IEC 61008-1:1996/AMD1:2002

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61008-1
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
2002-06
Amendement 1
Interrupteurs automatiques à courant différentiel
résiduel pour usages domestiques et analogues
sans dispositif de protection contre les
surintensités incorporé (ID) –
Partie 1:
Règles générales
Amendment 1
Residual current operated circuit-breakers without
integral overcurent protection for household and
similar uses (RCCBs) –
Part 1:
General rules
 IEC 2002 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch  Web: www.iec.ch
CODE PRIX
H
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61008-1 amend. 1  CEI:2002

AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le sous-comité 23E: Disjoncteurs et appareillage

similaire pour usage domestique, du comité d'études 23 de la CEI: Petit appareillage.

Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
23E/487/FDIS 23E/501/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2003.
A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
_____________
Page 2
SOMMAIRE
Ajouter le titre de l’annexe IF comme suit:
Annexe IF (informative) DPCC pour les essais de court-circuit
Ajouter le titre de la bibliographie comme suit:
Bibliographie
Page 40
5.3.12 Valeurs normalisées du temps de fonctionnement et du temps de non-réponse
Remplacer le tableau 1 existant par le nouveau tableau 1 suivant:

61008-1 Amend. 1  IEC:2002 – 3 –

FOREWORD
This amendment has been prepared by subcommittee 23E: Circuit-breakers and similar

equipment for household use, of IEC technical committee 23: Electrical accessories.

The text of this amendment is based on the following documents:

FDIS Report on voting
23E/487/FDIS 23E/501/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will
remain unchanged until 2003. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
_____________
Page 3
CONTENTS
Add the title of annex IF as follows:
Annex IF (informative) SCPDs for short-circuit tests
Add the title of the bibliography as follows:
Bibliography
Page 41
5.3.12 Standard values of break time and non-actuating time
Replace the existing table 1 by the following modified table 1:

– 4 – 61008-1 amend. 1  CEI:2002

Tableau 1 – Valeurs normalisées du temps de fonctionnement
et du temps de non-réponse
Valeurs normalisées du temps de fonctionnement (s) et du temps

de non-réponse (s) pour un courant résiduel (I ) égal à:
ΔΔΔΔ
I I
n ΔΔn
ΔΔ a
I 2 I 5 I 5 A, 10 A,
Type
ΔΔn ΔΔn ΔΔn
ΔΔ ΔΔ ΔΔ
A A 20 A, 50 A,
b
100 A, 200 A
500 A
Général N’importe N’importe 0,3 0,15 0,04 0,04 Temps de
quelle quelle fonctionnement
valeur valeur maximal
S >0,030 0,5 0,2 0,15 0,15 Temps de
≥25
fonctionnement
maximal
0,13 0,06 0,05 0,04 Temps de non-
réponse minimal
a
Pour les ID du type général avec I ≤ 0,030 A, 0,25 A peut être utilisé comme alternative à 5 I .
Δn Δn
b
Les essais à 5 A, 10 A, 20 A, 50 A, 100 A et 200 A sont exécutés seulement au cours de la vérification de
fonctionnement correct, mentionnée en 9.9.2.4.
Page 64
8.14 Tenue des ID aux déclenchements indésirables dus aux ondes de courant
produites par des ondes de surtension
Remplacer le paragraphe existant par le suivant:
8.14 Comportement des ID en cas d’ondes de courant
produites par des ondes de tension
Le ID doivent supporter de façon appropriée les ondes de courant à la terre dues à la charge
des capacités de l’installation et les ondes de courant dues à des amorçages dans
l’installation. Les ID du type S doivent en outre avoir une résistance appropriée contre les
déclenchements indésirables en cas d’ondes de courant à la terre dues à des amorçages
dans l’installation.
La conformité est vérifiée par les essais de 9.19.

