IEC 61298-2:2026

IEC 61298-2 ®
Edition 3.0 2026-06
NORME
INTERNATIONALE
Dispositifs de mesure et de commande de processus - Méthodes et procédures
générales d'évaluation des performances -
Partie 2: Essais dans les conditions de référence
ICS 25.040.40  ISBN 978-2-8327-1265-8

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utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et
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A propos de l'IEC
La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

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SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 3
INTRODUCTION . 5
1 Domaine d’application . 6
2 Références normatives . 6
3 Termes et définitions . 6
4 Facteurs liés à la précision . 8
4.1 Procédures d'essai et précautions . 8
4.1.1 Choix des étendues d'essai . 8
4.1.2 Cycles de préconditionnement . 9
4.1.3 Nombre de cycles de mesure et de points d'essai . 9
4.1.4 Essais supplémentaires en cas d’entrées et sorties numériques . 9
4.1.5 Procédure de mesure . 9
4.1.6 Traitement des valeurs mesurées . 10
4.1.7 Détermination des facteurs liés à la précision . 10
4.1.8 Présentation des résultats . 13
4.2 Procédures d’essais spécifiques et précautions à prendre pour déterminer la
zone d’insensibilité . 13
4.2.1 Choix des étendues pour l’essai et le préconditionnement . 13
4.2.2 Procédure de mesure . 13
4.2.3 Présentation des résultats . 14
5 Comportement dynamique . 14
5.1 Considérations générales . 14
5.2 Procédures d’essais générales et précautions . 14
5.3 Réponse en fréquence . 15
5.4 Réponse à un échelon . 16
6 Caractéristique fonctionnelle . 17
6.1 Généralités . 17
6.2 Résistance d'entrée d'un dispositif électrique . 18
6.3 Isolement des dispositifs électriques . 18
6.3.1 Considérations générales . 18
6.3.2 Résistance d’isolement . 19
6.3.3 Rigidité diélectrique . 19
6.4 Consommation de puissance . 19
6.4.1 Consommation électrique . 19
6.4.2 Consommation d’air . 20
6.5 Ondulation de sortie d’un dispositif à sortie électrique en courant continu . 20
6.6 Caractéristiques de débit d'air d'un dispositif pneumatique . 20
6.6.1 Mise en place initiale . 20
6.6.2 Débit fourni Q . 21
6.6.3 Débit évacué Q . 21
6.6.4 Présentation des données . 21
6.7 Limites de réglage de la valeur inférieure de l'étendue et de l’intervalle . 22
6.8 Différentiel de commutation . 23
7 Dérive . 23
7.1 Dérive au démarrage . 23
7.2 Dérive à long terme . 23
Bibliographie . 24

Figure 1 – Courbes d'erreur . 12
Figure 2 – Deux exemples de réponse en fréquence . 16
Figure 3 – Exemples de réponses non amorties et amorties à une entrée variable par
échelon . 17
Figure 4 – Montage d’essai pour la mesure de la résistance d’entrée . 18
Figure 5 – Montage d’essai pour la mesure des caractéristiques de débit d’air . 20
Figure 6 – Caractéristiques typiques du débit d’air . 22

Tableau 1 – Réglages de l’intervalle et de la valeur inférieure de l'étendue . 8
Tableau 2 – Nombre de cycles de mesure; nombre et emplacement des points d’essai . 10
Tableau 3 – Tableau d’erreurs typiques d’un dispositif . 11
Tableau 4 – Tensions d’essai pour l’essai de rigidité diélectrique . 19

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
Dispositifs de mesure et de commande de processus -
Méthodes et procédures générales d’évaluation des performances -
Partie 2: Essais dans les conditions de référence

