IEC 61747-1:1998

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61747-1
INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Première édition
First edition
1998-04
Dispositifs d’affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61747-1: 1998
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Catalogue en ligne)* (On-line catalogue)*
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI* et Available both at the IEC web site* and as a
comme périodique imprimé printed periodical
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61747-1
INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Première édition
First edition
1998-04
Dispositifs d’affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
 IEC 1998 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in
copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE V
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61747-1  CEI:1998
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 6
Articles
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives. 8
3 Terminologie . 10
3.1 Concepts physiques . 10
3.2 Termes généraux . 16
3.3 Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques. 18
4 Aspects techniques . 22
4.1 Ordre de priorité. 22
4.2 Unités, symboles et terminologie, unités et symboles. 22
4.3 Plages préférentielles de température, d’humidité et de pression . 22
4.4 Marquage. 22
4.4.1 Identification des dispositifs. 22
4.4.2 Traçabilité des dispositifs . 24
4.4.3 Conditionnement . 24
4.5 Catégories de qualité assurée . 24
4.6 Sélection. 24
4.7 Traitement . 26
5 Procédures d’évaluation qualité . 26
5.1 Admissibilité à l’homologation. 26
5.1.1 Première étape de fabrication. 26
5.2 Informations commerciales confidentielles. 26
5.3 Constitution des lots de contrôle. 26
5.4 Dispositifs à structure similaire. 26
5.5 Octroi d’homologation . 28
5.6 Contrôle de conformité à la qualité . 28
5.6.1 Division en groupes et sous-groupes . 28
5.6.2 Prescriptions de contrôle . 32
5.6.3 Procédure complémentaire pour contrôle restreint . 34
5.6.4 Prescriptions d’échantillonnage pour petits lots. 34
5.6.5 Registre certifié des lots acceptés (RCLA). 34
5.6.6 Remise de dispositifs soumis à des essais destructifs ou
non destructifs . 34
5.6.7 Remises différées . 36
5.6.8 Procédures complémentaires de remise . 36

61747-1  IEC:1998 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 7
Clause
1 Scope . 9
2 Normative references . 9
3 Terminology . 11
3.1 Physical concepts . 11
3.2 General terms . 17
3.3 Terms related to ratings and characteristics . 19
4 Technical aspects . 23
4.1 Order of precedence . 23
4.2 Terminology, units and symbols. 23
4.3 Preferred values of temperature, humidity and pressure . 23
4.4 Marking. 23
4.4.1 Device identification . 23
4.4.2 Device traceabillity . 25
4.4.3 Packing. 25
4.5 Categories of assessed quality. 25
4.6 Screening . 25
4.7 Handling . 27
5 Quality assessment procedures. 27
5.1 Eligibility for qualification approval. 27
5.1.1 Primary stage of manufacture. 27
5.2 Commercially confidential information . 27
5.3 Formation of inspection lots . 27
5.4 Structurally similar devices. 27
5.5 Granting of qualification approval . 29
5.6 Quality conformance inspection. 29
5.6.1 Division into groups and subgroups . 29
5.6.2 Inspection requirements . 33
5.6.3 Supplementary procedure for reduced inspection. 35
5.6.4 Sampling requirements for small lots . 35
5.6.5 Certified records of released lots (CRRL). 35
5.6.6 Delivery of devices subjected to destructive or non-destructive tests. 35
5.6.7 Delayed deliveries . 37
5.6.8 Supplementary procedure for deliveries . 37

– 4 – 61747-1  CEI:1998
Articles Pages
5.7 Procédures statistiques d’échantillonnage . 36
5.7.1 Plans d’échantillonnage NQA . 36
5.7.2 Plans d’échantillonnage NQT. 36
5.8 Essais d’endurance. 36
5.9 Essais d’endurance avec taux de défaillance spécifié . 36
5.9.1 Généralités . 36
5.9.2 Choix des prélèvements . 36
5.9.3 Défaillance . 38
5.9.4 Durée de l’essai d’endurance et taille du prélèvement. 38
5.9.5 Procédure à suivre si le nombre de défaillances observées excède
les critères d’acceptation. 38
5.10 Procédures d’essai accélérées . 40
5.11 Agréments de savoir-faire . 40
6 Procédures d’essai et de mesure. 40
6.1 Conditions atmosphériques normales pour mesures électriques et optiques. 40
6.2 Examen physique. 40
6.2.1 Examen visuel. 40
6.2.2 Dimensions . 40
6.2.3 Permanence du marquage. 40
6.3 Mesures électriques et optiques . 42
6.3.1 Conditions générales et précautions . 42
6.4 Essais d’environnement . 42
Annexes
A (informative) Index des références croisées . 44
B (informative) Exemples de schémas représentant des cellules d’affichage
à cristaux liquides. 46
C (normative) Orientation des modules LCD . 50
D (normative) Plans d’échantillonnage pour le niveau de qualité toléré (NQT) . 52

