IEC 61336:1996

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1996-11
Instrumentation nucléaire –
Systèmes de mesure d’épaisseur
par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
Nuclear instrumentation –
Thickness measurement systems
utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 1336: 1996
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est cons- The technical content of IEC publications is kept under
tamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de constant review by the IEC, thus ensuring that the content
la technique. reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation de Information relating to the date of the reconfirmation of the
la publication sont disponibles auprès du Bureau Central de publication is available from the IEC Central Office.
la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements peuvent editions and amendments may be obtained from IEC
être obtenus auprès des Comités nationaux de la CEI et National Committees and from the following IEC
dans les documents ci-dessous: sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Publié annuellement Published yearly
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
Terminologie Terminology
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se For general terminology, readers are referred to IEC 50:
reportera à la CEI 50: Vocabulaire Electrotechnique Inter- International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is
national (VEI), qui se présente sous forme de chapitres issued in the form of separate chapters each dealing
séparés traitant chacun d'un sujet défini. Des détails with a specific field. Full details of the IEV will be
complets sur le VEI peuvent être obtenus sur demande. supplied on request. See also the IEC Multilingual
Voir également le dictionnaire multilingue de la CEI. Dictionary.
Les termes et définitions figurant dans la présente publi- The terms and definitions contained in the present publi-
cation ont été soit tirés du VEI, soit spécifiquement cation have either been taken from the IEV or have been
approuvés aux fins de cette publication. specifically approved for the purpose of this publication.
Symboles graphiques et littéraux Graphical and letter symbols
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les For graphical symbols, and letter symbols and signs
signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur approved by the IEC for general use, readers are referred to
consultera: publications:
– la CEI 27: Symboles littéraux à utiliser en – IEC 27: Letter symbols to be used in electrical
électro-technique; technology;
– la CEI 417: Symboles graphiques utilisables – IEC 417: Graphical symbols for use on
sur le matériel. Index, relevé et compilation des equipment. Index, survey and compilation of the
feuilles individuelles; single sheets;
– la CEI 617: Symboles graphiques pour – IEC 617: Graphical symbols for diagrams;
schémas;
et pour les appareils électromédicaux, and for medical electrical equipment,
– la CEI 878: Symboles graphiques pour – IEC 878: Graphical symbols for electromedical
équipements électriques en pratique médicale. equipment in medical practice.
Les symboles et signes contenus dans la présente publi- The symbols and signs contained in the present publication
cation ont été soit tirés de la CEI 27, de la CEI 417, de la have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617
CEI 617 et/ou de la CEI 878, soit spécifiquement approuvés and/or IEC 878, or have been specifically approved for the
aux fins de cette publication. purpose of this publication.
Publications de la CEI établies par le IEC publications prepared by the same
même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à la fin The attention of readers is drawn to the end pages of this
de cette publication, qui énumèrent les publications de la publication which list the IEC publications issued by the
CEI préparées par le comité d'études qui a établi la technical committee which has prepared the present
présente publication. publication.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1996-11
Instrumentation nucléaire –
Systèmes de mesure d’épaisseur
par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
Nuclear instrumentation –
Thickness measurement systems
utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
 CEI 1996  Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, in any form or by any means, electronic or mechanical,
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les including photocopying and microfilm, without permission
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. in writing from the publisher
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Commission Electrotechnique Internationale
W
International Electrotechnical Commission PRICE CODE
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– 2 – 1336 © CEI:1996
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION . 6
Articles
1 Généralités. 8
1.1 Domaine d'application et objet . 8
1.2 Références normatives. 10
1.3 Définitions. 10
2 Conditions d’essais. 26
2.1 Généralités. 26
2.2 Essais en laboratoire . 28
2.2.1 Essais de caractéristiques intrinsèques . 28
2.2.2 Grandeurs d'influence et essais. 48
2.2.3 Essais de système de mesure et d'analyse de la machine
et du processus. 58
2.3 Documentation concernant les résultats d'essais en laboratoire . 60
2.4 Essais sur site . 60
2.4.1 Essai concernant l'erreur de profil d'échantillon du système. 62
2.4.2 Essais de reproductibilité du système de profil et de balayage
moyen. 62
2.4.3 Essai de longueur de résolution géométrique. 66
Annexes
A Essais concernant la tension du réseau . 68
B Description généralisée d’un système de mesure. 70

1336  IEC:1996 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD. 5
INTRODUCTION . 7
Clause
1 General. 9
1.1 Scope and object. 9
1.2 Normative references. 11
1.3 Definitions. 11
2 Test requirements. 27
2.1 General. 27
2.2 Laboratory tests. 29
2.2.1 Intrinsic performance tests . 29
2.2.2 Influence quantities and tests . 49
2.2.3 Process and machine analysis and measurement system tests . 59
2.3 Laboratory test results documentation. 61
2.4 On-site tests. 61
2.4.1 System sample profile error test . 63
2.4.2 System profile and scan average reproducibility tests . 63
2.4.3 Geometrical resolution length test . 67
Annexes
A Mains supply voltage tests. 69
B Generalized measurement system description . 71

– 4 – 1336 © CEI:1996
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
_____________
INSTRUMENTATION NUCLÉAIRE –
Systèmes de mesure d’épaisseur par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
Internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité
national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et
non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore
étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord
entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la
mesure du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer
de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa
responsabilité n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 1336 a été établie par le comité d’études 45 de la CEI:
Instrumentation nucléaire.
