IEC 60947-6-1:1989/AMD2:1997

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
60947-6-1
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 2
AMENDMENT 2
1997-09
Amendement 2
Appareillage à basse tension –
Partie 6:
Matériels à fonctions multiples –
Section 1: Matériels de connexion
de transfert automatique
Amendment 2
Low-voltage switchgear and controlgear –
Part 6:
Multiple function equipment –
Section 1: Automatic transfer
switching equipment
 IEC 1997 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE H
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60947-6-1 amend.2  CEI:1997

AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le sous-comité 17B: Appareillage à basse tension, du

comité d'études 17: Appareillage.

Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
17B/812/FDIS 17B/852/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de cet amendement.
__________
Page 2
SOMMAIRE
Ajouter, à la page 4, les titres des nouveaux paragraphes suivants:
7.3 Compatibilité électromagnétique (CEM)
8.5 Essais CEM
Page 6
PRÉFACE
Ajouter les titres suivants dans la liste des publications de la CEI:
CEI 61000-4-1:1992, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 1: Vue d'ensemble sur les essais d'immunité – Publication fondamentale
en CEM
CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 2: Essai d'immunité aux décharges électrostatiques – Publication

fondamentale en CEM
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 3: Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux
fréquences radioélectriques
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 4: Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves –
Publication fondamentale en CEM
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 5: Essai d'immunité aux ondes de choc

60947-6-1 Amend.2  IEC:1997 – 3 –

FOREWORD
This amendment has been prepared by the subcommittee 17B: Low-voltage switchgear and

controlgear, of IEC technical committee 17: Switchgear and controlgear.

The text of this amendment is based on the following documents:

FDIS Report on voting
17B/812/FDIS 17B/852/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report on
voting indicated in the above table.
__________
Page 3
CONTENTS
Add, on page 5, the titles of the following new subclauses:
7.3 Electromagnetic compatibility (EMC)
8.5 EMC tests
Page 7
PREFACE
Add the following titles to the list of IEC publications:
IEC 61000-4-1:1992, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 1: Overview of immunity tests – Basic EMC publication
IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 2: Electrostatic discharge immunity test – Basic EMC publication

IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test – Basic EMC publication
IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 5: Surge immunity test

– 4 – 60947-6-1 amend.2  CEI:1997

CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et

de mesure – Section 6: Immunité aux perturbations conduites, induites par des champs à

fréquence radioélectrique
CISPR 11:1990, Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations

électromagnétiques des appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence

radioélectrique
Page 20
4.4 Catégorie d'emploi
Ajouter à la fin du deuxième alinéa, le nouveau texte suivant:
«(voir les tableaux VII, VIII et IX pour les essais de fonctionnement correspondants).»
Page 22
5.1 Nature des informations
Ajouter, à la page 24, après le point p) les deux nouveaux points suivants:
q) Environnement 1 ou 2 (voir 7.3.1 de la partie 1).
r) Prescriptions spéciales, s'il convient, par exemple conducteurs blindés ou torsadés.
NOTE – Les conducteurs non blindés ou non torsadés sont considérés comme des conditions normales
d'installation.
Page 24
5.3 Instructions d'installation, de fonctionnement et d'entretien
Ajouter, après l'alinéa existant, le nouvel alinéa suivant:
Le constructeur doit donner des conseils à l'utilisateur pour les mesures à prendre pour le
MCTA, si nécessaire, vis-à-vis de la CEM.

Page 36
Ajouter, après 7.2.6, les nouveaux paragraphes suivants:
7.3 Compatibilité électromagnétique (CEM)
7.3.1 Généralités
Le paragraphe 7.3.1 de la partie 1 s'applique avec les complément suivants:
Les essais au champ magnétique à fréquence industrielle ne sont pas requis étant donné que
ces appareils sont naturellement soumis à de tels champs. L'immunité est prouvée si les
essais de vérification de l'aptitude au fonctionnement sont effectués avec succès (voir 8.3.3.5
et 8.3.3.6).
60947-6-1 Amend.2  IEC:1997 – 5 –

IEC 61000-4-6:1996, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement

techniques – Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

CISPR 11:1990, Limits and methods of measurement of electromagnetic disturbance

characteristics of industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment

Page 21
4.4 Utilization category
Add at the end of the second paragraph, the following new text:
"(see tables VII, VIII and IX for corresponding performance tests)".
Page 23
5.1 Nature of information
Add, page 25, after p), the following two new items:
q) Environment 1 or 2 (see 7.3.1 of part 1).
r) Special requirements, if applicable, for example shielded or twisted conductors.
NOTE – Unshielded or untwisted conductors are considered as normal installation conditions.
Page 25
5.3 Instructions for installation, operation and maintenance
Add the following new paragraph after the existing paragraph:
Information shall be provided by the manufacturer to advise the user on the measures to be
taken with regard to the ATSE, if any, concerning EMC.
Page 37
Add, after 7.2.6, the following new subclauses:

7.3 Electromagnetic compatibility (EMC)
7.3.1 General
Subclause 7.3.1 of part 1 applies with the following addition:
Power-frequency magnetic field tests are not required because the devices are naturally
submitted to such fields. Immunity is demonstrated by the successful completion of the
operational performance capability tests (see 8.3.3.5 and 8.3.3.6).

– 6 – 60947-6-1 amend.2  CEI:1997

7.3.2  Immunité
Les résultats des essais sont spécifiés en utilisant les critères de fonctionnement de la

CEI 61000-4-1, comme indiqué ci-après.

1) Fonctionnement normal dans les limites spécifiées.

2) Dégradation temporaire ou perte de fonction ou de fonctionnement qui est

autorécupérable.
3) Dégradation temporaire ou perte de fonction ou de fonctionnement nécessitant

l'intervention de l'opérateur ou le réarmement du système. Les fonctions normales doivent

pouvoir être restaurées par simple intervention, par exemple par réarmement manuel ou

redémarrage. Aucun composant ne doit être endommagé.
Tableau 10 – Critères spécifiques d'acceptation pour les essais d'immunité
Article Critères d'acceptation
Fonctionnement des Pas de dysfonctionnement Dysfonctionnement Séparation ou fermeture
circuits de puissance et de temporaire sans non intentionnelle des
commande déclenchement; contacts
la séparation ou la
fermeture des contacts
non intentionnelle n'est
pas acceptée
Autorécupérable
Fonctionnement des Pas de changement visible Changements temporaires Perte permanente
afficheurs et des circuits de l'information affichée visibles, par exemple d'affichage de l'information
auxiliaires illumination non désirée de
la DEL
Seulement de légères Aucun dysfonctionnement Dysfonctionnement des
fluctuations de l'intensité des contacts auxiliaires contacts auxiliaires
lumineuse des DEL ou un
léger mouvement des
caractères
7.3.2.1 Matériel ne comprenant pas de circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.2.1 de la partie 1 s'applique.
7.3.2.2 Matériel comprenant des circuits électroniques

Le paragraphe 7.3.2.2 de la partie 1 s'applique.
7.3.3 Emission
Les niveaux de sévérité requis pour l'environnement 1 couvrent ceux requis pour
l'environnement 2.
7.3.3.1 Matériel ne comprenant pas de circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.3.1 de la partie 1 s'applique.
7.3.3.2 Matériel comprenant des circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.3.2 de la partie 1 s'applique.

60947-6-1 Amend.2  IEC:1997 – 7 –

7.3.2 Immunity
The test results are specified using the performance criteria of IEC 61000-4-1 as listed below:

1) Normal performance within the specification limits.

2) Temporary degradation or loss of function or performance which is self-recoverable.

3) Temporary degradation or loss of function or performance which requires operator's

intervention or system reset. Normal functions must be restorable by simple intervention, for

example by manual reset or restart. There must not be any damaged component.

Table 10 – Specific acceptance criteria for immunity tests

Item Acceptance criteria
12 3
Operation of power and No mal-operation Temporary mal-operation Unintentional separation or
control circuits which cannot cause closure of contacts
tripping; unintentional
separation or closure of
contacts is not accepted
Self-recoverable
Operation of displays and No changes to visible Temporary visible Permanent loss of display
auxiliary circuits display information changes, e.g. unwanted information
lED illumination
Only slight light intensity No mal-operation of Mal-operation of auxiliary
fluctuations of LEDs or auxiliary contacts contacts
movement of characters
7.3.2.1 Equipment not incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.2.1 of part 1 applies.
7.3.2.2 Equipment incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.2.2 of part 1 applies.
7.3.3 Emission
The levels of severity required for environment 1 cover those required for environment 2.
7.3.3.1 Equipment not incorporating electronic circuits

Subclause 7.3.3.1 of part 1 applies.
7.3.3.2 Equipment incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.3.2 of part 1 applies.

