IEC 60947-4-3:1999/AMD1:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60947-4-3
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
2006-10
Amendement 1
Appareillage à basse tension –
Partie 4-3:
Contacteurs et démarreurs de moteurs –
Gradateurs et contacteurs à semiconducteurs
pour charges, autres que des moteurs,
à courant alternatif
Amendment 1
Low-voltage switchgear and controlgear –
Part 4-3:
Contactors and motor-starters –
AC semiconductor controllers and
contactors for non-motor loads
© IEC 2006 Droits de reproduction réservés ⎯ Copyright - all rights reserved
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch Web: www.iec.ch
CODE PRIX
U
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le sous-comité 17B: Appareillage à basse tension, du
comité d'études 17 de la CEI: Appareillage.
Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
17B/1486/FDIS 17B/1510/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
Le comité a décidé que le contenu de cet amendement et de la publication de base ne sera
pas modifié avant la date de maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous
"http://webstore.iec.ch" dans les données relatives à la publication recherchée. A cette date,
la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
________________
Page 2
SOMMAIRE
Modifier le titre de l’Article 3 pour lire:
3 Définitions, symboles et abréviations
Insérer ce qui suit:
3.3 Symboles et abréviations
Supprimer le paragraphe 5.9.
Insérer, à la page 4, ce qui suit:
Annexe I (normative) Circuit d’essai modifié pour l’essai de court-circuit des contacteurs et
gradateurs à semiconducteurs
Annexe J (informative) Diagramme pour définir les essais des gradateurs à semiconducteurs
à dérivation
Tableau 17 – Limites d’échauffement pour les bobines isolées dans l’air et dans l’huile
Tableau 18 – Données pour les cycles d’essai de service intermittent

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 3 –

FOREWORD
This amendment has been prepared by subcommittee 17B: Low-voltage switchgear and
controlgear, of IEC technical committee 17: Switchgear and controlgear.
The text of this amendment is based on the following documents:
FDIS Report on voting
17B/1486/FDIS 17B/1510/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of this amendment and the base publication will
remain unchanged until the maintenance result date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publication will be:
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
________________
Page 3
CONTENTS
Modify the title of Clause 3 to read:
3 Definitions, symbols and abbreviations
Insert the following:
3.3 Symbols and abbreviations
Delete the subclause 5.9.
Insert, on page 5, the following:
Annex I (normative) Modified test circuit for short-circuit testing of semiconductor contactors
and controllers
Annex J (informative) Flowchart for constructing bypassed semiconductor controllers tests
Table 17 – Temperature rise limits for insulated coils in air and in oil
Table 18 – Intermittent duty test cycle data

– 4 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
Page 10
1 Domaine d’application et objet
Insérer, après le troisième alinéa, le nouvel alinéa suivant:
La présente norme définit les caractéristiques des gradateurs et contacteurs pour une
utilisation avec ou sans appareil de connexion de court-circuitage.
Remplacer, au sixième alinéa, le premier tiret par le suivant:
− aux manœuvres de moteurs à courant alternatif et à courant continu;

Page 12
2 Références normatives
Remplacer le texte existant du premier alinéa par ce qui suit:
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
Ajouter, après la CEI 60050(161), les références suivantes:
Amendement 1 (1997)
Amendement 2 (1998)
Insérer la nouvelle référence suivante:
CEI 60085:2004, Isolation électrique – Classification thermique
Ajouter, après CEI 60269-1, la référence suivante:
1)
Amendement 1 (2005)
Remplacer la référence à la CEI 60439-1:1992 par ce qui suit:
CEI 60439-1:1999, Ensembles d'appareillage à basse tension – Partie 1: Ensembles de série
et ensembles dérivés de série
)
Amendement 1 (2004)
Remplacer la référence à la CEI 60947-1:1999 par ce qui suit:
CEI 60947-1:2004, Appareillage à basse tension – Partie 1: Règles générales
———————
)
ll existe une édition consolidée 3.1 (2005) comprenant l'édition 3.0 et son amendement.
)
ll existe une édition consolidée 4.1 (2004) comprenant l'édition 4.0 et son amendement.

