Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification

STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to excute digital vectors on automated test equipment(ATE). STIL language extensions include structures for:(a) specifying the DC conditions for a device under test; specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector;(c) specifying alternate DC levels;and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.

General Information

Status
Published
Publication Date
06-Nov-2007
Drafting Committee
Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
15-Nov-2007
Completion Date
07-Nov-2007
Ref Project
Standard
IEC 62527:2007 - Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
English language
39 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)


IEC 62527
Edition 1.0 2007-11

IEEE 1450.2
INTERNATIONAL
STANDARD
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for
DC Level Specification
All rights reserved. IEEE is a registered trademark in the U.S. Patent & Trademark Office, owned by the Institute of
Electrical and Electronics Engineers, Inc.
Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the IEC Central Office.
Any questions about IEEE copyright should be addressed to the IEEE. Enquiries about obtaining additional rights
to this publication and other information requests should be addressed to the IEC or your local IEC member National
Committee.
IEC Central Office The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
3, rue de Varembé 3 Park Avenue
CH-1211 Geneva 20 US-New York, NY10016-5997
Switzerland USA
Email: inmail@iec.ch Email: stds-info@ieee.org
Web: www.iec.ch Web: www.ieee.org

About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
ƒ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
ƒ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service
Centre FAQ or contact us:
Email: csc@iec.ch
Tel.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
IEC 62527
Edition 1.0 2007-11

