ISO 7976-1:1989

NORME
ISO
INTERNATIONALE 7976-1
Première édition
1989-03-01
Tolérances pour le bâtiment - Méthodes de
mesure des bâtiments et des produits pour le
bâtiment -
Partie 1 :
Méthodes et instruments
Tolerances for building - Methods of measurement of buildings
and building
products -
Part 7 : Methods and instruments
Numéro de référence
ISO 7976-l : 1989 (FI
IsO 7976-l : 1989 (FI
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration
des Normes internationales est en général confiée aux comités techniques de I’ISO.
Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec I’ISO participent également aux travaux. L’ISO col-
labore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO. Les Normes internationales sont approuvées confor-
mément aux procédures de I’ISO qui requièrent l’approbation de 75 % au moins des
comités membres votants.
La Norme internationale ISO 7976-l a été élaborée par le comité technique ISO/TC 59,
Cons truc tion immobilière.
L’attention des utilisateurs est attirée sur le fait que toutes les Normes internationales
sont de temps en temps soumises à révision et que toute référence faite à une autre
Norme internationale dans le présent document implique qu’il s’agit, sauf indication
contraire, de la dernier-e édition.
0 Organisation internationale de normalisation, 1989 0
Imprimé en Suisse
ii
ISO7976-1 : 1989 (FI
Sommaire
Page
1 Objet et domaine d’application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
2 Références .
.......................................................... 1
3 Généralités
3.1 Méthodes de mesure. . 1
3.2 Influence des écarts par rapport aux conditions de référence .
Section un: Méthodes de mesure pour les mesurages pouvant être
effectués aussi bien dans les usines que sur les chantiers
4 Dimensions des composants. . . . . . . . . . . . . . m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
4.1 Longueur et largeur. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.2 Épaisseur ou profondeur. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.3 Tableau des exactitudes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
5 Équerrage (perpendicularik) des composants . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
.................................................. 10
5.1 Écart angulaire
..................................................... 15
5.2 Parallélisme
5.3 Tableau des exactitudes . 15
6 Rectitude et contre-flèche des composants . 16
6.1 Rectitude . 16
...................................... 18
6.2 Contre-flèche de conception
.......................................... 19
6.3 Tableau des exactitudes
7 Planéité et gauchissement des composants . 19
7.1 Principes de mesure . 19
................................................ 22
7.2 Planéité générale
7.3 Planéité locale . 25
7.4 Gauchissement . 28
7.5 Méthodes et équipement pour mesurer des composants conformément
au principe du volume-enveloppe . 29
7.6 Tableau des exactitudes . 32
Section deux: Méthodes de mesure pour les mesurages ne pouvant
pas être effectués que sur les chantiers
6 Position dans le plan horizontal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
8.1 Écarts par rapport à un quadrillage de structure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . .
III
ISO7976-1 : 1989 (FI
8.2 Écarts par rapport aux tracés secondaires parallèles au bâtiment . 39
8.3 Écarts par rapport aux tracés secondaires perpendiculaires au bâtiment . 41
8.4 Tableau des exactitudes 42
.........................................
9 Écarts de niveau (nivellement). .
9.1 Tableau des exactitudes .
10 Verticalité .
10.1 Emploi d’un théodolite ou d’un instrument pour la détermination
delaverticalité . 46
10.2 Emploi d’un clinomètre .
10.3 Emploi d’un fil à plomb 53
.........................................
10.4 Tableau des exactitudes .
11 Excentricité . 54
11.1 Tableau des exactitudes 55
........................................
12 Position par rapport à d’autres composants (ouvertures et espaces) . 56
12.1 Tableau des exactitudes . 65
13 Planéité, rectitude, contre-flèche de conception .
13.1 Tableau des exactitudes
........................................ 66
14 Autres écarts importants . 67
14.1 Profondeur d’appui . 67
14.2 Largeur de joint 67
...............................................
14.3 Désaffleurement à un joint . 68
14.4 Tableau des exactitudes .
Section trois: Instruments de mesure
15 Instruments de mesure . 69
15.1 Généralités 69
...................................................
15.2 Pieds à coulisse . 69
15.3 Appareils de mesure de distance à train d’ondes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
15.4 Gabarits (( passe-passe pas )). . 70
15.5 Clinomètres (inclinomètres) . 70
15.6 Instruments à laser . 70
15.7 Niveaux à bulle (niveaux de maçon) .
15.8 Niveauxd’eau . 72
15.9 Niveaux . 72
15.10 Perches télescopiques à micromètre. . 73
15.11 Palmers.: .
15.12 Micromètres optiques à loupe . 74
15.13 Règlegraduées . 74
15.14 Perches télescopiques de mesure 74
...............................
15.15 Coinsgradués .

ISO7976-1 : 1989 (FI
15.16 Plombs optiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
15.17 Filsàplomb .
........................................... 75
15.18 Accessoires de repérage
........................................ 75
Équerres optiques à prisme.
15.19
Équerres .
15.20
15.21 Règlesdroites .
__
................................ 77 .
Rubans d’acier pour mesures courtes
15.22
Rubansd’acier. .
15.23
..........................................
15.24 Signaux (jalons de visée)
15.25 Théodolites .
Trépieds .
15.26
Annexe : Correction des rubans
A.1 Correction de chaînette .
..........................................
A.2 Correction de température
............................................ 80
A.3 Correction d’inclinaison.
Page blanche
NORME INTERNATIONALE
ISO 7976-l : 1989 (FI
Tolérances pour le bâtiment - Méthodes de mesure
des bâtiments et des produits pour le bâtiment -
Partie 1 :
Méthodes et instruments
1 Objet et domaine d’application ISO 7976-2, Tolérances pour le bâtiment - Mhthodes de
mesure des bâtiments et des produits pour le bâtiment -
La présente partie de I’ISO 7976 donne à choisir quelques
Partie 2: Positions des points de mesure.
méthodes de mesure pour déterminer la forme, les dimensions
ISO 8322, Construction immobili&re - Instruments de mesure
et les écarts dimensionnels de bâtiments et de produits pour le
dans le bâtiment - Procédures de dé termina tion de l’exac ti-
bâtiment destinés à être ajustés. Les méthodes peuvent égale-
tude d’utilisation -
ment être appliquées lorsque des données sur l’exactitude doi-
vent être recueillies dans des usines ou sur les chantiers.
Partie I : Théorie. 1)
Des renseignements sont donnés concernant les écarts des
Partie 2: Rubans de mesure. 1)
parties du bâtiment ou des produits pour le bâtiment, que l’on
Partie 3: lnstrumen ts optiques de nivellement. 1)
peut recueillir avec l’équipement décrit.
Partie 4: Théodolites. 1)
Les méthodes de mesure concernent essentiellement les objets
Partie 5: Instruments de plombage optique. 1)
dont les faces ont une forme rectiligne et dont le module d’élas-
ticité est supérieur à 35 kPa, par exemple le béton, le bois,
Partie 6: Instruments à laser. 1)
l’acier, le plastique dur. Les produits pour le bâtiment consti-
Partie 7: lnstrumen ts utilisés pour hmplan ta tion. 1)
tués de laine de verre et de matériaux mous similaires n’entrent
pas dans l’objet de la présente partie de I’ISO 7976.
Partie 8: Appareils de mesure de distance à train d’ondes. 1)
Les règles pour le contrôle de qualité à toutes les étapes du
mesurage telles que la fréquence, le lieu, la durée des vérifica-
3 Généralités
tions, etc., n’entrent pas dans l’objet de la présente partie de
I’ISO 7976.
3.1 Méthodes de mesure
L’ISO 7976-Z donne les positions des points de mesure à utiliser
Les méthodes de mesure se rapportent aux dimensions princi-
pour les mesurages décrits dans la présente partie de
pales des produits pour le bâtiment, aux distances entre ces
I’ISO 7976.
produits et à leurs écarts géométriques. Elles peuvent cepen-
dant s’appliquer aussi à des parties et à des fractions de pro-
Pour faciliter les références croisées, la même numérotation est
duits pour le bâtiment.
utilisée dans les deux parties de la présente Norme internatio-
nale.
Les objets à mesurer doivent être supportés comme ils le seront
en service. Lorsque ceci est irréalisable, les conditions d’appui
doivent être agréées dans le mode opératoire de mesurage. Si
2 Références
des composants sont mesurés alors qu’ils se trouvent dans un
gabarit ou dans un moule de fabrication, il faut le noter. Les
ISO 4464, Tolérances pour le bâtiment - Liaison entre les
composants flexibles doivent toujours reposer entièrement sur
divers types d’écarts et de tolérances utilisés pour la spécifica-
une surface plane.
.
tion.
Pour les mesurages de conformité comme pour le recueil de
ISO 7078, Construction immobilière - Procédés pour l’implan-
données sur l’exactitude, la procédure de mesurage doit être
tation, le mesurage et la topométrie - Vocabulaire et notes
notablement plus précise que l’écart admissible spécifié pour le
explicatives.
procédé de fabrication ou de construction à mesurer.
1) Actuellement au stade de projet.
ISO7976-1 : 1989 (F)
D’autres conditions de référence, telles que l’humidité du bois
Les dipositions qui rendent possible la vérification de I’exacti-
et l’âge des composants en béton doivent être prises en compte
tude de la procédure de mesurage forment une part essentielle
là où il convient.
de la méthode. (Voir ISO 8322, parties 1 à 8.)
Dans l’enregistrement du résultat d’un mesurage, les condi-
La température effective, soit de l’objet à mesurer, soit du
être notées où il convient :
tions suivantes doivent ner
matériel de mesure, peut en pratique être difficile à détermi
du fait qu’il est improbable que chacun sera à une température
-
identification de l’opérateur, de l’instrument et du
unique et parce qu’il existera des températures différentes à
moment;
l’intérieur de l’objet à mesurer ou dans le matériel. La solution la
- plus satisfaisante est de laisser à l’objet à mesurer aussi bien
position et situation de l’objet au moment du mesu-
qu’au matériel de mesure le temps qui convient pour qu’ils
rage;
-
atteignent une température ambiante stable. Cette température
-
température et humidité de l’objet au moment du
peut alors être mesurée et l’on peut admettre n’importe quel
mesurage;
écart par rapport à la température de référence spécifiée.
-
tous autres éléments concernant le mesurage.
