Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 12: Oscillatory waves immunity test. Basic EMC Publication

This basic standard establishes the immunity requirements and a common reference for evaluating in a laboratory the performance of electrical and electronic equipment intended for residential, commercial and industrial application, as well as of equipment intended for electrical stations, as applicable. The purpose of this standard is to define: - test voltage and current waveforms; - ranges of test levels; - test equipment; - test set-up; - test procedure.

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4: Techniques d'essai et de mesure - Section 12: Essai d'immunité aux ondes oscillatoires. Publication fondamentale en CEM

Cette norme fondamentale a pour objet d'établir les exigences d'immunité et de constituer une référence commune pour l'évaluation en laboratoire des performances d'équipements électriques et électroniques destinés aux applications résidentielles, commerciales et industrielles, ainsi que d'équipements destinés aux postes électriques, le cas échéant. Elle définit les paramètres suivants: - tension d'essai et formes d'ondes de courant; - gammes de niveaux d'essais; - matériel d'essai; - installation d'essai; - procédure d'essai.

General Information

Status
Replaced
Publication Date
29-May-1995
Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
Start Date
13-Sep-2006
Completion Date
13-Feb-2026

Relations

Effective Date
05-Sep-2023
Effective Date
05-Sep-2023
Effective Date
05-Sep-2023
Standard

IEC 61000-4-12:1995+AMD1:2000 CSV - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-12: Testing and measurement techniques - Oscillatory waves immunity test Released:4/26/2001 Isbn:2831856884

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IEC 61000-4-12:1995 is a standard published by the International Electrotechnical Commission (IEC). Its full title is "Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 12: Oscillatory waves immunity test. Basic EMC Publication". This standard covers: This basic standard establishes the immunity requirements and a common reference for evaluating in a laboratory the performance of electrical and electronic equipment intended for residential, commercial and industrial application, as well as of equipment intended for electrical stations, as applicable. The purpose of this standard is to define: - test voltage and current waveforms; - ranges of test levels; - test equipment; - test set-up; - test procedure.

This basic standard establishes the immunity requirements and a common reference for evaluating in a laboratory the performance of electrical and electronic equipment intended for residential, commercial and industrial application, as well as of equipment intended for electrical stations, as applicable. The purpose of this standard is to define: - test voltage and current waveforms; - ranges of test levels; - test equipment; - test set-up; - test procedure.

IEC 61000-4-12:1995 is classified under the following ICS (International Classification for Standards) categories: 33.100.20 - Immunity. The ICS classification helps identify the subject area and facilitates finding related standards.

IEC 61000-4-12:1995 has the following relationships with other standards: It is inter standard links to IEC 61000-4-18:2006, IEC 61000-4-12:1995/AMD1:2000, IEC 61000-4-12:2006. Understanding these relationships helps ensure you are using the most current and applicable version of the standard.

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Standards Content (Sample)


NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-12
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-12:
Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité aux ondes oscillatoires
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-12:
Testing and measurement techniques –
Oscillatory waves immunity test

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-12:1995+A1:2000

Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
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comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
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• IEC Just Published
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Fax: +41 22 919 03 00
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-12
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-12:
Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité aux ondes oscillatoires
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-12:
Testing and measurement techniques –
Oscillatory waves immunity test

 IEC 2001 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
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Commission Electrotechnique Internationale
W
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For price, see current catalogue

– 2 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 6

INTRODUCTION .8

Articles
1 Domaine d'application. 10

2 Références normatives . 12

3 Généralités .12
4 Définitions. 12
5 Niveaux d'essai. 14
6 Matériel d'essai. 16
6.1 Générateurs d'essai. 16
6.2 Vérification des caractéristiques des générateurs d'essai . 20
6.3 Réseau de couplage/découplage . 20
7 Installation d'essai . 22
7.1 Connexions de mise à la terre. 22
7.2 Matériel en essai . 24
7.3 Réseau de couplage/découplage . 26
7.4 Générateurs d'essai. 26
8 Procédure d'essai . 28
8.1 Conditions de référence du laboratoire . 28
8.2 Exécution de l'essai . 28
9 Evaluation des résultats d’essai . 36
10 Rapport d’essai. 36
Annexe A (informative) Informations sur les phénomènes, choix de l'essai. 62
Annexe B (informative) Choix des niveaux d'essai. 68
Annexe C (informative) Impédance des générateurs d'essai. 72
Annexe D (informative) Bibliographie . 76
Figure 1 – Forme d'onde de l'onde sinusoïdale amortie (tension en circuit ouvert
et courant de court-circuit) . 38

