SIST EN ISO 4287:2000

SLOVENSKI STANDARD
SIST EN ISO 4287:2000
01-december-2000
6SHFLILNDFLMDJHRPHWULMVNLKYHOLþLQL]GHOND7HNVWXUDSRYUãLQHSURILOQDPHWRGD
3RLPHQRYDQMDGHILQLFLMHLQSDUDPHWULWHNVWXUHSRYUãLQH
Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms,
definitions and surface texture parameters (ISO 4287:1997)
Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit:
Tastschnittverfahren - Benennungen, Definitionen und Kenngrößen der
Oberflächenbeschaffenheit (ISO 4287:1997)
Spécification géométrique des produits (GPS) - Etat de surface: Méthode du profil -
Termes, définitions et parametres d'état de surface (ISO 4287:1997)
Ta slovenski standard je istoveten z: EN ISO 4287:1998
ICS:
01.040.17 Meroslovje in merjenje. Metrology and measurement.
Fizikalni pojavi (Slovarji) Physical phenomena
(Vocabularies)
17.040.20 Lastnosti površin Properties of surfaces
SIST EN ISO 4287:2000 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

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SIST EN ISO 4287:2000
INTERNATIONAL
STANDARD 4287
First edition
Premkre bdition
NORME
1997-04-O 1
INTERNATIONALE
Geometrical Product Specifications
(GPS) - Surface texture: Profile method -
Terms, definitions and surface texture
parameters
Spkification gbombtrique des produits
- &at de surface: Mbthode
(GPS)
du profil- Termes, dbfinitions et
paramktres d’6tat de surface
Reference number
Num&-o de rkfbrence
IS0 4287:1997(E/F)

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IS0 4287:1997(E/F)
Contents Page
1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1 Scope
1
2 Normative references . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2
3 Terms and definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2
3.1 General terms . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
3.2 Geometrical parameter terms
4 Surface profile parameter definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
10
4.1 Amplitude parameters (peak and valley) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
13
4.2 Amplitude parameters (average of ordinates) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
15
4.3 Spacing parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
15
4.4 Hybrid parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
4.5 Curves and related parameters
Annexes
Text equivalents 19
A
20
Flowchart for surface assessment
B
21
C Comparison of basic terms and parameter symbols be-
tween IS0 4287-1 :I 984 and IS0 4287:1996
23
D Relationship to the GPS matrix model
25
E Bibliography
0 IS0 1997
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reprodu-
ced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photoco-
writing from the publisher. / Droits de
pying and microfilm, without permission in
reproduction reserves. Sauf prescription differente, aucune partie de cette publication ne
peut etre reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun procede, elec-
tronique ou mecanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans I’accord ecrit de
l’editeur.
International Organization for Standardization
Case postale 56 l CH-1211 Geneve 20 l Switzerland
Printed in Switzerland / lmprime en Suisse
ii

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@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)
Sommaire Page
1 Domaine d’application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
2 References normatives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
2
3 Termes et definitions .
2
3.1 Definitions generales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
...... 6
3.2 Definitions geometriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Definitions des parametres de pro
4 f il . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
10
4.1 Parametres d’amplitude (saillie et creux) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
13
4.2 Parametres d’amplitude (moyenne des ordonnees) . . . . . . . . . . . .
4.3 Parametres d’espacement . 15
4.4 Parametres hybrides . 15
4.5 Courbes et parametres associes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
Annexes
19
A Equivalents textuels
B Diagramme pour I’evaluation de surface 20
C Comparaison des symboles des termes de base et des 21
parametres entre I’ISO 4287-l :I 984 et I’ISO 4287:1996
D Relation avec la matrice GPS 23
E Bibliographie 25

