ISO 10110-5:2015

NORME ISO
INTERNATIONALE 10110-5
Troisième édition
2015-08-01
Optique et photonique — Indications
sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 5:
Tolérances de forme de surface
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements
and systems —
Part 5: Surface form tolerances
Numéro de référence
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ISO 2015
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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .vi
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Spécification des tolérances portant sur l’écart de forme de surface .2
4.1 Généralités . 2
4.2 Unités . 2
4.3 Longueur d’onde . 3
5 Indication figurant sur les dessins . 3
5.1 Généralités . 3
5.2 Structure de l’indication basée sur un numéro de code . 4
5.2.1 Généralités . 4
5.2.2 Numéro de code . 4
5.2.3 Formes de base . 4
5.2.4 Formes supplémentaires . 6
5.2.5 Surface . 8
5.2.6 Emplacement . 9
5.3 Structure de l’indication sous forme de tableau . 9
5.4 Spécification des écarts dans des ensembles de polynômes de Zernike sous
forme tabulaire .10
6 Exemples d’indications de tolérances .11
6.1 Exemples d’indication basée sur un numéro de code .11
6.2 Exemples d’indication basée sur un tableau .13
6.2.1 Surface asphérique .13
6.2.2 Surface décrite des polynômes XY (coordonnées cartésiennes) .14
6.2.3 Surface décrite des polynômes ρφ (coordonnées polaires) .14
6.2.4 Exemple de spécification des écarts dans des ensembles de coefficients de
Zernike sous forme tabulaire .15
Annexe A (informative) Relation entre la tolérance de l’écart de puissance et la tolérance
du rayon de courbure .16
Annexe B (informative) Comparaison avec l’ISO 10110-5 et l’ISO 14999-4 nomenclature,
fonctions et valeurs correspondantes .17
Bibliographie .21
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www.
iso.org/directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer
un engagement.
Pour une explication de la signification des termes et expressions spécifiques de l’ISO liés à
l’évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion de l’ISO aux principes
de l’OMC concernant les obstacles techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: Avant-propos —
Informations supplémentaires.
Le comité technique responsable de l’élaboration du présent document est ISO/TC 172, Optique et
photonique, sous-comité SC 1, Normes fondamentales
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 10110-5:2007), qui a fait l’objet
d’une révision technique. Elle incorpore ainsi les changements suivants:
a) introduction de l’unité «nanomètre» comme unité standard pour la spécification des tolérances
pour certains types d’écarts de forme de surface afin de remplacer l’ancien terme «interfringe»;
b) élargissement de la portée qui inclus des surfaces d’ordre supérieure tels que asphériques,
cylindriques non circulaires, ainsi que des surfaces générales;
c) introduction des tableaux pour représenter des spécifications d’écarts;
d) ajout du la définition «défaut sagittal»;
e) le terme «grandeur A» a été remplacé par «écart de puissance» (suivant le changement de
l’ISO 14999-4). Pour plus de détails voir 5.2.3, NOTE 3;
f) ajout de l’Annexe B qui fait une comparaison entre l’ISO 10110-5 et l’ISO 14999-4 en termes des
nomenclatures, des fonctions et des valeurs correspondantes.
L’ISO 10110 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Optique et photonique —
Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques:
— Partie 1: Généralités
— Partie 2: Imperfection des matériaux — Biréfringence sous contrainte
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— Partie 3: Imperfection des matériaux — Bulles et inclusions
— Partie 4: Imperfection des matériaux — Hétérogénéités et stries
— Partie 5: Tolérances de forme de surface
— Partie 6: Tolérances de centrage
— Partie 7: Tolérances d’imperfection de surface
— Partie 8: État de surface; rugosité et ondulation
— Partie 9: Traitement de surface et revêtement
— Partie 10: Tableau représentant les données d’éléments optiques et d’assemblages collés
— Partie 11: Données non tolérancées
— Partie 12: Surfaces asphériques
— Partie 14: Tolérance de déformation du front d’onde
— Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser
— Partie 19: Description générale des surfaces et des composants
Introduction
La présente partie de l’ISO 10110 concerne les écarts de forme d’une surface optique et fournit un
moyen de spécifier des tolérances pour certains types d’écarts de forme de la surface en nanomètres.