Figure 2 – Exemple de schéma du circuit du générateur d'essai pour onde
sinusoïdale amortie . 38
Figure 3 – Forme d'onde de l'onde oscillatoire amortie . 40
Figure 4 – Exemple de schéma du circuit du générateur d'essai pour onde oscillatoire
amortie. 40
Figure 5 – Exemple d'installation d'essai pour matériel de table utilisant le plan de référence. 42
Figure 6 – Exemple d'installation d'essai pour matériel posé sur le sol utilisant le plan
de référence. 42
Figure 7 – Essai en mode commun des accès d'alimentation continue ou
alternative monophasée . 44
Figure 8 – Essai en mode commun des accès d'alimentation alternative triphasée . 46

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD . 7

INTRODUCTION .9

Clause
1 Scope . 11

2 Normative references. 13

3 General. 13
4 Definitions. 13
5 Test levels . 15
6 Test equipment . 17
6.1 Test generators . 17
6.2 Verification of the characteristics of the test generators . 21
6.3 Coupling/decoupling network . 21
7 Test set-up .23
7.1 Earthing connections . 23
7.2 Equipment under test. 25
7.3 Coupling/decoupling network . 27
7.4 Test generators . 27
8 Test procedure. 29
8.1 Laboratory reference conditions. 29
8.2 Execution of the test . 29
9 Evaluation of test results. 37
10 Test report . 37
Annex A (informative) Information on the phenomena, selection of the test . 63
Annex B (informative) Selection of the test levels . 69
Annex C (informative) Impedance of the test generators . 73
Annex D (informative) Bibliography . 77
Figure 1 – Waveform of the ring wave (open-circuit voltage and short-circuit current). 39
Figure 2 – Example of schematic circuit of the test generator for ring wave. 39

Figure 3 – Waveform of the damped oscillatory wave . 41
Figure 4 – Example of schematic circuit of the test generator for damped
oscillatory wave. 41
Figure 5 – Example of test set-up for table-top equipment using the ground
reference plane . 43
Figure 6 – Example of test set-up for floor-standing equipment using the
ground reference plane . 43
Figure 7 – A.C./D.C. power supply port, single phase, line-to-ground test . 45
Figure 8 – A.C. power supply port, three phase, line-to-ground test. 47

– 4 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

Pages
Figure 9 – Essai en mode commun des accès pour circuit unique . 48

Figure 10 – Essai en mode commun des accès pour groupe de circuits avec retour commun. 50

Figure 11 – Essai en mode différentiel des accès d'alimentation continue

ou alternative monophasée . 52

Figure 12 – Essai en mode différentiel des accès d'alimentation alternative triphasée. 54

Figure 13 – Essai en mode différentiel des accès pour circuit unique . 56

Figure 14 – Essai en mode différentiel des accès pour groupe de circuits avec retour commun . 58

Figure 15 – Dispositions pour les essais en mode différentiel avec sortie du générateur
d'essai non flottante . 60
Figure 16 – Essai des accès communication pour signaux rapides (sortie générateur
à la terre) . 60
Tableau 1 – Niveaux d'essai à l'onde sinusoïdale amortie . 16
Tableau 2 – Niveaux d'essai à l'onde oscillatoire amortie . 16

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 5 –

Page
Figure 9 – Input/output port, single circuit, line-to-ground test . 49

Figure 10 – Input/output port, group of circuits with common return, line-to-ground test . 51

Figure 11 – A.C./D.C. power supply port, single phase, line-to-line test. 53

Figure 12 – A.C. power supply port, three phases, line-to-line test . 55

Figure 13 – Input/output port, single circuit, line-to-line test. 57

Figure 14 – Input/output port, group of circuits with common return, line-to-line test. 59

Figure 15 – Provisions for line-to-line tests with test generator output not floating. 61

Figure 16 – Test of a system with communication ports with fast operating signals
(generator output earthed). 61
Table 1 – Test levels for ring wave . 17
Table 2 – Test levels for damped oscillatory wave. 17

– 6 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-12: Techniques d'essai et de mesure –

