IEC 61000-4-11:1994

NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-11
Edition 1.1
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Cette version française découle de la publication d’origine
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Numéro de référence
CEI 61000-4-11:1994+A1:2000(F)

Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de

60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les

amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2

indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2

Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
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en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
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• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
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Tél: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-11
Edition 1.1
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension

 IEC 2001 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur

– 2 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS.4

INTRODUCTION.8

Articles
1 Domaine d'application .10

2 Références normatives.10

3 Généralités.12
4 Définitions .12
5 Niveaux d'essai .14
5.1 Creux de tension et coupures brèves d'alimentation .14
5.2 Variations de tension (essai optionnel) .16
6 Instrumentation d'essai.18
6.1 Générateurs d'essai .18
6.2 Caractéristiques du transformateur de mesure du pic de courant transitoire .20
6.3 Source de puissance .22
7 Installation d'essai.22
8 Procédures d'essai .22
8.1 Conditions de référence en laboratoire .24
8.2 Exécution de l'essai.24
9 Evaluation des résultats d’essai .26
10 Rapport d’essai .26
Annexe A (normative) Détails des circuits d'essais .30
Annexe B (informative) Guide pour la sélection des niveaux d'essai .34
Annexe C (informative) Instrumentation d'essai .36
Figure 1 – Creux de tension.28
Figure 2 – Variation de tension .28
Figure A.1 – Circuit pour la détermination de la capacité de production du courant
d'appel d'un générateur de coupure brève .32
Figure A.2 – Circuit pour la détermination du courant d'appel crête d'un matériel

en essai.32
Figure C.1 a – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour creux de tension
et coupures brèves utilisant des transformateurs variables et des interrupteurs .38
Figure C.1 b – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour les creux de
tension, les coupures brèves et les variations de tension utilisant un amplificateur
de puissance .38
Figure C.2 – Schéma de principe d'une instrumentation d'essai simplifiée pour
les variations de tension .40
Tableau 1 – Niveaux d'essais et durées conseillés pour les creux de tension et les
coupures brèves .16
Tableau 2 – Durées des variations à court terme de la tension d'alimentation.16
Tableau B.1 .34

– 4 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –

Essais d'immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence
La Norme internationale CEI 61000-4-11 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes
haute fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-11 de la CEI 61000. Cette norme a le statut de publication fonda-
mentale de CEM conformément au Guide 107 de la CEI.

La présente version consolidée de la CEI 61000-4-11 est issue de la première édition (1994)
[documents 77B(BC)17 et 77B(BC)20] et de son amendement 1 (2000) [documents
77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l’amendement 1.
L'annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B et C sont données uniquement à titre d'information.

– 6 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendement ne sera
pas modifié avant 2002. A cette date, la publication sera

• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
– 8 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

INTRODUCTION
La présente section de la partie 4 appartient à la série des normes CEI 61000, Compatibilité

électromagnétique (CEM), selon la structure suivante:

Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l'environnement
Classification de l'environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d'émission
Limites d'immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produit)
Partie 4: Techniques d'essais et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d'essai
Partie 5: Directives d'installation et d'atténuation
Directives d'installation
Méthodes d'atténuation et équipements
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en sections qui seront publiées soit comme normes
internationales, soit comme rapports techniques.
Ces normes et ces rapports seront publiés selon un ordre chronologique et numérotés de la
même façon.
La présente partie est une norme internationale qui donne les prescriptions d'immunité et les
procédures d'essais relatives aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension.

– 10 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –

Essais d'immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

1 Domaine d'application
La présente section de la CEI 61000-4 a pour but de définir les méthodes d'essai d'immunité
et les gammes des niveaux d'essais conseillées pour les matériels électriques et
électroniques connectés aux réseaux basse tension, en ce qui concerne les creux de tension,
les coupures brèves et les variations de tension.
La norme s'applique à des matériels électriques et électroniques dont le courant
d'alimentation assigné ne dépasse pas 16 A par phase.
Elle ne s'applique pas à des matériels électriques et électroniques raccordés à des réseaux
de distribution à courant continu ou à courant alternatif à 400 Hz. Les essais concernant ces
réseaux seront couverts par de futures normes CEI.
Le but de cette norme est d'établir une référence commune pour l'évaluation de l'immunité
des matériels électriques et électroniques lorsqu'ils sont soumis à des creux de tension, des
coupures brèves et des variations de tension.
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente section de la CEI 61000-4.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente section de la
CEI 61000-4 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
registre des Normes Internationales en vigueur.
VEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 60068-1:1988, Essais d'environnement – Première partie: Généralités et guide
CEI 61000-2-1:1990, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2: Environnement –

Section 1: Description de l'environnement – Environnement électromagnétique pour les
perturbations conduites basse fréquence et la transmission de signaux sur les réseaux
publics d'alimentation
CEI 61000-2-2:1990, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2: Environnement –
Section 2: Niveaux de compatibilité pour les perturbations conduites basse fréquence et la
transmission de signaux sur les réseaux publics d'alimentation à basse tension
CEI 61000-4-1:1992, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 1: Vue d'ensemble sur les essais d'immunité – Publication
fondamentale en CEM
– 12 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

3 Généralités
Les matériels électroniques et électriques peuvent être affectés par des creux de tension, des

coupures brèves ou des variations de la tension d'alimentation.

Les creux de tension et les coupures brèves sont provoqués par des défauts du réseau, de

l'installation ou par des changements soudains et importants de la charge. Dans certains cas,
deux ou plusieurs creux ou interruptions consécutifs peuvent se produire. Les variations de
tension sont causées par la variation continue des charges connectées au réseau.

Ces phénomènes sont de nature aléatoire et peuvent être caractérisés en termes de déviation

à partir de la tension assignée et en termes de durée. Les creux de tension et les coupures
brèves ne sont pas toujours brusques à cause du délai de réaction des machines tournantes
et des éléments de protection connectés au réseau. Si des grands réseaux d'alimentation
sont déconnectés (réseau intérieur d'usine ou réseau régional), la tension va décroître
graduellement à cause de toutes les machines tournantes qui sont connectées au réseau
d'alimentation. Durant un court instant, les machines tournantes vont fonctionner comme des
générateurs réinjectant de la puissance dans le réseau. Certains matériels sont plus
sensibles aux variations graduelles de tension qu'aux changements brusques. La plupart des
d'équipements informatiques comportent un détecteur d'absence de tension pour protéger et
sauvegarder les données de la mémoire interne de telle sorte qu'après que la tension soit
revenue, l'équipement redémarre correctement. Certains détecteurs d'absence de tension ne
réagissent pas suffisamment vite sur une diminution progressive de la tension. Par
conséquent, la tension continue d'alimentation des circuits intégrés descendra à un niveau
inférieur à la tension minimale de fonctionnement avant que le détecteur d'absence de
tension ne fonctionne, et les données seront perdues ou erronées. Quand l'alimentation sera
rétablie, l'équipement informatique ne sera pas capable de redémarrer correctement s'il n'a
pas été reprogrammé.
En conséquence, différents essais sont spécifiés dans cette norme pour simuler les effets des
changements brusques de tension, et, optionnellement, pour les raisons exposées ci-dessus,
un essai de type est aussi spécifié pour les changements progressifs de tension. Cet essai ne
doit être pratiqué que dans des cas particuliers et justifiés sous la responsabilité des
spécifications de produits ou des comités de produit.
Il est de la responsabilité des comités de produit d'établir quels sont les phénomènes qui les
concernent parmi ceux décrits dans cette norme et de décider de l'utilité de l'essai.
4 Définitions
Pour les besoins de la présente section de la CEI 61000-4, les définitions suivantes
s'appliquent:
4.1
1)
norme CEM fondamentale (ACEC)
norme donnant les conditions ou règles générales et fondamentales pour la réalisation de
la CEM qui ont rapport ou sont applicables à tous les produits et systèmes et servent
de documents de référence pour les comités de produit
4.2
immunité (à une perturbation)
aptitude d'un dispositif, d'un appareil ou d'un système à fonctionner sans dégradation en
présence d'une perturbation électromagnétique
[VEI 161-01-20]
––––––––
1)
Comité consultatif de la compatibilité électromagnétique (Advisory Committee on Electromagnetic Compatibility).