La pratique courante consistant à mesurer par interférométrie l’écart de forme de la surface comme
étant la déformation du front d’onde provoquée par une seule réflexion d’une surface optique en
incidence normale (90° par rapport à la surface), il est possible de donner une définition unique de la
réduction des données interférométriques qui peut être utilisée dans les deux cas, à savoir pour l’écart
de forme de la surface et la déformation du front d’onde. Étant donné que la majorité des mesurages
sont réalisés avec des logiciels, les écarts sont exprimés en nanomètres. Cependant, le mesurage
interférométrique utilise l’unité «interfranges». Un «interfrange» équivaut à un écart de forme de
la surface qui provoque une déformation du front d’onde réfléchi d’une longueur d’onde. Une valeur
exprimée en nanomètres est une indication de l’écart de hauteur réel de la surface elle-même (et non du
front d’onde réfléchi).
La surface soumise à essai avec le tube à essai est par exemple un interféromètre. L’écart de forme de la
surface est représenté par la déformation du front d’onde qui correspond à la différence entre le front
d’onde réfléchi par la surface réelle et celui réfléchi par la surface du tube à essai.
En raison des risques de confusion et d’erreurs d’interprétation, des nanomètres plutôt que des
interfranges sont utilisés. Si ces derniers sont pris comme unités, la longueur d’onde est également à
spécifier.
En outre, les tolérances d’écarts de pente des surfaces peuvent être données en unités de mrad, μrad,
arcmin, ou arcsec.
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NORME INTERNATIONALE ISO 10110-5:2015(F)
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour
éléments et systèmes optiques —
Partie 5:
Tolérances de forme de surface
1 Domaine d’application
La présente Norme Internationale définit la représentation des exigences de conception et des exigences
fonctionnelles des éléments et systèmes optiques, sur les dessins techniques utilisés pour la fabrication
et le contrôle.
La présente partie de l’ISO 10110 spécifie les règles permettant d’indiquer la tolérance pour l’écart de
forme de surface.
NOTE La terminologie d’interférométrie utilisant l’unité «interfranges» est largement utilisée pour la
spécification des tolérances. Cependant, l’utilisation de méthodes non interférométriques pour les essais des
pièces optiques est récemment devenue plus importante. De ce fait, contrairement aux versions antérieures de
l’ISO 10110, les nanomètres doivent désormais être l’unité privilégiée et normalisée pour exprimer les écarts de
forme de surface. L’utilisation d’interfranges est toujours autorisée étant donné que la longueur d’onde de base
est explicitement spécifiée.
La présente partie de l’ISO 10110 s’applique aux surfaces de formes toriques et cylindriques planes,
sphériques, asphériques, circulaires et non circulaires, ainsi qu’aux surfaces d’autres plans non
sphériques comme les surfaces généralement décrites. Elle ne s’applique pas aux surfaces de diffraction,
aux surfaces de Fresnel, ni aux surfaces micro-optiques.
2 Références normatives
Les documents suivants, en totalité ou en partie, sont référencés de manière normative dans le présent
document et sont indispensables pour son application. Pour les références datées, seule l’édition citée
s’applique. Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y
compris les éventuels amendements).
ISO 10110-1, Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 1: Généralités
ISO 10110-10, Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 10: Tableau représentant les données d’éléments optiques et d’assemblages collés
ISO 10110-19, Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 19: Description générale des surfaces et des composants
ISO 14999-4, Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques
— Partie 4: Directives pour l’évaluation des tolérances spécifiées dans l’ISO 10110
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO 14999-4 ainsi que les
termes et les définitions suivants s’appliquent.
3.1
écart de forme de surface
fonction représentant les distances mesurées perpendiculairement à la surface entre une surface
optique nominale et une forme mesurée décrite comme un écart de front d’onde mesuré f ou f
WD WD,CY
comme défini dans l’ISO 14999-4
Note 1 à l’article: L’ISO 14999-4 fournit les définitions des fonctions de déformation.
