shall be
trimmed to minimize the residual carrier. This signal shall be at least 40 dB lower than the signal obtained by
shorting one sense coil.
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 7

Step 2: The tag under test shall be placed in the DUT position, concentric with sense coil A. The RF drive into
the test interrogator antenna shall be re-adjusted to the required field strength.
IMPORTANT Care should be taken to apply a proper synchronization method for low amplitude load modulation.
Exactly two sub-carrier cycles of the sampled modulation waveform shall be Fourier transformed. A discrete
Fourier transformation with a scaling such that a pure sinusoidal signal results in its peak magnitude shall be
used. To minimize transient effects, a sub-carrier cycle immediately following a non-modulating period must
be avoided. In case of two sub-carrier frequencies this procedure shall be repeated for the second sub-carrier
frequency.
The resulting amplitudes of the upper sideband(s) at fc + fs1 (and fc + fs2 if both are present) and the lower
sideband(s) at fc - fs1 (and fc - fs2, if present) respectively shall be above the value defined in the base
standard, ISO/IEC 18000-3.
An appropriate command sequence as defined in the base standard, ISO/IEC 18000-3 shall be sent by the
test interrogator to obtain a signal or load modulation response from the tag.
5.3.3.3 Test report
The test report shall give the measured amplitudes of the upper sideband(s) at fc + fs1 (and fc + fs2, if
present) and the lower sideband(s) at fc - fs1 (and fc - fs2, if present) and the applied fields and modulations.
The pass/fail condition is determined by the values defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for tag to
interrogator link (reference M1-Tag:7).
5.3.4 Functional test β€” interrogator
5.3.4.1 Interrogator field strength and power transfer
5.3.4.1.1 Purpose
This test measures the field strength produced by an interrogator with its specified antenna in its operating
volume as defined in accordance with the base standard, ISO/IEC 18000-3. The test procedure of clause
5.3.4.1.2 is also used to determine that the interrogator with its specified antenna generates a field not higher
than the value specified in ISO/IEC 18000-3 parameter table for interrogator to tag link (reference M1-Int:3 for
H and reference M1-Int:3a for H ).
max min
This test uses a reference tag as defined in Annex F to determine that a specific interrogator to be tested is
able to supply a certain power to a tag placed anywhere within the defined operating volume.
5.3.4.1.2 Test procedure
Procedure for H test:
max
1) Tune the reference tag to 13,56 MHz.
NOTE The resonant frequency of the reference tag is measured by using an impedance analyzer or a
LCR-meter connected to a calibration coil. The coil of the reference tag should be placed at a distance of 10 mm
from the calibration coil, with the axes of the two coils being congruent. The resonant frequency is that
frequency at which the resistive part of the measured complex impedance is at maximum.
2) Set Jumper J1 to position b to activate R2.
3) Sweep the reference tag coaxially with the antenna through the defined operating volume of the
interrogator under test at a maximum rate of 1 cm/s.
4) The DC voltage (V ) across resistor R3 (Annex F) is measured with a high impedance voltmeter
DC
and shall not exceed 3 V where the load resistor parallel to the coil L is set to R2 and the field

strength equals H .
max
8 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

Procedure for H test:
min
1) Tune the reference tag to 13,56 MHz.
2) Set Jumper J1 to position a to activate R1.
3) Sweep the reference tag coaxially with the antenna through the defined operating volume of the
interrogator under test at a maximum rate of 1 cm/s.
4) The DC voltage (V ) across resistor R3 is measured with a high impedance voltmeter and shall
DC
exceed 3 V where the load resistor parallel to the coil L is set to R1 and the field strength equals H .
min
5.3.4.1.3 Test report
The test report shall give the measured values for V at H and H under the defined conditions. The
DC min max
pass/fail condition is determined by the values defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for interrogator to
tag link (reference M1-Int:3 for H and reference M1-Int:3a for H ).
max min
5.3.4.2 Modulation index and waveform
5.3.4.2.1 Purpose
This test is used to determine the index of modulation of the interrogator field as well as the rise and fall times
and the overshoot values as defined in ISO/IEC 18000-3 M1-Int:7d parameter table for interrogator to tag link
(reference M1-Int:7, reference M1-Int:7d, figure M1-1 and figure M1-2) within the defined operating volume.
5.3.4.2.2 Test procedure
The calibration coil is positioned anywhere within the defined operating volume, and the modulation index and
waveform characteristics are determined from the induced voltage on the coil displayed on a suitable
oscilloscope.
5.3.4.2.3 Test report
The test report shall give the measured modulation index of the interrogator field, the rise and fall times and
the overshoot values within the defined operating volume. The pass/fail condition is determined by the values
defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for interrogator to tag link (reference M1-Int:7, reference
M1-Int:7d, figure M1-1 and figure M1-2).
5.3.4.3 Load modulation reception (informative only)
This is an indirect test of the ability of the interrogator to receive a minimum signal from the tag. This test
verifies that an interrogator correctly detects the load modulation of a tag that conforms to the base standard,
ISO/IEC 18000-3. It is supposed that the interrogator has means to indicate correct reception of the
sub-carrier(s) produced by a test tag.
Annex G shows a circuit which can be used in conjunction with the test apparatus to determine the sensitivity
of an interrogator to load modulation within the defined operating volume.
The pass/fail condition is determined by the values defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for tag to
interrogator link (reference M1-Tag:7). Failure under this criterion shall not be interpreted as failure of
conformance for an otherwise conforming interrogator.
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 9

5.4 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 2
5.4.1 General
The conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 2 are described independent of the tag size. For tests of tags
smaller than or equal to ID-1 all dimensions are specified in Annex A, while Annex B applies for all other cases.
The manufacturer shall specify the tag H and H and the minimum tag reply load modulation at H and
max min max
H .
min
The tag reply load modulation is measured as described in 5.4.3.2.
5.4.2 Test apparatus and test circuits
This clause defines the test apparatus and test circuits for verifying the operation of a tag or an interrogator
according to the base standard, ISO/IEC 18000-3. The test apparatus includes:
β€” Calibration coil
β€” Test interrogator assembly
β€” Reference tags
These are described in the following clauses.
5.4.2.1 Calibration coil
See 5.3.2.1.
5.4.2.2 Test interrogator assembly
See 5.3.2.2.
For ISO/IEC 18000-3 Mode 2 a resistance of 85 Ω shall be connected across the output of the test
interrogator measurement circuit in Figure 2 (between P1 and ground).
5.4.2.2.1 Test interrogator antenna
See 5.3.2.2.1.
For ISO/IEC 18000-3 Mode 2 the impedance matching network in Figure C.3 β€” Impedance matching network
shall be altered to be a tuning network. The components for the tuning network shall be:
β€” C1 selected and adjusted such that the test interrogator antenna is series resonant at 13,56 MHz.
β€” C2 to C4 omitted (open circuit)
β€” R zero (closed circuit)
ext
For ISO/IEC 18000-3 Mode 2 the power driver, tuning network and test interrogator antenna shall provide the
manufacturer specified field strengths (H and H ) and modulation as specified in the base standard,
max min
ISO/IEC 18000-3.
For ISO/IEC 18000-3 Mode 2 the power driver output impedance is not constrained to 50 Ω and is not
required to provide an adjustable range of modulation index for amplitude modulation.
IMPORTANT In order to avoid adverse effects on the measurement results due to reflection, the connection between the
power driver and the test interrogator antenna should be kept as short as possible.
10 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

5.4.2.2.2 Sense coils
See 5.3.2.2.2.
5.4.2.3 Assembly of test interrogator
See 5.3.2.3.
5.4.2.4 Reference tags
Reference tags are defined:
⎯ to test H and H produced by an interrogator (under conditions of loading by a tag) and thus to
min max
test the ability of an interrogator to power a tag
⎯ to generate the minimum tag reply load modulation signal.
5.4.2.4.1 Reference tag for interrogator power
See 5.3.2.4.1.
This reference tag shall be calibrated in accordance with Annex B clause B.8.
5.4.2.4.2 Reference tag for load modulation reception test
See 5.3.2.4.2
For ISO/IEC 18000-3 Mode 2 the load modulation shall be resistive only.
For ISO/IEC 18000-3 Mode 2 the load switching signal shall be as per the base standard, ISO/IEC 18000-3.
This reference tag is calibrated using the procedure described in clause 5.4.3.2. Adjusting or modifying the
value of Rmod1 and Rmod2 (see Annex G) sets the tag reply load modulation amplitude.
5.4.2.4.3 Dimensions of the reference tags
See 5.3.2.4.3.
5.4.3 Functional test – tag
5.4.3.1 Purpose
The purpose of this test is to determine the amplitude of the tag reply load modulation signal within the
specified operating field strength range [H , H ] and functionality of the tag with modulation under emitted
min max
fields as defined in the base standard, ISO/IEC 18000-3.
5.4.3.2 Test procedure
This test uses the test interrogator assembly (see 5.4.2.2).
The RF power delivered by the signal generator to the test interrogator antenna shall be adjusted to the
required field strength and modulation waveforms (see 5.4.4.2) as measured by the calibration coil without
any tag. The output of the load modulation test circuit of Figure 2 is connected to a digital sampling
oscilloscope. The 50 Ω potentiometer P1 shall be trimmed to minimise the residual carrier. This signal shall be
at least 40 dB lower than the signal obtained by shorting one sense coil.
The tag under test shall be placed in the DUT position, concentric with sense coil A. The RF drive into the test
interrogator antenna shall be re-adjusted to the required field strength. The output of the load modulation test
circuit shall then be connected via a coax cable to a 50 Ω input spectrum analyser.
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 11

An appropriate command sequence as defined in the base standard, ISO/IEC 18000-3 shall be sent by the
interrogator to obtain a load modulation response from the tag. (When calibrating the reference tag (see
5.4.2.4.2) the load modulation is provided by applying the load switching signal.)
The resulting sidebands at the spectrum analyser shall be greater than or equal to the value for tag reply load
modulation as specified by the manufacturer.
IMPORTANT The sensitivity of the test set up is affected by the settings of the spectrum analyzer and care must be
taken to set the spectrum analyzer to maintain consistent test results.
5.4.3.3 Test report
The test report shall give the measured amplitudes of the sidebands and the applied fields and modulations
for all sub-carriers.
5.4.4 Functional test – interrogator
5.4.4.1 Interrogator field strength and power transfer
5.4.4.1.1 Purpose
This test measures that the field strength produced by an interrogator with its specified antenna in its
operating volume is no greater than a specified maximum value and no less than a specified minimum value,
and therefore determines that the interrogator will correctly power a tag within the operating volume.
This test uses a reference tag (see 5.4.2.4.1).
5.4.4.1.2 Test procedure
See 5.3.4.1.3.
5.4.4.1.3 Test report
The test report shall give the measured values for V at H and H under the defined conditions.
DC min max
5.4.4.2 Modulation phase shift waveform
5.4.4.2.1 Purpose
This test is used to determine the phase shift waveform characteristics of the interrogator field as defined in
the base standard, ISO/IEC 18000-3 within the defined operating volume.
5.4.4.2.2 Test procedure
The calibration coil (see 5.4.2.1) is positioned anywhere within the defined operating volume.
An unmodulated 13,56 MHz reference signal (synchronous with the 13,56 MHz interrogator clock) and the
calibration coil output are both connected to a phase discriminator. The interrogator shall have means to
provide such reference signal. The phase shift waveform characteristics are displayed on a suitable
oscilloscope via the discriminator output.
5.4.4.2.3 Test report
The test report shall give the measured phase shift times.
12 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

5.4.4.3 Load modulation reception (informative only)
This is an indirect test of the ability of the interrogator to receive a minimum signal from the tag. This test
verifies that an interrogator correctly detects the reply load modulation of a tag, which conforms to the base
standard. ISO/IEC 18000-3. It is supposed that the interrogator has means to indicate correct reception of the
sub-carrier(s) produced by a test tag.
A reference tag (see 5.4.2.4.2) can be used in conjunction with the test apparatus defined in Annex G, which
shows a circuit that can be used to determine the sensitivity of an interrogator to load modulation within the
defined operating volume.
The pass/fail condition is determined by the values defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for tag to
interrogator link (reference M2-Tag:7). Failure under this criterion shall not be interpreted as failure of
conformance for an otherwise conforming interrogator.
5.5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 3 (mandatory ASK part)
5.5.1 General
The conformance tests for ISO/IEC 18000-3 mode 3 are described independent of the tag size. For tests of
tags smaller or equal to ID-1 (as defined in ISO/IEC 7810) all dimensions are specified in Annex A, while
Annex B applies to larger tags.
5.5.2 Test apparatus and test circuits
This clause defines the test apparatus and test circuits for verifying the operation of a tag or an interrogator
according to the base standard, ISO/IEC 18000-3. The test apparatus includes:
⎯ Calibration coil (see 5.5.2.1)
⎯ Test interrogator assembly (see 5.5.2.2)
⎯ Reference tag (see 5.5.2.4)
⎯ Digital sampling oscilloscope (see 5.5.2.5).
These are described in the following clauses.
5.5.2.1 Calibration coil
This clause defines the size, thickness and characteristics of the calibration coil PCB.
5.5.2.1.1 Size of the Calibration coil
The calibration coil PCB consists of an area, which has the height and width defined in Figure 5 containing a
single turn coil concentric with the tag outline.
Outline
oa x ob
connections
Coil ca x cb
1 turn
Figure 5 β€” Example calibration coil
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 13

