CISPR 16-1-3:2004

COMMISSION
CISPR
ÉLECTROTECHNIQUE
16-1-3
INTERNATIONALE
Deuxième édition
2004-06
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES
Spécifications des méthodes et des appareils
de mesure des perturbations radioélectriques
et de l’immunité aux perturbations
radioélectriques –
Partie 1-3:
Appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l’immunité
aux perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice

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ÉLECTROTECHNIQUE
16-1-3
INTERNATIONALE
Deuxième édition
2004-06
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES
Spécifications des méthodes et des appareils
de mesure des perturbations radioélectriques
et de l’immunité aux perturbations
radioélectriques –
Partie 1-3:
Appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l’immunité
aux perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice

 IEC 2004 Droits de reproduction réservés
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procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur

– 2 – CISPR 16-1-3  CEI:2004
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4

1 Domaine d'application.8
2 Références normatives.8
3 Termes, définitions et abréviations .8
4 Instrumentation de mesure par pince absorbante .10

Annexe A (informative) Construction de la pince absorbante (Paragraphe 4.2) .34
Annexe B (normative) Méthodes d'étalonnage et de validation de la pince absorbante
et du dispositif absorbant secondaire (Article 4).38
Annexe C (normative) Validation du site d'essai à la pince absorbante (Article 4) .58

Figure 1 – Vue d'ensemble de la méthode de mesure par pince absorbante et
procédures d'étalonnage et de validation associées.26
Figure 2 – Aperçu schématique de la méthode d'essai par pince absorbante .30
Figure 3 – Aperçu schématique des méthodes d'étalonnage de pince.32
Figure A.1 – Ensemble pince absorbante et ses éléments .34
Figure A.2 − Exemple de conception d'une pince absorbante.36
Figure B.1 – Site d'étalonnage original.50
Figure B.2 – Position du guide pour le centrage du conducteur en essai.50
Figure B.3 – Vue latérale du gabarit d'étalonnage.52
Figure B.4 – Vue de dessus du gabarit .52
Figure B.5 – Vue de la flasque verticale de gabarit .52
Figure B.6 – Montage d'essai pour la méthode d'étalonnage avec module de référence.54
Figure B.7 – Spécification du module de référence .54
Figure B.8 – Montage de mesure du facteur de découplage DF .56
Figure B.9 – Montage de mesure du facteur de découplage DR .56
Figure C.1 – Montages d'essai pour la mesure de l'atténuation de site pour la
validation du site de la pince en utilisant le module de référence .62

Tableau 1 – Vue d'ensemble des caractéristiques des trois méthodes d'étalonnage de
pince et leur relation .28

– 4 – CISPR 16-1-3  CEI:2004
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES
___________
SPÉCIFICATIONS DES MÉTHODES ET DES APPAREILS
DE MESURE DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES ET
DE L'IMMUNITÉ AUX PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES –

Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques
et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés «Publication(s) de la CEI»). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CISPR 16-1-3 a été établie par le sous-comité A du CISPR: Mesures
des perturbations radioélectriques et méthodes statistiques.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2003. Elle constitue
une révision technique. Cette édition spécifie une méthode d’étalonnage plus détaillée pour la
pince absorbante. De plus, de nouvelles méthodes d’étalonnage possibles sont introduites,
qui sont plus praticables que celle qui était spécifiée auparavant. Des paramètres
additionnels pour décrire la pince absorbante sont définis, tels le facteur de découplage pour
l’absorbeur large bande «DF» et le facteur de découplage pour le transformateur de courant
«DR», avec leurs méthodes de validation. Une procédure pour la validation du site d’essai à
la pince absorbante (ACTS) est aussi incluse dans le document.

– 6 – CISPR 16-1-3 © CEI:2004
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
CISPR/A/517/FDIS CISPR/A/532/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
Le contenu du corrigendum de février 2006 a été pris en considération dans cet exemplaire.