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 5 –
Page 11
1 Scope and object
Insert, after the third paragraph, the following new paragraph:
This standard characterizes controllers and contactors for use with or without bypass
switching devices.
Replace, in the sixth paragraph, the first dashed item by the following:
− operation of a.c. and d.c. motors;

Page 13
2 Normative references
Replace the existing text of first paragraph by the following:
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
Add, after IEC 60050(161), the following references:
Amendment 1 (1997)
Amendment 2 (1998)
Insert the following new reference:
IEC 60085:2004, Electrical insulation – Thermal classification
Add, after IEC 60269-1, the following reference:
)
Amendment 1 (2005)
Replace the reference to IEC 60439-1:1992 by the following:
IEC 60439-1:1999, Low-voltage switchgear and controlgear assemblies – Part 1: Type-tested
and partially type-tested assemblies
)
Amendment 1 (2004)
Replace the reference to IEC 60947-1:1999 by the following:
IEC 60947-1:2004, Low-voltage switchgear and controlgear – Part 1: General rules
———————
)
A consolidated edition 3.1 (2005) exists, that includes edition 3.0 and its amendment.
)
A consolidated edition 4.1 (2004) exists, that includes edition 4.0 and its amendment.

– 6 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
Remplacer la référence à la CEI 60947-4-2:1995 par ce qui suit:
CEI 60947-4-2:1999, Appareillage à basse tension – Partie 4-2: Contacteurs et démarreurs de
moteurs – Gradateurs et démarreurs à semiconducteurs de moteurs à courant alternatif
Amendement 1 (2001)
)
Amendement 2
Remplacer la référence à la CEI 61000-3-2:1995 par ce qui suit:
CEI 61000-3-2:2000, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 3-2: Limites – Limites
pour les émissions de courant harmonique (courant appelé par les appareils ≤16 A par phase)
Amendement 1 (2001)
Amendement 2 (2004)
Supprimer la référence à la CEI 61000-4 (toutes les parties).
Ajouter, après CEI 61000-4-2, les références suivantes:
Amendement 1 (1998)
)
Amendement 2 (2000)
Remplacer la référence à la CEI 61000-4-3:1995 par ce qui suit:
CEI 61000-4-3:2002, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-3: Techniques d’essai
et de mesure – Essai d’immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
Amendement 1 (2002)
Ajouter, après CEI 61000-4-4, les références suivantes:
Amendement 1 (2000)
Amendement 2 (2001)
Ajouter, après CEI 61000-4-5, la référence suivante:
Amendement 1 (2000)
Remplacer la référence à la CEI 61000-4-6:1996 par ce qui suit:
CEI 61000-4-6:2003, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-6: Techniques d’essai
et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
Amendement 1 (2004)
5)
Amendment 2 (2006)
Ajouter, après CEI 61000-4-11, la référence suivante:
Amendement 1 (2000)
———————
3)
A publier.
)
ll existe une édition consolidée 1.2 (2001) comprenant l'édition 1.0 et ses amendements 1 et 2.
)
ll existe une édition consolidée 2.2 (2006) comprenant l'édition 2.0 et ses amendements 1 et 2.

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 7 –
Replace the reference to IEC 60947-4-2:1995 by the following:
IEC 60947-4-2:1999, Low-voltage switchgear and controlgear – Part 4-2: Contactors and
motor-starters – AC semiconductor motor controllers and starters
Amendment 1 (2001)
)
Amendment 2
Replace the reference to IEC 61000-3-2:1995 by the following:
IEC 61000-3-2:2000, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 3-2: Limits – Limits for
harmonic current emissions (equipment input current ≤16 A per phase)
Amendment 1 (2001)
Amendment 2 (2004)
Delete the reference to IEC 61000-4 (all parts).
Add, after IEC 61000-4-2, the following references:
Amendment 1 (1998)
)
Amendment 2 (2000)
Replace the reference to IEC 61000-4-3:1995 by the following:
IEC 61000-4-3:2002, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-3: Testing and measure-
ment techniques – Radiated radio-frequency electromagnetic field immunity test
Amendment 1 (2002)
)
Add, after IEC 61000-4-4 , the following references:
Amendment 1 (2000)
Amendment 2 (2001)
Add, after IEC 61000-4-5, the following reference:
Amendment 1 (2000)
Replace the reference to IEC 61000-4-6:1996 by the following:
IEC 61000-4-6:2003, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-6: Testing and measure-
ment techniques – Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
Amendment 1 (2004)
5)
Amendment 2 (2006)
Add, after IEC 61000-4-11, the following reference:
Amendment 1 (2000)
———————
)
To be published.
)
A consolidated edition 1.2 (2001) exists, that includes edition 1.0 and its amendments 1 and 2.
)
A consolidated edition 2.2 (2006) exists, that includes edition 2.0 and its amendments 1 and 2.

