IEC 60270:2000

NORME CEI
INTERNATIONALE 60270
Troisième édition
2000-12
Techniques des essais à haute tension –
Mesures des décharges partielles

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Numéro de référence
CEI 60270:2000(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de
60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.
Editions consolidées
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ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
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NORME CEI
INTERNATIONALE 60270
Troisième édition
2000-12
Techniques des essais à haute tension –
Mesures des décharges partielles

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procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale X
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur

– 2 – 60270 © CEI:2000
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS .8
Articles
1 Domaine d’application.12
2 Références normatives .14
3 Définitions.14
4 Circuits d’essai et systèmes de mesure.24
4.1 Prescriptions générales .24
4.2 Circuits d’essai pour tension alternative.24
4.3 Systèmes de mesure de charge apparente.26
4.3.1 Généralités .26
4.3.2 Dispositif de couplage .26
4.3.3 Réponse des appareils de mesure de la charge apparente
à un train d’impulsions .26
4.3.4 Appareils de mesure de DP à large bande .28
4.3.5 Appareils de mesure de DP à large bande avec intégrateur actif .30
4.3.6 Appareils de mesure de DP à bande étroite .30
4.4 Prescriptions pour les mesures effectuées avec des appareils numériques de DP .30
4.4.1 Prescriptions pour la mesure de la charge apparente q .32
4.4.2 Exigences pour la mesure de la phase et de l’amplitude de
la tension d’essai .32
4.5 Systèmes de mesure pour les grandeurs dérivées.32
4.5.1 Dispositifs de couplage .32
4.5.2 Appareils de mesure du taux de répétition des impulsions n.32
4.5.3 Appareils de mesure du courant de décharge moyen I .34
4.5.4 Appareils de mesure de la puissance de décharge P.34
4.5.5 Appareils de mesure du débit quadratique D .34
4.5.6 Appareils de mesure de la tension de perturbation radioélectrique .34
4.6 Appareils à bande passante ultra large pour la détection des DP.36
5 Etalonnage d’un système de mesure dans le circuit d’essai complet .36
5.1 Généralités.36
5.2 Procédure d’étalonnage.36
6 Dispositifs d’étalonnage .38
6.1 Généralités.38
6.2 Dispositif d’étalonnage pour étalonnage du système de mesure dans le circuit
d’essai complet .38
6.3 Dispositifs d’étalonnage pour essais de détermination des caractéristiques
des systèmes de mesure.40

– 4 – 60270 © CEI:2000
Articles Pages
7 Maintien des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage et des systèmes de mesure.40
7.1 Echéancier des essais.40
7.2 Maintien des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage .42
7.2.1 Essais de type des dispositifs d’étalonnage.42
7.2.2 Essais de routine des dispositifs d’étalonnage.42
7.2.3 Essais de détermination des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage .42
7.2.4 Essais de contrôle des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage.42
7.2.5 Recueil de caractéristiques .44
7.3 Maintien des caractéristiques des systèmes de mesure.44
7.3.1 Essais de type des systèmes de mesure de DP .44
7.3.2 Essais de routine des systèmes de mesure.46
7.3.3 Essais de détermination des caractéristiques des systèmes de mesures.46
7.3.4 Contrôle des caractéristiques des systèmes de mesures.46
7.3.5 Contrôle des possibilités supplémentaires des systèmes de mesures
numériques .48
7.3.6 Recueil de caractéristiques .50
8 Essais.50
8.1 Prescriptions générales .50
8.2 Conditionnement de l’objet en essai .50
8.3 Choix des procédures d’essai.52
8.3.1 Détermination des tensions d’apparition et d’extinction des
décharges partielles .52
8.3.2 Détermination de l’amplitude des décharges partielles à une tension
d’essai spécifiée .52
9 Incertitude de mesure et sensibilité .54
10 Perturbations .54
11 Mesures de décharges partielles lors d’essais sous tension continue.56
11.1 Généralités.56
11.2 Grandeurs relatives aux décharges partielles .56
11.3 Tensions relatives aux décharges partielles.56
11.3.1 Tensions d'apparition et d'extinction des décharges .56
11.3.2 Tension d'essai de décharges partielles .58
11.4 Circuits d'essai et dispositifs de mesure .58
11.5 Essais .58
11.5.1 Choix des procédures d'essai.58
11.5.2 Perturbations .58
Annexe A (normative) Essai de détermination des caractéristiques d’un dispositif d'étalonnage .70
Annexe B (informative) Circuits d'essai.76
Annexe C (informative) Mesures sur des câbles, postes sous enveloppe métallique,
condensateurs de puissance et objets en essai comprenant des enroulements .80
Annexe D (informative) Utilisation de mesureurs de perturbations (interférences)
radioélectriques pour la détection des décharges partielles .82
Annexe E (informative) Directives sur l’acquisition numérique des grandeurs relatives
aux décharges partielles.86
Annexe F (informative) Méthodes non électriques de détection de DP .92
Annexe G (informative) Perturbations .94

