IEC 61000-4-34:2005
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-34: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current more than 16 A per phase
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-34: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current more than 16 A per phase
This part of IEC 61000 defines the immunity test methods and range of preferred test levels for electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks for voltage dips, short interruptions, and voltage variations. This standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current exceeding 16 A per phase. It covers equipment installed in residential areas as well as industrial machinery, specifically voltage dips and short interruptions for equipment connected to either 50 Hz or 60 Hz a.c. networks, including 1-phase and 3-phase mains. The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions and voltage variations. The test method documented in this part of IEC 61000 describes a consistent method to assess the immunity of equipment or a system against a defined phenomenon. It has the status of a Basic EMC Publication in accordance with IEC Guide 107.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-34: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension pour matériel ayant un courant appelé de plus de 16 A par phase
La présente partie de la CEI 61000 définit les méthodes d'essai d'immunité ainsi que la gamme des niveaux d'essais préférés pour les matériels électriques et électroniques connectés à des réseaux d'alimentation basse tension pour les creux de tension, les coupures brèves et les variations de tension. La présente norme s'applique aux matériels électriques et électroniques dont le courant nominal d'entrée dépasse 16 A par phase. Elle s'applique aux matériels installés dans des environnements résidentiels de même qu'aux matériels industriels, pour l'aspect creux de tension et coupures brèves des équipements, monophasés et triphasés, reliés à des réseaux électriques alternatif de 50 Hz ou 60 Hz. Le but de cette norme est d'établir une référence commune pour l'évaluation de l'immunité fonctionnelle des matériels électriques et électroniques soumis à des creux de tension, à des coupures brèves et à des variations de tension. La méthode d'essai décrite dans la présente partie de la CEI 61000 détaille une méthode sans faille pour estimer l'immunité d'un matériel ou d'un système à un phénomène prédéfini. Elle a le statut de publication fondamentale en CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61000-4-34
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2005-10
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-34:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
pour matériel ayant un courant appelé
de plus de 16 A par phase
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-34:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage
variations immunity tests for equipment
with input current more than 16 A per phase
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-34:2005
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61000-4-34
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2005-10
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-34:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
pour matériel ayant un courant appelé
de plus de 16 A par phase
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-34:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage
variations immunity tests for equipment
with input current more than 16 A per phase
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– 2 – 61000-4-34 CEI:2005
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d’application .12
2 Références normatives.12
3 Termes et définitions .14
4 Généralités.16
5 Niveaux d'essai .18
5.1 Creux de tension et coupures brèves .18
5.2 Variations de tension (facultatif) .20
6 Instruments d'essai .24
6.1 Générateur d’essai .24
6.2 Source d’énergie .26
7 Montage d'essai .26
8 Procédures d'essai .26
8.1 Conditions de référence en laboratoire .28
8.2 Exécution des essais.30
9 Evaluation des résultats d'essai.34
10 Rapport d'essai .34
Annexe A (normative) Valeur crête du courant d'appel d'excitation du générateur d'essai.38
Annexe B (informative) Classes d'environnement électromagnétique .42
Annexe C (informative) Vecteurs de tension pour les essais triphasés.44
Annexe D (informative) Instrumentation d'essai .56
Bibliographie.62
Figure 1 – Creux de tension – figure montrant la forme d'onde d'un creux de tension
de 70 % .22
Figure 2 – Variation de tension .22
Figure 3a – Essai phase-neutre des systèmes triphasés .32
Figure 3b – Essais phase-phase des systèmes triphasés – méthode acceptable 1.32
Figure 3c – Essais phase-phase des systèmes triphasés – méthode acceptable 2.32
Figure 3d – Solution non acceptable – essai phase-phase sans déphasage.32
Figure A.1 – Circuit utilisé pour déterminer le courant d’appel crête du générateur
de coupures brèves .40
Figure C.1 – Vecteurs de creux de tension phase-neutre .44
Figure C.2 – Vecteurs de creux de tension phase – méthode acceptable 1 .48
Figure C.3 – Vecteurs de creux de tension phase-phase – méthode acceptable 2 .52
Figure D.1 – Schéma d'un exemple d'instruments d’essai pour les creux de tension,
les coupures brèves et les variations de tension à l’aide de transformateurs variables
et de commutateurs .56
61000-4-34 IEC:2005 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope.13
2 Normative references .13
3 Terms and definitions .15
4 General .17
5 Test levels.19
5.1 Voltage dips and short interruptions .19
5.2 Voltage variations (optional) .21
6 Test instrumentation.25
6.1 Test generator.25
6.2 Power source .27
7 Test set-up .27
8 Test procedures .27
8.1 Laboratory reference conditions .29
8.2 Execution of the test.31
9 Evaluation of test results .35
10 Test report.35
Annex A (normative) Test generator peak inrush current drive capability .39
Annex B (informative) Electromagnetic environment classes.43
Annex C (informative) Vectors for three-phase testing .45
Annex D (informative) Test instrumentation .57
Bibliography.63
Figure 1 – Voltage dip – 70 % voltage dip sine wave graph.23
Figure 2 – Voltage variation .23
Figure 3a – Phase-to-neutral testing on three-phase systems .33
Figure 3b – Phase-to-phase testing on three-phase systems – Acceptable Method 1
phase shift.33
Figure 3c – Phase-to-phase testing on three-phase systems – Acceptable Method 2
phase shift.33
Figure 3d – Not acceptable – phase-to-phase testing without phase shift.33
Figure A.1 – Circuit for determining inrush current drive capability.41
Figure C.1 – Phase-to-neutral dip vectors .