AVANT-PROPOS
1) La Commission Électrotechnique Internationale (IEC) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de l’IEC). L’IEC a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. À cet effet, l’IEC – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de l’IEC"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux
travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’IEC, participent également aux
travaux. L’IEC collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de l’IEC concernant les questions techniques représentent, dans la mesure du
possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de l’IEC intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de l’IEC se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de l’IEC. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que l’IEC
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; l’IEC ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de l’IEC s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de l’IEC dans leurs publications nationales
et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de l’IEC et toutes publications nationales ou
régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) L’IEC elle-même ne fournit aucune attestation de conformité. Des organismes de certification indépendants
fournissent des services d'évaluation de conformité et, dans certains secteurs, accèdent aux marques de
conformité de l’IEC. L’IEC n'est responsable d'aucun des services effectués par les organismes de certification
indépendants.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à l’IEC, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou mandataires,
y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités nationaux de l’IEC,
pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre dommage de quelque
nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais de justice) et les dépenses
découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de l’IEC ou de toute autre Publication de l’IEC,
ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L'IEC attire l'attention sur le fait que la mise en application du présent document peut entraîner l'utilisation d'un
ou de plusieurs brevets. L'IEC ne prend pas position quant à la preuve, à la validité et à l'applicabilité de tout
droit de brevet revendiqué à cet égard. À la date de publication du présent document, l'IEC n'a pas reçu
notification qu'un ou plusieurs brevets pouvaient être nécessaires à sa mise en application. Toutefois, il y a lieu
d'avertir les responsables de la mise en application du présent document que des informations plus récentes
sont susceptibles de figurer dans la base de données de brevets, disponible à l'adresse https://patents.iec.ch.
L'IEC ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de brevets.
L'IEC 61298-2 a été établie par le sous-comité 65B: Équipements de mesure et de contrôle-
commande, du comité d’études 65 de l'IEC: Mesure, commande et automation dans les
processus industriels. Il s'agit d'une Norme internationale.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition parue en 2008. Cette édition
constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques significatives suivantes par rapport à l'édition
précédente:
a) Les émetteurs de mesure de processus (PMT, process measurement transmitters) ont été
retirés du domaine d'application de la présente norme.
Le texte de cette Norme internationale est issu des documents suivants:
Projet Rapport de vote
65B/1311/FDIS 65B/1322/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à son approbation.
La langue employée pour l'élaboration de cette Norme internationale est l'anglais.
Ce document a été rédigé selon les Directives ISO/IEC, Partie 2, il a été développé selon les
Directives ISO/IEC, Partie 1 et les Directives ISO/IEC, Supplément IEC, disponibles sous
www.iec.ch/members_experts/refdocs. Les principaux types de documents développés par
l'IEC sont décrits plus en détail sous www.iec.ch/publications.
Une liste de toutes les parties de la série IEC 61298, publiées sous le titre général Dispositifs
de mesure et de commande de processus - Méthodes et procédures générales d'évaluation des
performances, se trouve sur le site web de l'IEC.
Le comité a décidé que le contenu de ce document ne sera pas modifié avant la date de stabilité
indiquée sur le site web de l'IEC sous webstore.iec.ch dans les données relatives au document
recherché. À cette date, le document sera
– reconduit,
– supprimé, ou
– révisé.
INTRODUCTION
Le présent document est considéré comme un document de référence pour l’élaboration de
futures normes, tant par l’IEC que par d’autres organismes de normalisation, dans le domaine
de l’évaluation de l’instrumentation des processus, à l’exception des émetteurs de mesure de
processus (PMT) qui sont normalisés par la série IEC 62828.
Lors de l’établissement de futures normes applicables, les éléments normatifs suivants peuvent
être utilisés:
– toute méthode ou procédure d’essai figurant déjà dans le présent document sera spécifiée
et décrite dans la nouvelle norme en faisant référence à l’article correspondant du présent
document. C’est pourquoi les nouvelles éditions révisées du présent
document ne comportent pas de modification quant à la numérotation des articles et leur
domaine d’application;
– toute méthode ou procédure d’essai particulière non couverte par le présent document sera
développée et spécifiée dans la nouvelle norme conformément aux critères définis dans le
présent document, dans la mesure où ils sont applicables;
– tout écart fondamental ou important par rapport au contenu du présent document sera
distinctement identifié et justifié, s’il est introduit dans une nouvelle norme.