– 8 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
Insérer la nouvelle référence suivante:
CEI 61131-2:2003, Automates programmables – Partie 2: Spécifications et essais des
équipements
Remplacer la référence à la CISPR 11:1997 par ce qui suit:
CISPR 11:2003, Appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence
radioélectrique – Caractéristiques de perturbations électromagnétiques – Limites et méthodes
de mesure
6)
Amendement 1 (2004)
Remplacer la référence à la CISPR 14-1:1993 par ce qui suit:
CISPR 14-1, Compatibilité électromagnétique – Exigences pour les appareils électro-
domestiques, outillages électriques et appareils analogues – Partie 1: Emission

Page 14
3 Définitions
Remplacer le titre existant par ce qui suit:
3 Définitions, symboles et abréviations
Insérer, après le premier alinéa, l’index alphabétique des définitions suivant:
Référence
A
Aptitude au fonctionnement . 3.1.16

B
Brouillage (radioélectrique). 3.2.5

C
Commande de charge. 3.1.4
Commutation aléatoire (d’un gradateur à semiconducteurs) . 3.1.14.4.3
Commutation au point zéro (d’un gradateur à semiconducteurs) . 3.1.14.4.2
Commutation en un point défini (d’un gradateur à semiconducteurs). 3.1.14.4.1
Compatibilité électromagnétique, CEM (abréviation) . 3.2.1
Courant de fuite à l’état bloqué . 3.1.13
Courant minimal de charge . 3.1.11
Cycle de manœuvres (d’un gradateur) . 3.1.15

D
Détection du courant minimal de charge . 3.1.11.1
Durée à l’état bloqué. 3.1.23
Durée à l’état passant. 3.1.22

E
———————
)
ll existe une édition consolidée 4.1 (2004) comprenant l'édition 4.0 et son amendement.

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 9 –
Insert the following new reference:
IEC 61131-2:2003, Programmable controllers – Part 2: Equipment requirements and tests
Replace the reference to CISPR 11:1997 by the following:
CISPR 11:2003, Industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment –
Electromagnetic disturbance characteristics – Limits and methods of measurement
)
Amendment 1 (2004)
Replace the reference to CISPR 14-1:1993 by the following:
CISPR 14-1, Electromagnetic compatibility – Requirements for household appliances, electric
tools and similar apparatus – Part 1: Emission

Page 15
3 Definitions
Replace the existing title by the following:
3 Definitions, symbols and abbreviations
Insert, after the first paragraph the following alphabetical index of definitions:
Reference
A
AC semiconductor controller . 3.1.1.1

B
Burst (of pulses or oscillations) . 3.2.7
Bypassed controller . 3.1.24

C
Controlled operation . 3.1.7
Current-limit function . 3.1.3

D
Defined-point switching (of a semiconductor controller) . 3.1.14.4.1

E
Electromagnetic compatibility, EMC (abbreviation). 3.2.1
Electromagnetic disturbance . 3.2.3
(electromagnetic) Emission. 3.2.2

F
Full-on (state of controllers) . 3.1.10

H
———————
)
A consolidated edition 4.1 (2004) exists, that includes edition 4.0 and its amendment.

– 10 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
Emission (électromagnétique). 3.2.2
Etat bloqué . 3.1.12
Etat passant . 3.1.9

F
Fonction de commutation. 3.1.14.1
Fonction de commutation instantanée. 3.1.14.3
Fonction de commutation progressive. 3.1.14.2
Fonction de limitation de courant . 3.1.3
Fonctionnement contrôlé. 3.1.7

G
Gradateur à déclenchement libre . 3.1.20
Gradateur à dérivation . 3.1.24
Gradateur à semiconducteurs (variante 4) . 3.1.1.1.1
Gradateur à semiconducteurs direct en ligne (DOL) (variante 5) . 3.1.1.1.3
Gradateur à semiconducteurs pour courant alternatif . 3.1.1.1
Gradateurs ou contacteurs hybrides, variante HxB. 3.1.2.2
Gradateurs ou contacteurs hybrides de variante HxA (où x = 4 ou 5) . 3.1.2.1

I
Immunité (à une perturbation). 3.2.9
Index caractéristique. 3.1.18

M
Manœuvre (d’un gradateur) . 3.1.14
Manœuvre de déclenchement (d’un gradateur) . 3.1.19
Moyens de protection contre les surcharges . 3.1.21