– 8 – 60947-6-1 amend.2  CEI:1997

Page 38
8.3.1 Séquence d'essais
Remplacer au point 1), «Les essais a) à e)» par le texte suivant: «les essais a) à e) et

l'essai l)».
Page 40
Tableau V
Ajouter dans ce tableau, après le point k) le nouveau point l) suivant:
I) CEM 8,5 8,5
Page 62
Ajouter, après le paragraphe 8.4, les nouveaux paragraphes suivants:
8.5 Essais CEM
8.5.1 Généralités
Les paragraphes 8.3.2.1, 8.3.2.3 et 8.3.2.4 de la partie 1 s'appliquent avec les compléments
suivants:
Avec l'accord du constructeur plus d'un essai CEM ou tous les essais CEM peuvent être
effectués sur un seul et même échantillon, qui peut être neuf ou avoir subi les séquences
d'essai selon 8.3.1. L'ordre des essais CEM est laissé au choix.
Sauf prescription contraire dans cette norme ou sauf si cela est spécifié par le constructeur, le
critère de fonctionnement 2 est applicable et il doit être noté dans le rapport d'essai.
Le rapport d'essai doit également inclure toute mesure spéciale prise pour satisfaire à l'essai,
par exemple l'emploi de câbles blindés ou spéciaux. Lorsqu'un matériel accessoire est utilisé
avec l'appareil afin de satisfaire aux prescriptions relatives à l'immunité ou l'émission ceci doit
être inclus dans le rapport.
L'échantillon en essai doit être en position ouverte ou fermée, en choisissant le cas le moins
favorable et doit être mis en fonctionnement avec la tension d'alimentation assignée de
commande.
8.5.2 Immunité
Les essais du tableau 23 de la partie 1 sont requis. Des prescriptions particulières sont
spécifiées de 8.5.2.1 à 8.5.2.7. Si, pendant les essais CEM il est nécessaire de raccorder des
conducteurs à l'échantillon en essai, la section et le type de conducteurs sont laissés au choix,
mais ils doivent être en accord avec les instructions du constructeur.
8.5.2.1 Décharge électrostatique
L'essai doit être effectué en utilisant les méthodes de la CEI 61000-4-2.

60947-6-1 Amend.2  IEC:1997 – 9 –

Page 39
8.3.1 Test sequences
Replace item 1), "tests a) to e)" by: "tests a) to e) and test l)".

Page 41
Table V
Add, in this table, after item k), the following new item l).
I) EMC 8,5 8,5
Page 63
Add, after subclause 8.4, the following subclauses:
8.5 EMC tests
8.5.1 General
Subclauses 8.3.2.1, 8.3.2.3 and 8.3.2.4 of part 1 apply with the following additions:
With the agreement of the manufacturer more than one EMC test or all EMC tests may be
conducted on one and the same sample, which may initially be new or may have passed test
sequences according to 8.3.1. The sequence of the EMC tests may be as convenient.
Unless otherwise stated in this standard or specified by the manufacturer, performance
criterion 2 applies and it shall be noted in the test report.
The test report shall also include any special measures that have been taken to achieve
compliance, for example the use of shielded or special cables. If auxiliary equipment is used
with the device in order to comply with immunity or emission requirements, it shall be included
in the report.
The test sample shall be in the open or closed position, whichever is worse, and shall be

operated with the rated control supply.
8.5.2 Immunity
The tests of table 23 of part 1 are required. Special requirements are specified in 8.5.2.1 to
8.5.2.7. If during the EMC tests conductors are to be connected to the test sample the cross-
section and the type of the conductors is optional but shall be in accordance with the
manufacturer's literature.
8.5.2.1 Electrostatic discharge
The test shall be conducted using the methods of IEC 61000-4-2.

– 10 – 60947-6-1 amend.2  CEI:1997

Sauf pour les parties métalliques pour lesquelles la décharge au contact est effectuée, seule la

décharge dans l'air est requise. Les niveaux d'essai doivent être égaux à 8 kV pour la

décharge dans l'air et 4 kV pour la décharge au contact. Dix impulsions positives et

10 impulsions négatives doivent être appliquées à chacun des points choisis, l'intervalle de

temps entre chaque décharge individuelle successive étant de 1 s.

Les essais sont uniquement faits sur les parties du matériel qui sont normalement accessibles
à l'opérateur en usage normal.

Sauf pour les bornes indispensables (par exemple des bornes d'alimentation de commande),
il n'est pas demandé d'assurer les connexions aux autres bornes.