IEEE 1450.2
INTERNATIONAL
STANDARD
Standard for extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for d.c.
level specification
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
PRICE CODE
W
ICS 25.040 ISBN 2-8318-9480-8
– 2 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
CONTENTS
FOREWORD.4
IEEE Introduction .7
�� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 8
��� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 9
��� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
�� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
�� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
��� ����������� ����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
��� �������������������������� ������������������������������������������������������������������������������������������������������13
� ��������������!����������� ��������������������������������������������������������������������������������������������������� �����������������14
"� #$������������%&�����’���()*������$������������ ������������������������������������������������������������������������������ �14
"�� ���������&�������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������14
"�� �%��$��������������������+��,�$��- �������������������������������������������������������������������������������������������14
"�� ��������������()*��������������������������&������+)###������ "./�000��’��’-������������������� 15
’� ��������������������������1���2����������()*������������ ���������������������������������������������������������������� 15
’�� (��/&���&������������������3�������������1 ������������������������������������������������������������������������������� 15
’�� �������&����/&���&����������� �����������������������������������������������������������������������������������������������������16
4� #$������������%&�����5���()*���������� ��������������������������������������������������������������������������������������� ������16
4�� �()*������$����������������������������������������������������������������������������������������������������������������� ��������������� �7
4�� �()*��$���&� ���������������������������������������������������������������������������������������������������������������� ������������ �7
5� #$������������%&������0�������������&�������&��6���������������������������������������������������������������������������� �7
0� #$������������%&������’���������#$����&��6�������������������������������������������������������������������������������������� �7
0�� �������#$����&��6������$����������������������������������������������������������������������������������������������������������� �7
0�� �������#$����&��6��$���&��������������������������������������������������������������������������������������������������������� �8
0�� �%*���&�������%��������1������������#$����������������&��6� ���������������������������������������������� �8
�.� �%*���&���&��6 ��������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� �8
�.�� �%*���&���&��6������$�������������������������������������������������������������������������������������������������������������� �9
�.�� �%*���&���&��6��$���&������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 31
�.�� )�!�����%*���&�����������1 ����������������������������������������������������������������������������������������������������. 33
�.� )�!�����%*���&���$���&����������������������������������������������������������������������������������������������������� ������ 33
��� �%������&��6 ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 34
���� �%������&��6������$������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 34
���� �%����������������$���&� �������������������������������������������������������������������������������������������������������� 34
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
12. DCSequence block . 24
���� �%��3�������&��6������$ ��������������������������������������������������������������������������������������������������������� 25
���� �%��3�������$���&� ���������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 26
��� #$������������%&������5��7�������(��&���&��6������������������������������������������������������������������������������� � 8
���� #�������������������7�������(��&���&��6 �������������������������������������������������������������������������������� � 8
���� 8�����1��������������1��������%*���&������������ ������������������������������������������������������������������ �9
���� �%�&���&�������!��1��$���&� ���������������������������������������������������������������������������������������������������� 30
� � #$������������%&����������()*������������������� ���������������������������������������������������������������������������� 31
� �� �%*���&�������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� ���������� 31
� �� �%*���&�������������$���&� ������������������������������������������������������������������������������������������������� ��� 31
����$���+�����������-��%*���&�������%��������1���$���&���������������������������������������������������������������������� 32
����$�9�+�����������-�9��&��1���!�������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 38
Annex C (informative) List of participantss. 39
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 4 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
STANDARD FOR EXTENSIONS TO
STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE (STIL)
FOR DC LEVEL SPECIFICATION
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and
electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards,
Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides
(hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees;
any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work.
International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in
this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in
accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has
representation from all interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC
National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical
content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are
used or for any misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC
Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications.
Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication
shall be clearly indicated in the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject
of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC/IEEE 62527 has been processed through Technical
Committee 93: Design automation.
The text of this standard is based on the following documents:
IEEE Std FDIS Report on voting
1450.2(2005) 93/249/FDIS 93/260/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged
until the maintenance result date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
IEC/IEEE Dual Logo International Standards
This Dual Logo International Standard is the result of an agreement between the IEC and the Institute of
Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE). The original IEEE Standard was submitted to the IEC for
consideration under the agreement, and the resulting IEC/IEEE Dual Logo International Standard has been
published in accordance with the ISO/IEC Directives.
IEEE Standards documents are developed within the IEEE Societies and the Standards Coordinating
Committees of the IEEE Standards Association (IEEE-SA) Standards Board. The IEEE develops its standards