61747-1  IEC:1998 – 5 –
Clause Page
5.7 Statistical sampling procedures . 37
5.7.1 AQL sampling plans . 37
5.7.2 LTPD sampling plans . 37
5.8 Endurance tests . 37
5.9 Endurance tests where the failure rate is specified . 37
5.9.1 General. 37
5.9.2 Selection of samples . 37
5.9.3 Failure . 39
5.9.4 Endurance test time and sample size. 39
5.9.5 Procedure to be used if the number of observed failures exceeds
the acceptance number . 39
5.10 Accelerated test procedures . 41
5.11 Capability approval. 41
6 Test and measurement procedures . 41
6.1 Standard atmospheric conditions for electrical and optical measurements. 41
6.2 Physical examination. 41
6.2.1 Visual examination . 41
6.2.2 Dimensions . 41
6.2.3 Permanence of marking . 41
6.3 Electrical and optical measurements . 43
6.3.1 General conditions and precautions . 43
6.4 Environmental tests. 43
Annexes
A (informative) Cross references index. 45
B (informative) Examples of outline drawings of liquid crystal display cells. 47
C (normative) Orientation of LCD modules. 51
D (normative) Lot tolerance percentage defective (LTPD) sampling plans . 53

– 6 – 61747-1  CEI:1998
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
DISPOSITIFS D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
ET À SEMICONDUCTEURS –
Partie 1: Spécification générique
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61747-1 a été établie par le sous-comité 47C: Dispositifs
optoélectroniques, d'affichage et d'imagerie, du comité d'études 47 de la CEI: Dispositifs à
semiconducteurs.
La présente partie 1 constitue la spécification générique dans le Système CEI d'assurance de
la qualité des composants électroniques (IECQ) pour les dispositifs d'affichage à cristaux
liquides et à semiconducteurs.
Le texte de cette norme est issu de l'amendement 1 de la CEI 60747-5 et des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
47C/200/FDIS 47C/205/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Le numéro QC qui figure sur la page de couverture de la présente publication est le numéro de
spécification dans le Système CEI d’assurance de la qualité des composants électroniques
(IECQ).
Les annexes C et D font partie intégrante de cette norme.
Les annexes A et B sont données uniquement à titre d’information.

61747-1  IEC:1998 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
LIQUID CRYSTAL AND SOLID-STATE DISPLAY DEVICES –
Part 1: Generic specification
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61747-1 has been prepared by subcommittee 47C: Optoelectronic,
display and imaging devices, of IEC technical committee 47: Semiconductor devices.
This part 1 forms the generic specification in the IEC Quality Assessment System for Electronic
Components (IECQ) for liquid crystal and solid-state display devices.
The text of this standard is based on amendment 1 to IEC 60747-5 and the following documents:
FDIS Report on voting
47C/200/FDIS 47C/205/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number
in the IECQ Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ).
Annexes C and D form an integral part of this standard.
Annexes A and B are for information only.