5.5.2.1.2 Thickness and material of the calibration coil substrate
The thickness of the calibration coil PCB shall be 0,76 mm +/- 10 %. It shall be constructed of a suitable
insulating material such as FR4 or equivalent.
5.5.2.1.3 Coil characteristics
The coil on the calibration coil PCB shall have one turn. The outer size of the coil shall be as defined in
Figure 5 with a corner radius co.
The coil is made as a printed coil on PCB plated with 35 Β΅m copper. Track width shall be 500 Β΅m +/- 20 %.
The size of the connection pads shall be 1,5 mm Γ— 1,5 mm.
A high impedance oscilloscope probe (e.g. >1 MΩ, <14 pF) shall be used to measure the open circuit voltage
in the coil. The resonant frequency of the whole set (calibration coil, connecting leads and probe) shall be
above 60 MHz.
5.5.2.2 Test interrogator assembly
The test interrogator assembly for load modulation consists of an interrogator antenna and two parallel sense
coils: sense coil A and sense coil B. The test set-up is shown in Figure 6. The sense coils are connected such
that the signal from one coil is in opposite phase to the other. The 50 Ω potentiometer P1 serves to fine adjust
the balance point when the sense coils are not loaded by a tag or any magnetically coupled circuit. The
capacitive load of the probe including its parasitic capacitance shall be less than 14pF.
IMPORTANT The capacitance of the connections and oscilloscope probe should be kept to a minimum for reproducibility.
+ +
sense coil B
220 Ohm
- -
P1
identical length
twisted pairs of less
50 Ohm
than lx mm
220 Ohm
Interrogator
probe
antenna
+ +
sense coil A
- -
to
oscilloscope
Figure 6 β€” Example test set-up
5.5.2.2.1 Test interrogator antenna
The test interrogator antenna shall have a diameter and a construction conforming with the drawings in
Annex C. The tuning of the antenna may be accomplished with the procedure given in Annex D.
14 Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved

5.5.2.2.2 Sense coils
The size and the sense coil construction shall conform with the drawings in Annex E.
5.5.2.3 Assembly of test interrogator
The sense coils and test interrogator antenna shall be assembled parallel to each other. The sense and
antenna coils shall be coaxial and the distance between the active conductors shall be as defined in
Figure 7 β€” Test interrogator assembly. The distance between the coil in the DUT and the coil of the test
interrogator antenna shall be equal to the distance between the calibration coil and the coil of the test
interrogator antenna.
dis  dis
active
conductors
DUT
asp air
calibration coil
spacing
sense coil b
Interrogator
sense coil a
antenna
NOTE 1 The asp air spacing avoids parasitic effects such as detuning by closer spacing or ambiguous results due to
noise and other environmental effects.
NOTE 2 The values for the parameters are listed in Table A.2 β€” Definition of test interrogator for ID-1 or smaller.
Figure 7 β€” Test interrogator assembly
5.5.2.4 Reference tags
Reference tags are defined
⎯ to test H and H produced by an interrogator (under conditions of loading by a tag) and thus to
min max
test the ability of an interrogator to power a tag
⎯ to generate the minimum tag reply load modulation signal.
5.5.2.4.1 Reference tag for interrogator power
The schematic for the power test is shown in Annex F. Power dissipation can be set by the resistor R1 or R2,
in order to measure H and H respectively as defined in clause 5.5.4.1.2. The resonant frequency can be
min max
adjusted with C2.
Β© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 15

5.5.2.4.2 Reference tag for load modulation reception test
A suggested schematic for the load modulation reception test is shown in Annex G. The load modulation can
be chosen to be resistive or reactive.
This reference tag is calibrated by using the test interrogator assembly as follows:
The reference tag is placed in the position of the DUT. The load modulation signal amplitude is measured as
described in clause 5.5.3. This amplitude should correspond to the minimum amplitude given below for all field
strength values between H and H .
min max
The load modulation shall be at least 10mV for ISO card sized tags (ID1), for other label form factors the label
manufacturer shall specify the minimum load modulation.
5.5.2.4.3 Dimensions of the reference tags
The reference tag which is used for the measurements has to be described in the measurement report.
Figure 8 shows as an example an ISO card sized reference tag which consists of an area containing a coil
which has the same height and width as those defined in ISO/IEC 7810 for ID-1 type.
An area external to th
...


Π’Π•Π₯ΠΠ˜Π§Π•Π‘ΠšΠ˜Π™ ISO/IEC
ΠžΠ’Π§Π•Π’ TR
18047-3
Π’Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ΅ ΠΈΠ·Π΄Π°Π½ΠΈΠ΅
2011-06-01
Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹
тСстирования соотвСтствия устройств
радиочастотной ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ.
Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 3.
ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования для
радиоинтСрфСйсов связи Π½Π° 13,56 ΠœΠ“Ρ†
Information technology β€” Radio frequency identification device
conformance test methods β€”
Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz

ΠžΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²Π΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ Π·Π° ΠΏΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²ΠΊΡƒ русской вСрсии нСсёт GOST R

(Российская ЀСдСрация) Π² соотвСтствии со ΡΡ‚Π°Ρ‚ΡŒΡ‘ΠΉ 18.1 Устава ISO
Бсылочный Π½ΠΎΠΌΠ΅Ρ€
Β©
ISO/IEC 2011
Π”ΠžΠšΠ£ΠœΠ•ΠΠ’ Π—ΠΠ©Π˜Π©Π•Π ΠΠ’Π’ΠžΠ Π‘ΠšΠ˜Πœ ΠŸΠ ΠΠ’ΠžΠœ

Β©  ISO/IEC 2011
ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ. Если Π½Π΅ ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ ΠΈΠ½ΠΎΠ΅, Π½ΠΈΠΊΠ°ΠΊΡƒΡŽ Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ настоящСй ΠΏΡƒΠ±Π»ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ нСльзя ΠΊΠΎΠΏΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΈΠ»ΠΈ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ Π²
ΠΊΠ°ΠΊΠΎΠΉ-Π»ΠΈΠ±ΠΎ Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ΅ ΠΈΠ»ΠΈ ΠΊΠ°ΠΊΠΈΠΌ-Π»ΠΈΠ±ΠΎ элСктронным ΠΈΠ»ΠΈ мСханичСским способом, Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Ρ Ρ„ΠΎΡ‚ΠΎΠΊΠΎΠΏΠΈΠΈ ΠΈ ΠΌΠΈΠΊΡ€ΠΎΡ„ΠΈΠ»ΡŒΠΌΡ‹, Π±Π΅Π·
письмСнного согласия ISO ΠΈΠ»ΠΈ IDF, ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΏΠΎ адрСсу, ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½ΠΎΠΌΡƒ Π½ΠΈΠΆΠ΅.
ISO copyright office
Case postale 56 β€’ CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
ΠžΠΏΡƒΠ±Π»ΠΈΠΊΠΎΠ²Π°Π½ΠΎ Π² Π¨Π²Π΅ΠΉΡ†Π°Ρ€ΠΈΠΈ
ii Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

Π‘ΠΎΠ΄Π΅Ρ€ΠΆΠ°Π½ΠΈΠ΅ Π‘Ρ‚Ρ€Π°Π½ΠΈΡ†Π°
ΠŸΡ€Π΅Π΄ΠΈΡΠ»ΠΎΠ²ΠΈΠ΅ .iv
Π’Π²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΈΠ΅ .v
1  ΠžΠ±Π»Π°ΡΡ‚ΡŒ примСнСния .1
2  НормативныС ссылки .1
3  Π’Π΅Ρ€ΠΌΠΈΠ½Ρ‹ ΠΈ опрСдСлСния .2
4  Π‘ΠΈΠΌΠ²ΠΎΠ»Ρ‹ ΠΈ сокращСния .2
5  ВСсты Π½Π° соотвСтствиС для ISO/IEC 18000-3 β€” 13,56 ΠœΠ“Ρ†.3
5.1  ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния .3
5.2  ΠΠ°Ρ‡Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ условия (ΠΏΠΎ ΡƒΠΌΠΎΠ»Ρ‡Π°Π½ΠΈΡŽ) ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠ² тСстирования .3
5.2.1  Условия испытаний .3
5.2.2  ΠŸΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²ΠΊΠ° ΠΊ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ .3
5.2.3  ДопустимыС отклонСния.3
5.2.4  ΠŸΠΎΠ±ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ ΠΈΠ½Π΄ΡƒΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ.3
5.2.5  ΠžΠ±Ρ‰Π°Ρ ΠΏΠΎΠ³Ρ€Π΅ΡˆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ измСрСния .3
5.3  ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 1.4
5.3.1  ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния .4
5.3.2  Аппаратура ΠΈ схСмы тСстирования .4
5.3.3  Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°.8
5.3.4  Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ .9
5.4  ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2.10
5.4.1  ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния .10
5.4.2  Аппаратура ΠΈ схСмы тСстирования .11
5.4.3  Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°.12
5.4.4  Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ .13
5.5  ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 3 (ΠΎΠ±ΡΠ·Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ) .14
5.5.1  ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния .14
5.5.2  Аппаратура тСстирования ΠΈ схСма испытаний.14
5.5.3  Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°.18
5.5.4  Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ .20
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ A (Π½ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) ΠŸΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹ испытаний для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ ΠΌΠ΅Π½ΡŒΡˆΠΈΡ… ΠΈΠ»ΠΈ Ρ€Π°Π²Π½Ρ‹Ρ…
ISO/IEC 7810 ID-1.22
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ B (Π½ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) Π£ΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΈΡ для RFID-ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ Π±ΠΎΠ»ΡŒΡˆΠΈΡ… Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ΠΎΠ², Ρ‡Π΅ΠΌ ISO/IEC 7810
ID-1.25
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ C (Π½ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) ΠΠ½Ρ‚Π΅Π½Π½Π° тСстового считыватСля .29
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ D (ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) ΠΠ°ΡΡ‚Ρ€ΠΎΠΉΠΊΠ° Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ тСстового считыватСля .32
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ E (Π½ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°.34
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ F (Π½ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) Π­Ρ‚алонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для тСстирования мощности считыватСля.36
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ G (ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) Π­Ρ‚алонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для тСста Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции.38
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ H (ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅) ΠŸΡ€ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠΌΠ° для ΠΎΡ†Π΅Π½ΠΊΠΈ Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π° (Π½Π° языкС Π‘) .39
Библиография.43

Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ iii

ΠŸΡ€Π΅Π΄ΠΈΡΠ»ΠΎΠ²ΠΈΠ΅
ISO (ΠœΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½Π°Ρ организация ΠΏΠΎ стандартизации) ΠΈ IEC (ΠœΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½Π°Ρ элСктротСхничСская
комиссия) ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΡƒΡŽΡ‚ ΡΠΏΠ΅Ρ†ΠΈΠ°Π»ΠΈΠ·ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½ΡƒΡŽ систСму всСмирной стандартизации. ΠΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ ΠΎΡ€Π³Π°Π½Ρ‹,
ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ ΡΠ²Π»ΡΡŽΡ‚ΡΡ Ρ‡Π»Π΅Π½Π°ΠΌΠΈ ISO ΠΈ IEC, ΠΏΡ€ΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°ΡŽΡ‚ участиС Π² Ρ€Π°Π·Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚ΠΊΠ΅ ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½Ρ‹Ρ… стандартов
Ρ‡Π΅Ρ€Π΅Π· тСхничСскиС ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚Ρ‹, созданныС ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰Π΅ΠΉ ΠΎΡ€Π³Π°Π½ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠ΅ΠΉ для Ρ€Π΅ΡˆΠ΅Π½ΠΈΡ ΠΊΠΎΠ½ΠΊΡ€Π΅Ρ‚Π½Ρ‹Ρ…
Π·Π°Π΄Π°Ρ‡ тСхничСской Π΄Π΅ΡΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ. ВСхничСскиС ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚Ρ‹ ISO ΠΈ IEC ΡΠΎΡ‚Ρ€ΡƒΠ΄Π½ΠΈΡ‡Π°ΡŽΡ‚ Π² областях,
ΠΏΡ€Π΅Π΄ΡΡ‚Π°Π²Π»ΡΡŽΡ‰ΠΈΡ… ΠΎΠ±Ρ‰ΠΈΠΉ интСрСс. Π”Ρ€ΡƒΠ³ΠΈΠ΅ ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½Ρ‹Π΅ ΠΎΡ€Π³Π°Π½ΠΈΠ·Π°Ρ†ΠΈΠΈ, ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΡΡ‚Π²Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ ΠΈ
Π½Π΅ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΡΡ‚Π²Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅, связанныС с ISO ΠΈ IEC, Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ ΠΏΡ€ΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°ΡŽΡ‚ участиС Π² Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Π΅. Π’ области
ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Ρ… Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΉ, ISO ΠΈ IEC ΡƒΡ‡Ρ€Π΅Π΄ΠΈΠ»ΠΈ БовмСстный тСхничСский ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚, ISO/IEC JTC 1.
ΠœΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½Ρ‹Π΅ стандарты Ρ€Π°Π·Ρ€Π°Π±Π°Ρ‚Ρ‹Π²Π°ΡŽΡ‚ΡΡ Π² соотвСтствии с ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΠ»Π°ΠΌΠΈ, ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌΠΈ Π²
Π”ΠΈΡ€Π΅ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π°Ρ… ISO/IEC, Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 2.
Π’ ΠΈΡΠΊΠ»ΡŽΡ‡ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… случаях, ΠΊΠΎΠ³Π΄Π° совмСстный тСхничСский ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚ собрал Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Π΅, ΠΎΡ‚Π»ΠΈΡ‡Π½Ρ‹Π΅ ΠΎΡ‚ Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ,
Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΎΠ±Ρ‹Ρ‡Π½ΠΎ ΠΏΡƒΠ±Π»ΠΈΠΊΡƒΡŽΡ‚ΡΡ Π² качСствС ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ³ΠΎ стандарта ("состояниС искусства", Π½Π°ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€), ΠΎΠ½
ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ ΠΏΡ€ΠΈΠ½ΡΡ‚ΡŒ Ρ€Π΅ΡˆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ ΠΎΠ± ΠΎΠΏΡƒΠ±Π»ΠΈΠΊΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠΈ тСхничСского ΠΎΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚Π°. ВСхничСский ΠΎΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ являСтся
ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½Ρ‹ΠΌ ΠΏΠΎ своСму Ρ…Π°Ρ€Π°ΠΊΡ‚Π΅Ρ€Ρƒ ΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅ΡΠΌΠ°Ρ‚Ρ€ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒΡΡ ΠΊΠ°ΠΆΠ΄Ρ‹Π΅ ΠΏΡΡ‚ΡŒ Π»Π΅Ρ‚ Π² Ρ‚ΠΎΠΌ ΠΆΠ΅ порядкС,
Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΈ ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄ΡƒΠ½Π°Ρ€ΠΎΠ΄Π½Ρ‹ΠΉ стандарт.
Π‘Π»Π΅Π΄ΡƒΠ΅Ρ‚ ΠΎΠ±Ρ€Π°Ρ‚ΠΈΡ‚ΡŒ Π²Π½ΠΈΠΌΠ°Π½ΠΈΠ΅ Π½Π° Ρ‚ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π½Π΅ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ элСмСнты этого Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π° ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΎΠ±ΡŠΠ΅ΠΊΡ‚ΠΎΠΌ
ΠΏΠ°Ρ‚Π΅Π½Ρ‚Π½Ρ‹Ρ… ΠΏΡ€Π°Π². ISO ΠΈ IEC Π½Π΅ нСсСт ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²Π΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ Π·Π° ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΡŽ ΠΊΠ°ΠΊΠΎΠ³ΠΎ-Π»ΠΈΠ±ΠΎ ΠΈΠ»ΠΈ всСх Ρ‚Π°ΠΊΠΈΡ…
ΠΏΠ°Ρ‚Π΅Π½Ρ‚Π½Ρ‹Ρ… ΠΏΡ€Π°Π².
ISO/IEC TR 18047-3 Π±Ρ‹Π» ΠΏΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²Π»Π΅Π½ ΠžΠ±ΡŠΠ΅Π΄ΠΈΠ½Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌ ВСхничСским ΠšΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚ΠΎΠΌ ISO/IEC JTC 1,
Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ, ΠŸΠΎΠ΄ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚ SC 31, АвтоматичСская идСнтификация ΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ сбора
Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ….
Π­Ρ‚ΠΎ Π²Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ΅ ΠΈΠ·Π΄Π°Π½ΠΈΠ΅ отмСняСт ΠΈ замСняСт ΠΏΠ΅Ρ€Π²ΠΎΠ΅ ΠΈΠ·Π΄Π°Π½ΠΈΠ΅ (ISO/IEC TR 18047-3:2004), ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ΅ Π±Ρ‹Π»ΠΎ
тСхничСски пСрСсмотрСно. Оно Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚ Π’Π΅Ρ…Π½ΠΈΡ‡Π΅ΡΠΊΡƒΡŽ ΠΏΠΎΠΏΡ€Π°Π²ΠΊΡƒ ISO/IEC TR 18047-3:2004/Cor.1: 2007.
ISO/IEC TR 18047-3 Π±Ρ‹Π» ΠΏΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²Π»Π΅Π½ ΠžΠ±ΡŠΠ΅Π΄ΠΈΠ½Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌ ВСхничСским ΠšΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚ΠΎΠΌ ISO/IEC JTC 1,
Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ, ΠŸΠΎΠ΄ΠΊΠΎΠΌΠΈΡ‚Π΅Ρ‚ SC 31, АвтоматичСская идСнтификация ΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ сбора
Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ….
⎯ Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 2. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования для радиоинтСрфСйса связи Π½ΠΈΠΆΠ΅ 135 ΠΊΠ“Ρ†
⎯ Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 3. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования для радиоинтСрфСйса связи Π½Π° 13,56 ΠœΠ“Ρ†
⎯ Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 4. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования для радиоинтСрфСйса связи Π½Π° 2,45 Π“Π“Ρ†
⎯ Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 6. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования для радиоинтСрфСйса связи ΠΎΡ‚ 860 ΠœΠ“Ρ† Π΄ΠΎ 960 ΠœΠ“Ρ†
⎯ Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 7. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования для Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ³ΠΎ радиоинтСрфСйса Π½Π° частотС 433 ΠœΠ“Ρ†
iv Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