3.2
défaut sagittal
ΔZ
fonction représentant les distances suivant l’axe z entre une surface optique nominale et une forme
mesurée
Note 1 à l’article: Sur la base d’une mesure interférométrique, les valeurs sont disponibles suivant la perpendiculaire
à la surface locale et doivent être converties en écarts dans la direction z afin de les comparer avec ΔZ.
Note 2 à l’article: Pour des surfaces optiques simples, souvent l’axe z est aussi l’axe optique.
4 Spécification des tolérances portant sur l’écart de forme de surface
4.1 Généralités
Les tolérances portant sur l’écart de forme de surface sont indiquées en spécifiant les valeurs maximales
(max) admises de l’écart de puissance, de l’irrégularité, de l’irrégularité invariante par révolution ou par
translation. De plus, les tolérances de valeurs des moyennes quadratiques (rms) de l’écart de forme de
surface (écart de la moyenne quadratique total, irrégularité de la moyenne quadratique et irrégularité
de la moyenne quadratique du front d’onde asymétrique par révolution et/ou par translation variable)
et des tolérances pour l’écart de pente (valeurs maximales et moyennes quadratiques) peuvent être
spécifiées (voir l’ISO 14999-4 pour les définitions). Un écart de forme de surface basé sur un tableau
sagittal peut également être donné dans la direction z sous forme d’irrégularité ou de pente.
Les tolérances de forme de surface comme les tolérances d’écart de pente peuvent varier dans
différentes sections et différentes orientations (x, y) ou (ρ, φ). Dans ce cas, la longueur d’échantillonnage
et l’intervalle d’échantillonnage spatial peuvent également dévier l’une de l’autre.
La tolérance de forme de surface peut également être définie sous la forme de coefficients d’un
polynôme de Zernike.
NOTE 1 L’ISO 10110-14 donne un moyen de ne spécifier qu’une seule tolérance pour la déformation du front
d’onde sans avoir à spécifier les tolérances de chaque surface.
NOTE 2 Les méthodes de détermination de l’importance de l’écart de puissance, de l’irrégularité, de
l’irrégularité invariante par révolution et/ou par translation et de l’écart de pente d’une surface donnée sont
spécifiées dans l’ISO 14999-4.
Il est recommandé de spécifier une tolérance pour l’écart de pente ou la pente de la moyenne quadratique
pour les surfaces non-sphériques telles que les surfaces cylindriques asphériques, non circulaires ou
générales. Selon l’application et la complexité, l’écart de pente maximal admissible peut également être
indiqué comme quantité absolue en direction (x, y) ou (ρ, φ).
Il n’est pas nécessaire de spécifier des tolérances pour tous les types d’écart de forme de surface.
Parmi tous les écarts de surface, un est défini perpendiculaire de la surface théorique. Le défaut sagittal
ΔZ est défini le long de l’axe z.
4.2 Unités
Les valeurs maximales admises pour l’écart de puissance, l’irrégularité et l’irrégularité invariante par
révolution et/ou par translation doivent être spécifiées en unités de nanomètres ou, si l’on préfère, en
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micromètres ou en interfranges. Si une spécification d’un ou de plusieurs types d’écart de la moyenne
quadratique doit être indiquée, celle-ci doit être en unités de nanomètres ou, si l’on préfère, en
micromètres ou en interfranges.
Pour éviter toute confusion, il convient de ne jamais utiliser l’unité « longueur d’onde de la lumière »
pour des écarts de forme de surface.
Lorsqu’une surface est soumise à des essais par interférométrie par réflexion en incidence normale, un
écart de forme de la surface d’une demi-longueur d’onde de lumière provoque une déformation du front
d’onde d’une longueur d’onde complète. Il en résulte une combinaison d’interférences dans laquelle
l’intensité varie d’une frange claire à la suivante ou d’une frange sombre à la suivante, c’est-à-dire qu’un
interfrange est visible. Pour les besoins de la présente partie de l’ISO 10110, le terme «interfranges» ne
concerne pas la distance transversale entre les franges mais le fait que le nombre d’interfranges visibles
dans la combinaison d’interférences correspond au nombre de longueurs d’onde de la déformation du
front d’onde.