1 Domaine d’application
La présente partie de l’IEC 61298 spécifie les méthodes et procédures générales pour la
conduite des essais et la production de rapports sur les caractéristiques fonctionnelles et de
performance des instruments de processus à l’exception des émetteurs de mesure de
processus (PMT) qui sont normalisés par la série IEC 62828. Ces essais sont applicables à
tout dispositif à condition que ce dispositif soit caractérisé par ses propres variables d’entrée
et de sortie et par la relation spécifique (fonction de transfert) entre les entrées et les sorties.
Ils concernent les dispositifs analogiques et numériques. Pour les dispositifs qui exigent des
essais spéciaux, la présente norme peut être utilisée en conjonction avec la norme particulière
de produit spécifiant ces essais spéciaux.
Le présent document couvre les essais effectués dans les conditions de référence.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu'ils constituent, pour tout ou partie
de leur contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule
l'édition citée s'applique. Pour les références non datées, la dernière édition du document de
référence s'applique (y compris les éventuels amendements).
IEC 60050-300, Vocabulaire Électrotechnique International (IEV) - Mesures et appareils de
mesure électriques et électroniques - Partie 311: Termes généraux concernant les mesures -
Partie 312: Termes généraux concernant les mesures électriques - Partie 313: Types
d’appareils électriques de mesure - Partie 314: Termes spécifiques selon le type d’appareil,
disponible à l’adresse https://www.electropedia.org/
IEC 60050-351, Vocabulaire Électrotechnique International (IEV) - Partie 351: Technologie de
commande et de régulation, disponible à l'adresse https://www.electropedia.org/
IEC 61010-1, Exigences de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de régulation et
de laboratoire - Partie 1: Exigences générales
IEC 61298-1:2026, Dispositifs de mesure et de commande de processus – Méthodes et
procédures générales d’évaluation des performances - Partie 1: Généralités
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l'IEC 60050-300, de
l'IEC 60050-351 ainsi que les suivants s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées
en normalisation, consultables aux adresses suivantes:
– IEC Electropedia: disponible à l'adresse https://www.electropedia.org/
– ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https://www.iso.org/obp
3.1
non-conformité
degré de proximité entre une courbe d’étalonnage et une courbe caractéristique spécifiée (par
exemple linéaire, logarithmique ou parabolique)
Note 1 à l'article: La non-conformité ne comprend pas l'hystérésis.
3.2
temps mort
intervalle de temps compris entre l’instant où l’on provoque une variation d’une variable
d’entrée et l’instant où débute la variation subséquente de la variable de sortie
[IEC 60050-351, 351-50-30, modifié – La définition a été modifiée et la note à l'article a été
supprimée].
3.3
temps de montée
pour une réponse à un échelon, durée de l’intervalle de temps compris entre l’instant où la
variable de sortie (partant de la valeur zéro) atteint un pourcentage spécifié et faible (par
exemple 10 %) de sa valeur de régime finale et l’instant où cette même variable atteint pour la
première fois un pourcentage spécifié et fort (par exemple 90 %) de cette même différence
[IEC 60050-845:2020, 845-25-067, modifié – La définition a été modifiée et les trois notes à
l'article ont été supprimées.]
3.4
durée d'établissement
intervalle de temps compris entre l’instant de la variation en échelon d’une variable d’entrée et
l’instant où la variation de la variable de sortie ne s’écarte pas de plus d’une tolérance spécifiée
de la valeur finale de régime permanent
Note 1 à l'article: Dans le présent document, une tolérance de 1 % est adoptée.
[IEC 60050-351:2013, 351-45-37, modifié – La définition a été modifiée et la Note 1 à l’article
a été ajoutée.]
3.5
temps de réponse à un échelon
intervalle de temps compris entre l'instant où une variation en échelon est appliquée à la
variable d'entrée, et l'instant où la variable de sortie atteint pour la première fois un pourcentage
spécifié de la différence entre ses valeurs de régime établi final et initial
Note 1 à l'article: Dans le présent document, un pourcentage spécifié de 90 % est adopté.
[IEC 60050-351:2013, 351-45-36, modifié – La définition a été modifiée et la Note 1 à l’article
a été ajoutée.]
3.6
constante de temps
temps nécessaire pour atteindre 63,2 % de la variation totale de la sortie d’un système linéaire
du premier ordre, résultant de l’application à la variable d’entrée d’une variation en échelon
[IEC 60050-351:2013, 351-45-32, modifié – La définition a été modifiée et les cinq notes à
l'article ont été supprimées]
4 Facteurs liés à la précision
4.1 Procédures d'essai et précautions
4.1.1 Choix des étendues d'essai
4.1.1.1 Généralités
Lorsqu’il y a des commutations d'étendues ou des réglages par cadran (par exemple réglage
de gain), les essais doivent être répétés pour couvrir toutes les étendues ou tous les réglages.
Lorsque le dispositif soumis à essai (DUT, device under test) est fourni étalonné pour
l’utilisation, le premier groupe d’essais doit être effectué sans réglage.
4.1.1.2 Critères
Les mesures doivent être effectuées sur les dispositifs fonctionnant avec le nombre minimal de
réglages d’étalonnage nécessaires pour déterminer les performances du dispositif pour tous
les réglages exigés en exploitation et exigés par le programme d’essais (voir Article 5 de
l’IEC 61298-1:2026).
L’essai d’un dispositif possédant une large étendue de réglages tant de l’intervalle que de la
valeur inférieure de l'étendue peut exiger un nombre d’essais impossible à réaliser dans la
pratique. Dans ce cas, des essais préliminaires doivent être effectués pour déterminer
l’influence de la modification des réglages d’intervalle et de valeur inférieure de l'étendue sur
la caractéristique mesurée. Il convient que cela permette d’éliminer certains essais du
programme d’essais lorsque la caractéristique peut être déduite de façon fiable d’un nombre
plus réduit d’essais. Par exemple, l’hystérésis n'est pas notablement sensible au choix de la
valeur inférieure et supérieure de l'étendue si l’intervalle reste constant et il est souvent permis
de la déduire, pour différentes valeurs d’intervalle, de mesures effectuées avec un seul réglage
d’intervalle.
Toutefois, le rapport doit préciser clairement les valeurs correspondantes des paramètres
mesurés pour chaque valeur des réglages afin que les valeurs d’imprécisions, d’hystérésis, etc.
puissent toutes être rapportées au même réglage du dispositif.
4.1.1.3 Réglages de l’intervalle et de la valeur inférieure de l'étendue
Généralement, sauf spécification contraire dans le programme d’essais, les essais de facteurs
liés à la précision doivent être effectués en réglant les commandes aux valeurs A, B, C, D,
énumérées ci-dessous, et conformément au Tableau 1 chaque fois que les réglages d’intervalle
et/ou de la valeur inférieure de l'étendue sont réglables au-delà des réglages prévus pour les
tolérances de fabrication.
NOTE D'autres détails sur les essais de comportement dynamique, de caractéristiques fonctionnelles et de dérive
sont donnés à l'Article 5, à l'Article 6 et à l'Article 7, respectivement.
Tableau 1 – Réglages de l’intervalle et de la valeur inférieure de l'étendue
Suppression et/ou
Type d'essai Intervalle de réglage
élévation du zéro
Essais Évaluation des performances
A B
complets Essai de type
Essais Essais individuels de série
C D
simplifiés Essai par échantillonnage