P
Perturbation électromagnétique; parasite (électromagnétique). 3.2.3
Perturbation radioélectrique; parasite (radioélectrique) . 3.2.4
Pleine conduction (état des gradateurs). 3.1.10
Point de commutation . 3.1.14.4
Position d’ouverture . 3.1.2.3
Profil de courant de surcharge . 3.1.17

R
Rampe croissante . 3.1.5
Rampe décroissante . 3.1.6

S
Salve. 3.2.7

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 11 –
Hybrid controllers or contactors, form HxA (where x = 4 or 5) . 3.1.2.1
Hybrid controllers or contactors, form HxB . 3.1.2.2

I
Immunity (to a disturbance) . 3.2.9
Instantaneous switching function . 3.1.14.3

L
Load control. 3.1.4

M
Minimum load current . 3.1.11
Minimum load current detection . 3.1.11.1

O
OFF-state. 3.1.12
OFF-state leakage current . 3.1.13
OFF-time. 3.1.23
ON-state. 3.1.9
ON-time. 3.1.22
OPEN position. 3.1.2.3
Operating capability. 3.1.16
Operating cycle (of a controller). 3.1.15
Operation (of a controller). 3.1.14
Overcurrent protective means OCPM. 3.1.21
Overload current profile . 3.1.17

R
Radio (frequency) disturbance . 3.2.4
Radio frequency interference, RFI (abbreviation) . 3.2.5
Ramp-down. 3.1.6
Ramp switching function . 3.1.14.2
Ramp-up. 3.1.5
Random point switching (of a semiconductor controller). 3.1.14.4.3
Rating index . 3.1.18

S
Semiconductor controller (form 4) . 3.1.1.1.1
Semiconductor direct-on-line (DOL) controller (form 5) . 3.1.1.1.3
Switching function. 3.1.14.1
Switching point . 3.1.14.4

– 12 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
T
Tension de choc . 3.2.8
Transitoire (adjectif et nom) . 3.2.6

Page 16
3.1.1.1.3
La correction ne concerne que le texte anglais.
Figure 1 – Représentations graphiques des gradateurs
Insérer, après la ligne «Gradateur hybride HxB**», les deux nouvelles lignes suivantes:

Contact mécanique en
parallèle
Gradateur à dérivation L
T
Gradateur à semiconducteurs
(Variantes 4,5)
IEC  1896/06
Contact mécanique en
parallèle
Gradateur hybride
Gradateur hybride à
c L T
dérivation
Contact
Gradateur à
mécanique
semiconducteurs
en série
(Variantes H × A, H × B)
IEC  1897/06
«c»
Ajouter, en bas de la figure, la nouvelle note de bas de figure suivante:
c
Pour d’autres configurations, les essais peuvent être adaptés de façon appropriée par accord entre l’utilisateur
et le constructeur.
60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 13 –
T
Transient (adjective and noun). 3.2.6
Trip-free controller . 3.1.20
Tripping operation (of a controller) . 3.1.19

V
Voltage surge . 3.2.8

Z
Zero-point switching (of a semiconductor controller) . 3.1.14.4.2

Page 17
3.1.1.1.3
Correct the term to read: “semiconductor direct-on-line (DOL) controller (form 5)”.
Figure 1 – Graphical possibilities of controllers
Insert, after the row "Hybrid controller HxB**", the two following new rows:

Parallel mechanical
contact
Bypassed controller L
T
Semiconductor controller
(Forms 4,5)
IEC  1896/06
Parallel mechanical
contact
Hybrid controller
Bypassed hybrid
c L T
controller
Series
Semiconductor
mechanical
controller
contact
(Forms H × A, H × B)
IEC  1897/06
c
Add, at the bottom of the figure, the following new footnote “ ”:
c
For other configurations, tests may be suitably adapted by agreement between the user and the manufacturer.

– 14 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
Page 18
3.1.2.2
Corriger le terme pour lire: «gradateurs ou contacteurs hybrides, variante HxB».
Page 22
3.1.11.1
Corriger le terme pour lire: «détection du courant minimal de charge».
Ajouter, à la page 26, après la définition 3.1.23, la nouvelle définition suivante:
3.1.24
gradateur à dérivation
matériel dans lequel les contacts principaux d’un appareil mécanique de connexion sont
connectés en parallèle avec les bornes du circuit principal d’un appareil de connexion à
semiconducteurs, et dont les dispositifs de commande des deux appareils de connexion sont
coordonnés
Page 26
La correction ne concerne que le texte anglais.