Page 84
9.9.2 Essais à vide avec des courants différentiels alternatifs sinusoïdaux
à la température de référence de 20 °C ±± 2 °C
±±
Ajouter, à la page 86, le nouveau paragraphe suivant:
9.9.2.4 Vérification du fonctionnement correct en cas d’apparition soudaine de
courants résiduels pour des valeurs comprises entre 5 I et 500 A
ΔΔΔΔn
Le circuit d’essai est calibré successivement aux valeurs suivantes du courant résiduel:
5 A, 10 A, 20 A, 50 A, 100 A et 200 A

61008-1 Amend. 1  IEC:2002 – 5 –

Table 1 – Standard values of break time and non-actuating time

Standard values of break time (s) and non-actuating time (s)

at a residual current (I ) equal to:
ΔΔΔΔ
I I
n ΔΔΔΔn
a
5 A,10 A,
Type I 2 I 5 I
ΔΔΔΔn ΔΔΔΔn ΔΔΔΔn
A A 20 A, 50 A,
b
100 A, 200 A
500 A
General Any value Any value 0,3 0,15 0,04 0,04 Maximum
break times
S ≥25 >0,030 0,5 0,2 0,15 0,15 Maximum
break times
0,13 0,06 0,05 0,04 Minimum non-
actuating times
a
For RCCBs of the general type with I ≤ 0,030 A,0,25 A may be used as an alternative to 5 I .
Δn Δn
b
The tests at 5 A, 10 A, 20 A, 50 A, 100 A and 200 A are only made during the verification of the correct
operation as mentioned in 9.9.2.4
Page 65
8.14 Resistance of RCCBs to unwanted tripping due to current surges caused by
impulse voltages
Replace the existing subclause by the following:
8.14 Behaviour of RCCBs in the case of current surges caused by impulse voltages
RCCBs shall adequately withstand the current surges to earth due to the loading of the
capacitances of the installation and the current surges to earth due to flashover in the
installation. RCCBs of the S-type shall additionally show adequate resistance against
unwanted tripping in case of current surges to earth due to flashover in the installation.
Compliance is checked by the tests of 9.19.
Page 85
9.9.2 Off-load tests with residual sinusoidal alternating currents at the reference
temperature of 20 °C ±±±± 2 °C

Add, on page 87, the following new subclause:
9.9.2.4 Verification of the correct operation in case of sudden appearance of residual
currents of values between 5 I and 500 A
ΔΔΔΔn
The test circuit is calibrated successively to the following values of the residual current:
5 A, 10 A, 20 A, 50 A, 100 A and 200 A

– 6 – 61008-1 amend. 1  CEI:2002

Le courant résiduel est établi par fermeture soudaine de l’interrupteur d’essai S ,
l’interrupteur S et l’ID étant fermés.

L’essai est réalisé une fois pour chaque valeur du courant résiduel, le temps de fonction-
nement étant mesuré à chaque essai.

L’ID doit déclencher à chaque essai. Le temps de fonctionnement ne doit pas être supérieur
aux valeurs indiquées au tableau 1.

Page 92
9.11.2 Essais de court-circuit
9.11.2.1 Conditions générales pour l'essai
Supprimer le 14ème alinéa de 9.11.2.1a) (« Le DPCC, s’il y a lieu… »).
Remplacer le 15ème alinéa de 9.11.2.1 a) par le suivant:
Des essais doivent être effectués dans le but de vérifier les valeurs minimales de l’I²t et de
l’I indiquées dans le tableau 15 que doivent supporter les ID. Le DPCC, s'il y a lieu, doit être
p
adapté et réalisé soit par un fil d'argent, soit par un fusible (comme proposé à l'annexe IF) ou
par n'importe quel autre moyen. Le constructeur peut spécifier le type de DPCC à employer
pour l’essai.
Pour atteindre le but de cet essai, une vérification de la sélection convenable et de
l’adaptation du DPCC (l²t et l ) est effectuée avant l’essai, en remplaçant l'ID par une
p
connexion temporaire d’impédance négligeable.
Supprimer, page 94, le tableau 14 et la phrase le précédant.
Modifier le 17ème alinéa de 9.11.2.1 a) (première phrase en haut de la page 96) comme suit:
Les valeurs minimales de la contrainte thermique l²t et du courant de crête l basées sur un
p,
angle électrique de 45° sont données dans le tableau 15.
Ajouter la phrase suivante avant le tableau 15:

Sans un accord du constructeur, ces valeurs ne doivent pas être supérieures à 1,1 fois les
valeurs données dans le tableau 15.
Remplacer le tableau 15 existant par le nouveau tableau suivant:

61008-1 Amend. 1  IEC:2002 – 7 –

The test switch S and the RCCB being in the closed position, the residual current is suddenly
established by closing the test switch S .

The test is made once for each value of the residual current with measurement of the break time.

The RCCB shall trip during each test. The break time shall not exceed the times given in
table 1.
Page 93
9.11.2 Short-circuit tests
9.11.2.1 General conditions for test
th
Delete the 14 paragraph of 9.11.2.1a) (“The SCPD, if any…”).
th
Replace the 15 paragraph of 9.11.2.1 a) by:
For the purpose of verifying the minimum l²t and l values to be withstood by the RCCB as
p
given in table 15, tests have to be performed. The SCPD, if any, shall be adjusted and shall
be embodied either by a silver wire or by a fuse (as proposed in Annex IF) or by any other
means. The manufacturer may specify the type of SCPD to be used in the tests.
For the purpose of this test, verification of the correctly selected and adjusted SCPD
(l²t and l ) is made prior to testing, the RCCB being replaced by a temporary connection
p
having a negligible impedance.
Delete, on page 95, table 14 and the sentence preceding it.
th
Amend the 17 paragraph of 9.11.2.1 a) (first sentence on top of page 97) as follows:
The minimum values of let-through energy l²t and peak current l , based on an electrical angle
p
of 45°, are given in table 15.
Add the following sentence before table 15:
Without an agreement of the manufacturer, these values shall not be higher than 1,1 times
the values given in table 15.
Replace the existing table 15 by the following new table :

– 8 – 61008-1 amend. 1  CEI:2002

Tableau 15 – Valeurs minimales de l²t et l
p
I
n
A
I ≤≤ 16 ≤≤ 20 ≤≤ 25 ≤≤ 32 ≤≤ 40 ≤≤ 63 ≤≤ 80 ≤≤ 100 ≤≤ 125
≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤
nc
et I
ΔΔc
ΔΔ
A
I (kA) 0,45 0,47 0,5 0,57
p
0,4 0,45 0,53 0,68
I²t (kA²s)
0,65 0,75 0,9 1,18
I (kA)
p
1 000
0,50 0,9 1,5 2,7
I²t (kA²s)
1,02 1,1 1,25 1,5 1,9 2,1
I (kA)
p
1 500
1 1,5 2,4 4,1 9,75 22
I²t (kA²s)
1,1 1,2 1,4 1,85 2,35 3,3 3,5 3,8 3,95
I (kA)
p
3 000
1,2 1,8 2,7 4,5 8,7 22,5 26 42 72,5
I²t (kA²s)
1,15 1,3 1,5 2,05 2,7 3,9 4,3 4,8 5,6
I (kA)
p
4 500
1,45 2,1 3,1 5,0 9,7 28 31 45 82,0
I²t (kA²s)
1,3 1,4 1,7 2,3 3 4,05 4,7 5,3 5,8
I (kA)
p
6 000
1,6 2,4 3,7 6,0 11,5 25 31 48 65,0
I²t (kA²s)
1,45 1,8 2,2 2,6 3,4 4,3 5,1 6 6,4
I (kA)
p
10 000
I²t (kA²s) 1,9 2,7 4 6,5 12 24 31 48 60,0
Remplacer la note 1 par la suivante:
NOTE A la demande du constructeur, des valeurs supérieures de l²t et l peuvent être utilisées.
p
Supprimer les notes 2 et 3.
Remplacer le premier alinéa après la note 3 existante par le suivant:
Pour des valeurs intermédiaires des courants d’essai de court-circuit, le courant de court-
circuit immédiatement supérieur doit être appliqué.
Page 126
9.19 Vérification de la résistance aux déclenchements indésirables dus
à des ondes de courant produites par des ondes de surtension
Modifier le titre comme suit:
9.19 Vérification du comportement des ID en cas d’ondes de courant
produites par des ondes de surtension
9.19.2 Vérification de la résistances élevée aux déclenchements indésirables
(essai à l’onde de courant 8/20 µs, applicable aux ID type S seulement)
Remplacer le titre et le texte existants de ce paragraphe par ce qui suit:

61008-1 Amend. 1  IEC:2002 – 9 –

²
Table 15 – Minimum values of l t and l
p
I
n
A
I
nc
and I ≤≤ 16 ≤≤ 20 ≤≤ 25 ≤≤ 32 ≤≤ 40 ≤≤ 63 ≤≤ 80 ≤≤ 100 ≤≤ 125
ΔΔc ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤ ≤≤
ΔΔ
A
I (kA) 0,45 0,47 0,5 0,57
p
0,4 0,45 0,53 0,68
I²t (kA²s)
0,65 0,75 0,9 1,18
I (kA)
p
0,50 0,9 1,5 2,7
I²t (kA²s)
1,02 1,1 1,25 1,5 1,9 2,1
I (kA)
p
1 1,5 2,4 4,1 9,75 22
I²t (kA²s)
1,1 1,2 1,4 1,85 2,35 3,3 3,5 3,8 3,95
I (kA)
p
1,2 1,8 2,7 4,5 8,7 22,5 26 42 72,5
I²t (kA²s)
1,15 1,3 1,5 2,05 2,7 3,9 4,3 4,8 5,6
I (kA)
p
1,45 2,1 3,1 5,0 9,7 28 31 45 82,0
I²t (kA²s)
1,3 1,4 1,7 2,3 3 4,05 4,7 5,3 5,8
I (kA)
p
1,6 2,4 3,7 6,0 11,5 25 31 48 65,0
I²t (kA²s)
1,45 1,8 2,2 2,6 3,4 4,3 5,1 6 6,4
I (kA)
p
I²t (kA²s) 1,9 2,7 4 6,5 12 24 31 48 60,0
Replace note 1 by the following:
NOTE At the request of the manufacturer higher values of I²t and I may be used.
p
Delete notes 2 and 3.
Replace the first paragraph after the existing note 3 by:
For intermediate values of short-circuit test currents the next higher short-circuit current shall apply.
Page 127
9.19 Verification of resistance against unwanted tripping
due to current surges caused by impulse voltages
Replace the title by:
9.19 Verification of behaviour of RCCBs in case of
current surges caused by impulse voltages
9.19.2 Verification of higher resistance against unwanted tripping (8/20 µs surge
current test, applicable to S-type RCCBs only)
Replace the existing title and text of this subclause by the following:

– 10 – 61008-1 amend. 1  CEI:2002

9.19.2 Vérification du comportement aux ondes de courant
jusqu’à 3 000 A (essai à l’onde de courant 8/20 µs)

9.19.2.1 Conditions d’essai
L’ID est essayé en utilisant un générateur d’ondes de courant capable de délivrer une onde

de courant de 8/20 µs amortie (CEI 60060-2) comme indiqué à la figure 23. Un exemple de

circuit d’essai pour la connexion de l’ID est indiqué à la figure 24.

Un pôle de l’ID, choisi au hasard, doit être soumis à 10 applications de l’onde de courant. La

polarité de l’onde de courant doit être inversée toutes les deux applications. L’intervalle entre

deux applications consécutives doit être d’environ 30 s.
Les impulsions de courant doivent être mesurées à l‘aide des moyens appropriés et ajustées
en utilisant un échantillon supplémentaire d’ID du même type (mêmes I et I ) pour répondre
n Δn
aux prescriptions suivantes:
+10
− valeur pic: 3 000 A %
− temps de mo
...