– 8 – 61747-1  CEI:1998
DISPOSITIFS D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
ET À SEMICONDUCTEURS –
Partie 1: Spécification générique
1 Domaine d’application
Cette publication contient des spécifications génériques concernant les dispositifs d’affichage à
cristaux liquides et à semiconducteurs. Elle définit des procédures générales portant sur
l’évaluation qualité à mettre en oeuvre dans le cadre du système IECQ, et établit des règles
générales concernant les méthodes de mesure des caractéristiques électriques et optiques, les
essais climatiques et mécaniques et les essais d’endurance.
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 61740.
Pour les références datées, les amendements ultérieurs ou les révisions de ces publications ne
s'appliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de
la CEI 61740 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Pour les références non datées, la dernière édition
du document normatif en référence s'applique. Les membres de l’ISO et de la CEI possèdent
le registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 60027 (toutes les parties), Symboles littéraux à utiliser en électrotechnique
CEI 60050 (toutes les parties), Vocabulaire Electrotechnique International
CEI 60068 (toutes les parties), Essais d’environnement
CEI 60068-1:1988, Essais d’environnement – Partie 1: Généralités et guide
CEI 60068-2 (toutes les parties), Essais d’environnement – Partie 2: Essais
CEI 60191 (toutes les parties), Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs
CEI 60191-1:1966, Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs – Première
partie: Préparation des dessins des dispositifs à semiconducteurs
CEI 60191-2:1966, Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs – Deuxième
partie: Dimensions
CEI 60191-3:1974, Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs – Partie 3:
Règles générales pour la préparation des dessins d’encombrement des circuits intégrés
CEI 60410:1973, Plans et règles d’échantillonnage pour les contrôles par attributs
CEI 60617 (toutes les parties), Symboles graphiques pour schémas
CEI 60747 (toutes les parties), Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets
CEI 60747-1:1983, Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets et circuits intégrés –
Première partie: Généralités
61747-1  IEC:1998 – 9 –
LIQUID CRYSTAL AND SOLID-STATE DISPLAY DEVICES –
Part 1: Generic specification
1 Scope
This part of IEC 61747 is a generic specification for liquid crystal and solid-state display
devices. It defines general procedures for quality assessment to be used in the IECQ system
and gives general rules for measuring methods of electrical and optical characteristics, rules
for climatic and mechanical tests, and rules for endurance tests.
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 61740. For dated references, subsequent amendments
to, or revisions of, any of these publications do not apply. However, parties to agreements
based on this part of IEC 61740 are encouraged to investigate the possibility of applying the
most recent editions of the normative documents indicated below. For undated references, the
latest edition of the normative document referred to applies. Members of ISO and IEC maintain
registers of currently valid International Standards.
IEC 60027 (all parts), Letter symbols to be used in electrical technology
IEC 60050 (all parts), International Electrotechnical Vocabulary
IEC 60068 (all parts), Environmental testing
IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance
IEC 60068-2 (all parts), Environmental testing – Part 2: Tests
IEC 60191 (all parts), Mechanical standardization of semiconductor devices
IEC 60191-1:1966, Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 1: Preparation
of drawings of semiconductor devices
IEC 60191-2:1966, Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 2: Dimensions
IEC 60191-3:1974, Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 3: General
rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
IEC 60410:1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes
IEC 60617 (all parts), Graphical symbols for diagrams
IEC 60747 (all parts), Semiconductor devices – Discrete devices
IEC 60747-1:1983, Semiconductor devices – Discrete devices and integrated circuits – Part 1:
General
– 10 – 61747-1  CEI:1998
CEI 60747-5:1992, Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets et circuits intégrés –
Cinquième partie: Dispositifs optoélectroniques
CEI 60747-10:1991, Dispositifs à semiconducteurs – Dixième partie: Spécification générique
pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés
CEI 60748 (toutes les parties), Dispositifs à semiconducteurs – Circuits intégrés
CEI 60749:1996, Dispositifs à semiconducteurs – Essais mécaniques et climatiques
CEI 61747-5, — Dispositifs d’affichage à cristaux liquides et à semiconducteurs – Partie 5:
1)
Environnement, méthodes d’essais d’endurance et mécaniques
QC 001002:1986, Règles de procédure du Système CEI d’assurance de la qualité des
composants électroniques (IECQ)
ISO 1000:1992, Unités SI et recommandations pour l’emploi de leurs multiples et de certaines
autres unités
ISO 1101:1983, Dessins techniques – Tolérancement géométrique – Tolérancement de forme,
orientation, position et battement – Généralités, définitions, symboles, indications sur les
dessins
ISO 2859 (toutes les parties), Règles d’échantillonnage pour les contrôles par attributs
ISO 8601:1988, Eléments de données et formats d’échange – Echange d’information –
Représentation de la date et de l’heure
3 Terminologie
Dans le cadre de la série de normes CEI 61747, les termes et définitions suivantes
s'appliquent.
3.1 Concepts physiques
3.1.1
couche d'alignement
couche mince, déposée sur les électrodes gravées, qui détermine la direction du directeur à sa
surface. Cette couche produit l'arrangement désiré. Des alignements tels que l'alignement
homéotrope (3.1.14) ou l'alignement planaire (3.1.15) sont réalisés par l'arrangement collectif
des molécules du cristal liquide affectées localement par les forces de surface. Une couche
d'alignement spéciale peut créer l'angle de préinclinaison (3.1.20).
3.1.2
phase chirale
phase cristal liquide présentant une torsion spontanée
3.1.3
phase cholestérique
phase cristal liquide présentant un arrangement nématique planaire dans lequel les directeurs
forment une hélice dont l'axe est perpendiculaire au plan de l'arrangement
3.1.4
point d'éclaircissement
température de transition de la phase cristal liquide vers la phase isotrope
________
1)
A publier.
61747-1  IEC:1998 – 11 –
IEC 60747-5:1992, Semiconductor devices – Discrete devices and integrated circuits – Part 5:
Optoelectronic devices
IEC 60747-10:1991, Semiconductor devices – Part 10: Generic specification for discrete
devices and integrated circuits
IEC 60748 (all parts), Semiconductor devices – Integrated circuits
IEC 60749:1996, Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods
IEC 61747-5, — Liquid crystal and semiconductor devices – Part 5: Environmental, endurance
1)
and mechanical test methods
QC 001002:1986, Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic
Components (IECQ)
ISO 1000:1992, SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain
other units
ISO 1101:1983, Technical drawings – Geometrical tolerancing – Tolerancing of form,
orientation, location and run-out – Generalities, definitions, symbols, indications on drawings
ISO 2859 (all parts), Sampling procedures for inspection by attributes
ISO 8601:1988, Data elements and interchange formats – Information interchange –
Representation of dates and times
3 Terminology
For the purpose of standard series IEC 61747, the following terms and definitions apply.
3.1 Physical concepts
3.1.1
alignment layer
a thin layer deposited over the patterned electrodes that determines the direction of the director
at the surface. This layer produces the desired ordering. Alignment such as homeotropic
alignment (3.1.14) or planar alignment (3.1.15) are achieved by the co-operative ordering of the
liquid crystal molecules locally affected by the surface forces. The alignment layer is generating
the pretilt angle (3.1.20).
3.1.2
chiral phase
a liquid crystal phase exhibiting a spontaneous twist
3.1.3
cholesteric phase
a liquid crystal phase that exhibits planar nematic ordering in which the directors form a helix
that has its axis perpendicular to the plane
3.1.4
clearing point
the phase transition temperature of a liquid crystal for transition toward the isotropic phase
________
1)
To be published.
– 12 – 61747-1  CEI:1998
3.1.5
cristal liquide dichroïque
cristal liquide présentant du dichroïsme, c'est-à-dire la propriété d'absorption anisotrope de la
lumière
3.1.6
directeur
vecteur unité représentant localement l'axe de symétrie de la fonction de distribution des
orientations d'un axe particulier pour toutes les molécules d'un cristal liquide. Les composantes
du directeur définissent l'alignement local du cristal liquide.
3.1.7
disclinaison
défaut d'alignement localisé (apparaissant généralement sous forme de lignes fermées ou
ouvertes) marquant la frontière qui sépare des zones présentant des états d'alignement
différents
3.1.8
phase mésomorphe discotique
phase cristal liquide dont les molécules ressemblent à des disques et présentent un
arrangement à grande distance par rapport au petit axe des molécules
3.1.9
diffusion dynamique
effet électro-optique consistant en la diffusion de lumière provoquée par des turbulences dans
une couche de cristal liquide dues à un effet électro-hydrodynamique
3.1.10
biréfringence contrôlée électriquement
effet électro-optique causé par la modulation de la biréfringence d'une couche de cristal liquide
par un champ électrique. Cet effet est aussi nommé «BCE».
3.1.11
couche des électrodes
couche électriquement conductrice, habituellement transparente (par exemple, constituée
d'oxyde d'indium et d'étain, «ITO»), recouvrant les plaques supports et gravée pour établir la
configuration de l'affichage et des contacts électriques
3.1.12
cristal liquide ferroélectrique
phase cristal liquide présentant une polarisation électrique spontanée
NOTE – Cet effet est courant dans les cristaux liquides smectiques chiraux.
3.1.13
effet invité-hôte
effet d'absorption optique anisotrope survenant dans une couche de cristal liquide dichroïque
qui contient un colorant dissous
3.1.14
alignement homéotrope
etat d'alignement d'une couche de cristal liquide dans laquelle le directeur est en tous points
perpendiculaire ou quasi perpendiculaire à la surface d'une plaque support

