Photovoltaic devices - Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics

Describes procedures for the measurement of current-voltage characteristics of photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. Lays down basic requirements for the measurement, defines procedures for different measuring techniques in use and shows practices for minimising measurement uncertainty.

Dispositifs photovoltaïques - Partie 1: Mesure des caractéristiques courant-tension des dispositifs photovoltaïques

Décrit les procédures pour la mesure des caractéristiques courant-tension des dispositifs photovoltaïques sous éclairement solaire naturel ou simulé. Présente des exigences fondamentales pour la mesure, définit des procédures pour les différentes techniques de mesure utilisées et présente des pratiques visant à réduire l'incertitude de mesure.

General Information

Status
Published
Publication Date
12-Sep-2006
Drafting Committee
Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
Start Date
25-Sep-2020
Completion Date
26-Oct-2025
Ref Project

Relations

Overview

IEC 60904-1:2006 - "Photovoltaic devices - Part 1: Measurement of photovoltaic current‑voltage characteristics" is an international standard from the IEC that defines procedures and basic requirements for measuring I–V (current‑voltage) characteristics of photovoltaic (PV) cells, sub‑assemblies and modules under natural or simulated sunlight. The standard focuses on consistent measurement practice, spectral and temperature correction, and ways to minimise measurement uncertainty in PV performance testing.

Key topics and technical requirements

  • Scope and purpose: Procedures for I–V measurement applicable to single cells, multi‑junction specimens (where applicable), and PV modules; includes guidance for concentrator devices when correct spectral/irradiance methods are used.
  • Reference irradiance measurement: Use a PV reference cell/ module calibrated per IEC 60904‑2 or IEC 60904‑6, or a pyranometer. Spectral mismatch must be corrected per IEC 60904‑7 when the reference spectrum differs from the test specimen.
  • Temperature control and measurement: Device and reference temperatures must be measured with instruments having ±1 °C accuracy and ±0.5 °C repeatability; apply temperature corrections as per IEC 60891.
  • Electrical measurement accuracy: Voltages and currents shall be measured with instrumentation having ±0.2% precision for open‑circuit voltage (Voc) and short‑circuit current (Isc). Prefer four‑wire connections and keep leads short. Consider connection method effects for cells vs. modules.
  • Isc and I–V determination: Short‑circuit current should be measured at zero voltage (preferably by electronic compensation) or extrapolated from the I–V curve under defined linearity limits.
  • Equipment for natural sunlight tests: May require a two‑axis solar tracker (±5°), spectroradiometer for spectral measurement, and ECT (Equivalent Cell Temperature) methods per IEC 60904‑5.
  • Solar simulator testing: Requirements for matched reference devices and simulator performance are referenced (see IEC 60904‑9 and IEC 60904‑10).
  • Measurement uncertainty practices: Guidance to reduce uncertainty, periodic verification of temperature/irradiance correction procedures, and comprehensive test reporting (aligned with ISO/IEC 17025).

Practical applications and users

IEC 60904‑1 is used by:

  • PV test laboratories and R&D facilities performing cell and module I–V characterization
  • Manufacturers validating product performance and quality control
  • Certification bodies and conformity assessment labs referencing standard test methods
  • PV system designers and researchers requiring reliable performance data Practical benefits include reproducible I–V results, reduced measurement uncertainty, and traceability when comparing module performance across sites or over time.

Related standards (referenced)

  • IEC 60891 (temperature and irradiance corrections)
  • IEC 60904‑2, ‑3, ‑5, ‑6, ‑7, ‑9, ‑10 (PV reference cells, spectral data, ECT, solar simulator requirements, linearity)
  • ISO/IEC 17025 (laboratory competence and test reporting)

Keywords: IEC 60904-1, photovoltaic I‑V measurement, PV current‑voltage characteristics, solar simulator testing, spectral mismatch, measurement uncertainty, reference cell, PV test lab.

Standard
IEC 60904-1:2006 - Photovoltaic devices - Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics Released:9/13/2006
English language
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Standard
IEC 60904-1:2006 - Dispositifs photovoltaïques - Partie 1: Mesure des caractéristiques courant-tension des dispositifs photovoltaïques Released:9/13/2006
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Standard
IEC 60904-1:2006 - Photovoltaic devices - Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics
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Frequently Asked Questions

IEC 60904-1:2006 is a standard published by the International Electrotechnical Commission (IEC). Its full title is "Photovoltaic devices - Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics". This standard covers: Describes procedures for the measurement of current-voltage characteristics of photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. Lays down basic requirements for the measurement, defines procedures for different measuring techniques in use and shows practices for minimising measurement uncertainty.

Describes procedures for the measurement of current-voltage characteristics of photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. Lays down basic requirements for the measurement, defines procedures for different measuring techniques in use and shows practices for minimising measurement uncertainty.

IEC 60904-1:2006 is classified under the following ICS (International Classification for Standards) categories: 27.160 - Solar energy engineering. The ICS classification helps identify the subject area and facilitates finding related standards.

IEC 60904-1:2006 has the following relationships with other standards: It is inter standard links to IEC 60904-1:2020. Understanding these relationships helps ensure you are using the most current and applicable version of the standard.

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Standards Content (Sample)


INTERNATIONAL IEC
STANDARD 60904-1
Second edition
2006-09
Photovoltaic devices –
Part 1:
Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics

This English-language version is derived from the original
bilingual publication by leaving out all French-language
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language pages.
Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the

60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,

edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base

publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this
publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications
(see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on
the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical
committee which has prepared this publication, as well as the list of publications
issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to
search by a variety of criteria including text searches, technical committees and
date of publication. On-line information is also available on recently issued
publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/ justpub) is
also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below)
for further information.
• Customer Service Centre
If you have any questions regarding this publication or need further assistance,
please contact the Customer Service Centre:

Email: custserv@iec.ch
Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
INTERNATIONAL IEC
STANDARD 60904-1
Second edition
2006-09
Photovoltaic devices –
Part 1:
Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics

© IEC 2006 Copyright - all rights reserved
No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical,
including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
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Commission Electrotechnique Internationale
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60904-1  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Scope and object.9

2 Normative references .9

3 General measurement requirements.11

4 Apparatus.13

4.1 For measurements in natural sunlight.13

4.2 For measurements in simulated sunlight.13
5 Measurements in natural sunlight .13
6 Measurement in steady-state simulated sunlight.15
7 Measurement in pulsed simulated sunlight .19
8 Test report.23

60904-1  IEC:2006 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
PHOTOVOLTAIC DEVICES –
Part 1: Measurement of photovoltaic

current-voltage characteristics

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

International Standard IEC 60904-1 has been prepared by IEC technical committee 82: Solar
photovoltaic energy systems.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1987. This edition
constitutes a technical revision.
The main changes with respect to the previous edition are as follows:
– Added object.
– Added normative references.
– Updated original Clause 2 (General Measurement Requirements), removing Figure 1 as it
is obsolete.
– Provided more detail and guidance on how to measure in sunlight or simulated sunlight.
– Expanded original Clause 6 (Test Report) with requirements based on ISO 17025.