Page 28
Ajouter, après la définition 3.2.9, le nouveau paragraphe suivant:
3.3 Symboles et abréviations
A Température ambiante finale (9.3.3.3.4)
f
C Température finale du boîtier (9.3.3.3.4)
f
CEM Compatibilité électromagnétique
DPCC Dispositif de protection contre les courts-circuits
EUT Matériel en essai
I Courant établi et coupé (Tableau 8)
c
I Courant assigné d’emploi (5.3.2.3)
e
I Courant de fuite après l’essai de capacité de blocage et d’aptitude à la
F
commutation (9.3.3.6.3)
I Courant de fuite à l’état bloqué (3.1.13)
L
I Courant de fuite avant l’essai de capacité de blocage et d’aptitude à la
O
commutation (9.3.3.6.3)
I Courant thermique conventionnel à l’air libre (5.3.2.1)
th
I Courant thermique conventionnel sous enveloppe (5.3.2.2)
the
I Courant assigné ininterrompu (5.3.2.4)
u
U Tension assignée du circuit de commande (5.5)
c
U Tension assignée d’emploi (5.3.1.1)
e
60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 15 –
Page 19
3.1.2.2
The correction applies to the French text only.
Page 23
3.1.11.1
The correction applies to the French text only.
Add, on page 27, after definition 3.1.23, the following new definition:
3.1.24
bypassed controller
equipment wherein the main circuit contacts of a mechanical switching device are connected
in parallel with the main circuit terminals of a semiconductor switching device, and wherein
the operating means of the two switching devices are co-ordinated

Page 27
Modify the existing text of the note of definition 3.2.5 to read:
“… applied to a radiofrequency disturbance or an unwanted signal. [IEV 161-01-14]”

Page 29
Add, after definition 3.2.9, the following new subclause:
3.3 Symbols and abbreviations
A Final ambient temperature (9.3.3.3.4)
f
C Final case temperature (9.3.3.3.4)
f
EMC Electromagnetic compatibility
EUT Equipment under test
I Current made and broken (Table 8)
c
I Rated operational current (5.3.2.3)
e
I Leakage current after the blocking and commutating capability test (9.3.3.6.3)
F
I OFF-state leakage current (3.1.13)
L
I Leakage current before the blocking and commutating capability test (9.3.3.6.3)
O
I Conventional free air thermal current (5.3.2.1)
th
I Conventional enclosed thermal current (5.3.2.2)
the
I Rated uninterrupted current (5.3.2.4)
u
SCPD Short-circuit protective device
U Rated control circuit voltage (5.5)
c
U Rated operational voltage (5.3.1.1)
e
– 16 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
U Tension assignée d’isolement (5.3.1.2)
i
U Tension assignée de tenue aux chocs (5.3.1.3)
imp
U Tension de rétablissement à fréquence industrielle (Tableau 6)
r
U Tension assignée d’alimentation du circuit de commande (5.5)
s
Page 28
5.1 Enumération des caractéristiques
Supprimer le dernier tiret «− surtensions de manœuvre (voir 5.9)».

Page 34
5.3.1 Tensions assignées
Modifier la première phrase pour lire:
«Un gradateur ou un contacteur est défini par …»
5.3.2 Courants
Modifier la première phrase pour lire:
«Un gradateur ou un contacteur est défini par …»

Page 38
5.4 Catégories d’emploi
Remplacer, à la page 40, le deuxième alinéa par le suivant:
Le premier symbole d’identification de la catégorie d’emploi désigne un appareil de connexion
à semiconducteurs (par exemple, dans le cadre de la présente norme, un gradateur ou un
contacteur à semiconducteurs).

Page 40
5.4.1 Attribution des caractéristiques assignées suivant les résultats d’essais
Modifier la première phrase pour lire:
Un gradateur ou un contacteur à semiconducteurs donné auquel a été attribuée une catégorie
d’emploi vérifiée par des essais peut se voir assigner d’autres caractéristiques sans essai
complémentaire pourvu que:
60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 17 –
U Rated insulation voltage (5.3.1.2)
i
U Rated impulse withstand voltage (5.3.1.3)
imp
U Power frequency recovery voltage (Table 6)
r
U Rated control supply voltage (5.5)
s
Page 29
5.1 Summary of characteristics
Delete the last dashed item “− switching overvoltages (see 5.9)”.