Essai d'immunité aux ondes oscillatoires

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence
La Norme internationale CEI 61000-4-12 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes
haute fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la section 12 de la partie 4 de la norme CEI 61000. Elle a le statut de publi-
cation fondamentale en CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI.
La présente version consolidée de la CEI 61000-4-12 est issue de la première édition (1995)
[documents 77B/141/FDIS et 77B/151/RVD] et de son amendement 1 (2000) [documents

77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l’amendement 1.
Les annexes A, B, C et D sont données uniquement à titre d'information.
Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendement ne sera
pas modifié avant 2003. A cette date, la publication sera
reconduite;
supprimée;
remplacée par une édition révisée, ou
amendée.
61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 7 –

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-12: Testing and measurement techniques –

Oscillatory waves immunity test

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-12 has been prepared by subcommittee 77B: High
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms section 12 of part 4 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-12 is based on the first edition (1995) [documents
77B/141/FDIS and 77B/151/RVD] and its amendment 1 (2000) [documents 77B/291+293/FDIS
and 77B/298+300/RVD].
It bears the edition number 1.1.
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendment 1.
Annexes A, B, C and D are for information only.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendment will
remain unchanged until 2003. At this date, the publication will be
reconfirmed;
withdrawn;
replaced by a revised edition, or
amended.
– 8 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

INTRODUCTION
La présente norme fait partie de la série des normes 61000 de la CEI, selon la répartition
suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l'environnement
Classification de l'environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d'émission
Limites d'immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas des comités de produit)
Partie 4: Techniques d'essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d'essai
Partie 5: Guide d'installation et d'atténuation
Guide d'installation
Méthodes et dispositifs d'atténuation
Partie 9: Divers
Chaque partie est, à son tour, subdivisée en sections qui seront publiées soit sous forme de
normes internationales soit sous forme de rapports techniques.
Ces normes et rapports seront publiés dans un ordre chronologique et numérotés en
conséquence.
La présente section constitue une norme internationale qui traite des prescriptions en matière
d'immunité et des procédures d'essai qui s'appliquent aux «ondes oscillatoires».

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 9 –

INTRODUCTION
This standard is part of the IEC 61000 series, according to the following structure:

Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into sections which are to be published either as international
standards or as technical reports.
These standards and reports will be published in chronological order and numbered
accordingly.
This section is an international standard which gives immunity requirements and test
procedures related to "oscillatory waves".

– 10 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-12: Techniques d'essai et de mesure –

Essai d'immunité aux ondes oscillatoires

1 Domaine d'application
La présente section de la CEI 61000-4 traite des exigences en matière d'immunité et des
méthodes d'essai des matériels électriques et électroniques dans leurs conditions d'exploi-
tation, contre les ondes oscillatoires. Ces ondes oscillatoires sont représentées par:
a) des oscillations transitoires amorties non répétitives (ondes sinusoïdales amorties) se
manifestant sur les alimentations basse tension ainsi que sur les lignes de commande et
de signal raccordées aux réseaux publics ou privés;
b) des ondes oscillatoires répétitives amorties se produisant principalement dans des câbles
d'énergie, de commande et de signal implantés dans tous les types de postes haute
tension et moyenne tension (HT et MT).
NOTE  Compte tenu des fréquences considérées dans cette norme, elle est uniquement applicable aux
appareils isolés par l'air.
La présente norme fondamentale a pour objet d'établir les exigences d'immunité et de
constituer une référence commune pour l'évaluation en laboratoire des performances d'équipe-
ments électriques et électroniques destinés aux applications résidentielles, commerciales et
industrielles, ainsi que d'équipements destinés aux postes électriques, le cas échéant.
La présente norme a pour objet de définir les paramètres suivants:
– tension d'essai et formes d'ondes de courant;
– gammes de niveaux d'essais;
– matériel d'essai;
– installation d'essai;
– procédure d'essai.
Cette norme ne vise pas à spécifier les essais devant s'appliquer à des appareils ou systèmes
particuliers. Le but principal est de donner une référence de base d'ordre général à tous les
comités de produits CEI concernés. Les comités des produits (ou les utilisateurs et fabricants
de matériel) restent responsables du choix approprié des essais et du niveau de sévérité à

appliquer à leur matériel.
Afin de ne pas entraver la tâche de coordination et de normalisation, il est fortement
recommandé aux comités de produits ou aux utilisateurs et fabricants d'envisager d'adopter
les essais d'immunité appropriés et spécifiés dans cette norme (lors de futurs travaux ou
révisions d'anciennes normes).