Pour autant que le matériel de mesure est concerné, les sources
II est habituellement possible de mesurer directement sur des
les plus probables d’une élévation de température se trouvent
surfaces sortant d’un moule lisse. Des défauts locaux tels que dans la manipulation du matériel et dans les différences entre la
des pores, des brûlures et des défauts de coulage doivent être
température ambiante et la condition de référence. L’objet à
évités dans le mesurage. Ils ne doivent pas figurer comme des
mesurer est également affecté par la température ambiante et
dimensions incorrectes mais leur présence doit être notée.
peut aussi être soumis à un chauffage considérable pendant sa
Dans le cas d’une surface présentant une rugosité considérable
fabrication.
par rapport aux écarts admissibles, les mesurages peuvent être
spécifiés comme devant être effectués à l’aide d’accessoires de Dans cet exemple, la température de référence considérée est
20 OC. Les symboles suivants sont utilisés:
repérage suffisamment grands que l’on place sur l’objet à
mesu rer.
est la température de l’objet à mesurer, en degrés
À la fin de chacun des chapitres 4 à 14 se trouve un tableau qui
Celsius;
spécifie les points suivants concernant chacune des opérations
est la température du matériel de mesure, en degrés
de mesurage traitées dans ce chapitre:
t2
Celsius;
- l’opération de mesurage;
est le coefficient de dilatation de l’objet à mesurer;
a1
-
les limites de l’exactitude du mesurage en termes
d’écart admissible de l’objet à mesurer;
est le coefficient de dilatation du matériel de mesure;
a2
- le champ mesurable;
ht, est la différence de température par rapport à 20 OC de
l’objet à mesurer (At, = t, - 20);
- le choix de l’instrument de mesure.
At2 est la différence de température par rapport à 20 OC du
3.2 Influence des écarts par rapport aux
matériel de mesure (ht2 = t2 - 20);
conditions de référence
L est la longueur mesurée.
Des variations dans les conditions ambiantes par rapport aux
valeurs de référence spécifiées peuvent provoquer des erreurs Dans ces conditions, l’erreur de mesure AL entraînée par les
dans la valeur mesurée d’une dimension. La température, et
différences de température At, et At2 est donnée par:
particulièrement le plein soleil, est habituellement la plus signifi-
AL = L (a1 At, - a2 At2)
cative de ces conditions ambiantes.
ISO7976-1 : 3989 (F)
Section un I Méthodes de mesure pour les mesurages pouvant être effectués
aussi bien dans les usines que sur les chantiers
NOTE - La plupart des exemples concernant les composants sont Une attention particulière doit être portée à la tension et à la
applicables également aux parties des ouvrages réalisées sur le chantier.
température lorsque l’on mesure avec des rubans. On doit utili-
ser un dynamomètre appliquant la tension de référence lorsque
c’est spécifié ou quand la longueur à mesurer dépasse 10 m. II
4 Dimensions des composants
est recommandé de placer le ruban sur un support afin de
réduire l’influence de la température de l’objet à mesurer (voir
Ce chapitre donne des exemples d’instruments et de méthodes
figure 1). II faut noter que lorsque le ruban repose sur un com-
de mesure pour la détermination de la longueur, de la largeur et
posant pour le bâtiment ou sur un plancher, la température de
de l’épaisseur des composants.
cet objet mesuré peut différer de la température mesurée de
Les dimensions linéaires sont déterminées en utilisant les instru- l’air ambiant et entraîner ainsi des erreurs de mesure (voir 3.2).
ments de mesure (avec ou sans l’aide d’accessoires de repérage) Cette erreur peut être réduite en placant le ruban sur des sup-
décrits au chapitre 15 où sont également mentionnées les ports. La véritable température du ruban peut être mesurée
erreurs typiques et les précautions à prendre. avec un thermomètre de contact.
Figure 1
ISO 7976-1 : 1989 (F)
4.1 Longueur et largeur
II faut utiliser des accessoires de repérage (voir chapitre 15) sur les composants qui n’ont pas d’arêtes nettement définies, pour amé-
liorer l’exactitude de mesurage. Les accessoires de repérage doivent être maintenus ou bloqués contre les faces appropriées du
composant de façon a définir des arêtes précises autant qu’il est nécessaire pendant la durée du mesurage. Un exemple d’utilisation
de corniéres est donné en figure 2.
Repère
I
Illlrllll rlllllrlllrll~
0 0
r
Figure 2
4m
10 18 19 21 22
8 9 11 12
-t
R
R
1 : Ruban
Exemple : R, 4,193
2 : Corniére
3 : Dynamomètre - 0,100
RI
4 : Lecture
L= 4,093
5 : Lecture
NOTE - Quand le zéro est à l’extrémité du ruban, les lectures doivent être faites en deux endroits.
Figure 3
ISO 7976-l : 1989 (FI
Le résultat d’un mesurage entre deux points opposés autres que deux sommets d’angle peut servir à vérifier grossièrement le résultat
du mesurage des écarts de rectitude. (Voir chapitre 6 et figure 4.)
--
---
--
l
I
\
I
\
I
a2
--
Figure 4
Des erreurs affectent les mesurages lorsque ces derniers sont effectués le long de surfaces convexes car l’arc AB est toujours plus
long que la corde AB. Les exigences courantes sur l’exactitude permettent de faire des lectures au millimètre près. Ceci implique
qu’une légère courbure puisse être acceptée en pratique. (Voir figure 5.)
Arc AB > corde AB
D= Hauteur de l’arc
Figure 5
ISO 7976-l : 1989 (FI
Un diagramme des corrections à effectuer quand on mesure le long de composants convexes est donné en figure 6.
0D
=--
L-4
3L
L
230.
- -
:lr;o
E
E 130
L L
CU
L
12c
%
/
L
2 110
(Len mm)
2 lot
- 9(
8t
7(
Longueurs mesurées, L, et D
6(
000 mm
Exemple Lt=9
= 116 mm
D
= -4mm
C
L=9 OOO-4=8 996mm
lq
1 I
I I
0’1
24 26 28 30
14 16 18 20 22
0 2 4 6 8 10 '12
Longueur mesurée, L, m
Figure 6
ISO7976-1:1989(F)
4.2 Épaisseur ou profondeur
Les épaisseurs (ou profondeurs) des composants sont déterminées en utilisant les instruments décrits au chapitre 15 et en principe
selon la même procédure que celle décrite en 4.1.
Lorsque c’est nécessaire, il faut utiliser des repères d’angle et/ou des repères d’arête.
On utilise des instruments à grande surface de contact pour les matériaux à surface rugueuse.
Les épaisseurs doivent être mesurées perpendiculairement à au moins l’une des surfaces du composant. (Voir figure 7.)
Pied à coulisse
Figure 7
ISO7976-1:1989(F)
4.3 Tableau des exactitudes
Si les valeurs de I’kart
Champ mesurable Instrument de mesure
Mesurage admissible spécifié pour
l’objet dépassent :
1 2 3 4
f 3mm Longueurs et
courtes
iargeu rs des
+3mm <3m Ruban d’acier étalonné
composants (4.1)
* 5mm 3àlOm Ruban d’acier étalonné
31 0,5 mm < 0,l m Pied à coulisse
* 1 mm 0,l à 0,5 m Pied à coulisse
0,5 à 2,0 m Pied à coulisse
f 2mm
Épaisseurs des
f 3mm composants (4.2)
courtes
* 5mm < 0,5 m Règle graduée et deux
jalons à voyant
5 Équerrage (perpendicularité) des composants
Ce chapitre donne des exemples d’instruments et de méthodes de mesure pour la détermination du hors-d’équerre (écart par rapport à
l’angle droit) mais il peut s’appliquer en principe à n’importe quel angle.
Conformément à I’ISO 4464 l’écart angulaire est défini comme la différence entre un angle réel et l’angle de référence correspondant.
La figure 8 montre les écarts angulaires exprimés en grades ou en degrés [figure 8a)l ou par des décalages [figure 8b)l. .
Écart angulaire
(exprimé par un décalage)
Angle de référence
a) b)
Figure 8
ISO7976-1 : 1989 (FI
Si l’on choisit d’utiliser l’expression selon b], l’écart angulaire doit être déterminé à partir du plus petit côté de l’angle et mesuré
perpendiculairement au côte correspondant de l’angle de reference.
L’&art de parallélisme, qui est une autre forme de l’écart angulaire, est traité en 5.2.
Les écarts angulaires sont determinés en utilisant les instruments et les objets décrits au chapitre 15, avec ou sans l’aide d’accessoires
de repérage.
Trois méthodes sont décrites pour déterminer les écarts par rapport à l’angle droit dans les produits pour le bâtiment. La méthode
choisie dépend de la taille de l’objet du mesurage.
En figure 9, si b et c < 1 200 mm, utiliser une équerre comme indiqué à la figure 11. Sinon, employer une lunette astronomique (voir
5.1.3) ou effectuer un mesurage des diagonales (voir 5.1.2). La mesure des diagonales, toutefois, ne peut être utilisée que lorsque
l’écart admissible par rapport à l’angle droit est supérieur à 5 mm par métre.
Les trois méthodes employées pour déterminer les écarts angulaires sont expliquées dans les exemples ci-dessous. L’écart est toujours
mesuré sur le plus petit côté de l’angle et le résultat final sera l’écart du point B ou du point C par rapport à la position recherchée.
En figure 10, les angles à mesurer sont ceux compris entre les droites concourantes avec les sommets (voir aussi figure 16).
A B
b c
Figure 9
Figure 10
ISO 7976-l : 1989 (F)
5.1 Écart angulaire
5.1.1 Mesurage avec une équerre
En figure 11, une équerre de taille suffisante est placée avec son côté plus long le long de AB de telle facon que son côté plus court
touche B ou C. L’écart angulaire du sommet B est déterminé comme indiqué.
Cornière Équerre
B
A ,
r
t
Écart angulaire négatif du sommet B
Taille maximale: 1 200 mm x 1 200 mm
Cornières en A, B et C
Figure 11
ISO 7976-l : 1989 (FI
L’équerre s’applique contre les plots S. Afin de
En figure 12, une équerre est mise en place pour le mesurage de l’écart angulaire.
réduire le frottement, le côté Lt repose sur le palier à rouleaux R.
En figure 13, la méthode de la figure 12 peut aussi être utilisée pour mesurer les écarts angulaires de poteaux.