– 6 – 60270 © CEI:2000
Pages
Figure 1 – Circuits d'essai fondamentaux pour la mesure des décharges partielles.62
Figure 2 – Circuit d'essai pour une mesure faite à la prise d'une traversée .64
Figure 3 – Circuit d'essai pour des objets auto-excités.64
Figure 4 – Connexions pour l'étalonnage du montage d'essai complet.68
Figure 5 – Relation correcte entre l’amplitude et la fréquence pour minimiser l’erreur
d’intégration pour un système de mesure à large bande .68
Figure A.1 – Etalonnage des calibrateurs d'impulsions .74
Figure D.1 – Variation de la lecture f(N) du mesureur de perturbations radioélectriques
du CISPR avec la fréquence de répétition N, pour des impulsions constantes .84
Figure E.1 – Signaux de tension de sortie U de deux dispositifs de mesure différents
out
pour la charge apparente (double impulsion) .90
Tableau 1 – Réponse des appareils de mesure de DP à un train d’impulsions .28
Tableau 2 – Essais demandés pour les dispositifs d’étalonnage .44
Tableau 3 – Essais nécessaires pour les systèmes de mesure .48

– 8 – 60270 © CEI:2000
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
TECHNIQUES DES ESSAIS À HAUTE TENSION –
MESURES DES DÉCHARGES PARTIELLES
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI col
...

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
INTERNATIONAL
Troisième édition
STANDARD
Third edition
2000-12
Techniques des essais à haute tension –
Mesures des décharges partielles
High-voltage test techniques –
Partial discharge measurements
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60270:2000
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
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• IEC Just Published
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INTERNATIONALE IEC
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Troisième édition
STANDARD
Third edition
2000-12
Techniques des essais à haute tension –
Mesures des décharges partielles
High-voltage test techniques –
Partial discharge measurements
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– 2 – 60270 © CEI:2000
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS .8
Articles
1 Domaine d’application.12
2 Références normatives .14
3 Définitions.14
4 Circuits d’essai et systèmes de mesure.24
4.1 Prescriptions générales .24
4.2 Circuits d’essai pour tension alternative.24
4.3 Systèmes de mesure de charge apparente.26
4.3.1 Généralités .26
4.3.2 Dispositif de couplage .26
4.3.3 Réponse des appareils de mesure de la charge apparente
à un train d’impulsions .26
4.3.4 Appareils de mesure de DP à large bande .28
4.3.5 Appareils de mesure de DP à large bande avec intégrateur actif .30
4.3.6 Appareils de mesure de DP à bande étroite .30
4.4 Prescriptions pour les mesures effectuées avec des appareils numériques de DP .30
4.4.1 Prescriptions pour la mesure de la charge apparente q .32
4.4.2 Exigences pour la mesure de la phase et de l’amplitude de
la tension d’essai .32
4.5 Systèmes de mesure pour les grandeurs dérivées.32
4.5.1 Dispositifs de couplage .32
4.5.2 Appareils de mesure du taux de répétition des impulsions n.32
4.5.3 Appareils de mesure du courant de décharge moyen I .34
4.5.4 Appareils de mesure de la puissance de décharge P.34
4.5.5 Appareils de mesure du débit quadratique D .34
4.5.6 Appareils de mesure de la tension de perturbation radioélectrique .34
4.6 Appareils à bande passante ultra large pour la détection des DP.36
5 Etalonnage d’un système de mesure dans le circuit d’essai complet .36
5.1 Généralités.36
5.2 Procédure d’étalonnage.36
6 Dispositifs d’étalonnage .38
6.1 Généralités.38
6.2 Dispositif d’étalonnage pour étalonnage du système de mesure dans le circuit
d’essai complet .38
6.3 Dispositifs d’étalonnage pour essais de détermination des caractéristiques
des systèmes de mesure.40

60270 © IEC:2000 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 9
Clause
1 Scope . 13
2 Normative references . 15
3 Definitions. 15
4 Test circuits and measuring systems . 25
4.1 General requirements. 25
4.2 Test circuits for alternating voltages . 25
4.3 Measuring systems for apparent charge . 27
4.3.1 General. 27
4.3.2 Coupling device. 27
4.3.3 Pulse train response of instruments for the measurement
of apparent charge . 27
4.3.4 Wide-band PD instruments. 29
4.3.5 Wide-band PD instruments with active integrator . 31
4.3.6 Narrow-band PD instruments. 31
4.4 Requirements for measurements with digital PD-instruments. 31
4.4.1 Requirements for measurement of apparent charge q. 33
4.4.2 Requirements for measurement of test voltage magnitude and phase . 33
4.5 Measuring systems for derived quantities . 33
4.5.1 Coupling device. 33
4.5.2 Instruments for the measurement of pulse repetition rate n . 33
4.5.3 Instruments for the measurement of average discharge current I . 35
4.5.4 Instruments for the measurement of discharge power P. 35
4.5.5 Instruments for the measurement of quadratic rate D. 35
4.5.6 Instruments for the measurement of the radio disturbance voltage . 35
4.6 Ultra-wide-band instruments for PD detection . 37
5 Calibration of a measuring system in the complete test circuit. 37
5.1 General. 37
5.2 Calibration procedure. 37
6 Calibrators . 39
6.1 General. 39
6.2 Calibrators for the calibration of a measuring system in the complete test circuit. 39
6.3 Calibrators for performance tests on measuring systems . 41

