Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-30: Testing and measurement techniques - Power quality measurement methods

Defines the methods for measurement and interpretation of results for power quality parameters in 50/60 Hz a.c. power supply systems. The power quality parameters considered in this standard are power frequency, magnitude of the supply voltage, flicker, supply voltage dips and swells, voltage interruptions, transient voltages, supply voltage unbalance, voltage and current harmonics and interharmonics, mains signalling on the supply voltage and rapid voltage changes. Depending on the purpose of the measurement, all or a subset of the phenomena on this list may be measured. This standard is a performance specification, not a design specification. The uncertainty tests in the ranges of influence quantities in this standard determine the performance requirements. This standard gives measurement methods but does not set thresholds. The contents of the corrigendum of August 2006 have been included in this copy.

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-30: Techniques d'essai et de mesure - Méthodes de mesure de la qualité de l'alimentation

Définit les méthodes de mesure des paramètres de qualité de l'alimentation des réseaux à courant alternatif 50/60 Hz et la façon d'interpréter les résultats. Les paramètres de qualité de l'alimentation pris en compte dans le présent document sont la fréquence, l'amplitude de la tension d'alimentation, le papillotement («flicker»), les creux et les surtensions temporaires d'alimentation, les coupures de tension, les tensions transitoires, le déséquilibre de tension d'alimentation, les harmoniques et interharmoniques de tension et de courant, les signaux transmis sur la tension d'alimentation et les variations rapides de tension. En fonction de l'objet de la mesure, les mesures peuvent porter soit sur une partie des phénomènes de cette liste, soit sur l'ensemble. La présente norme définit des méthodes de mesure mais ne constitue pas une spécification de réalisation. Les essais de précision dans le domaine de variation des grandeurs d'influence de la présente norme sont utilisés comme exigence fonctionnelle. La présente norme indique des méthodes de mesure sans fixer de seuils. Le contenu du corrigendum d'août 2006 a été pris en considération dans cet exemplaire.

General Information

Status
Published
Publication Date
10-Feb-2003
Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
Start Date
12-Oct-2008
Completion Date
26-Oct-2025
Ref Project

Relations

Standard
IEC 61000-4-30:2003 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-30: Testing and measurement techniques - Power quality measurement methods Released:2/11/2003
English language
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Standard
IEC 61000-4-30:2003 - Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-30: Techniques d'essai et de mesure - Méthodes de mesure de la qualité de l'alimentation Released:2/11/2003
French language
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Standard
IEC 61000-4-30:2003 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-30: Testing and measurement techniques - Power quality measurement methods Released:2/11/2003 Isbn:2831868491
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Standards Content (Sample)


INTERNATIONAL IEC
STANDARD
61000-4-30
First edition
2003-02
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-30:
Testing and measurement techniques –
Power quality measurement methods
This English-language version is derived from the original
bilingual publication by leaving out all French-language
pages. Missing page numbers correspond to the French-
language pages.
Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the

60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,

edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base

publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this
publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications
(see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on
the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical
committee which has prepared this publication, as well as the list of publications
issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to
search by a variety of criteria including text searches, technical committees and
date of publication. On-line information is also available on recently issued
publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/ justpub) is
also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below)
for further information.
• Customer Service Centre
If you have any questions regarding this publication or need further assistance,
please contact the Customer Service Centre:

Email: custserv@iec.ch
Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
INTERNATIONAL IEC
STANDARD
61000-4-30
First edition
2003-02
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-30:
Testing and measurement techniques –
Power quality measurement methods

 IEC 2003 Copyright - all rights reserved
No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical,
including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
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International Electrotechnical Commission
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61000-4-30 © IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5

INTRODUCTION .7

1 Scope . 9

2 Normative references. 9

3 Definitions.11

4 General.19

4.1 Classes of measurement performance .19

4.2 Organization of the measurements .19
4.3 Electrical values to be measured.19
4.4 Measurement aggregation over time intervals.21
4.5 Measurement aggregation algorithm.21
4.6 Time-clock uncertainty .23
4.7 Flagging concept.23
5 Power quality parameters .25
5.1 Power frequency .25
5.2 Magnitude of the supply voltage .25
5.3 Flicker .27
5.4 Supply voltage dips and swells .29
5.5 Voltage interruptions .33
5.6 Transient voltages .35
5.7 Supply voltage unbalance.35
5.8 Voltage harmonics .37
5.9 Voltage interharmonics .37
5.10 Mains signalling voltage on the supply voltage.39
5.11 Rapid voltage changes.39
5.12 Measurement of underdeviation and overdeviation parameters .39
6 Range of influence quantities and implementation verification.41
6.1 Range of influence quantities .41
6.2 Implementation verification.43
Annex A (informative) Power quality measurements – Issues and guidelines.47
A.1 Installation precautions .47
A.2 Transducers.53

A.3 Transient voltages and currents .59
A.4 Rapid voltage changes.65
A.5 Current .65
A.6 Guidelines for contractual applications of power quality measurements.71
A.7 Trouble-shooting applications.79
A.8 Statistical survey applications.81
A.9 Voltage dip characteristics .83
Bibliography .89

61000-4-30 © IEC:2003 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-30: Testing and measurement techniques –

Power quality measurement methods

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
instrument declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-30 has been prepared by subcommittee 77A: Low-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
This standard forms part 4-30 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
77A/398/FDIS 77A/402/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2005. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
61000-4-30 © IEC:2003 – 7 –
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts according to the following structure:

Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards
or as Technical Specifications or Technical Reports, some of which have already been
published as sections. Others will be published with the part number followed by a dash and
completed by a second number identifying the subdivision (example: 61000-6-1).

61000-4-30 © IEC:2003 – 9 –
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-30: Testing and measurement techniques –

Power quality measurement methods

1 Scope
This part of IEC 61000-4 defines the methods for measurement and interpretation of results for
power quality parameters in 50/60 Hz a.c. power supply systems.
Measurement methods are described for each relevant type of parameter in terms that will
make it possible to obtain reliable, repeatable and comparable results regardless of the
compliant instrument being used and regardless of its environmental conditions. This standard
addresses measurement methods for in situ measurements.
Measurement of parameters covered by this standard is limited to those phenomena that can
be conducted in a power system. These include the voltage and/or current parameters, as
appropriate.
The power quality parameters considered in this standard are power frequency, magnitude of
the supply voltage, flicker, supply voltage dips and swells, voltage interruptions, transient
voltages, supply voltage unbalance, voltage and current harmonics and interharmonics, mains
signalling on the supply voltage and rapid voltage changes. Depending on the purpose of the
measurement, all or a subset of the phenomena on this list may be measured.
This standard is a performance specification, not a design specification. The uncertainty tests
in the ranges of influence quantities in this standard determine the performance requirements.
This standard gives measurement methods but does not set thresholds.
The effects of transducers being inserted between the power system and the instrument are
acknowledged but not addressed in detail in this standard. Precautions on installing monitors
on live circuits are addressed.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For
dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of
the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60050(161), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
61000-4-30 © IEC:2003 – 11 –
IEC 60050-300, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Electrical and electronic
measurements and measuring instruments – Part 311: General terms relating to measurements

– Part 312: General terms relating to electrical measurements – Part 313: Types of electrical

measuring instruments – Part 314: Specific terms according to the type of instrument

IEC 61000-2-4, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2-4: Environment – Compatibility

levels in industrial plants for low-frequency conducted disturbances – Basic EMC publication

IEC 61000-3-8, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 8: Signalling on

low-voltage electrical installations – Emission levels, frequency bands and electromagnetic

disturbance levels
IEC 61000-4-7:2002, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-7: Testing and measure-
ment techniques – General guide on harmonics and interharmonics measurements and
instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto – Basic EMC
publication
IEC 61000-4-15, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 15: Flickermeter – Functional and design specifications
IEC 61180 (all parts), High-voltage test techniques for low voltage equipment
3 Definitions
For the purpose of this part of IEC 61000 the following definitions apply, together with the
definitions of IEC 60050(161).
3.1
channel
individual measurement path through an instrument
NOTE “Channel” and “phase” are not the same. A voltage channel is by definition the difference in potential
between 2 conductors. Phase refers to a single conductor. On polyphase systems, a channel may be between 2
phases, or between a phase and neutral, or between a phase and earth.
3.2
declared input voltage, U
din
value obtained from the declared supply voltage by a transducer ratio
3.3
declared supply voltage, U
c
declared supply voltage U is normally the nominal voltage U of the system. If by agreement
c n
between the supplier and the customer a voltage different from the nominal voltage is applied
to the terminal, then this voltage is the declared supply voltage U
c
3.4
dip threshold
voltage magnitude specified for the purpose of detecting the start and the end of a voltage dip
3.5
flagged data
for any measurement time interval in which interruptions, dips or swells occur, the measure-
ment results of all other parameters made during this time interval are flagged

61000-4-30 © IEC:2003 – 13 –
3.6
flicker
impression of unsteadiness of visual sensation induced by a light stimulus whose luminance or

spectral distribution fluctuates with time

[IEV 161-08-13]
3.7
fundamental component
component whose frequency is the fundamental frequency

[IEV 101-14-49, modified]
3.8
fundamental frequency
frequency in the spectrum obtained from a Fourier transform of a time function, to which all the
frequencies of the spectrum are referred
[IEV 101-14-50, modified]
NOTE In case of any remaining risk of ambiguity, the fundamental frequency should be derived from the number
of poles and speed of rotation of the synchronous generator(s) feeding the system.
3.9
harmonic component
any of the components having a harmonic frequency
[IEC 61000-2-2, definition 3.2.4]
NOTE Its value is normally expressed as an r.m.s. value. For brevity, such component may be referred to simply
as a harmonic.
3.10
harmonic frequency
frequency which is an integer multiple of the fundamental frequency
NOTE The ratio of the harmonic frequency to the fundamental frequency is the harmonic order (IEC 61000-2-2,
definition 3.2.3).
3.11
hysteresis
difference in magnitude between the start and end thresholds
NOTE 1 This definition of hysteresis is relevant to PQ measurement parameters and is different from the IEV
definition which is relevant to iron core saturation.
NOTE 2 The purpose of hysteresis in the context of PQ measurements is to avoid counting multiple events when
the magnitude of the parameter oscillates about the threshold level.

3.12
influence quantity
any quantity which may affect the working performance of a measuring equipment
[IEV 311-06-01, modified]
NOTE This quantity is generally external to the measurement equipment.
3.13
interharmonic component
component having an interharmonic frequency
[IEC 61000-2-2, definition 3.2.6]
NOTE Its value is normally expressed as an r.m.s. value. For brevity, such a component may be referred to simply
as an interharmonic.
61000-4-30 © IEC:2003 – 15 –
3.14
interharmonic frequency
any frequency which is not an integer multiple of the fundamental frequency

[IEC 61000-2-2, definition 3.2.5]

NOTE 1 By extension from harmonic order, the interharmonic order is the ratio of an interharmonic frequency to

the fundamental frequency. This ratio is not an integer (recommended notation m).

NOTE 2 In the case where m < 1 the term subharmonic frequency may be used.

