ISO 25178-605:2014

NORME ISO
INTERNATIONALE25178-605
Première édition
2014-02-01
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
Surfacique —
Partie 605:
Caractéristiques nominales des
instruments sans contact (capteur
autofocus à point)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal —
Part 605: Nominal characteristics of non-contact (point autofocus
probe) instruments
Numéro de référence
©
ISO 2014
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l’internet ou sur un Intranet, sans autorisation écrite préalable. Les demandes d’autorisation peuvent être adressées à l’ISO à
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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .vi
1 Domaine d’application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
3.1 Termes et définitions en rapport avec toutes les méthodes de mesure de l’état de
surface surfacique . 2
3.2 Termes et définitions en rapport avec les systèmes de scanning x et y .10
3.3 Termes et définitions en rapport avec les systèmes optiques .12
3.4 Termes et définitions en rapport avec les propriétés optiques de la pièce .13
3.5 Termes et définitions spécifiques à la profilométrie par autofocus à point .14
4 Descriptions des grandeurs d’influence .15
4.1 Généralités .15
4.2 Grandeurs d’influence.16
Annexe A (informative) Principes généraux .17
Annexe B (informative) Taille du spot et déplacement focal .21
Annexe C (informative) Direction du décalage du faisceau et pente locale maximale acceptable .24
Annexe D (informative) Caractéristiques d’un instrument de mesure de l’état de
surface surfacique .27
Annexe E (informative) Autres: Point non mesuré (erreur d’autofocus) .29
Annexe F (informative) Relation avec la matrice GPS .30
Bibliographie .32
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne
la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/CEI, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/CEI, Partie 2 (voir www.
iso.org/directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou sur la liste ISO des déclarations de
brevets reçues (voir www.iso.org/brevets).
Les éventuelles appellations commerciales utilisées dans le présent document sont données pour
information à l’intention des utilisateurs et ne constituent pas une approbation ou une recommandation.
Pour une explication de la signification des termes et expressions spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation
de la conformité, aussi bien que pour des informations au sujet de l’adhésion de l’ISO aux principes de
l’OMC concernant les obstacles techniques au commerce (OTC) voir le lien suivant: Avant-propos —
Informations supplémentaires.
Le comité chargé de l’élaboration du présent document est l’ISO/TC 213, Spécifications et vérification
dimensionnelles et géométriques des produits.
L’ISO 25178 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Spécification géométriques
des produits (GPS) — État de surface: Surfacique:
— Partie 1: Indication des états de surface
— Partie 2: Termes, définitions et paramètres d’états de surface
— Partie 3: Opérateurs de spécification
— Partie 6: Classification des méthodes de mesurage de l’état de surface
— Partie 70: Mesure matérialisées
— Partie 71: Étalons logiciels
— Partie 601: Caractéristiques nominales des instruments à contact (à palpeur)
— Partie 602: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à capteur confocal chromatique)
— Partie 603: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (microscopes interférométriques
à glissement de franges)
— Partie 604: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (microscopes interférométriques
par balayage à cohérence)
— Partie 605: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (capteur autofocus à point)
— Partie 606: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à variation focale)
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— Partie 701: Étalonnage et étalons de mesure pour les instruments à contact (à palpeur)
Les parties suivantes sont en préparation:
— Partie 72: Format de fichier XML x3p
L’étalonnage et les étalons de mesure pour les instruments sans contact, à capteur confocal chromatique
et microscopes interférométriques à glissement de franges, feront l’objet des futures Parties 702 et 703.
Une Partie 600 est prévue, qui comportera des dispositions communes aux autres parties du niveau 600
de l’ISO 25178. Une fois la Partie 600 soumise en tant que projet final de Norme internationale (FDIS),
les dispositions des autres parties du niveau 600 en redondance avec les dispositions de la Partie 600
en seront retirées.
Introduction
La présente partie de l’ISO 25178 est une norme traitant de la spécification géométrique des produits et
doit être considérée comme une norme GPS générale (voir l’ISO/TR 14638). Elle influence le maillon 5
des chaînes de normes concernant le profil de rugosité, le profil d’ondulation, le profil primaire et l’état
de surface surfacique.