61747-1  IEC:1998 – 13 –
3.1.5
dichroic liquid crystal
a liquid crystal exhibiting dichroism, i.e. the property of anisotropic absorption of light
3.1.6
director
the axial unit vector describing the local axis of symmetry for the orientational distribution
function of any chosen molecular axis of a liquid crystal. The director co-ordinates define the
local alignment of the liquid crystal.
3.1.7
disclination
a localized alignment defect (appearing generally under the form of closed or open lines)
forming the border between areas exhibiting different alignment states
3.1.8
discotic mesophase
a liquid crystal phase of disc-like shaped molecules exhibiting a long range ordering with
respect to the short molecular axis
3.1.9
dynamic scattering
an electro-optical effect showing a light scattering caused by turbulent motion in a liquid crystal
layer induced by an electro-hydrodynamic effect
3.1.10
electrically controlled birefringence
an electro-optical effect caused by the birefringence of a liquid crystal layer which can be
modulated (varied) by an electric field. It is also called "tunable birefringence"
3.1.11
electrode layer
an electrically conductive layer, usually transparent (e.g. made of indium tin oxide, "ITO"),
covering the support plates and patterned to establish the display and electrical contact
configuration
3.1.12
ferroelectric liquid crystal
a liquid crystal phase exhibiting a spontaneous electric polarization
NOTE – This effect is commonly exhibited in chiral smectic liquid crystal.
3.1.13
guest-host effect
an anisotropic optical absorption effect occurring in a dichroic liquid crystal layer containing a
dissolved dye
3.1.14
homeotropic alignment
the alignment state of a liquid crystal layer for which the director is everywhere nominally
perpendicular to a support plate surface