through a consensus development process, approved by the American National Standards Institute, which
brings together volunteers representing varied viewpoints and interests to achieve the final product. Volunteers
are not necessarily members of the Institute and serve without compensation. While the IEEE administers the
process and establishes rules to promote fairness in the consensus development process, the IEEE does not
independently evaluate, test, or verify the accuracy of any of the information contained in its standards.
Use of an IEC/IEEE Dual Logo International Standard is wholly voluntary. The IEC and IEEE disclaim liability for
any personal injury, property or other damage, of any nature whatsoever, whether special, indirect,
consequential, or compensatory, directly or indirectly resulting from the publication, use of, or reliance upon
this, or any other IEC or IEEE Standard document.
The IEC and IEEE do not warrant or represent the accuracy or content of the material contained herein, and
expressly disclaim any express or implied warranty, including any implied warranty of merchantability or fitness
for a specific purpose, or that the use of the material contained herein is free from patent infringement.
IEC/IEEE Dual Logo International Standards documents are supplied “AS IS”.
The existence of an IEC/IEEE Dual Logo International Standard does not imply that there are no other ways to
produce, test, measure, purchase, market, or provide other goods and services related to the scope of the
IEC/IEEE Dual Logo International Standard. Furthermore, the viewpoint expressed at the time a standard is
approved and issued is subject to change brought about through developments in the state of the art and
comments received from users of the standard.
Every IEEE Standard is subjected to review at least every five years for revision or reaffirmation. When a
document is more than five years old and has not been reaffirmed, it is reasonable to conclude that its contents,
although still of some value, do not wholly reflect the present state of the art. Users are cautioned to check to
determine that they have the latest edition of any IEEE Standard.
In publishing and making this document available, the IEC and IEEE are not suggesting or rendering
professional or other services for, or on behalf of, any person or entity. Neither the IEC nor IEEE is undertaking
to perform any duty owed by any other person or entity to another. Any person utilizing this, and any other
IEC/IEEE Dual Logo International Standards or IEEE Standards document, should rely upon the advice of a
competent professional in determining the exercise of reasonable care in any given circumstances.
Interpretations – Occasionally questions may arise regarding the meaning of portions of standards as they relate
to specific applications. When the need for interpretations is brought to the attention of IEEE, the Institute will
initiate action to prepare appropriate responses. Since IEEE Standards represent a consensus of concerned
interests, it is important to ensure that any interpretation has also received the concurrence of a balance of
interests. For this reason, IEEE and the members of its societies and Standards Coordinating Committees are
not able to provide an instant response to interpretation requests except in those cases where the matter has
previously received formal consideration.
Comments for revision of IEC/IEEE Dual Logo International Standards are welcome from any interested party,
regardless of membership affiliation with the IEC or IEEE. Suggestions for changes in documents should be in
the form of a proposed change of text, together with appropriate supporting comments. Comments on standards
and requests for interpretations should be addressed to:
Secretary, IEEE-SA Standards Board, 445 Hoes Lane, P.O. Box 1331, Piscataway, NJ 08855-1331, USA and/or
General Secretary, IEC, 3, rue de Varembé, PO Box 131, 1211 Geneva 20, Switzerland.
Authorization to photocopy portions of any individual standard for internal or personal use is granted by the
Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., provided that the appropriate fee is paid to Copyright
Clearance Center. To arrange for payment of licensing fee, please contact Copyright Clearance Center,
Customer Service, 222 Rosewood Drive, Danvers, MA 01923 USA; +1 978 750 8400. Permission to photocopy
portions of any individual standard for educational classroom use can also be obtained through the Copyright
Clearance Center.
NOTE – Attention is called to the possibility that implementation of this standard may require use of subject
matter covered by patent rights. By publication of this standard, no position is taken with respect to the
existence or validity of any patent rights in connection therewith. The IEEE shall not be responsible for
identifying patents for which a license may be required by an IEEE standard or for conducting inquiries into the
legal validity or scope of those patents that are brought to its attention.
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 6 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
IEEE Standard for Extensions to
Standard Test Interface Language
TM
(STIL) (IEEE Std 1450 -1999)
for DC Level Specification
Sponsor
Test Technology Standards Committee
of the
IEEE Computer Society
Approved 11 December 2002
IEEE-SA Standards Board
Abstract: This standard extends IEEE Std 1450-1999 (STIL) to support the definition of DC levels.
STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to execute digital vec-
tors on automated test equipment (ATE). STIL language extensions include structures for: (a) spec-
ifying the DC conditions for a device under test; (b) specifying DC conditions either globally, by
pattern burst, by pattern, or by vector; (c) specifying alternate DC levels; and (d) selecting DC levels
and alternate levels within a period, much the same as timed format events.
Keywords: automated test equipment (ATE), comparator, DC levels, device power supply (DPS),
device under test (DUT), driver, driver termination, dynamic load, functional test, parametric mea-
surement unit (PMU), power sequence, slew rate, voltage clamp
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
IEEE Introduction
���������(����)���������*��1��1��+�()*-�+)###������ "./�000-���������&���������������������!���������/
�����&&���������������������7!�&���%�&���&��������$�&����&���$�&�����������!���������������������������!��
�%� &���&�� ����� ��� ����� ��� ��������� ���� ����������� ��� �!�� �()*� ����� ����������� (!�� �� ".��� 7��6��1
>����������������������������!���$������������%�&���&������!���()*����������
(!���������������������������������������������������!�����6��(!�������&�������/��������������&���&��������1��&
�����+��1���?)@��?)*��?�@��?�*-�������������������&��&���&��+��&��1�������������-��������������3������1
��� �!�� ������� ������ ������ �����1� �!�� ������� ��� ����&�������� ���� ��!��� ���������� ������� ����� ����������
(!�������&������!��������&�������������! ��1�&���&�����!��������������������������!��1�&���&�����������������
�������������
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 8 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
STANDARD FOR EXTENSIONS TO
STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE
TM
(STIL) (IEEE Std 1450 -1999)
FOR DC LEVEL SPECIFICATION
1. Overview

