IEC 61000-4-5:1995
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 5: Surge immunity test
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 5: Surge immunity test
Relates to the immunity requirements, test methods, and range of recommended test levels for equipment to unidirectional surges caused by overvoltages from switching and lightning transients. Several test levels are defined which relate to different environment and installation conditions. These requirements are developed for and are applicable to electrical and electronic equipment. Establishes a common reference for evaluating the performance of equipment when subjected to high-energy disturbances on the power and inter-connection lines.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4: Techniques d'essai et de mesure - Section 5: Essai d'immunité aux ondes de choc
Se rapporte aux prescriptions d'immunité pour les matériels, aux méthodes d'essai et à la gamme des niveaux d'essai recommandés, vis-à-vis des ondes de choc unidirectionnelles provoquées par des surtensions dues aux transitoires de foudre et de manoeuvre. Définit plusieurs niveaux d'essai se rapportant à différentes conditions d'environnement et d'installation. Ces prescriptions sont développées pour les matériels électrique et électronique et leurs sont applicables. Etablit une référence commune d'évaluation des performances des matériels lorsque leurs lignes d'alimentation et d'interconnexion sont soumises à des perturbations de grande énergie.
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD
61000-4-5
Edition 1.1
2001-04
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-5:
Testing and measurement techniques –
Surge immunity test
This English-language version is derived from the original
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language pages.
Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the
60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base
publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this
publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications
(see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on
the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical
committee which has prepared this publication, as well as the list of publications
issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to
search by a variety of criteria including text searches, technical committees and
date of publication. On-line information is also available on recently issued
publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/ justpub) is
also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below)
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INTERNATIONAL IEC
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61000-4-5
Edition1.1
2001-04
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-5:
Testing and measurement techniques –
Surge immunity test
IEC 2001 Copyright - all rights reserved
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including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
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PRICE CODE
W
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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61000-4-5 IEC:1995+A1:2000 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 7
INTRODUCTION . 11
Clause
1 Scope and object . 13
2 Normative references. 13
3 General. 15
3.1 Switching transients. 15
3.2 Lightning transients . 15
3.3 Simulation of the transients. 15
4 Definitions. 17
5 Test levels . 21
6 Test instrumentation . 21
6.1 Combination wave (hybrid) generator (1,2/50 µs - 8/20 µs) . 21
6.2 Test generator 10/700 µs according to CCITT. 23
6.3 Coupling/decoupling networks . 25
7 Test set-up . 31
7.1 Test equipment . 31
7.2 Test set-up for tests applied to EUT power supply . 31
7.3 Test set-up for tests applied to unshielded unsymmetrically operated
interconnection lines . 31
7.4 Test set-up for tests applied to unshielded symmetrically operated
interconnection/telecommunication lines (figure 12) . 33
7.5 Test set-up for tests applied to shielded lines . 33
7.6 Test set-up to apply potential differences. 33
7.7 Other test set-ups . 35
7.8 Test conditions . 35
8 Test procedure.35
8.1 Laboratory reference conditions. 35
8.2 Application of the surge in the laboratory . 35
9 Evaluation of test results. 39
10 Test report . 39
Annex A (normative) Selection of generators and test levels . 63
Annex B (informative) Explanatory notes. 67
Annex C (informative) Bibliography . 77
61000-4-5 IEC:1995+A1:2000 – 5 –
Page
Figure 1 – Simplified circuit diagram of the combination wave generator . 41
Figure 2 – Waveform of open-circuit voltage (1,2/50 µs). 43
Figure 3 – Waveform of short-circuit current (8/20 µs) . 43
Figure 4 – Simplified circuit diagram of the 10/700 µs impulse generator. 45
Figure 5 – Waveform of open-circuit voltage (10/700 µs) . 47
Figure 6 – Example of test set-up for capacitive coupling on a.c./d.c. lines;
line-to-line coupling (according to 7.2). 49