Cette norme annule et remplace la CEI 769 publiée en 1983 et constitue une révision
technique.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
45/388/FDIS 45/404/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
L’annexe A fait partie intégrante de cette norme.
L’annexe B est donnée uniquement à titre d’information.

1336  IEC:1996 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
_____________
NUCLEAR INSTRUMENTATION –
Thickness measurement systems utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic
fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt
with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations
liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that
sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the
subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 1336 has been prepared by IEC technical committee 45: Nuclear
instrumentation.
This standard cancels and replaces IEC 769 published in 1983 and constitutes a technical
revision.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
45/388/FDIS 45/404/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
Annex A forms an integral part of this standard.
Annex B is for information only.

– 6 – 1336 © CEI:1996
INTRODUCTION
Depuis 1983, les nombreux progrès de la technologie ont influencé les procédures d’essai
communément utilisées pour les systèmes de mesure à base de rayonnement ionisant. Ils
incluent ce qui suit:
• Usage courant d’ordinateurs PC de laboratoire, avec des modules d’acquisition de
données pour pratiquement tous les besoins de mesure des performances de base, qui
permet l’acquisition automatique des données; le traitement statistique des données; une
utilisation plus étendue des variables calculées (par exemple l’épaisseur) au lieu de signaux
bruts de radiation (par exemple volts ou comptages); la présentation par tableur et
manipulation des données et des résultats; des jeux de données plus importants.
• Nouveaux dispositifs liés aux systèmes de mesure permettant d’accéder aux
informations de mesure, tels que: échantillonnage à très grande vitesse; système intégré
d’acquisition de données; traitement statistique des données; présentation sous forme
graphique et sous forme de tableau sur vidéo ou sur imprimante; mesure de profils
transversaux à haute résolution; bases de données étendues avec acquisition des résultats
caractéristiques à long terme et détermination des tendances; analyse prédictive de panne,
etc.
• Conception de nouveaux dispositifs pour améliorer la précision absolue de mesure
malgré des environnements adverses, tels que: élimination des erreurs dues aux corps
étrangers (poussière) dans le faisceau de mesure, effets de la température, influence des
charges électrostatiques, vibrations et effets microphoniques, compensation de l’influence
de la colonne d’air, échantillons internes servant de référence pour la mesure,
microprocesseurs et microcontrôleurs placés directement à l’intérieur des capteurs.
En regard de la complexité des signaux pour la régulation de processus utilisés au niveau
actuel de la technologie, avec des régulations transversales, des architectures distribuées
d’unités de régulation et autres variations dans les procédés de régulation, cette norme n’inclut
pas le point test B défini dans la CEI 769. L’annexe B a également été retirée car obsolète et
inadéquate au vu des méthodes modernes d’acquisition automatiques de données et des
techniques statistiques de traitement des valeurs. Cependant de nombreux nouveaux essais et
méthodes d’essai ont été ajoutés dans cette norme.

1336  IEC:1996 – 7 –
INTRODUCTION
Since 1983, there have been many advances in the state-of-the-art technology that influence
the test procedures which are in common use for measurement systems utilizing ionizing
radiation. These include the following.