– 14 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

4.3
creux de tension d'alimentation

(définition utilisée dans le cadre de la présente norme). Brusque réduction de la tension en un

point du réseau électrique, suivie de son rétablissement après une courte durée, allant d'une

demi-période à quelques secondes
[VEI 161-08-10, modifié]
4.4
coupure brève
disparition de la tension d'alimentation pendant un temps qui ne dépasse pas 1 min. Les

coupures brèves peuvent être considérées comme des creux de tension d'amplitude 100 %.

(Voir aussi 8.1 de la CEI 61000-2-1)
4.5
variation de la tension d'alimentation
changement progressif de la tension d'alimentation passant à une valeur supérieure ou
inférieure à la tension assignée. La durée du changement peut être courte ou longue par
rapport à la durée de la période
4.6
défaut de fonctionnement
fin de la possibilité pour un équipement d'exécuter les fonctions pour lesquelles il est prévu,
ou exécution par l'équipement de fonctions imprévues
5 Niveaux d'essai
Les tensions données dans la présente norme utilisent la tension assignée du matériel (U )
T
comme base pour les spécifications des niveaux d'essais.
Lorsque les appareils fonctionnent dans une plage de tension d'alimentation, ce qui suit doit
s'appliquer:
– si la plage de tension ne dépasse pas 20 % de la plus basse tension spécifiée, on
spécifiera une seule tension dans cette plage comme base pour les spécifications des
niveaux d'essais (U );
T
– dans tous les autres cas, la procédure d'essai doit être appliquée pour la tension la plus
basse et pour la tension la plus haute dans la plage de tension;
– un guide pour la sélection des niveaux d'essais et des durées est donné dans l'annexe B.
5.1 Creux de tension et coupures brèves d'alimentation

Le changement de tension entre U et la tension modifiée est brusque. Le phénomène peut
T
commencer et s'arrêter à n'importe quel déphasage de la tension du réseau. Les niveaux de
tension d'essai suivants (en % de U ) sont utilisés: 0 %, 40 % et 70 % correspondant à des
T
creux et des interruptions de 100 %, 60 % et 30 %.
Les niveaux d'essai et les durées conseillés sont donnés au tableau 1, et un exemple en
est présenté à la figure 1. Les niveaux et les durées doivent figurer dans la spécification
du produit. Un niveau d'essai de 0 % correspond à une interruption totale de la tension
d'alimentation. En pratique, un niveau de tension d'essai de 0 % à 20 % de la tension
assignée peut être considéré comme une interruption totale.
Il convient que les durées les plus courtes données dans le tableau, en particulier la demi-
période, soient utilisées pour les essais afin de s'assurer que le matériel en essai fonctionne
selon ses performances.
– 16 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

Tableau 1 – Niveaux d'essais et durées conseillés pour

les creux de tension et les coupures brèves

Creux de tension
Niveau d'essai et coupures brèves Durée

(en périodes)
% U % U
T T
0,5*
0 100
40 60
70 30
x
* Pour 0,5 période, l'essai doit être réalisé en polarité positive et en polarité négative, c'est-à-dire
en commençant à 0° et à 180°.
NOTE 1  Un ou plusieurs des niveaux et durées d'essai ci-dessus peuvent être choisis.
NOTE 2  Si le matériel en essai est essayé pour des creux de tension de 100 %, il n'est
généralement pas nécessaire de l'essayer à d'autres niveaux pour les mêmes durées. Cependant,
dans certains cas (systèmes de sauvegarde ou dispositifs électromécaniques) ceci n'est pas vrai.
La spécification ou le comité du produit donneront des indications concernant la possibilité
d'application de cette note.
NOTE 3  «x» correspond à une durée «ouverte» qui peut figurer dans les spécifications du produit.
Les distributeurs ont mesuré en Europe des creux de tenson et des coupures brèves d'une durée
se situant entre ½ et 3 000 périodes, mais les durées inférieures à 50 périodes sont les plus
communes.
NOTE 4  Chaque durée peut être choisie pour chaque niveau d'essai.
5.2 Variations de tension (essai optionnel)
Cet essai spécifie une transition définie entre la tension assignée U et la tension modifiée.
T
NOTE  La variation de tension a lieu sur une courte période et peut se produire à cause du changement de charge
ou d'énergie stockée dans les réseaux privés d'alimentation.
La durée conseillée pour les variations de tension et la durée au cours de laquelle les
tensions réduites doivent être maintenues sont données au tableau 2. Il convient que le taux
de variation de la tension reste constant. Cependant, la tension peut varier par pas. Il
convient que ces pas s'effectuent aux points de passage par zéro et ils ne doivent pas avoir
une valeur supérieure à 10 % de U . Des pas de moins de 1 % de U sont considérés comme
T T
un taux de variation constant.
Tableau 2 – Durées des variations à court terme de la tension d'alimentation
Niveau d'essai Durée de baisse Durée de tension Durée de montée

de tension de tension réduite de tension
40 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
0 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
xx x
NOTE  x représente un ensemble de durées ouvertes et peut être donné dans la spécification du produit.
La figure 2 montre les variations de la tension en fonction du temps. D'autres valeurs peuvent
être prises dans des cas justifiés et doivent être mentionnées dans la spécification du produit.

– 18 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

6 Instrumentation d'essai
6.1 Générateurs d'essai
Les commentaires suivants sont communs au générateur de creux de tension, coupures

brèves et variations de tension, sauf indications contraires.

Des exemples de générateurs sont donnés en annexe C.

Le générateur doit avoir la capacité d'empêcher l'émission de perturbations importantes qui,

si elles sont injectées sur le réseau d'alimentation, peuvent influencer les résultats d'essais.
6.1.1 Caractéristiques et performances du générateur
Spécifications
Tension de sortie: comme indiqué au tableau 1, ±5 %
Variation de tension lors du raccordement
d'une charge au générateur:
...

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
1000-4-11
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1994-06
Compatibilité électromagnétique (CEM) -
Partie 4:
Techniques d’essai et de mesure -
Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) -
Part 4:
Testing and measuring techniques -
Section 11: Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 1000-4-11: 1994
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
1000-4-11
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1994-06
Compatibilité électromagnétique (CEM) -
Partie 4:
Techniques d’essai et de mesure -
Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) -
Part 4:
Testing and measuring techniques -
Section 11: Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

© CEI 1995   Droits de reproduction réservés — Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
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- 2 - 1000-4-11 © CEI:1994
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS .  4

INTRODUCTION .  6

Articles
1  Domaine d’application . 8
2  Références normatives. 8
3  Généralités . 10
4  Définitions . 10
5  Niveaux d’essai . 12
5.1 Creux de tension et coupures brèves d’alimentation . 12
5.2 Variations de tension (essai optionnel) . 14
6  Instrumentation d’essai. 16
6.1 Générateurs d’essai. 16
6.1.1 Caractéristiques et performances du générateur. 18
6.1.2 Vérification des caractéristiques des générateurs de creux de tension,
de coupures brèves et de variation de tension. 18
6.2 Caractéristiques du transformateur de mesure du pic de courant transitoire . 20
6.3 Source de puissance . 20
7  Installation d’essai . 22
8  Procédures d’essai . 22
8.1 Conditions de référence en laboratoire. 24
8.1.1 Conditions climatiques . 24
8.1.2 Conditions électromagnétiques. 24
8.2 Exécution de l’essai .24

8.2.1  Creux et coupures brèves de la tension d’alimentation . 24
8.2.2  Variations de la tension d’alimentation (optionnel) . 24
9  Résultats et compte-rendu d’essais .26
Figures
1 Creux de tension . 28
2 Variation de tension . 28
Annexes
A Détails des circuits d’essais. 30
B Guide pour la sélection des niveaux d’essai . 34
C Instrumentation d’essai. 36