60904-1  IEC:2006 – 7 –
The text of this standard is based on the following documents:

FDIS Report on voting
82/433/FDIS 82/450/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on

voting indicated in the above table.

This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.

A list of all parts of IEC 60904 series, under the general title Photovoltaic devices, can be
found on the IEC website.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
60904-1  IEC:2006 – 9 –
PHOTOVOLTAIC DEVICES –
Part 1: Measurement of photovoltaic

current-voltage characteristics

1 Scope and object
This part of IEC 60904 describes procedures for the measurement of current-voltage
characteristics of photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. These procedures are
applicable to a single photovoltaic solar cell, a sub-assembly of photovoltaic solar cells, or a
PV module.
NOTE 1 This standard may be applicable to multi-junction test specimens, if each sub-junction generates the
same amount of current as it would under the reference AM1,5 spectrum in IEC 60904-3.
NOTE 2 This standard may be applicable to PV devices designed for use under concentrated irradiation if they
are irradiated using direct normal irradiance and a mismatch correction with respect to a direct normal reference
spectrum is performed.
The purpose of this standard is to lay down basic requirements for the measurement of
current-voltage characteristics of photovoltaic devices, to define procedures for different
measuring techniques in use and to show practices for minimising measurement uncertainty.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60891: Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V
characteristics of crystalline silicon photovoltaic (PV) devices
IEC 60904-2: Photovoltaic devices – Part 2: Requirements for reference solar cells
IEC 60904-3: Photovoltaic devices – Part 3: Measurement principles for terrestrial
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
IEC 60904-5: Photovoltaic devices – Part 5: Determination of equivalent cell temperature
(ECT) of photovoltaic (PV) devices by the open-circuit voltage method

IEC 60904-6: Photovoltaic devices – Part 6: Requirements for reference solar modules
IEC 60904-7: Photovoltaic devices – Part 7: Computation of spectral mismatch error
introduced in the testing of a photovoltaic device
IEC 60904-9: Photovoltaic devices – Part 9: Solar simulator performance requirements
IEC 60904-10: Photovoltaic devices – Part 10: Methods for linearity measurements
ISO/IEC 17025: General requirements for competence of testing and calibration laboratories

60904-1  IEC:2006 – 11 –
3 General measurement requirements

a) The irradiance measurements shall be made using a PV reference device packaged and

calibrated in conformance with IEC 60904-2 or IEC 60904-6 or a pyranometer. The PV
reference device shall either be spectrally matched to the test specimen, or a spectral
mismatch correction shall be performed in conformance with IEC 60904-7. The reference

device shall be linear in short-circuit current as defined in IEC 60904-10 over the

irradiance range of interest.
NOTE To be considered spectrally matched, a reference device must be constructed using the same cell

technology and encapsulation package as the test device. If this is not the case, the spectral mismatch must

be reported.
b) The temperature of the reference device and the specimen shall be measured using
instrumentation with an accuracy of ±1 °C with repeatability of ±0,5 °C. If the temperature
of the reference device differs by more than 2 °C from the temperature at which it was
calibrated, the calibration value shall be adjusted to the measured temperature. If the
reference device is a pyranometer, temperature measurement and temperature correction
of its output signal are not required.
c) The active surface of the specimen shall be coplanar within ±2° with the active surface of
the reference device.
d) Voltages and currents shall be measured using instrumentation with an accuracy of
±0,2 % of the open-circuit voltage and short-circuit current using independent leads from
the terminals of the specimen and keeping them as short as possible. The measurement
ranges of the data acquisition should be carefully chosen. If the test specimen is a
module, the 4-wire connection should start at the terminals or connectors. If the test
specimen is a cell, the 4-wire connection should start at the cell bus bars.
NOTE The connection method for cells should be carefully evaluated. Differences may occur if soldered tabs
are used as probe or non-soldered methods are implemented such as bars having contact springs or
conductive plates having a large-area contact with the cell back contact. Non-soldered methods can result in
higher fill factors than are observed in the module. The contacting method should be appropriate to the
intended use of the cell or of the measurement.
e) The short-circuit current shall be measured at zero voltage, using a variable bias
(preferably electronic) to offset the voltage drop across the external series resistance.
Alternatively, short circuit current may be extrapolated from the current-voltage
characteristic. The curve is extrapolated to zero voltage provided that voltage drop is not
higher than 3 % of the device open-circuit voltage and that there is a linear relationship
between current and voltage.
f) The accuracy of the procedure for irradiance and temperature correction in conformance
with IEC 60891 shall be verified periodically by measuring the performance of a specimen
at selected irradiance and temperature levels and comparing the results with
corresponding extrapolated data as in IEC 60904-10.
NOTE If temperature and irradiance correction is performed across wide ranges module correction
parameters can considerably affect the test result. Care should be taken regarding the relevance of the module
parameters used. In particular series resistance cannot be generalized to a batch of specimens of the same
type.
In measuring PV devices which are non stable, care must be taken in selecting a
representative spectral response.

60904-1  IEC:2006 – 13 –
4 Apparatus
4.1 For measurements in natural sunlight

In addition to the general measurement requirements of Clause 3 the following equipment is

required to perform I-V characteristic measurements in natural sunlight:

a) A PV reference device or pyranometer that meets the conditions stated in item a) of

Clause 3.
b) Means for measuring temperature of the reference device that meets the conditions stated
in item b) of Clause 3, if necessary.
c) Equipment to determine the temperature of the test device using the Equivalent Cell
Temperature (ECT) method specified in IEC 60904-5 or other means to measure the
temperature of the test device as stated in item b) of Clause 3.
d) A two-axis tracking system capable of tracking the sun to an accuracy of ±5°.
e) A spectroradiometer capable of measuring the spectral irradiance of the sunlight in the
range of the spectral response of the test specimen and the reference device, if spectral
corrections are needed as defined in item a) of Clause 3.
4.2 For measurements in simulated sunlight
In addition to the general measurement requirements of Clause 3 the following equipment is
required to perform I-V characteristic measurements in simulated sunlight:
a) A PV reference device that is well matched to the test device over the ranges of
irradiances, spectral distributions and temperatures of interest and meets the conditions
stated in item a) of Clause 3.
b) Means for measuring the temperature of the reference device and the test specimen that
meets the conditions stated in item b) of Clause 3.
c) A Class BBB or better solar simulator in accordance with IEC 60904-9. The designated
test area shall be equal to or greater than the area that is spanned by the test specimen.
d) An irradiance sensor that tracks the instantaneous irradiance in the test plane. This
irradiance sensor should be linear in the range of irradiances over which the
measurements are taken (see IEC 60904-10).
e) A spectroradiometer capable of measuring the spectral irradiance of the simulator in the
range of the spectral response of the test specimen and the reference device, if spectral
corrections are needed as defined in item a) of Clause 3.
NOTE Care should be taken in the use of an emission lamp such as Xenon for testing direct band gap cells.
As the band gap changes due to temperature, it can pass through various emission lines in the lamp spec
...