• Common usage of laboratory PC computers with data acquisition modules for nearly all
primary performance measurement purposes, which means automated data collection;
statistical data processing; more extensive use of calculated variables (such as thickness)
instead of raw radiation signals (such as volts or counts); spreadsheet presentation and
manipulation of data and results; much larger data sets.
• New measurement system-related features for accessing measurement information such
as: very high speed sampling; integrated work-station data logging, statistical data
processing, and video/printer tabular and graphical data presentations; high resolution
scanning measurement profiles; extensive data bases with long-term performance
characteristics logging and reporting of trends; predictive failure analysis, etc.
• New design features to maximize absolute measurement accuracy in adverse environ-
ments including such things as: elimination of errors due to foreign material (dirt) in the
measurement path, temperature effects, electrostatic charge influences, vibration/ micro-
phonics; measurement air column compensation; internal measurement reference samples;
microcomputers and microcontrollers built directly into the sensors.
In light of the complexity of process control signals in current state-of-the-art technology with
cross-machine controls, DCS architecture and other variations in control processes, this
standard does not include the test point B of IEC 769. The original appendix B has also been
deleted as it is obsolete and inadequate in view of todays automated data collection methods
and statistical data processing techniques. However, a number of new tests and test methods
have been added to this standard.

– 8 – 1336 © CEI:1996
INSTRUMENTATION NUCLÉAIRE –
Systèmes de mesure d’épaisseur par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
1 Généralités
1.1 Domaine d’application et objet
La présente norme a trait aux définitions, méthodes d'essais et procédés pour les systèmes de
mesure par rayonnement ionisant destinés à effectuer des mesures et des vérifications
continues ou discontinues de l'épaisseur, de la masse par unité de surface ou de la masse par
unité de longueur au cours de processus industriels. Le produit fabriqué à mesurer peut se
présenter sous la forme de feuilles, de produits fabriqués, de revêtements, de produits
laminés, de tubes ou de barreaux. Cette norme s'applique à des systèmes comportant une ou
plusieurs sorties à des fins d'affichage ou de régulation. Les signaux peuvent être soit
analogiques, soit numériques. Le système de mesure peut également comprendre des signaux
d'entrée multiples, avec différents moyens de compensation et de conditionnement de signal
précédant les signaux de sortie.
Les aspects de sécurité sont traités dans d'autres normes de la CEI ou de l'ISO (par exemple
la CEI 405, l'ISO 2919 et l'ISO 7205). La conformité avec les réglementations nationales et
locales, et les pratiques usuelles seront également considérées.
Les systèmes de mesure d'épaisseur qui font l'objet de la présente norme sont en général
élaborés pour des applications industrielles entrant dans une large gamme d'industries,
d'applications et de spécifications. Le but poursuivi consiste à identifier les paramètres et
variables communs, ainsi qu'à spécifier des essais et documents normalisés de façon à
faciliter la comparaison des caractéristiques des différents systèmes de mesure disponibles
sur le marché. Ces essais sont applicables à des systèmes comportant des têtes de mesure
soit fixes, soit traversantes, et munies de détecteurs de rayonnements par transmission, par
rétrodiffusion ou par fluorescence X.
Un grand nombre de systèmes de mesure de rayonnements ionisants en usage aujourd'hui
comportent des détecteurs multiples et utilisent différents moyens de compensation des
signaux de détecteurs de base de façon à minimiser les effets de grandeurs d'influence
étrangère qui peuvent entraîner des erreurs. Des microprocesseurs et des mini-ordinateurs ont
permis de développer le traitement de signaux d'entrée multiples et les techniques de
compensation d'erreur. Dans les systèmes les plus complexes, il est difficile d'évaluer
entièrement l'efficacité du traitement interactif des signaux et des algorithmes de
compensation par contrôle statique. Par exemple, les temps de réponse et les temps de
collecte de données pour les détecteurs dont les signaux seront combinés selon certaines
fonctions analytiques ont peu d'importance dans les conditions de contrôle statique de la
présente norme, mais ils peuvent entraîner d'importantes erreurs dans des conditions de
mesure dynamique s'ils ne sont pas adaptés de façon appropriée. L'importance relative des
erreurs des grandeurs d'influence à compenser joue également un rôle considérable.