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@ IS0
IS0 4287:1997(E/F)
Foreword
IS0 (the International Organization for Standardization) is a worldwide
federation of national standards bodies (IS0 member bodies). The work
of preparing International Standards is normally carried out through IS0
technical committees. Each member body interested in a subject for
which a technical committee has been established has the right to be
represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. IS0
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(I EC) on all matters of electrotechnical standardization.
Draft International Standards adopted by the technical committees are cir-
culated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.
International Standard IS0 4287 was prepared by Technical Committee
lSO/TC 57, Metrology and properties of surfaces, and has been based on
studies carried out by the Joint Harmonization Group of ISO/TC 3, Limits
and fits, ISO/K 10, Technical drawings, product definition and related
documentation, SC 5, Dimensioning and tolerancing, and ISOK 57,
Metrology and properties of surfaces.
This first edition of IS0 4287 cancels and replaces IS0 4287-1:1984. This
revision of IS0 4287-l :1984; is a major rewrite and reorganization that,
together with IS0 11562 and IS0 3274, additionally defines the waviness
profile, the primary profile and their parameters in a consistent manner.
Annex A forms an integral part of this International Standard. Annexes B,
C, D and E are for information only.

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@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une federation
mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comites membres de
I’ISO). L’elaboration des Normes internationales est en general confiee aux
comites techniques de I’ISO. Chaque comite membre inter-es& par une
etude a le droit de faire partie du comite technique tree 8 cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent egalement aux travaux. L’ISO colla-
bore etroitement avec la Commission electrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation electrotechnique.
Les projets de Normes internationales adopt& par les comites techniques
sont soumis aux comites membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert I’approbation de 75 % au moins des co-
mites membres votants.
La Norme internationale IS0 4287 a ete elaboree par le comite technique
lSO/TC 57, M&ro/ogie et propri&& des surfaces, sous-comite SC 1,
Instruments et pro&dures pour la mesure
Param& tres gbom& triques -
de /a rugositd et de I’ondulation des surfaces, et tient compte des etudes
me&es par le groupe d’harmonisation joint entre l’lSO/TC 3, Ajustements,
I’ I SO/TC IO, Dessins techniques, d@finitions de produits et documentation
y relative, sous-comite SC 5, Cotation et tokancement et l’lSO/K 57,
M6 trologie et proprid t6s des surfaces.
premiere edition de I’ISO 4287 annule et
Cette remplace
I’ISO 4287-l :I 984. Cette revision constitue une reorganisation et une ree-
criture importantes de I’ISO 4287-l :1984; avec I’ISO 11562 et I’ISO 3274,
elle ajoute, de facon coherente, les definitions du profil d’ondulation, du
profil primaire ainsi que de leurs parametres.
.
L’annexe A fart partie integrante de la presente .
Norme internat ionale Les
et E sont donnees uniquement
annexes B, a titre d informa tion.
c, D

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SIST EN ISO 4287:2000
@ IS0
IS0 4287:1997(E/F)
Introduction
GPS)
This International Standard is a Geometrical Product Specification (
(see
standard and is to be regarded as a General GPS standard
or I sur-
lSO/TR 14638). It influences chain link 2 of the chains of standards
face texture.
For more detailed information on the relationship of this International
Standard to other standards and the GPS matrix model, see annex E.
Historically, the roughness profile and its parameters have been the only
parts of surface texture characterization that have been well defined.
A default relationship between AC and af is under consideration.

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SIST EN ISO 4287:2000
@ IS0 IS0 4287:1997(E/f]
Introduction
%a presente Norme internationale qui traite de la specification geometrique
des produits (GPS), est consideree comme une norme GPS g&Wale (voir
I’ISO/rR 14638). Elle influence le maillon 2 des cha’ines de normes relati-
ves a Mat de surface.
Pour de plus amples informations sur la relation de la presente Norme in-
ternationale avec les autres normes et la matrice GPS, voir l’annexe D.
Par le passe, le profil de rugosite et ses parametres ont ete les seuls ele-
ments caracteristiques de Mat de surface a etre correctement definis.
Une relation par defaut entre AC et Af est en tours d’etude.