Réglage A Intervalle réglé aux valeurs maximale et minimale spécifiées par le fabricant et à
une valeur intermédiaire.
Réglage B Les essais sont normalement effectués avec un seul réglage de la valeur inférieure
de l'étendue, sans suppression ni élévation, mais d’autres essais aux réglages
minimal et maximal peuvent être exigés si des effets importants sont observés.
Réglage C Sauf spécification contraire dans le programme d’essais, l’intervalle doit être laissé
comme réglé par le fabricant.
Réglage D Sauf spécification contraire dans le programme d’essais, la valeur inférieure de
l'étendue doit être laissée comme réglée par le fabricant.
4.1.2 Cycles de préconditionnement
Avant de noter les résultats observés, le DUT doit être préconditionné tel que décrit au 7.12 de
l'IEC 61298-1:2026 et doit être soumis à trois balayages de toute l'étendue dans chaque
direction.
4.1.3 Nombre de cycles de mesure et de points d'essai
Les performances du DUT doivent être vérifiées sur toute l'étendue pour des valeurs
croissantes et décroissantes.
Compte tenu des aspects économiques décrits au 5.2 de l’IEC 61298-1:2026, le nombre de
cycles de mesure et de points d’essai doit être aussi faible que possible. Le nombre et
l’emplacement des points d’essai doivent être compatibles avec le type d’essai et le degré de
précision souhaité ainsi que les caractéristiques évaluées.
Le nombre de points d’essai croissants et décroissants doit être le même pour chaque point
d’essai prédéterminé, à l’exception de 0 % et 100 % qui ne sont atteints que lorsque la mesure
est effectuée en descendant ou en montant.
Le nombre de cycles de mesure et le nombre de points d’essai sont fonction du type d’essai
considéré. Sauf spécification contraire pour un type particulier de dispositif, les valeurs et
emplacements qu’il convient d’adopter sont donnés dans le Tableau 2.
4.1.4 Essais supplémentaires en cas d’entrées et sorties numériques
Des essais doivent être effectués pour s’assurer que les protocoles sont conformes aux normes
internationales (par exemple RS 232, IEEE 488) ou aux spécifications du fournisseur du DUT.
Des essais doivent être effectués pour confirmer que le DUT fonctionne correctement
conformément au protocole spécifié, dans les conditions de référence et ceci sans erreur
(ou dans les limites des taux d’erreurs spécifiés par le fournisseur). Les niveaux logiques "1"
et "0" doivent être déterminés. Des essais doivent également être effectués pour mettre en
évidence les erreurs d’affichage (éléments manquants, etc.), la brillance, le contraste et l’angle
de vue limite avant la perte de cette brillance ou de ce contraste. La vitesse de rafraîchissement
doit être enregistrée, de même que les erreurs (de précision) de l’affichage.
4.1.5 Procédure de mesure
La première mesure doit être effectuée sur la première valeur significative de l’échelle après
0 % de l’intervalle d’entrée (par exemple 10 % de l’intervalle d’entrée – voir Tableau 2).
Initialement, un signal d’entrée égal à la valeur inférieure de l'étendue est généré, puis le signal
d’entrée est augmenté lentement pour atteindre, sans le dépasser, le premier point d’essai;
après un temps de stabilisation, la valeur des signaux d’entrée et de sortie correspondants est
notée.
Le signal d’entrée est ensuite augmenté lentement pour atteindre, sans la dépasser, la valeur
du point d’essai suivant, et après un temps de stabilisation, la valeur correspondante du signal
de sortie est notée.
L’opération est recommencée pour toutes les valeurs prédéterminées jusqu’à 100 % de
l’intervalle d’entrée. Après avoir effectué la mesure en ce point, le signal d’entrée est réduit
lentement à la valeur d’essai juste en dessous de 100 % de l’intervalle d’entrée puis à toutes
les autres valeurs en redescendant jusqu’à 0 % de l’intervalle d’entrée, ce qui termine le cycle
de mesure.
Tableau 2 – Nombre de cycles de mesure; nombre et emplacement des points d’essai
Nombre de
Emplacement des points d'essai
Nombre de cycles de
Type d'essai points
mesure
(% de l'intervalle d'entrée)
d'essai
Essais Évaluation des 6 0-20-40-60-80-100
performances
3 ou 5
complets Essais de type 11 0-10-20-30-40-50-60-70-80-90-100
Essais Essais 1 5 0-25-50-75-100
individuels de
série
simplifiés Essais par
échantillonnage
4.1.6 Traitement des valeurs mesurées
La différence entre les valeurs du signal de sortie obtenues aux différents points d’essai pour
chaque balayage montant et descendant et les valeurs idéales correspondantes sont
enregistrées comme étant les erreurs de sortie.
Les erreurs doivent généralement être exprimées en pourcentage de l’intervalle de sortie idéal.
Sur certains dispositifs (par exemple enregistreurs ou dispositifs à gain réglable), il peut
s’avérer plus pratique d’exprimer les erreurs en pourcentage de l’intervalle d’entrée nominal
(voir le 7.16 de l’IEC 61298-1:2026).
Pour chaque point de mesure, la moyenne des lectures obtenues pour les erreurs en montant
et en descendant lors des cycles successifs doit être faite pour obtenir les valeurs moyennes
en montant et en descendant, la moyenne de ces deux valeurs étant la valeur moyenne en ce
point.
Toutes les valeurs d’erreur a
...

