IEC 61988-2-2:2003

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61988-2-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-02
Panneaux d'affichage à plasma –
Partie 2-2:
Méthodes de mesure –
Méthodes opto-électriques
Plasma display panels –
Part 2-2:
Measuring methods –
Optoelectrical
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61988-2-2:2003
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
(http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) (http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)
est aussi disponible par courrier électronique. is also available by email. Please contact the
Veuillez prendre contact avec le Service client Customer Service Centre (see below) for further
(voir ci-dessous) pour plus d’informations. information.
• Service clients • Customer Service Centre
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clients:
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61988-2-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-02
Panneaux d'affichage à plasma –
Partie 2-2:
Méthodes de mesure –
Méthodes opto-électriques
Plasma display panels –
Part 2-2:
Measuring methods –
Optoelectrical
 IEC 2003 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
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N
Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 61988-2-2  CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4
1 Domaine d’application. 8
2 Références normatives . 8
3 Définitions . 8
4 Structure du dispositif de mesure. 8
5 Conditions normales de mesure. 8
5.1 Conditions d'environnement. 8
5.2 Conditions d’éclairage .10
5.3 Conditions de mise en œuvre .12
6 Méthodes de mesure .14
6.1 Méthode de mesure du rapport de contraste en environnement lumineux 100/70.14
6.2 Méthodes de mesure de la puissance du module et de
sa consommation de courant .18
6.3 Méthode de mesure de l’efficacité lumineuse du module.24
Figure 1 – Système de mesure et installation .12
Figure 2 – Exemple de conditions d'environnement lumineux .14
Figure 3 – Configuration de mesure de la luminance d'une fenêtre de test de 4 % .16
Figure 4 – Configuration de mesure de la luminance minimum .18
Figure 5 – Exemple de schéma de mesure de la puissance et du courant .20
Figure 6 – Points de mesure .26
Tableau 1 – Exemple de mesures de puissance et de courant (pour un module qui
inclut une alimentation AC) .22
Tableau 2 – Exemple de mesures de puissance et de courant (pour un module
alimenté DC uniquement).22

61988-2-2  IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope . 9
2 Normative references. 9
3 Definitions . 9
4 Structure of measuring equipment . 9
5 Standard measuring conditions. 9
5.1 Environmental conditions. 9
5.2 Lighting conditions.11
5.3 Set-up conditions.13
6 Measuring methods .15
6.1 Measuring method of bright-room contrast ratio 100/70 .15
6.2 Measuring methods of module power and current consumption .19
6.3 Measuring method of module luminous efficacy .25
Figure 1 – Measuring system and its arrangement .13
Figure 2 – Example of bright-room conditions.15
Figure 3 – Four percent window luminance measuring pattern .17
Figure 4 – Minimum luminance measuring pattern.19
Figure 5 – Example of power and current measuring .21
Figure 6 – Measuring points .27
Table 1 – Example of power and current measurements (for a module that includes
an AC input).23
Table 2 – Example of power and current measurements (for a module with DC inputs only).23

– 4 – 61988-2-2  CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
PANNEAUX D’AFFICHAGE À PLASMA –
Partie 2-2: Méthodes de mesure – Méthodes opto-électriques
AVANT-PROPOS
(1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité
national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et
non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore
étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord
entre les deux organisations.
(2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la
mesure du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
(3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
(4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer
de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs
normes nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou
régionale correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
(5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa
responsabilité n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
(6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61988-2-2 a été établie par le sous-comité 47C: Dispositifs
d'affichage à panneaux plats, du comité d'études 47 de la CEI: Dispositifs à semi-
conducteurs.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
47C/286/FDIS 47C/293/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.

61988-2-2  IEC:2003 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
PLASMA DISPLAY PANELS –
Part 2-2: Measuring methods – Optoelectrical
FOREWORD
(1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic
fields. To this end and in addition to other activities, the IEC published International Standards. Their pre-
paration is entrusted to technical committees; any IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. In
...