Pour de plus amples informations sur la relation de la présente norme avec la matrice GPS, voir l’Annexe G.
Le schéma directeur ISO/GPS de l’ISO/TR 14638 donne une vue d’ensemble du système ISO/GPS
dont la présente norme fait partie intégrante. Les règles fondamentales de l’ISO/GPS indiquées dans
l’ISO 8015 s’appliquent à la présente norme et les règles de décision par défaut de l’ISO 14253-1
s’appliquent aux spécifications établies conformément à la présente norme, sauf indication contraire.
Le principe optique d’autofocus à point peut être mis en œuvre de diverses manières. La configuration
décrite dans le présent document comprend trois éléments de base: un système optique autofocus, un
mécanisme autofocus et un dispositif de commande électronique.
Ce type d’instrument est principalement conçu pour les mesurages surfaciques, mais est également
capable d’effectuer des mesurages de profil.
La présente partie de l’ISO 25178 décrit les caractéristiques métrologiques d’un profilomètre optique
utilisant un capteur autofocus à point pour le mesurage de l’état de surface surfacique.
Pour de plus amples informations sur la méthode par autofocus à point, voir l’Annexe A. La consultation
de cette annexe avant la lecture du corps principal peut aider à comprendre la présente norme.
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NORME INTERNATIONALE ISO 25178-605:2014(F)
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de
surface: Surfacique —
Partie 605:
Caractéristiques nominales des instruments sans contact
(capteur autofocus à point)
1 Domaine d’application
La présente partie de l’ISO 25178 décrit les caractéristiques métrologiques d’un instrument sans contact
pour le mesurage de l’état de surface à l’aide d’un capteur autofocus à point.
2 Références normatives
Les documents suivants, en tout ou partie, sont référencés de manière normative dans le présent
document et sont indispensables à son application. Pour les références datées, seule l’édition citée
s’applique. Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y
compris les éventuels amendements).
ISO 4287:1997, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil —
Termes, définitions et paramètres d’état de surface
ISO 10360-1, Spécification géométrique des produits (GPS) — Essais de réception et de vérification
périodique des machines à mesurer tridimensionnelles (MMT) — Partie 1: Vocabulaire
ISO 14406:2010, Spécification géométrique des produits (GPS) — Extraction
ISO 14978:2006, Spécification géométrique des produits (GPS) - Concepts et exigences généraux pour les
équipements de mesure GPS
ISO 25178-2:2012, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique — Partie 2:
Termes, définitions et paramètres d’états de surface
ISO 25178-3:2012, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique — Partie 3:
Opérateurs de spécification
ISO 25178-6:2010, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique — Partie 6:
Classification des méthodes de mesurage de l’état de surface
ISO 25178-601:2010, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique —
Partie 601: Caractéristiques nominales des instruments à contact (à palpeur)
ISO 25178-602:2010, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique —
Partie 602: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à capteur confocal chromatique)
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO 4287, l’ISO 10360-1,
l’ISO 14406, l’ISO 14978, l’ISO 25178-2, l’ISO 25178-3, l’ISO 25178-6, l’ISO 25178-601, l’ISO 25178-602,
ainsi que les suivants s’appliquent.
3.1 Termes et définitions en rapport avec toutes les méthodes de mesure de l’état de
surface surfacique
3.1.1
référence surfacique
composant de l’instrument générant la surface de référence par rapport à laquelle la topographie de la
surface est mesurée
3.1.2
système de coordonnées de l’instrument
système d’axes (x,y,z) orthonormé de sens direct
Note 1 à l’article: Dans ce système, (x,y) est le plan constitué par la référence surfacique de l’instrument (il est à
noter que certains instruments optiques ne possèdent pas de guide surfacique physique).
Note 2 à l’article: Dans ce système, l’axe z est monté parallèle à l’axe optique et perpendiculaire au plan (x,y) pour
un instrument optique. L’axe z est dans le plan de la trajectoire du stylet et perpendiculaire au plan (x,y) pour un
instrument à stylet (voir Figure 1).