1000-4-11 © IEC:1994 - 3 -
CONTENTS
Page
FOREWORD .  5

INTRODUCTION .  7

Clause
1 Scope .  9
2 Normative references .  9
3 General . 11
4 Definitions . 11
5 Test levels . 13
5.1 Voltage dips and short interruptions . 13
5.2 Voltage variations (optional) . 15
6 Test instrumentation . 17
6.1 Test generators . 17
6.1.1  Characteristics and performance of the generator. 19
6.1.2  Verification of the characteristics of the voltage dips, short
interruptions and voltage variation generators . 19
6.2 Current monitor’s characteristics for measuring peak inrush current capability . 21
6.3 Power source . 21
7 Test set-up . 23
8 Test procedures. 23
8.1 Laboratory reference conditions . 25
8.1.1  Climatic conditions . 25
8.1.2  Electromagnetic conditions . 25
8.2 Execution of the test . 25

8.2.1  Voltage dips and short interruptions . 25
8.2.2  Voltage variations (optional) . 25
9 Test results and test report . 27
Figures
1 Voltage dips . 28
2 Voltage variation . 28
Annexes
A Test circuit details . 31
B Guide for the selection of test levels. 35
C Test instrumentation . 37

- 4 - 1000-4-11 © CEI:1994
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) -

Partie 4: Techniques d’essai et de mesure -

Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée de
l’ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la
coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de l’électricité et de
l’électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales. Leur élaboration est confiée
à des comités d’études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l’Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon
des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par les comités
d’études où sont représentés tous les Comités nationaux s’intéressant à ces questions, expriment dans la plus grande
mesure possible un accord international sur les sujets examinés.
3) Ces décisions constituent des recommandations internationales publiées sous forme de normes, de rapports
techniques ou de guides et agréées comme telles par les Comités nationaux.
4) Dans le but d’encourager l’unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s’engagent à appliquer de façon
transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et
régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale correspondante doit être
indiquée en termes clairs dans cette dernière.
La Norme internationale CEI 1000-4-11 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes haute
fréquence, du comité d’études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la section 11 de la partie 4 de la CEI 1000. Cette norme a le statut de publication
fondamentale de CEM conformément au guide 107 de la CEI.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:

DIS Rapport de vote
77B(BC)17 77B(BC)20
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de cette norme.
L’annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B et C sont données uniquement à titre d’information.

1000-4-11 © IEC:1994 - 5 -
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) -

Part 4: Testing and measuring techniques -

Section 11: Voltage dips,
short interruptions and voltage variations immunity tests

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all
national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international
cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in
addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical
committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work.
International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this
preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance
with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the
National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the subjects dealt with.
3) They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or
guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards
transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC
Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter.
International Standard IEC 1000-4-11 has been prepared by sub-committee 77B: High-frequency
phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms section 11 of part 4 of IEC 1000. It has the status of a Basic EMC Publication in
accordance with IEC guide 107.
The text of this standard is based on the following documents:

DIS Report on voting
77B(CO)17 77B(CO)20
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting
indicated in the above table.
Annex A forms an integral part of this standard.
Annexes B and C are for information only.

- 6 - 1000-4-11 © CEI:1994
INTRODUCTION
La présente section de la partie 4 appartient à la série des normes CEI 1000, Compatibilité

électromagnétique (CEM), selon la structure suivante:

Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produit)
Partie 4: Techniques d’essais et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d’essai
Partie 5: Directives d’installation et d’atténuation
Directives d’installation
Méthodes d’atténuation et équipements
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en sections qui seront publiées soit comme normes
internationales, soit comme rapports techniques.
Ces normes et ces rapports seront publiés selon un ordre chronologique et numérotés de la même
façon.
La présente partie est une norme internationale qui donne les prescriptions d’immunité et les pro-
cédures d’essais relatives aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension.

1000-4-11 © IEC:1994 - 7 -
INTRODUCTION
This section of part 4 belongs to the IEC 1000 series, Electromagnetic compatibility (EMC),

according to the following structure:

Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into sections which are to be published either as international
standards or as technical reports.
These standards and reports will be published in chronological order and numbered accordingly.
This part is an international standard which gives immunity requirements and test procedures

related to voltage dips, short interruptions and voltage variations.

- 8 - 1000-4-11 © CEI:1994
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) -

Partie 4: Techniques d’essai et de mesure -

Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

1  Domaine d’application
La présente section de la CEI 1000-4 a pour but de définir les méthodes d’essai d’immunité et les
gammes des niveaux d’essais conseillées pour les matériels électriques et électroniques
connectés aux réseaux basse tension, en ce qui concerne les creux de tension, les coupures
brèves et les variations de tension.
La norme s’applique à des matériels électriques et électroniques dont le courant d’alimentation
assigné ne dépasse pas 16 A par phase.
Elle ne s’applique pas à des matériels électriques et électroniques raccordés à des réseaux de
distribution à courant continu ou à courant alternatif à 400 Hz. Les essais concernant ces réseaux
seront couverts par de futures normes CEI.
Le but de cette norme est d’établir une référence commune pour l’évaluation de l’immunité des
matériels électriques et électroniques lorsqu’ils sont soumis à des creux de tension, des coupures
brèves et des variations de tension.
2  Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui y
est faite, constituent des dispositions valables pour la présente section de la CEI 1000-4.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif est
sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente section de la
CEI 1000-4 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes des
documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l’ISO possèdent le registre
des Normes internationales en vigueur.
VEI 50(161): 1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) - Chapitre 161: Compatibilité
électromagnétique
CEI 68-1: 1988, Essais d’environnement - Première partie: Généralités et guide

CEI 1000-2-1: 1990, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Environnement - Section 1:
Description de l’environnement - Environnement électromagnétique pour les perturbations condui-
tes basse fréquence et la transmission de signaux sur les réseaux publics d’alimentation
CEI 1000-2-2: 1990, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 2: Environnement - Section 2:
Niveaux de compatibilité pour les perturbations conduites basse fréquence et la transmission de
signaux sur les réseaux publics d’alimentation à basse tension
CEI 1000-4-1: 1992, Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4: Techniques d’essai et de
mesure - Section 1: Vue d’ensemble sur les essais d’immunité - Publication fondamentale en CEM

1000-4-11 © IEC:1994 - 9 -
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) -

Part 4: Testing and measuring techniques -

Section 11: Voltage dips,
short interruptions and voltage variations immunity tests

1  Scope
This section of IEC 1000-4 defines the immunity test methods and range of preferred test levels for
electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks for voltage
dips, short interruptions, and voltage variations.
The standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not
exceeding 16 A per phase.
It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to d.c. networks or 400 Hz
a.c. networks. Tests for these networks will be covered by future IEC standards.
The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of elec-
trical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions, and voltage
variations.
2  Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this section of IEC 1000-4. At the time of publication, the editions indicated
were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreements based on
this section of IEC 1000-4 are encouraged to investigate the possibility of applying the most recent
editions of the normative documents indicated below. Members of IEC and ISO maintain registers
of currently valid International Standards.
IEV 50(161): 1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
IEC 68-1: 1988, Environmental testing - Part 1: General and guidance

IEC 1000-2-1: 1990, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 2: Environment - Section 1:
Description of the environment - Electromagnetic environment for low-frequency conducted
disturbances and signalling in public power supply systems
IEC 1000-2-2: 1990, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 2: Environment - Section 2:
Compatibility levels for low-frequency conducted disturbances and signalling in public low-voltage
power supply systems
IEC 1000-4-1, 1992, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement
techniques - Section 1: Overview of immunity tests - Basic EMC publication

- 10 - 1000-4-11 © CEI:1994
3  Généralités
Les matériels électroniques et électriques peuvent être affectés par des creux de tension, des

coupures brèves ou des variations de la tension d’alimentation.

Les creux de tension et les coupures brèves sont provoqués par des défauts du réseau, de
l’installation ou par des changements soudains et importants de la charge. Dans certains cas,
deux ou plusieurs creux ou interruptions consécutifs peuvent se produire. Les variations de
tension sont causées par la variation continue des charges connectées au réseau.