Π’Π²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΈΠ΅
ISO/IEC 18000 опрСдСляСт радиоинтСрфСйсы для радиочастотной ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ (RFID) устройств,
ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅ΠΌΡ‹Ρ… Π² прилоТСниях управлСния ΠΎΠ±ΡŠΠ΅ΠΊΡ‚Π°ΠΌΠΈ. ISO/IEC 18000-3 опрСдСляСт радиоинтСрфСйсы
для устройств, Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Π°ΡŽΡ‰ΠΈΡ… Π½Π° 13,56 ΠœΠ“Ρ† Π² ΠΏΡ€ΠΎΠΌΡ‹ΡˆΠ»Π΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΠΈ, Π½Π°ΡƒΠΊΠ΅ ΠΈ ΠΌΠ΅Π΄ΠΈΡ†ΠΈΠ½Π΅ (ISM) ΠΈ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ΡΡ Π²
этих прилоТСниях.
ЦСлью ISO/IEC TR 18047 являСтся обСспСчСниС ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠ² тСстирования Π½Π° соотвСтствиС Ρ€Π°Π·Π»ΠΈΡ‡Π½Ρ‹Ρ…
частСй стандарта ISO/IEC 18000.
КаТдая Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ ISO/IEC TR 18047 содСрТит всС измСрСния, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½Π΅Π½Ρ‹ ΠΊ издСлию
для Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΡƒΡΡ‚Π°Π½ΠΎΠ²ΠΈΡ‚ΡŒ, удовлСтворяСт Π»ΠΈ ΠΎΠ½ трСбованиям ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰Π΅ΠΉ части ISO/IEC 18000.
По ISO/IEC TR 18047-3 ΠΊΠ°ΠΆΠ΄ΠΎΠ΅ ΠΈΠ·Π΄Π΅Π»ΠΈΠ΅ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΎΡ†Π΅Π½Π΅Π½ΠΎ Π² соотвСтствии с ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π°ΠΌΠΈ,
ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌΠΈ для Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ° 1, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ° 2 ΠΈΠ»ΠΈ Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ° 3.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ v

Π’Π•Π₯ΠΠ˜Π§Π•Π‘ΠšΠ˜Π™ ΠžΠ’Π§Π•Π’ ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)

Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ. ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования
оборудования Π½Π° соотвСтствиС радиочастотной
ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ.
Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 3.
ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования радиоинтСрфСйса связи Π½Π° 13,56 MΠ“Ρ†
1 ΠžΠ±Π»Π°ΡΡ‚ΡŒ примСнСния
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ ISO/IEC TR 18047 опрСдСляСт ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования (ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ) для опрСдСлСния
соотвСтствия устройств радиочастотной ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ (радиочастотных ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ ΠΈ
ΠΎΠΏΡ€Π°ΡˆΠΈΠ²Π°ΡŽΡ‰ΠΈΡ…/ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°ΡŽΡ‰ΠΈΡ… устройств) для управлСния издСлиями (устройствами) Π² соотвСтствии со
спСцификациями, ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌΠΈ Π² ISO/IEC 18000-3, Π½ΠΎ ΠΎΠ½Π° (эта Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ ISO/IEC TR 18047) Π½Π΅
примСняСтся для ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ соотвСтствия Π½ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½Ρ‹ΠΌ ΠΈΠ»ΠΈ ΠΊΠ°ΠΊΠΈΠΌ-Ρ‚ΠΎ ΠΏΠΎΠ΄ΠΎΠ±Π½Ρ‹ΠΌ трСбованиям.
ΠœΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Ρ‹ тСстирования Ρ‚Ρ€Π΅Π±ΡƒΡŽΡ‚ ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΎΠ±ΡΠ·Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΉ ΠΈ Π½Π΅ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Ρ… Π΄ΠΎΠΏΠΎΠ»Π½ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ…
Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΉ, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ Ρ€Π΅Π°Π»ΠΈΠ·ΠΎΠ²Π°Π½Ρ‹. Π’ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΡ… ΠΎΠ±ΡΡ‚ΠΎΡΡ‚Π΅Π»ΡŒΡΡ‚Π²Π°Ρ…, это ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π΄ΠΎΠΏΠΎΠ»Π½Π΅Π½ΠΎ
ΠΏΠΎΠ·ΠΆΠ΅ спСциализированными Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌΠΈ критСриями, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ Π½Π΅ ΡƒΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°ΡŽΡ‚ΡΡ Π² ΠΎΠ±Ρ‰Π΅ΠΌ случаС.
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ стандарта ISO/IEC TR 18047 Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚ Π² сСбя ΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠ΅ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹ соотвСтствия
считыватСля ΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ:
⎯ спСциализированныС соотвСтствия ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² для Ρ€Π°Π·Π½Ρ‹Ρ… Ρ€Π΅ΠΆΠΈΠΌΠΎΠ², Π² Ρ‚ΠΎΠΌ числС Π½ΠΎΠΌΠΈΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅
значСния ΠΈ отклонСния;
⎯ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ нСпосрСдствСнно Π²Π»ΠΈΡΡŽΡ‚ Π½Π° Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ систСмы ΠΈ взаимодСйствиС
Π²Π½ΡƒΡ‚Ρ€ΠΈ систСмы.
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ стандарта ISO/IEC TR 18047 Π½Π΅ Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚ ΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰Π΅Π΅:
⎯ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ ΡƒΠΆΠ΅ Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½Ρ‹ Π² трСбования ΠΊ тСстам;
⎯ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹ высокоуровнСвого кодирования Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… для тСстов ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ соотвСтствия (ΠΎΠ½ΠΈ
ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Ρ‹ Π² ISO/IEC 15962).
Π Π°Π·Π΄Π΅Π» 5 описываСт всС Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡ‹Π΅ тСсты соотвСтствия, Π² Ρ‚ΠΎ врСмя ΠΊΠ°ΠΊ Ошибка! Π˜ΡΡ‚ΠΎΡ‡Π½ΠΈΠΊ ссылки
Π½Π΅ Π½Π°ΠΉΠ΄Π΅Π½. ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΠΈΠΌ Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΊ Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΡƒ 1, Ошибка! Π˜ΡΡ‚ΠΎΡ‡Π½ΠΈΠΊ ссылки Π½Π΅ Π½Π°ΠΉΠ΄Π΅Π½. относится Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΊ
Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΡƒ 2 ΠΈ 5.5 относятся Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΊ Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΡƒ 3.
2 НормативныС ссылки
Π‘Π»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠ΅ Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚Ρ‹, Π½Π° ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ ΠΌΡ‹ ссылаСмся, ΠΎΠ±ΡΠ·Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹ для примСнСния этого Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π°. Для
Π΄Π°Ρ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚ΠΎΠ² примСняСтся Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ данная рСдакция. Для Π½Π΅Π΄Π°Ρ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚ΠΎΠ²
примСняСтся послСдняя ΠΈΡ… рСдакция (Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Ρ всС измСнСния).
ISO/IEC 7810, Π˜Π΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΊΠ°Ρ€Ρ‚Ρ‹. ЀизичСскиС характСристики
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 1

ISO/IEC 18000-1, Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ. Радиочастотная идСнтификация ΠΎΠ±ΡŠΠ΅ΠΊΡ‚ΠΎΠ². Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 1.
Бсылки для стандартизации Π°Ρ€Ρ…ΠΈΡ‚Π΅ΠΊΡ‚ΡƒΡ€Ρ‹ ΠΈ значСния ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ²
ISO/IEC 18000-3, Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ. Радиочастотная идСнтификация ΠΎΠ±ΡŠΠ΅ΠΊΡ‚ΠΎΠ². Π§Π°ΡΡ‚ΡŒ 3.
ΠŸΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹ радиочастотной связи Π½Π° частотС 13,56 ΠœΠ“Ρ†
ISO/IEC 19762 (всС части), Π˜Π½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ Ρ‚Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ. Π’Π΅Ρ…Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ автоматичСской
ΠΈΠ΄Π΅Π½Ρ‚ΠΈΡ„ΠΈΠΊΠ°Ρ†ΠΈΠΈ ΠΈ сбора Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… (AIDC). Π“Π°Ρ€ΠΌΠΎΠ½ΠΈΠ·ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹ΠΉ ΡΠ»ΠΎΠ²Π°Ρ€ΡŒ
3 Π’Π΅Ρ€ΠΌΠΈΠ½Ρ‹ ΠΈ опрСдСлСния
Для Ρ†Π΅Π»Π΅ΠΉ Π΄Π°Π½Π½ΠΎΠ³ΠΎ Π΄ΠΎΠΊΡƒΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π° ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΠΈΠΌΡ‹ Ρ‚Π΅Ρ€ΠΌΠΈΠ½Ρ‹ ΠΈ опрСдСлСния, описанныС Π² ISO/IEC 19762 (всС
части).
4 Π‘ΠΈΠΌΠ²ΠΎΠ»Ρ‹ ΠΈ сокращСния
ar ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
asp расстояниС
br высота ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
ca ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
cb высота ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
co ΡƒΠ³Π»ΠΎΠ²ΠΎΠΉ радиус ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
dis дистанция ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ тСстового считыватСля ΠΈ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°ΠΌΠΈ
DUT тСстируСмоС ΠΎΠ±ΠΎΡ€ΡƒΠ΄ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅
fc частота Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡Π΅Π³ΠΎ поля
fs частота поднСсущСй
H максимальная ΠΌΠΎΡ‰Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ считыватСля
max
H минимальная ΠΌΠΎΡ‰Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ считыватСля
min
lx Π΄Π»ΠΈΠ½Π° ΡΠΎΠ΅Π΄ΠΈΠ½ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠ³ΠΎ кабСля Π±Π»ΠΎΠΊΠ° тСстового считыватСля
lya ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° тСстового считыватСля ΠΈ ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Ρ‹ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
lyb высота тСстового считыватСля ΠΈ ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Ρ‹ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
lyd Π΄ΠΈΠ°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ тСстового считыватСля
lyw ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° Π΄ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠΊΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ тСстового считыватСля
nr количСство ΠΎΠ±ΠΎΡ€ΠΎΡ‚ΠΎΠ² эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
oa ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
ob высота ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
2 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