Il convient que les moyens de compensation pour des détecteurs ayant une grande sensibilité
aux grandeurs d'influence soient plus précis que pour des détecteurs qui font montre d'erreurs
mineures, de façon à parvenir aux mêmes résultats globaux. C'est pourquoi il est nécessaire
d'avoir, dans la norme, des contrôles de caractéristiques qui peuvent comprendre tout
l'ensemble du traitement interactif des signaux et les compensations. Cela est facilité, dans la
présente norme, grâce à l'introduction de différents points de contrôle pour le système de
mesure en cours d'évaluation.
1336  IEC:1996 – 9 –
NUCLEAR INSTRUMENTATION –
Thickness measurement systems utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
1 General
1.1 Scope and object
This standard relates to definitions, test methods, and procedures for ionizing radiation
measurement systems designed for either continuous or discrete measurements and checks of
mass per unit area, mass per unit length, or thickness of materials produced in industrial
processes. The measured process material may be in such forms as sheets, coatings,
laminates, tubes, or rods. This standard applies to systems with one or more outputs for
display or control purposes. The signals may be either analogue or digital. The measurement
system may also include multiple input signals with various means of compensation and signal
conditioning prior to the output signals.
Safety aspects are covered in other IEC and ISO standards (for example IEC 405, ISO 2919,
ISO 7205). Consideration will also be given to compliance with all applicable national and local
regulations and codes of practice.
Thickness measurement systems which are the object of this standard are generally built for
industrial applications covering a very broad range of industries, applications, and
specifications. The objective is to identify the common parameters and variables, and to
specify standard tests and documentation that will facilitate direct comparison of the
performance characteristics of the different measurement systems which are available. These
tests are applicable to systems with either fixed or traversing measuring heads and with
transmission, backscatter, or X-ray fluorescence sensors.
Many ionizing radiation measurement systems in use today have multiple sensors, and employ
various means of compensating the basic sensor signals to minimize the effects of extraneous
influence quantities that introduce measurement errors. Dedicated microprocessors and
minicomputers have further enhanced multiple input signal processing and error compensation
techniques. In the more complex systems, it is difficult to fully evaluate the effectiveness of
interactive signal processing and compensation algorithms by static testing. For example, the
response times and data collection times for sensors, whose signals are to be combined in
some analytical function, are of little importance under the static testing conditions in this
standard, but they can lead to large errors under dynamic measuring conditions if they are not
properly matched. The relative magnitude of the influence quantity errors to be compensated is
also quite important.
The compensation means for sensors with high sensitivity to influence quantities should be
more precise than for sensors which exhibit smaller errors in order to achieve the same overall
results. Therefore, it is necessary to have performance tests, in the standard, which may
include all the interactive signal processing and compensations. This has been facilitated in
this standard by identifying different test points throughout the measurement system under
evaluation.
– 10 – 1336 © CEI:1996
Il est important d'estimer la dégradation potentielle des caractéristiques de fonctionnement
dans un environnement difficile. Bien qu'il soit difficile de reproduire exactement l'influence des
conditions du processus de fabrication à long et à court terme pendant la durée limitée des
essais, l'ensemble de procédures exposé dans la présente norme comporte certaines
perturbations causées par l'environnement, introduites artificiellement.
Dans la présente norme, le terme «épaisseur» est utilisé pour désigner aussi bien la masse
par unité de surface, la masse par unité de longueur que l'épaisseur. Les détecteurs
radiométriques d'épaisseur, en général, mesurent la masse par unité de surface, et les signaux
de sortie peuvent être exprimés en unités d'épaisseur réelle seulement si le numéro atomique
effectif et la densité du matériau à mesurer sont connus ou si le système est calibré par
rapport à des échantillons réels de production, et si le nombre atomique effectif ainsi que la
densité du matériau produit ne change pas par rapport à ces échantillons. Dans le cas de
produits en forme de barreaux, avec une section de surface connue ou constante, le signal de
sortie peut être exprimé en termes de masse par unité de longueur.
NOTE – Il est recommandé au lecteur de se référer au schéma fonctionnel de l'annexe B, pour une meilleure
compréhension des spécifications.
1.2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au
moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
étant sujet à révision, les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme
internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l’ISO possèdent le
registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 359: 1987, Expression des qualités de fonctionnement des équipements de mesure
électriques et électroniques
CEI 405: 1972, Appareils nucléaires: Prescriptions de construction pour la protection
individuelle contre les rayonnements ionisants
ISO 2919: 1980, Sources radioactives scellées – Classification
ISO 7205: 1986, Jauges à radioéléments – Appareils destinés à être installés à poste fixe
1.3 Définitions
Pour les besoins de la présente Norme internationale, les définitions suivantes sont
applicables:
1.3.1 jauge d'épaisseur (rayonnement ionisant): Assemblage de mesure comprenant une
source de rayonnement ionisant et destiné à effectuer des mesures non destructives de
l'épaisseur d'un matériau à l'aide des rayonnements ionisants.