– 8 – CISPR 16-1-3  CEI:2004
SPÉCIFICATIONS DES MÉTHODES ET DES APPAREILS
DE MESURE DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES ET
DE L'IMMUNITÉ AUX PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES –

Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques
et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice

1 Domaine d'application
La présente partie de la CISPR 16 est une norme fondamentale qui spécifie les
caractéristiques et l'étalonnage de la pince absorbante pour la mesure de la puissance
perturbatrice radioélectrique dans la gamme de fréquences de 30 MHz à 1 GHz.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CISPR 16-1-2:2003, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des pertur-
bations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-2:
Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations
radioélectriques – Matériels auxiliaires – Perturbations conduites
CISPR 16-2-2:2003, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des pertur-
bations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 2-2:
Méthodes de mesure des perturbations et de l'immunité – Mesure de la puissance
perturbatrice
CISPR 16-4-2, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 4-2: Incertitudes,
statistiques et modélisation des limites – Incertitudes de mesure CEM
CEI 60050-161:1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétiq
...

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ÉLECTROTECHNIQUE
16-1-3
INTERNATIONALE
INTERNATIONAL
Deuxième édition
ELECTROTECHNICAL
Second edition
COMMISSION 2004-06
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES
INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE
Spécifications des méthodes et des appareils
de mesure des perturbations radioélectriques et
de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Partie 1-3:
Appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux
perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice
Specification for radio disturbance
and immunity measuring apparatus
and methods –
Part 1-3:
Radio disturbance and immunity measuring
apparatus – Ancillary equipment –
Disturbance power
Numéro de référence
Reference number
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2 and 2.
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sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
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comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
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Spécifications des méthodes et des appareils
de mesure des perturbations radioélectriques et
de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Partie 1-3:
Appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux
perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice
Specification for radio disturbance
and immunity measuring apparatus
and methods –
Part 1-3:
Radio disturbance and immunity measuring
apparatus – Ancillary equipment –
Disturbance power
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– 2 – CISPR 16-1-3 © CEI:2004
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4
1 Domaine d'application.8
2 Références normatives.8
3 Termes, définitions et abréviations .8
4 Instrumentation de mesure par pince absorbante .10
Annexe A (informative) Construction de la pince absorbante (Paragraphe 4.2) .34
Annexe B (normative) Méthodes d'étalonnage et de validation de la pince absorbante
et du dispositif absorbant secondaire (Article 4).38
Annexe C (normative) Validation du site d'essai à la pince absorbante (Article 4) .58
Figure 1 – Vue d'ensemble de la méthode de mesure par pince absorbante et
procédures d'étalonnage et de validation associées.26
Figure 2 – Aperçu schématique de la méthode d'essai par pince absorbante .30
Figure 3 – Aperçu schématique des méthodes d'étalonnage de pince.32
Figure A.1 – Ensemble pince absorbante et ses éléments .34
Figure A.2 − Exemple de conception d'une pince absorbante.36
Figure B.1 – Site d'étalonnage original.50
Figure B.2 – Position du guide pour le centrage du conducteur en essai.50
Figure B.3 – Vue latérale du gabarit d'étalonnage.52
Figure B.4 – Vue de dessus du gabarit .52
Figure B.5 – Vue de la flasque verticale de gabarit .52
Figure B.6 – Montage d'essai pour la méthode d'étalonnage avec module de référence.54
Figure B.7 – Spécification du module de référence .54
Figure B.8 – Montage de mesure du facteur de découplage DF .56
Figure B.9 – Montage de mesure du facteur de découplage DR .56
Figure C.1 – Montages d'essai pour la mesure de l'atténuation de site pour la
validation du site de la pince en utilisant le module de référence .62
Tableau 1 – Vue d'ensemble des caractéristiques des trois méthodes d'étalonnage de
pince et leur relation .28