NORME CEI
INTERNATIONALE 60904-1
Deuxième édition
2006-09
Dispositifs photovoltaïques –
Partie 1:
Mesure des caractéristiques courant-tension
des dispositifs photovoltaïques

Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 60904-1:2006(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de

60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les

amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2

indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2

Informations supplémentaires sur les publications de la CEI

Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)

• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.

• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.

• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:

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Tél: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
NORME CEI
INTERNATIONALE 60904-1
Deuxième édition
2006-09
Dispositifs photovoltaïques –
Partie 1:
Mesure des caractéristiques courant-tension
des dispositifs photovoltaïques

© IEC 2006 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur

– 2 – 60904-1  CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4

1 Domaine d’application et objet.8

2 Références normatives.8

3 Exigences générales de mesures .10

4 Matériel .12

4.1 Pour les mesures sous éclairement solaire naturel .12

4.2 Pour les mesures sous éclairement solaire simulé.12
5 Mesures sous éclairement solaire naturel.12
6 Mesures sous éclairement solaire simulé continu .14
7 Mesure sous éclairement solaire simulé en impulsions .18
8 Rapport d’essai .22

– 4 – 60904-1  CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
DISPOSITIFS PHOTOVOLTAÏQUES –
Partie 1: Mesure des caractéristiques courant-tension

des dispositifs photovoltaïques

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.

La Norme internationale CEI 60904-1 a été établie par le comité d'études 82 de la CEI:
Systèmes de conversion photovoltaïque de l’énergie solaire.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition, parue en 1987, dont elle
constitue une révision technique.
Les principaux changement par rapport à l’édition précédente sont les suivants:
– Ajout d’un alinéa concernant l’objet de cette norme.
– Ajout d’un article « Références normatives ».
– Mise à jour des conditions générales de mesures (Figure 1 obsolète retirée).
– Détails et conseils complémentaires sur la façon de mesurer sous éclairement solaire
naturel ou simulé.
– Exigences sur le rapport d’essai étendues et fondées sur l’ISO 17025.

– 6 – 60904-1  CEI:2006
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
82/433/FDIS 82/450/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant

abouti à l'approbation de cette norme.

Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.

Une liste de toutes les parties de la série CEI 60904, présentées sous le titre général
Dispositifs photovoltaïques, peut être consultée sur le site web de la CEI.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous "http://webstore.iec.ch" dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
– 8 – 60904-1  CEI:2006
DISPOSITIFS PHOTOVOLTAÏQUES –
Partie 1: Mesure des caractéristiques courant-tension

des dispositifs photovoltaïques

1 Domaine d’application et objet

La présente partie de la CEI 60904 décrit les procédures pour la mesure des caractéristiques
courant-tension des dispositifs photovoltaïques sous éclairement solaire naturel ou simulé.
Ces procédures sont applicables aux cellules solaires individuelles, aux sous-ensembles de
cellules solaires ou aux modules PV.
NOTE 1 La présente norme peut être applicable aux spécimens d’essai multi-jonctions, si chaque sous-jonction
produit la même quantité de courant qu’elle produirait sous le spectre de référence AM1,5 dans la CEI 60904-3.
NOTE 2 La présente norme peut être applicable aux dispositifs PV conçus pour être utilisés sous une exposition
énergétique concentrée, s’ils sont irradiés à l’aide d’un éclairement normal direct, et si une correction de
désadaptation par rapport à un spectre de référence normal direct est effectuée.
L’objet de la présente norme est de formuler des exigences fondamentales pour la mesure
des caractéristiques courant-tension des dispositifs photovoltaïques, de définir des
procédures pour les différentes techniques de mesure utilisées et de présenter des pratiques
visant à réduire l’incertitude de mesure.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60891: Procédures pour les corrections en fonction de la température et de l'éclairement
à appliquer aux caractéristiques I-V mesurées des dispositifs photovoltaïques au silicium
cristallin
CEI 60904-2: Dispositifs photovoltaïques – Partie 2: Exigences relatives aux cellules solaires
de référence
CEI 60904-3: Dispositifs photovoltaïques – Partie 3: Principes de mesure des dispositifs
solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre incluant les données de l'éclairement spectral

de référence
CEI 60904-5: Dispositifs photovoltaïques – Partie 5: Détermination de la température de
cellule équivalente (ECT) des dispositifs photovoltaïques (PV) par la méthode de la tension
en circuit ouvert
CEI 60904-6: Dispositifs photovoltaïques – Partie 6: Exigences relatives aux modules solaires
de référence
CEI 60904-7: Dispositifs photovoltaïques – Partie 7: Calcul de l’erreur de désadaptation des
réponses spectrales introduite dans les mesures de test d’un dispositif photovoltaïque
CEI 60904-9: Dispositifs photovoltaïques – Partie 9: Exigences pour le fonctionnement des
simulateurs solaires
CEI 60904-10: Dispositifs photovoltaïques – Partie 10: Méthodes de mesure de la linéarité
ISO/CEI 17025: Exigences générales concernant la compétence des laboratoires d’étalon-
nages et d’essais
– 10 – 60904-1  CEI:2006
3 Exigences générales de mesures

a) Les mesures d’éclairement doivent être effectuées à l’aide d’un dispositif PV de référence

emballé et étalonné conformément à la CEI 60904-2 ou à la CEI 60904-6, ou d’un

pyranomètre. Le spectre du dispositif PV de référence doit être adapté au spécimen

d’essai, ou une correction de désadaptation des réponses spectrales doit être réalisée

conformément à la CEI 60904-7. Le dispositif de référence doit être linéaire dans le

courant de court-circuit, tel que défini dans la CEI 60904-10 dans la plage d’éclairement

