IEC 61000-4-20:2003
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Relates to emission and immunity test methods for electrical and electronic equipment using various types of transverse electromagnetic (TEM) waveguides. This includes open (for example, striplines and EMP simulators) and closed (for example, TEM cells) structures, which can be further classified as one-, two-, or multi-port TEM waveguides. The frequency range depends on the specific testing requirements and the specific TEM waveguide type. The object of this standard is to describe · TEM waveguide characteristics, including typical frequency ranges and EUT-size limitations (EUT = equipment under test); · TEM waveguide validation methods for EMC measurements; · the EUT (i.e. EUT cabinet and cabling) definition; · test set-ups, procedures, and requirements for radiated emission testing in TEM waveguides and · test set-ups, procedures, and requirements for radiated immunity testing in TEM waveguides. It has the status of a basic EMC publication in accordance with IEC Guide 107.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans les guides d'ondes TEM
Concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM. L'objet de cette norme est de décrire · les caractéristiques des guides d'onde TEM, y compris les gammes de fréquences types et les limites de tailles des appareils en essai; · les méthodes de validation des guides d'onde TEM pour les mesures de CEM; · la définition de l'appareil en essai (c'est-à-dire l'armoire et le câblage de l'appareil en essai); · les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d'émissions rayonnées dans les lignes TEM, et · les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d'immunité rayonnée dans les guides d'onde TEM. Cette norme a le statut de publication fondamentale en CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI.
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61000-4-20
Edition 1.1
2007-01
Edition 1:2003 consolidated with amendment 1:2006
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20:
Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
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Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all I EC publications are issued with a designation in the
60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the
base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to
this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of
publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda.
Information on the subjects under consideration and work in progress und ertaken
by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list
of publications issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site ( www.iec.ch/searchpub) enables you to
search by a variety of criteria including text searches, technical committees
and date of publication. On-line information is also available on recently issued
publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications ( www.iec.ch/online_news/ justpub)
is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see
below) for further information.
• Customer Service Centre
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please contact the Customer Service Centre:
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Tel: +41 22 919 02 11
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61000-4-20
Edition 1.1
2007-01
Edition 1:2003 consolidated with amendment 1:2006
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20:
Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
© IEC 2007 Copyright - all rights reserved
No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or b y any means, electronic o r mechanical,
including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
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PRICE CODE
Commission Electrotechnique Internationale CQ
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
For price, see current catalogue
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope and object.13
2 Normative references .15
3 Definitions and abbreviations.17
3.1 Definitions .17
3.2 Abbreviations .23
4 General .23
5 TEM waveguide requirements.23
5.1 General requirements for the use of TEM waveguides .25
5.2 Special requirements for certain types of TEM waveguides .29
5.3 Measurement uncertainty considerations.31
6 Overview of EUT types .31
6.1 Small EUT .31
6.2 Large EUT.31
Annex A (normative) Emission testing in TEM waveguides.33
Annex B (normative) Immunity testing in TEM waveguides.77
Annex C (normative) HEMP transient testing in TEM waveguides .93
Annex D (informative) TEM waveguide characterization.109
Annex E (informative) Standards including TEM waveguides .123
Bibliography.127
Figure A.1 – Routing the exit cable to the corner at the ortho-angle and the lower edge
of the test volume .57
Figure A.2 – Basic ortho-axis positioner or manipulator .59
Figure A.3 – Three orthogonal axis-rotation positions for emission measurements.61
Figure A.4 – Canonical 12-face/axis orientations for a typical EUT.63
Figure A.5 – Open-area test site geometry.65
Figure A.6 – Two-port TEM cell (symmetric septum) .67
Figure A.7 – One-port TEM cell (asymmetric septum) .69
Figure A.8 – Stripline (two plates) .73
Figure A.9 – Stripline (four plates, balanced feeding).75
Figure B.1 – Example of test set-up for single-polarization TEM waveguides .89
Figure B.2 – Uniform area calibration points in TEM waveguide .91
Figure C.1 – Frequency domain spectral magnitude between 100 kHz and 300 MHz .107
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 5 –
Figure D.1 – Simplest waveguide (no TEM wave!) .121
Figure D.2 – Waveguides for TEM propagation .121
Figure D.3 – Polarization vector.121
Figure D.4 – Transmission line model for TEM propagation .121
Figure D.5 – One- and two-port TEM waveguides .121
Table B.1 – Uniform area calibration points.81
Table B.2 – Test levels .83
Table C.1 – Radiated immunity test levels defined in the present standard .107
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-20: Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in
transverse electromagnetic (TEM) waveguides
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-20 has been prepared by CISPR subcommittee A: Radio
interference measurements and statistical methods, in cooperation with subcommittee 77B:
High-frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
This standard forms Part 4-20 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-20 consists of the first edition (2003) [documents
CIS/A/419/FDIS and CIS/A/435/RVD] and its amendment 1 (2006) [documents 77B/520/FDIS
and 77B/528/RVD].