Ces phénomènes sont de nature aléatoire et peuvent être caractérisés en termes de déviation à
partir de la tension assignée et en termes de durée. Les creux de tension et les coupures brèves
ne sont pas toujours brusques à cause du délai de réaction des machines tournantes et des
éléments de protection connectés au réseau. Si des grands réseaux d’alimentation sont
déconnectés (réseau intérieur d’usine ou réseau régional), la tension va décroître graduellement à
cause de toutes les machines tournantes qui sont connectées au réseau d’alimentation. Durant un
court instant, les machines tournantes vont fonctionner comme des générateurs réinjectant de la
puissance dans le réseau. Certains matériels sont plus sensibles aux variations graduelles de ten-
sion qu’aux changements brusques. La plupart des d’équipements informatiques comportent un
détecteur d’absence de tension pour protéger et sauvegarder les données de la mémoire interne
de telle sorte qu’après que la tension soit revenue, l’équipement redémarre correctement. Certains
détecteurs d’absence de tension ne réagissent pas suffisamment vite sur une diminution
progressive de la tension. Par conséquent, la tension continue d’alimentation des circuits intégrés
descendra à un niveau inférieur à la tension minimale de fonctionnement avant que le détecteur
d’absence de tension ne fonctionne, et les données seront perdues ou erronées. Quand
l’alimentation sera rétablie, l’équipement informatique ne sera pas capable de redémarrer correc-
tement s’il n’a pas été reprogrammé.
En conséquence, différents essais sont spécifiés dans cette norme pour simuler les effets des
changements brusques de tension, et, optionnellement, pour les raisons exposées ci-dessus, un
essai de type est aussi spécifié pour les changements progressifs de tension. Cet essai ne doit
être pratiqué que dans des cas particuliers et justifiés sous la responsabilité des spécifications de
produits ou des comités de produit.
Il est de la responsabilité des comités de produit d’établir quels sont les phénomènes qui les con-
cernent parmi ceux décrits dans cette norme et de décider de l’utilité de l’essai.
4  Définitions
Pour les besoins de la présente section de la CEI 1000-4, les définitions suivantes s’appliquent:
4.1 norme CEM fondamentale (ACEC)*: Norme donnant les conditions ou règles générales et
fondamentales pour la réalisation de la CEM qui ont rapport ou sont applicables à tous les produits
et systèmes et servent de documents de référence pour les comités de produit.
4.2 immunité (à une perturbation): Aptitude d’un dispositif, d’un appareil ou d’un système à
fonctionner sans dégradation en présence d’une perturbation électromagnétique. [VEI 161-01-20]
* Comité consultatif de la compatibilité électromagnétique (Advisory Committee on Electromagnetic Compatibility).

1000-4-11 © IEC:1994 - 11 -
3  General
Electrical and electronic equipment may be affected by voltage dips, short interruptions or voltage

variations of power supply.
Voltage dips and short interruptions are caused by faults in the network, in installations or by a
sudden large change of load. In certain cases, two or more consecutive dips or interruptions may
occur. Voltage variations are caused by the continuously varying loads connected to the network.

These phenomena are random in nature and can be characterized in terms of the deviation from

the rated voltage and duration. Voltage dips and short interruptions are not always abrupt,
because of the reaction time of rotating machines and protection elements connected to the power
supply network. If large mains networks are disconnected (local within a plant or wide area within a
region) the voltage will only decrease gradually due to the many rotating machines, which are
connected to the mains networks. For a short period, the rotating machines will operate as genera-
tors sending power into the network. Some equipment is more sensitive to gradual variations in
voltage than to abrupt change. Most data-processing equipment has built-in power-fail detectors in
order to protect and save the data in the internal memory so that after the mains voltage has been
restored, the equipment will start up in the correct way. Some power-fail detectors will not react
sufficiently fast on a gradual decrease of the mains voltage. Therefore, the d.c. voltage to the
integrated circuits will decrease to a level below the minimum operating voltage before the power-
fail detector is activated and data will be lost or distorted. When the mains voltage is restored, the
data-processing equipment will not be able to restart correctly before it has been re-programmed.
Consequently, different types of tests are specified in this standard to simulate the effects of abrupt
change voltage, and, optionally, for the reasons explained above, a type test is specified also for
gradual voltage change. This test is to be used only for particular and justified cases, under the
responsibility of product specification or product committees.
It is the responsibility of the product committees to establish which phenomena among the ones
considered in this standard are relevant and to decide on the applicability of the test.
4  Definitions
For the purpose of this section of IEC 1000-4, the following definitions apply:

4.1 basic EMC standard (ACEC)*: Standard giving general and fundamental conditions or rules
for the achievement of EMC, which are related or applicable to all products and systems, and
serve as reference documents for product committees.
4.2 immunity (to a disturbance): The ability of a device, equipment or system to perform
without degradation in the presence of an electromagnetic disturbance. [IEV 161-01-20]
* Advisory Committee on Electromagnetic Compatibility.

- 12 - 1000-4-11 © CEI:1994
4.3 creux de tension d’alimentation: (définition utilisée dans le cadre de la présente norme).

Brusque réduction de la tension en un point du réseau électrique, suivie de son rétablissement

après une courte durée, allant d’une demi-période à quelques secondes. [VEI 161-08-10, modifié]

4.4 coupure brève: Disparition de la tension d’alimentation pendant un temps qui ne dépasse

pas 1 min. Les coupures brèves peuvent être considérées comme des creux de tension

d’amplitude 100 %. (Voir aussi 8.1 de la CEI 1000-2-1.)

4.5 variation de la tension d’alimentation: Changement progressif de la tension d’alimentation
passant à une valeur supérieure ou inférieure à la tension assignée. La durée du changement peut

être courte ou longue par rapport à la durée de la période.
4.6 défaut de fonctionnement: Fin de la possibilité pour un équipement d’exécuter les fonctions
pour lesquelles il est prévu, ou exécution par l’équipement de fonctions imprévues.
5  Niveaux d’essai
Les tensions données dans la présente norme utilisent la tension assignée du matériel (U )
T
comme base pour les spécifications des niveaux d’essais.
Lorsque les appareils fonctionnent dans une plage de tension d’alimentation, ce qui suit doit
s’appliquer:
- si la plage de tension ne dépasse pas 20 % de la plus basse tension spécifiée, on spé-
cifiera une seule tension dans cette plage comme base pour les spécifications des niveaux
d’essais (U );
T
- dans tous les autres cas, la procédure d’essai doit être appliquée pour la tension la plus
basse et pour la tension la plus haute dans la plage de tension;
- un guide pour la sélection des niveaux d’essais et des durées est donné dans l’annexe B.
5.1  Creux de tension et coupures brèves d’alimentation
Le changement de tension entre U et la tension modifiée est brusque. Le phénomène peut
T
commencer et s’arrêter à n’importe quel déphasage de la tension du réseau. Les niveaux de ten-
sion d’essai suivants (en % de U ) sont utilisés: 0 %, 40 % et 70 % correspondant à des creux et
T
des interruptions de 100 %, 60 % et 30 %.
Les niveaux d’essai et les durées conseillés sont donnés au tableau 1, et un exemple en est

présenté à la figure 1. Les niveaux et les durées doivent figurer dans la spécification du produit.
Un niveau d’essai de 0 % correspond à une interruption totale de la tension d’alimentation. En
pratique, un niveau de tension d’essai de 0 % à 20 % de la tension assignée peut être considéré
comme une interruption totale.
Il convient que les durées les plus courtes données dans le tableau, en particulier la demi-période,
soient utilisées pour les essais afin de s’assurer que le matériel en essai fonctionne selon ses
performances.
1000-4-11 © IEC:1994 - 13 -
4.3 voltage dip: (definition used for the purpose of this standard). A sudden reduction of the

voltage at a point in the electrical system, followed by voltage recovery after a short period of time,

from half a cycle to a few seconds. [IEV 161-08-10, modified]

4.4 short interruption: The disappearance of the supply voltage for a period of time typically not

exceeding 1 min. Short interruptions can be considered as voltage dips with 100 % amplitude.