concernée.
NOTE Afin que son spectre soit considéré comme adapté, il faut qu’un dispositif de référence soit construit
en utilisant la même technologie de cellule et le même enrobage que le dispositif d’essai. Si ce n’est pas le
cas, il faut que la désadaptation des réponses spectrales soit indiquée.
b) Les températures du dispositif de référence et du spécimen doivent être mesurées à l’aide
d’une instrumentation, avec une précision de ±1 °C et une répétabilité de ±0,5 °C. Si la
température du dispositif de référence diffère de plus de 2 °C de la température pour
laquelle il a été étalonné, la valeur d’étalonnage doit être corrigée pour tenir compte de la
température mesurée. Si le dispositif de référence est un pyranomètre, la mesure de la
température et la correction de température de son signal de sortie ne sont pas requises.
c) La surface active du spécimen doit être coplanaire dans une limite de ±2° avec la surface
active du dispositif de référence.
d) Les tensions et les courants doivent être mesurés à l’aide d’une instrumentation avec une
précision de ±0,2 % de la tension en circuit ouvert et du courant de court-circuit, en
utilisant des fils indépendants à partir des bornes du spécimen et en les maintenant aussi
courts que possible. Il convient de choisir soigneusement les plages de mesure de
l’acquisition de données. Si le spécimen d’essai est un module, il convient que la
connexion à 4 fils commence au niveau des bornes ou des connecteurs. Si le spécimen
d’essai est une cellule, il convient que la connexion à 4 fils commence au niveau des jeux
de barres des cellules.
NOTE Il convient d’évaluer soigneusement la méthode de connexion pour les cellules. Des différences
peuvent se produire si des languettes soudées sont utilisées comme sonde ou si des méthodes avec des
connexions non soudées sont mises en œuvre, telles que des barres avec des ressorts de contact ou des
plateaux conducteurs ayant un contact sur une grande zone avec le contact au dos de la cellule. Les
méthodes avec des connexions non soudées peuvent entraîner des coefficients de remplissage plus élevés
que ceux qui sont observés dans le module. Il convient que la méthode de contact soit appropriée à
l’utilisation prévue de la cellule ou de la mesure.
e) Le courant de court-circuit doit être mesuré pour une tension nulle en utilisant une
tension variable (de préférence électronique) pour compenser la chute de tension
apparaissant aux bornes de la résistance en série externe. En variante, le courant de
court-circuit peut être extrapolé à partir des caractéristiques courant-tension. La courbe
est extrapolée à la tension nulle, à condition que la chute de tension ne soit pas

supérieure à 3 % de la tension en circuit ouvert du dispositif et qu’il y ait une relation
linéaire entre le courant et la tension.
f) La précision de la procédure pour la correction de l’éclairement et de la température
conformément à la CEI 60891 doit être vérifiée périodiquement en mesurant les
performances d’un spécimen à des niveaux choisis d’éclairement et de température, et en
comparant les résultats avec les valeurs extrapolées correspondantes, comme dans la
CEI 60904-10.
NOTE Si la correction de la température et de l’éclairement est réalisée sur des plages étendues, les
paramètres de correction du module peuvent affecter considérablement le résultat d'essai. Il convient de
veiller à la pertinence des paramètres de module utilisés. En particulier, la résistance en série ne peut pas être
généralisée à un lot de spécimens du même type.
Lors de la mesure de dispositifs PV qui ne sont pas stables, il faut prendre des précautions
dans le choix d’une réponse spectrale représentative.

– 12 – 60904-1  CEI:2006
4 Matériel
4.1 Pour les mesures sous éclairement solaire naturel

En plus des exigences générales de mesures de l’Article 3, l’équipement suivant est

nécessaire pour effectuer des mesures de la caractéristique I-V sous éclairement solaire

naturel:
a) Un dispositif PV de référence ou un pyranomètre satisfaisant aux conditions indiquées au

point a) de l'Article 3.
b) Des dispositifs pour mesurer la température du dispositif de référence satisfaisant aux
conditions indiquées au point b) de l’Article 3, si nécessaire.
c) Un équipement pour déterminer la température du dispositif d’essai à l’aide de la méthode
de la température de cellule équivalente (ECT; en anglais, Equivalent Cell Temperature)
spécifiée dans la CEI 60904-5, ou d’autres dispositifs pour mesurer la température du
dispositif d’essai, comme indiqué au point b) de l'Article 3.
d) Un système de suivi à deux axes, capable de suivre la trajectoire du soleil, avec une
précision de ±5°.
e) Un spectroradiomètre capable de mesurer l’éclairement spectral de la lumière solaire dans
la plage de la réponse spectrale du spécimen d’essai et du dispositif de référence, si des
corrections spectrales sont nécessaires, comme défini au point a) de l'Article 3.
4.2 Pour les mesures sous éclairement solaire simulé
En plus des exigences générales de mesures de l’Article 3, l’équipement suivant est
nécessaire pour effectuer des mesures de la caractéristique I-V sous éclairement solaire
simulé:
a) Un dispositif PV de référence qui est bien adapté au dispositif d’essai sur les plages
d’éclairement, de répartitions spectrales et de températures concernées et qui satisfait
aux conditions indiquées au point a) de l'Article 3.
b) Des dispositifs pour mesurer la température du dispositif de référence et du spécimen
d’essai, satisfaisant aux conditions indiquées au point b) de l'Article 3.
c) Un simulateur solaire de classe BBB ou supérieure, conformément à la CEI 60904-9. La
surface d’essai désignée doit être supérieure ou égale à la surface couverte par le
spécimen d’essai.
d) Un capteur d’éclairement qui suit la trajectoire de l’éclairement instantané dans le plan
d’essai. Il convient que ce capteur d’éclairement soit linéaire dans la plage des
éclairements sur laquelle les mesures sont prises (voir la CEI 60904-10).

e) Un spectroradiomètre capable de mesurer l’éclairement spectral du simulateur dans la
plage de la réponse spectrale du spécimen d’essai et du dispositif de référence, si des
corrections spectrales sont nécessaires, comme défini au point a) de l'Article 3.
NOTE Il convient de prendre des précautions lors de l’utilisation d’une lampe d’émission comme une lampe
au xénon pour les essais de cellules à largeur de bande directe. Dans la mesure où la largeur de bande varie
en raison de la température, elle peut traverser diverses lignes d’émission dans le spectre de lampe et donner
lieu à des décalages importants de performance.
5 Mesures sous éclairement solaire naturel
Les mesures sous éclairement solaire naturel doivent être faites seulement lorsque
l’éclairement solaire global ne fluctue pas de plus de ±1 % pendant la mesure. Quand les
mesures doivent servir de référence aux conditions normales d’essai (STC; en anglais
–2
Standard
...


NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60904-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-09
Dispositifs photovoltaïques –
Partie 1:
Mesure des caractéristiques courant-tension
des dispositifs photovoltaïques

Photovoltaic devices –
Part 1:
Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60904-1:2006
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
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(www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available
nible par courrier électronique. Veuillez prendre by email. Please contact the Customer Service
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Fax: +41 22 919 03 00 Fax: +41 22 919 03 00
.
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60904-1
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-09
Dispositifs photovoltaïques –
Partie 1:
Mesure des caractéristiques courant-tension
des dispositifs photovoltaïques

Photovoltaic devices –
Part 1:
Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics
 IEC 2006 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
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– 2 – 60904-1  CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4

1 Domaine d’application et objet.8
2 Références normatives.8
3 Exigences générales de mesures .10
4 Matériel .12
4.1 Pour les mesures sous éclairement solaire naturel .12
4.2 Pour les mesures sous éclairement solaire simulé.12
5 Mesures sous éclairement solaire naturel.12
6 Mesures sous éclairement solaire simulé continu .14
7 Mesure sous éclairement solaire simulé en impulsions .18
8 Rapport d’essai .22

60904-1  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Scope and object.9
2 Normative references .9
3 General measurement requirements.11
4 Apparatus.13
4.1 For measurements in natural sunlight.13
4.2 For measurements in simulated sunlight.13
5 Measurements in natural sunlight .13
6 Measurement in steady-state simulated sunlight.15
7 Measurement in pulsed simulated sunlight .19
8 Test report.23

– 4 – 60904-1  CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
DISPOSITIFS PHOTOVOLTAÏQUES –
Partie 1: Mesure des caractéristiques courant-tension
des dispositifs photovoltaïques

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 60904-1 a été établie par le comité d'études 82 de la CEI:
Systèmes de conversion photovoltaïque de l’énergie solaire.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition, parue en 1987, dont elle
constitue une révision technique.
Les principaux changement par rapport à l’édition précédente sont les suivants:
– Ajout d’un alinéa concernant l’objet de cette norme.
– Ajout d’un article « Références normatives ».
– Mise à jour des conditions générales de mesures (Figure 1 obsolète retirée).
– Détails et conseils complémentaires sur la façon de mesurer sous éclairement solaire
naturel ou simulé.
– Exigences sur le rapport d’essai étendues et fondées sur l’ISO 17025.

60904-1  IEC:2006 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
PHOTOVOLTAIC DEVICES –
Part 1: Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 60904-1 has been prepared by IEC technical committee 82: Solar
photovoltaic energy systems.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1987. This edition
constitutes a technical revision.
The main changes with respect to the previous edition are as follows:
– Added object.
– Added normative references.
– Updated original Clause 2 (General Measurement Requirements), removing Figure 1 as it
is obsolete.
– Provided more detail and guidance on how to measure in sunlight or simulated sunlight.
– Expanded original Clause 6 (Test Report) with requirements based on ISO 17025.

– 6 – 60904-1  CEI:2006
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
82/433/FDIS 82/450/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Une liste de toutes les parties de la série CEI 60904, présentées sous le titre général
Dispositifs photovoltaïques, peut être consultée sur le site web de la CEI.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous "http://webstore.iec.ch" dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite,
• supprimée,
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
60904-1  IEC:2006 – 7 –
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
82/433/FDIS 82/450/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
A list of all parts of IEC 60904 series, under the general title Photovoltaic devices, can be
found on the IEC website.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 8 – 60904-1  CEI:2006
DISPOSITIFS PHOTOVOLTAÏQUES –
Partie 1: Mesure des caractéristiques courant-tension
des dispositifs photovoltaïques

1 Domaine d’application et objet
La présente partie de la CEI 60904 décrit les procédures pour la mesure des caractéristiques
courant-tension des dispositifs photovoltaïques sous éclairement solaire naturel ou simulé.
Ces procédures sont applicables aux cellules solaires individuelles, aux sous-ensembles de
cellules solaires ou aux modules PV.
NOTE 1 La présente norme peut être applicable aux spécimens d’essai multi-jonctions, si chaque sous-jonction
produit la même quantité de courant qu’elle produirait sous le spectre de référence AM1,5 dans la CEI 60904-3.
NOTE 2 La présente norme peut être applicable aux dispositifs PV conçus pour être utilisés sous une exposition
énergétique concentrée, s’ils sont irradiés à l’aide d’un éclairement normal direct, et si une correction de
désadaptation par rapport à un spectre de référence normal direct est effectuée.
L’objet de la présente norme est de formuler des exigences fondamentales pour la mesure
des caractéristiques courant-tension des dispositifs photovoltaïques, de définir des
procédures pour les différentes techniques de mesure utilisées et de présenter des pratiques
visant à réduire l’incertitude de mesure.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60891: Procédures pour les corrections en fonction de la température et de l'éclairement
à appliquer aux caractéristiques I-V mesurées des dispositifs photovoltaïques au silicium
cristallin
CEI 60904-2: Dispositifs photovoltaïques – Partie 2: Exigences relatives aux cellules solaires
de référence
CEI 60904-3: Dispositifs photovoltaïques – Partie 3: Principes de mesure des dispositifs
solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre incluant les données de l'éclairement spectral
de référence
CEI 60904-5: Dispositifs photovoltaïques – Partie 5: Détermination de la température de
cellule équivalente (ECT) des dispositifs photovoltaïques (PV) par la méthode de la tension
en circuit ouvert
CEI 60904-6: Dispositifs photovoltaïques – Partie 6: Exigences relatives aux modules solaires
de référence
CEI 60904-7: Dispositifs photovoltaïques – Partie 7: Calcul de l’erreur de désadaptation des
réponses spectrales introduite dans les mesures de test d’un dispositif photovoltaïque
CEI 60904-9: Dispositifs photovoltaïques – Partie 9: Exigences pour le fonctionnement des
simulateurs solaires
CEI 60904-10: Dispositifs photovoltaïques – Partie 10: Méthodes de mesure de la linéarité
ISO/CEI 17025: Exigences générales concernant la compétence des laboratoires d’étalon-
nages et d’essais
60904-1  IEC:2006 – 9 –
PHOTOVOLTAIC DEVICES –
Part 1: Measurement of photovoltaic
current-voltage characteristics