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 11 –

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-12: Testing and measurement techniques –

Oscillatory waves immunity test

1 Scope
This section of IEC 61000-4 relates to the immunity requirements and test methods for
electrical and electronic equipment, under operational conditions, to oscillatory waves
represented by:
a) non-repetitive damped oscillatory transients (ring wave) occurring in low-voltage power,
control and signal lines supplied by public and non-public networks;
b) repetitive damped oscillatory waves occurring mainly in power, control and signal cables
installed in high voltage and medium voltage (HV/MV) stations.
NOTE  According to the frequencies considered in this standard, it is only relevant for an insulated
switchgear.
The object of this basic standard is to establish the immunity requirements and a common
reference for evaluating in a laboratory the performance of electrical and electronic equipment
intended for residential, commercial and industrial application, as well as of equipment
intended for electrical stations, as applicable.
The purpose of this standard is to define:
– test voltage and current waveforms;
– ranges of test levels;
– test equipment;
– test set-up;
– test procedure.
This standard does not intend to specify the tests to be applied to particular apparatus or
systems. Its main aim is to give a general basic reference to all concerned product
committees of the IEC. The product committees (or users and manufacturers of equipment)
remain responsible for the appropriate choice of the tests and the severity level to be applied
to their equipment.
In order to impede the task of coordination and standardization, the product committees or
users and manufacturers are strongly recommended to consider (in their future work or
revision of old standards) the adoption of the relevant immunity tests specified in this
standard.
– 12 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence

qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente section de la CEI 61000-4.

Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif

est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente section de la

CEI 61000-4 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes

des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
registre des Normes Internationales en vigueur.

CEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:

Compatibilité électromagnétique
CEI 60068-1:1988, Essais d'environnement – Première partie: Généralités et guide
CEI 61010-1:1990, Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de
régulation et de laboratoire – Partie 1: Prescriptions générales
3 Généralités
Les ondes oscillatoires auxquelles est soumis le matériel peuvent influencer le bon
fonctionnement de celui-ci et des ensembles qui y sont reliés.
Les principaux paramètres des ondes oscillatoires considérés ici concernent leur fréquence
de répétition. Celle-ci peut être faible (phénomène isolé) ou élevée (salves). Les transitoires
oscillatoires isolés sont appelés «ondes sinusoïdales amorties» et les salves de transitoires
oscillatoires amorties «ondes oscillatoires amorties».
L'onde sinusoïdale amortie peut se manifester aux bornes de l'équipement (accès de l'équipe-
ment) suite à une manoeuvre des circuits d'alimentation ou de commande, ou suite à un coup
de foudre. Les caractéristiques les plus significatives des phénomènes produits par cet essai
sont leur caractère isolé et leur forme d'onde oscillatoire décroissante.
L'onde oscillatoire amortie peut se manifester aux bornes d'un équipement suite à une
manoeuvre accompagnée de réamorçages d'arc, phénomène courant dans les centrales
électriques, les postes à haute et moyenne tension (HT/MT), ainsi que les grandes instal-
lations industrielles.
Les paramètres les plus significatifs des phénomènes produits par cet essai sont leur temps
de montée relativement bref, leur forme d'onde oscillatoire décroissante amortie, leur
fréquence de répétition élevée et la durée des salves.
Les formes d'onde produites par ces deux types d'essais sont définies en 6.1.1 et 6.1.2.

L'annexe A fournit des informations sur les phénomènes primaires et le choix de l'essai.
C'est aux Comités de produit qu'il incombe d'établir quel est le phénomène pertinent parmi
ceux envisagés dans la présente norme, et de décider si l'essai considéré est applicable.
4 Définitions
Pour les besoins de la présente section, les définitions et termes suivants s'appliquent. Ils
concernent uniquement le domaine des oscillations transitoires et ne sont pas tous
CEI 60050(161) [VEI]
répertoriés dans la .
4.1
EST
matériel en essai
61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 13 –

2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,

constitute provisions of this section of IEC 61000-4. At the time of publication, the editions

indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to

agreements based on this section of IEC 61000-4 are encouraged to investigate the

possibility of applying the most recent editions of the normative documents indicated below.