Figure 7 – Example of test set-up for capacitive coupling on a.c./d.c. lines;
line-to-earth coupling (according to 7.2) . 49
Figure 8 – Example of test set-up for capacitive coupling on a.c. lines (3 phases);
line L3 to line L1 coupling (according to 7.2) . 51
Figure 9 – Example of test set-up for capacitive coupling on a.c. lines (3 phases);
line L3 to earth coupling (according to 7.2); generator output earthed . 53
Figure 10 – Example of test set-up for unshielded interconnection lines;
line-to-line/line-to-earth coupling (according to 7.3), coupling via capacitors. 55
Figure 11 – Example of test set-up for unshielded unsymmetrically operated lines;
line-to-line/line-to-earth coupling (according to 7.3), coupling via arrestors. 57
Figure 12 – Example of test set-up for unshielded symmetrically operated lines
(telecommunication lines); line-to-line/line-to-earth coupling (according to 7.4),
coupling via arrestors . 59
Figure 13 – Example of test set-up for tests applied to shielded lines (according to 7.5)
and to apply potential differences (according to 7.6), conductive coupling . 61
Figure 14 – Example of test set-up for tests applied to unshielded lines
and shielded lines earthed only at one end (according to 7.5)
and to apply potential differences (according to 7.6), conductive coupling . 61
Figure B.1 – Example for surge protection by shielding in buildings
with common earth reference system . 73
Figure B.2 – Example for secondary surge protection in buildings
with separate common earth reference systems . 73
Figure B.3 – Example for primary and secondary surge protection
of indoor-outdoor equipment. 75
Table 1 – Test levels . 21
Table 2 – Definitions of the waveform parameters 1,2/50 µs. 41
Table 3 – Definitions of the waveform parameters 10/700 µs. 45
Table A.1 – Selection of the test levels (depending on the installation conditions) . 65
61000-4-5 IEC:1995+A1:2000 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-5: Testing and measurement techniques –
Surge immunity test
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-5 has been prepared by subcommittee 65A: System
aspects, of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control.
It forms section 5 of part 4 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-5 is based on the first edition (1995), [documents
65A(CO)41+77B(CO)25 and 65A/168/RVD] and its amendment 1 (2000) [documents
77B/291+293/FDIS and 77B/298+300/RVD].
It bears the edition number 1.1.
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
the corrigendum and amendment 1.
Annex A forms an integral part of this standard.
Annexes B and C are for information only.
61000-4-5 IEC:1995+A1:2000 – 9 –
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendment 1 will
remain unchanged until 2003. At this date, the publication will be
reconfirmed;
withdrawn;
replaced by a revised edition, or
amended.
61000-4-5 IEC:1995+A1:2000 – 11 –
INTRODUCTION
This standard is part of the IEC 61000 series, according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)
Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
...
NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-5
Edition 1.1
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l’amendement 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-5:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux ondes de choc
Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 61000-4-5:1995+A1:2000(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de
60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.
Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les
amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant
l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2
Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
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Tél: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-5
Edition 1.1
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l’amendement 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-5:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux ondes de choc
IEC 2001 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch Web: www.iec.ch
CODE PRIX
W
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
– 2 – 61000-4-5 CEI:1995+A1:2000
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 6
INTRODUCTION . 10
Articles
1 Domaine d'application et objet . 12
2 Références normatives . 12
3 Généralités . 14
3.1 Transitoires de manœuvre . 14
3.2 Transitoires de foudre. 14
3.3 Simulation des transitoires. 14
4 Définitions. 16
5 Niveaux d'essai.20
6 Instrumentation d'essai . 20
6.1 Générateur (hybride) d'ondes combinées (1,2/50 µs – 8/20 µs). 20
6.2 Générateur d'essai 10/700 µs suivant le CCITT . 22
6.3 Réseaux de couplage/découplage. 24
7 Montage d'essai. 30
7.1 Matériel d'essai. 30
7.2 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur l'alimentation de l'EST. 30
7.3 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes d'interconnexion