NOTE 1 Un interfrange est égal à 1 × 1/2 × la longueur d’onde (en nanomètres) dans laquelle un écart de forme
de surface est réellement spécifié.
NOTE 2 La spécification d’une tolérance pour la valeur de la moyenne quadratique d’un type d’écart nécessite
l’analyse numérique du système optique.
Les écarts basés sur un tableau sagittal suivant l’axe z doivent être donnés en unités métriques comme
le µm ou le nm.
Les valeurs admissibles maximales de l’écart de pente maximal et de la moyenne quadratique doivent
être spécifiées de préférence en mrad. Les unités de degré correspondantes, μrad, minutes d’arc (…′), et
secondes d’arc (…′′) peuvent également être utilisées. L’unité doit toujours être indiquée.
4.3 Longueur d’onde
En cas d’utilisation de l’unité d’interfranges, la longueur d’onde doit être donnée.
NOTE 1 Dans les versions antérieures de l’ISO 10110, sauf indication contraire, la longueur d’onde était la raie
spectrale verte du mercure (raie e), λ = 546,07 nm, conformément à l’ISO 7944.
NOTE 2 Les spécifications peuvent être converties d’une longueur d’onde de référence à une autre à l’aide de
la Formule (1).
NN=×λλ/ (1)
()
λλ21 12
où N et N représentent le nombre d’interfranges à λ et λ , respectivement.
λ1 λ2 1 2
5 Indication figurant sur les dessins
5.1 Généralités
La tolérance de forme de la surface apparaît sous forme de numéro de code et d’indications des
tolérances concernant l’écart de puissance, l’irrégularité, l’irrégularité invariante par révolution ou par
translation, et les types d’écart de pente maximal et d’écart de pente de la moyenne quadratique, le cas
échéant. L’irrégularité, l’écart de forme dans la direction z, l’écart de pente maximal et l’écart de pente
de la moyenne quadratique peuvent également être indiqués dans un tableau conjointement au tableau
sagittal. Les deux spécifications peuvent être combinées. Il faut s’assurer qu’elles ne se contredisent pas.
En règle générale, l’utilisation des indications n’est pas limitée par le type de forme spécifiée comme
sphérique ou cylindrique. Cependant, toutes les spécifications ne sont pas utiles pour toutes les formes
de surface. Toutes les quantités doivent être spécifiées avec leurs unités. En l’absence d’unité explicite,
l’unité implicite est l’interfrange.
5.2 Structure de l’indication basée sur un numéro de code
5.2.1 Généralités
L’indication doit se composer d’une forme de base et peut être complétée par des formes supplémentaires.
Les formes multiples doivent être séparées par un point-virgule.
5.2.2 Numéro de code
Le numéro de code de la tolérance de forme de la surface est 3/.
5.2.3 Formes de base
3/A(B/C)
ou
3/A(B/C) RMSx < D
où x est l’une des lettres t, i ou a (voir la grandeur D ci-dessous).
ou
3/RMSx < D
où x est l’une des lettres t, I, ou a (voir la grandeur D ci-dessous).
ou
3/AX;AY (B/CX;CY)
ou
3/
NOTE Dans les versions antérieures, la valeur 3/— RMS était utilisée.
x
En cas d’utilisation de l’unité d’interfranges, l’indication “; λ = E” doit être ajoutée afin de spécifier la
longueur d’onde.
La grandeur A est soit
a) Les valeurs maximales admises pour l’écart de puissance, (valeur des maxima et des minima) PV(f )
WS
comme défini dans l’ISO 14999-4, exprimées en nanomètres, micromètres ou interfranges, ou
b) un tiret (—) indiquant que la tolérance totale du rayon de courbure est donnée avec la valeur du
rayon de courbure (non applicable aux surfaces planes).