PCB пСчатная ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π°
rs ΡƒΠ³Π»ΠΎΠ²ΠΎΠΉ радиус Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
sa ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
sb высота Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
sr ΠΈΠ½Ρ‚Π΅Ρ€Π²Π°Π» ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Π΄ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠΊΠ°ΠΌΠΈ эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
wr ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° Π΄ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠΊΠΈ эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
5 ВСсты Π½Π° соотвСтствиС для ISO/IEC 18000-3 β€” 13,56 ΠœΠ“Ρ†
5.1 ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ ISO/IEC TR 18047 опрСдСляСт сСрии тСстов для опрСдСлСния соотвСтствия считыватСлСй ΠΈ
ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ. Π Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹ этих тСстов слСдуСт ΡΡ€Π°Π²Π½ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒ со значСниями ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… Π²
ISO/IEC 18000-3, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΠΈΡ‚ΡŒ соотвСтствиС тСстируСмого считыватСля ΠΈ тСстируСмой ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ.
Если ΠΈΠ½Π°Ρ‡Π΅ Π½Π΅ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ, тСсты Π² этой части ISO/IECTR 18047 Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΡΡ‚ΡŒΡΡ Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ ΠΊ RFID
ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°ΠΌ ΠΈ считыватСлям, ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½Ρ‹ΠΌ Π² ISO/IEC 18000-3 Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ΅ 1, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ΅ 2 ΠΈ Π Π΅ΠΆΠΈΠΌΠ΅ 3.
5.2 ΠΠ°Ρ‡Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ условия (ΠΏΠΎ ΡƒΠΌΠΎΠ»Ρ‡Π°Π½ΠΈΡŽ) ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠ² тСстирования
5.2.1 Условия испытаний
Если ΠΈΠ½Π°Ρ‡Π΅ Π½Π΅ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ, тСсты Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒΡΡ ΠΏΡ€ΠΈ Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Π΅ 23 Β°C +/- 3 Β°C (73 Β°F +/- 5 Β°F) ΠΈ
ΠΎΡ‚Π½ΠΎΡΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ влаТности ΠΎΡ‚ 40 % Π΄ΠΎ 60 %.
5.2.2 ΠŸΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²ΠΊΠ° ΠΊ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
Π’Π°ΠΌ, Π³Π΄Π΅ трСбуСтся ΠΏΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²ΠΊΠ° ΠΊ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ, ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€Ρ‹Π΅ Π±ΡƒΠ΄ΡƒΡ‚ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒΡΡ,
Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ΄Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²Π»Π΅Π½Ρ‹ ΠΊ условиям испытаний Π·Π° 24 часа Π΄ΠΎ Π½Π°Ρ‡Π°Π»Π° тСстирования.
5.2.3 ДопустимыС отклонСния
Если ΠΈΠ½Π°Ρ‡Π΅ Π½Π΅ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ, допустимыС отклонСния Π² +/- 5% ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΡΡ‚ΡŒΡΡ ΠΊ количСствСнным
показатСлям для опрСдСлСния особСнностСй тСстового оборудования (Π½Π°ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€, Π»ΠΈΠ½Π΅ΠΉΠ½Ρ‹Π΅
измСрСния) ΠΈ ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Ρ‹ тСстирования (ΠΏΠΎΠΏΡ€Π°Π²ΠΊΠ° Π½Π° тСстовоС ΠΎΠ±ΠΎΡ€ΡƒΠ΄ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅).
5.2.4 ΠŸΠΎΠ±ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ ΠΈΠ½Π΄ΡƒΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ
РСзисторы ΠΈ кондСнсаторы Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΠΈΠΌΠ΅Ρ‚ΡŒ Π½Π΅Π·Π½Π°Ρ‡ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΡƒΡŽ ΠΈΠ½Π΄ΡƒΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ.
5.2.5 ΠžΠ±Ρ‰Π°Ρ ΠΏΠΎΠ³Ρ€Π΅ΡˆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ измСрСния
ΠžΠ±Ρ‰Π°Ρ ΠΏΠΎΠ³Ρ€Π΅ΡˆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½ΠΈΠΉ для ΠΊΠ°ΠΆΠ΄ΠΎΠΉ размСрности, ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ этими ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π°ΠΌΠΈ тСстирования,
Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΠΎΡ‚Ρ€Π°ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒΡΡ Π² ΠΎΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚Π΅.
ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• ΠŸΠ΅Ρ€Π²ΠΈΡ‡Π½Π°Ρ информация Π΄Π°Π½Π° Π² ISO/IEC Guide 98-3:2008.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 3

5.3 ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 1
5.3.1 ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния
ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 1, описаны нСзависимо ΠΎΡ‚ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ. Для тСстов
ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ ΠΌΠ΅Π½ΡŒΡˆΠΈΡ… ΠΈΠ»ΠΈ Ρ€Π°Π²Π½Ρ‹Ρ… ID-1 (ΠΊΠ°ΠΊ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ Π² ISO/IEC7810) всС измСрСния ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Ρ‹ Π²
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ A, Π² Ρ‚ΠΎ врСмя ΠΊΠ°ΠΊ ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ B примСняСтся для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ большСго Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π°.
5.3.2 Аппаратура ΠΈ схСмы тСстирования
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ опрСдСляСт Π°ΠΏΠΏΠ°Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Ρƒ ΠΈ схСмы тСстирования для ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈΠ»ΠΈ считыватСля
согласно Π±Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΌΡƒ стандарту ISO/IEC 18000-3. Аппаратура тСстирования Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚:
β€’ калибровочная Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ° (см. 5.3.2.1)
β€’ Π±Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля (см. 5.3.2.2)
β€’ эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° (см. 5.3.2.4)
β€’ Ρ†ΠΈΡ„Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΠΉ осциллограф (см. 5.3.2.5).
Они описаны Π² ΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΡ… ΠΏΡƒΠ½ΠΊΡ‚Π°Ρ….
5.3.2.1 ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°
Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ ΠΏΡƒΠ½ΠΊΡ‚ описываСт Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€, Ρ‚ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Ρƒ ΠΈ характСристики ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ.
5.3.2.1.1 Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
ΠŸΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½Π°Ρ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π° ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ состоит ΠΈΠ· области, высота ΠΈ ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΉ ΠΎΠ±ΠΎΠ·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½Ρ‹ Π½Π°
РисункС 1 – ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ, содСрТащСй ΠΎΠ΄Π½ΠΎΡΠ»ΠΎΠΉΠ½ΡƒΡŽ Π½Π°ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΡƒ ΠΊΠΎΠ½Ρ†Π΅Π½Ρ‚Ρ€ΠΈΡ‡Π΅ΡΠΊΡƒΡŽ с
Π»ΠΈΠ½ΠΈΠ΅ΠΉ ΠΊΠΎΠ½Ρ‚ΡƒΡ€Π° Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
Рисунок 1 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
5.3.2.1.2 Π’ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Π° ΠΈ ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€ΠΈΠ°Π» основы ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
Π’ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Π° ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Ρ‹ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ 0,76 ΠΌΠΌ +/- 10 %. Она Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΡΠΎΡΡ‚ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΈΠ· подходящСго
изоляционного ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€ΠΈΠ°Π»Π°, Ρ‚Π°ΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΠ°ΠΊ FR4 ΠΈΠ»ΠΈ эквивалСнтного.
4 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

5.3.2.1.3 Π₯арактСристики Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
Π Π°ΠΌΠΊΠ° Π½Π° ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π΅ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΠΈΠΌΠ΅Ρ‚ΡŒ 1 слой. Π’Π½Π΅ΡˆΠ½ΠΈΠΉ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½
Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Ρ‚Π°ΠΊΠΈΠΌ, ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π½Π° РисункС 1 с ΡƒΠ³Π»ΠΎΠ²Ρ‹ΠΌΠΈ радиусами co.
Π Π°ΠΌΠΊΠ° Π²Ρ‹ΠΏΠΎΠ»Π½Π΅Π½Π° Π² Π²ΠΈΠ΄Π΅ ΠΏΠ΅Ρ‚Π»ΠΈ Π½Π° ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π΅ с ΠΏΠΎΠΊΡ€Ρ‹Ρ‚ΠΈΠ΅ΠΌ ΠΈΠ· ΠΌΠ΅Π΄ΠΈ 35 ΠΌΠΊΠΌ. Π¨ΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° Π΄ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠΊΠΈ составляСт
500 ΠΌΠΊΠΌ +/- 20 %. Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ ΠΊΠΎΠ½Ρ‚Π°ΠΊΡ‚ΠΎΠ² Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ 1,5 ΠΌΠΌ Γ— 1,5 ΠΌΠΌ.
Π©ΡƒΠΏ осциллографа с высоким Π²Ρ…ΠΎΠ΄Π½Ρ‹ΠΌ сопротивлСниСм (Π½Π°ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€, > 1 МОм, < 14 ΠΏΠ€), Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
использован для измСрСния напряТСния Ρ€Π°Π·ΠΎΠΌΠΊΠ½ΡƒΡ‚ΠΎΠΉ ΠΏΠ΅Ρ‚Π»ΠΈ. РСзонансная частота всСй установки
(калибровочная Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°, ΡΠΎΠ΅Π΄ΠΈΠ½ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄Π° ΠΈ Ρ‰ΡƒΠΏ осциллографа) Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π²Ρ‹ΡˆΠ΅ 60 ΠœΠ“Ρ†.
5.3.2.2 Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля для Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции состоит ΠΈΠ· Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ считыватСля ΠΈ Π΄Π²ΡƒΡ…
Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… Ρ€Π°ΠΌΠΎΠΊ: Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ А ΠΈ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π’. Π˜ΡΠΏΡ‹Ρ‚Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ установка
ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π° Π½Π° рисункС 2 – ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΈΡΠΏΡ‹Ρ‚Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ установки. Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ располоТСны Ρ‚Π°ΠΊ,
Ρ‡Ρ‚ΠΎ сигнал ΠΎΡ‚ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ находится Π² ΠΏΡ€ΠΎΡ‚ΠΈΠ²ΠΎΡ„Π°Π·Π΅ ΠΊ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΎΠΉ. ΠŸΠΎΡ‚Π΅Π½Ρ†ΠΈΠΎΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ P1 (50 Ом) слуТит для
Ρ‚ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π΅Π³ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²ΠΊΠΈ Ρ‚ΠΎΡ‡ΠΊΠΈ равновСсия, ΠΊΠΎΠ³Π΄Π° Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π½Π΅ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠΆΠ΅Π½Ρ‹ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΎΠΉ ΠΈΠ»ΠΈ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΎΠΉ
ΠΌΠ°Π³Π½ΠΈΡ‚Π½ΠΎΠΉ связью. Емкостная Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠ° Π·ΠΎΠ½Π΄Π°, Π² Ρ‚ΠΎΠΌ числС Π΅Π³ΠΎ паразитная Π΅ΠΌΠΊΠΎΡΡ‚ΡŒ, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
мСньшС Ρ‡Π΅ΠΌ 14 ΠΏΠ€.
Π’ΠΠ–ΠΠž Π•ΠΌΠΊΠΎΡΡ‚ΡŒ соСдинСний ΠΈ Π·ΠΎΠ½Π΄Π° осциллографа Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ свСдСны ΠΊ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΡƒΠΌΡƒ для обСспСчСния
воспроизводимости.
ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• ЗначСния ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ², ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Π² Π’Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ А.2, Π΄Π°Π½Ρ‹ для тСстируСмых
считыватСлСй Ρ€Π°Π²Π½Ρ‹Ρ… ID-1 ΠΈΠ»ΠΈ мСньшС.
Рисунок 2 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΈΡΠΏΡ‹Ρ‚Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ установки
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 5

5.3.2.2.1 АнтСнна тСстового считыватСля
АнтСнна тСстового считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΠΈΠΌΠ΅Ρ‚ΡŒ Π΄ΠΈΠ°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ ΠΈ ΠΊΠΎΠ½ΡΡ‚Ρ€ΡƒΠΊΡ†ΠΈΡŽ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΡƒΡŽ рисункам Π²
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ C. Наладка Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²Π΅Π΄Π΅Π½Π° с ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Ρ‹, ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ Π²
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ D.
5.3.2.2.2 Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°
Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Ρ‹ ΠΈ конструкция Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ рисункам ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ E.
5.3.2.3 Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ ΠΈ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π° тСстового считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ установлСны ΠΏΠ°Ρ€Π°Π»Π»Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ Π΄Ρ€ΡƒΠ³
Π΄Ρ€ΡƒΠ³Ρƒ. Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ ΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ° Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ соосными ΠΈ расстояниС ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½Ρ‹ΠΌΠΈ
ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄Π½ΠΈΠΊΠ°ΠΌΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ, ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π½Π° РисункС 3 β€” Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля. РасстояниС
ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ Π² тСстируСмом устройствС ΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ Π² Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π΅ тСстового считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ
ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ Ρ€Π°ΡΡΡ‚ΠΎΡΠ½ΠΈΡŽ ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ ΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ тСстового считыватСля.

ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• 1 Π’ΠΎΠ·Π΄ΡƒΡˆΠ½ΠΎΠ΅ расстояниС Β«asp airΒ» позволяСт ΠΈΠ·Π±Π΅ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΏΠ°Ρ€Π°Π·ΠΈΡ‚Π½Ρ‹Ρ… эффСктов, Ρ‚Π°ΠΊΠΈΡ… ΠΊΠ°ΠΊ сбой
настроСк ΠΏΡ€ΠΈ Π±ΠΎΠ»Π΅Π΅ Π±Π»ΠΈΠ·ΠΊΠΈΡ… расстояниях ΠΈΠ»ΠΈ Π½Π΅ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹ ΠΈΠ·-Π·Π° ΡˆΡƒΠΌΠ° ΠΈ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΈΡ… Π²Π½Π΅ΡˆΠ½ΠΈΡ… условий.
ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• 2 ЗначСния ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ², ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Π² Π’Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ А.2, Π΄Π°Π½Ρ‹ для тСстового считыватСля ID-1 ΠΈ
мСньшС.
Рисунок 3 β€” Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
5.3.2.4 Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΡΡŽΡ‚
⎯ порядок тСстирования H ΠΈ H считыватСлСм (Π² условиях Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠΈ Π½Π° ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ), Π° Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ для
min max
ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ способности считыватСля Β«Π²ΠΎΠ·Π±ΡƒΠΆΠ΄Π°Ρ‚ΡŒΒ» ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ
⎯ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΡΠ³Π΅Π½Π΅Ρ€ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ сигнал ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции.
6 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