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SIST EN ISO 4287:2000
This page intentionally left blank

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SIST EN ISO 4287:2000
INTERNATIONAL STANDARD o ,so
IS0 4287:1997(E/F)
NORME INTERNATIONALE ’
SpQcification gbombtrique des
Geometrical Product
produits (GPS) - kat de
Specifications (GPS) - Surface
surface: Methode du profil-
texture: Profile method -
Termes, definitions et
Terms, definitions and surface
parametres d’btat de surface
texture parameters
II Domaine d’application
II Scope
La presente Norme internationale prescrit les termes,
This International Standard specifies terms, definitions
definitions et parametres pour la determination de
and parameters for the determination of surface tex-
Bat de surface (profils de rugosite, d’ondulation et
ture (roughness, waviness and primary profile) by
profil primaire) par les methodes de profil. I
profiling methods.
2 Normative references 2 Refkrences normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions
The following standards contain provisions which,
through reference in this text, constitute provisions of qui, par suite de la reference qui en est faite, consti-
tuent des dispositions valables pour la presente
this International Standard. At the time of publication,
the editions indicated were valid. All standards are Norme internationale. Au moment de la publication,
les editions indiquees etaient en vigueur. Toute norme
subject to revision, and parties to agreements based
on this International Standard are encouraged to in- est sujette a revision et les parties prenantes des ac-
cords fond& sur la presente Norme internationale
vestigate the possibility of applying the most recent
editions of the standards indicated below. Members sont invitees a rechercher la possibilite d’appliquer les
editions les plus recentes des normes indiquees ci-
of IEC and IS0 maintain registers of currently valid
apres. Les membres de la CEI et de I’ISO possedent
lnternational Standards.
le registre des Normes internationales en vigueur a un
I S 0 3274: 1996, Geometrical Product Specifications
moment donne.
(GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal
IS0 3274: 1996, Spbcification geometr-ique des pro-
characteristics of contact (stylus) instruments.
duits (GPS) -
&at de surface: Methode du profil-
IS0 4288: 1996, Geometrical Product Specifications
Carat t&is tiques nominales des instruments a con tat t
(GPS) - Surface texture: Profile method - Rules and
(palpeur).
procedures for the assessment of surface texture.
I SO 4288: 1996, Specification geome trique des pro-
IS0 11562: 1996, Geometrical Product Specifications
duits (G PS)
- &at de surface: Methode du profil-
(GPS) - Surface texture: Profile method - Metro-
Regles et procedures pour I’evaluation de I’etat de
logical characterization of phase correct filters.
surface.
IS0 11562: 1996, Specification geometrique des pro-
duits (GPS) -
&at de surface: Methode du profil-
Caracteristiques
metrologiques des filtres a phase
correcte.
1

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SIST EN ISO 4287:2000
IS0 4287:1997(E/F)
3 Termes et dbfinitions
3 Terms and definitions
3.1 Dhfinitions ghbrales
3.1 General terms
3.1.1
3.1.1
filtre de profil
profile filter
filtre qui &pare le profil en composantes de longueur
filter which separates profiles into longwave and
d’onde longue et composantes de longueur d’onde
shortwave components [ISO 115621
courte [ISO 115621
NOTE - There are three filters used in instruments for
NOTE - Trois filtres sont utilises dans les instruments de
measuring roughness, waviness and primary profiles (see
figure 1). They all have the same transmission character- mesure des profils de rugosite, d’ondulation et du profil
primaire (voir la figure 1). Ils ont tous les memes caracteris-
istics, defined in IS0 11562, but different cut-off wave-
lengths. tiques de transmission, definies dans I’ISO 11562, mais des
longueurs d’onde de coupure differentes.
3.1.1.1 3.1.1.1
filtre de profil As
As profile filter
filtre qui definit la separation entre les composantes
filter which defines the intersection between the
de rugosite et les composantes d’onde encore plus
roughness and the even shorter wave components
courtes presentes a la surface (voir la figure I)
present in a surface (see figure 1)
3.1.1.2
3.1.1.2
filtre de profil AC
Ac profile filter
filtre qui definit la separation entre les composantes
filter which defines the intersection between the
de rugosite et les composantes d’ondulation (voir la
roughness and waviness components (see figure 1)
figure 1)
3.1.1.3
3.1.1.3
filtre de profil ilf
Af profile filter
filtre qui definit la separation entre les composantes
filter which defines the intersection between the
d’ondulation et les composantes d’onde encore plus
waviness and the even longer wave components
longues presentes a la surface (voir la figure 1)
see figure 1)
present in a surface
8
c‘
0
.-
t
.! 100
E
i!
m
:
Waviness profile
Roughness profile
Profil d'ondulation
Profil de rugosite
50
Af
Wavelength
Longueur d'onde
Figure 1 - Transmission characteristic of roughness and waviness profiles
Caractbristiques de transmission des profils de rugosit6 et d’ondulation
Figure 1 -