Les grandeurs AX, AY sont soit:
a) Les valeurs maximales admises pour l’écart de puissance, (valeur des maxima et des minima)
PV( f ) et PV( f ) pour les surfaces cylindriques et similaires, comme défini dans l’ISO 14999-4,
WC,x WC,y
exprimé en nanomètres, micromètres ou interfranges, ou
b) un tiret (—) indiquant que toute la tolérance du rayon de courbure est contenue dans la spécification
du rayon de courbure.
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Si aucun écart de puissance n’est autorisé, A, AX ou AY doit être égal à 0. Dans ce cas, tous les écarts, y
compris cette partie, pouvant être interprétés comme un écart de puissance doivent être inclus dans
l’irrégularité B.
En cas de surfaces asymétriques, A doit être égal à zéro où aucun écart de puissance n’est applicable.
NOTE 1 Il arrive souvent que la tolérance concernant l’écart de puissance soit calculée en convertissant une
partie de la tolérance pour le rayon de courbure en tolérance de l’écart de puissance, à l’aide des formules données
dans l’Annexe A.
NOTE 2 Si aucune tolérance sur le rayon de courbure n’est spécifiée avec un tiret pour l’écart de puissance,
l’ISO 10110-11 s’applique.
NOTE 3 Les versions antérieures de cette partie de l’ISO 10110 utilisaient le terme «sagittal» pour représenter
cette quantité A. Cela n’est pas correct car le défaut sagittal réel se réfère à la distance évaluée parallèle de l’axe z
à la surface. Pour plus de clarté le terme «grandeur A» a été remplacé dans toutes ses occurrences par «écart de
puissance» (qui reflète le changement de l’ISO 14999-4), afin que la valeur réel de «sagittal» puisse être utilisée
correctement.
NOTE 4 Il convient de porter une attention particulière à la spécification de la grandeur A pour des surfaces
avec une courbure importante car la valeur de la puissance peut varier de manière significative par rapport à la
valeur mesurée de l’écart du rayon de courbure.
La grandeur B est soit
a) Les valeurs maximales admises (valeur des maxima et des minima) PV( f ) pour l’irrégularité,
WI
comme défini dans l’ISO 14999-4, exprimées en nanomètres, micromètres ou interfranges lorsque
la grandeur A est utilisée,
b) la valeur maximale admise (valeur des maxima et des minima) PV( f ) de l’irrégularité pour
WI,CY
les surfaces cylindriques et similaires, selon la définition donnée dans l’ISO 14999-4 exprimée en
nanomètres, en micromètres ou en interfranges lorsque AX et/ou AY sont utilisées; soit
c) un tiret (—) indiquant qu’aucune tolérance explicite d’irrégularité n’est donnée.
La grandeur C est soit
a) la valeur maximale admise (valeur des maxima et des minima) PV- ( f ) de l’irrégularité
WRI
invariante de révolution, exprimé en nanomètres, micromètres ou interfranges tel que définie dans
l’ISO 14999-4, ou
b) un tiret (—) indiquant qu’aucune tolérance explicite d’irrégularité invariante par révolution
n’est donnée.
Si aucune tolérance n’est donnée, la barre oblique (/) est remplacée par la parenthèse finale,
c’est-à-dire 3/A(B).
Les grandeurs CX et CY sont, soit
a) la valeur maximale admise (valeur des maxima et des minima) PV( f ), PV( f ) de
WTI,x WTI,y
l’irrégularité invariante par translation pour des surfaces cylindriques et similaires exprimée en
nanomètres, micromètres ou interfranges tel que défini dans l’ISO 14999-4. CX et CY sont utilisées
pour spécifier la symétrie suivant les axes x et y, soit
b) un tiret (—) indiquant qu’aucune tolérance explicite d’irrégularité invariante par translation n’est
donnée, ni pour les deux, ni pour l’un d’eux.
Si aucune tolérance n’est donnée, la barre oblique (/) est remplacée par la parenthèse finale,
c’est-à-dire 3/AX;AY(B).