Members of IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.

IEC 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161:

Electromagnetic compatibility
IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance
IEC 61010-1:1990,
Safety requirements for electrical equipment for measurement, control,
and laboratory use – Part 1: General requirements
3 General
The oscillatory waves to which equipment is subjected may influence the reliable operation of
equipment and systems.
The main parameters of the oscillatory waves are considered here, mainly the repetition rates:
low repetition rate (single shot), or high repetition rate (bursts). The single-shot oscillatory
transients are known by the term "ring wave" and the bursts of damped oscillatory transients
by the term "damped oscillatory wave".
The ring wave appears at the terminals of equipment (equipment ports) as a consequence of
switching in power and control lines, as well as a consequence of lightning. The single-event
type and the decaying oscillatory waveform are the most significant parameters of this test.
The damped oscillatory wave appears at the terminals of equipment as a consequence of
switching with restriking of the arc, typical of electrical plants, HV/MV stations, as well as
of heavy industrial installations.
The relative fast rise time, the decaying oscillatory waveform, the high repetition rate and the
duration of the burst are the most significant parameters of this test.
The test waveforms are defined in 6.1.1 and 6.1.2. Information on the primary phenomena

and selection of the test is given in annex A.
It is the responsibility of the product committees to establish which phenomenon, among the
ones considered in this standard, is relevant and to decide the applicability of the test.
4 Definitions
For the purpose of this section, the following definitions and terms apply. They are applicable to
IEC 60050(161) [IEV]
the restricted field of oscillatory transients; not all of them are included in .
4.1
EUT
equipment under test
– 14 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

4.2
accès
interface de l'EST avec l'environnement électromagnétique extérieur

4.3
couplage
interaction entre des circuits se traduisant par un transfert d'énergie de l'un à l'autre

4.4
réseau de couplage
circuit électrique destiné à transférer de l'énergie d'un circuit à un autre
4.5
réseau de découplage
circuit électrique destiné à empêcher la tension d'essai, appliquée à l'EST, de brouiller les
dispositifs, équipements ou systèmes non soumis à des essais
4.6
immunité (à une perturbation)
aptitude d'un dispositif, d'un appareil ou d'un système à fonctionner sans dégradation en
présence d'une perturbation électromagnétique
[VEI 161-01-20]
4.7
transitoire (adjectif et nom)
se dit d'un phénomène qui varie entre deux régimes établis consécutifs dans un intervalle de
temps relativement court à l'échelle des temps considérée
[VEI 161-02-01]
4.8
temps de montée
temps entre les instants auxquels la valeur instantanée d'une impulsion atteint pour la
première fois 10 %, puis 90 % de sa hauteur
[VEI 161-02-05, modifié]
4.9
salve
suite d'un nombre fini d'impulsions distinctes ou oscillation de durée limitée
[VEI 161-02-07]
5 Niveaux d'essai
Les tableaux 1 et 2 indiquent la gamme préférentielle des niveaux d'essais pour les ondes
sinusoïdale et oscillatoire amorties applicables aux accès d'alimentation, de signal et de
commande de l'équipement considéré.
Les niveaux applicables aux accès d'alimentation, de signal et de commande peuvent être
différents. La différence entre, d'une part, les accès de signal et de commande et, d'autre
part, les accès de l'alimentation électrique ne doit pas être supérieure à un niveau.

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 15 –

4.2
port
particular interface of the EUT with the external electromagnetic environment

4.3
coupling
interaction between circuits, transferring energy from one circuit to another

4.4
coupling network
electrical circuit for the purpose of transferring energy from one circuit to another
4.5
decoupling network
electrical circuit for the purpose of preventing test voltage applied to the EUT from affecting
other devices, equipment, or systems which are not under test
4.6
immunity (to a disturbance)
the ability of a device, equipment, or system to perform without degradation in the presence of
an electromagnetic disturbance
[IEV 161-01-20]
4.7
transient (adjective and noun)
pertaining to or designating a phenomenon or a quantity which varies between two
consecutive steady states during a time interval short compared with the time-scale of interest
[IEV 161-02-01]
4.8
rise time
the interval of time between the instants at which the instantaneous value of a pulse first
reaches 10 % value and then the 90 % value
[IEV 161-02-05, modified]
4.9
burst
a sequence of a limited number of distinct pulses or an oscillation of limited duration
[IEV 161-02-07]
5 Test levels
The preferential range of test levels for the ring wave and the damped oscillatory wave tests,
applicable to power, signal and control ports of the equipment, is given in table 1 and table 2
respectively.
Different levels may apply to power, signal and control ports. The level(s) used for signal and
control ports shall not differ by more than one level from that used for power supply ports.