3.15
interruption
reduction of the voltage at a point in the electrical system below the interruption threshold
3.16
interruption threshold
voltage magnitude specified for the purpose of detecting the start and the end of a voltage
interruption
3.17
measurement uncertainty
maximum expected deviation of a measured value from its actual value
3.18
nominal voltage, U
n
voltage by which a system is designated or identified
3.19
overdeviation
difference between the measured value and the nominal value of a parameter, only when the
measured value of the parameter is greater than the nominal value
3.20
power quality
characteristics of the electricity at a given point on an electrical system, evaluated against a set
of reference technical parameters
NOTE These parameters might, in some cases, relate to the compatibility between electricity supplied on a
network and the loads connected to that network.
3.21
r.m.s. (root-mean-square) value
square root of the arithmetic mean of the squares of the instantaneous values of a quantity

taken over a specified time interval and a specified bandwidth
[IEV 101-14-16 modified]
3.22
r.m.s. voltage refreshed each half-cycle, U
rms(1/2)
value of the r.m.s. voltage measured over 1 cycle, commencing at a fundamental zero
crossing, and refreshed each half-cycle
NOTE 1 This technique is independent for each channel and will produce r.m.s. values at successive times on
different channels for polyphase systems.
NOTE 2 This value is used only for voltage dip, voltage swell, and interruption detection.
3.23
range of influence quantities
range of values of a single influence quantity

61000-4-30 © IEC:2003 – 17 –
3.24
reference channel
one of the voltage measurement channels designated as the reference channel for polyphase

measurements
3.25
residual voltage, U
res
minimum value of U recorded during a voltage dip or interruption
rms(1/2)
NOTE The residual voltage is expressed as a value in volts, or as a percentage or per unit value of the declared
input voltage.
3.26
sliding reference voltage, U
sr
voltage magnitude averaged over a specified time interval, representing the voltage preceding
a voltage dip or swell
NOTE The sliding reference voltage is used to determine the voltage change during a dip or a swell.
3.27
swell threshold
voltage magnitude specified for the purpose of detecting the start and the end of a swell
3.28
time aggregation
combination of several sequential values of a given parameter (each determined over identical
time intervals) to provide a value for a longer time interval
NOTE Aggregation in this document always refers to time aggregation.
3.29
underdeviation
absolute value of the difference between the measured value and the nominal value of a
parameter, only when the value of the parameter is lower than the nominal value
3.30
voltage dip
temporary reduction of the voltage at a point in the electrical system below a threshold
NOTE 1 Interruptions are a special case of a voltage dip. Post-processing may be used to distinguish between
voltage dips and interruptions.
NOTE 2 In some areas of the world a voltage dip is referred to as sag. The two terms are considered
interchangeable; however, this standard will only use the term voltage dip.

3.31
voltage swell
temporary increase of the voltage at a point in the electrical system above a threshold
3.32
voltage unbalance
condition in a polyphase system in which the r.m.s. values of the line voltages (fundamental
component), or the phase angles between consecutive line voltages, are not all equal
[IEV 161-08-09, modified]
NOTE 1 The degree of the inequality is usually expressed as the ratios of the negative- and zero-sequence
components to the positive-sequence component.
NOTE 2 In this standard, voltage unbalance is considered in relation to 3-phase systems.

61000-4-30 © IEC:2003 – 19 –
4 General
4.1 Classes of measurement performance

For each parameter measured, two classes of measurement performance are defined.

– Class A performance
This class of performance is used where precise measurements are necessary, for

example, for contractual applications, verifying compliance with standards, resolving

disputes, etc. Any measurements of a parameter carried out with two different instruments

complying with the requirements of class A, when measuring the same signals, will produce

matching results within the specified uncertainty.
To ensure that matching results are produced, class A performance instrument requires a
bandwidth characteristic and a sampling rate sufficient for the specified uncertainty of each
parameter.
– Class B performance
This class of performance may be used for statistical surveys, trouble-shooting
applications, and other applications where low uncertainty is not required.
For each performance class the range of influencing factors that shall be complied with is
specified in 6.1. Users shall select the class of measurement performance taking account of
the situation of each application case.
NOTE 1 A measurement instrument may have different performance classes for different parameters.
NOTE 2 The instrument manufacturer should declare influence quantities which are not expressly given and which
may degrade performance of the instrument.
4.2 Organization of the measurements
The electrical quantity to be measured may be either directly accessible, as is generally the
case in low-voltage systems, or accessible via measurement transducers.
The whole measurement chain is shown in Figure 1.
Measurement
Measurement
Evaluation
transducers
unit
unit
Electrical input Measurement Measurement
Input signal to
signal result evaluation
be measured
IEC  323/03
Figure 1 – Measurement chain
An "instrument" usually includes the whole measurement chain (see Figure 1). In this standard,
the normative part does not consider the measurement transducers and their associated
uncertainty, but Clause A.2 gives guidance.
4.3 Electrical values to be measured
Measurements can be performed on single-phase or polyphase supply systems. Depending on
the context, it may be necessary to measure voltages between phase conductors and neutral
(line-to-neutral) or between phase conductors (line-to-line) or between neutral and earth. It is
not the purpose of this standard to impose the choice of the electrical values to be measured.
Moreover, except for the measurement of voltage unbalance, which is intrinsically polyphase,
the measurement methods specified in this document are such that independent results can be
produced on each measurement channel.

61000-4-30 © IEC:2003 – 21 –
Current measurements can be performed on each conductor of supply systems, including the
neutral conductor and the protective earth conductor.

NOTE It is often useful to measure current simultaneously with voltage and to associate the current

measurements in 1 conductor with voltage measurements between that conductor and a reference conductor, such
as an earth conductor or a neutral conductor.

4.4 Measurement aggregation over time intervals

– For class A performance
The basic measurement time interval for parameter magnitudes (supply voltage, harmonics,

interharmonics and unbalance) shall be a 10-cycle time interval for 50 Hz power system or
12-cycle time interval for 60 Hz power system.
NOTE The uncertainty of this measurement is included in the uncertainty measurement protocol of each
parameter.
Measurement time intervals are aggregated over 3 different time intervals. Clauses A.6 and
A.7 discuss some applications of these aggregation time intervals. The aggregation time
intervals are
– 3-s interval (150 cycles for 50 Hz nominal or 180 cycles for 60 Hz nominal),
– 10-min interval,
– 2-h interval.
– For class B performance
The manufacturer shall indicate the method, number and duration of aggregation time
intervals.
4.5 Measurement aggregation algorithm
Aggregations are performed using the square root of the arithmetic mean of the squared input
values.
NOTE For flicker measurements, the aggregation algorithm is different (see IEC 61000-4-15).
Three categories of aggregation are necessary.
– Cycle aggregation
The data for the 150/180-cycle time interval shall be aggregated from fifteen 10/12-cycle
time intervals.
NOTE This time interval is not a "time clock" interval; it is based on the frequency characteristic.
– From cycle to time-clock aggregation
The 10-min value shall be tagged with the absolute time (for example, 01H10.00). The time

tag is the time at the end of the 10-min aggregation. If the last 10/12-cycle value in a 10-
min aggregation period overlaps in time with the absolute 10-min clock boundary, that
10/12-cycle value is included in the aggregation for this 10-min interval.
On commencement of the measurement, the 10/12-cycle measurement shall be started at
the boundary of the absolute 10-min clock, and shall be re-synchronized at every
subsequent 10-min boundary.
NOTE This technique implies that a very small amount of data may overlap and appear in two adjacent 10-min
aggregations.
– Time-clock aggregation
The data for the “2-h interval” shall be aggregated from twelve 10-min intervals.

61000-4-30 © IEC:2003 – 23 –
4.6 Time-clock uncertainty
– For class A performance
The time-clock uncertainty shall not exceed ±20 ms for 50 Hz or ±16,7 ms for 60 Hz.

NOTE 1 This performance can be achieved, for example, through a synchronization procedure applied

periodically during a measurement campaign, or through a GPS receiver, or through reception of transmitted

radio timing signals.
NOTE 2 When synchronization by an external signal becomes unavailable, the time tagging tolerance must be
better than 1-s/24-h.
NOTE 3 This performance is necessary to ensure that two class A instruments produce the same 10-min
aggregation results when connected to the same signal.

NOTE 4 When a threshold is crossed, it may be useful to record the date and time.
– For class B performance
The manufacturer shall specify the method to determine 10-min intervals.
4.7 Flagging concept
During a dip, swell, or interruption, the measurement algorithm for other parameters (for
example, frequency measurement) might produce an unreliable value. The flagging concept
therefore avoids counting a single event more than once in different parameters (for example,
counting a single dip as both a dip and a frequency variation) and indicates that an aggregated
value might be unreliable.
Flagging is only triggered by dips, swells, and interruptions. The detection of dips and swells is
dependent on the threshold selected by the user, and this selection will influence which data
are "flagged".
The flagging concept is applicable for class A measurement performance during measurement
of power frequency, voltage magnitude, flicker, supply voltage unbalance, voltage harmonics,
voltage interharmonics, mains signalling and measurement of underdeviation and overdeviation
parameters.
If during a given time interval any value is flagged, the aggregated value including that value
shall also be flagged. The flagged value shall be stored and also included in the aggregation
process, for example, if during a given time interval any value is flagged the aggregated value
that includes this value shall also be flagged and stored.
NOTE 1 The user may decide how to evaluate flagged data.
NOTE 2 It may also be useful for the instrument to separately log internal errors, such as over-scale or loss of
PLL (phase locked loop) synch.

61000-4-30 © IEC:2003 – 25 –
5 Power quality parameters
5.1 Power frequency
5.1.1 Measurement
– For class A performance
The frequency reading shall be obtained every 10-s. As power frequency may not be

exactly 50 Hz or 60 Hz within the 10-s time clock interval, the number of cycles may not be

an integer number. The fundamental frequency output is the ratio of the number of integral

cycles counted during the 10-s time clock interval, divided by the cumulative duration of the
integer cycles. Before each assessment, harmonics and interharmonics shall be attenuated
to minimize the effects of multiple zero crossings.
The measurement time intervals shall be non-overlapping. Individual cycles that overlap the
10-s time clock are discarded. Each 10-s interval shall begin on an absolute 10-s time
clock, ±20 ms for 50 Hz or ±16,7 ms for 60 Hz.
NOTE Other techniques that provide equivalent results, such as convolution, are acceptable.
– For class B performance
The manufacturer shall indicate the process used for frequency measurement.
5.1.2 Measurement uncertainty
– For class A performance
Over the range of influence quantities, and under the conditions described in 6.1, the
measurement uncertainty Δf shall not exceed ±0,01 Hz.
– For class B performance
The manufacturer shall specify the uncertainty Δf over the range of influence quantities,
and under the conditions described in 6.1.
5.1.3 Measurement evaluation
– For class A performance
The frequency measurement shall be made on the reference channel.
– For class B performance
The manufacturer shall indicate the process used for frequency measurement.