Les essais ne sont pas possibles si l'appareil est un châssis ouvert ou a un degré de protection
IP00. Dans ce cas, le constructeur doit fixer une étiquette sur l'appareil signalant la possibilité
de dommage due à des décharges statiques.
Le matériel doit satisfaire au critère de fonctionnement 1.
8.5.2.2 Champ électromagnétique à fréquence radio
Les essais sont respectivement séparés en gammes de fréquences 0,15 MHz-80 MHz et
80 MHz-1 000 MHz.
Pour la gamme 0,15 MHz-80 MHz, les essais et les procédures sont ceux donnés dans la
CEI 61000-4-6. Le niveau d'essai doit être 140 dB(μV) (niveau 3).
Pour la gamme 80 MHz-1 000 MHz, les essais et les procédures sont ceux donnés dans la
CEI 61000-4-3. Le niveau d'essai doit être 10 V/m avec balayage de fréquence entre 80 MHz et
1 000 MHz.
L'appareil doit satisfaire au critère de fonctionnement 1.
Les essais ne sont pas requis si le matériel est totalement enfermé dans une enveloppe
métallique spécifique pour la CEM installée comme spécifié par le constructeur.
8.5.2.3 Transitoires rapides en salves
L'essai doit être effectué en utilisant la méthode de la CEI 61000-4-4.
Le niveau d'essai pour les lignes de puissance doit être 2 kV/5 kHz en utilisant le montage
d'essai de la figure 10 de la CEI 61000-4-4, avec le réseau de couplage/découplage.

Pour les bornes d'entrée et de sortie des circuits de commande et auxiliaires, le niveau d'essai
doit être 1 kV/5 kHz en utilisant la pince de couplage capacitive comme le dispositif d'essai de
la figure 12 de la CEI 61000-4-4.
La tension d'essai doit être appliquée pendant 1 min.
L'appareil doit satisfaire au critère de fonctionnement 1.
8.5.2.4 Ondes de choc (1,2/50 μs – 8/20 μs)
L'essai doit être effectué en utilisant la méthode de la CEI 61000-4-5.

60947-6-1 Amend.2  IEC:1997 – 11 –

Except for metallic parts for which contact discharge is made, only air discharge is required.

Test levels shall be 8 kV air discharge and 4 kV contact discharge. Ten positive and

10 negative pulses shall be applied to each selected point, the time interval between each

successive single discharge being 1 s.

The tests are made only on the parts of the equipment which are normally accessible to the

operator in normal service.
Except for necessary terminals (for example control supply terminals) connections are not

required to be made to other terminals.

Tests are not possible if the device is an open frame or of degree of protection IP00. In this
case, the manufacturer shall attach a label to the unit advising of the possibility of damage due
to static discharges.
The equipment shall comply with performance criterion 1.
8.5.2.2 Radio-frequency electromagnetic field
The tests are divided into frequency ranges, 0,15 MHz-80 MHz and 80 MHz-1 000 MHz
respectively.
For the range 0,15 MHz-80 MHz, the tests and procedures are those given in IEC 61000-4-6.
The test level shall be 140 dB(μV) (level 3).
For the range 80 MHz-1 000 MHz, the tests and procedures are those given in IEC 61000-4-3.
The test level shall be 10 V/m swept over the frequency range to 80 MHz to 1 000 MHz.
The device shall comply with performance criterion 1.
Tests are not required if the equipment is fully enclosed in an EMC specific purpose metallic
enclosure installed as specified by the manufacturer.
8.5.2.3 Fast transient bursts
The tests shall be conducted using the method of IEC 61000-4-4.
The test level for power lines shall be 2 kV/5 kHz using the test set-up figure 10 of IEC 61000-4-4
with the coupling/decoupling network.
For I/O, signal, data and control ports, the test level shall be 1 kV/5 kHz using the capacitive

coupling clamp as in test set-up figure 12 of IEC 61000-4-4.
The test voltage shall be applied for the duration of 1 min.
The device shall comply with performance criterion 1.
8.5.2.4 Surges (1,2/50 μs – 8/20 μs)
The test shall be conducted using the method of IEC 61000-4-5.

– 12 – 60947-6-1 amend.2  CEI:1997

Le couplage capacitif doit être préféré. Les ondes de choc doivent être appliquées à toutes les

bornes principales, de commande ou auxiliaires qu'elles comprennent des contacts

électroniques ou des contacts conventionnels, sauf aux bornes de circuits de commande et

auxiliaires situées dans des installations bien protégées (telle qu'une installation de classe 0 de

la CEI 61000-4-5) pour lesquelles aucun essai n'est requis.

Le tau
...