(!�������������$������)###������ "./�000 �+�()*-�������������!�����������������%�&���&���(!���%�&���&�
�������������������������!�����/��������������&���&����!�������������������&��+���-�&���&��������!����3����/
��1�����!����&���&�������������1�����!�����������������1�������!��������������!��1��1�&���&������!���������
(!���%�&���&���������������������������������������������� !������������&��!�������������$���������������������
(!����&������������&���������!��������������
B�1���������������&�����!�������������������������������������������+�E(-�����������������������3�������
+�(#-���������B�1���������������&�����!�����/�����%������������������(#���������B�1���������������&�����!�����/
��������&��%������������������(#���������(!������������������&��6��������������!��������������������������&�/
����� ��� �!���� ����&��� ����� ���������� ������������ ��� �!���� ����&�� ���� ���� ��� ����&��&�� ��� ����� �(#
���������(!���%��3������������������&������%�������&������&����������!��!����������1����������1���?)*
����?)@���������������!���������������������1����!��������������!���E(������������&��
?��
���/�����%
����������
���� ����

������������� +����B�1�����-
�������� ��
���������&�
���E����
�����(���
�����������&
�%����������
+����B�1�����-
>F�
Figure 1—STIL model of DUT test environment on ATE tester

)�����������������������������������������%&��������
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
1.1 Scope
(!���������������������!����&&����1G
�- �����������������������()*��������������1��!���%�������������������E(��#$���&�������!���%������/
���������������������������&���������������������������3������1�����!������������������������&�
&������1H�&�����1��#$���&�������!���%����������������������&���������1��&����������������?)*�
?)@��?�*��?�@��)�*��)�@��?�#B��?%&���*��������?%&���@��
�- �����������������������()*����!��!����!���%��������������������������������!���1&���&&�������������
��������������������������������
�- �����������������������()*�����&&���������������������&���������%�&���&���#$���&������������&�
������&��������&���&������?)@@��?)��������?)**�
�- �������� ����������� ��� �()*� ���!� �!��� �!�� �%�&���&�������&�������� &���&�� ���� �����&���������!��� �
�����������!��!������������������������������
?�@
%����������
�E( ?�*
��1��&
?)@
?)@�&��
������
?)*�&�� ?)*
)�*
���������
*���?���
�����*���
)�@
%&���@�
����?�&��1�
�����%&���
%&���*�
����������
���������(���������� �������������
���(����������
(���?���

?B������)%&���
�8E
)B������?%&���
Figure 2—STIL model of per-pin DC resources of ATE tester
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 10 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
���1���G�������������������
?�@�
����������������������������&������N?��/�?�2N
?� � ���
���1���G�%�����������!���!�&��
� ?�@�
�����������&

%���������
?�%8 ?��
?�2
?�*�
�E( ?�*�
��1��&�
?)@�
?� �
?)@�

?)%8
�?)�
� ��������������&
������
?)*�
?�2 ?)*�
Figure 3—STIL model of differential DC resources of ATE tester
1.2 Purpose
(!������������&&�����������������������()*�������������!���%��������������������������$�������!����1���&����/
���������(#��(!�����&&�����&�������!��)###������ "./�000��������������!��!�������������������������������/
���������������1���������������������������������������������!���%�������������������!��!��!��������������
�!��&��������&����
2. References
(!�������������!�&&���������������I�����������!��! ����&&����1�����������)���!����&&����1������������������/
��������������������������������!������������!�&&����&��
����
)###������ "./�000��)###����������(����)���������*��1��1��+�()*-�������1���&�(����?�������
3. Definitions, acronyms, and abbreviations
3.1 Definitions
(8
B����!���������������!��������������!����&&����1��������������������������&���)###��. �J9�K ��!��&����
�������������������������������������!������������
�����������������������������������������������&��������������!�1!���&��1�������������!���(#������������!�
�E(�

(!��)###��������������������������%&�������������������6������������!��)������������#&�������&�����#&����������#�1��������)���

)###����&�����������������&��&��������!��)������������#&�������&�����#&����������#�1�������� "�@����*����������9�$������������ ������
FM�.55""/������E���+!���GHH�����������������1H-�

(!�����������������6�������������������!��������!�����&��1���!���������$�9�
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
�����������������������������������������������&��������������!�1!���&��1�������������!���(#������������!�
�E(��(!������������&&����������1�����������1������1���&���������&�������&&�����1������&�����������������
��������������!��!��������&������������?�������!�������$��������1������1���&��1��
������������������������������������� �������&��������������&�����&��1�������������!���(#������������!�
�E(�
����!�����"���#���$���%���"�����&�’�������������!�������������������������&���������!������������������1���
�������������������������������+�E(-�
����(�#��"��#���������)��"����(!����$��������������&&�������������������8E�
����*�#��"������������)��"����(!����$�������&��1���&&�������������������8E�
����+�#�"����������������������������(#��!������������&��1�����������������!���E(������1����������&
������1�
����,�-���#��������$����.���������������������������(#��!�������������%���&��1�����H���������������!�
�E(�����������&�������
����/�-���#����-�����$�������������&��������������������������&&���������1���������������������������������
�(#�
�����0�-�11���������#�"����������������������������(#��!������������&��1��������������������������E(
�������������1����������&�������1�
�������-�11���������-��������������������������(#��!��������������&��1���������������������E(�����������/
��1����������&�������1�
�������-�11������������������������������������(!�������������&�������!�1!���&��1�������������!���(#�������
����!���E(�
�������-�11������������������������������ ����(!�������������&�������&�����&��1�������������!���(#�������
����!���E(�
�����!�-�11������������������������������ (!�� �����������&� ������ ��&��1�� ������� ��� �!�� �(#� ������� ��� �!�
�E(��?)��O�N?)@��P�?)*�N�
F�(#Q����B�1������
�����(�-�11�������������������������������2�����(!�������������&��������!�1!�������������&��1�����������!�
�(#�������������������������������� �����!�1!���&��1��������!���E(�
�����*�-�11������������������������������2 ����(!�������������&��������&���������������&��1�����������!�
�(#������������������������$������������&�����&��1��������!���E(�
�����+�-�11��������������������������2����(!�������������&����������&��1���������������!���(#�����������
������!���E(��?���O�N?�@��P�?�*�N�
F�(#Q����B�1������
�����,�-��������������������������(#��!��������������&��1�������&�������!���E(������1����������&�������1�
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 12 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
�����/�-���������"����������������������������(#��!��������������������������!��1����������!���(#
������������!���E(������1����������&�������1�
�����0�-.��"�#����-���������������������(#��!��������������������&�����1�����!���E(������1����������&
������1�
�������1��#��#���������3��#����(!��������1�������������������������������8E�����!���E(�
�������1��#������������3��#����(!��������1���&��1������������������������8E�����!���E(�
�������1��#���������$���(!����������������&���1����������&�������������!���E(�������������1��!���$������
���������������!���E(�����1�����(#����������������.����)###������ "./�000�����������������������������&
�������
�����!������#��"�����������)��"������(!����&��1��&���&�������� ��!��!�1!��&������������
�����(�������#�""���"�-�������������)4���(!����������������������&��1���������������������!�����/
��������&���������&��1��������������!���(#������������!���E(��?)%8�O�+?)@��R�?)*�-H��
F�(#Q����B�1������
�����*���������������������������(!��������!�1!���&��1�������������!���(#������������!���E(�
�����+���������������������� ���(!��������&�����&��1�������������!���(#������������!���E(�
�����,� ��-�5�1��(!������������1���&��1������!���(#��������� &�����7!������������������&����1���!�����
�!����&��1�����&��������!���E(�
�����/�����#��"�����������)��"� ����(!����&��1��&���&����� �����!��&����&������������
�����0�������������"���������������������.6���(!����1�������������&�������� ����&���������&��1��������!�
�(#������������!���E(��?�2�����!������&���������?��
F�(#Q����B�1������
�������������������"�����������������������6���(!����1�������������&��������� ���&����������&��1��������!�
�E(��?�2�����!������&���������?��
F�(#Q����B�1������
��������������#�""���"�-������������2)4���(!�����������������������&��1���������������������!�
�����������&����������&��1����������������!���(#������������������!���E(��?�%8�O�+?�@��R�?�*�-H��
F�(#Q����B�1������
�������������������#���������2����(!���������!�1!����������������������!���(#���������&��������!���E(�
�����!�����������������������2���� (!�� ������� !�1!� ���������� ��&��1�� ����� ��� �!�� �(#� ����������� ��
����������������������!�1!���&��1��������!���E(�
�����(������������#���������2 ���(!���������&������������������������!���(#���������&��������!���E(�
�����*����������������������2 ���(!���������&���������������&��1�����������!���(#���������������������
��$������������&�����&��1��������!���E(�
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
�����+�����"����#�"��$���"�����������4�����������������������(#��!�����������%���&��1���������������
�!���E(����������������%��������������&��1��������!���E(�
�����,���$���������"���������������������.���(!������������������&������������&���������&��1��������!���(#
�����������!���E(�
F�(#Q����B�1������
�����/���$���������"��������������������������(!������������������&������������&����������&��1��������!�
�E(�
F�(#Q����B�1������
����!0�5�$�$�������"���������������������������������&�����������������1��!���(#��������
����!��$���������1���������������������������������(!���&�������������!���(#���������!���������������1���
�!��������!�1!���&��1���������������������������&������������
����!��$���������1������������������������ �������(!���&�������������!���(#���������!���������������1���
�!��������&�����&��1���������������������������&������������
����!�����"�5�1��(!����&��1������!��!��!���(#��������������������������1����������(�����������
����!!����������#��"��������������������������������&������!����&��1������1����������!���E(����H����(#�
3.2 Acronyms and abbreviations
�(# ����������������3�������
%&���@���� !�1!��&������&��1�
%&���*���� &����&������&��1�
��� �����������������&�
�E( �����������������
>F����������� �������1���������
)%&��������� �&������������������������8E
)B����������� ������1���������������������8E
)�@����������� �������!�1!��������
)�*����������� �������&����������
*���?����� ����������1���&��1�������������&���
�8E ���������������������������
���������(���������� ������������� &�����������������1��(#�������
(���?����� ��������������&��1��������������(����������
?��������������� ����������������&������������&����������&��1�
?�2����������� ��1�������������&������������&����������&��1�
?%&�������� �&������&��1��������������8E
?������������ ����������������
?B����������� ������1���&��1��������������8E
?)%8������� ��������������������&��1�
?)����������� �����������&���������&��1�
?)@���������� ������!�1!���&��1�
?)@��������� �����������&�������!�1!���&��1�
?)@@�������� �&��������������!�1!���&��1�
?)@�&������ �&������������������!�1!���&��1�
?)*����������� ������&�����&��1�
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 14 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
?)*���������� �����������&�������&�����&��1�
?)**��������� �&��������������&�����&��1�
?)*�&������ �&������������������&�����&��1�
?)����������� �&��������������!�1!���&��1�
?�%8�������� ���������������������&��1�
?������������� �����������&����������&��1�
?�@����������� �������!�1!�������������&��1�
?�@�������� �����������&��������!�1!�������������&��1�
?�*������������ �������&���������������&��1�
?�*���������� �����������&��������&���������������&��1�
?�������������� ���1������1���&��1�������&�������&&�����1������&����������
?��������������� ����������������&������������&���������&��1�
?�2 ��1�������������&������������&���������&��1�
4. Structure of this standard
(!����������������������������������I��������)###������ "./�000���&��������������)###������ "./�000����
���������������!���1��������!�����������������������!�������������)���������������!���&����������!�����������
������������������������������$�����1��&���������)###������ "./�000���������������������������!�����&���(!�
�%*���&��� �%�����������%��3�������&��6�� ���� ���� ����������� �!��������������������� �!��������������&&
�&����������!���������������������������#$���&����������������������!������!��&������8��������&�����$��/
�&�������������������������������������������$���
5. Extensions to Clause 6, STIL syntax description
�&&���������������������������������)###������ "./�000��%&�����’����������������!��������!��!����&&����1�����/
�����G
Q ���������&��()*������������������������� ���!����!�������$������!�����������
Q ���������������$���������dc_expr���������������"���
5.1 Additional reserved words
(��&����&������&&��()*����������������������������!������������������3������&����������!��������������������
�!���������������$��������!�����!�������������&����������������
5.2 DC expressions and units (dc_expr)