5.2 Magnitude of the supply voltage
5.2.1 Measurement
– For class A performance
The measurement shall be the r.m.s. value of the voltage magnitude over a 10-cycle time
interval for 50 Hz power system or 12-cycle time interval for 60 Hz power system. Every
10/12-cycle interval shall be contiguous with, and not overlap, adjacent 10/12-cycle
intervals.
NOTE 1 This specific measurement method is used for quasi-stationary signals, and is not used for the
detection and measurement of disturbances: dips, swells, voltage interruptions and transients.
NOTE 2 The r.m.s. value includes, by definition, harmonics, interharmonics, mains signalling, etc.

61000-4-30 © IEC:2003 – 27 –
– For class B performance
The measurement shall be the r.m.s. value of the voltage over a period specified by the

manufacturer.
5.2.2 Measurement uncertainty
– For class A performance
Over the range of influence quantity conditions described in 6.1, the measurement

uncertainty ΔU shall not exceed ±0,1 % of U .
din
– For class B performance
The manufacturer shall specify the uncertainty ΔU over the range of influence quantity
conditions described in 6.1. In all cases, the measurement uncertainty ΔU shall not exceed
±0,5 % of U .
din
5.2.3 Measurement evaluation
– For class A performance
Aggregation intervals as described in 4.5 shall be used.
– For class B performance
The manufacturer shall specify the aggregation process.
NOTE User-configurable aggregation intervals are acceptable.
5.3 Flicker
5.3.1 Measurement
– For class A performance
IEC 61000-4-15 applies.
– For class B performance
No requirements.
5.3.2 Measurement uncertainty
– For class A performance
See IEC 61000-4-15.
– For class B performance
None specified.
5.3.3 Measurement evaluation
– For class A performance
IEC 61000-4-15 applies.
Voltage dips, swells, and interruptions shall cause P and P output values as well as
st lt
"output 4 and 5 values"(see IEC 61000-4-15), to be flagged.
– For class B performance
None specified.
61000-4-30 © IEC:2003 – 29 –
5.4 Supply voltage dips and swells

5.4.1 Basic measurement
The basic measurement of a voltage dip and swell shall be the U on each measurement
rms(1/2)
channel.
NOTE 1 For class A, the cycle duration for U depends on the frequency. The frequency might be

rms(1/2)
determined by the last non-flagged power frequency measurement (see 4.7 and 5.1), or by any other method that

yields the uncertainty requirements of 6.2.

NOTE 2 The U value includes, by definition, harmonics, interharmonics, ripple control signals, etc.
rms(1/2)
5.4.2 Detection and evaluation of a voltage dip
5.4.2.1 Voltage dip detection
The dip threshold is a percentage of either U or the sliding voltage reference U (see 5.4.4).
din sr
The user shall declare the reference voltage in use.
NOTE Sliding voltage reference U is generally not used in LV systems. See IEC 61000-2-8 for further information
sr
and advice.
– On single-phase systems a voltage dip begins when the U voltage falls below the dip
rms(1/2)
threshold, and ends when the U voltage is equal to or above the dip threshold plus
rms(1/2)
the hysteresis voltage.
– On polyphase systems a dip begins when the U voltage of one or more channels is
rms(1/2)
below the dip threshold and ends when the U voltage on all measured channels is
rms(1/2)
equal to or above the dip threshold plus the hysteresis voltage.
The dip threshold and the hysteresis voltage are both set by the user according to the use.
5.4.2.2 Voltage dip evaluation
A voltage dip is characterized by a pair of data, either residual voltage (U ) or depth and
res
duration:
– the residual voltage is the lowest U value measured on any channel during the dip;
rms(1/2)
– the depth is the difference between the reference voltage (either U or U ) and the
din sr
residual voltage. It is generally expressed in percentage of the reference voltage;
– the duration of a voltage dip is the time difference between the beginning and the end of the
voltage dip.
NOTE 1 For polyphase measurements, the dip duration can be started on one channel and terminated on a
different channel.
NOTE 2 Voltage dip envelopes are not necessarily rectangular. As a consequence, for a given voltage dip, the
measured duration is dependent on the selected dip threshold value. The shape of the envelope may be assessed
using several dip thresholds set within the range of voltage dip and voltage interruption thresholds.
NOTE 3 Typically, the hysteresis is equal to 2 % of U .
din
NOTE 4 Dip thresholds are typically in the range 85 % to 90 % of the fixed voltage reference for troubleshooting or
statistical applications, and 70 % for contractual applications.
NOTE 5 Residual voltage is often useful to end-users, and may be preferred because it is referenced to zero volts.
In contrast, depth is often useful to electric suppliers, especially on HV systems or in cases when a sliding
reference voltage is used.
NOTE 6 Phase shift may occur during voltage dips. See A.9.4.
NOTE 7 When a threshold is crossed, it may be useful to record the date and time.

61000-4-30 © IEC:2003 – 31 –
5.4.3 Detection and evaluation of a voltage swell

5.4.3.1 Voltage swell detection

The swell threshold is a percentage of either U or the sliding reference voltage U (see
din sr
5.4.4). The user shall declare the reference voltage in use.

NOTE Sliding reference voltage U is generally not used in LV systems. See IEC 61000-2-8 for further information

sr
and advice.
– On single-phase systems a swell begins when the U voltage rises above the swell
rms(1/2)
threshold, and ends when the U voltage is equal to or below the swell threshold

rms(1/2)
minus the hysteresis voltage.
– On polyphase systems a swell begins when the U voltage of one or more channel
rms(1/2)
rises above the swell threshold and ends when the U voltage on all measured
rms(1/2)
channels is equal to or below the swell threshold minus the hysteresis voltage.
The swell threshold and the hysteresis voltage are both set by the user according to the use.
5.4.3.2 Voltage swell evaluation
A voltage swell is characterized by a pair of data, maximum swell voltage magnitude and
duration:
– the maximum swell magnitude voltage is the largest U value measured on any
rms(1/2)
channel during the swell;
– the duration of a voltage swell is the time difference between the beginning and the end of
the swell.
NOTE 1 For polyphase measurements, the swell duration measurement can be started on one channel and
terminated on a different channel.
NOTE 2 Voltage swell envelopes may not be rectangular. As a consequence, for a given swell, the measured
duration is dependent on the swell threshold value.
NOTE 3 Typically, the hysteresis is equal to 2 % of U .
din
NOTE 4 Typically, the swell threshold is greater than 110 % of U .
din
NOTE 5 Phase shift may also occur during voltage swells.
NOTE 6 When a threshold is crossed, it may be useful to record the date and time.
5.4.4 Calculation of a sliding reference voltage
If a sliding reference is chosen for voltage dip or swell detection, this shall be calculated using
a first-order filter with a 1-min time constant. This filter is given by

U = 0,9967 × U + 0,0033 × U
sr(n) sr(n–1) (10/12)rms
where
U is the present value of the sliding reference voltage;
sr(n)
U is the previous value of the sliding reference voltage; and
sr(n–1)
U is the most recent 10/12-cycle r.m.s. value.
(10/12)rms
61000-4-30 © IEC:2003 – 33 –
When the measurement is started, the initial value of the sliding reference voltage is set to the
declared input voltage. The sliding reference voltage is updated every 10/12-cycles. If a 10/12-

cycle value is flagged, the sliding reference voltage is not updated and the previous value is

used.
5.4.5 Measurement uncertainty
5.4.5.1 Residual voltage and swell voltage magnitude measurement uncertainty

– For class A performance
The measurement uncertainty ΔU shall not exceed ±0,2 % of U .
din
– For class B performance
The manufacturer shall specify the uncertainty. In all cases, the measurement uncertainty
ΔU shall not exceed ±1,0 % of U .
din
5.4.5.2 Duration measurement uncertainty
– For class A and class B performances
The uncertainty of a dip or swell duration is equal to the dip or swell commencement
uncertainty (half a cycle) plus the dip or swell conclusion uncertainty (half a cycle).
5.5 Voltage interruptions
5.5.1 Basic measurement
The basic measurement of a voltage interruption shall be the U on each measurement
rms(1/2)
channel.
NOTE 1 For class A, the cycle duration for U depends on the frequency. The frequency might be
rms(1/2)
determined by the last non-flagged power frequency measurement (see 4.7 and 5.1), or by any other method that
yields the uncertainty requirements of 6.2.
NOTE 2 The U value includes, by definition, harmonics, interharmonics, ripple control signals, etc.
rms(1/2)
5.5.2 Evaluation of a voltage interruption
– On single-phase systems, a voltage interruption begins when the U voltage falls
rms(1/2)
below the voltage interruption threshold and ends when the U value is equal to, or
rms(1/2)
greater than, the voltage interruption threshold plus the hysteresis.
– On polyphase systems, a voltage interruption begins when the U voltages of all
rms(1/2)
channels fall below the voltage interruption threshold and ends when the U voltage
rms(1/2)
on any one channel is equal to, or greater than, the voltage interruption threshold plus the
hysteresis.
The voltage interruption threshold and the hysteresis voltage are both set by the user
according to the use. The voltage interruption threshold shall not be set below the uncertainty
of residual voltage measurement plus the value of the hysteresis. Typically, the hysteresis is
equal to 2 % of U . The voltage interruption threshold can, for example, be set to 5 % of U .
din din
NOTE 1 IEV 161-08-20 considers an interruption to have occurred when the voltage magnitude is less than 1 % of
the nominal voltage. However, it is difficult to correctly measure voltages below 1 % of the nominal voltage.
Therefore, this standard recommends that the user set an appropriate voltage interruption threshold.
NOTE 2 Phase shift may occur during a voltage interruption.
NOTE 3 When a threshold is crossed, it may be useful to record the date and time.

61000-4-30 © IEC:2003 – 35 –
The duration of a voltage interruption is the time difference between the beginning and the end
of the voltage interruption.
NOTE The interruption of one or more phases on a polyphase system can be seen as an interruption of the supply

to single-phase customers connected to that system.

5.5.3 Duration measurement uncertainty

For class A and class B, the duration measurement uncertainty is less than 2 cycles within the
specified auxiliary power supply back-up time.

5.6 Transient voltages
NOTE Clause A.3 provides some information on the significant parameters necessary to characterize transient
voltages and currents.
5.7 Supply voltage unbalance
5.7.1 Measurement
– For class A performance
The supply voltage unbalance is evaluated using t
...


NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-30
Première édition
2003-02
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-30:
Techniques d'essai et de mesure –
Méthodes de mesure de la qualité
de l'alimentation
Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 61000-4-30:2003(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de

60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les

amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2

indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2

Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
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Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
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Partie 4-30:
Techniques d'essai et de mesure –
Méthodes de mesure de la qualité
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International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur

– 2 – 61000-4-30 © CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION .6

1 Domaine d’application . 8

2 Références normatives . 8

3 Définitions.10

4 Généralités .18

4.1 Classes de méthodes de mesure .18

4.2 Organisation des mesures.18
4.3 Valeurs électriques à mesurer.18
4.4 Agrégation des intervalles de temps de mesure.20
4.5 Processus d’agrégation des mesures .20
4.6 Incertitude d’horloge .22
4.7 Concept de «marquage» .22
5 Paramètres de qualité de l’alimentation .24
5.1 Fréquence industrielle.24
5.2 Amplitude de la tension d’alimentation.24
5.3 Papillotement («flicker») .26
5.4 Creux de la tension d’alimentation et surtensions temporaires à fréquence
industrielle .28
5.5 Coupures de la tension d’alimentation .32
5.6 Tensions transitoires.34
5.7 Déséquilibre de la tension d’alimentation.34
5.8 Harmoniques de tension .36
5.9 Interharmoniques de tension .36
5.10 Amplitude des signaux de télécommande centralisée .38
5.11 Variations rapides de tension .38
5.12 Mesure des paramètres de «valeur basse» et de «valeur haute» de la tension
(«tension haute» et de «tension basse») .38
6 Domaine de variation des grandeurs d’influence et vérification de la conformité.40
6.1 Domaine de variation des grandeurs d’influence.40
6.2 Vérification de la réalisation des méthodes de mesure.42
Annexe A (informative) Mesures de la qualité de l’alimentation – Informations et lignes
directrices .46

A.1 Recommandations d’installation .46
A.2 Transducteurs.52
A.3 Tensions et courants transitoires.58
A.4 Variations rapides de tension .64
A.5 Courant .64
A.6 Indications pour l’application contractuelle des mesures de la qualité de
l’alimentation .70
A.7 Application à la recherche de pannes .78
A.8 Application à des traitements statistiques .80
A.9 Caractéristiques des creux de tension .82
Bibliographie .88

– 4 – 61000-4-30 © CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-30: Techniques d’essai et de mesure –

Méthodes de mesure de la qualité de l’alimentation

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation internationale de normalisation
composée de l’ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour
objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l’électricité et de l’électronique. À cette fin et en plus d’autres activités, la CEI publie des Normes
internationales. Leur préparation est confiée aux comités d’études; il est permis à tout Comité national intéressé
par le sujet traité de participer à ces travaux préparatoires. Les organisations internationales, gouvernementales
et non gouvernementales qui assurent la liaison avec la CEI participent également à cette préparation. La
CEI travaille en collaboration étroite avec l’Organisation internationale de normalisation (ISO), conformément
aux conditions de l’accord passé entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d’encourager l’unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s’engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure du possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains éléments de la présente Norme internationale peuvent faire l’objet
de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour responsable de ne
pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-30 a été préparée par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d’étude 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-30 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au guide 107 de la CEI.
Le texte de la présente norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
77A/398/FDIS 77A/402/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de la présente norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2005. À cette
date, la publication sera:
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
– 6 – 61000-4-30 © CEI:2003
INTRODUCTION
La CEI 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties conformément à la structure

suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne tombent pas sous la responsabilité des
comités produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d’essai
Partie 5: Directives d’installation et d’atténuation
Guide d’installation
Méthodes et dispositifs d’atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme Normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines
ont déjà été publiées en tant que sections D’autres seront publiées avec le numéro de la partie
suivi d’un tiret et complété d’un second chiffre identifiant la subdivision (exemple: 61000-6-1).

– 8 – 61000-4-30 © CEI:2003
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-30: Techniques d’essai et de mesure –

Méthodes de mesure de la qualité de l’alimentation

1 Domaine d’application
La présente partie de la CEI 61000-4 définit les méthodes de mesure des paramètres de
qualité de l’alimentation des réseaux à courant alternatif 50/60 Hz et la façon d’interpréter les
résultats.
Pour chaque type de paramètre concerné, les méthodes de mesure sont décrites. Elles
permettent d’obtenir des résultats fiables, reproductibles et comparables, ceci, quel que soit
l’instrument utilisé en conformité avec la présente norme et quelles que soient ses conditions
d’environnement. La présente norme porte sur les méthodes de mesure destinées aux
mesures sur site.
La mesure des paramètres couverts par la présente norme se limite aux phénomènes
susceptibles de se propager sur un réseau d’énergie électrique. Ils concernent selon les cas
ceux relatifs à la tension et/ou au courant.
Les paramètres de qualité de l’alimentation pris en compte dans le présent document sont la
fréquence, l’amplitude de la tension d’alimentation, le papillotement («flicker»), les creux et les
surtensions temporaires d’alimentation, les coupures de tension, les tensions transitoires, le
déséquilibre de tension d’alimentation, les harmoniques et interharmoniques de tension et de
courant, les signaux transmis sur la tension d’alimentation et les variations rapides de tension.
En fonction de l’objet de la mesure, les mesures peuvent porter soit sur une partie des
phénomènes de cette liste, soit sur l’ensemble.
La présente norme définit des méthodes de mesure mais ne constitue pas une spécification de
réalisation. Les essais de précision dans le domaine de variation des grandeurs d’influence de
la présente norme sont utilisés comme exigence fonctionnelle.
La présente norme indique des méthodes de mesure sans fixer de seuils.
Les effets des transducteurs placés entre le réseau et l’appareil de mesure sont pris en
compte mais non traités en détail dans la présente norme. Les précautions à prendre pour
installer des instruments de mesure sur des circuits sous tension sont indiquées dans la
présente norme.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60050(161), Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161: Compatibilité
électromagnétique
– 10 – 61000-4-30 © CEI:2003
CEI 60050-300, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Mesures et appareils de
mesure électriques et électroniques – Partie 311: Termes généraux concernant les mesures –

Partie 312: Termes généraux concernant les mesures électriques – Partie 313: Types

d’appareils électriques de mesure – Partie 314: Termes spécifiques selon le type d’appareil

CEI 61000-2-4, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2-4: Environnement – Niveaux

de compatibilité dans les installations industrielles pour les perturbations conduites à basse

fréquence – Publication fondamentale en CEM

CEI 61000-3-8, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 8: Trans-

mission de signaux dans les installations électriques à basse tension – Niveaux d’émission,

bandes de fréquences et niveaux de perturbations électromagnétiques
CEI 61000-4-7:2002, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-7: Techniques d’essai
et de mesure – Guide général relatif aux mesures d’harmoniques et d’interharmoniques, ainsi
qu’à l’appareillage de mesure, applicable aux réseaux d’alimentation et aux appareils qui y sont
raccordés – Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-15, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et de
mesure – Section 15: Flickermètre – Spécifications fonctionnelles et de conception
CEI 61180 (toutes les parties), Techniques des essais à haute tension pour matériels à basse
tension
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61000, les définitions suivantes s’appliquent,
ainsi que les définitions de la CEI 60050(161).
3.1
voie (de mesure)
ensemble des dispositifs de mesure associés à une mesure individuelle
NOTE «Voies» et «phases» n’ont pas la même signification. Une voie de mesure correspond par définition à une
différence de potentiel entre deux conducteurs. Une phase correspond à un simple conducteur. Dans les systèmes
polyphasés, une voie de mesure peut être entre deux phases ou entre une phase et le neutre, ou entre une phase
et la terre.
3.2
tension d’entrée déclarée, U
din
valeur obtenue à partir de la tension d’alimentation déclarée d’un rapport de transformation
3.3
tension d’alimentation déclarée, U
c
la tension d’alimentation déclarée U est généralement la tension nominale U du réseau. Si,
c n
par suite d’un accord entre le distributeur et le client, la tension d’alimentation appliquée à ses
bornes diffère de la tension nominale, alors, cette tension correspond à la tension d’alimen-
tation déclarée U
c
3.4
seuil de creux
valeur de tension spécifiée pour permettre de détecter le début et la fin d’un creux de tension
3.5
données marquées
pour tout intervalle de temps de mesure au cours duquel se produisent des coupures, des
creux ou des surtensions temporaires à fréquence industrielle, le résultat de la mesure
effectuée sur tous les autres paramètres au cours de cet intervalle de temps est marqué

– 12 – 61000-4-30 © CEI:2003
3.6
papillotement («flicker»)
impression d’instabilité de la sensation visuelle due à un stimulus lumineux dont la luminance
ou la répartition spectrale fluctue dans le temps

[VEI 161-08-13]
3.7
composante fondamentale
composante dont la fréquence est la fréquence fondamentale

[VEI 101-14-49 modifié]
3.8
fréquence fondamentale
fréquence du spectre obtenue à partir d’une transformée de Fourier d’une fonction temporelle,
servant de référence à toutes les autres fréquences du spectre
[VEI 101-14-50 modifié]
NOTE S’il subsiste un risque d’ambiguïté, la fréquence fondamentales est déterminée à partir de la polarité et de
la vitesse de rotation du ou des générateurs synchrones alimentant le réseau.
3.9
composante harmonique
toute composante ayant une fréquence harmonique
[CEI 61000-2-2 définition 3.2.4]
NOTE Sa valeur est normalement exprimée sous la forme d’une valeur efficace. Pour des raisons de simplicité,
cette composante peut simplement être appelée harmonique.
3.10
fréquence harmonique
fréquence qui est un multiple entier de la fréquence fondamentale
NOTE Le rapport de la fréquence harmonique à la fréquence fondamentale est nommé rang de l’harmonique
(CEI 61000-2-2 définition 3.2.3).
3.11
hystérésis
différence d’amplitude entre les valeurs aller et retour de seuils
NOTE 1 Cette définition de l’hystérésis est relative à la mesure des paramètres de la qualité de l’alimentation. et
est différente de celle du VEI qui concerne la saturation des noyaux métalliques.
NOTE 2 Le but de l’hystérésis dans le contexte de mesure de la qualité de l’alimentation est d’éviter de compter
de multiples événements lorsque l’amplitude du paramètre oscille prés de la valeur de seuil.
3.12
grandeur d’influence
grandeur susceptible d’affecter le fonctionnement d’un instrument de mesure
[VEI 311-06-01 modifié]
NOTE Cette grandeur est généralement externe à l’instrument de mesure.
3.13
composante interharmonique
composante ayant une fréquence interharmonique
[CEI 61000-2-2 définition 3.2.6]
NOTE Sa valeur est en général exprimée sous la forme d’une valeur efficace. Pour des raisons de concision, cette
composante peut être simplement appelée interharmonique.

– 14 – 61000-4-30 © CEI:2003
3.14
fréquence interharmonique
toute fréquence qui n’est pas un multiple entier de la fréquence fondamentale

[CEI 61000-2-2 définition 3.2.5]

NOTE 1 Par extension du rang de l’harmonique, le rang de l’interharmonique est le rapport d’une fréquence

interharmonique à la fréquence fondamentale. Ce rapport n’est pas un nombre entier (notation recommandée: m).

NOTE 2 Lorsque m < 1, le terme fréquence sous-harmonique peut être utilisé.