1 Scope and object
This part of IEC 60904 describes procedures for the measurement of current-voltage
characteristics of photovoltaic devices in natural or simulated sunlight. These procedures are
applicable to a single photovoltaic solar cell, a sub-assembly of photovoltaic solar cells, or a
PV module.
NOTE 1 This standard may be applicable to multi-junction test specimens, if each sub-junction generates the
same amount of current as it would under the reference AM1,5 spectrum in IEC 60904-3.
NOTE 2 This standard may be applicable to PV devices designed for use under concentrated irradiation if they
are irradiated using direct normal irradiance and a mismatch correction with respect to a direct normal reference
spectrum is performed.
The purpose of this standard is to lay down basic requirements for the measurement of
current-voltage characteristics of photovoltaic devices, to define procedures for different
measuring techniques in use and to show practices for minimising measurement uncertainty.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60891: Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V
characteristics of crystalline silicon photovoltaic (PV) devices
IEC 60904-2: Photovoltaic devices – Part 2: Requirements for reference solar cells
IEC 60904-3: Photovoltaic devices – Part 3: Measurement principles for terrestrial
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
IEC 60904-5: Photovoltaic devices – Part 5: Determination of equivalent cell temperature
(ECT) of photovoltaic (PV) devices by the open-circuit voltage method
IEC 60904-6: Photovoltaic devices – Part 6: Requirements for reference solar modules
IEC 60904-7: Photovoltaic devices – Part 7: Computation of spectral mismatch error
introduced in the testing of a photovoltaic device
IEC 60904-9: Photovoltaic devices – Part 9: Solar simulator performance requirements
IEC 60904-10: Photovoltaic devices – Part 10: Methods for linearity measurements
ISO/IEC 17025: General requirements for competence of testing and calibration laboratories

– 10 – 60904-1  CEI:2006
3 Exigences générales de mesures
a) Les mesures d’éclairement doivent être effectuées à l’aide d’un dispositif PV de référence
emballé et étalonné conformément à la CEI 60904-2 ou à la CEI 60904-6, ou d’un
pyranomètre. Le spectre du dispositif PV de référence doit être adapté au spécimen
d’essai, ou une correction de désadaptation des réponses spectrales doit être réalisée
conformément à la CEI 60904-7. Le dispositif de référence doit être linéaire dans le
courant de court-circuit, tel que défini dans la CEI 60904-10 dans la plage d’éclairement
concernée.
NOTE Afin que son spectre soit considéré comme adapté, il faut qu’un dispositif de référence soit construit
en utilisant la même technologie de cellule et le même enrobage que le dispositif d’essai. Si ce n’est pas le
cas, il faut que la désadaptation des réponses spectrales soit indiquée.
b) Les températures du dispositif de référence et du spécimen doivent être mesurées à l’aide
d’une instrumentation, avec une précision de ±1 °C et une répétabilité de ±0,5 °C. Si la
température du dispositif de référence diffère de plus de 2 °C de la température pour
laquelle il a été étalonné, la valeur d’étalonnage doit être corrigée pour tenir compte de la
température mesurée. Si le dispositif de référence est un pyranomètre, la mesure de la
température et la correction de température de son signal de sortie ne sont pas requises.
c) La surface active du spécimen doit être coplanaire dans une limite de ±2° avec la surface
active du dispositif de référence.
d) Les tensions et les courants doivent être mesurés à l’aide d’une instrumentation avec une
précision de ±0,2 % de la tension en circuit ouvert et du courant de court-circuit, en
utilisant des fils indépendants à partir des bornes du spécimen et en les maintenant aussi
courts que possible. Il convient de choisir soigneusement les plages de mesure de
l’acquisition de données. Si le spécimen d’essai est un module, il convient que la
connexion à 4 fils commence au niveau des bornes ou des connecteurs. Si le spécimen
d’essai est une cellule, il convient que la connexion à 4 fils commence au niveau des jeux
de barres des cellules.
NOTE Il convient d’évaluer soigneusement la méthode de connexion pour les cellules. Des différences
peuvent se produire si des languettes soudées sont utilisées comme sonde ou si des méthodes avec des
connexions non soudées sont mises en œuvre, telles que des barres avec des ressorts de contact ou des
plateaux conducteurs ayant un contact sur une grande zone avec le contact au dos de la cellule. Les
méthodes avec des connexions non soudées peuvent entraîner des coefficients de remplissage plus élevés
que ceux qui sont observés dans le module. Il convient que la méthode de contact soit appropriée à
l’utilisation prévue de la cellule ou de la mesure.
e) Le courant de court-circuit doit être mesuré pour une tension nulle en utilisant une
tension variable (de préférence électronique) pour compenser la chute de tension
apparaissant aux bornes de la résistance en série externe. En variante, le courant de
court-circuit peut être extrapolé à partir des caractéristiques courant-tension. La courbe
est extrapolée à la tension nulle, à condition que la chute de tension ne soit pas
supérieure à 3 % de la tension en circuit ouvert du dispositif et qu’il y ait une relation
linéaire entre le courant et la tension.
f) La précision de la procédure pour la correction de l’éclairement et de la température
conformément à la CEI 60891 doit être vérifiée périodiquement en mesurant les
performances d’un spécimen à des niveaux choisis d’éclairement et de température, et en
comparant les résultats avec les valeurs extrapolées correspondantes, comme dans la
CEI 60904-10.
NOTE Si la correction de la température et de l’éclairement est réalisée sur des plages étendues, les
paramètres de correction du module peuvent affecter considérablement le résultat d'essai. Il convient de
veiller à la pertinence des paramètres de module utilisés. En particulier, la résistance en série ne peut pas être
généralisée à un lot de spécimens du même type.
Lors de la mesure de dispositifs PV qui ne sont pas stables, il faut prendre des précautions
dans le choix d’une réponse spectrale représentative.