(See also 8.1, IEC 1000-2-1.)
4.5 voltage variation: A gradual change of the supply voltage to a higher or lower value than the

rated voltage. The duration of the change can be short or long with regard to the period.
4.6 malfunction: The termination of the ability of an equipment to carry out intended functions or
the execution of unintended functions by the equipment.
5  Test levels
The voltages in this standard use the rated voltage for the equipment (U ) as a basis for voltage
T
test level specification.
Where the equipment has a rated voltage range the following shall apply:
- if the voltage range does not exceed 20 % of the lower voltage specified for the rated
voltage range, a single voltage from that range may be specified as a basis for test level
specification (U );
T
- in all other cases, the test procedure shall be applied for both the lower and upper voltages
declared in the voltage range;
- guidance for the selection of test levels and durations is given in annex B.
5.1  Voltage dips and short interruptions
The change between U and the changed voltage is abrupt. The step can start and stop at any
T
phase angles on the mains voltage. The following test voltage levels (in % U ) are used: 0 %,
T
40 % and 70 %, corresponding to dips and interruptions of 100 %, 60 % and 30 %.
The preferred test levels and durations are given in table 1, and an example is shown in figure 1.

The levels and durations shall be given in the product specification. A test level of 0 %
corresponds to a total supply voltage interruption. In practice, a test voltage level from 0 % to
20 % of the rated voltage may be considered as a total interruption.
Shorter durations in the table, in particular the half-cycle, should be tested to be sure that the
equipment under test (EUT) works in its intended performance.

- 14 - 1000-4-11 © CEI:1994
Tableau 1 - Niveaux d’essais et durées conseillés pour les creux de tension

et les coupures brèves
Creux de tension Durée
Niveau d’essai
et coupures brèves (en périodes)

% U % U
T T
0,5*
40 60 10
70 30
×
* Pour 0,5 période, l’essai doit être réalisé en polarité positive et en polarité négative, c’est-à-dire en
commençant à 0° et à 180°.
NOTES
1 Un ou plusieurs des niveaux et durées d’essai ci-dessus peuvent être choisis.
2 Si le matériel en essai est essayé pour des creux de tension de 100 %, il n’est généralement pas
nécessaire de l’essayer à d’autres niveaux pour les mêmes durées. Cependant, dans certains cas (sys-
tèmes de sauvegarde ou dispositifs électromécaniques) ceci n’est pas vrai. La spécification ou le comité
du produit donneront des indications concernant la possibilité d’application de cette note.
3 «x» correspond à une durée «ouverte» qui peut figurer dans les spécifications du produit. Les distri-
buteurs ont mesuré en Europe des creux de tension et des coupures brèves d’une durée se situant en-
tre 1/2 et 3 000 périodes, mais les durées inférieures à 50 périodes sont les plus communes.
4 Chaque durée peut être choisie pour chaque niveau d’essai.
5.2  Variations de tension (essai optionnel)
Cet essai spécifie une transition définie entre la tension assignée U et la tension modifiée.
T
NOTE - La variation de tension a lieu sur une courte période et peut se produire à cause du changement de charge
ou d’énergie stockée dans les réseaux privés d’alimentation.
La durée conseillée pour les variations de tension et la durée au cours de laquelle les tensions
réduites doivent être maintenues sont données au tableau 2. Il convient que le taux de variation de
la tension reste constant. Cependant, la tension peut varier par pas. Il convient que ces pas
s’effectuent aux points de passage par zéro et ils ne doivent pas avoir une valeur supérieure à

10 % de U . Des pas de moins de 1 % de U sont considérés comme un taux de variation
T T
constant.
1000-4-11 © IEC:1994 - 15 -
Table 1 - Preferred test levels and durations for

voltage dips and short interruptions

Voltage dip and Duration
Test level
short interruptions (in period)

% U % U
T T
0,5*
40 60 10
70 30
×
* For 0,5 period, the test shall be made in positive and negative polarity, i.e. starting at 0° and 180°,
respectively.
NOTES
1 One or more of the above test levels and durations may be chosen.
2 If the EUT is tested for voltage dips of 100 %, it is generally unnecessary to test for other levels for
the same durations. However, for some cases (safeguard systems or electromechanical devices) it is
not true. The product specification or product committee shall give an indication of the applicability of
this note.
3 "×" is an open duration. This duration can be given in the product specification. Utilities in Europe
have measured dips and short interruptions of duration between 1/2 a period and 3 000 periods, but
duration less than 50 periods are most common.
4 Any duration may apply to any test level.
5.2  Voltage variations (optional)
This test considers a defined transition between rated voltage U and the changed voltage.
T
NOTE - The voltage change takes place over a short period, and may occur due to change of load or stored energy in
local power networks.
The preferred duration of the voltage changes and the time for which the reduced voltages are to
be maintained are given in table 2. The rate of change of voltage should be constant; however, the
voltage may be stepped. The steps should be positioned at zero crossings, and shall be not larger

than 10 % of U . Steps under 1 % of U are considered as constant rate of change of voltage.
T T
- 16 - 1000-4-11 © CEI:1994
Tableau 2 - Durées des variations à court terme de la tension d’alimentation

Niveau d’essai Durée de baisse Durée de tension Durée de montée
de tension de tension réduite de tension

40 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
0 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
×××
NOTE - × représente un ensemble de durées ouvertes et peut être donnée dans la spécification du
produit.
La figure 2 montre les variations de la tension en fonction du temps. D’autres valeurs peuvent être
prises dans des cas justifiés et doivent être mentionnées dans la spécification du produit.
6  Instrumentation d’essai
6.1  Générateurs d’essai
Les commentaires suivants sont communs au générateur de creux de tension, coupures brèves et
variations de tension, sauf indications contraires.
Des exemples de générateurs sont donnés en annexe C.
Le générateur doit avoir la capacité d’empêcher l’émission de perturbations importantes qui, si
elles sont injectées sur le réseau d’alimentation, peuvent influencer les résultats d’essais.

1000-4-11 © IEC:1994 - 17 -
Table 2 - Timing of short-term supply voltage variations

Voltage Time for Time at Time for
test level decreasing voltage reduced voltage increasing voltage

40 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
0 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
×××
NOTE - × represents an open set of durations and can be given in the product specification.
Figure 2 shows the voltage as a function of time. Other values may be taken in justified cases and
shall be specified in product specification.
6  Test instrumentation
6.1  Test generators
The following features are common to the generator for voltage dips, short interruptions and
voltage variations, except as indicated.
Examples of generators are given in annex C.
The generator shall have provision to prevent the emission of heavy disturbances which, if injected
in the power supply network, may influence the test results.

- 18 - 1000-4-11 © CEI:1994
6.1.1  Caractéristiques et performances du générateur

Spécifications
Tension de sortie: comme indiqué au tableau 1, ± 5 %

Variation de tension lors du raccordement

d’une charge au générateur:
100 % tension de sortie, 0 à 16 A: moins de 5 %

70 % tension de sortie, 0 à 23 A: moins de 7 %

40 % tension de sortie, 0 à 40 A: moins de 10 %

16 A efficace par phase à la tension assignée.
Intensité maximale de sortie:
Le générateur doit être capable de fournir 23 A
à 70 % de cette tension assignée et 40 A à
40 % de cette tension assignée pendant une
durée de 5 s (cette spécification peut être réduite
selon le niveau de l’intensité assignée du ma-
tériel en essai (voir A.2)).
Capacité de courant d’appel crête (n’est pas Ne doit pas être limité par le générateur. Ce-
pendant le courant crête maximum que le
demandée pour les essais de variation de ten-
sion): générateur peut admettre ne doit pas néces-
sairement dépasser 500 A en 220 V à 240 V
ou 250 A en 100 V à 120 V.
Dépassement transitoire positif ou négatif de
la tension, générateur chargé par une charge
résistive de 100 Ω: moins de 5 % de la variation de tension
Temps de montée (et temps de descente)
pendant le changement brusque de tension, le
générateur chargé par une charge résistive de
100 Ω: entre 1 µs et 5 µs
Déphasage: (si nécessaire) 0° à 360°
Relation de phase entre les creux et coupures
brèves de tension et la tension réseau: moins de ± 10°
L’impédance de sortie doit être principalement résistive.
L’impédance de sortie du générateur d’essai devra être faible même pendant les phases

transitoires.
6.1.2  Vérification des caractéristiques des générateurs de creux de tension, de coupures
brèves et de variation de tension
Dans le but de comparer les résultats des essais obtenus à partir de différents générateurs
d’essais, les générateurs doivent avoir les caractéristiques suivantes:
- les tensions efficaces de sortie à 100 %, 70 % et 40 % du générateur doivent être des
pourcentages de la tension de fonctionnement sélectionnée: 230 V, 120 V, etc.;
- les valeurs efficaces des trois tensions doivent être mesurées à vide et doivent rester dans
un pourcentage spécifié de leurs valeurs assignées;