The technical content is therefore identical to the base edition and its amendment and has
been prepared for user convenience.
It bears the edition number 1.1.
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 9 –
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendment 1.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will
remain unchanged until the maintenance result date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date,
the publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 11 –
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)
Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic Standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards,
Technical Specifications or Technical Reports, some of which have already been published as
sections. Others will be published with the part number followed by a dash and a second
number identifying the subdivision (example: 61000-6-1).
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 13 –
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-20: Testing and measurement techniques –
Em
...
NORME CEI
INTERNATIONALE 61000-4-20
Edition 1.1
2007-01
Edition 1:2003 consolidée par l'amendement 1:2006
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20:
Techniques d’essai et de mesure –
Essais d’émission et d’immunité dans
les guides d’onde TEM
Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 61000-4-20:2003+A1:2006(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de
60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.
Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les
amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant
l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2
Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
Email: custserv@iec.ch
Tél: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
NORME CEI
INTERNATIONALE 61000-4-20
Edition 1.1
2007-01
Edition 1:2003 consolidée par l'amendement 1:2006
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20:
Techniques d’essai et de mesure –
Essais d’émission et d’immunité dans
les guides d’onde TEM
© IEC 2007 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale CQ
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
– 2 – 61000-4-20 © CEI:2003+A1:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d’application et objet.12
2 Références normatives.14
3 Définitions et abréviations .16
3.1 Définitions.16
3.2 Abréviations.22
4 Généralités.22
5 Exigences concernant les guides d’onde TEM .22
5.1 Exigences générales pour l’utilisation des guides d’onde TEM .24
5.2 Exigences spécifiques pour certains types de guides d’onde TEM.28
5.3 Considérations à propos de l’incertitude de mesure.30
6 Vue d’ensemble des types d’appareils en essai.30
6.1 Petit appareil en essai.30
6.2 Appareil en essai de grande taille.30
Annexe A (normative) Essais d’émission dans les guides d’onde TEM.32
Annexe B (normative) Essais d’immunité dans les guides d’onde TEM .76
Annexe C (normative) Essais de transitoires IEM-HA dans les guides d’onde TEM .92
Annexe D (informative) Caractérisation des guides d’onde TEM .108
Annexe E (informative) Normes contenant des guides d’onde TEM.122
Bibliographie.126
Figure A.1 – Disposition du câble de sortie au coin à l’ortho-angle et au bord inférieur
du volume d’essai .56
Figure A.2 – Positionneur d’ortho-axe ou manipulateur de base.58
Figure A.3 – Trois positions de rotation d’axe orthogonal pour les mesures d’émission.60
Figure A.4 – Orientations canoniques à 12 faces/axes pour un appareil en essai typique. .62
Figure A.5 – Géométrie de l’emplacement d’essai en espace libre.64
Figure A.6 – Cellule TEM à deux accès (septum symétrique).66
Figure A.7 – Cellule TEM à un accès (septum asymétrique).68