3.15
coupure
réduction de la tension en un point du réseau d’énergie électrique en dessous du seuil de
coupure
3.16
seuil de coupure
valeur de tension spécifiée pour permettre de détecter le début et la fin d’une coupure
3.17
incertitude de mesure
écart maximal prévisible entre une valeur mesurée et sa valeur réelle
3.18
tension nominale, U
n
tension par laquelle un réseau est désigné ou identifié
3.19
valeur haute
pour un paramètre donné, valeur absolue de la différence entre valeur mesurée et valeur
nominale, uniquement lorsque la valeur mesurée du paramètre est supérieure à la valeur
nominale
3.20
qualité de l’alimentation
caractéristiques de l’électricité en un point donné d’un réseau d’énergie électrique, évaluée par
rapport à un ensemble de paramètres techniques de référence
NOTE Ces paramètres peuvent dans certains cas tenir compte de la compatibilité entre l’électricité fournie par un
réseau et les charges connectées à ce réseau.
3.21
valeur efficace (eff)
racine carrée de la moyenne arithmétique des carrés des valeurs instantanées d’une grandeur

durant un intervalle de temps spécifié
[VEI 101-14-16 modifié]
3.22
tension efficace rafraîchie par demi-période, U
eff(1/2)
valeur de la tension efficace mesurée sur une période, commençant à un passage par zéro de
la composante fondamentale, et rafraîchie à chaque demi-période
NOTE 1 Cette technique est indépendante sur chaque voie de mesure et produira des valeurs efficaces à des
instants successifs sur chaque voie en cas de systèmes polyphasés.
NOTE 2 Cette valeur n’est utilisée que pour la détection des creux de tension, des surtensions à fréquence
industrielle et des interruptions.
3.23
domaine des grandeurs d’influence
domaine de variation des valeurs d’une grandeur d’influence donnée

– 16 – 61000-4-30 © CEI:2003
3.24
voie de référence
pour les mesures polyphasées, une des voies de mesure de la tension, désignée comme voie
de référence
3.25
tension résiduelle, U
res
valeur minimale de U enregistrée au cours d’un creux ou d’une coupure de tension
eff(1/2)
NOTE La tension résiduelle est exprimée sous la forme d’une valeur, exprimée en volts, ou d’un pourcentage ou

par unité en fonction de la tension d’entrée déclarée.

3.26
tension de référence glissante, U
rg
valeur de tension moyennée sur un intervalle de temps spécifié, représentant la tension
précédant un creux ou une surtension temporaire à fréquence industrielle
NOTE La tension de référence glissante est utilisée pour déterminer la variation de tension lors d’un creux de
tension ou d’une surtension à fréquence industrielle.
3.27
seuil de surtension temporaire à fréquence industrielle
valeur de tension spécifiée pour permettre de détecter le début et la fin d’une surtension
temporaire à fréquence industrielle
3.28
agrégation temporelle
combinaison en séquence de plusieurs valeurs d’un paramètre donné (chacun d’eux étant
déterminé sur des périodes de temps identiques) destinée à produire une valeur sur une
période de temps plus longue
NOTE Dans ce document, le terme agrégation est utilisé pour agrégation temporelle.
3.29
valeur basse
pour un paramètre donné, valeur absolue de la différence entre valeur mesurée et valeur
nominale, uniquement lorsque la valeur du paramètre est inférieure à la valeur nominale
3.30
creux de tension
baisse temporaire de la tension en un point du réseau d’énergie électrique en dessous d’un
seuil donné
NOTE 1 Les interruptions sont un cas particulier des creux de tension. Les traitements ultérieurs permettent de
faire la distinction entre creux de tension et interruption.
NOTE 2 La note 2 s’applique seulement à la version anglaise.

3.31
surtension temporaire à fréquence industrielle
augmentation temporaire de la tension en un point du réseau d’énergie électrique au-dessus
d’un seuil donné
3.32
déséquilibre de tension
dans un réseau d’énergie électrique polyphasé, état dans lequel les valeurs efficaces des
tensions entre conducteurs (composante fondamentale), ou les différences de phase entre
conducteurs successifs, ne sont pas toutes égales
[VEI 161-08-09 modifiée]
NOTE 1 Le taux de déséquilibre s’exprime habituellement par le rapport de la composante inverse ou homopolaire
à la composante directe.
NOTE 2 Dans la présente norme, le déséquilibre de tension est relatif aux réseaux triphasés.

– 18 – 61000-4-30 © CEI:2003
4 Généralités
4.1 Classes de méthodes de mesure

Pour chaque paramètre mesuré, deux classes de méthodes de mesure sont définies:

– Méthodes de classe A
Cette classe de méthodes de mesure est utilisée lorsque des mesures précises sont

nécessaires, comme par exemple pour des applications contractuelles, pour la vérification

de la conformité à des normes, pour la résolution de litiges, etc. Les mesures d’un
paramètre effectuées avec deux instruments différents conformes aux prescriptions de
mesure de classe A, lors de la mesure du même signal, produiront des résultats

concordants dans la plage de précision spécifiée.
Pour que des résultats concordants soient obtenus, les appareils de classe A exigent une
caractéristique de largeur de bande passante et une fréquence d’échantillonnage
suffisantes pour la précision spécifiée de chaque paramètre.
– Méthodes de classe B
Cette classe de méthodes de mesure peut être utilisée pour des études statistiques, la
recherche d’anomalies et autres applications où une grande précision n’est pas requise.
Pour chaque classe, le domaine de variation des grandeurs d’influence qui doit être respecté
est spécifié en 6.1. L’utilisateur doit choisir la classe de méthode de mesure en fonction de la
situation rencontrée dans chaque cas d’application.
NOTE 1 Un appareil de mesure peut avoir différentes classes de méthodes de mesure pour différents paramètres.
NOTE 2 Le constructeur de l’instrument devrait déclarer les grandeurs d’influence non expressément données et
susceptibles de dégrader les performances de l’instrument.
4.2 Organisation des mesures
La grandeur électrique à mesurer peut être soit directement accessible, ce qui est en général
le cas sur les réseaux basse tension, soit accessible via des transducteurs de mesure.
La chaîne de mesure complète est illustrée à la Figure 1.
Appareil
Unité
Transducteurs
de mesure
de mesure d'évaluation
Signal électrique
Résultat de Evaluation de
Signal d'entrée
d’entrée
la mesure la mesure
à mesurer
IEC  323/03
Figure 1 – Chaîne de mesure
Un appareil de mesure comprend en général l’ensemble de la chaîne de mesure (voir Figure 1).
Dans la présente norme, la partie normative ne prend en compte ni les transducteurs ni l’incer-
titude de mesure qu’ils introduisent, mais l'Article A.2 fournit des informations sur ces sujets.
4.3 Valeurs électriques à mesurer
Des mesures peuvent être effectuées sur les réseaux monophasés ou polyphasés. En fonction
du contexte, il peut être nécessaire de mesurer des tensions entre les conducteurs de phase et
le neutre (phase-neutre) ou entre les différents conducteurs de phase (phase-phase) ou entre
le neutre et la terre. La présente norme n’a pas pour objet d’imposer le choix des valeurs
électriques à mesurer. En outre, excepté pour la mesure du déséquilibre de tensions qui est
intrinsèquement polyphasé, les méthodes de mesure spécifiées dans le présent document sont
de nature à permettre l’obtention de résultats indépendants sur chaque voie de mesure.

– 20 – 61000-4-30 © CEI:2003
Des mesures de courant peuvent être effectuées sur chaque conducteur des réseaux
électriques, y compris le neutre et la terre de protection.

NOTE Il est souvent utile de mesurer le courant en même temps que la tension et d’associer les mesures de

courant sur un conducteur aux mesures de tension entre ce conducteur et un conducteur de référence, tel qu’un
conducteur de terre ou un conducteur de neutre.

4.4 Agrégation des intervalles de temps de mesure

– Méthode de classe A
Un intervalle de temps de mesure des amplitudes (tension du réseau, harmoniques,

interharmoniques et déséquilibre) doit être de 10 périodes pour un réseau 50 Hz ou de 12
périodes pour un réseau 60 Hz.
NOTE L’incertitude de cette mesure est incluse dans la procédure d’essais associée à chaque paramètre.
Les intervalles de temps de mesure sont agrégés suivant trois valeurs. Les articles A.6 et
A.7 décrivent quelques applications d’agrégation d’intervalles de temps. Ces valeurs sont:
– intervalle de 3 s (150 périodes pour une fréquence nominale de 50 Hz ou 180 périodes
pour une fréquence nominale de 60 Hz),
– intervalle de 10 min,
– intervalle de 2 h.
– Méthode de classe B
Le constructeur doit indiquer la méthode, le nombre et la durée d’agrégation des intervalles
de temps.
4.5 Processus d’agrégation des mesures
Les agrégations sont calculées par la racine carrée de la moyenne arithmétique du carré des
valeurs d’entrée.
NOTE Pour la mesure du papillotement, l’algorithme d’agrégation est différent (voir CEI 61000-4-15).
Trois catégories d’agrégation sont nécessaires:
– Agrégation de périodes
Les données de l’intervalle de 150/180 périodes doivent être agrégées à partir de quinze
intervalles de 10/12 périodes.
NOTE Cet intervalle n’est pas un intervalle «de temps d’horloge»; il est basé sur la caractéristique de
fréquence.
– Agrégation de périodes en temps d’horloge

Les valeurs 10 min seront identifiées avec une datation absolue (par exemple 01H10.00).
La datation considérée correspond à une fin de période d’intégration 10 min. Si la dernière
valeur 10/12 périodes d’une agrégation 10 min chevauche la frontière absolue de la période
10 min, cette valeur 10/12 périodes est incluse dans cette intégration 10 min.
Au démarrage des mesures, un intervalle de 10/12 périodes doit commencer avec une
limite absolue 10 min et doit être resynchronisée successivement à chaque marque 10 min
absolue.
NOTE Cette technique implique qu’un très petit nombre de données se recouvrent et apparaissent dans deux
intervalles 10 min d’intégration adjacents.
– Agrégation en temps d’horloge
Les données de «l’intervalle de 2 h» doivent être agrégées à partir de douze intervalles de
10 min.
– 22 – 61000-4-30 © CEI:2003
4.6 Incertitude d’horloge
– Méthode de classe A
L’incertitude l’horloge ne doit pas dépasser ±20 ms pour 50 Hz ou ±16,7 ms pour 60 Hz.

NOTE 1 Ces performances sont par exemple obtenues par une procédure de synchronisation appliquée

périodiquement au cours d’une campagne de mesures, ou via un récepteur GPS, ou encore par la réception de
signaux de synchronisation transmis par radio.

NOTE 2 Lorsque la synchronisation par un signal extérieur n’est plus disponible, il est nécessaire que la
tolérance sur le marquage temporel soit de moins de 1 s/24 h.

NOTE 3 Ces performances sont nécessaires pour que deux instruments de classe A produisent les mêmes

résultats «agrégés 10 min» lorsqu’ils sont raccordés au même signal.

