IEC 61747-5:1998

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61747-5
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-06
Dispositifs d’affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 5:
Méthodes d’essais d’environnement,
d’endurance et mécaniques
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 5:
Environmental, endurance and mechanical
test methods
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61747-5:1998
Numéros des publications Numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.

Publications consolidées Consolidated publications

Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,

Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to

indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incor-
publication de base incorporant l’amendement 1, et porating amendment 1 and the base publication
la publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.

et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de re- Information relating to the date of the reconfirmation of
confirmation de la publication sont disponibles dans le the publication is available in the IEC catalogue.
Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Catalogue en ligne)* (On-line catalogue)*
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI* Available both at the IEC web site* and
et comme périodique imprimé as a printed periodical
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and

compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61747-5
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-06
Dispositifs d’affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 5:
Méthodes d’essais d’environnement,
d’endurance et mécaniques
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 5:
Environmental, endurance and mechanical
test methods
 IEC 1998 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in
copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE W
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61747-5 © CEI:1998
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4

Articles
1 Généralités. 6

1.1 Domaine d’application objet . 6

1.2 Références normatives. 6

1.3 Termes, définitions et symboles littéraux. 8

1.4 Conditions atmosphériques normales . 8
1.5 Examen visuel et vérification des dimensions . 12
1.6 Mesures électriques et optiques . 12
1.7 Conditions de fonctionnement électrique . 14
2 Méthodes d’essais mécaniques . 14
2.1 Robustesse des sorties. 14
2.2 Soudure. 16
2.3 Vibrations (sinusoïdales). 16
2.4 Chocs. 20
2.5 Accélération constante. 22
2.6 Essai de résistance de la liaison . 22
3 Méthodes d’essais d’environnement et d’endurance. 26
3.1 Variations de température . 26
3.2 Stockage (à température élevée) . 32
3.3 Stockage (à basse température) . 34
3.4 Basse pression atmosphérique . 34
3.5 Essai continu de chaleur humide. 34
3.6 Essai cyclique de chaleur humide (cycle de 12+12 heures). 36
3.7 Essai cyclique composite de température et d’humidité . 36
3.8 Exposition à la lumière. 46
3.9 Essai ESD. 46
4 Méthodes d’essais diverses. 46
4.1 Permanence du marquage . 46
4.2 Essai de grattement . 48
4.3 Essai de durabilité . 48
5 Inspection visuelle des modules d'affichage à cristaux liquides matriciels monochromes

(A l'exclusion des modules d'affichage à cristaux liquides à matrice active). 48
5.1 Généralités. 48
5.2 Inspection visuelle des afficheurs. 48
6 Inspection visuelle des cellules d'affichage à cristaux liquides monochromes
(A l'exclusion des modules d'affichage à cristaux liquides à matrice active). 58
6.1 Généralités. 58
6.2 Inspection visuelle des afficheurs. 58
6.3 Inspection du joint de scellement (voir figure 13) . 64
6.4 Inspection visuelle des surfaces de contact électrique (voir figure 14). 66
6.5 Inspection visuelle pour les ébréchures sur les bords et sur les pourtours
des plaques supports de la cellule. 70
Annexe A – Index des références croisées. 72

61747-5 © IEC:1998 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5

Clause
1 General. 7

1.1 Scope and object. 7

1.2 Normative references. 7

1.3 Terms, definitions and letter symbols . 9

1.4 Standard atmospheric conditions . 9
1.5 Visual examination and verification of dimensions . 13
1.6 Electrical and optical measurements. 13
1.7 Electrical operating conditions. 15
2 Mechanical test methods . 15
2.1 Robustness of terminations. 15
2.2 Soldering. 17
2.3 Vibration (sinusoidal). 17
2.4 Shock. 21
2.5 Acceleration, steady state . 23
2.6 Bond strength test . 23
3 Environmental and endurance test methods. 27
3.1 Change of temperature . 27
3.2 Storage (at high temperature) . 33
3.3 Storage (at low temperature). 35
3.4 Low air pressure. 35
3.5 Damp heat, steady state. 35
3.6 Damp heat, cyclic (12+12-hour cycle) . 37
3.7 Composite temperature/humidity cyclic test . 37
3.8 Light exposure. 47
3.9 ESD Test. 47
4 Miscellaneous test methods . 47
4.1 Permanence of marking . 47
4.2 Scratch test (of face plate) . 49
4.3 Life test. 49
5 Visual inspection of monochrome matrix liquid crystal display modules