1.3.2 système de mesure par transmission: Système de jauge d'épaisseur utilisant le
rayonnement ionisant transmis à travers le produit mesuré. La source et le détecteur sont positionnés
en vis-à-vis et des deux côtés du matériau à mesurer. Le système peut inclure des capteurs de
compensation pour mesurer et corriger les effets de grandeurs d'influence indésirables.
1.3.3 système de mesure par rétrodiffusion: Système de jauge d'épaisseur utilisant le
rayonnement ionisant rétrodiffusé par le matériau à mesurer ainsi que par tout matériau
support adjacent au matériau à mesurer. La source et le détecteur sont positionnés du même
côté du matériau à mesurer. Le système peut inclure des capteurs de compensation en vue de
mesurer et de corriger les effets de grandeurs d'influence indésirables.

1336  IEC:1996 – 11 –
It is important to estimate the potential performance degradation in adverse environments.
Although it is difficult to duplicate exactly the influence of long-term and short-term process
conditions during a limited test period, this set of procedures includes some artificially
introduced environmental disturbances.
In this standard the term “thickness” is used interchangeably to mean mass per unit area, mass
per unit length, or thickness. Radiometric sensors, in general, measure mass per unit area and
the output signals can be expressed in true thickness units only if the effective atomic number
and density of the material being measured are known, or if the system is calibrated against
actual production samples, and if the effective atomic number and density of the material
produced do not change relative to those samples. In the case of rod-shaped products, with a
known or constant cross-sectional area, the output signal may be expressed in terms of mass
per unit length.
NOTE – It is recommended that the reader refers to the block diagram of annex B for a better understanding of
the specification.
1.2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility
of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of
IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
IEC 359: 1987, Expression of the performance of electrical and electronic measuring
equipment
IEC 405: 1972, Nuclear instruments: Constructional requirements to afford personal protection
against ionizing radiation
ISO 2919: 1980, Sealed radioactive sources – Classification
ISO 7205: 1986, Radionuclide gauges – Gauges designed for permanent installation
1.3 Definitions
For the purpose of this International Standard the following definitions apply:
1.3.1 thickness gauge (ionizing radiation): A measuring assembly that includes an ionizing
radiation source and is designed to measure non-destructively the mass per unit area of a
material by means of ionizing radiation.
1.3.2 transmission measurement system: A thickness gauge system that utilizes the
ionizing radiation transmitted through the material being measured. The source and detector
are positioned on opposite sides of the measured material. The system may include
compensation sensors to measure and correct for the effects of undesirable influence
quantities.
1.3.3 backscatter measurement system: A thickness gauge system that utilizes the ionizing
radiation backscattered by the material being measured and any backing material adjacent to
the material being measured. The source and detector are positioned on the same side of the
material being measured. The system may include compensation sensors to measure and
correct for the effects of undesirable influence quantities.

– 12 – 1336 © CEI:1996
1.3.4 système de mesure par le rayonnement de fluorescence X: Système de jauge
d'épaisseur utilisant le rayonnement de fluorescence X provoqué dans le matériau à mesurer
ou dans le matériau support.
Le système peut inclure des capteurs de compensation pour mesurer et corriger les effets de
grandeurs d'influence indésirables.
1.3.5 tête de mesure: Sous-ensemble comprenant une ou plusieurs sources de rayonnement
et détecteurs de rayonnement, ainsi que des capteurs de compensation pouvant être utilisés
pour mesurer et corriger les effets des grandeurs d'influence indésirables.
NOTE – La source de rayonnement peut être une source radioactive scellée ou un générateur de rayonnement
émettant des rayons X d'énergie fixe ou variable. Le sous-ensemble tête de mesure peut comprendre également
des composants électroniques pour le traitement du signal.
1.3.6 sous-ensemble électronique de mesure: Sous-ensemble qui, en utilisant des
composants électriques ou électroniques incorporés, sert à traiter les grandeurs électriques
délivrées par la tête de mesure et à fournir des grandeurs électriques ayant des valeurs
adaptées aux besoins de la mesure.