5.3.2.4.1 Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для испытания мощности считыватСля
Π‘Ρ…Π΅ΠΌΠ° для испытания мощности ΠΏΡ€ΠΈ тСстировании ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π° Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ F. Для Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹
ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€ΠΈΡ‚ΡŒ H ΠΈ H , рассСиваСмая ΠΌΠΎΡ‰Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ установлСна с ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ рСзистора R1 ΠΈΠ»ΠΈ
min max
R2 соотвСтствСнно, ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π² Ρ€Π°Π·Π΄Π΅Π»Π΅ 5.3.4.1.2. Π Π΅Π·ΠΎΠ½Π°Π½ΡΠ½ΡƒΡŽ частоту ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎ Ρ€Π΅Π³ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ с
ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ Π‘2.
5.3.2.4.2 Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для тСстирования ΠΏΡ€ΠΈΠ΅ΠΌΠ° Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции
ΠŸΡ€ΠΈΠ½ΡΡ‚Π°Ρ схСма для тСста ΠΏΡ€ΠΈΠ΅ΠΌΠ° Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π° Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠΈ G. Нагрузочная
модуляции ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π²Ρ‹Π±Ρ€Π°Π½Π° рСзистивная ΠΈΠ»ΠΈ рСактивная.
Π­Ρ‚Π° эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° калибруСтся ΠΏΡ€ΠΈ использовании Π±Π»ΠΎΠΊΠ° тСстового считыватСля ΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠΌ
ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΠΎΠΌ:
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° помСщаСтся Π½Π° ΠΏΠΎΠ·ΠΈΡ†ΠΈΡŽ тСстируСмого устройства (DUT). Амплитуда сигнала
Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции измСряСтся Π² соотвСтствии с Ρ€Π°Π·Π΄Π΅Π»ΠΎΠΌ 5.3.3. Π­Ρ‚Π° Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Π° Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π°
ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ минимальной Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Π΅ ΠΏΡ€ΠΈ всСх значСниях напряТСнности поля, Π² соотвСтствии с
трСбованиями стандарта ISO/IEC 18000-3.
5.3.2.4.3 Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Ρ‹ эталонных ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°, ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅ΠΌΠ°Ρ для ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½ΠΈΠΉ, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ описана Π² ΠΎΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚Π΅ испытаний. Рисунок 4 –
ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΊΠ°Ρ€Ρ‚Ρ‹ ISO ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Ρ‹Π²Π°Π΅Ρ‚ Π² качСствС ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€Π° Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
ΠΊΠ°Ρ€Ρ‚Ρ‹ ISO, которая состоит ΠΈΠ· области, содСрТащСй Ρ€Π°ΠΌΠΊΡƒ, ΠΈΠΌΠ΅ΡŽΡ‰ΡƒΡŽ Ρ‚Π°ΠΊΡƒΡŽ ΠΆΠ΅ высоту ΠΈ ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Ρƒ, ΠΊΠ°ΠΊ
ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ Π² ISO/IEC 7810 для ID-1 Ρ‚ΠΈΠΏΠ°.
Π’Π½Π΅ΡˆΠ½ΡΡ ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡ‚ΡŒ, содСрТащая ΡΠ»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΈΡ‡Π΅ΡΠΊΡƒΡŽ схСму, ΡΠΌΡƒΠ»ΠΈΡ€ΡƒΡŽΡ‰ΡƒΡŽ Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡ‹Π΅ Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΈ этикСтки,
Π΄ΠΎΠ±Π°Π²Π»Π΅Π½Π° для Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ Π±Ρ‹Π»Π° Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ вставок, ΠΎΠΏΠΈΡΠ°Π½Π½Ρ‹Ρ… Π½ΠΈΠΆΠ΅, Π² установки тСста, Π½ΠΎ Π½Π΅
Π²Ρ‹Π·Ρ‹Π²Π°ΡŽΡ‰ΠΈΡ… Π½ΠΈΠΊΠ°ΠΊΠΎΠ³ΠΎ воздСйствия Π½Π° тСсты.

Рисунок 4 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° рСфСрСнсной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΊΠ°Ρ€Ρ‚ ISO
5.3.2.4.4 Π’ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Π° ΠΊΠΎΠ½Ρ‚ΡƒΡ€Π° рСфСрСнсной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
Π’ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Π° Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠΉ области рСфСрСнсной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ 0,76 ΠΌΠΌ +/- 10 %.
5.3.2.4.5 Π₯арактСристики ΠΎΠ±ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΠΈ
ΠžΠ±ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΠ° Π² Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠΉ области рСфСрСнсной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΠΈΠΌΠ΅Ρ‚ΡŒ nr ΠΎΠ±ΠΎΡ€ΠΎΡ‚ΠΎΠ² ΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
концСнтричСской с ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡ‚ΡŒΡŽ ΠΊΠΎΠ½Ρ‚ΡƒΡ€Π°.
Π’Π½Π΅ΡˆΠ½ΠΈΠ΅ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Ρ‹ ΠΎΠ±ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ar x br.
ΠžΠ±ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΠ° выполняСтся Π² Π²ΠΈΠ΄Π΅ налоТСния Π½Π° ΠΏΠ»Π°Ρ‚Ρƒ с ΠΏΠΎΠΊΡ€Ρ‹Ρ‚ΠΈΠ΅ΠΌ ΠΈΠ· ΠΌΠ΅Π΄ΠΈ 35 ΠΌΠΊΠΌ.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 7

Π¨ΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° Π΄ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠ΅ΠΊ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ wr, расстояниС ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Π΄ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠΊΠ°ΠΌΠΈ Ρ€Π°Π²Π½ΠΎ sr.
ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• ЗначСния ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Ρ‹ Π² Π’Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ А.3.
5.3.2.5 Π¦ΠΈΡ„Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΠΉ осциллограф
Π¦ΠΈΡ„Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΠΉ осциллограф Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ способСн ΠΎΡΡƒΡ‰Π΅ΡΡ‚Π²Π»ΡΡ‚ΡŒ Π²Ρ‹Π±ΠΎΡ€ΠΊΡƒ ΠΈΠ· хотя Π±Ρ‹ 100 ΠΌΠΈΠ»Π»ΠΈΠΎΠ½ΠΎΠ² Π²
сСкунду с Ρ€Π°Π·Ρ€Π΅ΡˆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ΠΌ Π½Π΅ ΠΌΠ΅Π½Π΅Π΅ 8 Π±ΠΈΡ‚ ΠΏΡ€ΠΈ ΠΎΠΏΡ‚ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΌ ΠΌΠ°ΡΡˆΡ‚Π°Π±ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠΈ. ΠžΡΡ†ΠΈΠ»Π»ΠΎΠ³Ρ€Π°Ρ„ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½
Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ способСн Π²Ρ‹Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒ Π²Ρ‹Π±Ρ€Π°Π½Π½Ρ‹Π΅ Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Π΅ Π² тСкстовом Ρ„Π°ΠΉΠ»Π΅, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒ матСматичСскиС ΠΈ
Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΈΠ΅ ΠΎΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ†ΠΈΠΈ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΡ сторонниС ΠΏΡ€ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠΌΡ‹. ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ΠΎΠΌ ΠΏΡ€ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠΌΡ‹ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ ΡΠ»ΡƒΠΆΠΈΡ‚ΡŒ ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ H.
5.3.3 Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°
5.3.3.1 ЦСль
ЦСлью тСста являСтся ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΈΠ΅ Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρ‹ сигнала Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ Π² ΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ…
Π·Π°Π΄Π°Π½Π½ΠΎΠ³ΠΎ Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π° [H ΠΈ H ], ΠΊΠ°ΠΊ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ Π² Π±Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΌ стандартС ISO/IEC 18000-3 ΠΈ
min max
Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ с модуляциСй ΠΏΠΎΠ΄ ΠΈΠ·Π»ΡƒΡ‡Π°Π΅ΠΌΡ‹ΠΌΠΈ полями, ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌΠΈ Π² Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅
ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ISO/IEC 18000-3 для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ считыватСля (ссылка М1-Tag: 7).
5.3.3.2 ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования
Π¨Π°Π³ 1: Π‘Ρ…Π΅ΠΌΠ° тСстирования Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции Π½Π° РисункС 2 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ тСстовых установок ΠΈ
ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ»Π΅ΠΊΡ‚ тСстового считыватСля Π½Π° РисункС 3 β€” ИспользованиС ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ»Π΅ΠΊΡ‚Π° тСстового считыватСля.
Радиочастотная ΠΌΠΎΡ‰Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ, доставляСмая сигналом Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π° ΠΊ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π΅ считыватСля, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
ΠΎΡ‚Ρ€Π΅Π³ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π° Ρ‚Π°ΠΊ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒ Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡƒΡŽ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля (H ΠΈ H , Π° сигналы
min max
модуляции, ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Π² ISO/IEC 18000-3, ΠΊΠ°ΠΊ измСряСмыС ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ ΠΎΠ±ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΠΎΠΉ Π±Π΅Π· ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ.
Π’Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ Ρ†Π΅ΠΏΠΈ испытания Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции Рисунка 2 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΏΠΎΠ΄ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½ΠΈΡ ΠΈΡΠΏΡ‹Ρ‚Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ
установки» ΠΊ Ρ†ΠΈΡ„Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΠΌΡƒ осциллографу. ΠŸΠΎΡ‚Π΅Π½Ρ†ΠΈΠΎΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ P1 50 Ом Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΠΏΠΎΠ΄ΡΡ‚Ρ€Π°ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒΡΡ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹
ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠΈΠ·ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΎΡΡ‚Π°Ρ‚ΠΎΡ‡Π½ΡƒΡŽ Π½Π΅ΡΡƒΡ‰ΡƒΡŽ частоту. Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ сигнал Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π½Π΅ ΠΌΠ΅Π½Π΅Π΅, Ρ‡Π΅ΠΌ Π½Π° 40 Π΄Π‘ Π½ΠΈΠΆΠ΅,
Ρ‡Π΅ΠΌ сигнал, ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π°Π΅ΠΌΡ‹ΠΉ ΠΏΡƒΡ‚Π΅ΠΌ ΠΊΠΎΡ€ΠΎΡ‚ΠΊΠΎΠ³ΠΎ замыкания ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠΉ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ ΠΎΠ±ΠΌΠΎΡ‚ΠΊΠΈ.
Π¨Π°Π³ 2: ВСстируСмая ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ располоТСна Π½Π° мСстС тСстируСмого устройства (DUT),
концСнтричСски с Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ А. Радиочастотный Π½Π°ΠΊΠΎΠΏΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒ для Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ тСстового
считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ настроСн Π½Π° Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡƒΡŽ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля.
Π’ΠΠ–ΠΠž Π‘Π»Π΅Π΄ΡƒΠ΅Ρ‚ ΠΏΡ€ΠΎΡΠ²Π»ΡΡ‚ΡŒ ΠΎΡΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΠΈΡ‚ΡŒ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠΉ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ синхронизации для
модуляции Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠΎΠΉ ΠΌΠ°Π»ΠΎΠΉ Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρ‹.
Π”Π²Π° поднСсущих Ρ†ΠΈΠΊΠ»Π° Π²Ρ‹Π±ΠΎΡ€ΠΊΠΈ сигналов модуляции Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΡ€Π΅ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΠΎΠ²Π°Π½Ρ‹ ΠΏΠΎ ΠΏΡ€Π΅ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
Π€ΡƒΡ€ΡŒΠ΅. Π”ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ использовано дискрСтноС ΠΏΡ€Π΅ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ Π€ΡƒΡ€ΡŒΠ΅ с ΠΌΠ°ΡΡˆΡ‚Π°Π±ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ Ρ‚Π°ΠΊ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π±Ρ‹
Π² Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π΅ ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡ΠΈΡ‚ΡŒ чистыС ΡΠΈΠ½ΡƒΡΠΎΠΈΠ΄Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹ сигналы Π½Π° ΠΏΠΈΠΊΠ΅ ΠΌΠ°Π³Π½ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄. Π§Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ свСсти ΠΊ
ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΡƒΠΌΡƒ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅Ρ…ΠΎΠ΄Π½Ρ‹Π΅ эффСкты, Ρ†ΠΈΠΊΠ» с Π½Π΅ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½ΠΎΠΉ поднСсущСй Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΈΡΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½. Π’
случаС Π΄Π²ΡƒΡ… поднСсущих частот эта ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° повторяСтся для Π²Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΉ поднСсущСй частоты.
ΠŸΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π°Π΅ΠΌΡ‹Π΅ Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρ‹ Π²Π΅Ρ€Ρ…Π½Π΅ΠΉ Π±ΠΎΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ полосы fc + fs1 (ΠΈ fc + fs2, Ссли ΠΏΡ€ΠΈΡΡƒΡ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‚ ΠΎΠ±Π΅) ΠΈ Π½ΠΈΠΆΠ½Π΅ΠΉ
Π±ΠΎΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ полосы fc - fs1 (ΠΈ fc - fs2, Ссли Π΅ΡΡ‚ΡŒ) Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΠΏΡ€Π΅Π²Ρ‹ΡˆΠ°Ρ‚ΡŒ Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½ΠΎΠ΅ Π² ISO/IEC 18000-3.
Π‘ΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰Π°Ρ ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΊΠΎΠΌΠ°Π½Π΄, ΠΊΠ°ΠΊ это ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ Π² ISO/IEC 18000-3, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π°
Π½Π°ΠΏΡ€Π°Π²Π»ΡΡ‚ΡŒΡΡ Π½Π° ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ для получСния сигнала ΠΈΠ»ΠΈ ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π° Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΎΡ‚ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ.
8 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