Note 3 à l’article: Normalement, l’axe X est l’axe d’avance et l’axe Y, celui de déplacement entre chaque profil (la
présente note est valable pour les instruments à balayage dans le plan horizontal).
Note 4 à l’article: Voir aussi système de coordonnées de spécification et système de coordonnées du mesurage, comme
définis dans l’ISO 25178-2:2012, 3.1.2, et l’ISO 25178-6:2010, 3.1.1, respectivement.
3.1.3
boucle de mesure
chaine fermée comprenant tous les composants connectant la pièce et le palpeur, par exemple le matériel
de positionnement, le dispositif de serrage de la pièce, la table de mesure, les unités d’avance et de
déplacement transversal, le système de palpage
Note 1 à l’article: Voir Figure 1. La boucle de mesure sera soumise à des perturbations extérieures et intérieures
qui influencent l’incertitude de mesure.
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Z
Y
X
Légende
1 système de coordonnées de l’instrument
2 boucle de mesure
Figure 1 — Système de coordonnées et boule de mesure de l’instrument
3.1.4
surface réelle d’une pièce
ensemble des éléments qui existent physiquement et séparent la totalité de la pièce de son environnement
[SOURCE: ISO 14660-1:1999, 2.4]
Note 1 à l’article: La surface réelle est une représentation mathématique de la surface qui est indépendante du
processus de mesurage.
Note 2 à l’article: Voir aussi surface mécanique, comme défini dans l’ISO 25178-2:2012, 3.1.1.1, ou ISO 14406:2010,
3.1.1, et surface électromagnétique, comme défini dans l’ISO 25178-2:2012, 3.1.1.2, ou ISO 14406:2010, 3.1.2.
Note 3 à l’article: La surface électromagnétique considérée pour un type d’instrument optique peut être différente
de la surface électromagnétique pour d’autres types d’instruments optiques.
3.1.5
palpeur de surface
dispositif convertissant la hauteur de la surface en un signal pendant le mesurage
Note 1 à l’article: Appelé «transducteur» dans les normes antérieures.
3.1.6
volume de mesure
étendue de l’instrument définie par les limites simultanées de toutes les coordonnées spatiales mesurées
par l’instrument
Note 1 à l’article: Pour les instruments mesurant l’état de surface surfacique, le volume de mesure est défini par:

—  l’étendue de mesure des unités d’avance x et à déplacement transversal y,
—  l’étendue de mesure du système de palpage z.
[SOURCE: ISO 25178-601:2010, 3.4.1]
3.1.7
courbe de réponse
F , F , F
x y z
représentation graphique de la fonction décrivant la relation entre la grandeur réelle et la grandeur
mesurée
Note 1 à l’article: Voir Figure 2.
Note 2 à l’article: Une grandeur réelle en x (respectivement y ou z) correspond à une grandeur mesurée x
M
(respectivement y ou z ).
M M
Note 3 à l’article: La courbe de réponse peut être utilisée pour l’ajustage d’un système de mesure et la correction
des erreurs.
[SOURCE: ISO 25178-601:2010, 3.4.2]
3.1.8
coefficient d’amplification
α , α , α
x y z
pente de la courbe de régression linéaire obtenue à partir de la courbe de réponse
Note 1 à l’article: Voir Figure 3.
Note 2 à l’article: Il y aura des coefficients d’amplification applicables aux grandeurs en x, y et z.
Note 3 à l’article: La réponse idéale est une ligne droite avec une pente égale à 1, signifiant que les valeurs du
mesurande sont égales aux valeurs des grandeurs d’entrée.
[1]
Note 4 à l’article: Voir aussi sensibilité (VIM , 4.12).
[ISO 25178-601:2010, 3.4.3, modifiée — La Note 4 a été ajoutée.]