IEC 61298-2 ®
Edition 3.0 2026-06
INTERNATIONAL
STANDARD
Process measurement and control devices - General methods and procedures
for evaluating performance -
Part 2: Tests under reference conditions
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CONTENTS
FOREWORD . 3
INTRODUCTION . 5
1 Scope . 6
2 Normative references . 6
3 Terms and definitions . 6
4 Accuracy related factors . 7
4.1 Test procedures and precautions . 7
4.1.1 Selection of ranges for test . 7
4.1.2 Preconditioning cycles . 8
4.1.3 Number of measurement cycles and test points . 9
4.1.4 Additional tests where digital inputs and outputs are provided . 9
4.1.5 Measurement procedure . 9
4.1.6 Processing of the measured values . 10
4.1.7 Determination of accuracy related factors . 10
4.1.8 Presentation of the results . 13
4.2 Specific testing procedures and precautions for the determination of dead
band . 13
4.2.1 Selection of ranges for test and preconditioning . 13
4.2.2 Measurement procedure . 13
4.2.3 Presentation of the results . 13
5 Dynamic behaviour . 14
5.1 General considerations . 14
5.2 General testing procedures and precautions . 14
5.3 Frequency response . 14
5.4 Step response. 15
6 Functional characteristic . 17
6.1 General . 17
6.2 Input resistance of an electrical device . 17
6.3 Insulation of electrical devices . 17
6.3.1 General considerations . 17
6.3.2 Insulation resistance . 18
6.3.3 Dielectric strength. 18
6.4 Power consumption. 18
6.4.1 Electrical power consumption . 18
6.4.2 Air consumption . 19
6.5 Output ripple of a device with an electrical DC output . 19
6.6 Air flow characteristics of a pneumatic device . 19
6.6.1 Initial setting up . 19
6.6.2 Delivered flow Q . 20
6.6.3 Exhausted flow Q . 20
6.6.4 Data presentation . 20
6.7 Limits of adjustments of lower range value and span . 21
6.8 Switching differential . 21
7 Drift . 22
7.1 Start-up drift . 22
7.2 Long-term drift . 22
Bibliography . 23