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SIST EN ISO 4287:2000
IS0 4287:1997(E/F)
@ IS0
3.1.2
3.12
coordinate system systame de coordonnhes
systeme de coordonnees dans lequel les parametres
that coordinate system in which surface texture
parameters are defined d’etat de surface sont definis
NOTE - II est courant d’utiliser un systeme orthogonal
NOTE - It is usual to use a rectangular coordinate sys-
de coordonnees cartesiennes de sens direct, l’axe des X
tern in which the axes form a right-handed Cartesian set,
the X-axis being the direction of tracing colinear with the &ant dans la direction du palpage et confondu avec la ligne
moyenne, l’axe des Y etant theoriquement dans le plan de
mean line, the Y-axis also nominally lying on the real sur-
face, and the Z-axis being in an outward direction (from the la surface reelle, et l’axe des 2 &ant dirige vers l’exterieur
(de la mat&e vers le milieu environnant). Cette convention
material to the surrounding medium). This convention is
adopted throughout the rest of this International Standard. est celle adoptee tout au long de la presente Norme inter-
nationale.
3.1.3
3.1.3
surface rhelle
real surface
surface qui Iimite le corps et le separe du milieu envi-
surface limiting the body and separating it from the
surrounding medium ronnant
3.1.4 3.1.4
profil de surface
surface profile
profile that. results from the intersection of the real profil resultant de I’intersection de la surface reelle et
d’un plan specific
surface by a specified plane
Voir la figure 2.
See figure 2.
NOTE - In practice, it is usual to choose a plane with a NOTE - En pratique, il est courant de choisir un plan dont
une normale est theoriquement parallele a la surface reelle
normal that nominally lies parallel to the real surface and in
a suitable direction. et de direction appropriee.
- Surface profile .
Figure 2
Figure 2 - Profil de surface
3

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SIST EN ISO 4287:2000
@ IS0
IS0 4287:1997(E/F)
3.1.5 3.1.5
prof il primaire
primary profile
Voir I’ISO 3274.
See IS0 3274.
NOTE - Le profil primaire sert de base a I’evaluation des
NOTE - The primary profile is the basis for evaluation of
the primary profile parameters. parametres du profil primaire.
3.1.6
3.1.6
profil de rugositb
roughness profile
profil derive du profil primaire par suppression des
profile derived from the primary profile by suppressing
composantes de grande longueur d’onde, en appli-
the longwave component using the profile filter AC;
quant le filtre de profil AC; ce profil est intentionnelle-
this profile is intentionally modified
ment modif ie
See figure 1.
Voir la figure 1.
NOTES
NOTES
1 The transmission band for roughness profiles is defined
by the As and Ac profile filters (see IS0 115621996, 2.6 and 1 La bande de transmission des profils de rugosite est de-
3.2). finie par les filtres de profil As et Ac (voir I’ISO 11562:1996,
paragraphes 2.6 et 3.2).
2 The roughness profile is the basis for evaluation of the
roughness profile parameters. 2 Le profil de rugosite sert de base a I’evaluation des pa-
rametres du profil de rugosite.
3 The default relationship between k and As is given in
IS0 3274: 1996, 4.4. 3 La relation par defaut entre Ac et As est donnee dans
I’ISO 3274:1996, paragraphe 4.4.
3.1.7
3.1.7
prof il d’ondulation
waviness profile
profil derive du profil primaire par application succes-
profile derived by subsequent application of the profile
filter Af and the profile filter AC to the primary profile, sive des filtres de profil ilf et k, supprimant ainsi les
composantes de grande longueur d’onde 8 I’aide du
suppressing the longwave component using the pro-
file filter Af, and suppressing the shortwave com- filtre de profil Af, et les composantes de faible lon-
gueur d’onde a I’aide du filtre de profil Ac; ce profil est
ponent using the profile filter Ac; this profile is inten-
tionally modif ied intentionnellement modifie
NOTES NOTES
1 II convient dans un premier temps d’enlever la forme
1 The nominal form should first be removed from the total
profile by best-fit least-squares methods, before applying nominale du profil total par les methodes des moindres car-
r-es, avant d’appliquer le filtre de profil Af pour &parer le
the ilf profile filter for separating the waviness profile. For
profil d’ondulation. En cas de forme nominale circulaire, il
circular nominal form, it is recommended that the radius
should also be included in the least-squares optimization est recommande d’inclure le rayon dans I’optimisation des
moindres carres plutbt que de le fixer a sa valeur nominale.
and not held fixed to the nominal value. This procedure for
separating the waviness profile defines the ideal waviness Cette procedure de separation du profil d’ondulation definit
I’operateur d’ondulation ideal.
operator.
2 La bande de transmission des profils d’ondulation est
2 The transmission band for waviness profiles is defined
definie par
les filtres de profil Ac et Af (voir
by the AC and If profile filters (see IS0 11562:1996, 2.6 and
I’ISO 11562:1996, paragraphes 2.6 et 3.2).
3.2).
basis for evaluation of the 3 Le profil d’ond ulation sert d
3 The waviness profile is the e base a I’evaluation des pa-
ram&
waviness profile parameters. res du profil d’ondulation.
4