�%��$������������&&����!���!�������������������������������1��$�������������’�������)###������ "./�000�
�%��$�����������������&�����������1&��3�������������������!������������������������1��$�����������#$����/
�������!�������������������������&��������������!������������������������$����������)����������������&�$
�$�����������!��������$����������������������������&����+��1������&�����������T�?H���T-��������������������
�$���������
(!���������!���������$����!�����%��$���������������������(!�������������$���������!��������&��6�������������
�����������&��������������(!��������������$���������!���%*���&���&��6����������������&�����������������!��
�%*���&������������� (!�� �!���� �����$�� ��� ��� �!�� �%��3������ �&��6�� ��� ������� �� ��&��� ����������� ���!� �
�%��3����������������
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
Table 1—Additional STIL reserved words
���&�
%&�����%&���@���%&���*���%�����������%������
�%*���&����%��3��������%������������������������
#�������1���
B����@���B����*�
)%&�����)B������)�!�����%*���&���)���@���)�����&�������)���*���)�@��)�*
*�����*���?���
�8E�������*����������������
���������������(����������
(������������(���?���
E���
?%&�����?B������?)%8��?)���?)@��?)@���?)@�&����?)*��?)*���?)*�&����?�%8��?����?�@��?�@���?�*��
?�*�
5.3 Additions to STIL name spaces and name resolution (IEEE Std 1450-1999, 6.16)
�%*���&����%�����������%��3�������&��6����1������!���()*��������������������������(��&�����(!������&�
�������������&����)###������ "./�000��(��&��’U��&&�� �����������������������!������&������������!��1���
Table 2—Additional STIL name space
��� �7��#8 �.����1���"� ��"������$���#����$
�%*���&� �%*���&�������������� ��������������1&����������1&���&�
�&��6������������������&��6���
��������������!�&&�������3���
��������&&��%*���&���&��6���
�%���� �%����������������� ��������������1&����������1&���&�
�&��6������������������&��6���
��������������!�&&�������3���
��������&&��%������&��6��
�%��3����� �%��3������������������ ��������������1&����������1&���&�
�&��6������������������&��6���
��������������!�&&�������3���
��������&&��%��3�������&��6��
6. Statement structure and organization of STIL information
(!���������������������!�������������&����/&���&��() *��&��6�G��%*���&��+%&������.-���%�����+%&�������-�
�����%��3������+%&�������-��(!�����&��6����&��������!�����/&���&��&��6�����)###������ "./�000�����������
���’�������’���
6.1 Top-level statements and required ordering
(!���%*���&�������%������&��6���������������!���� ����3�������������1����!��������������!����()*��&��6�
�����������)###������ "./�000��(!����������1�����!�������(��&�����(!������&���������������&����(��&��4���
)###� ���� � "./�000� ���� ���������� �! �� ��3������ ��������� ��� �!���� ���� �&��6�� ���!� �������� ��� �����������
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 16 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
�������� ��� )###������ "./�000���&&� ��!��������������� ������3�����������������������(��&��4���� )###����
� "./�000�����������!��1���
Table 3—STIL top-level statements and ordering requirements
������"��� �����$�
(����1�+�����)###������ "./�000- ��������������)###������ "./�000�
�%*���&� ���������!���%�&���&�����������&���������1��&����������
����������&��������������!��������#$���
�%��$��������������!����&��6���������������������&���
�����������������&��6��������%�������&�����������
����&��������&��!���������#$���
�%*���&���&��6���!�&&��������������%���������������/
#$����&��6���!��������������!����
�%���� )��������������������%*���&���!��������������������������
���������&��6�
�%������&��6���!�&&��������������������#$����&��6���!���
�����������!���
��&������+�����)###������ "./�000- ��������������)###������ "./�000�
6.2 Optional top-level statements
�%��3�������&��6����������������������!������-�1���-����������!��������������!����()*�����������������������
)###������ "./�000���%��3�������&��6������������������&���������/&���&��()*���������������&&������(!��
�����&�����������(��&�� ���!��!�����������������������&�������!�(��&��5����)###������ "./�000�
Table 4—Optional top-level statements
������"��� �����$�
�%��3����� ���������!����������3����������!��!����������������
���&������%��3�������&��6����������������1���!����()*�
�������!�&&�������������������!���&��6���!�����������!��
�()*������
7. Extensions to Clause 8, STIL statement
(!���()*�����������������������!����������������������()*�+)###������ "./�000-��������������������������
����()*���&�������!������������������������������������$� �������������������(!����������������������()*����
�����������)###������ "./�000�
(!���$������������!���()*��������� ���&&�����������&��6����������1��$���������������������!����&&�����������/
�����&����������������!���()*���&���(! �������������&���&���$�����������������������������������������!������/
����������&���&���$����������������������(!���$������������������!� ��$����������������������������������
�!�����������&����������������!��������������
�&&���!�����������������������������������)###������ "./�000��%&�����5����������������!����
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
7.1 STIL syntax
��� �)###,� ".,., )�#F()B)#� ��9
+�#V( ,F�8#���#V( ,?#��)�FU�-R
:
��� ������������������!����1�����1�������!��()*���&��
)###,� ".,., )�#F()B)#� G�(!����������������������()*�������������������)###������ "./�000�
#V( ,F�8#G�(!��������������������!���$���������( !������������������������������!��������) ����$��
#V( ,?#��)�FG�(!������������������������ #V( ,F�8#��(!������������������������������!����&����00��
7.2 STIL example
STIL 1.0 {
DCLevels 2002;
}
8. Extensions to Clause 19, Spec and Selector blocks
�&&�������&��������������������������������)###������ "./�000��%&������0����������������������!������������
���!��!������������!���������&��6�������&�������������������!����&�������!��������&��������$�����������!������
��������!�������$����������
9. Extensions to Clause 16, PatternExec block
(!���������#$����&��6�����$�������������&������������� ��&�����������������������������������1��%�&���&��
(!���%*���&���&��6����������!���%�&���&�������&& ���1��&�����������������!���������#$����(!���%������&��6
�������&&�����������%*���&��������������!��!������������!�����������&��6����������������!��!���������#$���
(!���%������&��6����������������&������������� �����%*���&���&��6������!�����������&��6��
9.1 PatternExec block syntax
�������’;�#�+��(,#V#%,F�8#-�W
��+�) ����$�+�%,*#?#*�,F�8#-U-
��+�)���$�+�%,�#(�,F�8#-U-
X
�������’;�#G�(!����&��6����������&&�����!�����/&���&������ ����������������������$������������������)###����
� "./�000�������&&����������������!����&��6�
�) ����$G�(!��������������!���%*���&���&��6��! �������������!���%�&���&�������������������������!����������/
#$����(!�������������&���&���%*���&���&��6������� ��()*���&���������&�������%*���&���&��6��������������
���!�����1������������#$���������%*���&���&��6������������������������#$����!�&&����������%�����������
�����&&���1��&�����������������!����������#$����$�������1��&�������������������!��!������������&&��������������
�������������0���
�%,*#?#*�,F�8#G�(!����������������&���������������� �������%*���&���&��6��)�����������������������!��
�!����������#$����!�&&������!�����������%*���&���&��6�
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 18 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
�)���$G�(!��������������!���%������&��6��!������������������������&����&&��%*���&��������������!������������
�!�����������&��6����������������!��!����������#$�������%�����������������������������!���������#$����!�&&
�����������������������������%*���&��������������������0����������������&��������������������!����������������
�%����������%*���&��
�%,�#(�,F�8#G�(!����������������&�����������������������%*���&���&��6��)�����������������������!��
�!����������#$����!�&&������!�����������%*���&���&��6�
9.2 PatternExec block example
PatternExec func {
Category dc;
Selector dc_setup;
Timing slow;
DCLevels slow_dc;
DCSets all_sets;
PatternBurst dc_patts;
}
9.3 DCLevels and DCSets usage in PatternExec and Pattern blocks
���%*���&���&��6������������������������#$������!��!���%*���&�������������!�&&���������%��������������
���������������&&�������������1��&�����������������!���������#$�����&&������������������������!����&��6��!�&&���
���&���������1��&������������!������������������������!�����������������������$���������7!�������������!�
�%*���&�������������!�&&�������&����������!����%���������������������&������������)������%*���&�������/
��������������������!���������#$���������!���%������������������������������!���������#$�����!������%*���&�
�����������!�&&������������������!������������������������!����������#$������������!��������?������������������
���!����������(!���%*���&���&��6����������������!����������%*���&�������������!�&&���������%�����������
������������������&&�������������1��&��������3������%*���&���&��6�����������������%*���&�����������������
�������������������������&����&���������%�������������!�����������������������!��������
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.

Loading comments...