Lorsqu’on utilise les méthodes décrites dans les figures 12 et 13, l’épaisseur des écarteurs ou des plots doit être déduite de la lecture
pour évaluer l’écart angulaire.
Figure 12
Point de mesure -
.
.
I I
\
Équerre
Écarteurs
Figure 13
La méthode montr6e en figure 14 ne peut être utilisée que s’il n’existe pas d’écarts de rectitude. Sinon, seuls sont observés les écarts
par rapport à l’angle droit de l’angle compris entre des portions des surfaces, par exemple ABC et non ABD.
5.1.2 Mesure des diagonales
En figure 15, les distances AB, BC et AC sont déterminees à l’aide de rubans et de repères d’angle.
Les dimensions de l’objet à mesurer peuvent ne pas excéder la longueur du ruban et le rapport de la largeur à la longueur de l’objet à
mesurer ne doit pas être inferieur à 1: 2.
Figure 14
cc JE3z+BC2-AC2
l-
2AB
Figure 15
ISO7976-1 : 1989 (F)
L’angle au point B peut être calculé comme suit:
AC* - AB* - BC*
cosp =
-2AB x BC
Cette maniere de procéder peut être répétée pour les points A, C et D.
La somme des angles (a + p + y + 6) doit être de 400 gr ou 360’. Tout défaut de fermeture doit être également réparti sur les quatre
angles à condition que le défaut de fermeture ne soit pas supérieur à 0,12 gr (0,ll O = 7’) pour un composant dont les dimensions
sont de l’ordre de 2 000 mm x 3 000 mm. Si le défaut de fermeture dépasse cette valeur, de nouvelles mesures doivent être
effectuées.
L’écart angulaire exprimé par un décalage (CC,) peut aussi être déterminé par rapport au côté CB de la manière suivante:
~=lOOgr-0
AB* + BC* - AC*
CC1
COS/! = sin (- 8) = BC =
2AB x BC
d’où
AB* + BC* - AC*
cc, =
2AB
5.1.3 Mesurage avec une lunette astronomique
En figure 16, une lunette astronomique est placée au point de mesure B et mise à zéro en direction de la balise A. L’instrument est
alors tourné de 100 gr (9OO) et l’ecart à la balise C est déterminé en utilisant, par exemple, une échelle millimétrique placée en ce point.
Figure 16
ISO 7976-l : 1989 (F)
La figure 17 montre une méthode pour déterminer l’écart angulaire (en B) à l’aide d’un théodolite (T) dont l’axe de visée est amené
parallèle à BA, en tournant le théodolite jusqu’à ce que les lectures sur la règle graduée (PI et P2) soient égales.
La lunette est alors tournée de 100 gr @Oo) et les distances PS et P4 sont lues à la lunette sur la règle graduée. Les distances PI à P4
doivent être de l’ordre de 500 mm à 1 000 mm. Cela signifie que, dans la plupart des cas, des lentilles additionnelles pour l’observation
à courte distance devront être montées sur le théodolite pour lire les distances PI et PS.
Dans ce cas, le décalage dû à l’écart angulaire est positif (PS - P4).
Figure 17
ISO7976=1:1989(F)
5.2 Parallélisme
L’écart de parallélisme est une forme de l’écart angulaire et c’est la différence entre l’orientation de la droite passant par A et B et
l’orientation de la ligne de référence AB, passant par A, parallèle à DC (voir figure 18). L’écart est la distance mesurée entre B et B1
(voir ISO 44641.
À la figure 18, les distances AD et BC sont mesurées à partir de C et de D, respectivement à angle droit avec CD, en pratique parallèle-
ment aux arêtes BC et AD, en utilisant les instruments conformément au chapitre 15. La différence entre AD et BC est l’écart de paral-
lélisme entre AB et CD.
Écart
B
Figure 18
5.3 Tableau des exactitudes
Si les valeurs de l’écart
Mesurage admissible spécifié pour Champ mesurable Instrument de mesure
l’objet dépassent :
I!I 4mm < 1,2m Équerre
Écart angulaire
de composants Ruban d’acier étalonné
* 5 mmlm < 30 m
(5.1)
f 7 mm < 30 m Instrument optique
I!I 2mm ~ Écart de parallélisme * 3mm <3m Ruban d’acier étalonné
(5.2) rt 5mm 3àlOm Ruban d’acier étalonné
* 5mm <3m Règle graduée
ISO7976-1 : 1989 (FI
6 Rectitude et contre-flèche des composants
Ce chapitre présente des exemples d ‘instruments de mesure et d’objets servant a mesurer pour déterminer les écarts de rectitude et de
contre-flèche de conception.
6.1 Rectitude
Conformément à I’ISO 4464, l’écart de rectitude est défini comme la différence entre la forme réelle d’une ligne et la ligne droite. Les
écarts Q et b sont mesurés par la distance de points sur la ligne réelle à la ligne droite joignant les extrémités A et B de la ligne réelle.
(Voir figure 19.)
Les écarts de rectitu de sont déterminés en utilisant les instruments et les objets décrits au chapitre avec ou sans l’aide d’acces-
15,
soires de repérage.
Les extrémités de la ligne, ordinairement une arête, le long de laquelle l’écart de rectitude doit être mesuré, sont jointes en utilisant un
fil tendu entre les deux points extrêmes, A et B, une règle droite reposant sur des accessoires de repérage, ou l’axe de visée d’une
lunette astronomique.
B
A
--
Figure 19
ISO7976-1 : 1989 (FI
6.1.1 Mesurage avec une r&gle droite
II convient que la longueur de la règle ne dépasse pas 3 m.
En figure 20 est illustré le mesurage avec une régie droite et des repéres d’angle le long de la rive de l’objet mesuré.
Dimensions en millimètres
Cas 2
-Cas 1
I \ \
l
\
n I
I
aJ
Q
\
---m
---
\-
Plot J
d = écart de rectitude
e = hauteur des plots
L’écart est calculé de la manière suivante:
Exemple
e = hauteur des plots: 25 mm
écart d = e - lecture
Cas 1 : d = 25 - 15 Cas2: d = 25 - 32
=
d - 7 mm Mg.)
d = 10 mm (pas.)
Figure 20
SO7976-1 : 1989 FI
6.1.2 Mesurage avec un fil tendu
La méthode montrée en figure 21 consiste à établir une ligne de référence avec un fil tendu en acier ou en nylon, supporté à ses extré-
mités par des écarteurs et des accessoires assurant la tension. Le fil est maintenu en place, à 50 mm de l’arête, par un sillon.
Le but de I’écarteur et des accessoires de tension est de maintenir le fil à une distance prédéterminée des sommets d’angle de l’objet
mesuré et de s’assurer qu’il ne touche pas la surface.
6.1.3 Mesurage avec une lunette astronomique
Les méthodes décrites en 5.1.3 pour l’emploi d’une lunette astronomique dans la détermination d’un écart angulaire peuvent égale-
ment être utilisées pour déterminer la rectitude de composants.
6.2 Contre-flèche de conception
Les méthodes décrites en 6.1.1 à 6.1.3 peuvent également être utilisées pour déterminer les écarts par rapport à une contre-flèche de
conception.
Figure 21
&07976-1 : 1989 (FI
6.3 Tableau des exactitudes
Si les valeurs de l’écart Champ mesurable
admissible spécifié pour (longueur Instrument de mesure
de mesurage)
l’objet dépassent:
2 3 4
f 2mm <3m Coin gradué ( < 30 mm),
règle droite et repères
d’angle
Règle, règle droite et
f 3mm <3m
Écart de rectitude
t--
repéres d’angle
et par rapport à une
contre-f lèche
Coin gradué ( < 30 mm) et fil
* 2mm <2m
de conception
AI 4mm 2à5m d’acier ou de nylon ( < 10 m),
(6.1 et 6.2)
et repères d’angle
+ 8mm 5àlOm
3~ 3mm <2m Règle et fil d’acier ou de
2à5m nylon, et repères d’angle
f 5mm
+ IOmm 5àlOm
-
un plan moyen des quatre sommets;
7 Planéité et gauchissement des composants
-
un plan déterminé à l’aide de la méthode des moindres
Ce chapitre présente des exemples d’instruments, d’objets, de
carrés;
méthodes de mesure et de plans de référence à utiliser pour
-
déterminer la planéité. par rapport à certaines droites (planéité locale);
-
par rapport à une (( boîte» (le principe du volume-
Conformément à I’ISO 4464 l’écart de planéité est défini comme
enveloppe);
la différence entre la forme réalisée d’une surface et celle d’une
-
un plan passant par trois sommets (gauchissement).
surface plane. Dans le cas de planéité locale, les surfaces men-
tionnées ci-dessus sont remplacées respectivement par une
ligne et par une droite. Quand on détermine les écarts de
7.1.1 Plan moyen
planéité, il est nécessaire de décider à partir de quel plan de
Les écarts de planéité sur une surface rectangulaire peuvent
référence les écarts de surface vont être mesurés.
être déterminés, conformément à I’ISO 4464, à l’aide d’un plan
moyen pour l’ensemble des quatre sommets. Ce plan moyen
7.1 Principes de mesure sera situé à une distance de S/4 au-dessus de deux sommets
diagonalement opposés et à S/4 au-dessous des deux autres
sommets (voir figure 22)’ où S et le degré de gauchissement
Un plan de référence peut être défini de nombreuses facons dif-
,
férentes, comme par exemple : déterminé comme indiqué.
a, b, c et d sont
les écarts de planéité
Figure 22
ISO7976-1 : 1989 (F)
En figure 22, le plan de référence est le plan moyen passant par
rente par rapport au plan mesuré. Ce n’est que dans le cas où la sur-
face à mesurer fait déjà partie du bâtiment construit que les deux direc-
A + Sl4, B - S/4, C + SI4 et D - Sl4. Les écarts de planéité
tions peuvent faire normalement l’objet d’exigences d’exactitude.
sont mesurés en des points répartis sur toute la surface et pas
seulement sur des sections; les sections sont représentées sur
La figure 23 montre le plan de référence à calculer à l’aide de la
la figure dans un but de simplicité. La surface est examinée par
méthode des moindres carrés.
rapport au plan moyen. L’écart de planéité est exprimé positive-
ment et négativement par la plus grande distance d’un point
Une expression de la qualité de la planéité peut - au moyen
situé au-dessus et d’un point situé au-dessous de ce plan.
d’un exemple -
être spécifiée ainsi :
7.1.2 Méthode des moindres carrés
1 V pos. 1 + 1 V neg. 1 < T., mm
Une définition plus générale de la planéité est celle où le plan de
où
réference est construit de telle sorte que la somme des écarts
de planéité par rapport à ce plan de référence est nulle, c’est-à-
v pos. est le plus grand écart positif;
dire que la somme des écarts positifs est égale à la somme des
V nég. est le plus grand écart négatif;
écarts négatifs et que la somme des carrés de ces écarts est
minimale (méthode des moindres carrés). Un tel plan implique
est la tolérance de planéité prescrite.