Page 35
5.3.1 Rated voltages
Modify the first sentence to read:
“A controller or a contactor is defined by …”
5.3.2 Currents
Modify the first sentence to read:
“A controller or a contactor is defined by …”

Page 39
5.4 Utilization category
Replace, on page 41, the second paragraph by the following:
The first digit of the utilization category identification designates a semiconductor switching
device (e.g., within this standard, a semiconductor controller or contactor).

Page 41
5.4.1 Assignment of ratings based on the results of tests
Modify the first sentence to read:
A designated semiconductor controller or contactor with a rating for one utilization category
which has been verified by testing can be assigned other ratings without testing, provided
that:
– 18 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
Page 42
Tableau 3 – Niveaux de sévérité relatifs
La correction ne concerne que le texte anglais.
2 2
Remplacer, dans la NOTE 3, «(XI ) »par «(XI ) » et «T » par «T ».
e x
5.5 Circuits de commande
Modifier le texte existant du quatrième tiret pour lire:
«− tension assignée du circuit …»
5.6 Circuits auxiliaires
Ajouter, à la fin de ce paragraphe, le nouvel alinéa suivant:
Les entrées numériques et/ou les sorties numériques contenues dans les gradateurs et les
contacteurs, et destinées à être compatibles avec les automates programmables doivent
satisfaire aux exigences de la CEI 61131-2.

Page 44
5.8 Coordination avec les dispositifs de protection contre les courts-circuits (DPCC)
Modifier le titre existant du premier alinéa pour lire:
« … du DPCC à utiliser afin d’assurer une protection correcte du gradateur ou du contacteur
contre les courants de court-circuit.»
5.9 Surtensions de manœuvre
Supprimer le titre et le texte de ce paragraphe.
6.1 Nature des informations
Remplacer, à la page 46, le point p) par ce qui suit:
p) disponible.
Page 46
6.3 Instructions d’installation, de fonctionnement et d’entretien
Remplacer le texte existant de ce paragraphe par ce qui suit:
Le paragraphe 5.3 de la CEI 60947-1 s’applique avec le complément suivant.
Pour les produits répondant aux dispositions de la présente norme, les points spécifiques
suivants doivent être considérés:
− dans l’éventualité d’un court-circuit;

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 19 –
Page 43
Table 3 – Relative levels of severity
2 2
Replace, in NOTE 1, “(XI ) ” by “(XI ) ”, “T ” by “T ” and “XI” by “XI ” (twice).
e x e
The correction applies to the French text only.
5.5 Control circuits
The correction applies to the French text only.
5.6 Auxiliary circuits
Add, at the end of this subclause, the following new paragraph:
Digital inputs and/or digital outputs contained in controllers and contactors, and intended to
be compatible with PLC’s shall fulfil the requirements of IEC 61131-2.

Page 45
5.8 Coordination with short-circuit protective devices (SCPD)
Modify the existing text of the first paragraph to read:
“ … of the SCPD to be used to provide an adequate protection of the controller or contactor
against short-circuit currents.”
5.9 Switching overvoltages
Delete the title and the text of this subclause.
6.1 Nature of information
Replace, on page 47, the item p) by the following:
p) vacant.
Page 47
6.3 Instructions for installation, operation and maintenance
Replace the existing text of this subclause by the following:
Subclause 5.3 of IEC 60947-1 applies, with the following addition.
For products complying with this standard, the following are specific items to be considered:
− in the event of a short-circuit;