1000-4-11 © IEC:1994 - 19 -
6.1.1  Characteristics and performance of the generator

Specifications
as required in table 1, ± 5 %
Output voltage:
Change with load at the output of the genera-

tor:
100 % output, 0 to 16 A: less than 5 %

less than 7 %
70 % output, 0 to 23 A:
40 % output, 0 to 40 A: less than 10 %

16 A r.m.s. per phase at rated voltage. The
Output current capability:
generator shall be capable of carrying 23 A at
70 % of rated voltage and 40 A at 40 % of
rated voltage for a duration up to 5 s. (This re-
quirement may be reduced according to the
EUT rated steady-state supply current
(see A.2)).
Not to be limited by the generator. However,
Peak inrush current drive capability (not
required for voltage variation tests): the maximum peak drive capability of
the generator need not exceed 500 A for
220 V-240 V mains, or 250 A for 100 V-120 V
mains.
Overshoot/undershoot of the actual voltage,
generator loaded with 100 Ω resistive load: less than 5 % of the change in voltage
Voltage rise (and fall) time during abrupt
change, generator loaded with 100 Ω resistive
load: between 1 µs and 5 µs
Phase shifting: (if necessary) 0° to 360°
Phase relationship of voltage dips and inter-
ruptions with the power frequency: less than ± 10°
Output impedance shall be predominantly resistive.
The output impedance of the test voltage generator must be low even during the transition.

6.1.2  Verification of the characteristics of the voltage dips, short interruptions and
voltage variation generators
In order to compare the test results obtained from different test generators, the generator
characteristics shall be verified according to the following:
- the 100 %, 70 % and 40 % r.m.s. output voltages of the generator shall conform to those
percentages of the selected operating voltage: 230 V, 120 V, etc.;
- the r.m.s. values of all three voltages shall be measured at no lo
...

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-11
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1994 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-11:1994+A1:2000

Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
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Email: custserv@iec.ch
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Tél: +41 22 919 02 11
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Fax: +41 22 919 03 00
Fax: +41 22 919 03 00
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-11
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1994 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

 IEC 2001 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
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utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, any form or by any means, electronic or mechanical,
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Commission Electrotechnique Internationale
S
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For price, see current catalogue

– 2 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS.4

INTRODUCTION.8

Articles
1 Domaine d'application .10

2 Références normatives.10

3 Généralités.12
4 Définitions .12
5 Niveaux d'essai .14
5.1 Creux de tension et coupures brèves d'alimentation .14
5.2 Variations de tension (essai optionnel) .16
6 Instrumentation d'essai.18
6.1 Générateurs d'essai .18
6.2 Caractéristiques du transformateur de mesure du pic de courant transitoire .20
6.3 Source de puissance .22
7 Installation d'essai.22
8 Procédures d'essai .22
8.1 Conditions de référence en laboratoire .24
8.2 Exécution de l'essai.24
9 Evaluation des résultats d’essai .26
10 Rapport d’essai .26
Annexe A (normative) Détails des circuits d'essais .30
Annexe B (informative) Guide pour la sélection des niveaux d'essai .34
Annexe C (informative) Instrumentation d'essai .36
Figure 1 – Creux de tension.28
Figure 2 – Variation de tension .28
Figure A.1 – Circuit pour la détermination de la capacité de production du courant
d'appel d'un générateur de coupure brève .32
Figure A.2 – Circuit pour la détermination du courant d'appel crête d'un matériel

en essai.32
Figure C.1 a – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour creux de tension
et coupures brèves utilisant des transformateurs variables et des interrupteurs .38
Figure C.1 b – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour les creux de
tension, les coupures brèves et les variations de tension utilisant un amplificateur
de puissance .38
Figure C.2 – Schéma de principe d'une instrumentation d'essai simplifiée pour
les variations de tension .40
Tableau 1 – Niveaux d'essais et durées conseillés pour les creux de tension et les
coupures brèves .16
Tableau 2 – Durées des variations à court terme de la tension d'alimentation.16
Tableau B.1 .34

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD.5

INTRODUCTION.9

Clause
1 Scope.11

2 Normative references .11

3 General .13
4 Definitions .13
5 Test levels.15
5.1 Voltage dips and short interruptions .15
5.2 Voltage variations (optional).17
6 Test instrumentation.19
6.1 Test generators .19
6.2 Current monitor's characteristics for measuring peak inrush current capability.21
6.3 Power source .23
7 Test set-up .23
8 Test procedures .23
8.1 Laboratory reference conditions .25
8.2 Execution of the test.25
9 Evaluation of test results .27
10 Test report.27
Annex A (normative) Test circuit details .31
Annex B (informative) Guide for the selection of test levels.35
Annex C (informative) Test instrumentation .37
Figure 1 – Voltage dips.29
Figure 2 – Voltage variation .29
Figure A.1 – Circuit for determining the inrush current drive capability of the short
interruptions generator.33
Figure A.2 – Circuit for determining the peak inrush current requirement of an EUT.33

Figure C.1 a – Schematic of test instrumentation for voltage dips and short
interruptions using variable transformers and switches .39
Figure C.1 b – Schematic of test instrumentation for voltage dips, short interruptions
and variations using power amplifier .39
Figure C.2 – Schematic of a simplified test instrumentation for voltage variations .41
Table 1 – Preferred test levels and durations for voltage dips and short interruptions .17
Table 2 – Timing of short-term supply voltage variations.17
Table B.1 .35

– 4 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –

Essais d'immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence
La Norme internationale CEI 61000-4-11 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes
haute fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-11 de la CEI 61000. Cette norme a le statut de publication fonda-
mentale de CEM conformément au Guide 107 de la CEI.

La présente version consolidée de la CEI 61000-4-11 est issue de la première édition (1994)
[documents 77B(BC)17 et 77B(BC)20] et de son amendement 1 (2000) [documents
77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l’amendement 1.
L'annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B et C sont données uniquement à titre d'information.

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 5 –

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-11: Testing and measurement techniques –

Voltage dips, short interruptions and

voltage variations immunity tests

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-11 has been prepared by sub-committee 77B: High-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms part 4-11 of IEC 61000. It has the status of a Basic EMC Publication in accordance
with IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-11 is based on the first edition (1994) [documents
77B(CO)17 and 77B(CO)20] and its amendment 1 (2000) [documents 77B/291+293/FDIS
and 77B/298+300/RVD].
It bears the edition number 1.1.
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendment 1.
Annex A forms an integral part of this standard.
Annexes B and C are for information only.

– 6 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendement ne sera
pas modifié avant 2002. A cette date, la publication sera

• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 7 –

The committee has decided that the contents of the base publication and its amendment will
remain unchanged until 2002. At this date, the publication will be

• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or

• amended.
– 8 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

INTRODUCTION
La présente section de la partie 4 appartient à la série des normes CEI 61000, Compatibilité

électromagnétique (CEM), selon la structure suivante:

Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l'environnement
Classification de l'environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d'émission
Limites d'immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produit)
Partie 4: Techniques d'essais et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d'essai
Partie 5: Directives d'installation et d'atténuation
Directives d'installation
Méthodes d'atténuation et équipements
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en sections qui seront publiées soit comme normes
internationales, soit comme rapports techniques.
Ces normes et ces rapports seront publiés selon un ordre chronologique et numérotés de la
même façon.
La présente partie est une norme internationale qui donne les prescriptions d'immunité et les
procédures d'essais relatives aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension.

