IEC 61587-3:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61587-3
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-06
Structures mécaniques pour
équipement électronique –
Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 –
Partie 3:
Essais de performance du blindage
électromagnétique pour les baies,
les bâtis et les bacs à cartes

Mechanical structures for electronic equipment –
Tests for IEC 60917 and IEC 60297 –
Part 3:
Electromagnetic shielding performance tests
for cabinets, racks and subracks
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61587-3:2006
Numérotation des publications Publication numbering
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exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
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• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
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Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61587-3
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-06
Structures mécaniques pour
équipement électronique –
Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 –
Partie 3:
Essais de performance du blindage
électromagnétique pour les baies,
les bâtis et les bacs à cartes

Mechanical structures for electronic equipment –
Tests for IEC 60917 and IEC 60297 –
Part 3:
Electromagnetic shielding performance tests
for cabinets, racks and subracks

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International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
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– 2 – 61587-3  CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4

Domaine d'application et objet .8
2 Références normatives .8
3 Essais de performances du blindage électromagnétique.10
3.1 Essais de performances du blindage électromagnétique pour les baies et les
bacs à cartes.10
3.2 Conditions d'essai .10
3.3 Configuration d'essai .10
3.3.1 Etalonnage de l'antenne de référence .10
3.3.2 Antenne d'émission.10
3.3.3 Antenne de réception .12
3.3.4 Mesure de référence.12
3.3.5 Montage de l'antenne d'émission.12
3.3.6 Montage de l'éprouvette.12
3.4 Exigences d'essai.12
3.5 Résultats d'essai .14
3.5.1 Emplacements d'essai en champ libre.20
3.5.2 Chambres semi-anéchoïque ou complètement anéchoïque .22

Annexe A (informative) Exemple d'antenne dipôle sphérique (SDA) .24

Figure 1 – Configuration type de l'équipement d'essai .16
Figure 2 – Exemple de présentation des données de mesure .18
Figure 3 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de référence E1.20
Figure 4 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (baie) .20
Figure 5 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (bac à cartes).20
Figure 6 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de référence E1.22
Figure 7 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (baie) .22
Figure 8 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (bac à cartes).22
Figure A.1 – SDA .24
Figure A.2 – E/O-O/E .26
Figure A.3 – Valeur du champ électrique .28

Tableau 1 – Niveau d'affaiblissement du champ électrique .14

61587-3  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Scope and object.9
2 Normative references .9
3 Electromagnetic shielding performance test.11
3.1 Electromagnetic shielding performance tests for cabinets and subracks .11
3.2 Test conditions.11
3.3 Test configuration.11
3.3.1 Calibration of the reference antenna.11
3.3.2 Transmitting antenna.11
3.3.3 Receiving antenna.13
3.3.4 Reference measurement.13
3.3.5 Transmitting antenna set-up .13
3.3.6 Test specimen set-up .13
3.4 Test requirements .13
3.5 Test results .15
3.5.1 Open field test sites.21
3.5.2 Semi-anechoic or full anechoic chambers .23

Annex A (informative) An example of a spherical dipole antenna (SDA) .25

Figure 1 – Typical test equipment configuration .17
Figure 2 – Example of a measurement data presentation .19
Figure 3 – Set-up for measurement of reference field strength E1.21
Figure 4 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (cabinet).21
Figure 5 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (subrack).21
Figure 6 – Set-up for measurement of reference field strength E1.23
Figure 7 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (cabinet).23
Figure 8 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (subrack).23
Figure A.1 – SDA.25
Figure A.2 – E/O-O/E.27
Figure A.3 – Electric field strength .29

Table 1 – Electric field attenuation levels .15

– 4 – 61587-3  CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
STRUCTURES MÉCANIQUES POUR ÉQUIPEMENT ÉLECTRONIQUE –
ESSAIS POUR LA CEI 60917 ET LA CEI 60297 –

Partie 3: Essais de performance du blindage électromagnétique
pour les baies, les bâtis et les bacs à cartes

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI
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