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SIST EN ISO 4287:2000
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)
3- 1.8 Lignes moyennes
3.1.8 Mean lines
3.1.8.1
3.1.8.1
mean line for the roughness profile ligne moyenne du profil de rugosit6
ligne qui correspond 8 la composante de
line corresponding to the longwave profile component profil de
suppresseld by the profile filter Ac grande longueur d’onde supprimee par le filtre de
profil ac
(See IS0 11562:1996, 3.2)
(Voir I’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)
3.1.8.2 3.1.8.2
ligne moyenne du profil d’ondulation
mean line for the waviness profile
line corresponding to the longwave profile component ligne qui correspond 8 la composante de profil de
grande longueur d’onde supprimbe par le
suppressed by the profile filteraf filtre de
profil af
(See IS0 11562:1996, 3.2)
(Voir I’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)
3.1.8.3 3.1.8.3
mean line for the primary profile ligne moyenne du profil primaire
line determined by fitting a least-squares line of nom- ligne determinee en calculant, a partir du prof il pri-
inal form through the primary profile maire,
une ligne des moindres cart-es de forme nomi-
nale
3.1.9 3.1.9
sampling length longueur de base
lp, I?-, lw lp, lr, lw
length in the direction of the X-axis used for identify- longueur, dans la direction de I’axe des X, utilisee pour
ing the irregularities characterizing the profile under identifier les irregularites caracterisant le profil a eva-
evaluation luer
NOTE - The sampling length for the roughness Zr and NOTE - Les longueurs de base des profils de rugosite Zr
waviness profiles IW is numerically equal to the character- et d’ondulation, ZW, sont egales, en valeur numerique, aux
istic wavelength of the profile filters Ac and If, respectively. longueurs d’onde caracteristiques des filtres de profil AC et
The sampling length for primary profile, lp, is equal to the Af respectivement. La longueur de base du profil primaire,
evaluation length.
Zp, est egale a la longueur d’evaluation.
3.1.10
3.1.10
evaluation length longueur d%valuation
In
In
length in the dire ction of the X-axis used for as )sessi longueur, dans la direction de I’axe des X, utilisee pour
w
etablir le profil 8 evaluer
the profile under evaluation
NOTES
NOTES
The evaluation length may contain one or more sampling 1 La longueur d’evaluation peut comprendre une ou plu-
sieurs longueurs de base.
lengths.
2 For default evaluation lengths see IS0 4288:1996, 4.4. 2 Pour les longueurs d’evaluation par defaut, voir
I’ISO 4288:1996, paragraphe 4.4. L’ISO 4288 ne donne pas
IS0 4288 does not give default evaluation length for
de longueur d’evaluation par defaut des parametres W.
W-parameters.
5

