Superconductivity - Part 12: Matrix to superconductor volume ratio measurement - Copper to non-copper volume ratio of Nb3Sn composite superconducting wires

Describes the test method for determining the copper to non-copper volume ratio of Cu/Nb3Sn wires. The test method given hereunder is applicable to Nb3Sn composite superconducting wires with a cross-sectional area of 0,1 mm2 to 3 mm2 and a copper to non-copper volume ratio of 0,1 or more. It does not make any reference to the filament diameter; however, it is not applicable to those superconducting wires with their filament, Sn, CuSn, barrier material and other non-copper portions dispersed in the copper matrix or those with the stabilizer dispersed. Furthermore, the copper to non-copper volume ratio can be determined on specimens before or after the Nb3Sn formation heat treatment process. This test method may be applied to other composite superconducting wires after some appropriate modifications.

Supraconductivité - Partie 12: Mesure du rapport volumique matrice/supraconducteur - Rapport volumique cuivre/non-cuivre des fils en composite supraconducteur Nb3Sn

Couvre la méthode d'essai de détermination du rapport volumique cuivre/non-cuivre des fils Cu/Nb3Sn. La méthode d'essai donnée dans la présente norme est applicable aux fils en composite supraconducteur Nb3Sn d'une section de 0,1 mm2 à 3 mm2 et d'un rapport volumique cuivre/non cuivre d'au moins 0,1. Elle ne fait aucunement référence au diamètre du filament; cependant, elle n'est pas applicable aux fils supraconducteurs dont le filament, Sn, CuSn, la barrière métallique et autres parties qui ne sont pas en cuivre dispersés dans la matrice en cuivre ainsi que les fils dont le matériau stabilisateur est dispersé. En outre, le rapport volumique cuivre/non cuivre peut être déterminé sur des éprouvettes avant ou après le processus de traitement thermique de formation du Nb3Sn. Il est admis d'appliquer cette méthode d'essai à d'autres fils en composite supraconducteur après y avoir apporté certaines modifications appropriées.

General Information

Status
Published
Publication Date
23-Jun-2002
Technical Committee
Drafting Committee
Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
Completion Date
12-Jun-2013
Ref Project

Relations

Buy Standard

Standard
IEC 61788-12:2002 - Superconductivity - Part 12: Matrix to superconductor volume ratio measurement - Copper to non-copper volume ratio of Nb3Sn composite superconducting wires Released:6/24/2002 Isbn:2831864356
English and French language
29 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)


NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61788-12
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-06
Supraconductivité –
Partie 12:
Mesure du rapport volumique
matrice/supraconducteur –
Rapport volumique cuivre/non-cuivre des
fils en composite supraconducteur Nb Sn
Superconductivity –
Part 12:
Matrix to superconductor volume
ratio measurement –
Copper to non-copper volume ratio of Nb Sn
composite superconducting wires
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61788-12:2002
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.
courrier électronique. Veuillez prendre contact
Please contact the Customer Service Centre (see
avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
d’informations.
• Service clients
• Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette
If you have any questions regarding this
publication ou avez besoin de renseignements
publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service
contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: custserv@iec.ch
Email: custserv@iec.ch
Tél: +41 22 919 02 11
Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
Fax: +41 22 919 03 00
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61788-12
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-06
Supraconductivité –
Partie 12:
Mesure du rapport volumique
matrice/supraconducteur –
Rapport volumique cuivre/non-cuivre des
fils en composite supraconducteur Nb Sn
Superconductivity –
Part 12:
Matrix to superconductor volume
ratio measurement –
Copper to non-copper volume ratio of Nb Sn
composite superconducting wires
 IEC 2002 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch  Web: www.iec.ch
CODE PRIX
N
PRICE CODE
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61788-12  CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4
INTRODUCTION.6
1 Domaine d’application .8
2 Références normatives.8
3 Termes et définitions .8
4 Principe.10
5 Appareillage .10
6 Mode opératoire .10
6.1 Préparation de l’éprouvette .10
6.2 Mesure.12
6.3 Méthode d’essai pour la seconde éprouvette.12
6.4 Poids papier .12
7 Calcul de résultats.14
8 Fidélité et exactitude de la méthode d’essai .14
9 Rapport d’essai .14
9.1 Rapport volumique cuivre/non-cuivre.14
9.2 Identification de l’éprouvette d’essai.14
Annexe A (normative) Mesure − Méthode de traitement d’image .16
Annexe B (normative) Mesure − Méthode de la masse de cuivre.18
Annexe C (normative) Méthode de mesure planimétrique .20
Annexe D (informative) Méthode de polissage de l’éprouvette .22
Annexe E (informative) Différence de rapport cuivre/non-cuivre avant et après traitement
thermique de génération Nb Sn .24
Annexe F (informative) Erreur de poids papier lors de la duplication .26
Annexe G (informative) Sections des fils Cu/Nb Sn .28
61788-12  IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.7
1 Scope.9
2 Normative references .9
3 Terms and definitions .9
4 Principle .11
5 Apparatus.11
6 Measurement procedure.11
6.1 Preparation of specimen.11
6.2 Measurement .13
6.3 Test procedure for the second specimen .13
6.4 Paper mass .13
7 Calculation of results.15
8 Precision and accuracy of the test method.15
9 Test report.15
9.1 Copper to non-copper volume ratio.15
9.2 Identification of test specimen .15
Annex A (normative) Measurement – Image processing method .17
Annex B (normative) Measurement – Copper mass method .19
Annex C (normative) Measurement method using planimeter .21
Annex D (informative) Specimen polishing method.23
Annex E (informative) Difference of the copper to non-copper volume ratio before and
after the Nb Sn generation heat treatment process.25
Annex F (informative) Paper mass error at copy .27
Annex G (informative) Cross-sections of Cu/Nb Sn wires .29
– 4 – 61788-12  CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
__________
SUPRACONDUCTIVITÉ –
Partie 12: Mesure du rapport volumique matrice/supraconducteur –
Rapport volumique cuivre/non-cuivre des fils
en composite supraconducteur Nb Sn
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation internationale de normalisation
composée de tous les comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet
de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales qui
assurent la liaison avec la CEI participent également à cette préparation. La CEI collabore étroitement avec
l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux
organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d'études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure du possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n'a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d'approbation et sa responsabilité
n'est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l'une de ces normes.
6) L'attention est attirée sur le fait que certains éléments de la présente norme internationale peuvent faire l'objet
de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour responsable de
ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61788-12 a été établie par le Comité technique 90 de la CEI:
Supraconductivité.
Le texte anglais de cette norme est basé sur les documents 90/123/FDIS et 90/128/RVD. Le
rapport de vote 90/128/RVD donne toute information sur le vote ayant abouti à l’approbation
de cette norme.
La version française de cette norme
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.