Figure 1 – Error curves . 12
Figure 2 – Two examples of frequency response . 15
Figure 3 – Examples of undamped and damped response to a step input . 16
Figure 4 – Test set-up for input resistance . 17
Figure 5 – Test arrangement for measurement of airflow characteristics . 19
Figure 6 – Typical air flow characteristics . 21

Table 1 – Settings of span and lower range value adjustments . 8
Table 2 – Number of measurement cycles and number and location of test points . 9
Table 3 – Typical table of device errors . 11
Table 4 – Dielectric strength test voltages . 18

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
Process measurement and control devices -
General methods and procedures for evaluating performance -
Part 2: Tests under reference conditions

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international
co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and
in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports,
Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as "IEC Publication(s)"). Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with
may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for
Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between
any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) IEC draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a)
patent(s). IEC takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights in
respect thereof. As of the date of publication of this document, IEC had not received notice of (a) patent(s), which
may be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent
the latest information, which may be obtained from the patent database available at https://patents.iec.ch. IEC
shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
IEC 61298-2 has been prepared by subcommittee 65B: Measurement and control devices, of
IEC technical committee 65: Industrial-process measurement, control and automation. It is an
International Standard.
This third edition cancels and replaces the second edition published in 2008. This edition
constitutes a technical revision.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous
edition:
a) Process measurement transmitters (PMT) have been removed from the scope of this
standard.
The text of this International Standard is based on the following documents:
Draft Report on voting
65B/1311/FDIS 65B/1322/RVD
Full information on the voting for its approval can be found in the report on voting indicated in
the above table.
The language used for the development of this International Standard is English.
This document was drafted in accordance with ISO/IEC Directives, Part 2, and developed in
accordance with ISO/IEC Directives, Part 1 and ISO/IEC Directives, IEC Supplement, available
at www.iec.ch/members_experts/refdocs. The main document types developed by IEC are
described in greater detail at www.iec.ch/publications.
A list of all parts of the IEC 61298 series, under the general title Process measurement and
control devices - General methods and procedures for evaluating performance, can be found
on the IEC website.
The committee has decided that the contents of this document will remain unchanged until the
stability date indicated on the IEC website under webstore.iec.ch in the data related to the
specific document. At this date, the document will be
– reconfirmed,
– withdrawn, or
– revised.
INTRODUCTION
This document is intended as a reference document for any future standards developed within
the IEC or other standards organizations, concerning the evaluation of process instrumentation,
except process measurement transmitters (PMT) which are standardized by the IEC 62828
series.
This common standardized basis can be utilized for the preparation of future relevant standards,
as follows:
– any test method or procedure, already treated in this document, will be specified and
described in the new standard by referring to the corresponding clause of this document.
Consequently, new editions of this document are revised without any change in numbering
and scope of each clause;
– any particular method or procedure, not covered by this document, will be developed and
specified in the new standard in accordance with the criteria, as far as they are applicable,
stated in this document;
– any conceptual or significant deviation from the content of this document, will clearly be
identified and justified if introduced in a new standard.

