IEC 62153-4-7:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62153-4-7
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-04
Méthodes d'essai des câbles métalliques
de communication –
Partie 4-7:
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d'essai pour mesurer l'impédance
de transfert et l'affaiblissement d'écran –
ou l'affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
Metallic communication cables test methods –
Part 4-7:
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer
impedance and the screening – or the coupling
attenuation – Tube in tube method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62153-4-7:2006
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
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devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
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exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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x Site web de la CEI (www.iec.ch) x IEC Web Site (www.iec.ch)
x Catalogue des publications de la CEI x Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
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comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
x IEC Just Published x IEC Just Published
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62153-4-7
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-04
Méthodes d'essai des câbles métalliques
de communication –
Partie 4-7:
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d'essai pour mesurer l'impédance
de transfert et l'affaiblissement d'écran –
ou l'affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
Metallic communication cables test methods –
Part 4-7:
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer
impedance and the screening – or the coupling
attenuation – Tube in tube method
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International Electrotechnical Commission
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For price, see current catalogue

– 2 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d’application.12
2 Références normatives .12
3 Termes et définitions .12
4 Principe de la méthode d’essai.16
5 Support théorique .20
6 Procédure.20
6.1 Équipement .20
6.2 Connexion entre le tube d’extension et le dispositif en essai.20
6.3 Plage dynamique ou bruit de fond .22
6.4 Impédance du système interne .22
6.5 Préparation d’échantillon .28
7 Mesure .30
7.1 Impédance de transfert.30
7.2 Affaiblissement de blindage .32
7.3 Affaiblissement de couplage .32
8 Expression des résultats.34
8.1 Impédance de transfert et impédance de transfert efficace.34
8.2 Affaiblissement d’écran.34
8.3 Affaiblissement de couplage .36
8.4 Exigences.38
Annexe A (informative) Mesures de l’efficacité du blindage des connecteurs et des
ensembles de câbles.40
Annexe B (informative) Influence des résistances de contact.62
Bibliographie .66
Figure 1 – Définition de Z .14
T
Figure 2 – Principe de montage d’essai pour mesurer les impédances de transfert et
l’affaiblissement d’écran ou de couplage de connecteurs .18
Figure 3 – Principe de montage d’essai pour mesurer les impédances de transfert et
l’affaiblissement d’écran d’ensembles de câbles courts .18
Figure 4 – Principe de montage pour l’essai de vérification .22
Figure 5 – Adaptation d’impédance pour Z <50 Ω.26
Figure 6 – Adaptation d’impédance pour Z >50 Ω.26
Figure 7a – Principe de préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs
pour l’impédance de transfert et l’affaiblissement d’écran .28
Figure 7b – Principe de préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs
pour l’affaiblissement de couplage.30
Figure 7 – Préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs.30

62153-4-7 © IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope.13
2 Normative references .13
3 Terms and definitions .13
4 Principle of the test method .17
5 Theoretical background .21
6 Procedure .21
6.1 Equipment.21
6.2 Connection between extension tube device under test.21
6.3 Dynamic range respectively noise floor .23
6.4 Impedance of the inner system.23
6.5 Sample preparation .29
7 Measurement .31
7.1 Transfer impedance.31
7.2 Screening attenuation .33
7.3 Coupling attenuation .33
8 Expression of results .35
8.1 Transfer impedance and effective transfer impedance .35
8.2 Screening attenuation .35
8.3 Coupling attenuation .37
8.4 Requirement.39
Annex A (informative) Measurements of the screening effectiveness of connectors and
cable assemblies .41
Annex B (informative) Influence of contact resistances .63
Bibliography.67
Figure 1 – Definition of Z .15
T
Figure 2 – Principle of the test set-up to measure transfer impedances and screening
or coupling attenuation of connectors .19
Figure 3 – Principle of the test set-up to measure transfer impedances and screening
attenuation of short cable assemblies .19
Figure 4 – Principle set-up for verification test .23
Figure 5 – Impedance matching for Z <50 Ω.27
Figure 6 – Impedance matching f
...