– 14 – 61747-1  CEI:1998
3.1.15
alignement planaire
etat d'alignement d'une couche de cristal liquide dans laquelle le directeur est en tous points
parallèle ou quasi parallèle à la surface d'une plaque support. Cet alignement est aussi appelé
«alignement homogène».
3.1.16
cristal liquide
un cristal liquide est un matériau qui présente une phase mésomorphe composée de molécules
allongées (semblables à des bâtonnets) ou semblables à des disques (discotiques) et qui
possède au moins un arrangement à grande distance des orientations d'un axe des molécules
3.1.17
cellule à cristal liquide
structure plane composée d'au moins deux plaques supports enfermant entre elles un cristal
liquide. La distance entre les plaques est de l'ordre de quelques microns.
3.1.18
mésophase (phase mésomorphe)
etat ordonné de la matière survenant entre une phase cristalline et une phase liquide isotrope
et qui présente certaines propriétés des phases voisines, par exemple la fluidité et la
biréfringence
3.1.19
phase nématique
phase cristal liquide présentant un arrangement à grande distance des orientations d'un axe
des molécules (cristal liquide nématique uniaxe) ou de deux axes des molécules (cristal liquide
nématique biaxe)
3.1.20
angle de préinclinaison
angle entre le plan d'une plaque support et le directeur adjacent du cristal liquide
3.1.21
couche de scellement
couche située entre les plaques supports et entourant le cristal liquide pour assurer
l'étanchéité et l'intégrité de la cellule cristal liquide
3.1.22
phase smectique
phase cristal liquide caractérisée par au moins un arrangement de position unidimensionnel à
grande distance des molécules et par un arrangement à grande distance des orientations d'un
axe des molécules
3.1.23
cales d'épaisseur
matériau (par exemple sphères ou cylindres calibrés) placé à l'intérieur d'une cellule cristal
liquide pour assurer la constance de la distance entre les plaques supports
3.1.24
plaque support
plaque généralement transparente, par exemple un feuillet de verre ou de plastique, recouverte
de plusieurs couches (électrodes, couche de scellement et couche d'alignement de surface),
constituant la structure mécanique d'une cellule à cristal liquide