NOTE 4 Lorsqu’une valeur de seuil est franchie, il peut être utile d’enregistrer l’heure et la date.
– Méthode de classe B
Le constructeur doit préciser la méthode utilisée pour déterminer les intervalles de 10 min.
4.7 Concept de «marquage»
Pendant un creux de tension, une surtension temporaire à fréquence industrielle ou une
interruption, les algorithmes de mesure des autres paramètres (par exemple, mesure de
variation de la fréquence) peuvent fournir des valeurs douteuses. Le concept de marquage
permet ainsi d’éviter de comptabiliser un événement donné plusieurs fois dans différents
paramètres (par exemple compter un seul creux de tension d’une part comme un creux et
d’autre part comme une variation de fréquence) et indique que la valeur donnée risque d’être
douteuse.
Le marquage n’est déclenché que par les creux, les surtensions temporaires à fréquence
industrielle et les coupures. La détection de creux et des surtensions temporaires à fréquence
industrielle dépend du seuil défini par l’utilisateur, et ce choix peut influencer les données qui
sont marquées.
Le concept de marquage est applicable aux mesures de classe A lors de la mesure de la
fréquence, de l’amplitude de la tension, du papillotement, du déséquilibre de la tension
d’alimentation, des harmoniques de tension, des interharmoniques de tension, de la
transmission de signaux et de la mesure des paramètres de valeur basse et de valeur haute de
la tension.
Si, pendant une période d’agrégation, une valeur est marquée, les valeurs agrégées, y compris
cette valeur, seront également marquées. La valeur marquée sera enregistrée et également
incluse dans le processus d’agrégation c’est à dire que si pendant une période d’agrégation
donnée une valeur est marquée, la valeur agrégée qui comprend cette valeur marquée sera

également marquée et enregistrée.
NOTE 1 L’évaluation des données marquées est laissée au choix de l’utilisateur
NOTE 2 Pour un appareil de mesure, il peut être utile d’enregistrer séparément les défauts internes tels que les
surcharges ou la perte de synchronisme du PLL.

– 24 – 61000-4-30 © CEI:2003
5 Paramètres de qualité de l’alimentation

5.1 Fréquence industrielle
5.1.1 Mesure
– Méthode de classe A
L’indication de fréquence doit être obtenue toutes les 10 s. Du fait que la fréquence indus-

trielle peut ne pas être exactement 50 Hz ou 60 Hz au cours de l’intervalle de temps

d’horloge de 10 s, le nombre de périodes peut ne pas être un nombre entier. La mesure de

la fréquence fondamentale est le rapport du nombre de périodes entières comptées au
cours de l’intervalle de temps d’horloge de 10 s divisé par la durée cumulée des périodes
entières. Avant chaque évaluation, les harmoniques et interharmoniques doivent être
atténués afin de minimiser les effets de multiples passages par zéro.
Les intervalles de temps de mesure ne doivent pas se recouvrir. Les périodes individuelles
chevauchant temporellement la frontière d’un intervalle 10 s sont rejetées. Chaque
intervalle 10 s doit commencer sur un top 10 s d’horloge, ±20 ms pour le 50 Hz ou
±16,7 ms pour le 60 Hz.
NOTE D’autres techniques permettant d’obtenir des résultats équivalents, telles que la convolution, sont
acceptables.
– Méthode de classe B
Le constructeur doit indiquer le processus utilisé pour la mesure de la fréquence.
5.1.2 Incertitude de mesure
– Méthode de classe A
Dans le domaine des grandeurs d’influence et dans les conditions décrites en 6.1, l’appareil
de mesure présente une incertitude Δf qui ne doit pas dépasser ±0,01 Hz.
– Méthode de classe B
Le constructeur doit spécifier l’incertitude Δf dans le domaine des grandeurs d’influence et
dans les conditions décrites en 6.1.
5.1.3 Évaluation des mesures
– Méthode de classe A
La mesure de fréquence doit être faite sur la voie de référence.
– Méthode de classe B
Le constructeur doit indiquer le processus utilisé pour la mesure de fréquence.
5.2 Amplitude de la tension d’alimentation
5.2.1 Mesure
– Méthode de classe A
La mesure doit être la valeur efficace de l’amplitude de la tension sur un intervalle de
temps de 10 périodes pour les réseaux 50 Hz ou sur un intervalle de temps de 12 périodes
pour les réseaux 60 Hz. Les intervalles de 10/12 périodes doivent être contigus et ne
doivent pas chevaucher les intervalles voisins.
NOTE 1 Cette méthode de mesure particulière est utilisée pour les signaux quasi stationnaires et ne l’est pas
pour la détection et la mesure des perturbations: creux, surtensions temporaires à fréquence industrielle,
coupures et transitoires de tension.
NOTE 2 La valeur efficace comprend par définition les harmoniques, les interharmoniques, les signaux de
télécommande centralisée, etc.

– 26 – 61000-4-30 © CEI:2003
– Méthode de classe B
La mesure doit être la valeur efficace de la tension sur une période spécifiée par le
constructeur.
5.2.2 Incertitude des mesures
– Méthode de classe A
Dans le domaine de variation des grandeurs d’influence et dans les conditions décrites en

6.1, l’instrument présente une incertitude ΔU qui ne doit pas dépasser ±0,1 % de U .
din
– Méthode de classe B
Le constructeur doit spécifier l’incertitude ΔU dans le domaine des grandeurs d’influence et
dans les conditions décrites en 6.1. Dans tous les cas, l’incertitude ΔU ne doit pas

dépasser ±0,5 % de U .
din
5.2.3 Évaluation des mesures
– Méthode de classe A
Les intervalles d’agrégation spécifiés en 4.5 doivent être utilisés.
– Méthode de classe B
Le constructeur doit spécifier les intervalles d’agrégation.
NOTE Des intervalles d’agrégation configurables par l’utilisateur sont acceptables.
5.3 Papillotement («flicker»)
5.3.1 Mesure
– Méthode de classe A
La CEI 61000-4-15 s’applique.
– Méthode de classe B
Pas d’exigences.
5.3.2 Incertitude de mesure
– Méthode de classe A
Voir la CEI 61000-4-15.
– Méthode de classe B
Non spécifiée.
5.3.3 Évaluation des mesures
– Méthode de classe A
La CEI 61000-4-15 s’applique.
Les creux, les surtensions temporaires à fréquence industrielle et les coupures de tension
doivent entraîner le marquage des valeurs de sortie P et P ainsi que des valeurs de
st lt
«sortie 4 et 5» (voir CEI 61000-4-15).
– Méthode de classe B
Non spécifiée.
– 28 – 61000-4-30 © CEI:2003
5.4 Creux de la tension d’alimentation et surtensions temporaires à fréquence
industrielle
5.4.1 Mesure de base
La mesure de base des creux de tension et des surtensions à fréquence industrielle est la

mesure de U sur chaque voie de mesure.
eff(1/2)
NOTE 1 Pour la classe A, la durée de la période de U dépend de la fréquence. La fréquence peut être

eff(1/2)
déterminée par la dernière mesure de fréquence non «marquée» (voir 4.7 et 5.1) ou par toute autre méthode

assurant le niveau d’incertitude spécifié en 6.2.

NOTE 2 La valeur U inclut par définition les harmoniques, les interharmoniques, les signaux de
eff(1/2)
télécommande centralisée, etc.
5.4.2 Détection et évaluation d’un creux de tension
5.4.2.1 Détection d’un creux de tension
Le seuil de creux de tension est un pourcentage soit de U soit de la référence de tension
din
glissante U (voir 5.4.4). La sélection d’une tension de référence fixe ou glissante doit être
rg
déclarée par l’utilisateur.
NOTE La référence de tension glissante U n’est en général pas utilisée dans les réseaux à basse tension. Voir la
rg
CEI 61000-2-8 pour plus d’informations et de conseils.
– Dans les systèmes monophasés, un creux de tension commence lorsque la tension U
eff(1/2)
tombe en dessous du seuil de creux, et se termine lorsque la tension U est égale ou
eff(1/2)
supérieure au seuil de creux plus la tension d’hystérésis.
– Dans les systèmes polyphasés, un creux commence lorsque la tension U d’une ou
eff(1/2)
plusieurs voies tombe en dessous du seuil de creux et se termine lorsque la tension
U sur toutes les voies mesurées est égale ou supérieure au seuil de creux plus la
eff(1/2)
tension d’hystérésis.
Le seuil de creux et la tension d’hystérésis sont tous deux déterminés par l’utilisateur en
fonction de l’utilisation.
5.4.2.2 Évaluation d’un creux de tension
Un creux de tension est caractérisé par un couple de données, la tension résiduelle (U ) ou
res
la profondeur et la durée:
– la tension résiduelle est la plus petite valeur de U mesurée sur n’importe quelle voie
eff(1/2)
au cours du creux;
– la profondeur d’un creux de tension est la différence entre la tension de référence (U ou
din
U ) et la tension résiduelle. Elle s’exprime en général en pourcentage de la tension de
rg
référence;
– la durée d’un creux de tension est la différence de temps entre le début et la fin du creux
de tension.
NOTE 1 Pour les mesures polyphasées, la mesure de la durée du creux peut commencer sur une voie et se
terminer sur une voie différente.
NOTE 2 L’enveloppe des creux de tension peut ne pas être rectangulaire. En conséquence, pour un creux de
tension donné, la durée mesurée dépend de la valeur de seuil de creux sélectionnée. La forme de l’enveloppe peut
être évaluée au moyen de plusieurs seuils de creux dans la plage de détection des seuils de creux de tension et de
coupure de tension.
NOTE 3 L’hystérésis est en général égale à 2 % de U .
din
NOTE 4 Les seuils de creux sont généralement dans la plage de 85 % à 90 % de la référence de tension fixe pour
des applications de recherche de pannes ou statistiques et de 70 % pour des applications contractuelles.
NOTE 5 La tension résiduelle est souvent utilisée par l’utilisateur final, et est préférée car elle est référencée par
rapport à zéro volt. A contrario, la profondeur est souvent utilisée par les distributeurs d’électricité, en particulier
dans les réseaux à haute tension ou en cas d’utilisation de la référence glissante de tension.
NOTE 6 Un saut de phase peut se produire pendant un creux de tension. Voir A.9.4.
NOTE 7 Lorsqu’un seuil est franchi, il est utile d’enregistrer l’heure ainsi que la date.

– 30 – 61000-4-30 © CEI:2003
5.4.3 Détection et évaluation d’une surtension temporaire à fréquence industrielle

5.4.3.1 Détection d’une surtension temporaire à fréquence industrielle

Le seuil de détection est un pourcentage soit de U soit de la référence de tension glissante
din
U (voir 5.4.4). La sélection d’une tension de référence fixe ou glissante doit être déclarée par
rg
l’utilisateur.
NOTE La référence de tension glissante U n’est en général pas utilisée dans les réseaux à basse tension. Voir la

rg
CEI 61000-2-8 pour plus d’informations et de conseils.

– Sur les systèmes monophasés, une surtension temporaire à fréquence industrielle commence

lorsque la tension U s’élève au-dessus du seuil de surtension temporaire à fréquence

eff(1/2)
industrielle, et se termine lorsque la tension U est égale ou inférieure au seuil de
eff(1/2)
surtension temporaire à fréquence industrielle moins la tension d’hystérésis.
– Sur les systèmes polyphasés, une surtension temporaire à fréquence industrielle commence
lorsque la tension U d’une voie au moins s’élève au-dessus du seuil de surtension
eff(1/2)
temporaire à fréquence industrielle et se termine lorsque la tension U sur toutes les
eff(1/2)
voies de mesure est égale ou inférieure au seuil de surtension temporaire à fréquence
industrielle moins la tension d’hystérésis.
Le seuil de surtension temporaire à fréquence industrielle et la tension d’hystérésis sont tous
deux déterminés par l’utilisateur en fonction de l’utilisation.
5.4.3.2 Évaluation d’une surtension temporaire à fréquence industrielle
Une surtension temporaire à fréquence industrielle est caractérisée par
...


NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-30
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-02
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM

BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-30:
Techniques d'essai et de mesure –
Méthodes de mesure de la qualité
de l'alimentation
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-30:
Testing and measurement techniques –
Power quality measurement methods

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-30:2003
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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Commission Electrotechnique Internationale
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International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 61000-4-30 © CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4

INTRODUCTION .6

1 Domaine d’application . 8

2 Références normatives . 8

3 Définitions.10

4 Généralités .18

4.1 Classes de méthodes de mesure .18

4.2 Organisation des mesures.18
4.3 Valeurs électriques à mesurer.18
4.4 Agrégation des intervalles de temps de mesure.20
4.5 Processus d’agrégation des mesures .20
4.6 Incertitude d’horloge .22
4.7 Concept de «marquage» .22
5 Paramètres de qualité de l’alimentation .24
5.1 Fréquence industrielle.24
5.2 Amplitude de la tension d’alimentation.24
5.3 Papillotement («flicker») .26
5.4 Creux de la tension d’alimentation et surtensions temporaires à fréquence
industrielle .28
5.5 Coupures de la tension d’alimentation .32
5.6 Tensions transitoires.34
5.7 Déséquilibre de la tension d’alimentation.34
5.8 Harmoniques de tension .36
5.9 Interharmoniques de tension .36
5.10 Amplitude des signaux de télécommande centralisée .38
5.11 Variations rapides de tension .38
5.12 Mesure des paramètres de «valeur basse» et de «valeur haute» de la tension
(«tension haute» et de «tension basse») .38
6 Domaine de variation des grandeurs d’influence et vérification de la conformité.40
6.1 Domaine de variation des grandeurs d’influence.40
6.2 Vérification de la réalisation des méthodes de mesure.42
Annexe A (informative) Mesures de la qualité de l’alimentation – Informations et lignes
directrices .46

A.1 Recommandations d’installation .46
A.2 Transducteurs.52
A.3 Tensions et courants transitoires.58
A.4 Variations rapides de tension .64
A.5 Courant .64
A.6 Indications pour l’application contractuelle des mesures de la qualité de
l’alimentation .70
A.7 Application à la recherche de pannes .78
A.8 Application à des traitements statistiques .80
A.9 Caractéristiques des creux de tension .82
Bibliographie .88

61000-4-30 © IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5

INTRODUCTION .7

1 Scope . 9

2 Normative references. 9

3 Definitions.11

4 General.19

4.1 Classes of measurement performance .19

4.2 Organization of the measurements .19
4.3 Electrical values to be measured.19
4.4 Measurement aggregation over time intervals.21
4.5 Measurement aggregation algorithm.21
4.6 Time-clock uncertainty .23
4.7 Flagging concept.23
5 Power quality parameters .25
5.1 Power frequency .25
5.2 Magnitude of the supply voltage .25
5.3 Flicker .27
5.4 Supply voltage dips and swells .29
5.5 Voltage interruptions .33
5.6 Transient voltages .35
5.7 Supply voltage unbalance.35
5.8 Voltage harmonics .37
5.9 Voltage interharmonics .37
5.10 Mains signalling voltage on the supply voltage.39
5.11 Rapid voltage changes.39
5.12 Measurement of underdeviation and overdeviation parameters .39
6 Range of influence quantities and implementation verification.41
6.1 Range of influence quantities .41
6.2 Implementation verification.43
Annex A (informative) Power quality measurements – Issues and guidelines.47
A.1 Installation precautions .47
A.2 Transducers.53

A.3 Transient voltages and currents .59
A.4 Rapid voltage changes.65
A.5 Current .65
A.6 Guidelines for contractual applications of power quality measurements.71
A.7 Trouble-shooting applications.79
A.8 Statistical survey applications.81
A.9 Voltage dip characteristics .83
Bibliography .89

– 4 – 61000-4-30 © CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-30: Techniques d’essai et de mesure –

Méthodes de mesure de la qualité de l’alimentation

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation internationale de normalisation
composée de l’ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour
objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l’électricité et de l’électronique. À cette fin et en plus d’autres activités, la CEI publie des Normes
internationales. Leur préparation est confiée aux comités d’études; il est permis à tout Comité national intéressé
par le sujet traité de participer à ces travaux préparatoires. Les organisations internationales, gouvernementales
et non gouvernementales qui assurent la liaison avec la CEI participent également à cette préparation. La
CEI travaille en collaboration étroite avec l’Organisation internationale de normalisation (ISO), conformément
aux conditions de l’accord passé entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d’encourager l’unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s’engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure du possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains éléments de la présente Norme internationale peuvent faire l’objet
de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour responsable de ne
pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-30 a été préparée par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d’étude 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-30 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au guide 107 de la CEI.
Le texte de la présente norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
77A/398/FDIS 77A/402/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de la présente norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2005. À cette
date, la publication sera:
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
Le contenu du corrigendum d'août 2006 a été pris en considération dans cet exemplaire.

61000-4-30 © IEC:2003 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-30: Testing and measurement techniques –

Power quality measurement methods

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
instrument declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-30 has been prepared by subcommittee 77A: Low-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
This standard forms part 4-30 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
77A/398/FDIS 77A/402/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2005. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
The contents of the corrigendum of August 2006 have been included in this copy.

– 6 – 61000-4-30 © CEI:2003
INTRODUCTION
La CEI 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties conformément à la structure

suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne tombent pas sous la responsabilité des
comités produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d’essai
Partie 5: Directives d’installation et d’atténuation
Guide d’installation
Méthodes et dispositifs d’atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme Normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines
ont déjà été publiées en tant que sections D’autres seront publiées avec le numéro de la partie
suivi d’un tiret et complété d’un second chiffre identifiant la subdivision (exemple: 61000-6-1).

61000-4-30 © IEC:2003 – 7 –
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts according to the following structure:

Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards
or as Technical Specifications or Technical Reports, some of which have already been
published as sections. Others will be published with the part number followed by a dash and
completed by a second number identifying the subdivision (example: 61000-6-1).

– 8 – 61000-4-30 © CEI:2003
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-30: Techniques d’essai et de mesure –

Méthodes de mesure de la qualité de l’alimentation

1 Domaine d’application
La présente partie de la CEI 61000-4 définit les méthodes de mesure des paramètres de
qualité de l’alimentation des réseaux à courant alternatif 50/60 Hz et la façon d’interpréter les
résultats.
Pour chaque type de paramètre concerné, les méthodes de mesure sont décrites. Elles
permettent d’obtenir des résultats fiables, reproductibles et comparables, ceci, quel que soit
l’instrument utilisé en conformité avec la présente norme et quelles que soient ses conditions
d’environnement. La présente norme porte sur les méthodes de mesure destinées aux
mesures sur site.
La mesure des paramètres couverts par la présente norme se limite aux phénomènes
susceptibles de se propager sur un réseau d’énergie électrique. Ils concernent selon les cas
ceux relatifs à la tension et/ou au courant.
Les paramètres de qualité de l’alimentation pris en compte dans le présent document sont la
fréquence, l’amplitude de la tension d’alimentation, le papillotement («flicker»), les creux et les
surtensions temporaires d’alimentation, les coupures de tension, les tensions transitoires, le
déséquilibre de tension d’alimentation, les harmoniques et interharmoniques de tension et de
courant, les signaux transmis sur la tension d’alimentation et les variations rapides de tension.
En fonction de l’objet de la mesure, les mesures peuvent porter soit sur une partie des
phénomènes de cette liste, soit sur l’ensemble.
La présente norme définit des méthodes de mesure mais ne constitue pas une spécification de
réalisation. Les essais de précision dans le domaine de variation des grandeurs d’influence de
la présente norme sont utilisés comme exigence fonctionnelle.
La présente norme indique des méthodes de mesure sans fixer de seuils.
Les effets des transducteurs placés entre le réseau et l’appareil de mesure sont pris en
compte mais non traités en détail dans la présente norme. Les précautions à prendre pour
installer des instruments de mesure sur des circuits sous tension sont indiquées dans la
présente norme.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60050(161), Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161: Compatibilité
électromagnétique
61000-4-30 © IEC:2003 – 9 –
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-30: Testing and measurement techniques –

Power quality measurement methods

1 Scope
This part of IEC 61000-4 defines the methods for measurement and interpretation of results for
power quality parameters in 50/60 Hz a.c. power supply systems.
Measurement methods are described for each relevant type of parameter in terms that will
make it possible to obtain reliable, repeatable and comparable results regardless of the
compliant instrument being used and regardless of its environmental conditions. This standard
addresses measurement methods for in situ measurements.
Measurement of parameters covered by this standard is limited to those phenomena that can
be conducted in a power system. These include the voltage and/or current parameters, as
appropriate.
The power quality parameters considered in this standard are power frequency, magnitude of
the supply voltage, flicker, supply voltage dips and swells, voltage interruptions, transient
voltages, supply voltage unbalance, voltage and current harmonics and interharmonics, mains
signalling on the supply voltage and rapid voltage changes. Depending on the purpose of the
measurement, all or a subset of the phenomena on this list may be measured.
This standard is a performance specification, not a design specification. The uncertainty tests
in the ranges of influence quantities in this standard determine the performance requirements.
This standard gives measurement methods but does not set thresholds.
The effects of transducers being inserted between the power system and the instrument are
acknowledged but not addressed in detail in this standard. Precautions on installing monitors
on live circuits are addressed.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For
dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of
the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60050(161), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
– 10 – 61000-4-30 © CEI:2003
CEI 60050-300, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Mesures et appareils de
mesure électriques et électroniques – Partie 311: Termes généraux concernant les mesures –

Partie 312: Termes généraux concernant les mesures électriques – Partie 313: Types

d’appareils électriques de mesure – Partie 314: Termes spécifiques selon le type d’appareil

CEI 61000-2-4, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2-4: Environnement – Niveaux

de compatibilité dans les installations industrielles pour les perturbations conduites à basse

fréquence – Publication fondamentale en CEM

CEI 61000-3-8, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3: Limites – Section 8: Trans-

mission de signaux dans les installations électriques à basse tension – Niveaux d’émission,

bandes de fréquences et niveaux de perturbations électromagnétiques
CEI 61000-4-7:2002, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-7: Techniques d’essai
et de mesure – Guide général relatif aux mesures d’harmoniques et d’interharmoniques, ainsi
qu’à l’appareillage de mesure, applicable aux réseaux d’alimentation et aux appareils qui y sont
raccordés – Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-15, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d’essai et de
mesure – Section 15: Flickermètre – Spécifications fonctionnelles et de conception
CEI 61180 (toutes les parties), Techniques des essais à haute tension pour matériels à basse
tension
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61000, les définitions suivantes s’appliquent,
ainsi que les définitions de la CEI 60050(161).
3.1
voie (de mesure)
ensemble des dispositifs de mesure associés à une mesure individuelle
NOTE «Voies» et «phases» n’ont pas la même signification. Une voie de mesure correspond par définition à une
différence de potentiel entre deux conducteurs. Une phase correspond à un simple conducteur. Dans les systèmes
polyphasés, une voie de mesure peut être entre deux phases ou entre une phase et le neutre, ou entre une phase
et la terre.
3.2
tension d’entrée déclarée, U
din
valeur obtenue à partir de la tension d’alimentation déclarée d’un rapport de transformation
3.3
tension d’alimentation déclarée, U
c
la tension d’alimentation déclarée U est généralement la tension nominale U du réseau. Si,
c n
par suite d’un accord entre le distributeur et le client, la tension d’alimentation appliquée à ses
bornes diffère de la tension nominale, alors, cette tension correspond à la tension d’alimen-
tation déclarée U
c
3.4
seuil de creux
valeur de tension spécifiée pour permettre de détecter le début et la fin d’un creux de tension
3.5
données marquées
pour tout intervalle de temps de mesure au cours duquel se produisent des coupures, des
creux ou des surtensions temporaires à fréquence industrielle, le résultat de la mesure
effectuée sur tous les autres paramètres au cours de cet intervalle de temps est marqué

