Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines

IEC 60679-6:2011 applies to the phase jitter measurement of quartz crystal oscillators and SAW oscillators used for electronic devices and gives guidance for phase jitter that allows the accurate measurement of r.m.s. jitter. In the measurement method, phase noise measurement equipment or a phase noise measurement system is used. The measuring frequency range is from 10 MHz to 1 000 MHz. This standard applies to quartz crystal oscillators and SAW oscillators used in electronic devices and modules that have the multiplication or division functions based on these oscillators. The type of phase jitter applied to these oscillators is the r.m.s. jitter. This standard cancels and replaces IEC/PAS 60679-6 published in 2008. This first edition constitutes a technical revision.

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 6: Méthode de mesure de la gigue de phase pour les oscillateurs à quartz et les oscillateurs SAW - Lignes directrices pour l'application

La CEI 60679-6:2011 s'applique à la mesure de la gigue de phase des oscillateurs à quartz et des oscillateurs SAW utilisés sur des appareils électroniques. Elle fournit également des lignes directrices sur la gigue de phase qui permet de mesurer précisément une gigue en valeurs efficaces. Dans la méthode de mesure, un appareil de mesure des bruits de phase ou un système de mesure des bruits de phase est utilisé. La gamme de fréquences mesurées s'étend de 10 MHz à 1 000 MHz. La présente norme concerne les oscillateurs à quartz et les oscillateurs SAW utilisés sur des appareils électroniques et des modules dont les fonctions de multiplication ou de division sont basées sur ces oscillateurs. Le type de gigue de phase qui s'applique à ces oscillateurs est la gigue en valeur efficace. Cette norme annule et remplace l'IEC/PAS 60679-6 publié en 2008. Cette première édition constitue une révision technique.

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
13-Mar-2011
Withdrawal Date
07-Feb-2018
Current Stage
WPUB - Publication withdrawn
Start Date
09-Feb-2018
Completion Date
14-Feb-2018
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IEC 60679-6:2011 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines Released:3/14/2011
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Standards Content (Sample)

IEC 60679-6


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Edition 1.0 2011-03



INTERNATIONAL



STANDARD



NORME
INTERNATIONALE
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Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality –
Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW
oscillators – Application guidelines

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité –
Partie 6: Méthode de mesure de la gigue de phase pour les oscillateurs à quartz
et les oscillateurs SAW – Lignes directrices pour l'application


IEC 60679-6:2011

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