TfI
qu’un grand nombre de mesurages sont indispensables
(environ 16 points sur un composant de dimensions
On peut mesurer les écarts de planéité locale par rapport à cer-
4 000 mm x 6 000 mm) et que les calculs doivent être faits par
taines lignes droites selon certaines directions.
un ordinateur.
II faut noter que lorsque l’on utilise la méthode des moindres 7.1.3 Planéité locale
carrés, l’évaluation doit être confiée à du personnel bien qua-
lifié. Cette méthode donne une mesure directe de la rectitude locale
et, indirectement, une indication de la planéité. C’est une
méthode pratique pour contrôler la planéité à de nombreuses
NOTE - L’application du principe des moindres carrés implique que le
résultat des calculs donne la position et deux droites du plan de réfé- fins dans l’acte de construire.
Points de mesure à la
surface du composant
Vi = 0
Conditions:
c
52 =
minimum
c
(i = 1.1; 1.2; 1.3 . . . 4.4)
Figure 23
ISO7976-1 : 1989 0
La figure 24 montre les écarts de planéité a1 par rapport a un enveloppe est le volume de l’espace qui existe entre deux parallé-
plan de référence ABCD ou les écarts a2 par rapport à une ligne lépipèdes théoriques semblables, ayant la même orientation, dont
droite de référence passant par les points X et Y à la surface du l’un est à l’intérieur de l’autre. La distance entre les faces corres-
pondantes de ces parallélépipèdes peut être ou non également
composant.
répartie suivant les amplitudes de tolérances choisies. Aucun
point de la surface du composant ne doit sortir de ce volume. N
7.1.4 Principe du volume-enveloppe
Le principe du volume-enveloppe peut être utilisé pour determi-
NOTE - Ce principe s’applique également lorsque l’on ne considére
ner les écarts de plan&& Conformément à I’ISO 4464 le principe
que deux dimensions. Ceci sera probablement la situation la plus fré-
quente (voir figure 25.)
du volume-enveloppe est défini comme suit: G Le volume-
Figure 24
Figure 25
ISO 7976-l : 1989 (FI
Comme montre la figure 25, on peut utiliser un principe simpli- quer le plan de référence à utiliser et donner en outre les écarts
fié du volume-enveloppe pour des composants à deux dimen- admissibles. Généralement, il convient de rattacher la planéité à
sions, par exemple des barres ou des plaques. une zone spécifiée d’une surface finie, à un composant isolé, à
la jonction entre deux composants ou entre deux étapes de la
L’emploi général du principe du volume-enveloppe dans un
formation d’une surface (( plane)). Les grandes surfaces, telles
système de coordonnées tridimensionnel rectangulaire exige
que des planchers, sont habituellement assujetties à des tolé-
des mesurages dans les trois plans.
rances de niveau et quelquefois de gauchissement, par réfé-
rence aux noeuds d’un quadrillage (voir chapitre 9).
7.1.5 Gauchissement
7.2 Planéité générale
Conformément à I’ISO 4464, le gauchissement est un cas parti-
culier de l’écart de planéité. Ceci signifie que l’on peut choisir
7.2.1 Mesure des écarts de planéité avec une lunette
un plan de référence passant par trois sommets du composant
astronomique
à mesurer (ou plutôt par des points proches des sommets, du
fait que les sommets sont habituellement difficiles à identifier).
Les mesurages peuvent être effectués avec des niveaux ou des
Le gauchissement est alors défini comme la valeur absolue de
théodolites. Combinées avec le mesurage d’épaisseur, ces
l’écart du quatrième sommet par rapport à ce plan de référence.
méthodes donnent un exemple d’application du principe
Les écarts par rapport au plan de référence des points quelcon-
volume-enveloppe.
ques de la surface sont alors considérés comme des écarts de
planéité. Du fait du gauchissement, on peut observer ainsi de
Une note du sous-paragraphe 7.3.3.2 de I’ISO 4466 : 1980 éta-
grands écarts de planéité.
blit: ((En pratique la mesure est effectuée par rapport à un plan
extérieur au composant et parallèle à deux directions principa-
La figure 26 montre u n plan de référence
passant par trois som-
les de celui-ci. N
mets du composant.
Cette recommandation peut être satisfaite par les méthodes
Les écarts de planéité sont déterminés en utilisant les instru-
décrites en 7.2.2. Avec d’autres méthodes, où l’on utilise des
ments de mesure décrits au chapitre 15, où sont également
niveaux ou des théodolites, cette recommandation ne peut pas
données les sources typiques d’erreurs et les précautions à
être satisfaite. Dans de tels cas, il est recommandé de mettre de
prendre.
niveau les instruments normalement et de transformer les
Les méthodes données ci-dessous montrent quelques-unes des valeurs mesurées pour les rapporter au plan de référence choisi.
diverses possibilités pour mesurer la forme générale de la sur- On peut utiliser des calculatrices de chantier programmables
face d’un composant. Les spécifications doivent d’abord indi- pour faciliter les calculs.
Surface à mesurer
r
L Plan de référence passant par les trois sommets A, C, D
.
Figure 26
GO 7976-l : 1989 (FI
et le plus
culairement possible à l’axe de visée de l’instrument
Composant en position verticale
7.2.1.1
possible à l’objet observé.
perpendiculairement
Un plan vertical est balayé par un théodolite, un niveau à prisme
de 100 gr (SOO) ou un appareil à laser indicateur de surface. II
La figure 27 donne un de détermination de l’écart
convient que le plan se trouve approximativement à 300 mm de
général de planéité.
la surface à mesurer. Sous ensoleillement direct, cette distance
doit être augmentée jusqu’à au moins 500 mm pour éviter la
En cas d’emploi d’un théodolite, le mesurage doit être exécuté
distorsion due à la réfraction.
sur les deux faces. Afin d’éviter les erreurs de mise au point, la
distance minimale de mise au point doit être prise supérieure
L’instrument est calé de facon normale. Les règles graduées ou
à 10 m.
les mires de nivellement doivent être placées le plus perpendi-
Dimensions en millimètres
Figure 27
ISo7976-1:1989 (FI
7.2.1.2 Composant en position horizontale Les exemples donnés aux figures 29 et 30 ont pour plan de réfé-
rence un plan passant par trois sommets du composant.
L’emploi d’un niveau est recommandé. Une autre façon d’opérer
est d’utiliser un théodolite dont la lunette est calée en position
En choisissant le plan moyen pour plan de référence, les valeurs
horizontale. Les lectures sont faites sur une mire de nivellement
mesurées doivent être transformées pour être rapportées à ce
dont la verticalité doit être vérifiée à l’aide d’un niveau à bulle.
plan moyen.
En figure 28, les mires de nivellement courtes (300 mm) mon-
tées sur plateforme conviennent. Elles ont l’avantage de ne
La figure 29 donne un exemple de mesurage de la planéité par
nécessiter qu’un seul opérateur. L’inconvénient est que la
rapport à un plan de référence passant par trois sommets (B, C
réfraction peut entraîner des erreurs de lecture.
et D). (Dans certains cas, l’instrument en C est muni d’une
équerre fixe qui permet de lire directement les écarts d’équer-
7.2.2 Mesure des karts de planéité avec des rage au signal en B. 1
instruments conçus à cet effet
NOTE - II faut rappeler que les instruments devraient être examinés
En figures 29 et 30 sont donnés deux exemples d’équipement
pour déceler d’éventuelles erreurs de mise au point.
sans compensation à courte distance de mise au point spéciale-
ment concu pour le mesurage des écarts de planéité. Avec ces II n’est pas permis d’utiliser des instruments de compensation du fait
que cette méthode peut être utilisée dans n’importe quel plan, et non
ensembles d’équipement il est plus aisé de suivre la recomman-
pas sur le plan horizontal uniquement.
dation de I’ISO 4464 concernant un plan de mesure ((extérieur au
composant et parallèle aux deux directions principales du com-
posant)), que lorsqu’il est fait emploi de niveaux ou de théodoli- L’axe de visée de la lunette astronomique au point C (figure 29)
tes placés à quelque distance du composant. L’équipement
est orienté vers les points zéro des échelles en B et D. Ces
décrit aux figures 29 et 30 a l’avantage de pouvoir être utilisé pour points zéro correspondent à la hauteur de l’axe de visée
le mesurage de composants dans n’importe quelle position. au-dessus de la surface au point C.
Erreur de réfraction éventuelle
r
Figure 28
f +
Figure 29
.
ISO7976-1 : 1989 (FI
Les lectures sont alors faites en direction du signal X qui peut face de l’objet mesuré. Mesurer ainsi implique l’emploi de sec-
être placé en n’importe quel point arbitraire de la surface. (La
tions.
lecture au point A donne le gauchissement, voir 7.4.) Le même
principe de mesurage peut s’appliquer avec l’équipement Pour cette méthode simplifiée, les détails suivants doivent être
donné en figure 30, qui comprend un indicateur lumineux de notés dans le programme de contrôle:
plan (D) et un dispositif de mesure (M), détecteur ou lunette,
centré dans le plan de référence défini par l’appareil D.
- dans quelle direction et sur quel côté de la surface il
convient de choisir les sections;
Le mesurage de la planéité des surfaces opposées (avec I’ins-
trument en deux positions, face droite en haut et face supé-
- de combien de sections et de combien de points par
rieure basculée) combiné avec celui de l’épaisseur est un exem-
section il convient de rendre compte;
ple d’application du principe du volume-enveloppe.
- de quelle facon il convient de présenter les résultats;
,
7.3 Planéité locale
- tout autre détail important.
Les méthodes spécifiées ne donnent pas les écarts de planéité
par rapport à un certain plan de référence mais seulement les Dans l
...