Figure A.8 – Ligne ouverte (deux plaques).72
Figure A.9 – Ligne ouverte (quatre plaques, alimentation équilibrée) .74
Figure B.1 – Exemple de montage d’essai pour guides d’onde TEM à polarisation unique .88
Figure B.2 – Points d’étalonnage de la zone uniforme dans un guide d’onde TEM .90
Figure C.1 – Amplitude spectrale dans le domaine fréquentiel entre 100 kHz et 300 MHz.106
– 4 – 61000-4-20 © CEI:2003+A1:2006
Figure D.1 – Guide d’onde le plus simple (pas d’onde TEM !). .120
Figure D.2 – Guides d’onde pour propagation TEM.120
Figure D.3 – Vecteur polarisation.120
Figure D.4 – Modèle de ligne de transmission pour propagation TEM . .120
Figure D.5 – Guides d’onde TEM à un ou deux accès. .120
Tableau B.1 – Points d’étalonnage de la zone uniforme .80
Tableau B.2 – Niveaux d’essai.82
Tableau C.1 – Niveaux d’essai d’immunité aux perturbations rayonnées définis dans
la présente norme.106
– 6 – 61000-4-20 © CEI:2003+A1:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure –
Essais d’émission et d’immunité dans les guides d’onde TEM
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La norme internationale CEI 61000-4-20 a été établie par le sous-comité A du CISPR:
Mesures des perturbations radioélectriques et méthodes statistiques, avec la coopération du sous-
comité 77B: Phénomènes haute fréquence, du comité d’études 77: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la Partie 4-20 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI.
La présente version consolidée de la CEI 61000-4-20 comprend la première édition (2003)
[documents CIS/A/419/FDIS et CIS/A/435/RVD] et son amendement 1 (2006) [documents
77B/520/FDIS et 77B/528/RVD].
Le contenu technique de cette version consolidée est donc identique à celui de l'édition de
base et à son amendement; cette version a été préparée par commodité pour l'utilisateur.
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
– 8 – 61000-4-20 © CEI:2003+A1:2006
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l'amendement 1.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de ses amendements ne sera
pas modifié avant la date de maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous
"http://webstore.iec.ch" dans les données relatives à la publication recherchée. A cette date,
la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
– 10 – 61000-4-20 © CEI:2003+A1:2006
INTRODUCTION
La CEI 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties conformément à la structure
suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)
Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne tombent pas sous la responsabilité des
comités produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de m
...
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-20
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-01
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'émission et d'immunité
dans les guides d'onde TEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20:
Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-20:2003
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-20
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-01
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'émission et d'immunité
dans les guides d'onde TEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20:
Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
IEC 2003 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
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XB
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 61000-4-20 CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 6
INTRODUCTION .10
1 Domaine d’application et objet .12
2 Références normatives .12
3 Définitions et abréviations.14
3.1 Définitions .14