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 9 –

INTRODUCTION
This section of part 4 belongs to the IEC 61000 series, Electromagnetic compatibility (EMC),
according to the following structure:

Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into sections which are to be published either as international
standards or as technical reports.
These standards and reports will be published in chronological order and numbered
accordingly.
This part is an international standard which gives immunity requirements and test procedures

related to voltage dips, short interruptions and voltage variations.

– 10 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –

Essais d'immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

1 Domaine d'application
La présente section de la CEI 61000-4 a pour but de définir les méthodes d'essai d'immunité
et les gammes des niveaux d'essais conseillées pour les matériels électriques et
électroniques connectés aux réseaux basse tension, en ce qui concerne les creux de tension,
les coupures brèves et les variations de tension.
La norme s'applique à des matériels électriques et électroniques dont le courant
d'alimentation assigné ne dépasse pas 16 A par phase.
Elle ne s'applique pas à des matériels électriques et électroniques raccordés à des réseaux
de distribution à courant continu ou à courant alternatif à 400 Hz. Les essais concernant ces
réseaux seront couverts par de futures normes CEI.
Le but de cette norme est d'établir une référence commune pour l'évaluation de l'immunité
des matériels électriques et électroniques lorsqu'ils sont soumis à des creux de tension, des
coupures brèves et des variations de tension.
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente section de la CEI 61000-4.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente section de la
CEI 61000-4 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
registre des Normes Internationales en vigueur.
VEI 60050(161):1990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
CEI 60068-1:1988, Essais d'environnement – Première partie: Généralités et guide
CEI 61000-2-1:1990, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2: Environnement –

Section 1: Description de l'environnement – Environnement électromagnétique pour les
perturbations conduites basse fréquence et la transmission de signaux sur les réseaux
publics d'alimentation
CEI 61000-2-2:1990, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2: Environnement –
Section 2: Niveaux de compatibilité pour les perturbations conduites basse fréquence et la
transmission de signaux sur les réseaux publics d'alimentation à basse tension
CEI 61000-4-1:1992, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 1: Vue d'ensemble sur les essais d'immunité – Publication
fondamentale en CEM
61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 11 –

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-11: Testing and measurement techniques –

Voltage dips, short interruptions and

voltage variations immunity tests

1 Scope
This section of IEC 61000-4 defines the immunity test methods and range of preferred test
levels for electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks
for voltage dips, short interruptions, and voltage variations.
The standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not
exceeding 16 A per phase.
It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to d.c. networks or 400 Hz
a.c. networks. Tests for these networks will be covered by future IEC standards.
The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of
electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions, and
voltage variations.
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this section of IEC 61000-4. At the time of publication, the editions
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
agreements based on this section of IEC 61000-4 are encouraged to investigate the
possibility of applying the most recent editions of the normative documents indicated below.
Members of IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
IEV 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance
IEC 61000-2-1:1990, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2: Environment – Section 1:

Description of the environment – Electromagnetic environment for low-frequency conducted
disturbances and signalling in public power supply systems
IEC 61000-2-2:1990, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2: Environment – Section 2:
Compatibility levels for low-frequency conducted disturbances and signalling in public low-
voltage power supply systems
IEC 61000-4-1:1992, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 1: Overview of immunity tests – Basic EMC publication

– 12 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

3 Généralités
Les matériels électroniques et électriques peuvent être affectés par des creux de tension, des

coupures brèves ou des variations de la tension d'alimentation.

Les creux de tension et les coupures brèves sont provoqués par des défauts du réseau, de

l'installation ou par des changements soudains et importants de la charge. Dans certains cas,
deux ou plusieurs creux ou interruptions consécutifs peuvent se produire. Les variations de
tension sont causées par la variation continue des charges connectées au réseau.

Ces phénomènes sont de nature aléatoire et peuvent être caractérisés en termes de déviation

à partir de la tension assignée et en termes de durée. Les creux de tension et les coupures
brèves ne sont pas toujours brusques à cause du délai de réaction des machines tournantes
et des éléments de protection connectés au réseau. Si des grands réseaux d'alimentation
sont déconnectés (réseau intérieur d'usine ou réseau régional), la tension va décroître
graduellement à cause de toutes les machines tournantes qui sont connectées au réseau
d'alimentation. Durant un court instant, les machines tournantes vont fonctionner comme des
générateurs réinjectant de la puissance dans le réseau. Certains matériels sont plus
sensibles aux variations graduelles de tension qu'aux changements brusques. La plupart des
d'équipements informatiques comportent un détecteur d'absence de tension pour protéger et
sauvegarder les données de la mémoire interne de telle sorte qu'après que la tension soit
revenue, l'équipement redémarre correctement. Certains détecteurs d'absence de tension ne
réagissent pas suffisamment vite sur une diminution progressive de la tension. Par
conséquent, la tension continue d'alimentation des circuits intégrés descendra à un niveau
inférieur à la tension minimale de fonctionnement avant que le détecteur d'absence de
tension ne fonctionne, et les données seront perdues ou erronées. Quand l'alimentation sera
rétablie, l'équipement informatique ne sera pas capable de redémarrer correctement s'il n'a
pas été reprogrammé.
En conséquence, différents essais sont spécifiés dans cette norme pour simuler les effets des
changements brusques de tension, et, optionnellement, pour les raisons exposées ci-dessus,
un essai de type est aussi spécifié pour les changements progressifs de tension. Cet essai ne
doit être pratiqué que dans des cas particuliers et justifiés sous la responsabilité des
spécifications de produits ou des comités de produit.
Il est de la responsabilité des comités de produit d'établir quels sont les phénomènes qui les
concernent parmi ceux décrits dans cette norme et de décider de l'utilité de l'essai.
4 Définitions
Pour les besoins de la présente section de la CEI 61000-4, les définitions suivantes
s'appliquent:
4.1
1)
norme CEM fondamentale (ACEC)
norme donnant les conditions ou règles générales et fondamentales pour la réalisation de
la CEM qui ont rapport ou sont applicables à tous les produits et systèmes et servent
de documents de référence pour les comités de produit
4.2
immunité (à une perturbation)
aptitude d'un dispositif, d'un appareil ou d'un système à fonctionner sans dégradation en
présence d'une perturbation électromagnétique
[VEI 161-01-20]
––––––––
1)
Comité consultatif de la compatibilité électromagnétique (Advisory Committee on Electromagnetic Compatibility).

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 13 –

3 General
Electrical and electronic equipment may be affected by voltage dips, short interruptions or

voltage variations of power supply.

Voltage dips and short interruptions are caused by faults in the network, in installations or by

a sudden large change of load. In certain cases, two or more consecutive dips or interruptions

may occur. Voltage variations are caused by the continuously varying loads connected to the

network.
These phenomena are random in nature and can be characterized in terms of the deviation
from the rated voltage and duration. Voltage dips and short interruptions are not always
abrupt, because of the reaction time of rotating machines and protection elements connected
to the power supply network. If large mains networks are disconnected (local within a plant or
wide area within a region) the voltage will only decrease gradually due to the many rotating
machines, which are connected to the mains networks. For a short period, the rotating
machines will operate as generators sending power into the network. Some equipment is
more sensitive to gradual variations in voltage than to abrupt change. Most data-processing
equipment has built-in power-fail detectors in order to protect and save the data in the internal
memory so that after the mains voltage has been restored, the equipment will start up in the
correct way. Some power-fail detectors will not react sufficiently fast on a gradual decrease of
the mains voltage. Therefore, the d.c. voltage to the integrated circuits will decrease to a level
below the minimum operating voltage before the power-fail detector is activated and data will
be lost or distorted. When the mains voltage is restored, the data-processing equipment will
not be able to restart correctly before it has been re-programmed.
Consequently, different types of tests are specified in this standard to simulate the effects of
abrupt change voltage, and, optionally, for the reasons explained above, a type test is
specified also for gradual voltage change. This test is to be used only for particular and
justified cases, under the responsibility of product specification or product committees.
It is the responsibility of the product committees to establish which phenomena among the
ones considered in this standard are relevant and to decide on the applicability of the test.
4 Definitions
For the purpose of this section of IEC 61000-4, the following definitions apply:
4.1
1)
basic EMC standard (ACEC)
standard giving general and fundamental conditions or rules for the achievement of EMC,
which are related or applicable to all products and systems, and serve as reference
documents for product committees
4.2
immunity (to a disturbance)
the ability of a device, equipment or system to perform without degradation in the presence of
an electromagnetic disturbance
[IEV 161-01-20]
––––––––
1)
Advisory Committee on Electromagnetic Compatibility.