(Excluding all active matrix liquid crystal display modules) . 49
5.1 General. 49
5.2 Visual inspection of displays. 49
6 Visual inspection of monochrome liquid crystal display cells
(Excluding all active matrix liquid crystal display modules) . 59
6.1 General. 59
6.2 Visual inspection of displays. 59
6.3 Seal inspections (see figure 13) . 65
6.4 Visual inspection of contact pad area (see figure 14) . 67
6.5 Visual inspection for chipped material at the borders and edges of the support
plates of cells . 71
Annex A – Cross references index . 73

– 4 – 61747-5 © CEI:1998
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

_________
DISPOSITIFS D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES

ET À SEMICONDUCTEURS –
Partie 5: Méthodes d’essais d’environnement, d'endurance et mécaniques

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61747-5 a été établie par le sous-comité 47C: Dispositifs
optoélectroniques, d’affichage et d’imagerie, du comité d’études 47 de la CEI: Dispositifs à
semiconducteurs.
Le texte de cette norme est issu d'une partie des amendements 1 et 2 de la CEI 60747-5 et
des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
47C/203/FDIS 47C/211/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
L'annexe A est donnée uniquement à titre d'information.

61747-5 © IEC:1998 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

_________
LIQUID CRYSTAL AND SOLID-STATE DISPLAY DEVICES –

Part 5: Environmental, endurance and mechanical test methods

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61747-5 has been prepared by subcommittee 47C: Optoelectronic,
display and imaging devices, of IEC technical committee 47: Semiconductor devices.
The text of this standard is based on a part of amendments 1 and 2 to IEC 60747-5 and the
following documents:
FDIS Report on voting
47C/203/FDIS 47C/211/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
Annex A is for information only.

– 6 – 61747-5 © CEI:1998
DISPOSITIFS D’AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES

ET À SEMICONDUCTEURS –
Partie 5: Méthodes d’essais d’environnement, d'endurance et mécaniques

1 Généralités
1.1 Domaine d’application objet

La présente partie de la CEI 61747 répertorie les méthodes d’essai applicables aux dispositifs

d’affichage à cristaux liquides. Elle a pris en compte, dans la mesure du possible, les
méthodes d’essai d’environnement de la CEI 60068.
Elle comprend en outre l'inspection visuelle des cellules et des modules d'affichage à cristaux liquides.
NOTE 1 – Cette norme est établie séparément de la CEI 60749, puisque la technologie des dispositifs d’affichage à
cristaux liquides est complètement différente de celle des dispositifs à semiconducteurs en ce qui concerne
– leurs formes et dimensions;
– leurs matériaux et dimensions;
– leur fonction;
– les méthodes de mesure;
– les principes d’opération.
NOTE 2 – Les dispositifs incluent les cellules et les modules.
L’objet de la présente norme est d’établir des méthodes d’essai uniformes privilégiées
indiquant des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, permettant d’estimer les
propriétés environnementales des dispositifs d’affichage à cristaux liquides.
En cas de contradiction entre la présente norme et une spécification particulière, cette dernière
doit prévaloir.
1.2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 61747.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de la
CEI 61747 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l’ISO possèdent le
registre des Normes internationales en vigueur.