1.3.7 point de contrôle: Endroit, dans le système de mesure, où les signaux électriques
peuvent être contrôlés.
1.3.7.1 point de contrôle A: Endroit, dans le système de mesure, où le signal de sortie du
détecteur peut être contrôlé dans sa forme originelle de base.
NOTE – Dans le cas d'une chambre d'ionisation, le point de contrôle A se trouve habituellement après le
préamplificateur et avant toute conversion sous forme numérique.
1.3.7.2 point de contrôle B: Endroit, dans le système de mesure, correspondant à la sortie
pour affichage.
1.3.7.3 autres points de contrôle: Autres endroits, dans le système de mesure, où les
signaux de mesure peuvent être contrôlés et évalués.
1.3.8 mécanisme de support de la tête de mesure: Assemblage mécanique sur lequel la
tête de mesure est fixée.
1.3.8.1 mécanisme fixe: Mécanisme de support de la tête de mesure restant en position fixe.
1.3.8.2 mécanisme rétractable: Mécanisme de support de la tête de mesure qui peut être
retiré de sa position de mesure.
1.3.8.3 mécanisme de translation: Mécanisme de support de la tête de mesure permettant à
cette dernière d'être déplacée transversalement sur le matériau à mesurer.
1.3.9 entrefer de mesure
1.3.9.1 jauge d'épaisseur à transmission: Intervalle entre les faces opposées de l'ensemble
émetteur de rayonnement et de l'ensemble détecteur, et dans lequel se trouve le matériau à
mesurer.
1.3.9.2 jauge d'épaisseur à rétrodiffusion: Intervalle entre la face la plus proche de
l'ensemble émetteur ou de l'ensemble détecteur et la surface la plus en arrière du matériau à
mesurer ou la surface du matériau de support.
NOTE – Le terme «entrefer de mesure» est parfois utilisé pour décrire l'espace ou volume libre dans lequel la
mesure est réalisée. Cet espace peut être moindre que l'intervalle décrit ci-dessus.
1.3.10 ligne de passe: Position du matériau à mesurer dans l'espace de mesure.

1336  IEC:1996 – 13 –
1.3.4 X-ray fluorescence measurement system: A thickness gauge system that utilizes the
X-ray fluorescence excited in the material to be measured or in the supporting material.
The system may include compensation sensors to measure and correct for the effects of
undesirable influence quantities.
1.3.5 measuring head: A subassembly comprising one or more radiation sources and
radiation detectors together with any compensation sensors that may be used to measure and
correct the effects of undesirable influence quantities.
NOTE – The radiation source may be a radioactive sealed source or a radiation generator emitting X-rays of
fixed or variable energy. The measuring head subassembly may also include electronic devices for signal
processing.
1.3.6 electronic measuring subassembly: A subassembly which, by means of incorporated
electrical or electronic devices, serves to process the electrical quantities delivered by the
measuring head and to supply electrical quantities having convenient values for measurement
purposes.
1.3.7 test point: A point in the measurement system where electrical signals may be
monitored.
1.3.7.1 test point A: The point in the measurement system where the detector output signal
may be monitored in its original basic form.
NOTE – For an integrating ionization chamber, the test point A typically would be after the preamplifier and
before any conversion to a digital form.
1.3.7.2 test point B: The point in the measurement system at which normal measurement
display readouts occur.
1.3.7.3 test points – other: Other points in the measurement system at which measurement
system signals may be monitored and evaluated.
1.3.8 measuring head supporting mechanism: A mechanical assembly on which the
measuring head is mounted.
1.3.8.1 fixed mechanism: A measuring head supporting mechanism that does not move.
1.3.8.2 retractable mechanism: A measuring head supporting mechanism that is able to be
withdrawn from the measurement position.
1.3.8.3 traversing mechanism: A measuring head supporting mechanism which allows the
measuring head to be traversed across the material being measured.
1.3.9 measuring gap
1.3.9.1 transmission thickness gauge: The distance between opposing faces of the
radiation emitting assembly and the detector assembly between which the material being
measured is located.
1.3.9.2 backscattering thickness gauge: The distance from the nearest face of the emitting
assembly or the detector assembly to the rearmost surface of the material being measured or
to the surface of the backing material.
NOTE – The term “measuring gap” is sometimes used to describe the space or free volume in which the
measurement is made. This space may be less than the distance described above.