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Légende
1 courbe de réponse
2 évaluation de l’écart de linéarité par approximation polynomiale
3 grandeurs mesurées
4 grandeurs d’entrée
Figure 2 — Exemple de courbe de réponse non linéaire
Légende
1 grandeurs mesurées
2 grandeurs d’entrée
3 courbe de réponse idéale
linéarisation de la courbe de réponse de la Figure 2
5 ligne à partir de laquelle le coefficient d’amplification α (pente) est dérivé
6 erreur locale résiduelle de correction
Figure 3 — Exemple de linéarisation d’une courbe de réponse
3.1.9
bruit de l’instrument
N
I
bruit interne ajouté au signal de sortie, causé par l’instrument lorsqu’il est placé de façon idéale dans un
environnement non générateur de bruit
Note 1 à l’article: Le bruit interne peut être dû au bruit électronique, tel que celui des amplificateurs, ou au bruit
optique, tel que celui de la lumière parasite.
Note 2 à l’article: Ce bruit a généralement des fréquences élevées et il limite la capacité de l’instrument à détecter
les longueurs d’onde spatiales à petite échelle de l’état de surface.
Note 3 à l’article: Le filtre S conforme à l’ISO 25178-3 peut réduire ce bruit.
Note 4 à l’article: Pour certains instruments, le bruit généré ne peut pas être estimé car l’instrument n’acquiert
des données que lorsqu’il est en mouvement.
3.1.10
bruit de mesure
N
M
bruit ajouté au signal de sortie, survenant pendant l’utilisation normale de l’instrument
Note 1 à l’article: Les notes 2 et 3 en 3.1.9 s’appliquent aussi à cette définition.
Note 2 à l’article: Le bruit de mesure inclut le bruit de l’instrument.
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3.1.11
répétabilité de la topographie d’une surface
répétabilité de la carte topographique lors de mesurages successifs de la même surface dans les mêmes
conditions de mesure
Note 1 à l’article: La répétabilité de la topographie d’une surface fournit une grandeur de l’accord probable entre
des mesurages répétés, normalement exprimée en écart-type.
[1]
Note 2 à l’article: Voir le VIM , 2.15 et 2.21, pour une discussion générale sur la répétabilité et les concepts sous-
jacents.
Note 3 à l’article: L’évaluation de la répétabilité de la topographie d’une surface est la méthode couramment
utilisée pour déterminer le bruit de mesure.
3.1.12
pas d’échantillonnage en x [y]
D [D ]
x y
distance entre deux points adjacents mesurés suivant l’axe x- ou -y
Note 1 à l’article: Dans de nombreux systèmes de microscopie, le pas d’échantillonnage est déterminé par la
distance entre les éléments capteurs d’une caméra, appelés pixels. Pour ces systèmes, les termes pas des pixels et
espacement des pixels sont souvent utilisés à la place du terme pas d’échantillonnage. Un autre terme, largeur de
pixel, désigne une longueur associée à un côté (x ou y) de la zone sensible d’un seul pixel et est toujours inférieure
à l’espacement des pixels. Un autre terme, zone d’échantillonnage, peut également être utilisé pour indiquer la
longueur ou région sur laquelle un échantillon de hauteur est déterminé. Cette grandeur pourrait être supérieure
ou inférieure au pas d’échantillonnage.
3.1.13
pas de numérisation en z
D
Z
plus petite variation de hauteur suivant l’axe z entre deux ordonnées de la surface extraite
3.1.14
résolution latérale
R
l
plus petite distance pouvant être détectée entre deux éléments de surface
[SOURCE: ISO 25178-601:2010, 3.4.10]
3.1.15
largeur limite pour une transmission de la hauteur totale
W
l
plus petite largeur de rainure rectangulaire dont la hauteur mesurée reste inchangée par le mesurage
Note 1 à l’article: Il convient de choisir les propriétés de l’instrument telles que:

—  le pas d’échantillonnage en x et en y,

—  le pas de numérisation en z, et

—  le filtre de coupure des longueurs d’onde courtes;

de sorte qu’elles n’influencent pas la résolution latérale et la largeur limite pour une transmission de la hauteur
totale.
Note 2 à l’article: Lors de la détermination de ce paramètre par mesurage, il convient que la profondeur de la
rainure rectangulaire soit proche de celle de la surface à mesurer.