3.2 Abréviations .20
4 Généralités .20
5 Exigences concernant les guides d’onde TEM .22
5.1 Exigences générales pour l’utilisation des guides d’onde TEM.22
5.2 Exigences spécifiques pour certains types de guides d’onde TEM .26
5.3 Considérations à propos de l’incertitude de mesure .28
6 Vue d’ensemble des types d’appareils en essai .28
6.1 Petit appareil en essai .28
6.2 Appareil en essai de grande taille .28
Annexe A (normative) Essais d’émission dans les guides d’onde TEM .30
Annexe B (normative) Essais d’immunité dans les guides d’onde TEM.74
Annexe C (normative) Essais de transitoires IEM-HA dans les guides d’onde TEM .90
Annexe D (informative) Caractérisation des guides d’onde TEM.106
Annexe E (informative) Normes contenant des guides d’onde TEM .120
Bibliographie .124
Figure A.1 – Disposition du câble de sortie au coin à l’ortho-angle et au bord inférieur
du volume d’essai .54
Figure A.2 – Positionneur d’ortho-axe ou manipulateur de base .56
Figure A.3 – Trois positions de rotation d’axe orthogonal pour les mesures d’émission .58
Figure A.4 – Orientations canoniques à 12 faces/axes pour un appareil en essai typique.60
Figure A.5 – Géométrie de l’emplacement d’essai en espace libre .62
Figure A.6 – Cellule TEM à deux accès (septum symétrique) .64
Figure A.7 – Cellule TEM à un accès (septum asymétrique).66
Figure A.8 – Ligne ouverte (deux plaques) .70
Figure A.9 – Ligne ouverte (quatre plaques, alimentation équilibrée).72
Figure B.1 – Exemple de montage d’essai pour guides d’onde TEM à polarisation unique.86
Figure B.2 – Points d’étalonnage de la zone uniforme dans un guide d’onde TEM.88
Figure C.1 – Amplitude spectrale dans le domaine fréquentiel entre 100 kHz et 300 MHz .104
61000-4-20 IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 7
INTRODUCTION .11
1 Scope and object .13
2 Normative references.13
3 Definitions and abbreviations.15
3.1 Definitions .15
3.2 Abbreviations.21
4 General .21
5 TEM waveguide requirements.23
5.1 General requirements for the use of TEM waveguides .23
5.2 Special requirements for certain types of TEM waveguides.27
5.3 Measurement uncertainty considerations .29
6 Overview of EUT Types .29
6.1 Small EUT .29
6.2 Large EUT .29
Annex A (normative) Emission testing in TEM waveguides .31
Annex B (normative) Immunity testing in TEM waveguides .75
Annex C (normative) HEMP transient testing in TEM waveguides.91
Annex D (informative) TEM waveguide characterization .107
Annex E (informative) Standards including TEM waveguides.121
Bibliography.125
Figure A.1 – Routing the exit cable to the corner at the ortho-angle and the lower edge
of the test volume.55
Figure A.2 – Basic ortho-axis positioner or manipulator.57
Figure A.3 – Three orthogonal axis-rotation positions for emission measurements .59
Figure A.4 – Canonical 12-face/axis orientations for a typical EUT.61
Figure A.5 – Open-area test site geometry .63
Figure A.6 – Two-port TEM cell (symmetric septum) .65
Figure A.7 – One-port TEM cell (asymmetric septum).67
Figure A.8 – Stripline (two plates) .71
Figure A.9 – Stripline (four plates, balanced feeding) .73
Figure B.1 – Example of test set-up for single-polarization TEM waveguides.87
Figure B.2 – Uniform area calibration points in TEM waveguide .89
Figure C.1 – Frequency domain spectral magnitude between 100 kHz and 300 MHz.105
– 4 – 61000-4-20 CEI:2003
Figure D.1 – Guide d’onde le plus simple (pas d’onde TEM !). .118
Figure D.2 – Guides d’onde pour propagation TEM. .118
Figure D.3 – Vecteur polarisation .118
Figure D.4 – Modèle de ligne de transmission pour propagation TEM . .118
Figure D.5 – Guides d’onde TEM à un ou deux accès. .118
Tableau B.1 – Points d’étalonnage de la zone uniforme .78
Tableau B.2 – Niveaux d’essai .
...