1.3.10 pass line: The position of the material to be measured in the measuring gap.

– 14 – 1336 © CEI:1996
1.3.11 ligne de passe de référence: Ligne de passe à l'intérieur de l'entrefer de mesure
correspondant à la position du matériau pour laquelle l'étalonnage est normalement effectué.
Elle est généralement définie à distance spécifiée, soit entre la surface du porte-source, soit
entre la surface du détecteur et la surface adjacente du matériau à mesurer.
1.3.12 aire de mesure
1.3.12.1 aire totale de mesure: Surface minimale d'un matériau donné situé à la ligne de
passe de référence qui contribue pour 100 % au signal de sortie.
1.3.12.2 aire effective de mesure: Surface d'un matériau donné situé à la ligne de passe de
référence qui donne une corrélation optimale entre le signal de sortie et la variable à mesurer
(cette aire se situe habituellement entre 65 % et 95 % de l'aire totale de mesure).
1.3.12.3 résolution de stries: Largeur d'une strie d'épaisseur constante du matériau dans le
sens longitudinal qui sera mesurée à 70 % de l'amplitude d'une bande de largeur infinie de la
même épaisseur.
1.3.13 masse par unité de surface (masse surfacique, densité surfacique, masse
sectionnelle, grammage): Grandeur égale au produit de la masse volumique d'un matériau
par l'épaisseur du même matériau. La masse par unité de surface peut être calculée en
pratique en pesant un échantillon du matériau et en divisant ce résultat par sa surface.
1.3.14 précision: Degré de conformité d'une valeur indiquée à une valeur normalisée
reconnue, ou valeur idéale.
NOTES
1 Mesurée en général comme imprécision, elle est exprimée en tant que précision.
2 Elle est exprimée en termes de la variable mesurée, du pourcentage d'échelle, du pourcentage de la gamme
supérieure ou du pourcentage de la lecture réelle de sortie.
3 Il convient qu'elle soit exprimée avec une notation statistiquement significative, par exemple «à ±2 σ» ou
«au maximum».
1.3.15 reproductibilité: Degré de concordance entre un certain nombre de mesures
consécutives de la sortie pour la même valeur de l'entrée dans les mêmes conditions
opératoires.
NOTE – Mesurée habituellement comme une non-reproductibilité, elle est supérieure en tant que reproductibilité
en pourcentage de la gamme supérieure de mesure ou en pourcentage de la lecture réelle de sortie pour une
période de temps spécifiée ou pour un nombre déterminé de mesures.
1.3.16 domaine nominal: Domaine assigné à un équipement par le constructeur pour la ou
les grandeurs à mesurer, à observer, à afficher ou à fournir (voir CEI 359).
1.3.17 gamme de mesure: Partie du domaine nominal dans laquelle l'équipement satisfait
aux prescriptions relatives aux limites d'erreur (voir CEI 359).
NOTE – La gamme de mesure peut être subdivisée afin de caractériser l'instrument plus complètement.
1.3.18 transfert de calibration: Aptitude à mesurer un même jeu d'échantillons de référence
avec deux ou plusieurs jauges d'épaisseur et à obtenir le même résultat, à l'intérieur d'une
fourchette d'erreur spécifiée.
1.3.19 résolution: Plus petite modification de la grandeur à mesurer susceptible d'être
observée ou détectée. La nature statistique du signal et l'influence des techniques
d'échantillonnage utilisées seront dûment prises en considération. Les données échantillon-
nées seront normalisées pour tenir compte du filtrage du signal et du temps de mesure des
données.
1.3.20 longueur de résolution géométrique du système: Longueur minimale dans une
direction spécifiée d'un échantillon normalisé possédant une masse déterminée par unité de
surface, susceptible d'être mesurée avec une précision donnée. Dans le cas de mesure

1336  IEC:1996 – 15 –
1.3.11 reference pass line: The pass line in the measuring gap corresponding to the position
of the material at which calibration is normally made. It is usually defined at a specified
distance from either the surface of the source holder housing, or the surface of the detector
housing to the adjacent surface of the measured material.
1.3.12 measurement area
1.3.12.1 total measurement area: The minimum area of a given material located at the
reference pass line which contributes 100 % of the output signal.
1.3.12.2 effective measurement area: The area of a given material located at the reference
pass line which provides the optimum correlation between the output signal and the she
...