CEI 60068, Essais d’environnement
CEI 60068-1:1988, Essais d’environnement – Partie 1: Généralités et guide
CEI 60068-2-1:1990, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essais A: Froid
CEI 60068-2-2:1974, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essais B: Chaleur sèche
CEI 60068-2-3:1969, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Ca: Essai continu de
chaleur humide
CEI 60068-2-5:1975, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Sa: Rayonnement
solaire artificiel au niveau du sol

61747-5 © IEC:1998 – 7 –
LIQUID CRYSTAL AND SOLID-STATE DISPLAY DEVICES –

Part 5: Environmental, endurance and mechanical test methods

1 General
1.1 Scope and object
This part of IEC 61747 lists test methods applicable to liquid crystal display devices. It takes

into account, wherever possible, the environmental test methods outlined in IEC 60068.
It also includes visual inspection for both liquid crystal display cells and modules.
NOTE 1 – This standard is established separately from IEC 60749, because the technology of liquid crystal display
devices is completely different from that of semiconductor devices in such matters as
– shape and size;
– used materials and structure;
– function;
– measuring methods;
– operation principles.
NOTE 2 – Devices include cells and modules.
The object of this standard is to establish uniform preferred test methods with preferred values
for stress levels for judging the environmental properties of liquid crystal display devices.
In case of contradiction between this standard and a relevant specification, the latter shall
govern.
1.2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 61747. At the time of publication, the editions indicated
were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreements based
on this part of IEC 61747 are encouraged to investigate the possibility of applying the most
recent editions of the normative documents indicated below. Members of IEC and ISO maintain
registers of currently valid International Standards.
IEC 60068, Environmental testing

IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance
IEC 60068-2-1:1990, Environmental testing – Part 2: Tests – Test A: Cold
IEC 60068-2-2:1974, Environmental testing – Part 2: Tests – Test B: Dry heat
IEC 60068-2-3:1969, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ca: Damp heat, steady state
IEC 60068-2-5:1975, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Sa: Simulated solar radiation
at ground level
– 8 – 61747-5 © CEI:1998
CEI 60068-2-6:1995, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Fc et guide: Vibrations

(sinusoïdales)
CEI 60068-2-7:1983, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Ga: Accélération constante

CEI 60068-2-13:1983, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai M: Basse pression

atmosphérique
CEI 60068-2-14:1984, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai N: Variations de

température
CEI 60068-2-20:1979, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai T: Soudure
CEI 60068-2-21:1983, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai U: Robustesse des
sorties et des dispositifs de fixation
CEI 60068-2-27:1987, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Ea et guide: Chocs
CEI 60068-2-30:1980, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Db et guide: Essai
cyclique de chaleur humide (cycle de 12 + 12 heures)
CEI 60068-2-38:1974, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai Z/AD: Essai cyclique
composite de température et d’humidité
CEI 60068-2-45:1980, Essais d’environnement – Partie 2: Essais – Essai XA et guide:
Immersion dans les solvants de nettoyage
CEI 60747, Dispositifs à semiconduceurs
CEI 60747-1:1983, Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 1: Généralités
Amendement 1 (1991)
Amendement 2 (1993)
Amendement 3 (1996)
CEI 60747-5:1984, Dispositifs à semiconducteurs – Partie 5: Dispositifs optoélectroniques
Amendement 1 (1994)
Amendement 2 (1995)
CEI 60748-1:1984, Dispositifs à semiconducteurs – Circuits intégrés – Partie 1: Généralités
CEI 60749:1996, Dispositifs à semiconducteurs – Essais mécaniques et climatiques
CEI 61747:1998, Dispositifs d'affichage à cristaux liquides et à semiconducteurs
1.3 Termes, définitions et symboles littéraux

Pour les besoins de la présente norme, les définitions et symboles littéraux de la CEI 60068,
de la CEI 60747, de la CEI 60748 et de la CEI 61747-1 s’appliquent.
1.4 Conditions atmosphériques normales
Les conditions atmosphériques spécifiées dans la CEI 60068-1 s’appliquent.
1.4.1 Atmosphère normale de référence
Température: 25 °C
Pression atmosphérique: 86 kPa à 106 kPa (860 mbar à 1 060 mbar)

61747-5 © IEC:1998 – 9 –
IEC 60068-2-6:1995, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Fc: Vibration (sinusoidal)