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61000-4-20
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2007-01
Edition 1:2003 consolidée par l'amendement 1:2006
Edition 1:2003 consolidated with amendment 1:2006
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20:
Techniques d’essai et de mesure –
Essais d'émission et d'immunité
dans les guides d'onde TEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20:
Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-20:2003+A1:2006
Numérotation des publications Publication numbering
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base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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INTERNATIONALE
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61000-4-20
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Edition 1.1
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Edition 1:2003 consolidée par l'amendement 1:2006
Edition 1:2003 consolidated with amendment 1:2006
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20:
Techniques d’essai et de mesure –
Essais d'émission et d'immunité
dans les guides d'onde TEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20:
Testing and measurement techniques –
Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
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SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d’application et objet.12
2 Références normatives.14
3 Définitions et abréviations .16
3.1 Définitions.16
3.2 Abréviations.22
4 Généralités.22
5 Exigences concernant les guides d’onde TEM .22
5.1 Exigences générales pour l’utilisation des guides d’onde TEM .24
5.2 Exigences spécifiques pour certains types de guides d’onde TEM.28
5.3 Considérations à propos de l’incertitude de mesure.30
6 Vue d’ensemble des types d’appareils en essai.30
6.1 Petit appareil en essai.30
6.2 Appareil en essai de grande taille.30
Annexe A (normative) Essais d’émission dans les guides d’onde TEM.32
Annexe B (normative) Essais d’immunité dans les guides d’onde TEM .76
Annexe C (normative) Essais de transitoires IEM-HA dans les guides d’onde TEM .92
Annexe D (informative) Caractérisation des guides d’onde TEM .108
Annexe E (informative) Normes contenant des guides d’onde TEM.122
Bibliographie.126
Figure A.1 – Disposition du câble de sortie au coin à l’ortho-angle et au bord inférieur
du volume d’essai .56
Figure A.2 – Positionneur d’ortho-axe ou manipulateur de base.58
Figure A.3 – Trois positions de rotation d’axe orthogonal pour les mesures d’émission.60
Figure A.4 – Orientations canoniques à 12 faces/axes pour un appareil en essai typique. .62
Figure A.5 – Géométrie de l’emplacement d’essai en espace libre.64
Figure A.6 – Cellule TEM à deux accès (septum symétrique).66
Figure A.7 – Cellule TEM à un accès (septum asymétrique).68
Figure A.8 – Ligne ouverte (deux plaques).72
Figure A.9 – Ligne ouverte (quatre plaques, alimentation équilibrée) .74
Figure B.1 – Exemple de montage d’essai pour guides d’onde TEM à polarisation unique .88
Figure B.2 – Points d’étalonnage de la zone uniforme dans un guide d’onde TEM .90
Figure C.1 – Amplitude spectrale dans le domaine fréquentiel entre 100 kHz et 300 MHz.106
61000-4-20 © IEC:2003+A1:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope and object.13
2 Normative references .15
3 Definitions and abbreviations.17
3.1 Definitions .17
3.2 Abbreviations .23
4 General .23
5 TEM waveguide requirements.23
5.1 General requirements for the use of TEM waveguides .25
5.2 Special requirements for certain types of TEM waveguides .29
5.3 Measurement uncertainty considerations.31
6 Overview of EUT types .31
6.1 Small EUT .31
6.2 Large EUT.31
Annex A (normative) Emission testing in TEM waveguides.33
Annex B (normative) Immunity testing in TEM waveguides.77
Annex C (normative) HEMP transient testing in TEM waveguides .93
Annex D (informative) TEM waveguide characterization.109
Annex E (informative) Standards including TEM waveguides .123
Bibliography.127
Figure A.1 – Routing the exit cable to the corner at the ortho-angle and the lower edge
of the test volume .57
Figure A.2 – Basic ortho-axis positioner or manipulator .59
Figure A.3 – Three orthogonal axis-rotation positions for emission measurements.61
Figure A.4 – Canonical 12-face/axis orientations for a typical EUT.63
Figure A.5 – Open-area test site geometry.65
Figure A.6 – Two-port TEM cell (symmetric septum) .67
Figure A.7 – One-port TEM cell (asymmetric septum) .69
Figure A.8 – Stripline (two plates) .73
Figure A.9 – Stripline (four plates, balanced feeding).75
Figure B.1 – Example of test set-up for single-polarization TEM waveguides .89
Figure B.2 – Uniform area calibration points in TEM waveguide .91
Figure C.1 – Frequency domain spectral magnitude between 100 kHz and 300 MHz .107
– 4 – 61000-4-20 © CEI:2003+A1:2006
Figure D.1 – Guide d’onde le plus simple (pas d’onde TEM !). .120
Figure D.2 – Guides d’onde pour propagation TEM.120
Figure D.3 – Vecteur polarisation.120
Figure D.4 – Modèle de ligne de transmission pour propagation TEM . .120
Figure D.5 – Guides d’onde TEM à un ou deux accès. .120
Tabl
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