1 Scope
This part of IEC 61298 specifies general methods and procedures for conducting tests and
reporting on the functional and performance characteristics of process instrumentation except
process measurement transmitters (PMT) which are standardized by IEC 62828 series. The
tests are applicable to any such devices characterized by their own specific input and output
variables, and by the specific relationship (transfer function) between the inputs and outputs
and include analogue and digital devices. For devices that require special tests, this standard
can be used, together with any product specific standard specifying special tests.
This document covers tests made under reference conditions.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies.
For undated references, the latest edition of the referenced document (including any
amendments) applies.
IEC 60050-300, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Electrical and electronic
measurements and measuring instruments - Part 311: General terms relating to
measurements - Part 312: General terms relating to electrical measurements - Part 313: Types
of electrical measuring instruments - Part 314: Specific terms according to the type of
instrument, available at https://www.electropedia.org/
IEC 60050-351, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 351: Control technology,
available at https://www.electropedia.org/
IEC 61010-1, Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and
laboratory use - Part 1: General requirements
IEC 61298-1:2026, Process measurement and control devices - General methods and
procedures for evaluating performance - Part 1: General considerations
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in IEC 60050-300,
IEC 60050-351 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following
addresses:
– IEC Electropedia: available at https://www.electropedia.org/
– ISO Online browsing platform: available at https://www.iso.org/obp
3.1
non-conformity
closeness with which a calibration curve approximates to a specified characteristic curve (which
can be linear, logarithmic, parabolic, etc.)
Note 1 to entry: Non-conformity does not include hysteresis.
3.2
dead time
time interval between the instant when a variation of an input variable is produced, and the
instant when the subsequent variation of the output variable starts
[IEC 60050-351, 351-50-30, modified – The definition has been amended and the note to entry
has been removed].
3.3
rise time
for a step response, the duration of the time interval between the instant when the output
variable (starting from zero) reaches a small specified percentage (for instance 10 %) of the
final steady-state value, and the instant when it reaches for the first time a large specified
percentage (for instance 90 %) of the same difference
[IEC 60050-845:2020, 845-25-067, modified – The definition has been amended and the three
notes to entry have been removed.]
3.4
settling time
time interval between the instant of the step change of an input variable, and the instant when
the output variable does not deviate by more than a specified tolerance from its final steady
state value
Note 1 to entry: In this document, a tolerance of 1 % is adopted.
[IEC 60050-351:2013, 351-45-37, modified – The definition has been amended and Note 1 to
entry has been added.]
3.5
step response time
time interval between the instant of a step change in the input variable and the instant when
the output variable reaches for the first time a specified percentage of the difference between
the final and the initial steady state value
Note 1 to entry: In this document, a specified percentage of 90 % is adopted.
[IEC 60050-351:2013, 351-45-36, modified – The definition has been amended and Note 1 to
entry has been added.]
3.6
time constant
time required to complete 63,2 % of the total change of the output of a first-order linear system,
produced by a step variation of the input variable
[IEC 60050-351:2013, 351-45-32, modified – The definition has been amended and the five
notes to entry have been removed.]
4 Accuracy related factors
4.1 Test procedures and precautions
4.1.1 Selection of ranges for test
4.1.1.1 General
Where there are switched ranges or dial settings (e.g., gain), the tests shall be repeated to
cover all ranges or settings. When the device under test (DUT) is supplied calibrated for use,
the first set of tests shall be carried out without adjustment.
4.1.1.2 Criteria
The measurements shall be performed with the devices operating at the minimum number of
calibration settings necessary to establish the device performance in all required operational
settings required by the test program (refer to Clause 5 of IEC 61298-1:2026).
Testing of a device which has provision for substantial adjustment of both span and lower range
value can require an impractically large number of tests. In such a case, preliminary tests shall
be conducted to determine the effect of changing span and lower range value adjustments on
the characteristic being measured. This should enable some tests to be eliminated from the test