non symétriques et non blindées. 30
7.4 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes d'interconnexion
ou de télécommunications symétriques non blindées (figure 12) . 32
7.5 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes blindées . 32
7.6 Montage d'essai pour l'application de différences de potentiel . 32
7.7 Autres montages d'essai. 34
7.8 Conditions d'essai. 34
8 Procédure d'essai . 34
8.1 Conditions de référence en laboratoire . 34
8.2 Application de l'onde de choc en laboratoire . 34
9 Evaluation des résultats d’essai . 38
10 Rapport d’essai. 38
Annexe A (normative) Choix des générateurs et des niveaux d'essai . 62
Annexe B (informative) Notes explicatives. 66
Annexe C (informative) Bibliographie . 76
– 4 – 61000-4-5 CEI:1995+A1:2000
Pages
Figure 1 – Schéma de principe du circuit du générateur d'ondes combinées . 40
Figure 2 – Forme d'onde de tension en circuit ouvert (1,2/50 µs). 42
Figure 3 – Forme d'onde en courant de court-circuit (8/20 µs) . 42
Figure 4 – Schéma de principe du circuit du générateur d'impulsions 10/700 µs. 44
Figure 5 – Forme d'onde de tension en circuit ouvert (10/700 µs). 46
Figure 6 – Exemple de montage d'essai de ligne à couplage capacitif
sur lignes à c.a./c.c.; couplage entre fils (conformément à 7.2) . 48
Figure 7 – Exemple de montage d'essai de ligne à couplage capacitif
sur lignes à c.a./c.c.; couplage entre un fil et la terre (conformément à 7.2) . 48
Figure 8 – Exemple de montage d'essai à couplage capacitif sur lignes à c.a. (triphasé);
couplage entre la phase L3 et la phase L1 (conformément à 7.2) . 50
Figure 9 – Exemple de montage d'essai à couplage capacitif sur lignes à c.a. (triphasé);
couplage entre la phase L3 et la terre (conformément à 7.2),
sortie du générateur mise à terre. 52
Figure 10 – Exemple de montage d'essai pour lignes d'interconnexion non blindées;
couplage entre fils de ligne ou entre un fil et la terre (conformément à 7.3),
couplage par condensateurs. 54
Figure 11 – Exemple de montage d'essai pour lignes d'interconnexion non symétriques
et non blindées; couplage entre fils de ligne ou entre un fil et la terre
(conformément à 7.3), couplage par parafoudres . 56
Figure 12 – Exemple de montage d'essai pour lignes non blindées utilisées
de façon symétrique (lignes de télécommunications); couplage entre fils de ligne
ou entre un fil et la terre (conformément à 7.4), couplage par parafoudres . 58
Figure 13 – Exemple de montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes blindées
(conformément à 7.5) en vue de l'application de différences de potentiel
(conformément à 7.6), couplage par conduction . 60
Figure 14 – Exemple de montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes
non blindées et sur les lignes blindées mises à la terre à une seule extrémité
(conformément à 7.5) en vue de l'application de différences de potentiel
(conformément à 7.6), couplage par conduction . 60
Figure B.1 – Exemple de protection contre les ondes de choc par blindage
dans les bâtiments comportant un système commun de terre de référence. 72
Figure B.2 – Exemple de protection secondaire contre les ondes de choc
dans les bâtiments comportant des systèmes indépendants de terre de référence . 72
Figure B.3 – Exemple de protection primaire et secondaire contre les ondes de choc
pour des matériels installés à la fois à l'intérieur et à l'extérieur . 74
Tableau 1 – Niveaux d'essai. 20
Tableau 2 – Définitions des paramètres de la forme d'onde 1,2/50 µs . 40
Tableau 3 – Définitions des paramètres de la forme d'onde 10/700 µs . 44
Tableau A.1 – Choix des niveaux d'essai (en fonction des conditions d'installation) . 64
– 6 – 61000-4-5 CEI:1995+A1:2000
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-5: Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité aux ondes de choc
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence
La Norme internationale CEI 61000-4-5 a été établie par le sous-comité 65A: Aspects
systèmes, du comité d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus
industriels.
Elle constitue la section 5 de la partie 4 de la norme CEI 61000. Elle a le statut de publication
fondamentale en CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI.
La présente version consolidée de la CEI 61000-4-5 est issue de la première édition (1995),
[documents 65A(BC)41+77B(BC)25 et 65A/168/RVD] et de son amendement 1 (2000)
[documents 77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par le
corrigendum et l'amendement 1.
L'annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B et C sont données uniquement à titre d'information.
...
IEC Publication 1000-4-5
Publication 1000-4-5 de la CEI
(First edition - 1995)
(Première édition - 1995)
Compatibilité électromagnétique (CEM) Electromagnetic compatibility (EMC)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesures Part 4: Testing and measurement techniques
Section 5: Surge immunity test
Section 5: Essai d’immunité aux ondes de choc
C O R R I G E N D U M 1
Page 5
Page 4
CONTENTS
SO
...
