ISO 15932:2013

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 15932
First edition
2013-12-15
Microbeam analysis — Analytical
electron microscopy — Vocabulary
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique
— Vocabulaire
Reference number
ISO 15932:2013(E)
©
ISO 2013

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ISO 15932:2013(E)

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Web www.iso.org
Published in Switzerland
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ISO 15932:2013(E)

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
0 Scope . 1
1 Abbreviated terms . 1
2 Definitions of terms used in the physical basis of AEM . 2
3 Definitions of terms used in AEM instrumentation . 5
4 Definitions of terms used in specimen preparation of AEM .10
5 Definitions of terms used in AEM image formation and processing .11
6 Definitions of terms used in AEM image interpretation and analysis .13
7 Definitions of terms used in the measurement and calibration of AEM image magnification
and resolution .17
8 Definitions of terms used in electron diffraction in AEM .18
Bibliography .21
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Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2. www.iso.org/directives
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received. www.iso.org/patents
Any trade name used in this document is information given for
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 15932
Première édition
2013-12-15
Analyse par microfaisceaux —
Microscopie électronique analytique
— Vocabulaire
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Numéro de référence
ISO 15932:2013(F)
©
ISO 2013

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ISO 15932:2013(F)

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Version française parue en 2014
Publié en Suisse
ii © ISO 2013 – Tous droits réservés

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ISO 15932:2013(F)

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
0 Domaine d’application . 1
1 Termes abrégés . 1
2 Définitions des termes utilisés dans les bases physiques de la MEA .2
3 Définitions de termes utilisés dans l’instrumentation de MEA . 6
4 Définitions des termes utilisés dans la préparation de l’échantillon en MEA .11
5 Définitions des termes utilisés dans la formation et le traitement des images en MEA .12
6 Définitions des termes utilisés dans l’interprétation et l’analyse des images en MEA .14
7 Définitions des termes utilisés pour le mesurage et l’étalonnage du grandissement et de la
résolution d’image MEA .18
8 Définitions des termes utilisés dans la diffraction des électrons en MEA .19
Bibliographie .22
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ISO 15932:2013(F)

Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne
la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/CEI, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/CEI, Partie 2 (voir www.
iso.org/directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant les
références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de l’élaboration
du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou sur la
...