61747-1  IEC:1998 – 15 –
3.1.15
planar alignment
the alignment state of a liquid crystal layer for which the director is everywhere nominally
parallel to a support plate surface. This alignment is also referred to as homogeneous.
3.1.16
liquid crystal
a liquid crystal is a material that exhibits a mesophase consisting of elongated (rod-like) or
disc-like (discotic) molecules and that possesses at least one long range orientational ordering
with respect to one molecular axis
3.1.17
liquid crystal cell
a flat structure consisting of a minimum of two support plates with liquid crystal contained in
the space between them. These plates are usually separated by a distance of several micro-
meters.
3.1.18
mesophase (mesomorphic phase)
an ordered state of matter between the crystalline and isotropic liquid phases, exhibiting some
of the properties of the neighbouring phases, as for example fluidity and birefringence
3.1.19
nematic phase
molecules in this liquid-crystalline phase possess a long range orientational ordering of one
molecular axis (uniaxial nematic LC) or two molecular axes (biaxial nematic LC)
3.1.20
pretilt angle
the angle between the plane of a support plate and the adjacent liquid crystal director
3.1.21
sealing layer
a layer situated between the support plates and surrounding the liquid crystal to ensure the
hermeticity and integrity of the liquid crystal cell
3.1.22
smectic phase
a liquid crystalline phase characterized by at least a one-dimensional long range transitional
ordering of the molecules and a long range orientational ordering for one molecular axis
3.1.23
spacer
a material incorporated into a liquid crystal cell (e.g. calibrated spheres or cylinders) to ensure
a constant distance between the support plates
3.1.24
support plate
plate, generally transparent, made of e.g. glass or plastic sheet, covered with several layers
(electrodes, sealing and surface alignment layers), forming the mechanical structure of a liquid
crystal cell
– 16 – 61747-1  CEI:1998
3.1.25
angle de torsion
angle orienté formé par les projections sur l'une des plaques supports d'une cellule nématique
en hélice des directeurs respectifs à la surface des plaques supports
3.1.26
structure nématique en hélice
etat d'un cristal liquide nématique caractérisé par une structure torsadée
3.2 Termes généraux
3.2.1
surface active
partie de la surface d'un écran d'affichage occupée par les éléments d'image
3.2.2
afficheur à adressage par matrice active
dispositif d'affichage à adressage matriciel où chaque élément d'image possède au moins un
élément de commutation (par exemple, diode ou transistor)
3.2.3
afficheur alphanumérique
dispositif d'affichage capable de présenter un jeu limité de caractères comprenant au moins
des lettres et des chiffres
3.2.4
afficheur émissif
afficheur contenant sa (ses) source(s) de lumière(s) propre(s). Cette lumière peut être produite
par le transducteur lui-même ou provenir d'une ou plusieurs source(s) de lumière interne(s)
modulée(s) par le transducteur
3.2.5
echelle de gris
un afficheur est dit capable d'une échelle de gris s'il peut afficher des images fournissant plus
de deux niveaux de luminance
3.2.6
cellule d'affichage à cristaux liquides
cellule à cristal liquide utilisée pour présenter de l'information grâce à la modulation de la
lumière
3.2.7
module d'affichage à cristaux liquides
unité d'affichage combinant une cellule d'affichage à cristaux liquides et son électronique de
commande. Des options supplémentaires sont possibles, telles que rétroéclairage, accessoires
de montage, etc
3.2.8
afficheur matriciel
dispositif d'affichage où les pixels sont régulièrement distribués en lignes et en colonnes
3.2.9
afficheur monochrome
dispositif d'affichage n'utilisant qu'un contraste de couleur, ou un contraste noir sur blanc

61747-1  IEC:1998 – 17 –
3.1.25
twist angle
the oriented angle between the projections of the respective surface directors at the support
plates on to one of the suppo
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