Note 3 à l’article: Un exemple est le mesurage d’une grille dont les rainures sont plus larges que la largeur limite
pour une transmission de la hauteur totale. Cela conduit à un mesurage correct de la profondeur de rainure (voir
Figures 4 et 5).
Note 4 à l’article: Un autre exemple est mesurage d’une grille dont les rainures sont plus étroites que la largeur
limite pour une transmission de la hauteur totale. Cela conduit à un mesurage incorrect de la profondeur de rainure
(voir Figures 6 et 7). Dans cette situation, le signal est généralement perturbé et peut contenir des points non
mesurés.
[ISO 25178-601:2010, 3.4.11, modifiée — Les notes originales ont été remplacées.]
Figure 4 — Grille avec espacement horizontal où t est supérieur ou égal à W
l
Figure 5 — Mesurage de la grille de la Figure 4 — L’espacement et la profondeur de la grille sont
correctement mesurés
Figure 6 — Grille avec espacement horizontal où t’ est inférieur à W
l
Figure 7 — Mesurage de la grille de la Figure 6 — L’espacement est correctement mesuré mais
la profondeur est plus petite (d’ < d)
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3.1.16
période latérale limite
D
LIM
période spatiale d’un profil sinusoïdal à laquelle la réponse d’un instrument lors du mesurage de la
hauteur chute à 50 %
Note 1 à l’article: La période latérale limite est une grandeur de mesure utilisée pour décrire la résolution
spatiale ou latérale d’un instrument de mesure de topographie d’une surface, ainsi que sa capacité à distinguer
et mesurer les éléments de surface faiblement espacés. Sa valeur dépend de la hauteur des éléments de surface
et de la méthode de palpage utilisée sur la surface. Les valeurs maximales de ce paramètre sont indiquées dans
le Tableau 3 de l’ISO 25178-3:2012 en fonction des valeurs recommandées pour les filtres (S) de faible longueur
d’onde et des pas d’échantillonnage.
Note 2 à l’article: La période spatiale utilise le même concept que la longueur d’onde spatiale et correspond à
l’inverse de la fréquence spatiale.
Note 3 à l’article: Un facteur lié à la valeur de D pour les outils optiques est le critère de Rayleigh (3.3.7). Un
LIM
autre facteur est le degré de focalisation de l’objectif sur la surface.
Note 4 à l’article: Un facteur associé à la valeur de D pour les outils à contact est le rayon de la touche du stylet,
LIM
r (voir l’ISO 25178-601).
TIP
Note 5 à l’article: Les autres termes liés à la période latérale limite sont la résolution structurelle et la résolution
spatiale topographique
3.1.17
pente locale maximale
pente locale la plus raide d’un élément de la surface pouvant être évaluée par le système de palpage
Note 1 à l’article: Le terme «pente locale» est défini dans l’ISO 4287:1997, 3.2.9.
3.1.18
fonction de transfert d’un instrument
ITF
f
ITF
fonction de fréquence spatiale décrivant la réponse d’un instrument de mesure de topographie d’une
surface, à une topographie de surface d’un objet ayant une fréquence spatiale spécifique
Note 1 à l’article: De façon idéale, la valeur ITF indique l’amplitude qui serait mesurée pour une grille sinusoïdale
d’une fréquence spatiale spécifiée, υ, par rapport à l’amplitude réelle de la grille.
Note 2 à l’article: Pour plusieurs types d’instruments optiques, la valeur ITF peut être une fonction non linéaire de
la hauteur, sauf pour les hauteurs nettement inférieures à la longueur d’onde optique.
3.1.19
hystérésis
x , y , z
HYS HYS HYS
propriété d’un équipement de mesure ou d’une caractéristique dont l’indication, lorsqu’il s’agit d’un
équipement de mesure, ou la valeur, lorsqu’il s’agit d’une caractéristique, dépend de l’orientation des
signaux d’entrée
Note 1 à l’article: L’hystérésis peut également dépendre, par exemple, de la longueur du déplacement après
modification de l’orientation des signaux d’entrée.