5.3.3.3 ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΡΠΎΠ΄Π΅Ρ€ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ значСния Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρ‹ Π²Π΅Ρ€Ρ…Π½Π΅ΠΉ Π±ΠΎΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ полосы
fc + fs1 (ΠΈ fc + fs2, Ссли ΠΏΡ€ΠΈΡΡƒΡ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‚ ΠΎΠ±Π΅) ΠΈ Π½ΠΈΠΆΠ½Π΅ΠΉ Π±ΠΎΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ полосы fc - fs1 (ΠΈ fc - fs2, Ссли Π΅ΡΡ‚ΡŒ) ΠΈ
примСняСмыС поля ΠΈ модуляции. ΠžΡ†Π΅Π½ΠΊΠ° ΠΏΡ€ΠΎΡ…ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚/Π½Π΅ ΠΏΡ€ΠΎΡ…ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ опрСдСляСтся значСниями Π² Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅
ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ISO/IEC 18000-3 для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈ считыватСля (ссылка M1-Tag:7)
5.3.4 Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ
5.3.4.1 ΠΠ°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля ΠΈ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅Π΄Π°Ρ‡Π° мощности Π² считыватСлС
5.3.4.1.1 ЦСль
ВСст опрСдСляСт Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля, ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡƒΡŽ считыватСлСм с ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ Π΅Π³ΠΎ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ Π½Π°
Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡Π΅ΠΉ частотС Π² соотвСтствии со стандартом ISO/IEC 18000-3. ВСстовая ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° Π² Ρ€Π°Π·Π΄Π΅Π»Π΅
5.3.4.1.2 Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ΡΡ для опрСдСлСния Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΠΏΠΎΠ»Π΅ Π³Π΅Π½Π΅Ρ€ΠΈΡ€ΡƒΠ΅ΠΌΠΎΠ΅ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ Π½Π΅ ΠΏΡ€Π΅Π²Ρ‹ΡˆΠ°Π΅Ρ‚
Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠΉ, ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… Π² ISO/IEC 18000-3 (ссылки M1-Int:3 для H ΠΈ M1-Int:3a для H ).
max min
ВСст ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ ΡΡ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ, ΠΎΠΏΠΈΡΠ°Π½Π½ΡƒΡŽ Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ F, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΠΈΡ‚ΡŒ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π»ΠΈ
ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΏΡ€Π΅Π΄ΠΎΡΡ‚Π°Π²ΠΈΡ‚ΡŒ достаточно мощности для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ, располоТСнной Π² области дСйствия.
5.3.4.1.2 ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования
ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования для H :
max
1) ΠΠ°ΡΡ‚Ρ€ΠΎΠΈΡ‚ΡŒ ΡΡ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ Π½Π° 13,56 MΠ“Ρ†.
ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• РСзонансная частота эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ измСряСтся с использованиСм Π°Π½Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π°
импСданса ΠΈΠ»ΠΈ LCR-ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Π°, подсоСдинСнного ΠΊ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ΅. Π Π°ΠΌΠΊΠ° эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π°
Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ располоТСна Π½Π° расстоянии 10 ΠΌΠΌ ΠΎΡ‚ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ, Ρ‚Π°ΠΊ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ оси Π΄Π²ΡƒΡ… ΠΊΠ°Ρ‚ΡƒΡˆΠ΅ΠΊ совпадали.
РСзонансная частота β€” это частота, Π½Π° ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΉ рСзистивная Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ измСряСмого комплСксного
сопротивлСния максимальна.
2) ΠŸΠΎΡΡ‚Π°Π²ΠΈΡ‚ΡŒ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ J1 Π² ΠΏΠΎΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ b, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ R2.
3) ВнСсти ΡΡ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ концСнтричСски с Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ Π² ΠΎΠ±ΠΎΠ·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½Π½ΡƒΡŽ ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡ‚ΡŒ дСйствия
тСстируСмого считыватСля с максимальной ΡΠΊΠΎΡ€ΠΎΡΡ‚ΡŒΡŽ 1 см/с.
4) НапряТСниС постоянного Ρ‚ΠΎΠΊΠ° (V ) Π½Π° рСзисторС R3 (ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ F) измСряСтся Π²ΠΎΠ»ΡŒΡ‚ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠΌ
dc
с высоким сопротивлСниСм ΠΈ Π½Π΅ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ ΠΏΡ€Π΅Π²Ρ‹ΡˆΠ°Ρ‚ΡŒ 3 Π’, ΠΏΡ€ΠΈ этом рСзистор R2 установлСн
ΠΏΠ°Ρ€Π°Π»Π»Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ΅ L ΠΈ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля Ρ€Π°Π²Π½Π° H .
max
ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования для H :
min
1) ΠΠ°ΡΡ‚Ρ€ΠΎΠΈΡ‚ΡŒ ΡΡ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ Π½Π° 13,56 ΠœΠ“Ρ†.
2) ΠŸΠΎΡΡ‚Π°Π²ΠΈΡ‚ΡŒ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ J1 Π² ΠΏΠΎΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ a, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ R1.
3) ВнСсти ΡΡ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ концСнтричСски с Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ Π² ΠΎΠ±ΠΎΠ·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½Π½ΡƒΡŽ ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡ‚ΡŒ дСйствия
тСстируСмого считыватСля с максимальной ΡΠΊΠΎΡ€ΠΎΡΡ‚ΡŒΡŽ 1 см/с.
4) НапряТСниС постоянного Ρ‚ΠΎΠΊΠ° (V ) Π½Π° рСзисторС R3 (ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ F) измСряСтся Π²ΠΎΠ»ΡŒΡ‚ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠΌ
DC
с высоким сопротивлСниСм ΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ ΠΏΡ€Π΅Π²Ρ‹ΡˆΠ°Ρ‚ΡŒ 3 Π’, ΠΏΡ€ΠΈ этом рСзистор R1 установлСн
ΠΏΠ°Ρ€Π°Π»Π»Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ΅ L Π² ΠΈ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля Ρ€Π°Π²Π½Π° H .
min
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 9

5.3.4.1.3 ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΡΠΎΠ΄Π΅Ρ€ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ значСния V для H .ΠΈ H Π² Π·Π°Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… условиях. ΠžΡ†Π΅Π½ΠΊΠ°
DC min max
ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½ΠΎΠ³ΠΎ/Π½Π΅ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π° опрСдСляСтся значСниями Π² Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ISO/IEC 18000-3
для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈ считыватСля (ссылка M1-Int:3 для H ΠΈ ссылка M1-Int:3a для H ).
max min
5.3.4.2 ИндСкс модуляции ΠΈ сигнал
5.3.4.2.1 ЦСль
Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ тСст проводится с Ρ†Π΅Π»ΡŒΡŽ опрСдСлСния индСкса модуляции поля считыватСля, Π° Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ врСмя
нарастания ΠΈ спада, ΠΈ ΠΏΡ€Π΅Π²Ρ‹ΡˆΠ΅Π½ΠΈΡ Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠΉ, ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Ρ… Π² ISO/IEC 18000-3 M1-Int:7d Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Ρ‹
ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² для считыватСля ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ (ссылки M1-Int:7, M1-Int:7d, рисунки M1-1 ΠΈ M1-2) для Π·Π°Π΄Π°Π½Π½ΠΎΠΉ
области дСйствия.
5.3.4.2.2 ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования
ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ° располагаСтся Π³Π΄Π΅-Π»ΠΈΠ±ΠΎ Π² области дСйствия, Π° индСкс модуляции ΠΈ
характСристики сигнала ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΡΡŽΡ‚ΡΡ ΠΈΠ½Π΄ΡƒΡ†ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π½Ρ‹ΠΌ напряТСниСм Π½Π° Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ΅, Π½Π°Π±Π»ΡŽΠ΄Π°Π΅ΠΌΡ‹ΠΌ Π½Π°
осциллографС.
5.3.4.2.3 ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΠΎΡ‚Ρ€Π°ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΉ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ модуляции для поля считыватСля, Π°
Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ врСмя нарастания ΠΈ спада, ΠΈ ΠΏΡ€Π΅Π²Ρ‹ΡˆΠ΅Π½ΠΈΡ Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠΉ Π² ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ области дСйствия. ΠžΡ†Π΅Π½ΠΊΠ°
ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½ΠΎΠ³ΠΎ/Π½Π΅ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π° опрСдСляСтся значСниями Π² Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ISO/IEC 18000-3
для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈ считыватСля (ссылки M1-Int:7, M1-Int:7d, рисунки M1-1 ΠΈ M1-2).
5.3.4.3 ΠŸΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции (ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅)
Π­Ρ‚ΠΎ косвСнный тСст Π½Π° ΡΠΏΠΎΡΠΎΠ±Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ считыватСля ΠΏΡ€ΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ сигнал ΠΎΡ‚ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ. Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ тСст
опрСдСляСт ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΠ»ΡŒΠ½ΠΎ Π»ΠΈ ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΎΠ±Π½Π°Ρ€ΡƒΠΆΠΈΡ‚ ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡΡ†ΠΈΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ, ΡƒΠ΄ΠΎΠ²Π»Π΅Ρ‚Π²ΠΎΡ€ΡΡŽΡ‰ΡƒΡŽ стандарту
ISO/IEC 18000-3. ΠŸΡ€Π΅Π΄ΠΏΠΎΠ»Π°Π³Π°Π΅Ρ‚ΡΡ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΠ»ΡŒΠ½ΠΎ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΠΈΡ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ΄Π½Π΅ΡΡƒΡ‰ΡƒΡŽ частоту,
Π²Ρ‹Π·Ρ‹Π²Π°Π΅ΠΌΡƒΡŽ тСстируСмой ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΎΠΉ.
ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ G ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Ρ‹Π²Π°Π΅Ρ‚ схСму, которая ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½ΠΈΠΌΠ° Π² соСдинСнии с Π°ΠΏΠΏΠ°Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€ΠΎΠΉ
тСстирования для опрСдСлСния Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ считыватСля ΠΊ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции Π² ΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ…
установлСнной области дСйствия.
ΠžΡ†Π΅Π½ΠΊΠ° ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½ΠΎΠ³ΠΎ/Π½Π΅ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π° опрСдСляСтся значСниями Π² Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ISO/IEC
18000-3 для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈ считыватСля (ссылка M1-Tag:7). ΠΠ΅ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½Ρ‹ΠΉ тСст ΠΏΠΎ Π΄Π°Π½Π½ΠΎΠΌΡƒ ΠΊΡ€ΠΈΡ‚Π΅Ρ€ΠΈΡŽ Π½Π΅ стоит
Ρ€Π°ΡΡ†Π΅Π½ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΊΠ°ΠΊ Π½Π΅ΡƒΡΠΏΠ΅ΡˆΠ½Ρ‹ΠΉ тСст считыватСля Π²ΠΎΠΎΠ±Ρ‰Π΅, подходящСго ΠΏΠΎ всСм ΠΎΡΡ‚Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌ критСриям.
5.4 ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2
5.4.1 ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния
ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2, описаны нСзависимо ΠΎΡ‚ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ. Для
тСстирования ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ, ΠΌΠ΅Π½ΡŒΡˆΠΈΡ… ΠΈΠ»ΠΈ Ρ€Π°Π²Π½Ρ‹Ρ… ID-1, всС измСрСния ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Ρ‹ Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ A, Π² Ρ‚ΠΎ врСмя
ΠΊΠ°ΠΊ ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ B примСняСтся для всСх ΠΎΡΡ‚Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… случаСв.
ΠŸΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŽ слСдуСт ΡƒΡ‚ΠΎΡ‡Π½ΠΈΡ‚ΡŒ H ΠΈ H . ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½ΡƒΡŽ ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡΡ†ΠΈΡŽ ΠΏΡ€ΠΈ H ΠΈ H .
max min max min
ΠžΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½Π°Ρ модуляция ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ измСряСтся, ΠΊΠ°ΠΊ описано Π² 5.4.3.2.
10 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

5.4.2 Аппаратура ΠΈ схСмы тСстирования
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ опрСдСляСт Π°ΠΏΠΏΠ°Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Ρƒ ΠΈ схСмы тСстирования тСстов для ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ работоспособности
ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈΠ»ΠΈ считыватСля согласно Π±Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΌΡƒ стандарту ISO/IEC 18000-3. Аппарат тСстирования
Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚:
β€” ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΡƒΡŽ Ρ€Π°ΠΌΠΊΡƒ
β€” Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
β€” Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
Они описаны Π² ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΡ… ΠΏΡƒΠ½ΠΊΡ‚Π°Ρ….
5.4.2.1 ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°
Π‘ΠΌ. 5.3.2.1.
5.4.2.2 Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
Π‘ΠΌ. 5.3.2.2.
Для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2 сопротивлСниС 85 Ω Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ΄ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½ΠΎ Ρ‡Π΅Ρ€Π΅Π· Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ схСмы
измСрСния тСстового считыватСля β€” см. Рисунок 2 (ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ P1 ΠΈ Π·Π΅ΠΌΠ»Π΅ΠΉ).
5.4.2.2.1 АнтСнна тСстового считыватСля
Π‘ΠΌ. 5.3.2.2.1.
По ISO/IEC 18000-3 Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2 Ρ†Π΅ΠΏΡŒ с ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠΌ ΠΏΠΎΠ»Π½Ρ‹ΠΌ сопротивлСниСм β€” см. Рисунок Π‘.3 β€”
ЦСпь с ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠΌ ΠΏΠΎΠ»Π½Ρ‹ΠΌ сопротивлСниСм β€” Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Π½Π΅Π½Π°, ΠΊΠ°ΠΊ настраиваСмая Ρ†Π΅ΠΏΡŒ.
ΠšΠΎΠΌΠΏΠΎΠ½Π΅Π½Ρ‚Π°ΠΌΠΈ настраиваСмой Ρ†Π΅ΠΏΠΈ Π±ΡƒΠ΄ΡƒΡ‚:
β€” C1 Π²Ρ‹Π±Ρ€Π°Π½Π½Ρ‹ΠΉ ΠΈ подстраиваСмый Ρ‚Π°ΠΊ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π±Ρ‹ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π° тСстируСмого считыватСля ΠΈΠΌΠ΅Π»Π°
ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ рСзонанс Π½Π° частотС 13,56 MΠ“Ρ†.
β€” C2 – C4 ΠΏΡ€ΠΎΠΏΡƒΡ‰Π΅Π½ΠΎ (разомкнутая Ρ†Π΅ΠΏΡŒ)
β€” R Π½ΡƒΠ»ΡŒ (замкнутая Ρ†Π΅ΠΏΡŒ)
ext
Для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2, Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ мощности, настраиваСмая Ρ†Π΅ΠΏΡŒ ΠΈ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π° считыватСля
Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΠΎΠ±Π΅ΡΠΏΠ΅Ρ‡ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒ установлСнныС ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚Π΅Π»Π΅ΠΌ мощности поля (H ΠΈ H ) ΠΈ ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡΡ†ΠΈΡŽ,
max min
ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½ΡƒΡŽ Π² стандартС ISO/IEC 18000-3.
Для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2, Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ΅ сопротивлСниС Π½Π΅ ΠΎΠ³Ρ€Π°Π½ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΎ 50 Ом ΠΈ Π½Π΅ трСбуСтся
ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒ подстройку Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π° индСкса модуляции для Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Π½ΠΎΠΉ модуляции.
Π’ΠΠ–ΠΠž Для Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΈΠ·Π±Π΅ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ нСблагоприятного воздСйствия Π½Π° Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½ΠΈΠΉ ΠΈΠ·-Π·Π° отраТСния,
связь ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΌ ΠΈ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΊΠ°ΠΊ ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎ ΠΊΠΎΡ€ΠΎΡ‡Π΅.
5.4.2.2.2 Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°
Π‘ΠΌ. 5.3.2.2.2.
5.4.2.3 Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
Π‘ΠΌ. 5.3.2.3.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 11