NORME
ISO
INTERNATIONALE 7976-1
Première édition
1989-03-01
Tolérances pour le bâtiment - Méthodes de
mesure des bâtiments et des produits pour le
bâtiment -
Partie 1 :
Méthodes et instruments
Tolerances for building - Methods of measurement of buildings
and building
products -
Part 7 : Methods and instruments
Numéro de référence
ISO 7976-l : 1989 (FI
IsO 7976-l : 1989 (FI
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration
des Normes internationales est en général confiée aux comités techniques de I’ISO.
Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec I’ISO participent également aux travaux. L’ISO col-
labore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO. Les Normes internationales sont approuvées confor-
mément aux procédures de I’ISO qui requièrent l’approbation de 75 % au moins des
comités membres votants.
La Norme internationale ISO 7976-l a été élaborée par le comité technique ISO/TC 59,
Cons truc tion immobilière.
L’attention des utilisateurs est attirée sur le fait que toutes les Normes internationales
sont de temps en temps soumises à révision et que toute référence faite à une autre
Norme internationale dans le présent document implique qu’il s’agit, sauf indication
contraire, de la dernier-e édition.
0 Organisation internationale de normalisation, 1989 0
Imprimé en Suisse
ii
ISO7976-1 : 1989 (FI
Sommaire
Page
1 Objet et domaine d’application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
2 Références .
.......................................................... 1
3 Généralités
3.1 Méthodes de mesure. . 1
3.2 Influence des écarts par rapport aux conditions de référence .
Section un: Méthodes de mesure pour les mesurages pouvant être
effectués aussi bien dans les usines que sur les chantiers
4 Dimensions des composants. . . . . . . . . . . . . . m . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
4.1 Longueur et largeur. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.2 Épaisseur ou profondeur. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.3 Tableau des exactitudes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
5 Équerrage (perpendicularik) des composants . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
.................................................. 10
5.1 Écart angulaire
..................................................... 15
5.2 Parallélisme
5.3 Tableau des exactitudes . 15
6 Rectitude et contre-flèche des composants . 16
6.1 Rectitude . 16
...................................... 18
6.2 Contre-flèche de conception
.......................................... 19
6.3 Tableau des exactitudes
7 Planéité et gauchissement des composants . 19
7.1 Principes de mesure . 19
................................................ 22
7.2 Planéité générale
7.3 Planéité locale . 25
7.4 Gauchissement . 28
7.5 Méthodes et équipement pour mesurer des composants conformément
au principe du volume-enveloppe . 29
7.6 Tableau des exactitudes . 32
Section deux: Méthodes de mesure pour les mesurages ne pouvant
pas être effectués que sur les chantiers
6 Position dans le plan horizontal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
8.1 Écarts par rapport à un quadrillage de structure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . .
III
ISO7976-1 : 1989 (FI
8.2 Écarts par rapport aux tracés secondaires parallèles au bâtiment . 39
8.3 Écarts par rapport aux tracés secondaires perpendiculaires au bâtiment . 41
8.4 Tableau des exactitudes 42
.........................................
9 Écarts de niveau (nivellement). .
9.1 Tableau des exactitudes .
10 Verticalité .
10.1 Emploi d’un théodolite ou d’un instrument pour la détermination
delaverticalité . 46
10.2 Emploi d’un clinomètre .
10.3 Emploi d’un fil à plomb 53
.........................................
10.4 Tableau des exactitudes .
11 Excentricité . 54
11.1 Tableau des exactitudes 55
........................................
12 Position par rapport à d’autres composants (ouvertures et espaces) . 56
12.1 Tableau des exactitudes . 65
13 Planéité, rectitude, contre-flèche de conception .
13.1 Tableau des exactitudes
........................................ 66
14 Autres écarts importants . 67
14.1 Profondeur d’appui . 67
14.2 Largeur de joint 67
...............................................
14.3 Désaffleurement à un joint . 68
14.4 Tableau des exactitudes .
Section trois: Instruments de mesure
15 Instruments de mesure . 69
15.1 Généralités 69
...................................................
15.2 Pieds à coulisse . 69
15.3 Appareils de mesure de distance à train d’ondes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
15.4 Gabarits (( passe-passe pas )). . 70
15.5 Clinomètres (inclinomètres) . 70
15.6 Instruments à laser . 70
15.7 Niveaux à bulle (niveaux de maçon) .
15.8 Niveauxd’eau . 72
15.9 Niveaux . 72
15.10 Perches télescopiques à micromètre. . 73
15.11 Palmers.: .
15.12 Micromètres optiques à loupe . 74
15.13 Règlegraduées . 74
15.14 Perches télescopiques de mesure 74
...............................
15.15 Coinsgradués .

ISO7976-1 : 1989 (FI
15.16 Plombs optiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
15.17 Filsàplomb .
........................................... 75
15.18 Accessoires de repérage
........................................ 75
Équerres optiques à prisme.
15.19
Équerres .
15.20
15.21 Règlesdroites .
__
................................ 77 .
Rubans d’acier pour mesures courtes
15.22
Rubansd’acier. .
15.23
..........................................
15.24 Signaux (jalons de visée)
15.25 Théodolites .
Trépieds .
15.26
Annexe : Correction des rubans
A.1 Correction de chaînette .
..........................................
A.2 Correction de température
............................................ 80
A.3 Correction d’inclinaison.
Page blanche
NORME INTERNATIONALE
ISO 7976-l : 1989 (FI
Tolérances pour le bâtiment - Méthodes de mesure
des bâtiments et des produits pour le bâtiment -
Partie 1 :
Méthodes et instruments
1 Objet et domaine d’application ISO 7976-2, Tolérances pour le bâtiment - Mhthodes de
mesure des bâtiments et des produits pour le bâtiment -
La présente partie de I’ISO 7976 donne à choisir quelques
Partie 2: Positions des points de mesure.
méthodes de mesure pour déterminer la forme, les dimensions
ISO 8322, Construction immobili&re - Instruments de mesure
et les écarts dimensionnels de bâtiments et de produits pour le
dans le bâtiment - Procédures de dé termina tion de l’exac ti-
bâtiment destinés à être ajustés. Les méthodes peuvent égale-
tude d’utilisation -
ment être appliquées lorsque des données sur l’exactitude doi-
vent être recueillies dans des usines ou sur les chantiers.
Partie I : Théorie. 1)
Des renseignements sont donnés concernant les écarts des
Partie 2: Rubans de mesure. 1)
parties du bâtiment ou des produits pour le bâtiment, que l’on
Partie 3: lnstrumen ts optiques de nivellement. 1)
peut recueillir avec l’équipement décrit.
Partie 4: Théodolites. 1)
Les méthodes de mesure concernent essentiellement les objets
Partie 5: Instruments de plombage optique. 1)
dont les faces ont une forme rectiligne et dont le module d’élas-
ticité est supérieur à 35 kPa, par exemple le béton, le bois,
Partie 6: Instruments à laser. 1)
l’acier, le plastique dur. Les produits pour le bâtiment consti-
Partie 7: lnstrumen ts utilisés pour hmplan ta tion. 1)
tués de laine de verre et de matériaux mous similaires n’entrent
pas dans l’objet de la présente partie de I’ISO 7976.
Partie 8: Appareils de mesure de distance à train d’ondes. 1)
Les règles pour le contrôle de qualité à toutes les étapes du
mesurage telles que la fréquence, le lieu, la durée des vérifica-
3 Généralités
tions, etc., n’entrent pas dans l’objet de la présente partie de
I’ISO 7976.
3.1 Méthodes de mesure
L’ISO 7976-Z donne les positions des points de mesure à utiliser
Les méthodes de mesure se rapportent aux dimensions princi-
pour les mesurages décrits dans la présente partie de
pales des produits pour le bâtiment, aux distances entre ces
I’ISO 7976.
produits et à leurs écarts géométriques. Elles peuvent cepen-
dant s’appliquer aussi à des parties et à des fractions de pro-
Pour faciliter les références croisées, la même numérotation est
duits pour le bâtiment.
utilisée dans les deux parties de la présente Norme internatio-
nale.
Les objets à mesurer doivent être supportés comme ils le seront
en service. Lorsque ceci est irréalisable, les conditions d’appui
doivent être agréées dans le mode opératoire de mesurage. Si
2 Références
des composants sont mesurés alors qu’ils se trouvent dans un
gabarit ou dans un moule de fabrication, il faut le noter. Les
ISO 4464, Tolérances pour le bâtiment - Liaison entre les
composants flexibles doivent toujours reposer entièrement sur
divers types d’écarts et de tolérances utilisés pour la spécifica-
une surface plane.
.
tion.
Pour les mesurages de conformité comme pour le recueil de
ISO 7078, Construction immobilière - Procédés pour l’implan-
données sur l’exactitude, la procédure de mesurage doit être
tation, le mesurage et la topométrie - Vocabulaire et notes
notablement plus précise que l’écart admissible spécifié pour le
explicatives.
procédé de fabrication ou de construction à mesurer.
1) Actuellement au stade de projet.
ISO7976-1 : 1989 (F)
D’autres conditions de référence, telles que l’humidité du bois
Les dipositions qui rendent possible la vérification de I’exacti-
et l’âge des composants en béton doivent être prises en compte
tude de la procédure de mesurage forment une part essentielle
là où il convient.
de la méthode. (Voir ISO 8322, parties 1 à 8.)
Dans l’enregistrement du résultat d’un mesurage, les condi-
La température effective, soit de l’objet à mesurer, soit du
être notées où il convient :
tions suivantes doivent ner
matériel de mesure, peut en pratique être difficile à détermi
du fait qu’il est improbable que chacun sera à une température
-
identification de l’opérateur, de l’instrument et du
unique et parce qu’il existera des températures différentes à
moment;
l’intérieur de l’objet à mesurer ou dans le matériel. La solution la
- plus satisfaisante est de laisser à l’objet à mesurer aussi bien
position et situation de l’objet au moment du mesu-
qu’au matériel de mesure le temps qui convient pour qu’ils
rage;
-
atteignent une température ambiante stable. Cette température
-
température et humidité de l’objet au moment du
peut alors être mesurée et l’on peut admettre n’importe quel
mesurage;
écart par rapport à la température de référence spécifiée.
-
tous autres éléments concernant le mesurage.