61000-4-30 © IEC:2003 – 11 –
IEC 60050-300, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Electrical and electronic
measurements and measuring instruments – Part 311: General terms relating to measurements

– Part 312: General terms relating to electrical measurements – Part 313: Types of electrical

measuring instruments – Part 314: Specific terms according to the type of instrument

IEC 61000-2-4, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2-4: Environment – Compatibility

levels in industrial plants for low-frequency conducted disturbances – Basic EMC publication

IEC 61000-3-8, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3: Limits – Section 8: Signalling on

low-voltage electrical installations – Emission levels, frequency bands and electromagnetic

disturbance levels
IEC 61000-4-7:2002, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-7: Testing and measure-
ment techniques – General guide on harmonics and interharmonics measurements and
instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto – Basic EMC
publication
IEC 61000-4-15, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 15: Flickermeter – Functional and design specifications
IEC 61180 (all parts), High-voltage test techniques for low voltage equipment
3 Definitions
For the purpose of this part of IEC 61000 the following definitions apply, together with the
definitions of IEC 60050(161).
3.1
channel
individual measurement path through an instrument
NOTE “Channel” and “phase” are not the same. A voltage channel is by definition the difference in potential
between 2 conductors. Phase refers to a single conductor. On polyphase systems, a channel may be between 2
phases, or between a phase and neutral, or between a phase and earth.
3.2
declared input voltage, U
din
value obtained from the declared supply voltage by a transducer ratio
3.3
declared supply voltage, U
c
declared supply voltage U is normally the nominal voltage U of the system. If by agreement
c n
between the supplier and the customer a voltage different from the nominal voltage is applied
to the terminal, then this voltage is the declared supply voltage U
c
3.4
dip threshold
voltage magnitude specified for the purpose of detecting the start and the end of a voltage dip
3.5
flagged data
for any measurement time interval in which interruptions, dips or swells occur, the measure-
ment results of all other parameters made during this time interval are flagged

– 12 – 61000-4-30 © CEI:2003
3.6
papillotement («flicker»)
impression d’instabilité de la sensation visuelle due à un stimulus lumineux dont la luminance
ou la répartition spectrale fluctue dans le temps

[VEI 161-08-13]
3.7
composante fondamentale
composante dont la fréquence est la fréquence fondamentale

[VEI 101-14-49 modifié]
3.8
fréquence fondamentale
fréquence du spectre obtenue à partir d’une transformée de Fourier d’une fonction temporelle,
servant de référence à toutes les autres fréquences du spectre
[VEI 101-14-50 modifié]
NOTE S’il subsiste un risque d’ambiguïté, la fréquence fondamentales est déterminée à partir de la polarité et de
la vitesse de rotation du ou des générateurs synchrones alimentant le réseau.
3.9
composante harmonique
toute composante ayant une fréquence harmonique
[CEI 61000-2-2 définition 3.2.4]
NOTE Sa valeur est normalement exprimée sous la forme d’une valeur efficace. Pour des raisons de simplicité,
cette composante peut simplement être appelée harmonique.
3.10
fréquence harmonique
fréquence qui est un multiple entier de la fréquence fondamentale
NOTE Le rapport de la fréquence harmonique à la fréquence fondamentale est nommé rang de l’harmonique
(CEI 61000-2-2 définition 3.2.3).
3.11
hystérésis
différence d’amplitude entre les valeurs aller et retour de seuils
NOTE 1 Cette définition de l’hystérésis est relative à la mesure des paramètres de la qualité de l’alimentation. et
est différente de celle du VEI qui concerne la saturation des noyaux métalliques.
NOTE 2 Le but de l’hystérésis dans le contexte de mesure de la qualité de l’alimentation est d’éviter de compter
de multiples événements lorsque l’amplitude du paramètre oscille prés de la valeur de seuil.
3.12
grandeur d’influence
grandeur susceptible d’affecter le fonctionnement d’un instrument de mesure
[VEI 311-06-01 modifié]
NOTE Cette grandeur est généralement externe à l’instrument de mesure.
3.13
composante interharmonique
composante ayant une fréquence interharmonique
[CEI 61000-2-2 définition 3.2.6]
NOTE Sa valeur est en général exprimée sous la forme d’une valeur efficace. Pour des raisons de concision, cette
composante peut être simplement appelée interharmonique.

61000-4-30 © IEC:2003 – 13 –
3.6
flicker
impression of unsteadiness of visual sensation induced by a light stimulus whose luminance or

spectral distribution fluctuates with time

[IEV 161-08-13]
3.7
fundamental component
component whose frequency is the fundamental frequency

[IEV 101-14-49, modified]
3.8
fundamental frequency
frequency in the spectrum obtained from a Fourier transform of a time function, to which all the
frequencies of the spectrum are referred
[IEV 101-14-50, modified]
NOTE In case of any remaining risk of ambiguity, the fundamental frequency should be derived from the number
of poles and speed of rotation of the synchronous generator(s) feeding the system.
3.9
harmonic component
any of the components having a harmonic frequency
[IEC 61000-2-2, definition 3.2.4]
NOTE Its value is normally expressed as an r.m.s. value. For brevity, such component may be referred to simply
as a harmonic.
3.10
harmonic frequency
frequency which is an integer multiple of the fundamental frequency
NOTE The ratio of the harmonic frequency to the fundamental frequency is the harmonic order (IEC 61000-2-2,
definition 3.2.3).
3.11
hysteresis
difference in magnitude between the start and end thresholds
NOTE 1 This definition of hysteresis is relevant to PQ measurement parameters and is different from the IEV
definition which is relevant to iron core saturation.
NOTE 2 The purpose of hysteresis in the context of PQ measurements is to avoid counting multiple events when
the magnitude of the parameter oscillates about the threshold level.

3.12
influence quantity
any quantity which may affect the working performance of a measuring equipment
[IEV 311-06-01, modified]
NOTE This quantity is generally external to the measurement equipment.
3.13
interharmonic component
component having an interharmonic frequency
[IEC 61000-2-2, definition 3.2.6]
NOTE Its value is normally expressed as an r.m.s. value. For brevity, such a component may be referred to simply
as an interharmonic.
– 14 – 61000-4-30 © CEI:2003
3.14
fréquence interharmonique
toute fréquence qui n’est pas un multiple entier de la fréquence fondamentale

[CEI 61000-2-2 définition 3.2.5]

NOTE 1 Par extension du rang de l’harmonique, le rang de l’interharmonique est le rapport d’une fréquence

interharmonique à la fréquence fondamentale. Ce rapport n’est pas un nombre entier (notation recommandée: m).

NOTE 2 Lorsque m < 1, le terme fréquence sous-harmonique peut être utilisé.

3.15
coupure
réduction de la tension en un point du réseau d’énergie électrique en dessous du seuil de
coupure
3.16
seuil de coupure
valeur de tension spécifiée pour permettre de détecter le début et la fin d’une coupure
3.17
incertitude de mesure
écart maximal prévisible entre une valeur mesurée et sa valeur réelle
3.18
tension nominale, U
n
tension par laquelle un réseau est désigné ou identifié
3.19
valeur haute
pour un paramètre donné, valeur absolue de la différence entre valeur mesurée et valeur
nominale, uniquement lorsque la valeur mesurée du paramètre est supérieure à la valeur
nominale
3.20
qualité de l’alimentation
caractéristiques de l’électricité en un point donné d’un réseau d’énergie électrique, évaluée par
rapport à un ensemble de paramètres techniques de référence
NOTE Ces paramètres peuvent dans certains cas tenir compte de la compatibilité entre l’électricité fournie par un
réseau et les charges connectées à ce réseau.
3.21
valeur efficace (eff)
racine carrée de la moyenne arithmétique des carrés des valeurs instantanées d’une grandeur

durant un intervalle de temps spécifié
[VEI 101-14-16 modifié]
3.22
tension efficace rafraîchie par demi-période, U
eff(1/2)
valeur de la tension efficace mesurée sur une période, commençant à un passage par zéro de
la composante fondamentale, et rafraîchie à chaque demi-période
NOTE 1 Cette technique est indépendante sur chaque voie de mesure et produira des valeurs efficaces à des
instants successifs sur chaque voie en cas de systèmes polyphasés.
NOTE 2 Cette valeur n’est utilisée que pour la détection des creux de tension, des surtensions à fréquence
industrielle et des interruptions.
3.23
domaine des grandeurs d’influence
domaine de variation des valeurs d’une grandeur d’influence donnée

61000-4-30 © IEC:2003 – 15 –
3.14
interharmonic frequency
any frequency which is not an integer multiple of the fundamental frequency

[IEC 61000-2-2, definition 3.2.5]

NOTE 1 By extension from harmonic order, the interharmonic order is the ratio of an interharmonic frequency to

the fundamental frequency. This ratio is not an integer (recommended notation m).

NOTE 2 In the case where m < 1 the term subharmonic frequency may be used.

3.15
interruption
reduction of the voltage at a point in the electrical system below the interruption threshold
3.16
interruption threshold
voltage magnitude specified for the purpose of detecting the start and the end of a voltage
interruption
3.17
measurement uncertainty
maximum expected deviation of a measured value from its actual value
3.18
nominal voltage, U
n
voltage by which a system is designated or identified
3.19
overdeviation
difference between the measured value and the nominal value of a parameter, only when the
measured value of the parameter is greater than the nominal value
3.20
power quality
characteristics of the electricity at a given point on an electrical system, evaluated against a set
of reference technical parameters
NOTE These parameters might, in some cases, relate to the compatibility between electricity supplied on a
network and the loads connected to that network.
3.21
r.m.s. (root-mean-square) value
square root of the arithmetic mean of the squares of the instantaneous values of a quantity

taken over a specified time interval and a specified bandwidth
[IEV 101-14-16 modified]
3.22
r.m.s. voltage refreshed each half-cycle, U
rms(1/2)
value of the r.m.s. voltage measured over 1 cycle, commencing at a fundamental zero
crossing, and refreshed each half-cycle
NOTE 1 This technique is independent for each channel and will produce r.m.s. values at successive times on
different channels for polyphase systems.
NOTE 2 This value is used only for voltage dip, voltage swell, and interruption detection.
3.23
range of influence quantities
range of values of a single influence quantity

– 16 – 61000-4-30 © CEI:2003
3.24
voie de référence
pour les mesures polyphasé
...

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