Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters

IEC 60747-16-8:2022 specifies the terminology, essential ratings and characteristics, and measuring methods of microwave integrated circuit limiters.

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-8: Circuits intégrés hyperfréquences - Limiteurs

L’IEC 60747-16-8:2022 spécifie la terminologie, les valeurs assignées et caractéristiques essentielles, et les méthodes de mesure des limiteurs des circuits intégrés hyperfréquences.

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Published
Publication Date
28-Nov-2022
Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
30-Dec-2022
Completion Date
29-Nov-2022
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IEC 60747-16-8:2022 - Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters Released:11/29/2022
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IEC 60747-16-8 ®
Edition 1.0 2022-11
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Semiconductor devices –
Part 16-8: Microwave integrated circuits – Limiters

Dispositifs à semiconducteurs –
Partie 16-8: Circuits intégrés hyperfréquences – Limiteurs

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IEC 60747-16-8 ®
Edition 1.0 2022-11
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Semiconductor devices –
Part 16-8: Microwave integrated circuits – Limiters

Dispositifs à semiconducteurs –

Partie 16-8: Circuits intégrés hyperfréquences – Limiteurs

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 31.080.99 ISBN 978-2-8322-6117-0

– 2 – IEC 60747-16-8:2022  IEC 2022
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope . 7
2 Normative references . 7
3 Terms and definitions . 7
4 Essential ratings and characteristics . 9
4.1 General requirements . 9
4.1.1 Circuit identification and types . 9
4.1.2 General function description . 9
4.1.3 Manufacturing technology . 9
4.1.4 Package identification . 9
4.1.5 Main application . 9
4.2 Application description . 10
4.2.1 Conformance to system and/or interface information . 10
4.2.2 Overall block diagram . 10
4.2.3 Reference data . 10
4.2.4 Electrical compatibility . 10
4.2.5 Associated devices . 10
4.3 Specification of the function . 10
4.3.1 Detailed block diagram – Functional blocks . 10
4.3.2 Identification and function of terminals . 11
4.3.3 Function description . 11
4.4 Limiting values (absolute maximum rating system) . 12
4.4.1 Requirements . 12
4.4.2 Electrical limiting values . 12
4.4.3 Temperatures . 13
4.5 Operating conditions (within the specified operating temperature range) . 13
4.6 Electrical characteristics . 13
4.7 Mechanical and environmental ratings, characteristics and data . 14
4.8 Additional information . 14
5 Measuring methods . 15
5.1 General . 15
5.1.1 General precautions . 15
5.1.2 Characteristic impedance . 15
5.1.3 Handling precautions . 15
5.1.4 Types . 15
5.2 Insertion loss (L ) . 15
ins
5.2.1 Purpose . 15
5.2.2 Measuring methods . 15
5.3 Input return loss (L ) . 18
ret(in)
5.3.1 Purpose . 18
5.3.2 Measuring methods . 19
5.4 Output return loss (L ) . 21
ret(out)
5.4.1 Purpose . 21
5.4.2 Measuring methods . 21
5.5 Input power at 1dB compression (P ) and output power at 1dB
i(1dB)
compression (P ) . 24
o(1dB)
5.5.1 Purpose . 24
5.5.2 Circuit diagram . 24
5.5.3 Principle of measurement . 24
5.5.4 Circuit description and requirements . 24
5.5.5 Precautions to be observed . 24
5.5.6 Measurement procedure . 24
5.5.7 Specified conditions . 25
5.6 Intermodulation distortion (two-tone)(P /P ) . 25
n 1
5.6.1 Purpose . 25
5.6.2 Circuit diagram . 25
5.6.3 Principle of measurement . 26
5.6.4 Circuit description and requirements . 26
5.6.5 Precautions to be observed . 26
5.6.6 Measurement procedure . 27
5.6.7 Specified conditions . 27
5.7 Power at the intercept point (for intermodulation products) (P ) . 27
n(IP)
5.7.1 Purpose . 27
5.7.2 Circuit diagram . 27
5.7.3 Principle of measurement . 27
5.7.4 Circuit description and requirements . 27
5.7.5 Precautions to be observed . 27
5.7.6 Measurement procedure . 28
5.7.7 Specified conditions . 28
5.8 Leakage power for continuous wave (P ) . 28
leak(cw)
5.8.1 Purpose . 28
5.8.2 Circuit diagram . 28
5.8.3 Principle of measurement . 29
5.8.4 Circuit description and requirements . 29
5.8.5 Precautions to be observed . 29
5.8.6 Measurement procedure .
...

Questions, Comments and Discussion

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