60904-1  IEC:2006 – 11 –
3 General measurement requirements
a) The irradiance measurements shall be made using a PV reference device packaged and
calibrated in conformance with IEC 60904-2 or IEC 60904-6 or a pyranometer. The PV
reference device shall either be spectrally matched to the test specimen, or a spectral
mismatch correction shall be performed in conformance with IEC 60904-7. The reference
device shall be linear in short-circuit current as defined in IEC 60904-10 over the
irradiance range of interest.
NOTE To be considered spectrally matched, a reference device must be constructed using the same cell
technology and encapsulation package as the test device. If this is not the case, the spectral mismatch must
be reported.
b) The temperature of the reference device and the specimen shall be measured using
instrumentation with an accuracy of ±1 °C with repeatability of ±0,5 °C. If the temperature
of the reference device differs by more than 2 °C from the temperature at which it was
calibrated, the calibration value shall be adjusted to the measured temperature. If the
reference device is a pyranometer, temperature measurement and temperature correction
of its output signal are not required.
c) The active surface of the specimen shall be coplanar within ±2° with the active surface of
the reference device.
d) Voltages and currents shall be measured using instrumentation with an accuracy of
±0,2 % of the open-circuit voltage and short-circuit current using independent leads from
the terminals of the specimen and keeping them as short as possible. The measurement
ranges of the data acquisition should be carefully chosen. If the test specimen is a
module, the 4-wire connection should start at the terminals or connectors. If the test
specimen is a cell, the 4-wire connection should start at the cell bus bars.
NOTE The connection method for cells should be carefully evaluated. Differences may occur if soldered tabs
are used as probe or non-soldered methods are implemented such as bars having contact springs or
conductive plates having a large-area contact with the cell back contact. Non-soldered methods can result in
higher fill factors than are observed in the module. The contacting method should be appropriate to the
intended use of the cell or of the measurement.
e) The short-circuit current shall be measured at zero voltage, using a variable bias
(preferably electronic) to offset the voltage drop across the external series resistance.
Alternatively, short circuit current may be extrapolated from the current-voltage
characteristic. The curve is extrapolated to zero voltage provided that voltage drop is not
higher than 3 % of the device open-circuit voltage and that there is a linear relationship
between current and voltage.
f) The accuracy of the procedure for irradiance and temperature correction in conformance
with IEC 60891 shall be verified periodically by measuring the performance of a specimen
at selected irradiance and temperature levels and comparing the results with
corresponding extrapolated data as in IEC 60904-10.
NOTE If temperature and irradiance correction is performed across wide ranges module correction
parameters can considerably affect the test result. Care should be taken regarding the relevance of the module
parameters used. In particular series resistance cannot be generalized to a batch of specimens of the same
type.
In measuring PV devices which are non stable, care must be taken in selecting a
representative spectral response.

– 12 – 60904-1  CEI:2006
4 Matériel
4.1 Pour les mesures sous éclairement solaire naturel
En plus des exigences générales de mesures de l’Article 3, l’équipement suivant est
nécessaire pour effectuer des mesures de la caractéristique I-V sous éclairement solaire
naturel:
a) Un dispositif PV de référence ou un pyranomètre satisfaisant aux conditions indiquées au
point a) de l'Article 3.
b) Des dispositifs pour mesurer la température du dispositif de référence satisfaisant aux
conditions indiquées au point b) de l’Article 3, si nécessaire.
c) Un équipement pour déterminer la température du dispositif d’essai à l’aide de la méthode
de la température de cellule équivalente (ECT; en anglais, Equivalent Cell Temperature)
spécifiée dans la CEI 60904-5, ou d’autres dispositifs pour mesurer la température du
dispositif d’essai, comme indiqué au point b) de l'Article 3.
d) Un système de suivi à deux axes, capable de suivre la trajectoire du soleil, avec une
précision de ±5°.
e) Un spectroradiomètre capable de mesurer l’éclairement spectral de la lumière solaire dans
la plage de la réponse spectrale du spécimen d’essai et du dispositif de référence, si des
corrections spectrales sont nécessaires, comme défini au point a) de l'Article 3.
4.2 Pour les mesures sous éclairement solaire simulé
En plus des exigences générales de mesures de l’Article 3, l’équipement suivant est
nécessaire pour effectuer des mesures de la caractéristique I-V sous éclairement solaire
simulé:
a) Un dispositif PV de référence qui est bien adapté au dispositif d’essai sur les plages
d’éclairement, de répartitions spectrales et de températures concernées et qui satisfait
aux conditions indiquées au point a) de l'Article 3.
b) Des dispositifs pour mesurer la température du dispositif de référence et du spécimen
d’essai, satisfaisant aux conditions indiquées au point b) de l'Article 3.
c) Un simulateur solaire de classe BBB ou supérieure, conformément à la CEI 60904-9. La
surface d’essai désignée doit être supérieure ou égale à la surface couverte par le
spécimen d’essai.
d) Un capteur d’éclairement qui suit la trajectoire de l’éclairement instantané dans le plan
d’essai. Il convient que ce capteur d’éclairement soit linéaire dans la plage des
éclairements sur laquelle les mesures sont prises (voir la CEI 60904-10).
e) Un spectroradiomètre capable de mesurer l’éclairement spectral du simulateur dans la
plage de la réponse spectrale du spécimen d’essai et du dispositif de référence, si des
corrections spectrales sont nécessaires, comme défini au point a) de l'Article 3.
NOTE Il convient de prendre des précautions lors de l’utilisation d’une lampe d’émission comme une lampe
au xénon pour les essais de cellules à largeur de bande directe. Dans la mesure où la largeur de bande varie
en raison de la température, elle peut traverser diverses lignes d’émission dans le spectre de lampe et donner
lieu à des décalages importants de performance.
5 Mesures sous éclairement solaire naturel
Les mesures sous éclairement solaire naturel doivent être faites seulement lorsque
l’éclairement solaire global ne fluctue pas de plus de ±1 % pendant la mesure. Quand les
mesures doivent servir de référence aux conditions normales d’essai (STC; en anglais
–2
Standard Test Conditions), l’éclairement doit être d’au moins 800 W·m .

60904-1  IEC:2006 – 13 –
4 Apparatus
4.1 For measurements in natural sunlight
In addition to the general measurement requirements of Clause 3 the following equipment is
required to perform I-V characteristic measurements in natural sunlight:
a) A PV reference device or pyranometer that meets the conditions stated in item a) of
Clause 3.
b) Means for measuring temperature of the reference device that meets the conditions stated
in item b) of Clause 3, if necessary.
c) Equipment to determine the temperature of the test device using the Equivalent Cell
Temperature (ECT) method specified in IEC 60904-5 or other means to measure the
temperature of the test device as stated in item b) of Clause 3.
d) A two-axis tracking system capable of tracking the sun to an accuracy of ±5°.
e) A spectroradiometer capable of measuring the spectral irradiance of the sunlight in the
range of the spectral response of the test specimen and the reference device, if spectral
corrections are needed as defined in item a) of Clause 3.
4.2 For measurements in simulated sunlight
In addition to the general measurement requirements of Clause 3 the following equipment is
required to perform I-V characteristic measurements in simulated sunlight:
a) A PV reference device that is well matched to the test device over the ranges of
irradiances, spectral distributions and temperatures of interest and meets the conditions
stated in item a) of Clause 3.
b) Means for measuring the temperature of the reference device and the test specimen that
meets the conditions stated in item b) of Clause 3.
c) A Class BBB or better solar simulator in accordance with IEC 60904-9. The designated
test area shall be equal to or greater than the area that is spanned by the test specimen.
d) An irradiance sensor that tracks the instantaneous irradiance in the test plane. This
irradiance sensor should be linear in the range of irradiances over which the
measurements are taken (see IEC 60904-10).
e) A spectroradiometer capable of measuring the spectral irradiance of the simulator in the
range of the spectral response of the test specimen and the reference device, if spectral
corrections are needed as defined in item a) of Clause 3.
NOTE Care should be taken in the use of an emission lamp such as Xenon for testing direct band gap cells.
As the band gap changes due to temperature, it can pass through various emission lines in the lamp spectrum
and give rise to large shifts in performance.
5 Measurements in natural sunlight
Measurements in natural sunlight shall be made only when global solar irradiance is not
fluctuating by more than ±1 % during a measurement. When the measurements are intended
–2
for reference to STC the irradiance shall be at least 800 W·m .

