IEC 61163-1:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61163-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-06
Déverminage sous contraintes –
Partie 1:
Assemblages réparables fabriqués en lots

Reliability stress screening –
Part 1:
Repairable assemblies manufactured in lots
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61163-1:2006
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
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comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
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nible par courrier électronique. Veuillez prendre by email. Please contact the Customer Service
contact avec le Service client (voir ci-dessous) Centre (see below) for further information.
pour plus d’informations.
• Service clients • Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette If you have any questions regarding this
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supplémentaires, prenez contact avec le Service contact the Customer Service Centre:
clients:
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Tél: +41 22 919 02 11 Tel: +41 22 919 02 11
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61163-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-06
Déverminage sous contraintes –
Partie 1:
Assemblages réparables fabriqués en lots

Reliability stress screening –
Part 1:
Repairable assemblies manufactured in lots

 IEC 2006 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
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– 2 – 61163-1  CEI:2006
I
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS. 32H8
INTRODUCTION. 33H12

1 Domaine d'application . 34H18
2 Références normatives. 35H18
3 Termes et définitions . 36H22
4 Symboles . 37H26
5 Description générale . 38H26
5.1 Principe du déverminage sous contraintes . 39H26
5.2 Catégories de défaillances . 40H30
5.3 Temps d’apparition des défaillances. 41H32
6 Préparation . 42H32
6.1 Détermination des conditions de contrainte . 43H32
6.2 Evaluation de la période sans défaillance T . 44H36
M
6.3 Graphiques des durées de détermination de la période sans défaillance . 45H40
7 Déverminage de production de présérie . 46H50
7.1 Généralités. 47H50
7.2 Collecte des informations . 48H50
7.3 Evaluation des informations . 49H50
7.4 Nouvelle estimation de la période sans défaillance T . 50H52
M
8 Déverminage d'une production stabilisée. 51H54
8.1 Généralités. 52H54
8.2 Collecte des informations . 53H54
8.3 Evaluation des informations . 54H54
8.4 Traitement des anomalies . 55H54
8.5 Suppression du déverminage sous contraintes. 56H58

Annexe A (informative) Conditions des contraintes – Généralités. 57H60
Annexe B (informative) Conditions de contraintes – Température . 58H66
Annexe C (informative) Conditions de contraintes – Vibrations et secousses . 59H74
Annexe D (informative) Conditions de contraintes – Humidité . 60H86
Annexe E (informative) Conditions de contraintes – Contraintes de fonctionnement. 61H92
Annexe F (informative) Contrainte de tension . 62H96
Annexe G (informative) Déverminage à forte accélération. 63H98
Annexe H (informative) Distributions bimodales – Relevés expérimentaux sur graphe
de Weibull et analyses . 64H100
Annexe I (informative) Evaluation de la durée de la période sans défaillance et de la
durée moyenne du déverminage . 65H112
Annexe J (informative) Démonstration de la méthode par un exemple . 66H132

Bibliographie. 67H160

61163-1  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.9
INTRODUCTION.13
1 Scope.19
2 Normative references .19
3 Terms and definitions .23
4 Symbols .27
5 General description .27
5.1 The reliability stress screening principle .27
5.2 Failure categories.31
5.3 Time of occurrence of failures .33
6 Planning .33
6.1 Stress conditioning.33
6.2 Evaluation of the failure-free period T .37
M
6.3 Time graphs for determination of the failure-free period .41
7 Pilot-production screening .51
7.1 General .51
7.2 Collection of information.51
7.3 Evaluation of information.51
7.4 Re-evaluating the failure-free period T .53
M
8 Mature production screening .55
8.1 General .55
8.2 Collection of information.55
8.3 Evaluation of information.55
8.4 Dealing with discrepancies .55
8.5 Eliminating reliability stress screening .59
Annex A (informative) Stress conditions – General information .61
Annex B (informative) Stress conditions – Temperature .67
Annex C (informative) Stress conditions – Vibration and bump .75
Annex D (informative) Stress conditions – Humidity .87
Annex E (informative) Stress conditions – Operational stress .93
Annex F (informative) Voltage stress .97
Annex G (informative) Highly accelerated stress screening.99
Annex H (informative) Bimodal distributions – Weibull plotting and analysis.101
Annex I (informative) Evaluation of the failure-free period and the average screening
duration.113
Annex J (informative) Worked example .133
Bibliography.161

– 4 – 61163-1  CEI:2006
I
Figure 1 – Différence co
...