program in cases where the characteristic can be inferred reliably from fewer tests. For
example, hysteresis is not significantly affected by selection of the lower and upper range value
if the span is held constant and often can be inferred for different spans from measurements at
a single span setting.
However, the report shall indicate clearly relevant values of the measured parameters for each
setting of the adjustments, so that the values of inaccuracy, hysteresis, etc., can all be
referenced to the same adjustment of the device.
4.1.1.3 Setting of span and lower range value adjustments
Generally, unless otherwise specified in the test program, the test for accuracy related factors
shall be carried out with the adjustments set at the settings A, B, C, D, listed below, and in
accordance with Table 1 whenever the span and/or the lower range value adjustments are
adjustable further than the adjustments for the manufacturing tolerances.
NOTE Further details on tests of dynamic behaviour, functional characteristics, and drift can be found in Clause 5,
Clause 6 and Clause 7, respectively.
Table 1 – Settings of span and lower range value adjustments
Zero suppression
Kind of test Adjustable span
and/or elevation
Complete Performance evaluation
A B
Tests Type test
Simplified Routine tests
C D
Tests Sample test
Setting A Span adjustment set at the maximum and minimum values specified by the
manufacturer, and at one intermediate value.
Setting B Normally, tests will be done at only one setting of lower range value, without
suppression or elevation, but further tests at minimum and maximum settings may
be required if the effects are significant.
Setting C Unless otherwise specified in the test programme, the span shall be as set by the
manufacturer.
Setting D Unless otherwise specified in the test programme, the lower range value shall be
as set by the manufacturer.
4.1.2 Preconditioning cycles
Prior to recording observations, the DUT shall be preconditioned as described in 7.12 of
IEC 61298-1:2026 and shall be exercised by three full range traverses in each direction.
4.1.3 Number of measurement cycles and test points
The performance of the DUT shall be verified over the full range for increasing and decreasing
values.
Taking into account the economic aspects outlined in 5.2 of IEC 61298-1:2026, the number of
measurement cycles and of test points shall be the lowest possible. The number and location
of the test points shall be consistent with the kind of test, the degree of accuracy desired, and
the characteristics being evaluated.
The number of increasing and decreasing test points shall be the same for each predetermined
test point, with the exception of 0 % and 100 %, that are reached only when going downscale
or upscale.
The number of measurement cycles and the number of test points depend on the kind of test
under consideration. Unless otherwise specified for a particular type of device, the values and
locations that should be adopted are given in Table 2.
4.1.4 Additional tests where digital inputs and outputs are provided
Tests shall be made to ensure that the protocols comply with international standards
(e.g. RS 232, IEEE 488) or the specifications of the DUT supplier. Tests shall be carried out to
confirm that the DUT works correctly according to the specified protocol under reference
conditions, and without error (or within any error rate specified by the supplier). The levels of
logical "1" and "0" shall be determined. Tests shall also be made in order to display errors
(missing digit sections, etc.), brightness, contrast, and angle of view before loss of
brightness/contrast. The update rate shall be recorded, together with display (accuracy) errors.
4.1.5 Measurement procedure
The first measurement shall be performed to the first significant value of the scale after 0 % of
input span (e.g. 10 % of input span – see Table 2).
Initially, an input signal equal to the lower range value is generated, and then the input signal
is slowly increased to reach, without overshoot, the first test point; after a stabilization period,
the value of the corresponding input and output signal is noted.
Then the input signal is slowly increased to reach, without overshoot, the value of the next test
point and, after a stabilization period, the corresponding value of the output signal is recorded.
The operation is repeated for all the predetermined values up to 100 % of the input span. After
measurement at this point, the input signal is slowly brought down to the test value directly
below 100 % of input span, and then to all the other values in turn down to 0 % of input span,
thus closing the measurement cycle.
Table 2 – Number of measurement cycles and number and location of test points
Location of test points
Number of Number of
Kind of test
measurement cycles test points
(% of input span)
Complete Performance 6 0-20-40-60-80-100
evaluation
3 or 5
Tests Type tests 11 0-10-20-30-40-50-60-70-80-90-100
Simplified Routine tests 1 5 0-25-50-75-100
Tests Sample tests
...