– 4 – 60270 © CEI:2000
Articles Pages
7 Maintien des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage et des systèmes de mesure.40
7.1 Echéancier des essais.40
7.2 Maintien des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage .42
7.2.1 Essais de type des dispositifs d’étalonnage.42
7.2.2 Essais de routine des dispositifs d’étalonnage.42
7.2.3 Essais de détermination des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage .42
7.2.4 Essais de contrôle des caractéristiques des dispositifs d’étalonnage.42
7.2.5 Recueil de caractéristiques .44
7.3 Maintien des caractéristiques des systèmes de mesure.44
7.3.1 Essais de type des systèmes de mesure de DP .44
7.3.2 Essais de routine des systèmes de mesure.46
7.3.3 Essais de détermination des caractéristiques des systèmes de mesures.46
7.3.4 Contrôle des caractéristiques des systèmes de mesures.46
7.3.5 Contrôle des possibilités supplémentaires des systèmes de mesures
numériques .48
7.3.6 Recueil de caractéristiques .50
8 Essais.50
8.1 Prescriptions générales .
...

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Edition 3.1 2015-11
CONSOLIDATED VERSION
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High-voltage test techniques – Partial discharge measurements

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and withdrawn publications. have been collected from earlier publications of IEC TC 37,

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comité d’études,…). Elle donne aussi des informations sur les Définitions des publications IEC parues depuis 2002. Plus
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Techniques des essais à haute tension – Mesures des décharges partielles

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Edition 3.1 2015-11
CONSOLIDATED VERSION
REDLINE VERSION
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Techniques des essais à haute tension – Mesures des décharges partielles

– 2 – IEC 60270:2000+AMD1:2015 CSV
© IEC 2015
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope . 7
2 Normative references. 7
3 Terms and definitions . 8
4 Test circuits and measuring systems . 12
4.1 General requirements . 12
4.2 Test circuits for alternating voltages . 13
4.3 Measuring systems for apparent charge . 13
4.3.1 General . 13
4.3.2 Coupling device . 13
4.3.3 Pulse train response of instruments for the measurement
of apparent charge . 14
4.3.4 Wide-band PD instruments . 14
4.3.5 Wide-band PD instruments with active integrator . 15
4.3.6 Narrow-band PD instruments . 15
4.4 Requirements for measurements with digital PD-instruments . 15
4.4.1 Requirements for measurement of apparent charge q . 16
4.4.2 Requirements for measurement of test voltage magnitude and phase . 16
4.5 Measuring systems for derived quantities . 16
4.5.1 Coupling device . 16
4.5.2 Instruments for the measurement of pulse repetition rate n . 16
4.5.3 Instruments for the measurement of average discharge current I . 16
4.5.4 Instruments for the measurement of discharge power P . 17
4.5.5 Instruments for the measurement of quadratic rate D . 17
4.5.6 Instruments for the measurement of the radio disturbance voltage. 17
4.6 Ultra-wide-band instruments for PD detection . 17
5 Calibration of a measuring system in the complete test circuit . 18
5.1 General . 18
5.2 Calibration procedure . 18
6 Calibrators . 19
6.1 General . 19
6.2 Calibrators for the calibration of a measuring system in the complete test circuit . 20
6.3 Calibrators for performance tests on measuring systems . 20
7 Maintaining the characteristics of calibrators and measuring systems . 20
7.1 Schedule of tests . 21
7.2 Maintaining the characteristics of calibrators . 21
7.2.1 Type tests on calibrators . 21
7.2.2 Routine tests on calibrators . 21
7.2.3 Performance tests on calibrators . 21
7.2.4 Performance checks on calibrators . 21
7.2.5 Record of performance . 22
7.3 Maintaining the characteristics of measuring systems . 22
7.3.1 Type tests on PD measuring systems . 22
7.3.2 Routine tests on measuring systems . 23
7.3.3 Performance tests on measuring systems . 23
7.3.4 Performance checks for measuring systems . 23

© IEC 2015
7.3.5 Checks for additional capabilities of digital measuring systems . 24
7.3.6 Record of performance . 24
8 Tests . 25
8.1 General requirements . 25
8.2 Conditioning of the test object . 25
8.3 Choice of test procedure . 25
8.3.1 Determination of the partial discharge inception and extinction voltages . 25
8.3.2 Determination of the partial discharge magnitude at a specified
test voltage . 26
9 Measuring uncertainty and sensitivity . 26
10 Disturbances . 27
11 Partial discharge measurements during tests with direct voltage . 27
11.1 General . 27
11.2 PD quantities related to partial discharges . 28
11.3 Voltages related to partial discharges. 28
11.3.1 Partial discharge inception and extinction voltages . 28
11.3.2 Partial discharge test voltage . 28
11.4 Test circuits and measuring systems. 29
11.5 Tests . 29
11.5.1 Choice of test procedures . 29
11.5.2 Disturbances . 29
Annex A (normative) Performance test on a calibrator . 36
Annex B (informative) Test circuits . 41
Annex C (informative) Measu
...