– 16 – 61000-4-12 © CEI:1995+A1:2000

Tableau 1 – Niveaux d'essai à l'onde sinusoïdale amortie

Niveau Mode commun Mode différentiel

kV kV
1 0,5 0,25
2 1 0,5
3 2 1
4 4 2
1)
x x x
1)
x correspond à un niveau non défini. Ce niveau peut être indiqué dans
les spécifications de produit.
Tableau 2 – Niveaux d'essai à l'onde oscillatoire amortie
Niveau Mode commun Mode différentiel
kV kV
1 0,5 0,25
2 1 0,5
2)
3 2 1
4 – –
1)
x x x
1)
x correspond à un niveau non défini. Ce niveau peut être indiqué
dans les spécifications de produit.
2)
Cette valeur est portée à 2,5 kV pour les équipements implantés
dans des postes.
Il faut se reporter aux spécifications de produit pour la définition des conditions d'application
de ces deux essais (essai à l'onde sinusoïdale amortie et essai à l'onde oscillatoire amortie).
Le paragraphe 8.2 présente des spécifications concernant chacun de ces essais.
L'annexe B fournit des informations quant à la sélection des niveaux d'essais.
6 Matériel d'essai
6.1 Générateurs d'essai
Les caractéristiques suivantes concernent aussi bien le générateur d'ondes sinusoïdales
amorties que celui d'ondes oscillatoires amorties. Les paramètres distinguant ces deux
équipements sont indiqués, respectivement, en 6.1.1 et 6.1.2.

Les générateurs d'essai doivent être à même de fonctionner en conditions de court-circuit.
La sortie du générateur doit être flottante et le déséquilibre des capacités de sortie à la terre
inférieur à 10 %. Cette condition est recommandée pour l'essai des accès de commande et de
signal de l'EST en mode différentiel. Cependant, elle n'est pas nécessaire pour les accès
d'alimentation et les essais d'accès de commande et de signal en mode commun.
Le point b) de 8.2 présente les dispositions à adopter dès lors que la sortie du générateur
d'essai n'est pas flottante.
Les générateurs doivent être équipés de façon à empêcher l'émission de perturbations impor-
tantes susceptibles d'être injectées dans le réseau d'alimentation électrique ou d'influencer
les résultats d'essais.
L'annexe C fournit des indications quant à l'impédance des générateurs d'essai.

61000-4-12 © IEC:1995+A1:2000 – 17 –

Table 1 – Test levels for ring wave

Level Common mode Differential mode

kV
kV
1 0,5 0,25
2 1 0,5
3 2 1
4 4 2
1)
x x x
1)
x is an open level. This level can be given in the product specification.

Table 2 – Test levels for damped oscillatory wave
Level Common mode Differential mode
kV kV
1 0,5 0,25
2 1 0,5
2)
3 2 1
4 – –
1)
x x x
1)
x is an open level. This level can be given in the product specification.
2)
The value is increased to 2,5 kV for substation equipment.
The applicability of the two tests, respectively the ring wave and the damped oscillatory wave,
shall refer to the product specification.
Specifications related to each test are given in 8.2.
Information on the selection of the test levels is given in annex B.
6 Test equipment
6.1 Test generators
The following features are common to the generators of ring waves and the generators of
damped oscillatory waves; additional, unique features are given in 6.1.1 and 6.1.2.

The generators shall have the capability to operate in short-circuit conditions.
The generator output shall be floating and the stray capacity unbalance of the output
terminals to earth shall be less than 10 %. This condition is recommended to test EUT control
and signal ports in differential mode; it is not necessary for power ports and common mode
tests of control and signal ports.
The provisions to be taken whenever the output of the test generator is not floating are given
in item b) of 8.2.
The generators shall have provisions to prevent the emission of heavy disturbances that may
be injected in the power supply network, or may influence the test results.
Information on the impedance of the test generators is given in annex C.

– 18 – 61000-4-1
...

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