5.4.2.4 Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΡΡŽΡ‚ΡΡ:
⎯ для тСстирования H ΠΈ H , ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡ‹Ρ… считыватСлСм (Π² условиях Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΎΠΉ) ΠΈ
min max
Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΈΡ‚ΡŒ ΡΠΏΠΎΡΠΎΠ±Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ считыватСля Π²ΠΎΠ·Π±ΡƒΠΆΠ΄Π°Ρ‚ΡŒ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ
⎯ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΡΠ³Π΅Π½Π΅Ρ€ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ сигнал ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции.
5.4.2.4.1 Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для возбуТдСния считыватСля
Π‘ΠΌ. 5.3.2.4.1.
Π­Ρ‚Π° эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΎΡ‚ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²Π°Π½Π° согласно Π’.8.
5.4.2.4.2 Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для тСстирования ΠΏΡ€ΠΈΠ΅ΠΌΠ° Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции
Π‘ΠΌ. 5.3.2.4.2
Для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2, нагрузочная модуляция Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Ρ‚ΠΎΠ»ΡŒΠΊΠΎ рСзистивной.
Для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2, сигнал ΠΏΠ΅Ρ€Π΅ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½ΠΈΡ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ стандарту
ISO/IEC 18000-3.
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° настраиваСтся с использованиСм ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Ρ‹, ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½ΠΎΠΉ Π² 5.4.3.2. Π Π΅Π³ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ ΠΈΠ»ΠΈ
ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Π½Π΅Π½ΠΈΠ΅ значСния Rmod1 ΠΈ Rmod2 (см. ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ G) устанавливаСт Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρƒ ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ
модуляции ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ.
5.4.2.4.3 Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Ρ‹ эталонных ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ
Π‘ΠΌ. 5.3.2.4.3.
5.4.3 Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°
5.4.3.1 ЦСль
ЦСлью тСста являСтся ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΈΠ΅ Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρ‹ ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ Π² ΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ…
Π·Π°Π΄Π°Π½Π½ΠΎΠ³ΠΎ Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π° [H , H ] ΠΈ Ρ„ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ с модуляциСй ΠΏΠΎΠ΄ ΠΈΠ·Π»ΡƒΡ‡Π°Π΅ΠΌΡ‹ΠΌΠΈ полями,
min max
ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹ΠΌΠΈ Π² ISO/IEC 18000-3.
5.4.3.2 ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования
Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ тСст ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ Π±Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля( см. 5.4.2.2).
Радиочастотная ΠΌΠΎΡ‰Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ, доставляСмая сигналом Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π° ΠΊ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π΅ считыватСля, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
ΠΎΡ‚Ρ€Π΅Π³ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½Π° Ρ‚Π°ΠΊ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΡƒΡΡ‚Π°Π½Π°Π²Π»ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒ Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡƒΡŽ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля ΠΈ сигналы модуляции (см.
5.4.4.2), ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€ΡΠ΅ΠΌΡƒΡŽ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ Π±Π΅Π· ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ. Π’Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ Ρ†Π΅ΠΏΠΈ испытания Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции
ΠΏΠΎ Рисунку 2 ΠΏΠΎΠ΄ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚ΡΡ ΠΊ Ρ†ΠΈΡ„Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΠΌΡƒ осциллографу. ΠŸΠΎΡ‚Π΅Π½Ρ†ΠΈΠΎΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ P1 50 Ом Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
подстроСн Ρ‚Π°ΠΊ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠΈΠ·ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΎΡΡ‚Π°Ρ‚ΠΎΡ‡Π½ΡƒΡŽ Π½Π΅ΡΡƒΡ‰ΡƒΡŽ. Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ сигнал Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π½Π΅ ΠΌΠ΅Π½Π΅Π΅ Ρ‡Π΅ΠΌ Π½Π°
40 Π΄Π‘ Π½ΠΈΠΆΠ΅, Ρ‡Π΅ΠΌ сигнал, ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π°Π΅ΠΌΡ‹ΠΉ ΠΏΡƒΡ‚Π΅ΠΌ ΠΊΠΎΡ€ΠΎΡ‚ΠΊΠΎΠ³ΠΎ замыкания ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠΉ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ.
ВСстируСмая ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ располоТСна Π½Π° мСстС тСстируСмого устройства (DUT),
концСнтричСски с Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ А. Радиочастотный Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ для тСстовой Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹
считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ настроСн Π½Π° Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡƒΡŽ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля. Π’Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ Ρ†Π΅ΠΏΠΈ испытания
Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ΄ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½ Ρ‡Π΅Ρ€Π΅Π· ΠΊΠΎΠ°ΠΊΡΠΈΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ кабСль ΠΊΠΎ Π²Ρ…ΠΎΠ΄Ρƒ 50 Ом
Π°Π½Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π° спСктра.
12 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

Π‘ΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰Π°Ρ ΠΏΠΎΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΊΠΎΠΌΠ°Π½Π΄, ΠΊΠ°ΠΊ это ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ Π² ISO/IEC 18000-3, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π°
Π½Π°ΠΏΡ€Π°Π²Π»ΡΡ‚ΡŒΡΡ Π½Π° ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ для получСния ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΎΡ‚ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ. (ΠŸΡ€ΠΈ
настройкС ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ (см. 5.4.2.4.2) нагрузочная модуляция прСдоставляСтся ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Π½Π΅Π½ΠΈΠ΅ΠΌ сигнала
ΠΏΠ΅Ρ€Π΅ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½ΠΈΡ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠΈ).
ΠŸΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Π±ΠΎΠΊΠΎΠ²Ρ‹Π΅ полосы Π² Π°Π½Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π΅ спСктра Π²Π²ΠΎΠ΄Π° Π±ΡƒΠ΄ΡƒΡ‚ большС ΠΈΠ»ΠΈ Ρ€Π°Π²Π½Ρ‹ значСниям
ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции, ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½Ρ‹ΠΌ ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚Π΅Π»Π΅ΠΌ.
Π’ΠΠ–ΠΠž Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΏΡ€ΠΈ тСстировании зависит ΠΎΡ‚ свойств Π°Π½Π°Π»ΠΈΠ·Π°Ρ‚ΠΎΡ€Π° спСктра ΠΈ слСдуСт ΠΏΠΎΠ·Π°Π±ΠΎΡ‚ΠΈΡ‚ΡŒΡΡ ΠΎ
Π΅Π³ΠΎ настройкС для получСния устойчивых Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚ΠΎΠ².
5.4.3.3 ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ ΡΠΎΠ΄Π΅Ρ€ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€ΠΈΠΌΡƒΡŽ ΠΎΡ†Π΅Π½ΠΊΡƒ Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Ρ‹ Π±ΠΎΠΊΠΎΠ²Ρ‹Ρ… полос ΠΈ
примСняСмыС поля ΠΈ модуляции для всСх поднСсущих частот.
5.4.4 Π€ΡƒΠ½ΠΊΡ†ΠΈΠΎΠ½Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ тСст – ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ
5.4.4.1 ΠΠ°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля ΠΈ ΠΏΠ΅Ρ€Π΅Π΄Π°Ρ‡Π° мощности Π² считыватСлС
5.4.4.1.1 ЦСль
Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ тСст опрСдСляСт, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π½Π°ΠΏΡ€ΡΠΆΠ΅Π½Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ поля, производимая считыватСлСм с ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ Π΅Π³ΠΎ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ Π²
Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡Π΅ΠΉ области Π½Π΅ большС, Ρ‡Π΅ΠΌ ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½ΠΎΠ΅ максимальноС Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ ΠΈ Π½Π΅ мСньшС, Ρ‡Π΅ΠΌ ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½ΠΎΠ΅
минимальноС Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅, Π° Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅ опрСдСляСт, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΊΠΎΡ€Ρ€Π΅ΠΊΡ‚Π½ΠΎ зарядит ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ Π² области
дСйствия.
ВСст ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ ΡΡ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ (см. 5.4.2.4.1).
5.4.4.1.2 ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования
Π‘ΠΌ. 5.3.4.1.3.
5.4.4.1.3 ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π΄Π°Π΅Ρ‚ значСния V для H ΠΈ H Π² Π·Π°Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… условиях.
DC min max
5.4.4.2 Π‘Π΄Π²ΠΈΠ³ Ρ„Π°Π·Ρ‹ сигнала модуляции
5.4.4.2.1 ЦСль
ВСст ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅Ρ‚ΡΡ, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΠΈΡ‚ΡŒ характСристики сдвига Ρ„Π°Π·Ρ‹ сигнала поля считыватСля, ΠΊΠ°ΠΊ
ΡƒΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π² Π±Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΌ стандартС ISO/IEC 18000-3 Π² ΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ… Π·Π°Π΄Π°Π½Π½Ρ‹Ρ… Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‡ΠΈΡ… Π·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΈΠΉ.
5.4.4.2.2 ΠŸΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Π° тСстирования
ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ° (см. 5.4.2.1) располагаСтся Π³Π΄Π΅-Π»ΠΈΠ±ΠΎ Π² области дСйствия.
НСмодулированный 13,56 ΠœΠ“Ρ† ΠΎΠΏΠΎΡ€Π½Ρ‹ΠΉ сигнал (синхронизированный Π½Π° частотС 13,56 ΠœΠ“Ρ† ΠΎΠΏΠΎΡ€Π½Ρ‹ΠΌ
Π³Π΅Π½Π΅Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΌ считыватСля) ΠΈ Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ ΠΏΠΎΠ΄ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π΅Π½Ρ‹ ΠΊ Ρ„Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΌΡƒ дискриминатору.
Π‘Ρ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΈΠΌΠ΅Π΅Ρ‚ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡ‚ΡŒ воспроизвСсти Ρ‚Π°ΠΊΠΎΠΉ ΠΎΠΏΠΎΡ€Π½Ρ‹ΠΉ сигнал. Π₯арактСристика Ρ„Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ
сдвига отобраТаСтся Π½Π° подходящСм осциллографС Ρ‡Π΅Ρ€Π΅Π· Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄ дискриминатора.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 13

5.4.4.2.3 ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ
ΠžΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚ ΠΏΠΎ Ρ‚Π΅ΡΡ‚ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ содСрТит ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ значСния Ρ„Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ сдвига.
5.4.4.3 ΠŸΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции (ΠΈΠ½Ρ„ΠΎΡ€ΠΌΠ°Ρ‚ΠΈΠ²Π½ΠΎΠ΅)
Π­Ρ‚ΠΎ косвСнный тСст Π½Π° ΡΠΏΠΎΡΠΎΠ±Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ считыватСля ΠΏΡ€ΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ сигнал ΠΎΡ‚ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ. Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ тСст
опрСдСляСт ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΠ»ΡŒΠ½ΠΎ Π»ΠΈ ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΎΠ±Π½Π°Ρ€ΡƒΠΆΠΈΡ‚ ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡΡ†ΠΈΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ, ΡƒΠ΄ΠΎΠ²Π»Π΅Ρ‚Π²ΠΎΡ€ΡΡŽΡ‰ΡƒΡŽ стандарту
ISO/IEC 18000-3. ΠŸΡ€Π΅Π΄ΠΏΠΎΠ»Π°Π³Π°Π΅Ρ‚ΡΡ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ ΡΡ‡ΠΈΡ‚Ρ‹Π²Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ ΠΏΡ€Π°Π²ΠΈΠ»ΡŒΠ½ΠΎ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΠΈΡ‚ΡŒ ΠΏΠΎΠ΄Π½Π΅ΡΡƒΡ‰ΡƒΡŽ частоту,
ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΎΠΉ.
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° (см. 5.4.2.4.2) ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ использована Π² соСдинСнии с Π°ΠΏΠΏΠ°Ρ€Π°Ρ‚ΠΎΠΌ тСстирования,
ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π½ΠΎΠΌ Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠΈ G, ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ΅ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Ρ‹Π²Π°Π΅Ρ‚ схСму для опрСдСлСния Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΡΡ‚ΠΈ
считыватСля ΠΊ модуляции Π² ΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ… установлСнной области дСйствия.
ΠžΡ†Π΅Π½ΠΊΠ° успСха/ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π°Π»Π° опрСдСляСтся значСниями Π² Ρ‚Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² ISO/IEC 18000-3 для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈ
считыватСля (ссылка M2-Tag:7). ΠŸΡ€ΠΎΠ²Π°Π» тСста ΠΏΠΎ Π΄Π°Π½Π½ΠΎΠΌΡƒ ΠΊΡ€ΠΈΡ‚Π΅Ρ€ΠΈΡŽ Π½Π΅ стоит Ρ€Π°ΡΡ†Π΅Π½ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π°Π»
считыватСля Π²ΠΎΠΎΠ±Ρ‰Π΅, подходящСго ΠΏΠΎ всСм ΠΎΡΡ‚Π°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΌ критСриям.
5.5 ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 3 (ΠΎΠ±ΡΠ·Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ)
5.5.1 ΠžΠ±Ρ‰ΠΈΠ΅ полоТСния
ВСсты соотвСтствия для ISO/IEC 18000-3, Π Π΅ΠΆΠΈΠΌ 2, описаны нСзависимо ΠΎΡ‚ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Π° ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ. Для тСстов
ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ ΠΌΠ΅Π½ΡŒΡˆΠΈΡ… ΠΈΠ»ΠΈ Ρ€Π°Π²Π½Ρ‹Ρ… ID-1 (ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΎ Π² ISO/IEC 7810) всС измСрСния ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Ρ‹ Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ A,
Π² Ρ‚ΠΎ врСмя ΠΊΠ°ΠΊ ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ B примСняСтся для Π±ΠΎΠ»ΡŒΡˆΠΈΡ… ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ.
5.5.2 Аппаратура тСстирования ΠΈ схСма испытаний
Π­Ρ‚Π° Ρ‡Π°ΡΡ‚ΡŒ опрСдСляСт Π°ΠΏΠΏΠ°Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Ρƒ ΠΈ Ρ†Π΅ΠΏΠΈ тСстирования для ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΊΠΈ работоспособности ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΈΠ»ΠΈ
считыватСля согласно Π±Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΌΡƒ стандарту ISO/IEC 18000-3. Аппарат тСстирования Π²ΠΊΠ»ΡŽΡ‡Π°Π΅Ρ‚:
⎯ ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΡƒΡŽ Ρ€Π°ΠΌΠΊΡƒ (см. 5.5.2.1)
⎯ Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля (см. 5.5.2.2)
⎯ Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ (см. 5.5.2.4)
⎯ Π¦ΠΈΡ„Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΠΉ осциллограф с Π²Ρ‹Π±ΠΎΡ€ΠΊΠΎΠΉ (см. 5.5.2.5).
Они описаны Π² ΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΡ… ΠΏΡƒΠ½ΠΊΡ‚Π°Ρ….
5.5.2.1 ΠšΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½Π°Ρ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°
Π­Ρ‚ΠΎΡ‚ ΠΏΡƒΠ½ΠΊΡ‚ описываСт Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€, Ρ‚ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Ρƒ ΠΈ характСристики ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Ρ‹ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ.
5.5.2.1.1 Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
ΠŸΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½Π°Ρ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π° ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ состоит ΠΈΠ· области, высота ΠΈ ΡˆΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° ΠΊΠΎΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠΉ ΠΎΠ±ΠΎΠ·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½Ρ‹ Π½Π°
РисункС 5 β€” с ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ²ΠΈΡ‚ΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ, концСнтричСской с ΠΊΠΎΠ½Ρ‚ΡƒΡ€ΠΎΠΌ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ.
14 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