IEC 60068-2-7:1983, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ga: Acceleration, steady state

IEC 60068-2-13:1983, Environmental testing – Part 2: Tests – Test M: Low air pressure

IEC 60068-2-14:1984, Environmental testing – Part 2: Tests – Test N: Change of temperature

IEC 60068-2-20:1979, Environmental testing – Part 2: Tests – Test T: Soldering

IEC 60068-2-21:1983, Environmental testing – Part 2: Tests – Test U: Robustness of

terminations and integral mounting devices
IEC 60068-2-27:1987, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ea and guidance: Shock
IEC 60068-2-30:1980, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Db and guidance: Damp
heat, cyclic (12 + 12-hour cycle)
IEC 60068-2-38:1974, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Z/AD: Composite
temperature/humidity cyclic test
IEC 60068-2-45:1980, Environmental testing – Part 2: Tests – Test XA and guidance:
Immersion in cleaning solvents
IEC 60747, Semiconductor devices
IEC 60747-1:1983, Semiconductor devices – Discrete devices – Part 1 – General
Amendment 1 (1991)
Amendment 2 (1993)
Amendment 3 (1996)
IEC 60747-5:1984, Semiconductor devices – Part 5: Optoelctronic devices
Amendment 1 (1994)
Amendment 2 (1995)
IEC 60748-1:1984, Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 1: General
IEC 60749:1996, Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods
IEC 61747:1998, Liquid crystal and solid-state display devices
1.3 Terms, definitions and letter symbols

For the purpose of this standard, the definitions and letter symbols of IEC 60068, IEC 60747,
IEC 60748 and IEC 61747-1 apply.
1.4 Standard atmospheric conditions
The atmospheric conditions specified in IEC 60068-1 apply.
1.4.1 Standard reference atmosphere
Temperature: 25 °C
Air pressure: 86 kPa to 106 kPa (860 mbar to 1 060 mbar)

– 10 – 61747-5 © CEI:1998
1.4.2 Atmosphère normale pour mesures et essais d’arbitrage

Si les paramètres des dispositifs d’affichage à cristaux liquides à mesurer dépendent de la

température, de la pression, de l’humidité, et que la loi de variation est inconnue, les
atmosphères à spécifier doivent être sélectionnées parmi les suivantes:

Température Humidité relative Pression atmosphérique

°C % HR kPa
20 ± 1 45 à 75 86 à 106
25 ± 1 45 à 75 86 à 106
30 ± 1 45 à 75 86 à 106
35 ± 1 45 à 75 86 à 106
NOTE – Les conditions atmosphériques pour les mesures initiales et finales doivent être les mêmes.
1.4.3 Conditions atmosphériques normales pour mesures et essais
Sauf spécification contraire, tous les essais et mesures doivent être réalisés dans les
conditions atmosphériques normales d’essai.
Température: 15 °C à 35 °C
Humidité relative: 25 % à 85 % RH, selon le cas
Pression atmosphérique: 86 kPa à 106 kPa (860 mbar à 1 060 mbar)
L’humidité absolue de l’atmosphère ne doit pas dépasser 22 g/m .
1.4.4 Conditions de reprise
Après la période de conditionnement et avant d’effectuer les mesures finales, il convient de
laisser les spécimens se stabiliser à température ambiante, la température à laquelle les
mesures doivent être prises.
Les «conditions de reprise contrôlées» (voir 1.4.4.1) doivent être appliquées si les paramètres
électriques à mesurer sont influencés par l’humidité absorbée ou par les états de surface des
spécimens et varient rapidement, par exemple si la résistance d’isolement s’élève
considérablement en 2 h environ après le retrait de l’enceinte humide.
Si les paramètres électriques des spécimens influencés par l’humidité absorbée ou par les
états de surface ne varient pas rapidement, la reprise peut être conduite dans les conditions
prescrites en 1.4.3.
1.4.4.1 Conditions de reprise contrôlées
Sauf spécification contraire, toute reprise doit être réalisée dans des conditions atmo-
sphériques contrôlées.
Température: la température réelle du laboratoire ±1 °C à condition que cette
température soit dans les limites fixées en 1.4.3, c’est-à-dire entre
15 °C et 35 °C.
Humidité relative: 73 % à 77 % selon le cas
Pression atmosphérique: 86 kPa à 106 kPa (860 mbar à 1 060 mbar)
Avant de réaliser les mesures, les dispositifs doivent être stockés jusqu’à ce que l’équilibre thermique
soit atteint. La température ambiante durant les mesures doit être indiquée dans le rapport d’essai.