Note 2 à l’article: Pour les systèmes de scanning latéral, l’hystérésis est principalement une erreur de
repositionnement.
[SOURCE: ISO 14978:2006, 3.24]
3.1.20
caractéristique métrologique
<équipement de mesure> caractéristique susceptible d’avoir une influence sur les résultats de mesurage
Note 1 à l’article: L’étalonnage des caractéristiques métrologiques peut être nécessaire.
Note 2 à l’article: Les caractéristiques métrologiques ont une contribution immédiate à l’incertitude de mesure.
Note 3 à l’article: Les caractéristiques métrologiques des instruments de mesure de l’état de surface surfacique
sont données dans le Tableau 1.
[ISO 14978:2006, 3.12, modifiée — Les notes originales ont été remplacées.]
Tableau 1 — Liste des caractéristiques métrologiques pour les méthodes de mesure de l’état de
surface
Caractéristique métrologique Symbole Définition Erreur poten-
tielle principale
suivant l’axe
Coefficient d’amplification α , α , α 3.1.8 (voir Figure 3) x, y, z
x y z
Écart de linéarité l , l , l Écart local maximal entre la droite qui sert x, y, z
x y z
à déterminer le coefficient d’amplification
(voir Figure 3, point 5) et la courbe de
réponse (voir Figure 3, point 4)
Planéité résiduelle z Planéité de la référence surfacique z
FLT
Bruit de mesure N 3.1.10 z
M
Période latérale limite D 3.1.16 z
LIM
Perpendicularité Δ Écart par rapport à 90° de l’angle entre les x, y
PERxy
axes x et y
3.2 Termes et définitions en rapport avec les systèmes de scanning x et y
3.2.1
référence de guidage surfacique
composant(s) de l’instrument générant la surface de référence, sur laquelle le système de palpage se
déplace suivant une trajectoire théoriquement exacte par rapport à la surface mesurée
Note 1 à l’article: Dans le cas d’instruments de mesure de l’état de surface surfacique par scanning x et y, la
référence de guidage surfacique fournit une surface de référence [ISO 25178-2:2012, 3.1.8]. Elle peut être obtenue
en utilisant deux références de guidage linéaire et perpendiculaire [ISO 3274:1996, 3.3.2] ou une référence de
guidage surfacique.
3.2.2
système de scanning latéral
système réalisant le balayage de la surface à mesurer dans le plan (x,y)
Note 1 à l’article: Il existe essentiellement quatre composants à considérer dans un instrument de mesure de l’état
de surface à contact: l’unité d’avance (x), l’unité à déplacement transversal ( y), le palpeur de mesure de la hauteur
(z) et la surface à mesurer. Ces composants peuvent être configurés de différentes manières et les différentes
configurations présenteront donc des différences, comme l’explique le Tableau 2.
Note 2 à l’article: Lorsqu’un mesurage comprend un champ de vision unique d’un microscope, le scanning x et y
[2]
n’est pas utilisé. En revanche, lorsque plusieurs champs de vision sont assemblés par des méthodes de stitching,
le système est assimilé à un système de scanning.
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Tableau 2 — Différentes configurations possibles des références de guidage (x et y)
Unités d’avance et à déplacement transversal
Deux références de guidage Une référence de guidage
(x et y) surfacique
Px o Cy Px o Py Cx o Cy Pxy Cxy
A: sans correction de
l’erreur de distorsion Px o Cy-A Px o Py-A Cx o Cy-A Pxy-A Cxy-A
Système
d’arc
de pal-
S: avec ou sans cor-
page
rection de l’erreur de Px o Cy-S Px o Py-S Cx o Cy-S Pxy-S Cxy-S
distorsion d’arc
Pour deux fonctions données f et g, f o g est la combinaison de ces fonctions
.
Px = systèmes de palpage se déplaçant suivant l’axe x
Py = systèmes de palpage se déplaçant suivant l’axe y
Cx = composant se déplaçant suivant l’axe x
Cy = composant se déplaçant suivant l’axe y
3.2.3
unité d’avance x [à déplacement transversal y]
composant de l’instrument déplaçant le système de palpage ou la surface mesurée su
...