Pour autant que le matériel de mesure est concerné, les sources
II est habituellement possible de mesurer directement sur des
les plus probables d’une élévation de température se trouvent
surfaces sortant d’un moule lisse. Des défauts locaux tels que dans la manipulation du matériel et dans les différences entre la
des pores, des brûlures et des défauts de coulage doivent être
température ambiante et la condition de référence. L’objet à
évités dans le mesurage. Ils ne doivent pas figurer comme des
mesurer est également affecté par la température ambiante et
dimensions incorrectes mais leur présence doit être notée.
peut aussi être soumis à un chauffage considérable pendant sa
Dans le cas d’une surface présentant une rugosité considérable
fabrication.
par rapport aux écarts admissibles, les mesurages peuvent être
spécifiés comme devant être effectués à l’aide d’accessoires de Dans cet exemple, la température de référence considérée est
20 OC. Les symboles suivants sont utilisés:
repérage suffisamment grands que l’on place sur l’objet à
mesu rer.
est la température de l’objet à mesurer, en degrés
À la fin de chacun des chapitres 4 à 14 se trouve un tableau qui
Celsius;
spécifie les points suivants concernant chacune des opérations
est la température du matériel de mesure, en degrés
de mesurage traitées dans ce chapitre:
t2
Celsius;
- l’opération de mesurage;
est le coefficient de dilatation de l’objet à mesurer;
a1
-
les limites de l’exactitude du mesurage en termes
d’écart admissible de l’objet à mesurer;
est le coefficient de dilatation du matériel de mesure;
a2
- le champ mesurable;
ht, est la différence de température par rapport à 20 OC de
l’objet à mesurer (At, = t, - 20);
- le choix de l’instrument de mesure.
At2 est la différence de température par rapport à 20 OC du
3.2 Influence des écarts par rapport aux
matériel de mesure (ht2 = t2 - 20);
conditions de référence
L est la longueur mesurée.
Des variations dans les conditions ambiantes par rapport aux
valeurs de référence spécifiées peuvent provoquer des erreurs Dans ces conditions, l’erreur de mesure AL entraînée par les
dans la valeur mesurée d’une dimension. La température, et
différences de température At, et At2 est donnée par:
particulièrement le plein soleil, est habituellement la plus signifi-
AL = L (a1 At, - a2 At2)
cative de ces conditions ambiantes.
ISO7976-1 : 3989 (F)
Section un I Méthodes de mesure pour les mesurages pouvant être effectués
aussi bien dans les usines que sur les chantiers
NOTE - La plupart des exemples concernant les composants sont Une attention particulière doit être portée à la tension et à la
applicables également aux parties des ouvrages réalisées sur le chantier.
température lorsque l’on mesure avec des rubans. On doit utili-
ser un dynamomètre appliquant la tension de référence lorsque
c’est spécifié ou quand la longueur à mesurer dépasse 10 m. II
4 Dimensions des composants
est recommandé de placer le ruban sur un support afin de
réduire l’influence de la température de l’objet à mesurer (voir
Ce chapitre donne des exemples d’instruments et de méthodes
figure 1). II faut noter que lorsque le ruban repose sur un com-
de mesure pour la détermination de la longueur, de la largeur et
posant pour le bâtiment ou sur un plancher, la température de
de l’épaisseur des composants.
cet objet mesuré peut différer de la température mesurée de
Les dimensions linéaires sont déterminées en utilisant les instru- l’air ambiant et entraîner ainsi des erreurs de mesure (voir 3.2).
ments de mesure (avec ou sans l’aide d’accessoires de repérage) Cette erreur peut être réduite en placant le ruban sur des sup-
décrits au chapitre 15 où sont également mentionnées les ports. La véritable température du ruban peut être mesurée
erreurs typiques et les précautions à prendre. avec un thermomètre de contact.
Figure 1
ISO 7976-1 : 1989 (F)
4.1 Longueur et largeur
II faut utiliser des accessoires de repérage (voir chapitre 15) sur les composants qui n’ont pas d’arêtes nettement définies, pour amé-
liorer l’exactitude de mesurage. Les accessoires de repérage doivent être maintenus ou bloqués contre les faces appropriées du
composant de façon a définir des arêtes précises autant qu’il est nécessaire pendant la durée du mesurage. Un exemple d’utilisation
de corniéres est donné en figure 2.
Repère
I
Illlrllll rlllllrlllrll~
0 0
r
Figure 2
4m
10 18 19 21 22
8 9 11 12
-t
R
R
1 : Ruban
Exemple : R, 4,193
2 : Corniére
3 : Dynamomètre - 0,100
RI
4 : Lecture
L= 4,093
5 : Lecture
NOTE - Quand le zéro est à l’extrémité du ruban, les lectures doivent être faites en deux endroits.
Figure 3
ISO 7976-l : 1989 (FI
Le résultat d’un mesurage entre deux points opposés autres que deux sommets d’angle peut servir à vérifier grossièrement le résultat
du mesurage des écarts de rectitude. (Voir chapitre 6 et figure 4.)
--
---
--
l
I
\
I
\
I
a2
--
Figure 4
Des erreurs affectent les mesurages lorsque ces derniers sont effectués le long de surfaces convexes car l’arc AB est toujours plus
long que la corde AB. Les exigences courantes sur l’exactitude permettent de faire des lectures au millimètre près. Ceci implique
qu’une légère courbure puisse être acceptée en pratique. (Voir figure 5.)
Arc AB > corde AB
D= Hauteur de l’arc
Figure 5
ISO 7976-l : 1989 (FI
Un diagramme des corrections à effectuer quand on mesure le long de composants convexes est donné en figure 6.
0D
=--
L-4
3L
L
230.
- -
:lr;o
E
E 130
L L
CU
L
12c
%
/
L
2 110
(Len mm)
2 lot
- 9(
8t
7(
Longueurs mesurées, L, et D
6(
000 mm
Exemple Lt=9
= 116 mm
D
= -4mm
C
L=9 OOO-4=8 996mm
lq
1 I
I I
0’1
24 26 28 30
14 16 18 20 22
0 2 4 6 8 10 '12
Longueur mesurée, L, m
Figure 6
ISO7976-1:1989(F)
4.2 Épaisseur ou profondeur
Les épaisseurs (ou profondeurs) des composants sont déterminées en utilisant les instruments décrits au chapitre 15 et en principe
selon la même procédure que celle décrite en 4.1.
Lorsque c’est nécessaire, il faut utiliser des repères d’angle et/ou des repères d’arête.
On utilise des instruments à grande surface de contact pour les matériaux à surface rugueuse.
Les épaisseurs doivent être mesurées perpendiculairement à au moins l’une des surfaces du composant. (Voir figure 7.)
Pied à coulisse
Figure 7
ISO7976-1:1989(F)
4.3 Tableau des exactitudes
Si les valeurs de I’kart
Champ mesurable Instrument de mesure
Mesurage admissible spécifié pour
l’objet dépassent :
1 2 3 4
f 3mm Longueurs et
courtes
iargeu rs des
+3mm <3m Ruban d’acier étalonné
composants (4.1)
* 5mm 3àlOm Ruban d’acier étalonné
31 0,5 mm < 0,l m Pied à coulisse
* 1 mm 0,l à 0,5 m Pied à coulisse
0,5 à 2,0 m Pied à coulisse
f 2mm
Épaisseurs des
f 3mm composants (4.2)
courtes
* 5mm < 0,5 m Règle graduée et deux
jalons à voyant
5 Équerrage (perpendicularité) des composants
Ce chapitre donne des exemples d’instruments et de méthodes de mesure pour la détermination du hors-d’équerre (écart par rapport à
l’angle droit) mais il peut s’appliquer en principe à n’importe quel angle.
Conformément à I’ISO 4464 l’écart angulaire est défini comme la différence entre un angle réel et l’angle de référence correspondant.
La figure 8 montre les écarts angulaires exprimés en grades ou en degrés [figure 8a)l ou par des décalages [figure 8b)l. .
Écart angulaire
(exprimé par un décalage)
Angle de référence
a) b)
Figure 8
ISO7976-1 : 1989 (FI
Si l’on choisit d’utiliser l’expression selon b], l’écart angulaire doit être déterminé à partir du plus petit côté de l’angle et mesuré
perpendiculairement au côte correspondant de l’angle de reference.
L’&art de parallélisme, qui est une autre forme de l’écart angulaire, est traité en 5.2.
Les écarts angulaires sont determinés en utilisant les instruments et les objets décrits au chapitre 15, avec ou sans l’aide d’accessoires
de repérage.
Trois méthodes sont décrites pour déterminer les écarts par rapport à l’angle droit dans les produits pour le bâtiment. La méthode
choisie dépend de la taille de l’objet du mesurage.
En figure 9, si b et c < 1 200 mm, utiliser une équerre comme indiqué à la figure 11. Sinon, employer une lunette astronomique (voir
5.1.3) ou effectuer un mesurage des diagonales (voir 5.1.2). La mesure des diagonales, toutefois, ne peut être utilisée que lorsque
l’écart admissible par rapport à l’angle droit est supérieur à 5 mm par métre.
Les trois méthodes employées pour déterminer les écarts angulaires sont expliquées dans les exemples ci-dessous. L’écart est toujours
mesuré sur le plus petit côté de l’angle et le résultat final sera l’écart du point B ou du point C par rapport à la position recherchée.
En figure 10, les angles à mesurer sont ceux compris entre les droites concourantes avec les sommets (voir aussi figure 16).
A B
b c
Figure 9
Figure 10
ISO 7976-l : 1989 (F)
5.1 Écart angulaire
5.1.1 Mesurage avec une équerre
En figure 11, une équerre de taille suffisante est placée avec son côté plus long le long de AB de telle facon que son côté plus court
touche B ou C. L’écart angulaire du sommet B est déterminé comme indiqué.
Cornière Équerre
B
A ,
r
t
Écart angulaire négatif du sommet B
Taille maximale: 1 200 mm x 1 200 mm
Cornières en A, B et C
Figure 11
ISO 7976-l : 1989 (FI
L’équerre s’applique contre les plots S. Afin de
En figure 12, une équerre est mise en place pour le mesurage de l’écart angulaire.
réduire le frottement, le côté Lt repose sur le palier à rouleaux R.
En figure 13, la méthode de la figure 12 peut aussi être utilisée pour mesurer les écarts angulaires de poteaux.