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-5
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-5:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux ondes de choc
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-5:
Testing and measurement techniques –
Surge immunity test
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-5:1995+A1:2000
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-5
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-04
Edition 1:1995 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1995 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-5:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux ondes de choc
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-5:
Testing and measurement techniques –
Surge immunity test
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Commission Electrotechnique Internationale
W
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– 2 – 61000-4-5 CEI:1995+A1:2000
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 6
INTRODUCTION . 10
Articles
1 Domaine d'application et objet . 12
2 Références normatives . 12
3 Généralités . 14
3.1 Transitoires de manœuvre . 14
3.2 Transitoires de foudre. 14
3.3 Simulation des transitoires. 14
4 Définitions. 16
5 Niveaux d'essai.20
6 Instrumentation d'essai . 20
6.1 Générateur (hybride) d'ondes combinées (1,2/50 µs – 8/20 µs). 20
6.2 Générateur d'essai 10/700 µs suivant le CCITT . 22
6.3 Réseaux de couplage/découplage. 24
7 Montage d'essai. 30
7.1 Matériel d'essai. 30
7.2 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur l'alimentation de l'EST. 30
7.3 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes d'interconnexion
non symétriques et non blindées. 30
7.4 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes d'interconnexion
ou de télécommunications symétriques non blindées (figure 12) . 32
7.5 Montage d'essai pour les essais pratiqués sur les lignes blindées . 32
7.6 Montage d'essai pour l'application de différences de potentiel . 32
7.7 Autres montages d'essai. 34
7.8 Conditions d'essai. 34
8 Procédure d'essai . 34
8.1 Conditions de référence en laboratoire . 34
8.2 Application de l'onde de choc en laboratoire . 34
9 Evaluation des résultats d’essai . 38
10 Rapport d’essai. 38
Annexe A (normative) Choix des générateurs et des niveaux d'essai . 62
Annexe B (informative) Notes explicatives. 66
Annexe C (informative) Bibliographie . 76
61000-4-5 IEC:1995+A1:2000 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 7
INTRODUCTION . 11
Clause
1 Scope and object . 13
2 Normative references. 13
3 General. 15
3.1 Switching transients. 15
3.2 Lightning transients . 15
3.3 Simulation of the transients. 15
4 Definitions. 17
5 Test levels . 21
6 Test instrumentation . 21
6.1 Combination wave (hybrid) generator (1,2/50 µs - 8/20 µs) . 21
6.2 Test generator 10/700 µs according to CCITT. 23
6.3 Coupling/decoupling networks . 25
7 Test set-up . 31
7.1 Test equipment . 31
7.2 Test set-up for tests applied to EUT power supply . 31
7.3 Test set-up for tests applied to unshielded unsymmetrically operated
interconnection lines . 31
7.4 Test set-up for tests applied to unshielded symmetrically operated
interconnection/telecommunication lines (figure 12) . 33
7.5 Test set-up for tests applied to shielded lines . 33
7.6 Test set-up to apply potential differences. 33
7.7 Other test set-ups . 35
7.8 Test conditions . 35
8 Test procedure.35
8.1 Laboratory reference conditions. 35
8.2 Application of the surge in the laboratory . 35
9 Evaluation of test results. 39
10 Test report . 39
Annex A (normative) Selection of generators and test levels . 63
Annex B (informative) Explanatory notes. 67
Annex C (informative) Bibliography . 77
– 4 – 61000-4-5 CEI:1995+A1:2000
Pages
Figure 1 – Schéma de principe du circuit du générateur d'ondes combinées . 40
Figure 2 – Forme d'onde de tension en circuit ouvert (1,2/50 µs). 42
Figure 3 – Forme d'onde en courant de court-circuit (8/20 µs) . 42
Figure 4 – Schéma de principe du circuit du générateur d'impulsions 10/700 µs. 44
Figure 5 – Forme d'onde de tension en circuit ouvert (10/700 µs). 46
Figure 6 – Exemple de montage d'essai de ligne à couplage capacitif
sur lignes à c.a./c.c.; couplage entre fils (conformément à 7.2) . 48
Figure 7 – Exemple de montage d'essai de ligne à couplage capacitif
sur lignes à c.a./c.c.
...
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