CISPR 16-1-3 © IEC:2004 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
1 Scope.9
2 Normative references.9
3 Terms, definitions and abbreviations .9
4 Absorbing clamp instrumentation.11
Annex A (informative) Construction of the absorbing clamp (Subclause 4.2) .35
Annex B (normative) Calibration and validation methods for the absorbing clamp and
the secondary absorbing device (Clause 4).39
Annex C (normative) Validation of the absorbing clamp test site (Clause 4) .59
Figure 1 – Overview of the absorbing clamp measurement method and the associated
calibration and validation procedures.27
Figure 2 – Schematic overview of the absorbing clamp test method.31
Figure 3 – Schematic overview of the clamp calibration methods .33
Figure A.1 – The absorbing clamp assembly and its parts.35
Figure A.2 – Example of the construction of an absorbing clamp.37
Figure B.1 – The original calibration site .51
Figure B.2 – Position of guide for centering the lead under test .51
Figure B.3 – Side view of the calibration jig .53
Figure B.4 – Top view of the jig .53
Figure B.5 – View of the jigs vertical flange .53
Figure B.6 – Test set-up for the reference device calibration method .55
Figure B.7 – Specification of the reference device .55
Figure B.8 – Measurement set-up of the decoupling factor DF .57
Figure B.9 – Measurement set-up of the decoupling factor DR.57
Figure C.1 – Test set-ups for the site attenuation measurement for clamp site
validation using the reference device .63
Table 1 – Overview of the characteristics of the three-clamp calibration methods and
their relation .29

– 4 – CISPR 16-1-3 © CEI:2004
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COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES
___________
SPÉCIFICATIONS DES MÉTHODES ET DES APPAREILS
DE MESURE DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES ET
DE L'IMMUNITÉ AUX PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES –
Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques
et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés «Publication(s) de la CEI»). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est fa
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INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
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INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES

Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods –
Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Disturbance power
Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de
l'immunité aux perturbations radioélectriques – Matériels auxiliaires –
Puissance perturbatrice
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comité d’études,…). Elle donne aussi des informations sur les 16 langues additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
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Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and

methods –
Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary

equipment – Disturbance power
Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations

radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –

Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de

l'immunité aux perturbations radioélectriques – Matériels auxiliaires –

Puissance perturbatrice
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 33.100.10; 33.100.20 ISBN 978-2-8322-7811-6

CISPR 16-1-3 ®
Edition 2.2 2020-01
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REDLINE VERSION
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INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES

Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods –
Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Disturbance power
Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de
l'immunité aux perturbations radioélectriques – Matériels auxiliaires –
Puissance perturbatrice
– 2 – CISPR 16-1-3:2004+AMD1:2016
+AMD2:2020 CSV  IEC 2020
CONTENTS
FOREWORD . 3
1 Scope . 5
2 Normative references . 5
3 Terms, definitions and abbreviations . 5
4 Absorbing clamp instrumentation . 6
Annex A (informative) Construction of the absorbing clamp (Subclause 4.2) . 18
Annex B (normative) Calibration and validation methods for the absorbing clamp and
the secondary absorbing device (Clause 4) . 20
Annex C (normative) Validation of the absorbing clamp test site (Clause 4) . 35
Bibliography . 38

Figure 1 – Overview of the absorbing clamp measurement method and the associated
calibration and validation procedures . 14
Figure 2 – Schematic overview of the absorbing clamp test method . 16
Figure 3 – Schematic overview of the clamp calibration methods . 17
Figure A.1 – The absorbing clamp assembly and its parts . 18
Figure A.2 – Example of the construction of an absorbing clamp. 19
Figure B.1 – The original calibration site . 27
Figure B.2 – Position of guide for centring the lead under test . 27
Figure B.3 – Side view of the calibration jig . 28
Figure B.4 – Top view of the jig . 29
Figure B.5 – View of the jigs vertical flange . 31
Figure B.6 – Test set-up for the reference device calibration method .
Figure B.7 – Specification of the reference device .
Figure B.8 – Measurement set-up of the decoupling factor DF . 33
Figure B.9 – Measurement set-up of the decoupling factor DR . 34
Figure C.1 – Test set-ups for the site attenuation measurement for clamp site
validation using the reference device . 37

Table 1 – Overview of the characteristics of the three two clamp calibration methods
and their relation . 15
Table B.1 – Uncertainty budget for the absorbing clamp jig calibration method in the
frequency range 30 MHz to 1 000 MHz . 24

+AMD2:2020 CSV  IEC 2020
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE
___________
SPECIFICATION FOR RADIO DISTURBANCE AND IMMUNITY
MEASURING APPARATUS AND METHODS –
Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus –
Ancillary equipment – Disturbance power
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publi
...