Lorsqu’on utilise les méthodes décrites dans les figures 12 et 13, l’épaisseur des écarteurs ou des plots doit être déduite de la lecture
pour évaluer l’écart angulaire.
Figure 12
Point de mesure -
.
.
I I
\
Équerre
Écarteurs
Figure 13
La méthode montr6e en figure 14 ne peut être utilisée que s’il n’existe pas d’écarts de rectitude. Sinon, seuls sont observés les écarts
par rapport à l’angle droit de l’angle compris entre des portions des surfaces, par exemple ABC et non ABD.
5.1.2 Mesure des diagonales
En figure 15, les distances AB, BC et AC sont déterminees à l’aide de rubans et de repères d’angle.
Les dimensions de l’objet à mesurer peuvent ne pas excéder la longueur du ruban et le rapport de la largeur à la longueur de l’objet à
mesurer ne doit pas être inferieur à 1: 2.
Figure 14
cc JE3z+BC2-AC2
l-
2AB
Figure 15
ISO7976-1 : 1989 (F)
L’angle au point B peut être calculé comme suit:
AC* - AB* - BC*
cosp =
-2AB x BC
Cette maniere de procéder peut être répétée pour les points A, C et D.
La somme des angles (a + p + y + 6) doit être de 400 gr ou 360’. Tout défaut de fermeture doit être également réparti sur les quatre
angles à condition que le défaut de fermeture ne soit pas supérieur à 0,12 gr (0,ll O = 7’) pour un composant dont les dimensions
sont de l’ordre de 2 000 mm x 3 000 mm. Si le défaut de fermeture dépasse cette valeur, de nouvelles mesures doivent être
effectuées.
L’écart angulaire exprimé par un décalage (CC,) peut aussi être déterminé par rapport au côté CB de la manière suivante:
~=lOOgr-0
AB* + BC* - AC*
CC1
COS/! = sin (- 8) = BC =
2AB x BC
d’où
AB* + BC* - AC*
cc, =
2AB
5.1.3 Mesurage avec une lunette astronomique
En figure 16, une lunette astronomique est placée au point de mesure B et mise à zéro en direction de la balise A. L’instrument est
alors tourné de 100 gr (9OO) et l’ecart à la balise C est déterminé en utilisant, par exemple, une échelle millimétrique placée en ce point.
Figure 16
ISO 7976-l : 1989 (F)
La figure 17 montre une méthode pour déterminer l’écart angulaire (en B) à l’aide d’un théodolite (T) dont l’axe de visée est amené
parallèle à BA, en tournant le théodolite jusqu’à ce que les lectures sur la règle graduée (PI et P2) soient égales.
La lunette est alors tournée de 100 gr @Oo) et les distances PS et P4 sont lues à la lunette sur la règle graduée. Les distances PI à P4
doivent être de l’ordre de 500 mm à 1 000 mm. Cela signifie que, dans la plupart des cas, des lentilles additionnelles pour l’observation
à courte distance devront être montées sur le théodolite pour lire les distances PI et PS.
Dans ce cas, le décalage dû à l’écart angulaire est positif (PS - P4).
Figure 17
ISO7976=1:1989(F)
5.2 Parallélisme
L’écart de parallélisme est une forme de l’écart angulaire et c’est la différence entre l’orientation de la droite passant par A et B et
l’orientation de la ligne de référence AB, passant par A, parallèle à DC (voir figure 18). L’écart est la distance mesurée entre B et B1
(voir ISO 44641.
À la figure 18, les distances AD et BC sont mesurées à partir de C et de D, respectivement à angle droit avec CD, en pratique parallèle-
ment aux arêtes BC et AD, en utilisant les instruments conformément au chapitre 15. La différence entre AD et BC est l’écart de paral-
lélisme entre AB et CD.
Écart
B
Figure 18
5.3 Tableau des exactitudes
Si les valeurs de l’écart
Mesurage admissible spécifié pour Champ mesurable Instrument de mesure
l’objet dépassent :
I!I 4mm < 1,2m Équerre
Écart angulaire
de composants Ruban d’acier étalonné
* 5 mmlm < 30 m
(5.1)
f 7 mm < 30 m Instrument optique
I!I 2mm ~ Écart de parallélisme * 3mm <3m Ruban d’acier étalonné
(5.2) rt 5mm 3àlOm Ruban d’acier étalonné
* 5mm <3m Règle graduée
ISO7976-1 : 1989 (FI
6 Rectitude et contre-flèche des composants
Ce chapitre présente des exemples d ‘instruments de mesure et d’objets servant a mesurer pour déterminer les écarts de rectitude et de
contre-flèche de conception.
6.1 Rectitude
Conformément à I’ISO 4464, l’écart de rectitude est défini comme la différence entre la forme réelle d’une ligne et la ligne droite. Les
écarts Q et b sont mesurés par la distance de points sur la ligne réelle à la ligne droite joignant les extrémités A et B de la ligne réelle.
(Voir figure 19.)
Les écarts de rectitu de sont déterminés en utilisant les instruments et les objets décrits au chapitre avec ou sans l’aide d’acces-
15,
soires de repérage.
Les extrémités de la ligne, ordinairement une arête, le long de laquelle l’écart de rectitude doit être mesuré, sont jointes en utilisant un
fil tendu entre les deux points extrêmes, A et B, une règle droite reposant sur des accessoires de repérage, ou l’axe de visée d’une
lunette astronomique.
B
A
--
Figure 19
ISO7976-1 : 1989 (FI
6.1.1 Mesurage avec une r&gle droite
II convient que la longueur de la règle ne dépasse pas 3 m.
En figure 20 est illustré le mesurage avec une régie droite et des repéres d’angle le long de la rive de l’objet mesuré.
Dimensions en millimètres
Cas 2
-Cas 1
I \ \
l
\
n I
I
aJ
Q
\
---m
---
\-
Plot J
d = écart de rectitude
e = hauteur des plots
L’écart est calculé de la manière suivante:
Exemple
e = hauteur des plots: 25 mm
écart d = e - lecture
Cas 1 : d = 25 - 15 Cas2: d = 25 - 32
=
d - 7 mm Mg.)
d = 10 mm (pas.)
Figure 20
SO7976-1 : 1989 FI
6.1.2 Mesurage avec un fil tendu
La méthode montrée en figure 21 consiste à établir une ligne de référence avec un fil tendu en acier ou en nylon, supporté à ses extré-
mités par des écarteurs et des accessoires assurant la tension. Le fil est maintenu en place, à 50 mm de l’arête, par un sillon.
Le but de I’écarteur et des accessoires de tension est de maintenir le fil à une distance prédéterminée des sommets d’angle de l’objet
mesuré et de s’assurer qu’il ne touche pas la surface.
6.1.3 Mesurage avec une lunette astronomique
Les méthodes décrites en 5.1.3 pour l’emploi d’une lunette astronomique dans la détermination d’un écart angulaire peuvent égale-
ment être utilisées pour déterminer la rectitude de composants.
6.2 Contre-flèche de conception
Les méthodes décrites en 6.1.1 à 6.1.3 peuvent également être utilisées pour déterminer les écarts par rapport à une contre-flèche de
conception.
Figure 21
&07976-1 : 1989 (FI
6.3 Tableau des exactitudes
Si les valeurs de l’écart Champ mesurable
admissible spécifié pour (longueur Instrument de mesure
de mesurage)
l’objet dépassent:
2 3 4
f 2mm <3m Coin gradué ( < 30 mm),
règle droite et repères
d’angle
Règle, règle droite et
f 3mm <3m
Écart de rectitude
t--
repéres d’angle
et par rapport à une
contre-f lèche
Coin gradué ( < 30 mm) et fil
* 2mm <2m
de conception
AI 4mm 2à5m d’acier ou de nylon ( < 10 m),
(6.1 et 6.2)
et repères d’angle
+ 8mm 5àlOm
3~ 3mm <2m Règle et fil d’acier ou de
2à5m nylon, et repères d’angle
f 5mm
+ IOmm 5àlOm
-
un plan moyen des quatre sommets;
7 Planéité et gauchissement des composants
-
un plan déterminé à l’aide de la méthode des moindres
Ce chapitre présente des exemples d’instruments, d’objets, de
carrés;
méthodes de mesure et de plans de référence à utiliser pour
-
déterminer la planéité. par rapport à certaines droites (planéité locale);
-
par rapport à une (( boîte» (le principe du volume-
Conformément à I’ISO 4464 l’écart de planéité est défini comme
enveloppe);
la différence entre la forme réalisée d’une surface et celle d’une
-
un plan passant par trois sommets (gauchissement).
surface plane. Dans le cas de planéité locale, les surfaces men-
tionnées ci-dessus sont remplacées respectivement par une
ligne et par une droite. Quand on détermine les écarts de
7.1.1 Plan moyen
planéité, il est nécessaire de décider à partir de quel plan de
Les écarts de planéité sur une surface rectangulaire peuvent
référence les écarts de surface vont être mesurés.
être déterminés, conformément à I’ISO 4464, à l’aide d’un plan
moyen pour l’ensemble des quatre sommets. Ce plan moyen
7.1 Principes de mesure sera situé à une distance de S/4 au-dessus de deux sommets
diagonalement opposés et à S/4 au-dessous des deux autres
sommets (voir figure 22)’ où S et le degré de gauchissement
Un plan de référence peut être défini de nombreuses facons dif-
,
férentes, comme par exemple : déterminé comme indiqué.
a, b, c et d sont
les écarts de planéité
Figure 22
ISO7976-1 : 1989 (F)
En figure 22, le plan de référence est le plan moyen passant par
rente par rapport au plan mesuré. Ce n’est que dans le cas où la sur-
face à mesurer fait déjà partie du bâtiment construit que les deux direc-
A + Sl4, B - S/4, C + SI4 et D - Sl4. Les écarts de planéité
tions peuvent faire normalement l’objet d’exigences d’exactitude.
sont mesurés en des points répartis sur toute la surface et pas
seulement sur des sections; les sections sont représentées sur
La figure 23 montre le plan de référence à calculer à l’aide de la
la figure dans un but de simplicité. La surface est examinée par
méthode des moindres carrés.
rapport au plan moyen. L’écart de planéité est exprimé positive-
ment et négativement par la plus grande distance d’un point
Une expression de la qualité de la planéité peut - au moyen
situé au-dessus et d’un point situé au-dessous de ce plan.
d’un exemple -
être spécifiée ainsi :
7.1.2 Méthode des moindres carrés
1 V pos. 1 + 1 V neg. 1 < T., mm
Une définition plus générale de la planéité est celle où le plan de
où
réference est construit de telle sorte que la somme des écarts
de planéité par rapport à ce plan de référence est nulle, c’est-à-
v pos. est le plus grand écart positif;
dire que la somme des écarts positifs est égale à la somme des
V nég. est le plus grand écart négatif;
écarts négatifs et que la somme des carrés de ces écarts est
minimale (méthode des moindres carrés). Un tel plan implique
est la tolérance de planéité prescrite.