61747-5 © IEC:1998 – 11 –
1.4.2 Standard atmosphere for referee measurements and tests

If the parameters of liquid crystal display devices to be measured depend on temperature,

pressure, and humidity and the law of dependence is unknown, the atmospheres to be
specified shall be selected from the following:

Temperature Relative humidity Air pressure

°C % RH kPa
20 ± 1 45 to 75 86 to 106
25 ± 1 45 to 75 86 to 106
30 ± 1 45 to 75 86 to 106
35 ± 1 45 to 75 86 to 106
NOTE – Atmospheric conditions for initial and final measurements shall be the same.
1.4.3 Standard atmospheric conditions for measurements and tests
Unless otherwise specified, all tests and measurements shall be carried out under standard
atmospheric conditions for testing.
Temperature: 15 °C to 35 °C
Relative humidity: 25 % to 85 % RH, where appropriate
Air pressure: 86 kPa to 106 kPa (860 mbar to 1 060 mbar)
The absolute humidity of the atmosphere shall not exceed 22 g/m .
1.4.4 Recovery conditions
After the conditioning period and before making the final measurements, the specimens should
be allowed to stabilize at the ambient temperature, the temperature at which the measurements
shall be made.
The “controlled recovery conditions” (see 1.4.4.1) shall be applied if the electrical parameters
to be measured are affected by absorbed humidity or by the surface conditions of the
specimens, and change rapidly, for example if the insulation resistance rises considerably
within approximately 2 h after removal of the specimens from the humidity chamber.
If the electrical parameters of the specimens affected by absorbed humidity or surface
conditions do not vary rapidly, recovery may be carried out in the conditions specified in 1.4.3.

1.4.4.1 Controlled recovery conditions
Unless otherwise specified, all recovery shall be carried out under controlled atmospheric
conditions:
Temperature: actual laboratory temperature ±1 °C, provided that it is within the limits fixed
in 1.4.3, that is between 15 °C to 35 °C.
Relative humidity: 73 % to 77 %, where appropriate
Air pressure: 86 kPa to 106 kPa (860 mbar to 1 060 mbar)
Before the measurements are made, the devices shall be stored until temperature equilibrium is
reached. The ambient temperature during the measurements shall be stated in the test report.

– 12 – 61747-5 © CEI:1998
Durant les mesures, les dispositifs ne doivent pas être exposés aux courants d’air, à la

luminosité ou à d’autres influences susceptibles de provoquer des erreurs. L’environnement

doit être contrôlé pour éviter toute erreur.

Si la reprise et les mesures sont réalisées dans des chambres séparées, la combinaison des

conditions de température et d’humidité doit être telle qu’aucune condensation ne se produise

à la surface des dispositifs lorsque le dispositif est transféré dans la chambre de mesure.

1.4.4.2 Procédure de reprise
Le dispositif doit être placé dans la chambre de reprise dans les 10 min qui suivent la fin de
l’épreuve. Lorsque la spécification particulière requiert des mesures à effectuer immédiatement
après la fin de la reprise, ces mesures doivent être achevées 30 min après le retrait du
spécimen de la chambre de reprise. Les caractéristiques que l’on s’attend à voir varier le plus
rapidement après le retrait du spécimen de la chambre de reprise doivent être mesurées en
premier.
1.4.5 Conditions atmosphériques normales de séchage assisté
Lorsqu’un séchage assisté est requis avant le commencement d’une série de mesures, les
conditions suivantes doivent, sauf prescriptions contraires de la spécification particulière, être
appliquées au spécimen pendant 6 h.
Température: (55 ± 2) °C
Humidité relative: au plus 20 %
Pression atmosphérique: 86 kPa à 106 kPa (860 mbar à 1 060 mbar)
Lorsque la température spécifiée pour l’essai de chaleur sèche est inférieure à 55 °C, le
séchage assisté doit être effectué à cette température plus basse.
1.5 Examen visuel et vérification des dimensions
Les articles 5 et 6 sont applicables.
1.5.1 L’examen visuel doit inclure
a) la conformité et la permanence du marquage;
b) l’endommagement de l’encapsulage, y compris des sorties;
c) la qualité de l’encapsulage, y compris des sorties.