– 20 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
− dans l’éventualité d’un échauffement supérieur à 50 K de la surface du radiateur
métallique de l’appareil.
Page 50
8.1.3 Distances d’isolement et lignes de fuite
Remplacer le texte existant de ce paragraphe par ce qui suit:
Le paragraphe 7.1.3 de la CEI 60947-1 s’applique avec la note suivante.
NOTE La nature même d’un semiconducteur le rend inadapté à une utilisation à des fins d’isolement.
Page 52
Ajouter, après 8.2.1.5.2, les nouveaux paragraphes suivants:
8.2.1.6 Composants des gradateurs à dérivation ayant subi des essais de type
8.2.1.6.1 Les appareils de connexion qui satisfont aux exigences de leur propre norme de
produit doivent être considérés comme des appareils ayant partiellement subi des essais de
type et sont soumis aux exigences complémentaires suivantes:
a) les échauffements des appareils mécaniques de connexion doivent satisfaire à 8.2.2;
b) les pouvoirs de fermeture et de coupure des appareils mécaniques de connexion doivent
satisfaire à 8.2.4.2;
c) les dispositifs de connexion à semiconducteurs doivent satisfaire à 8.2.4.1 pour la caté-
gorie d’emploi correspondant aux caractéristiques prévues des gradateurs à dérivation.
8.2.1.6.2 Dans le but d’établir les exigences des gradateurs à dérivation, les appareils de
connexion qui satisfont à toutes les exigences de 8.2.1.6.1 doivent, avant d’être installés, être
identifiés comme des composants ayant subi des essais de type pouvant être utilisés sans
restriction dans un gradateur à dérivation (voir Annexe J).
8.2.1.7 Composants dépendants dans les gradateurs à dérivation
Dans le but d’établir les exigences pour les gradateurs à dérivation, les appareils de
connexion qui ne satisfont pas à toutes les exigences de 8.2.1.6.1 doivent, avant d’être
installés, être identifiés comme des composants dépendants et ne pouvant être utilisés dans
un gradateur à dérivation que sous certaines restrictions (voir Annexe J).
8.2.1.8 Utilisation sans restriction des appareils de connexion dans les gradateurs à
dérivation
Lorsque à la fois l’appareil mécanique de connexion et l’appareil de connexion à semi-
conducteurs sont identifiés comme des appareils ayant subi des essais de type, ils doivent
être mis en œuvre et connectés pour répondre aux valeurs assignées, au service assigné et à
l’utilisation prévue par le constructeur. Il ne doit pas y avoir d’autres restrictions.

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 21 –
− in the event of temperature rise above 50 K of the metallic radiator surface of the device.

Page 51
8.1.3 Clearances and creepage distances
Replace the existing text of this subclause by the following:
Subclause 7.1.3 of IEC 60947-1 applies with the following note.
NOTE The nature of a semiconductor makes it unsuitable for use for isolation purposes.

Page 53
Add, after 8.2.1.5.2, the following new subclauses:
8.2.1.6 Type-tested components in bypassed controllers
8.2.1.6.1 Switching devices which meet the requirements of their own relevant product
standard shall be considered as partially type-tested devices subject to the following
additional requirements:
a) the temperature rises of mechanical switching devices shall comply with 8.2.2;
b) the making and breaking capacity of mechanical switching devices shall comply with
8.2.4.2;
c) semiconductor switching devices shall comply with 8.2.4.1 for the utilization category
according to the intended ratings of the bypassed controllers.
8.2.1.6.2 For the purpose of setting requirements for bypassed controllers, switching devices
which meet all of the requirements of 8.2.1.6.1, before they are installed, shall be identified as
type-tested components suitable for unrestricted use in a bypassed controller (see Annex J).
8.2.1.7 Dependent components in bypassed controllers
For the purpose of setting requirements for bypassed controllers, switching devices which do
not meet all of the requirements of 8.2.1.6.1, before they are installed, shall be identified as
dependent components suitable only for restricted use in a bypassed controller (see Annex J).
8.2.1.8 Unrestricted use of switching devices in bypassed controllers
When both the mechanical switching device and the semiconductor switching device are
identified as type tested components, these devices shall be arranged and connected to
comply with the assigned rating, duty and the end use intended by the manufacturer. There
shall be no further restrictions.

– 22 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
8.2.1.9 Utilisation limitée des appareils de connexion dans les gradateurs à dérivation
Lorsque soit l’un soit les deux appareils de connexion sont identifiés comme des composants
dépendants, les appareils de connexion doivent satisfaire à ce qui suit:
a) les appareils de connexion doivent être combinés, avoir leurs caractéristiques assignées
et être essayés comme pour un ensemble;
b) les appareils de connexion doivent être interverrouillés par un des moyens suivants, soit
individuellement soit par combinaison: moyens électrique, électronique ou mécanique, de
telle manière que les contacts mécaniques de connexion ne doivent pas être sollicités
pour établir ou couper des courants de surcharge sans l’intervention directe de l’appareil
de connexion à semiconducteurs;
c) l’appareil de connexion à semiconducteurs doit pouvoir prendre le contrôle de la
commande du courant traversant le circuit principal chaque fois qu’il est nécessaire
d’établir ou de couper des courants de surcharge.
8.2.2 Echauffement
Remplacer le texte existant de ce paragraphe par ce qui suit:
Le Paragraphe 7.2.2 de la CEI 60947-1 s’applique avec les compléments suivants.
Des écarts d’échauffement sur la surface du radiateur métallique des appareils à
semiconducteurs sont autorisés: 50 K dans le cas où ils n’ont pas besoin d’être touchés
pendant le fonctionnement normal.
Si la limite de 50 K est dépassée, le constructeur doit fournir un avertissement approprié (par
)
exemple le symbole IEC 60417-5041 (2002-10)) conformément à 6.3. Le choix de la
protection appropriée et de l’emplacement afin de prévenir les dangers est de la
responsabilité de l’installateur.