TfI
qu’un grand nombre de mesurages sont indispensables
(environ 16 points sur un composant de dimensions
On peut mesurer les écarts de planéité locale par rapport à cer-
4 000 mm x 6 000 mm) et que les calculs doivent être faits par
taines lignes droites selon certaines directions.
un ordinateur.
II faut noter que lorsque l’on utilise la méthode des moindres 7.1.3 Planéité locale
carrés, l’évaluation doit être confiée à du personnel bien qua-
lifié. Cette méthode donne une mesure directe de la rectitude locale
et, indirectement, une indication de la planéité. C’est une
méthode pratique pour contrôler la planéité à de nombreuses
NOTE - L’application du principe des moindres carrés implique que le
résultat des calculs donne la position et deux droites du plan de réfé- fins dans l’acte de construire.
Points de mesure à la
surface du composant
Vi = 0
Conditions:
c
52 =
minimum
c
(i = 1.1; 1.2; 1.3 . . . 4.4)
Figure 23
ISO7976-1 : 1989 0
La figure 24 montre les écarts de planéité a1 par rapport a un enveloppe est le volume de l’espace qui existe entre deux parallé-
plan de référence ABCD ou les écarts a2 par rapport à une ligne lépipèdes théoriques semblables, ayant la même orientation, dont
droite de référence passant par les points X et Y à la surface du l’un est à l’intérieur de l’autre. La distance entre les faces corres-
pondantes de ces parallélépipèdes peut être ou non également
composant.
répartie suivant les amplitudes de tolérances choisies. Aucun
point de la surface du composant ne doit sortir de ce volume. N
7.1.4 Principe du volume-enveloppe
Le principe du volume-enveloppe peut être utilisé pour determi-
NOTE - Ce principe s’applique également lorsque l’on ne considére
ner les écarts de plan&& Conformément à I’ISO 4464 le principe
que deux dimensions. Ceci sera probablement la situation la plus fré-
quente (voir figure 25.)
du volume-enveloppe est défini comme suit: G Le volume-
Figure 24
Figure 25
ISO 7976-l : 1989 (FI
Comme montre la figure 25, on peut utiliser un principe simpli- quer le plan de référence à utiliser et donner en outre les écarts
fié du volume-enveloppe pour des composants à deux dimen- admissibles. Généralement, il convient de rattacher la planéité à
sions, par exemple des barres ou des plaques. une zone spécifiée d’une surface finie, à un composant isolé, à
la jonction entre deux composants ou entre deux étapes de la
L’emploi général du principe du volume-enveloppe dans un
formation d’une surface (( plane)). Les grandes surfaces, telles
système de coordonnées tridimensionnel rectangulaire exige
que des planchers, sont habituellement assujetties à des tolé-
des mesurages dans les trois plans.
rances de niveau et quelquefois de gauchissement, par réfé-
rence aux noeuds d’un quadrillage (voir chapitre 9).
7.1.5 Gauchissement
7.2 Planéité générale
Conformément à I’ISO 4464, le gauchissement est un cas parti-
culier de l’écart de planéité. Ceci signifie que l’on peut choisir
7.2.1 Mesure des écarts de planéité avec une lunette
un plan de référence passant par trois sommets du composant
astronomique
à mesurer (ou plutôt par des points proches des sommets, du
fait que les sommets sont habituellement difficiles à identifier).
Les mesurages peuvent être effectués avec des niveaux ou des
Le gauchissement est alors défini comme la valeur absolue de
théodolites. Combinées avec le mesurage d’épaisseur, ces
l’écart du quatrième sommet par rapport à ce plan de référence.
méthodes donnent un exemple d’application du principe
Les écarts par rapport au plan de référence des points quelcon-
volume-enveloppe.
ques de la surface sont alors considérés comme des écarts de
planéité. Du fait du gauchissement, on peut observer ainsi de
Une note du sous-paragraphe 7.3.3.2 de I’ISO 4466 : 1980 éta-
grands écarts de planéité.
blit: ((En pratique la mesure est effectuée par rapport à un plan
extérieur au composant et parallèle à deux directions principa-
La figure 26 montre u n plan de référence
passant par trois som-
les de celui-ci. N
mets du composant.
Cette recommandation peut être satisfaite par les méthodes
Les écarts de planéité sont déterminés en utilisant les instru-
décrites en 7.2.2. Avec d’autres méthodes, où l’on utilise des
ments de mesure décrits au chapitre 15, où sont également
niveaux ou des théodolites, cette recommandation ne peut pas
données les sources typiques d’erreurs et les précautions à
être satisfaite. Dans de tels cas, il est recommandé de mettre de
prendre.
niveau les instruments normalement et de transformer les
Les méthodes données ci-dessous montrent quelques-unes des valeurs mesurées pour les rapporter au plan de référence choisi.
diverses possibilités pour mesurer la forme générale de la sur- On peut utiliser des calculatrices de chantier programmables
face d’un composant. Les spécifications doivent d’abord indi- pour faciliter les calculs.
Surface à mesurer
r
L Plan de référence passant par les trois sommets A, C, D
.
Figure 26
GO 7976-l : 1989 (FI
et le plus
culairement possible à l’axe de visée de l’instrument
Composant en position verticale
7.2.1.1
possible à l’objet observé.
perpendiculairement
Un plan vertical est balayé par un théodolite, un niveau à prisme
de 100 gr (SOO) ou un appareil à laser indicateur de surface. II
La figure 27 donne un de détermination de l’écart
convient que le plan se trouve approximativement à 300 mm de
général de planéité.
la surface à mesurer. Sous ensoleillement direct, cette distance
doit être augmentée jusqu’à au moins 500 mm pour éviter la
En cas d’emploi d’un théodolite, le mesurage doit être exécuté
distorsion due à la réfraction.
sur les deux faces. Afin d’éviter les erreurs de mise au point, la
distance minimale de mise au point doit être prise supérieure
L’instrument est calé de facon normale. Les règles graduées ou
à 10 m.
les mires de nivellement doivent être placées le plus perpendi-
Dimensions en millimètres
Figure 27
ISo7976-1:1989 (FI
7.2.1.2 Composant en position horizontale Les exemples donnés aux figures 29 et 30 ont pour plan de réfé-
rence un plan passant par trois sommets du composant.
L’emploi d’un niveau est recommandé. Une autre façon d’opérer
est d’utiliser un théodolite dont la lunette est calée en position
En choisissant le plan moyen pour plan de référence, les valeurs
horizontale. Les lectures sont faites sur une mire de nivellement
mesurées doivent être transformées pour être rapportées à ce
dont la verticalité doit être vérifiée à l’aide d’un niveau à bulle.
plan moyen.
En figure 28, les mires de nivellement courtes (300 mm) mon-
tées sur plateforme conviennent. Elles ont l’avantage de ne
La figure 29 donne un exemple de mesurage de la planéité par
nécessiter qu’un seul opérateur. L’inconvénient est que la
rapport à un plan de référence passant par trois sommets (B, C
réfraction peut entraîner des erreurs de lecture.
et D). (Dans certains cas, l’instrument en C est muni d’une
équerre fixe qui permet de lire directement les écarts d’équer-
7.2.2 Mesure des karts de planéité avec des rage au signal en B. 1
instruments conçus à cet effet
NOTE - II faut rappeler que les instruments devraient être examinés
En figures 29 et 30 sont donnés deux exemples d’équipement
pour déceler d’éventuelles erreurs de mise au point.
sans compensation à courte distance de mise au point spéciale-
ment concu pour le mesurage des écarts de planéité. Avec ces II n’est pas permis d’utiliser des instruments de compensation du fait
que cette méthode peut être utilisée dans n’importe quel plan, et non
ensembles d’équipement il est plus aisé de suivre la recomman-
pas sur le plan horizontal uniquement.
dation de I’ISO 4464 concernant un plan de mesure ((extérieur au
composant et parallèle aux deux directions principales du com-
posant)), que lorsqu’il est fait emploi de niveaux ou de théodoli- L’axe de visée de la lunette astronomique au point C (figure 29)
tes placés à quelque distance du composant. L’équipement
est orienté vers les points zéro des échelles en B et D. Ces
décrit aux figures 29 et 30 a l’avantage de pouvoir être utilisé pour points zéro correspondent à la hauteur de l’axe de visée
le mesurage de composants dans n’importe quelle position. au-dessus de la surface au point C.
Erreur de réfraction éventuelle
r
Figure 28
f +
Figure 29
.
ISO7976-1 : 1989 (FI
Les lectures sont alors faites en direction du signal X qui peut face de l’objet mesuré. Mesurer ainsi implique l’emploi de sec-
être placé en n’importe quel point arbitraire de la surface. (La
tions.
lecture au point A donne le gauchissement, voir 7.4.) Le même
principe de mesurage peut s’appliquer avec l’équipement Pour cette méthode simplifiée, les détails suivants doivent être
donné en figure 30, qui comprend un indicateur lumineux de notés dans le programme de contrôle:
plan (D) et un dispositif de mesure (M), détecteur ou lunette,
centré dans le plan de référence défini par l’appareil D.
- dans quelle direction et sur quel côté de la surface il
convient de choisir les sections;
Le mesurage de la planéité des surfaces opposées (avec I’ins-
trument en deux positions, face droite en haut et face supé-
- de combien de sections et de combien de points par
rieure basculée) combiné avec celui de l’épaisseur est un exem-
section il convient de rendre compte;
ple d’application du principe du volume-enveloppe.
- de quelle facon il convient de présenter les résultats;
,
7.3 Planéité locale
- tout autre détail important.
Les méthodes spécifiées ne donnent pas les écarts de planéité
par rapport à un certain plan de référence mais seulement les Dans l
...