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Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods –
Part 1-3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Disturbance power
Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Partie 1-3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de
l'immunité aux perturbations radioélectriques – Matériels auxiliaires – Puissance
perturbatrice
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from
either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester. If you have any questions about IEC
copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or
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ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur. Si vous avez des
questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez
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IEC Central Office Tel.: +41 22 919 02 11
3, rue de Varembé Fax: +41 22 919 03 00
CH-1211 Geneva 20 info@iec.ch
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The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

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The stand-alone application for consulting the entire The world's leading online dictionary of electronic and
bibliographical information on IEC International Standards, electrical terms containing 20 000 terms and definitions in
Technical Specifications, Technical Reports and other English and French, with equivalent terms in 15 additional
documents. Available for PC, Mac OS, Android Tablets and languages. Also known as the International Electrotechnical
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IEC publications search - www.iec.ch/searchpub IEC Glossary - std.iec.ch/glossary
The advanced search enables to find IEC publications by a 65 000 electrotechnical terminology entries in English and
variety of criteria (reference number, text, technical French extracted from the Terms and Definitions clause of
committee,…). It also gives information on projects, replaced IEC publications issued since 2002. Some entries have been
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CISPR.
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La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
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A propos des publications IEC
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électriques. Il contient 20 000 termes et définitions en anglais
Spécifications techniques, Rapports techniques et autres
et en français, ainsi que les termes équivalents dans 15
documents de l'IEC. Disponible pour PC, Mac OS, tablettes
langues additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
Android et iPad.
Electrotechnique International (IEV) en ligne.

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La recherche avancée permet de trouver des publications IEC
65 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais
en utilisant différents critères (numéro de référence, texte,
et en français, extraites des articles Termes et Définitions des
comité d’études,…). Elle donne aussi des informations sur les
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projets et les publications remplacées ou retirées.
antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et

CISPR de l'IEC.
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Published détaille les nouvelles publications parues. Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette
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FOREWORD. 3
1 Scope . 5
2 Normative references . 5
3 Terms, definitions and abbreviations . 5
4 Absorbing clamp instrumentation . 6
Annex A (informative) Construction of the absorbing clamp (Subclause 4.2) . 18
Annex B (normative) Calibration and validation methods for the absorbing clamp and
the secondary absorbing device (Clause 4) . 20
Annex C (normative) Validation of the absorbing clamp test site (Clause 4) . 34
Bibliography . 37

Figure 1 – Overview of the absorbing clamp measurement method and the associated
calibration and validation procedures . 14
Figure 2 – Schematic overview of the absorbing clamp test method . 16
Figure 3 – Schematic overview of the clamp calibration methods . 17
Figure A.1 – The absorbing clamp assembly and its parts . 18
Figure A.2 – Example of the construction of an absorbing clamp . 19
Figure B.1 – The original calibration site. 26
Figure B.2 – Position of guide for centring the lead under test . 26
Figure B.3 – Side view of the calibration jig . 27
Figure B.4 – Top view of the jig . 28
Figure B.5 – View of the jigs vertical flange . 30
Figure B.6 – Test set-up for the reference device calibration method .
Figure B.7 – Specification of the reference device .
Figure B.8 – Measurement set-up of the decoupling factor DF . 32
Figure B.9 – Measurement set-up of the decoupling factor DR . 33
Figure C.1 – Test set-ups for the site attenuation measurement for clamp site
validation using the reference device . 36

Table 1 – Overview of the characteristics of the three- two clamp calibration methods
and their relation. 15

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governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
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