– 14 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

4.3
creux de tension d'alimentation

(définition utilisée dans le cadre de la présente norme). Brusque réduction de la tension en un

point du réseau électrique, suivie de son rétablissement après une courte durée, allant d'une

demi-période à quelques secondes
[VEI 161-08-10, modifié]
4.4
coupure brève
disparition de la tension d'alimentation pendant un temps qui ne dépasse pas 1 min. Les

coupures brèves peuvent être considérées comme des creux de tension d'amplitude 100 %.

(Voir aussi 8.1 de la CEI 61000-2-1)
4.5
variation de la tension d'alimentation
changement progressif de la tension d'alimentation passant à une valeur supérieure ou
inférieure à la tension assignée. La durée du changement peut être courte ou longue par
rapport à la durée de la période
4.6
défaut de fonctionnement
fin de la possibilité pour un équipement d'exécuter les fonctions pour lesquelles il est prévu,
ou exécution par l'équipement de fonctions imprévues
5 Niveaux d'essai
Les tensions données dans la présente norme utilisent la tension assignée du matériel (U )
T
comme base pour les spécifications des niveaux d'essais.
Lorsque les appareils fonctionnent dans une plage de tension d'alimentation, ce qui suit doit
s'appliquer:
– si la plage de tension ne dépasse pas 20 % de la plus basse tension spécifiée, on
spécifiera une seule tension dans cette plage comme base pour les spécifications des
niveaux d'essais (U );
T
– dans tous les autres cas, la procédure d'essai doit être appliquée pour la tension la plus
basse et pour la tension la plus haute dans la plage de tension;
– un guide pour la sélection des niveaux d'essais et des durées est donné dans l'annexe B.
5.1 Creux de tension et coupures brèves d'alimentation

Le changement de tension entre U et la tension modifiée est brusque. Le phénomène peut
T
commencer et s'arrêter à n'importe quel déphasage de la tension du réseau. Les niveaux de
tension d'essai suivants (en % de U ) sont utilisés: 0 %, 40 % et 70 % correspondant à des
T
creux et des interruptions de 100 %, 60 % et 30 %.
Les niveaux d'essai et les durées conseillés sont donnés au tableau 1, et un exemple en
est présenté à la figure 1. Les niveaux et les durées doivent figurer dans la spécification
du produit. Un niveau d'essai de 0 % correspond à une interruption totale de la tension
d'alimentation. En pratique, un niveau de tension d'essai de 0 % à 20 % de la tension
assignée peut être considéré comme une interruption totale.
Il convient que les durées les plus courtes données dans le tableau, en particulier la demi-
période, soient utilisées pour les essais afin de s'assurer que le matériel en essai fonctionne
selon ses performances.
61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 15 –

4.3
voltage dip
(definition used for the purpose of this standard). A sudden reduction of the voltage at a point

in the electrical system, followed by voltage recovery after a short period of time, from half a

cycle to a few seconds
[IEV 161-08-10, modified]
4.4
short interruption
the disappearance of the supply voltage for a period of time typically not exceeding 1 min.

Short interruptions can be considered as voltage dips with 100 % amplitude (see also 8.1,

IEC 61000-2-1)
4.5
voltage variation
a gradual change of the supply voltage to a higher or lower value than the rated voltage.
The duration of the change can be short or long with regard to the period
4.6
malfunction
the termination of the ability of an equipment to carry out intended functions or the execution
of unintended functions by the equipment
5 Test levels
The voltages in this standard use the rated voltage for the equipment (U ) as a basis for
T
voltage test level specification.
Where the equipment has a rated voltage range the following shall apply:
– if the voltage range does not exceed 20 % of the lower voltage specified for the rated
voltage range, a single voltage from that range may be specified as a basis for test level
specification (U );
T
– in all other cases, the test procedure shall be applied for both the lower and upper
voltages declared in the voltage range;
– guidance for the selection of test levels and durations is given in annex B.
5.1 Voltage dips and short interruptions
The change between U and the changed voltage is abrupt. The step can start and stop at
T
any phase angles on the mains voltage. The following test voltage levels (in % U ) are used:
T
0 %, 40 % and 70 %, corresponding to dips and interruptions of 100 %, 60 % and 30 %.
The preferred test levels and durations are given in table 1, and an example is shown in figure 1.
The levels and durations shall be given in the product specification. A test level of 0 % corres-
ponds to a total supply voltage interruption. In practice, a test voltage level from 0 % to 20 %
of the rated voltage may be considered as a total interruption.
Shorter durations in the table, in particular the half-cycle, should be tested to be sure that the
equipment under test (EUT) works in its intended performance.

– 16 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

Tableau 1 – Niveaux d'essais et durées conseillés pour

les creux de tension et les coupures brèves

Creux de tension
Niveau d'essai et coupures brèves Durée

(en périodes)
% U % U
T T
0,5*
0 100
40 60
70 30
x
* Pour 0,5 période, l'essai doit être réalisé en polarité positive et en polarité négative, c'est-à-dire
en commençant à 0° et à 180°.
NOTE 1  Un ou plusieurs des niveaux et durées d'essai ci-dessus peuvent être choisis.
NOTE 2  Si le matériel en essai est essayé pour des creux de tension de 100 %, il n'est
généralement pas nécessaire de l'essayer à d'autres niveaux pour les mêmes durées. Cependant,
dans certains cas (systèmes de sauvegarde ou dispositifs électromécaniques) ceci n'est pas vrai.
La spécification ou le comité du produit donneront des indications concernant la possibilité
d'application de cette note.
NOTE 3  «x» correspond à une durée «ouverte» qui peut figurer dans les spécifications du produit.
Les distributeurs ont mesuré en Europe des creux de tenson et des coupures brèves d'une durée
se situant entre ½ et 3 000 périodes, mais les durées inférieures à 50 périodes sont les plus
communes.
NOTE 4  Chaque durée peut être choisie pour chaque niveau d'essai.
5.2 Variations de tension (essai optionnel)
Cet essai spécifie une transition définie entre la tension assignée U et la tension modifiée.
T
NOTE  La variation de tension a lieu sur une courte période et peut se produire à cause du changement de charge
ou d'énergie stockée dans les réseaux privés d'alimentation.
La durée conseillée pour les variations de tension et la durée au cours de laquelle les
tensions réduites doivent être maintenues sont données au tableau 2. Il convient que le taux
de variation de la tension reste constant. Cependant, la tension peut varier par pas. Il
convient que ces pas s'effectuent aux points de passage par zéro et ils ne doivent pas avoir
une valeur supérieure à 10 % de U . Des pas de moins de 1 % de U sont considérés comme
T T
un taux de variation constant.
Tableau 2 – Durées des variations à court terme de la tension d'alimentation
Niveau d'essai Durée de baisse Durée de tension Durée de montée

de tension de tension réduite de tension
40 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
0 % U 2 s ± 20 % 1 s ± 20 % 2 s ± 20 %
T
xx x
NOTE  x représente un ensemble de durées ouvertes et peut être donné dans la spécification du produit.
La figure 2 montre les variations de la tension en fonction du temps. D'autres valeurs peuvent
être prises dans des cas justifiés et doivent être mentionnées dans la spécification du produit.

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Table 1 – Preferred test levels and durations for

voltage dips and short interruptions

Voltage dip and
Test level short interruptions Duration

(in period)
% U % U
T T
0,5*
0 100
40 60
70 30
x
* For 0,5 period, the test shall be made in positive and negative polarity, i.e. starting at 0° and
180° respectively.
NOTE 1  One or more of the above test levels and durations may be
...