Si aucune tolérance n’est donnée pour les trois types d’écart, A, B, C, la barre oblique (/) et les
parenthèses sont remplacées par un tiret simple (–), soit 3/–.
La grandeur D est la valeur maximale admise de la grandeur de la moyenne quadratique du type spécifié
par x où x est l’une des lettres t, i, ou a. Ces écarts sont définis:
a) pour des surfaces symétriques de révolution selon l’ISO 14999-4:
— pour t (total): rms( f ) la valeur des moyennes quadratiques totale;
WD
— pour i (irrégulier): rms( f ) l’irrégularité de la moyenne quadratique;
WI
— pour a (asymétrique) rms( f ) l’irrégularité de la moyenne quadratique (asymétrique) variable
WRV
de révolution;
b) pour des surfaces cylindriques et similaires selon l’ISO 14999-4:
— pour t (total): rms( f ) la valeur des moyennes quadratiques totale;
WD,CY
— pour i (irrégulier): rms( f ) l’irrégularité de la moyenne quadratique;
WI,CY
— pour a (asymétrique): rms( f ) l’irrégularité de la moyenne quadratique (asymétrique) variante
WTV
de translation.
La spécification de plus d’un type d’écart de la moyenne quadratique est permise. Ces spécifications
doivent être séparées par un point-virgule, conformément à l’Article 6, Exemple 5.
La grandeur E est la longueur d’onde, en nanomètres, dans laquelle l’écart de forme de la surface est
défini pour l’unité d’interfranges.
NOTE 5 Les grandeurs A et C sont plus efficaces avec les surfaces de types invariante de révolution ou
similaires. Les grandeurs AX, AY, ainsi que CX et CY sont plus efficaces avec les surfaces de types toriques,
cylindriques ou similaires.
NOTE 6 En règle générale, pour toutes sortes de surfaces il peut être utile soit la spécification unidimensionnelle
A et C ou la spécification bidimensionnelle AX et AY ainsi que CX et CY, selon l’écart de la forme de surface à partir de
l’invariance de révolution et selon la fonctionnalité du système optique. Les valeurs B et D sont toujours applicables.
5.2.4 Formes supplémentaires
5.2.4.1 Écart de pente maximal et moyenne quadratique
ΔS (F/G/H);
v, w
et
RMSΔS (K/L/M);
v, w
où
v w est soit 1-dim, soit 2-dim, soit rien,
w est l’une des orientations x, y, ρ, et φ ou rien pour les directions quelconques.
La grandeur F est soit
a) L’écart de pente 1-dim maximal admissible ξ tel que défini dans l’ISO 14999-4, lorsque v est
1-dim
1-dim dans l’orientation spécifié par w et lorsque w est une des lettres/orientations x, y, ρ, et φ ou
s’il manque partout,
b) L’écart de pente 1-dim maximal admissible ξ tel que défini dans l’ISO 14999-4 lorsque v est
1-dim
manquant, mais w est spécifié comme une des lettres/orientations x, y, ρ, et φ,
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c) l’écart de pente 2-dim indépendant de l’orientation maximale ξ selon la définition de
2-dim
l’ISO 14999-4 lorsque v est 2-dim (ici, la spécification de w est omise); ou
d) l’écart de pente maximal admissible où lorsque v et w sont manquants, il est admissible de choisir
entre 1-dim ou 2-dim dans toutes les orientations.
La grandeur G est soit
a) La longueur d’échantillonnage pour 1-dim, tel que défini dans l’ISO 14999-4, ou
b) la longueur d’arête de la zone d’échantillonnage en 2-dim selon la définition de l’ISO 14999-4, à
utiliser pour déterminer l’écart de pente (grandeur F).
La grandeur H est l’intervalle d’échantillonnage spatial selon la définition de l’ISO 14999-4, à utiliser
pour déterminer l’écart de pente (grandeur F).
La grandeur K est soit
a) l’écart de pente 1-dim de la grandeur moyenne quadratique maximal ξ admis selon la définition
1-dim
...