Page 54
8.2.2.4 Circuit principal
Remplacer le texte existant de ce paragraphe par ce qui suit:
8.2.2.4.1 Généralités
Le circuit principal d’un gradateur ou d’un contacteur, parcouru par du courant à l’état de
pleine conduction, doit pouvoir supporter, sans dépasser les limites d’échauffement spécifiées
en 7.2.2.1 de la CEI 60947-1 lorsqu’il est essayé conformément à 9.3.3.3.4,
− dans le cas d’un gradateur ou d’un contacteur prévu pour un service de 8 h: son courant
thermique conventionnel (voir 5.3.2.1 et/ou 5.3.2.2);
− dans le cas d’un gradateur ou d’un contacteur prévu pour un service ininterrompu, un
service intermittent ou un service temporaire: le courant assigné d’emploi correspondant
(voir 5.3.2.3).
———————
)
CEI 60417, Symboles graphiques utilisables sur le matériel

60947-4-3 Amend. 1 © IEC:2006 – 23 –
8.2.1.9 Restricted use of switching devices in bypassed controllers
When either one or both switching devices are identified as dependent components, the
switching devices shall comply with the following:
a) the switching devices shall be combined, rated and tested as a unit;
b) the switching devices shall be interlocked, by any of the following means, either
individually or in combination: electrical, electronic or mechanical means, such that the
mechanical switching contacts shall not be required to make or break overload currents
without direct intervention by the semiconductor switching device;
c) the semiconductor switching device shall be enabled to take over the control of the current
flowing in the main circuit whenever it is necessary to make or break overload currents.
8.2.2 Temperature rise
Replace the existing text of this subclause by the following:
Subclause 7.2.2 of IEC 60947-1 applies, with the following additions.
Temperature rise deviations on the metallic radiator surface of semiconductor devices are
permitted: 50 K in the case where they need not be touched during normal operation.
If the limit of 50 K is exceeded, the manufacturer shall provide a suitable warning (e.g. symbol
)
IEC 60417-5041 (2002-10)) in accordance with 6.3. Provision of suitable guarding and
location to prevent danger is the responsibility of the installer.

Page 55
8.2.2.4 Main circuit
Replace the existing text of this subclause by the following:
8.2.2.4.1 General
The main circuit of a controller or contactor, which carries current in the FULL-ON state, shall
be capable of carrying, without the temperature rises exceeding the limits specified in 7.2.2.1
of IEC 60947-1 when tested in accordance with 9.3.3.3.4,
− for a controller or contactor intended for 8 h duty: its conventional thermal current (see
5.3.2.1 and/or 5.3.2.2);
− for a controller or contactor intended for uninterrupted duty, intermittent or temporary duty:
the relevant rated operational current (see 5.3.2.3).
———————
)
IEC 60417, Graphical symbols for use on equipment

– 24 – 60947-4-3 Amend. 1 © CEI:2006
8.2.2.4.2 Appareil mécanique de connexion en série des gradateurs hybrides
Pour les gradateurs hybrides, l'échauffement des composants en série dans le circuit
principal doit être vérifié selon les procédures données en 9.3.3.3.4 et 9.3.3.6.1 (voir
Tableau 11).
8.2.2.4.3 Appareils mécaniques de connexion en parallèle des gradateurs à dérivation
Les appareils identifiés comme des composants ayant subi des essais de type (voir 8.2.1.6)
doivent pouvoir supporter le courant I sans que les échauffements dépassent les limites
e
spécifiées en 7.2.2.1 de la CEI 60947-1.
Pour les appareils identifiés comme des composants dépendants (voir 8.2.1.7),
l’échauffement doit être vérifié selon les procédures données en 9.3.3.3.4 et 9.3.3.6.1 (y
compris le Tableau 5 et le Tableau 11). L’appareil doit être essayé comme une partie
intégrante de l’ensemble où les périodes en charge prescrites pour les deux appareils de
connexion (Tableau 5) doivent être déterminées par une séquence de manœuvres qui est la
même que celle prévue en service normal.
8.2.2.4.4 Appareils de commutation à semiconducteurs connectés dans le circuit
principal
L’échauffement des appareils d
...