IEC 61025:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE 61025
Deuxième édition
2006-12
Analyse par arbre de panne (AAP)

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Numéro de référence
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indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2

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afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
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travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
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NORME CEI
INTERNATIONALE 61025
Deuxième édition
2006-12
Analyse par arbre de panne (AAP)

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procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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International Electrotechnical Commission
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– 2 – 61025 © CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6

INTRODUCTION.10

1 Domaine d'application .12

2 Références normatives.12

3 Termes et définitions .12

4 Symboles .18

5 Généralités.20
5.1 Structure et description de l’arbre de panne .20
5.2 Objectifs.22
5.3 Applications.22
5.4 Combinaisons avec d'autres techniques d'analyse de fiabilité .24
6 Développement et évaluation .28
6.1 Considérations générales.28
6.2 Information du système exigée .34
6.3 Structure et description graphique de l’arbre de panne.36
7 Elaboration et évaluation de l’arbre de panne.38
7.1 Généralités.38
7.2 Portée de l’analyse.38
7.3 Approfondissement de la connaissance du système .38
7.4 Elaboration de l’arbre de panne.38
7.5 Construction de l’arbre de panne.40
7.6 Taux de défaillance dans l’analyse de l’arbre de panne.74
8 Repères et étiquettes dans un arbre de panne .74
9 Rapport .76

Annexe A (informative) Symboles .80
Annexe B (informative) Procédure de disjonction détaillée.94

Bibliographie.102

Figure 1 – Explication des définitions utilisées dans les analyses par arbre de panne.18
Figure 2 – Représentation de l’arbre de panne d’une structure en série.44
Figure 3 – Représentation de l’arbre de panne de redondance parallèle, active .46
Figure 4 – Un exemple d'arbre de panne montrant différents types de porte .50
Figure 5 – Porte rectangulaire et représentation des événements .52
Figure 6 – Un exemple d’arbre de panne contenant un événement de transfert et un
événement répété .54
Figure 7 – Exemple présentant des indications se rapportant à une cause commune
dans une représentation de porte rectangulaire .54
Figure 8 – Exemple de circuit à embranchement à analyser par arbre de panne .62
Figure 9 – Représentation de l’arbre de panne du circuit à embranchement.64
Figure 10 – AAP Système à embranchement – Esary Proschan, pas de disjonction.68

– 4 – 61025 © CEI:2006
Figure 11 – Probabilité de défaillance du système à embranchement calculée avec une

approximation de l’événement rare .70

Figure 12 – Probabilité d’apparition de l’événement de tête avec disjonction .72

Figure A.1 – Exemple d’une porte PAND .92

Tableau A.1 – Symboles fréquemment utilisés pour un arbre de panne.80

Tableau A.2 – Symboles communs pour les événements et la description des événements.86

Tableau A.3 – Portes statiques .88

Tableau A.4 – Portes dynamiques.90

– 6 – 61025 © CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
ANALYSE PAR ARBRE DE PANNE (AAP)

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation

composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a

pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les

domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61025 a été préparée par le comité d’études 56 de la CEI:
Sûreté de fonctionnement.
Le texte de la présente norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
56/1142/FDIS 56/1162/FDIS
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition publiée en 1990. Elle constitue
une révision technique.
– 8 – 61025 © CEI:2006
Les principaux changements par rapport à l’édition précédente sont les suivants:

– ajout d’explications détaillées sur les méthodologies de l’arbre de panne

– ajout d’aspects quantitatifs et d’aspects de fiabilité sur l’Analyse par Arbre de Panne
(AAP)
– extension de la relation avec d’autres techniques de sûreté de fonctionnement

– ajout d’exemples d’analyses et de méthodes expliqués dans cette norme

– mise à jour des symboles couramment utilisés

L’Article 7 concernant les analyses a été modifié afin de traiter l’analyse par arbre de panne

logique traditionnelle séparément de l'analyse quantitative utilisée depuis de nombreuses
années, pour l'amélioration de la fiabilité des produits pendant leur développement.
Certaines parties intégrées précédemment dans le corps de cette norme, ont été transférées
aux Annexes A et B.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
– 10 – 61025 © CEI:2006
INTRODUCTION
L’AAP sert à déterminer et à analyser les conditions et les facteurs qui produisent, peuvent

potentiellement produire ou contribuent à produire un événement indésirable défini. Pour

l’AAP, cet événement est généralement un
...

IEC 61025
Edition 2.0 2006-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Fault tree analysis (FTA)
Analyse par arbre de panne (AAP)

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et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
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publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.

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The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

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latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
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The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
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in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
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définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
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IEC 61025
Edition 2.0 2006-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Fault tree analysis (FTA)
Analyse par arbre de panne (AAP)

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
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INTERNATIONALE
XA
CODE PRIX
ICS 03.120.01; 03.120.99 ISBN 2-8318-8918-9

61025 © IEC:2006 –– 2 – 3 – 61025 © IEC:2006
CONTENTS
FOREWORD.4
INTRODUCTION.6

1 Scope.7
2 Normative references .7
3 Terms and definitions .7
4 Symbols .10
5 General .11
5.1 Fault tree description and structure .11
5.2 Objectives .12
5.3 Applications.12
5.4 Combinations with other reliability analysis techniques.13
6 Development and evaluation .15
6.1 General considerations.15
6.2 Required system information .18
6.3 Fault tree graphical description and structure .19
7 Fault tree development and evaluation .20
7.1 General .20
7.2 Scope of analysis .20
7.3 System familiarization .20
7.4 Fault tree development.20
7.5 Fault tree construction.21
7.6 Failure rates in fault tree analysis.38
8 Identification and labelling in a fault tree .38
9 Report .39

Annex A (informative) Symbols .41
Annex B (informative) Detailed procedure for disjointing .48

Bibliography.52

Figure 1 – Explanation of terms used in fault tree analyses.10
Figure 2 – Fault tree representation of a series structure .23
Figure 3 – Fault tree representation of parallel, active redundancy .24
Figure 4 – En example of fault tree showing different gate types.26
Figure 5 – Rectangular gate and events representation .27
Figure 6 – An example fault tree containing a repeated and a transfer event .28
Figure 7 – Example showing common cause considerations in rectangular gate
representation.28
Figure 8 – Bridge circuit example to be analysed by a fault tree.32
Figure 9 – Fault tree representation of the bridge circuit .33
Figure 10 – Bridge system FTA, Esary-Proschan, no disjointing.35

61025 © IEC:2006 61025 © IEC:2006 –– 3 – 5 –
Figure 11 – Bridge system probability of failure calculated with rare-event
approximation .36
Figure 12 – Probability of occurrence of the top event with disjointing.37
Figure A.1 – Example of a PAND gate .47

Table A.1 – Frequently used symbols for a fault tree.41
Table A.2 – Common symbols for events and event description .44
Table A.3 – Static gates.45
Table A.4 – Dynamic gates .46

61025 © IEC:2006 –– 4 – 7 – 61025 © IEC:2006
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
FAULT TREE ANALYSIS (FTA)
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61025 has been prepared by IEC technical committee 56:
Dependability.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
56/1142/FDIS 56/1162/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This second edition cancels and replaces the first edition, published in 1990, and constitutes
a technical revision.
61025 © IEC:2006 61025 © IEC:2006 –– 5 – 9 –
The main changes with respect to the previous edition are as follows:
– added detailed explanations of fault tree methodologies
– added quantitative and reliability aspects of Fault Tree Analysis (FTA)
– expanded relationship with other dependability techniques
– added examples of analyses and methods explained in this standard
– updated symbols c
...