1.5.2 Les dimensions indiquées dans la spécification particulière doivent être vérifiées.
1.5.3 Sauf spécification contraire, un examen visuel doit être réalisé sous un éclairage
industriel normal et dans des conditions visuelles normales.
1.6 Mesures électriques et optiques
1.6.1 Pour les essais d’environnement, les caractéristiques à vérifier doivent être sélection-
nées dans la partie correspondante de la CEI 61747.
1.6.2 Les conditions de mesure doivent être conformes au tableau «Conditions des essais
d’endurance» dans la partie correspondante de la CEI 61747.

61747-5 © IEC:1998 – 13 –
During measurements, the devices shall not be exposed to draught, illumination or other

influences likely to cause error. The environment shall be controlled to avoid error.

If recovery and measurements are performed in separate chambers, the combination of

temperature and humidity conditions shall be such that condensation on the surface of the

devices does not occur when the device is transferred to the measurement chamber.

1.4.4.2 Recovery procedure
The device shall be placed in the recovery chamber within 10 min of completing of
conditioning. Where the relevant specification requires measurements to be made immediately
after the recovery period, these measurements shall be completed within 30 min of the
specimen being removed from the recovery chamber. Those characteristics which are
expected to change most rapidly after the device is removed from the recovery chamber shall
be measured first.
1.4.5 Standard atmospheric conditions for assisted drying
Where assisted drying is required before commencing a series of measurements, the
conditions listed below shall be used on the specimen for 6 h, unless otherwise prescribed by
the relevant specification.
Temperature: (55 ± 2) °C
Relative humidity: not exceeding 20 %
Air pressure: 86 kPa to 106 kPa (860 mbar to 1 060 mbar)
When the specified temperature for the dry heat test is lower than 55 °C, assisted drying shall
be carried out at that lower temperature.
1.5 Visual examination and verification of dimensions
Clauses 5 and 6 are applicable.
1.5.1 Visual examination shall include
a) the conformance and permanence of the marking;
b) damage to the encapsulation, including terminals;
c) workmanship of the encapsulation, including terminals.
1.5.2 Dimensions given in the relevant specification shall be verified.

1.5.3 Unless otherwise specified, visual inspection shall be performed under normal factory
lighting and under normal visual conditions.
1.6 Electrical and optical measurements
1.6.1 For environmental testing, the characteristics to be checked shall be selected from the
relevant part of IEC 61747.
1.6.2 Measurement conditions shall comply with the table “Conditions for the endurance tests”
in the relevant part of IEC 61747.

– 14 – 61747-5 © CEI:1998
1.6.3 Mesures initiales
Si seuls les critères relatifs à la limite de spécification supérieure et/ou inférieure sont

prescrits, il est laissé à la discrétion du fabricant de réaliser ou non des mesures initiales. Des

mesures initiales doivent être faites si des valeurs individuelles servent de critère pour un
dispositif individuel.
1.6.4 Mesures contrôlées durant les essais d’environnement