...
IEC 61000-4-34 ®
Edition 1.1 2009-11
CONSOLIDATED VERSION
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-34: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short
interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with mains
current more than 16 A per phase
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-34: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de
tension, coupures brèves et variations de tension pour matériel ayant un
courant d’alimentation de plus de 16 A par phase
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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 33.100.20 ISBN 2-8318-1049-2
– 2 – 61000-4-34 IEC:2005+A1:2009
CONTENTS
FOREWORD. 4
INTRODUCTION . 6
1 Scope . 7
2 Normative references . 7
3 Terms and definitions . 8
4 General . 9
5 Test levels . 9
5.1 Voltage dips and short interruptions . 10
5.2 Voltage variations (optional) . 11
6 Test instrumentation . 13
6.1 Test generator . 13
6.2 Power source . 14
7 Test set-up . 14
8 Test procedures . 14
8.1 Laboratory reference conditions . 15
8.2 Execution of the test . 15
9 Evaluation of test results . 18
10 Test report . 18
Annex A (normative) Test generator current drive capability . 19
Annex B (informative) Electromagnetic environment classes . 21
Annex C (informative) Vectors for three-phase testing . 22
Annex D (informative) Test instrumentation . 28
Annex E (informative) Dip immunity tests for equipment with large mains current . 31
Bibliography . 33
Figure 1 – Voltage dip – 70 % voltage dip sine wave graph . 12
Figure 2 – Voltage variation . 12
Figure 3a – Phase-to-neutral testing on three-phase systems . 17
Figure 3b – Phase-to-phase testing on three-phase systems – Acceptable Method 1
phase shift . 17
Figure 3c – Phase-to-phase testing on three-phase systems – Acceptable Method 2
phase shift . 17
Figure 3d – Not acceptable – phase-to-phase testing without phase shift . 17
Figure A.1 – Circuit for determining inrush current drive capability . 20
Figure C.1 – Phase-to-neutral dip vectors . 22
Figure C.2 – Acceptable Method 1 – phase-to-phase dip vectors . 24
Figure C.3 – Acceptable Method 2 – phase-to-phase dip vectors . 26
Figure D.1 – Schematic of example test instrumentation for voltage dips and short
interruptions using tapped transformer and switches . 28
61000-4-34 IEC:2005+A1:2009 – 3 –
Figure D.2 – Applying the example test instrumentation of Figure D.1 to create
the Acceptable Method 1 vectors of Figures C.1, C.2, 4a and 4b . 29
Figure D.3 – Schematic of example test instrumentation for three-phase voltage dips,
short interruptions and voltage variations using power amplifier . 30
Table 1 – Preferred test level and durations for voltage dips . 10
Table 2 – Preferred test level and durations for short interruptions . 11
Table 3 – Timing of short-term supply voltage variations . 11
Table 4 – Generator specifications . 13
Table A.1 – Minimum peak inrush current capability . 19
Table C.1 – Vector values for phase-to-neutral dips . 23
Table C.2 – Acceptable Method 1 – vector values for phase-to-phase dips . 25
Table C.3 – Acceptable Method 2 – vector values for phase-to-phase dips . 27
– 4 – 61000-4-34 IEC:2005+A1:2009
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-34: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
for equipment with mains current more than 16 A per phase
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publi
...
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