IEC 60749-18:2002

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60749-18
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-12
Dispositifs à semiconducteurs –
Méthodes d'essais mécaniques et climatiques –
Partie 18:
Rayonnements ionisants (dose totale)
Semiconductor devices –
Mechanical and climatic test methods –
Part 18:
Ionizing radiation (total dose)

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60749-18:2002
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
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• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
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(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60749-18
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-12
Dispositifs à semiconducteurs –
Méthodes d'essais mécaniques et climatiques –
Partie 18:
Rayonnements ionisants (dose totale)
Semiconductor devices –
Mechanical and climatic test methods –
Part 18:
Ionizing radiation (total dose)

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– 2 – 60749-18  CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4

1 Domaine d’application. 6

2 Termes et définitions . 6

3 Appareillage d’essai. 8

3.1 Source de rayonnements . 8

3.2 Système dosimétrique . 8

3.3 Appareils de mesure pour essais électriques . 8
3.4 Carte(s) de circuit d’essai . 8
3.5 Câblage.10
3.6 Interconnexion ou système de commutation.10
3.7 Enceinte environnementale.10
4 Procédure.10
4.1 Choix et manipulation de l’échantillon.10
4.2 Vieillissement artificiel à chaud.12
4.3 Mesures dosimétriques.12
4.4 Conteneur en plomb/aluminium (Pb/Al).12
4.5 Niveau(x) de rayonnements .12
4.6 Débit de dose de rayonnements.14
4.6.1 Condition A.14
4.6.2Condition B.14
4.6.3 Condition C.14
4.7 Exigences de température .14
4.8 Mesures des performances électriques.14
4.9 Conditions d'essai .16
4.9.1 Essai en flux .16
4.9.2 Essais à distance.16
4.9.3 Conditions de polarisation et de charge .16
4.10 Procédure après irradiation.16
4.11 Essai de recuit étendu à température ambiante .18
4.11.1 Besoin de réaliser un essai de recuit étendu à température ambiante .18
4.11.2 Procédure d’essai de recuit étendu à température ambiante .18

4.12 Essai de recuit accéléré MOS.20
4.12.1 Besoin de réalisation d’un essai de recuit accéléré .20
4.12.2 Procédure pour l’essai de recuit accéléré.22
4.13 Rapport d'essai.22
5 Résumé .24

60749-18  IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5

1 Scope . 7

2 Terms and definitions . 7

3 Test apparatus.9

3.1 Radiation source. 9

3.2 Dosimetry system . 9

3.3 Electrical test instruments. 9
3.4 Test circuit board(s). 9
3.5 Cabling.11
3.6 Interconnect or switching system .11
3.7 Environmental chamber .11
4 Procedure.11
4.1 Sample selection and handling .11
4.2 Burn-in .13
4.3 Dosimetry measurements .13
4.4 Lead/aluminium (Pb/Al) container .13
4.5 Radiation level(s).13
4.6 Radiation dose rate .15
4.6.1 Condition A.15
4.6.2 Condition B.15
4.6.3 Condition C.15
4.7 Temperature requirements.15
4.8 Electrical performance measurements .15
4.9 Test conditions .17
4.9.1 In-flux testing.17
4.9.2 Remote testing.17
4.9.3 Bias and loading conditions .17
4.10 Post-irradiation procedure .17
4.11 Extended room temperature anneal test .19
4.11.1 Need to perform an extended room temperature anneal test .19
4.11.2 Extended room temperature anneal test procedure .19

4.12 MOS accelerated annealing test .21
4.12.1 Need to perform accelerated annealing test .21
4.12.2 Accelerated annealing test procedure .23
4.13 Test report.23
5 Summary .25

– 4 – 60749-18  CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS –

MÉTHODES D’ESSAIS MÉCANIQUES ET CLIMATIQUES –

Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale)

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nati
...