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SIST EN ISO 4287:2000
@ IS0
IS0 4287:1997(E/F)
3.2 Dhfinitions gbombtriques
3.2 Geometrical parameter terms
3.2.1
3.2.1
B-parameter parambtre P
parametre calcule sur le profil primaire
parameter calculated from the primary profile
3.2.2
3.2.2
paramatre R
R-parameter
parametre calcule sur le profil de rugosite
parameter calculated from the roughness profile
3.2.3
3.2.3
parambtre W
W-parameter
parameter calculated from the waviness profile parametre calcule sur le profil d’ondulation
NOTE - Les parametres definis 8 I’article 4 peuvent etre
NOTE - The parameters defined in clause 4 can be calcu-
lated from any profile. The first capital letter in the par- calcules sur I’un ou I’autre des profils. La premiere lettre
majuscule du symbole du parametre denote Be type de
ameter symbol designates the type of the profile evaluated.
profil evalue. Ainsi, Ra est calcule sur le profil de rugosite et
For example, Ra is calculated from the roughness profile
Pt sur le profil primaire.
and Pt is calculated from the primary profile.
3.2.4
3.2.4
profile peak saillie du profil
partie du profil evalue, dirigee vers I’exterieur (de la
an outwardly directed (from material to surrounding
mat&e vers le milieu environnant) et reliant deux in-
medium) portion of the assessed profile connecting
two adjacents points of the intersection of the profile tersections consecutives du profil avec l’axe des X
with the X-axis
3.2.5
3.2.5
creux du profil
profile valley
partie du profil evalue, dirigee vers I’interieur (du mi-
an inwardly directed (from surrounding medium to
material) portion of the assessed profile connecting lieu environnant vers la mat&e) et reliant deux inter-
two adjacent points of the intersection of the as- sections consecutives du profil avec I’axe des X
sessed profile with the X-axis
3.2.6
3.2.6
discrimination de hauteur et/au d’espace-
height and/or spacing discrimination
ment
minimum height and minimum spacing of profile
hauteur minimale et espacement minimal des saillies
peaks and profile valleys of the assessed profile which
et des creux du profil evalue qu’il convient de prendre
should be taken into account
en consideration
NOTE - The minimum height of the profile peaks and
valleys are usually specified as a percentage of Pz, Rz, WZ or NOTE -
La hauteur minimale des saillies et des creux du
another amplitude parameter, and the minimum spacing as profil est habituellement specifiee sous forme de pourcen-
a percentage of the sampling length. Page de Pz, Rz, Wz ou d’un autre parametre d’amplitude et
I’espacement minimal en pourcentage de la longueur de
base.
6

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SIST EN ISO 4287:2000
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)
3.2.7 3.2.7
profile element 6IQment du profil
profile peak and the adjacent profile valley saillie du profil et creux du profil adjacent
Voir la figure 3.
See figure 3.
NOTE - II convient de toujours compter les portions po-
NOTE - The positive or negative portion of the assessed
profile at the beginning or end of the sampling length sitives ou negatives du profil evalue en debut ou en fin de
longueur de base comme des saillies ou des creux du profil.
should always be considered as a profile peak or as a profile
valley. When determining a number of profile elements Lorsqu’on determine les elements du profil sur plusieurs
longueurs de base consecutives, les saillies et creux du
over several successive sampling lengths, the peaks and
valleys of the assessed profile at the beginning or end of profil evalue situ& en debut et en fin de chaque longueur
de base sont comptes une seule fois, au debut de chaque
each sampling length are taken into account once only at
the beginning of each sampling length. longueur de base.
3.2.8 3.2.8
ordinate value ordonnhe
z(x)
z(x)
height of the assessed profile at any position x
hauteur du profil &al& en une position quelconque x
NOTE - The height is regarded as negative if the ordinate NOTE - La hauteur a une valeur negative si I’ordonnee
lies below the X-axis, and positive otherwise. est sit&e au-dessous de l’axe des X, et une valeur positive
dans le cas contraire.
Mean line
Ligne moyenne
Figure 3 - Profile element
Figure 3 - bment du profil
7

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SIST EN ISO 4287:2000
IS0 4287:1997(E/F)
3.2.9
3.2.9
pente locale
local slope
dz dz
dX
dx
slope of the assessed profile at a position xi
pente du profil 6valu6 2 un point xi
See figure 4.
Voir la figure 4.
NOTES
NOTES
1 The numerical value of the local slope, and thus the par-
1 La valeur numerique de la pente locale, et done les pa-
ameters PAq, RAq and WAq, depends critically on the ordi-
rametres PAq, RAq et WAq, dependent etroitement du pas
nate spacing AX.
Ax.
2 A formula for estimating the local slope
...