A indiquer, le cas échéant.
1.6.5 Mesures finales
Lorsque l’essai est spécifié dans la spécification particulière comme partie intégrante d’une
séquence (sous-groupe) d’essais, des mesures sont prescrites seulement à la fin de la
séquence. Pour certains essais, tels que les essais de soudabilité ou d’endurance des sorties,
des dispositifs défectueux au niveau électrique ou optique peuvent être utilisés.
1.7 Conditions de fonctionnement électrique
Les conditions de fonctionnement électrique doivent être définies dans les spécifications particulières.
2 Méthodes d’essais mécaniques
Le choix des essais appropriés dépend du type de dispositifs. La spécification particulière doit
indiquer quels sont les essais applicables.
2.1 Robustesse des sorties
2.1.1 Sorties par fils, broches ou connecteurs à broches
L’essai U décrit dans la CEI 60068-2-21 est applicable.
2.1.1.1 Traction
Cet essai doit être conforme à l’essai Ua1, avec les prescriptions spécifiques suivantes.
Après l’essai, examiner avec un grossissement de 3× à 10×.
Le dispositif doit être rejeté s’il présente une cassure, un flottement ou un déplacement relatif
entre la sortie ou la connexion et le corps du dispositif.

2.1.1.2 Pliage
Cet essai doit être conforme à l’essai Ub.
2.1.1.3 Torsion
Voir CEI 60749, chapitre II, paragraphe 1.3
Appliquée uniquement pour cellules avec épingle.
2.1.1.4 Couple
Voir CEI 60749, chapitre II, paragraphe 1.4.2.
Appliquée uniquement pour cellules avec épingle.

61747-5 © IEC:1998 – 15 –
1.6.3 Initial measurements
If only upper specification limit and/or lower specification limit criteria are required, it is left to

the discretion of the manufacturer whether initial measurements are made or not. Initial

measurements shall be made where individual values for an individual device are a criterion.

1.6.4 Measurements monitored during environmental testing

To be stated, where appropriate.

1.6.5 Final measurements
When the test is called for in the relevant specification as part of a sequence (subgroup) of
tests, measurements are required only at the end of the sequence. For certain tests, such as
solderability or lead fatigue, electrically or optically defective devices may be used.
1.7 Electrical operating conditions
Electrical operating conditions shall be defined in the relevant specifications.
2 Mechanical test methods
Choice of the appropriate tests depends on the type of devices. The relevant specification shall
state which tests are applicable.
2.1 Robustness of terminations
2.1.1 Wire terminations, pins or connectors with pins
Test U, specified in IEC 60068-2-21, is applicable.
2.1.1.1 Tensile
This test shall be in accordance with test Ua1, with the following specific requirements.
After test, examine under 3× to 10× magnification.
The device shall be rejected if there is breakage, loosening or relative motion between the lead
or termination and the device body.

2.1.1.2 Bending
This test shall be in accordance with test Ub.
2.1.1.3 Torsion
See IEC 60749, chapter II, subclause 1.3.
Applied only for cells with pin.
2.1.1.4 Torque
See IEC 60749, chapter II, subclause 1.4.2.
Applied only for cells with pin.

– 16 – 61747-5 © CEI:1998
2.1.2 Sorties flexibles
A l’étude.
2.2 Soudure
L’essai T décrit dans la CEI 60068-2-20 est applicable.

Cet essai doit être conforme à l’essai Ta (méthodes 1, 2 et 3).

2.3 Vibrations (sinusoïdales)
L’essai Fc décrit dans la CEI 60068-2-6 est applicable, avec les prescriptions spécifiques suivantes.
2.3.1 Mouvement transversal
Le niveau maximal de vibration aux points de vérification et selon tout axe perpendiculaire à
l’axe spécifié ne doit pas dépasser 25 %.
2.3.2 Distorsion
Ne dépasse pas 25 %.
2.3.3 Tolérances sur l’amplitude des vibrations
Point de référence: ±15 %
Point de vérification: ±25 %
2.3.4 Sévérités
La spécification particulière doit déterminer la gamme de fréquences en choisissant la
fréquence inférieure parmi celles que donne le tableau 1 et la fréquence supérieure parmi
celles du tableau 2.
Tableau 1 – Gamme de fréquence inférieure
Fréquence inférieure f
Hz
Tableau 2 – Gamme de fréquence supérieure
Fréquence supérieure f
Hz
...