Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification

STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to excute digital vectors on automated test equipment(ATE). STIL language extensions include structures for:(a) specifying the DC conditions for a device under test; specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector;(c) specifying alternate DC levels;and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.

General Information

Status
Published
Publication Date
06-Nov-2007
Drafting Committee
Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
15-Nov-2007
Completion Date
07-Nov-2007
Ref Project

Buy Standard

Standard
IEC 62527:2007 - Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
English language
39 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)


IEC 62527
Edition 1.0 2007-11

IEEE 1450.2
INTERNATIONAL
STANDARD
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for
DC Level Specification
All rights reserved. IEEE is a registered trademark in the U.S. Patent & Trademark Office, owned by the Institute of
Electrical and Electronics Engineers, Inc.
Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the IEC Central Office.
Any questions about IEEE copyright should be addressed to the IEEE. Enquiries about obtaining additional rights
to this publication and other information requests should be addressed to the IEC or your local IEC member National
Committee.
IEC Central Office The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
3, rue de Varembé 3 Park Avenue
CH-1211 Geneva 20 US-New York, NY10016-5997
Switzerland USA
Email: inmail@iec.ch Email: stds-info@ieee.org
Web: www.iec.ch Web: www.ieee.org

About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
ƒ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
ƒ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service
Centre FAQ or contact us:
Email: csc@iec.ch
Tel.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
IEC 62527
Edition 1.0 2007-11

IEEE 1450.2
INTERNATIONAL
STANDARD
Standard for extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for d.c.
level specification
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
PRICE CODE
W
ICS 25.040 ISBN 2-8318-9480-8
– 2 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
CONTENTS
FOREWORD.4
IEEE Introduction .7
�� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 8
��� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 9
��� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
�� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
�� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
��� ����������� ����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
��� �������������������������� ������������������������������������������������������������������������������������������������������13
� ��������������!����������� ��������������������������������������������������������������������������������������������������� �����������������14
"� #$������������%&�����’���()*������$������������ ������������������������������������������������������������������������������ �14
"�� ���������&�������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������14
"�� �%��$��������������������+��,�$��- �������������������������������������������������������������������������������������������14
"�� ��������������()*��������������������������&������+)###������ "./�000��’��’-������������������� 15
’� ��������������������������1���2����������()*������������ ���������������������������������������������������������������� 15
’�� (��/&���&������������������3�������������1 ������������������������������������������������������������������������������� 15
’�� �������&����/&���&����������� �����������������������������������������������������������������������������������������������������16
4� #$������������%&�����5���()*���������� ��������������������������������������������������������������������������������������� ������16
4�� �()*������$����������������������������������������������������������������������������������������������������������������� ��������������� �7
4�� �()*��$���&� ���������������������������������������������������������������������������������������������������������������� ������������ �7
5� #$������������%&������0�������������&�������&��6���������������������������������������������������������������������������� �7
0� #$������������%&������’���������#$����&��6�������������������������������������������������������������������������������������� �7
0�� �������#$����&��6������$����������������������������������������������������������������������������������������������������������� �7
0�� �������#$����&��6��$���&��������������������������������������������������������������������������������������������������������� �8
0�� �%*���&�������%��������1������������#$����������������&��6� ���������������������������������������������� �8
�.� �%*���&���&��6 ��������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� �8
�.�� �%*���&���&��6������$�������������������������������������������������������������������������������������������������������������� �9
�.�� �%*���&���&��6��$���&������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 31
�.�� )�!�����%*���&�����������1 ����������������������������������������������������������������������������������������������������. 33
�.� )�!�����%*���&���$���&����������������������������������������������������������������������������������������������������� ������ 33
��� �%������&��6 ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 34
���� �%������&��6������$������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 34
���� �%����������������$���&� �������������������������������������������������������������������������������������������������������� 34
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
12. DCSequence block . 24
���� �%��3�������&��6������$ ��������������������������������������������������������������������������������������������������������� 25
���� �%��3�������$���&� ���������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 26
��� #$������������%&������5��7�������(��&���&��6������������������������������������������������������������������������������� � 8
���� #�������������������7�������(��&���&��6 �������������������������������������������������������������������������������� � 8
���� 8�����1��������������1��������%*���&������������ ������������������������������������������������������������������ �9
���� �%�&���&�������!��1��$���&� ���������������������������������������������������������������������������������������������������� 30
� � #$������������%&����������()*������������������� ���������������������������������������������������������������������������� 31
� �� �%*���&�������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� ���������� 31
� �� �%*���&�������������$���&� ������������������������������������������������������������������������������������������������� ��� 31
����$���+�����������-��%*���&�������%��������1���$���&���������������������������������������������������������������������� 32
����$�9�+�����������-�9��&��1���!�������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 38
Annex C (informative) List of participantss. 39
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

– 4 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
STANDARD FOR EXTENSIONS TO
STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE (STIL)
FOR DC LEVEL SPECIFICATION
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and
electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards,
Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides
(hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees;
any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work.
International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in
this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in
accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has
representation from all interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC
National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical
content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are
used or for any misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC
Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications.
Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication
shall be clearly indicated in the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject
of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC/IEEE 62527 has been processed through Technical
Committee 93: Design automation.
The text of this standard is based on the following documents:
IEEE Std FDIS Report on voting
1450.2(2005) 93/249/FDIS 93/260/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged
until the maintenance result date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
Published by IEC under licence from IEEE. © 2002 IEEE. All rights reserved.

IEEE 1450.2-2002(E)
IEC/IEEE Dual Logo International Standards
This Dual Logo International Standard is the result of an agreement between the IEC and the Institute of
Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE). The original IEEE Standard was submitted to the IEC for
consideration under the agreement, and the resulting IEC/IEEE Dual Logo International Standard has been
published in accordance with the ISO/IEC Directives.
IEEE Standards documents are developed within the IEEE Societies and the Standards Coordinating
Committees of the IEEE Standards Association (IEEE-SA) Standards Board. The IEEE develops its standards
through a consensus development process, approved by the American National Standards Institute, which
brings together volunteers representing varied viewpoints and interests to achieve the final product. Volunteers
are not necessarily members of the Institute and serve without compensation. While the IEEE administers the
process and establishes rules to promote fairness in the consensus development process, the IEEE does not
independently evaluate, test, or verify the accuracy of any of the information contained in its standards.
Use of an IEC/IEEE Dual Logo International Standard is wholly voluntary. The IEC and IEEE disclaim liability for
any personal injury, property or other damage, of any nature whatsoever, whether special, indirect,
consequential, or compensatory, directly or indirectly resulting from the publication, use of, or reliance upon
this, or any other IEC or IEEE Standard document.
The IEC and IEEE do not warrant or represent the accuracy or content of the material contained herein,
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.