– 14 – 60904-1  CEI:2006
La procédure d’essai est la suivante:
5.1 Monter le dispositif de référence aussi près que possible du spécimen et dans le même
plan que le spécimen, sur le système de suivi à deux axes. Les deux éléments doivent
être perpendiculaires au rayonnement solaire direct à ±5° près. Effectuer les
connexions à l’instrumentation nécessaire.
5.2 Si le spécimen et le dispositif de référence sont équipés de dispositifs de commande de
la température, les dispositifs de commande doivent être ajustés au niveau désiré.
Si les dispositifs de commande de la température ne sont pas utilisés:
5.2.1 masquer le spécimen et le dispositif de référence pour les protéger du
rayonnement solaire et du vent jusqu’à ce que leur température atteigne celle de
l’air ambiant à ±2 °C ou
5.2.2 permettre au spécimen d’essai de s’équilibrer jusqu’à stabilisation de sa
température, ou
5.2.3 préconditionner le spécimen d’essai jusqu’à un point en dessous de la
température cible, puis laisser le module se réchauffer naturellement.
NOTE Il peut y avoir des différences entre la température moyenne de la cellule et la température
moyenne au dos de la cellule au cours de l’échauffement.
5.3 Relever la caractéristique courant-tension et la température du spécimen en même
temps que l’émission et la température (si nécessaire) du dispositif de référence aux
températures souhaitées. Si nécessaire, faire les mesures immédiatement après avoir
enlevé le cache.
NOTE Dans la plupart des cas, l’inertie thermique du spécimen et du dispositif de référence limitera
l’augmentation de température durant les toutes premières secondes à moins de 2 °C. Leur température
restera sensiblement uniforme.
5.4 S’assurer que les températures du spécimen et du dispositif de référence sont stables
et restent constantes à ±1 °C et que l’éclairement mesuré par le dispositif de référence
reste constant à ±1 % près (fluctuations causées par les nuages, la brume ou la fumée)
au cours de la période d’enregistrement pour chaque ensemble de données.
5.5 Si un pyranomètre ou un dispositif de référence non adapté est utilisé comme dispositif
de référence, effectuer une mesure simultanée d’éclairement spectral à l’aide du
spectroradiomètre. Calculer l’éclairement efficace pour le spécimen avec le spectre
AM1,5 (voir la CEI 60904-3), à l’aide de ses données de réponse spectrale (appliquer la
CEI 60904-7).
NOTE Lorsqu’aucune donnée d’éclairement spectral n’est disponible, il convient de vérifier soigneusement
l’adéquation entre le dispositif de référence et le spécimen et les conditions de masse d’air. Il convient
d’effectuer les mesures lors d’une journée ensoleillée, avec un ciel dégagé (aucun nuage autour du soleil,
contenu diffus d’éclairement solaire inférieur ou égal à 30 %).
5.6 Corriger la caractéristique courant-tension mesurée en fonction des conditions
d’éclairement et de température souhaitées, conformément à la CEI 60891 (pour les
dispositifs linéaires). Pour les dispositifs non linéaires, se reporter à la CEI 60904-10,
qui donne des lignes directrices pour déterminer au-dessus de quelle plage le dispositif
peut être considéré comme linéaire.
6 Mesures sous éclairement solaire simulé continu
La simulation de l’éclairement solaire continu pour les mesures des performances
photovoltaïques doit être conforme aux exigences de la CEI 60904-9. L’uniformité de la
répartition de la lumière dans la surface d’essai doit être connue et vérifiée périodiquement.
La précision de la mesure doit être vérifiée périodiquement par des mesures successives à la
même condition d'essai. Trois méthodes pour l'étalonnage peuvent être appliquées. Si le
dispositif en essai est de la même taille que le dispositif de référence, utiliser la méthode A.
Si le dispositif en essai est plus grand que le dispositif de référence, utiliser la méthode B.
Si le dispositif en essai est plus petit que le dispositif de référence, utiliser la méthode C.
NOTE La méthode A est la méthode préférentielle puisqu’elle réduit les effets de la non-uniformité de
l’éclairement et des facteurs d’échelle dans les systèmes électroniques.

60904-1  IEC:2006 – 15 –
The test procedure is as follows:
5.1 Mount the reference device as near as possible to and co-planar with the specimen on
the two-axis tracker. Both shall be normal to the direct solar beam within ±5°. Connect to
the necessary instrumentation.
5.2 If the specimen and reference device are equipped with temperature controls, set the
controls at the desired level.
If temperature controls are not used:
5.2.1 shade the specimen and the reference device from the sun and wind until their
temperature is uniform within ±2 °C of the ambient air temperature, or
5.2.2 allow the test specimen to equilibrate to its stabilized temperature, or
5.2.3 pre-condition the test specimen to a point below the target temperature and then
let the module warm up naturally.
NOTE There may be differences between average cell temperature and average back temperature during
warming up.
5.3 Record the current-voltage characteristic and temperature of the specimen concurrently
with recording the output and temperature (if required) of the reference device at the
desired temperatures. If necessary, make the measurements immediately after
removing the shade.
NOTE In most cases the thermal inertia of the specimen and the reference device will limit the
temperature rise during the first few seconds to less than 2 °C. Their temperatures will remain reasonably
uniform.
5.4 Ensure that the specimen and reference device temperature are stable and remain
constant within ±1 °C and that the irradiance as measured by the reference device
remains constant within ±1 % (fluctuations caused by clouds, haze, or smoke) during
the recording period for each data set.
5.5 If a pyranometer or an unmatched reference device is used as reference device,
perform a simulta
...

Questions, Comments and Discussion

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