Рисунок 5 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
5.5.2.1.2 Π’ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Π° ΠΈ ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€ΠΈΠ°Π» основы ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
Π’ΠΎΠ»Ρ‰ΠΈΠ½Π° ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Ρ‹ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ 0,76 ΠΌΠΌ +/- 10 %. Она Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΠΈΠ·Π³ΠΎΡ‚Π°Π²Π»ΠΈΠ²Π°Ρ‚ΡŒΡΡ ΠΈΠ· подходящСго
изоляционного ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€ΠΈΠ°Π»Π°, Ρ‚Π°ΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΠ°ΠΊ FR4 ΠΈΠ»ΠΈ эквивалСнтного.
5.5.2.1.3 Π₯арактСристики Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
Π Π°ΠΌΠΊΠ° Π½Π° ΠΏΠ΅Ρ‡Π°Ρ‚Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π΅ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΠΈΠΌΠ΅Ρ‚ΡŒ 1 слой. Π’Π½Π΅ΡˆΠ½ΠΈΠΉ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½
Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Ρ‚Π°ΠΊΠΈΠΌ, ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π½Π° РисункС 5 с ΡƒΠ³Π»ΠΎΠ²Ρ‹ΠΌ радиусом co.
Π Π°ΠΌΠΊΠ° Π²Ρ‹ΠΏΠΎΠ»Π½Π΅Π½Π° Π² Π²ΠΈΠ΄Π΅ ΡˆΡ‚Π°ΠΌΠΏΠΎΠ²Π°Π½Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π½Π° ΠΏΠ»Π°Ρ‚Π΅ с ΠΏΠΎΠΊΡ€Ρ‹Ρ‚ΠΈΠ΅ΠΌ ΠΈΠ· ΠΌΠ΅Π΄ΠΈ 35 ΠΌΠΊΠΌ. Π¨ΠΈΡ€ΠΈΠ½Π° ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄Π½ΠΈΠΊΠ°
ΠΊΠΎΠ½Ρ‚ΡƒΡ€Π° составляСт 500 ΠΌΠΊΠΌ +/- 20 %. Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ соСдинСния ΠΊΠΎΠ»ΠΎΠ΄ΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ 1,5 ΠΌΠΌ Γ— 1,5 ΠΌΠΌ.
Высокоомный ΠΏΡ€ΠΎΠ±Π½ΠΈΠΊ осциллографа (Π½Π°ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€, > 1 МОм, < 14 ΠΏΠ€), Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ΅Π½ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ использован для
измСрСния напряТСния Π² Ρ€Π°Π·ΠΎΠΌΠΊΠ½ΡƒΡ‚ΠΎΠΉ Ρ†Π΅ΠΏΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ. РСзонансная частота всСй установки
(калибровочная Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ°, ΡΠΎΠ΅Π΄ΠΈΠ½ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄Π° ΠΈ ΠΏΡ€ΠΎΠ±Π½ΠΈΠΊ) Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π²Ρ‹ΡˆΠ΅ 60 ΠœΠ“Ρ†.
5.5.2.2 Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля для Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции состоит ΠΈΠ· Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ считыватСля ΠΈ Π΄Π²ΡƒΡ…
ΠΏΠ°Ρ€Π°Π»Π»Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… Ρ€Π°ΠΌΠΎΠΊ: Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ А ΠΈ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π’.
Π˜ΡΠΏΡ‹Ρ‚Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Π°Ρ установка ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π° Π½Π° РисункС 6. Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ располоТСны Ρ‚Π°ΠΊ, Ρ‡Ρ‚ΠΎ сигнал
ΠΎΡ‚ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ находится Π² ΠΏΡ€ΠΎΡ‚ΠΈΠ²ΠΎΡ„Π°Π·Π΅ ΠΊ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΎΠΉ. ΠŸΠΎΡ‚Π΅Π½Ρ†ΠΈΠΎΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ P1 (50 Ом) слуТит для Ρ‚ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ
Ρ€Π΅Π³ΡƒΠ»ΠΈΡ€ΠΎΠ²ΠΊΠΈ Ρ‚ΠΎΡ‡ΠΊΠΈ равновСсия, ΠΊΠΎΠ³Π΄Π° Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π½Π΅ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠΆΠ΅Π½Ρ‹ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΎΠΉ ΠΈΠ»ΠΈ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΎΠΉ
ΠΌΠ°Π³Π½ΠΈΡ‚Π½ΠΎΠΉ связью Ρ†Π΅ΠΏΠΈ. Емкостная Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠ° Π·ΠΎΠ½Π΄Π°, Π² Ρ‚ΠΎΠΌ числС Π΅Π³ΠΎ ΠΏΠ°Ρ€Π°Π·ΠΈΡ‚Π½ΠΎΠΉ Смкости Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
мСньшС, Ρ‡Π΅ΠΌ 14 ΠΏΠ€.
Π’ΠΠ–ΠΠž Π•ΠΌΠΊΠΎΡΡ‚ΡŒ соСдинСний ΠΈ Π·ΠΎΠ½Π΄Π° осциллографа Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ свСдСны ΠΊ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΡƒΠΌΡƒ для воспроизводимости.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 15

Рисунок 6 β€” ΠŸΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€ ΠΈΡΠΏΡ‹Ρ‚Π°Ρ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ установки
5.5.2.2.1 АнтСнна тСстируСмого считыватСля
АнтСнна тСстируСмого считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΠΈΠΌΠ΅Ρ‚ΡŒ Π΄ΠΈΠ°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ ΠΈ ΠΊΠΎΠ½ΡΡ‚Ρ€ΡƒΠΊΡ†ΠΈΡŽ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΡƒΡŽΡ‰ΡƒΡŽ рисункам
Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ C. Наладка Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²Π΅Π΄Π΅Π½Π° с ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ ΠΏΡ€ΠΎΡ†Π΅Π΄ΡƒΡ€Ρ‹ Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ D.
5.5.2.2.2 Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ
Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Ρ‹ ΠΈ конструкция Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ рисункам ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ E.
5.5.2.3 Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ ΠΈ Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π° тСстового считыватСля Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ установлСны ΠΏΠ°Ρ€Π°Π»Π»Π΅Π»ΡŒΠ½ΠΎ Π΄Ρ€ΡƒΠ³
Π΄Ρ€ΡƒΠ³Ρƒ. Π§ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Π΅ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΈ ΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠ° Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Ρ‹ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ концСнтричСскими ΠΈ расстояниС ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ
Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½Ρ‹ΠΌΠΈ ΠΏΡ€ΠΎΠ²ΠΎΠ΄Π½ΠΈΠΊΠ°ΠΌΠΈ Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ, ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π½Π° РисункС 7 β€” Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля.
РасстояниС ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ Π² тСстируСмом устройствС ΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ Π² Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Π΅ тСстового считыватСля
Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½ΠΎ ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ Ρ€Π°ΡΡΡ‚ΠΎΡΠ½ΠΈΡŽ ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ ΠΊΠ°Π»ΠΈΠ±Ρ€ΠΎΠ²ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ ΠΈ Ρ€Π°ΠΌΠΊΠΎΠΉ тСстовой Π°Π½Ρ‚Π΅Π½Π½Ρ‹
считыватСля.
16 Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ

ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• 1 Π’ΠΎΠ·Π΄ΡƒΡˆΠ½ΠΎΠ΅ расстояниС позволяСт ΠΈΠ·Π±Π΅ΠΆΠ°Ρ‚ΡŒ ΠΏΠ°Ρ€Π°Π·ΠΈΡ‚Π½Ρ‹Ρ… эффСктов, Ρ‚Π°ΠΊΠΈΡ… ΠΊΠ°ΠΊ сбой настроСк ΠΏΡ€ΠΈ
Π±ΠΎΠ»Π΅Π΅ Π±Π»ΠΈΠ·ΠΊΠΈΡ… расстояниях ΠΈΠ»ΠΈ Π½Π΅ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹ ΠΈΠ·-Π·Π° ΡˆΡƒΠΌΠ° ΠΈ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΈΡ… Π²Π½Π΅ΡˆΠ½ΠΈΡ… условий.
ΠŸΠ Π˜ΠœΠ•Π§ΠΠΠ˜Π• 2 ЗначСния ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ², ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½Ρ‹Π΅ Π² Π’Π°Π±Π»ΠΈΡ†Π΅ А.2 Π΄Π°Π½Ρ‹ для тСстового считыватСля ID-1 ΠΈ
мСньшС.
Рисунок 7 β€” Π‘Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля
5.5.2.4 Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ
Π­Ρ‚Π°Π»ΠΎΠ½Π½Ρ‹Π΅ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»ΡΡŽΡ‚ значСния:
⎯ ΠΏΡ€ΠΈ тСстировании H ΠΈ H ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡ‹Ρ… считыватСлСм (Π² условиях Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΊΠΈ Π½Π° ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΎΠΉ), Π°,
min max
Ρ‚Π°ΠΊΠΆΠ΅, Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Ρ€ΠΈΡ‚ΡŒ ΡΠΏΠΎΡΠΎΠ±Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ считыватСля Π²ΠΎΠ·Π΄Π΅ΠΉΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ Π½Π° ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΡƒ
⎯ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΡΠ³Π΅Π½Π΅Ρ€ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½Ρ‹ΠΉ сигнал ΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚Π½ΠΎΠΉ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ.
5.5.2.4.1 Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для тСстирования мощности считыватСля
Π‘Ρ…Π΅ΠΌΠ° для тСстирования мощности ΠΏΡ€ΠΈΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π° Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ F. РассСиваСмая ΠΌΠΎΡ‰Π½ΠΎΡΡ‚ΡŒ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ
установлСна с ΠΏΠΎΠΌΠΎΡ‰ΡŒΡŽ рСзистора R1 ΠΈΠ»ΠΈ R2, для Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ Ρ‡Ρ‚ΠΎΠ±Ρ‹ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€ΠΈΡ‚ΡŒ H ΠΈ H соотвСтствСнно, ΠΊΠ°ΠΊ
min max
ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π² Ρ€Π°Π·Π΄Π΅Π»Π΅ 5.5.4.1.2. РСзонансная частота рСгулируСтся Π‘2.
5.5.2.4.2 Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° для тСста ΠΏΡ€ΠΈΠ΅ΠΌΠ° Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции
ΠŸΡ€ΠΈΠ½ΡΡ‚Π°Ρ схСма для тСста ΠΏΡ€ΠΈΠ΅ΠΌΠ° Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ модуляции ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π° Π² ΠŸΡ€ΠΈΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½ΠΈΠ΅ G. Нагрузочная
модуляции ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ Π²Ρ‹Π±Ρ€Π°Π½Π° ΠΊΠ°ΠΊ рСзистивная ΠΈΠ»ΠΈ рСактивная.
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° калибруСтся, ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΡ Π±Π»ΠΎΠΊ тСстового считыватСля ΡΠ»Π΅Π΄ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΠΌ ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΠΎΠΌ:
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ° помСщаСтся Π½Π° ΠΏΠΎΠ·ΠΈΡ†ΠΈΡŽ тСстируСмого устройства (DUT). Амплитуда Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΠΎΠΉ
модуляции измСряСтся, ΠΊΠ°ΠΊ ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ Π² Ρ€Π°Π·Π΄Π΅Π»Π΅ 5.5.3. Π­Ρ‚Π° Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Π° Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° ΡΠΎΠΎΡ‚Π²Π΅Ρ‚ΡΡ‚Π²ΠΎΠ²Π°Ρ‚ΡŒ
минимальной Π°ΠΌΠΏΠ»ΠΈΡ‚ΡƒΠ΄Π΅ ΠΏΡ€ΠΈ всСх значСниях напряТСнности поля ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ H ΠΈ H .
min max
Нагрузочная модуляция Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ хотя Π±Ρ‹ 10 ΠΌΠ’ для ΠΊΠ°Ρ€Ρ‚ΠΎΡ‡Π½Ρ‹Ρ… ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ ISO (ID1), для ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΈΡ…
Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ΠΎΠ² ΠΏΡ€ΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒ ΡƒΠΊΠ°ΠΆΠ΅Ρ‚ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡŒΠ½ΡƒΡŽ Π½Π°Π³Ρ€ΡƒΠ·ΠΎΡ‡Π½ΡƒΡŽ ΠΌΠΎΠ΄ΡƒΠ»ΡΡ†ΠΈΡŽ.
Β© ISO/IEC 2011 – ВсС ΠΏΡ€Π°Π²Π° ΡΠΎΡ…Ρ€Π°Π½ΡΡŽΡ‚ΡΡ 17

5.5.2.4.3 Π Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€Ρ‹ эталонных ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠΊ
Эталонная ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠ°, ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΡƒΠ΅ΠΌΠ°Ρ для ΠΈΠ·ΠΌΠ΅Ρ€Π΅Π½ΠΈΠΉ, Π΄ΠΎΠ»ΠΆΠ½Π° Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ описана Π² ΠΎΡ‚Ρ‡Π΅Ρ‚Π΅ испытаний. Рисунок 8 Π²
качСствС ΠΏΡ€ΠΈΠΌΠ΅Ρ€Π° ΠΏΠΎΠΊΠ°Π·Ρ‹Π²Π°Π΅Ρ‚ Ρ€Π°Π·ΠΌΠ΅Ρ€ эталонной ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΊΠΈ ΠΊΠ°Ρ€Ρ‚Ρ‹ ISO, которая состоит ΠΈΠ· облас
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.

Loading comments...