Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam power (energy) density distribution

This document specifies methods by which the measurement of power (energy) density distribution is made and defines parameters for the characterization of the spatial properties of laser power (energy)density distribution functions at a given plane. The methods given in this document are intended to be used for the testing and characterization of both continuous wave (cw) and pulsed laser beams used in optics and optical instruments. This document provides definitions of terms and symbols to be used in referring to power density distribution, as well as requirements for its measurement. For pulsed lasers, the distribution of time-integrated power density (i.e. energy density) is the quantity most often measured.

Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de distribution de la densité de puissance (d'énergie) du faisceau laser

Le présent document spécifie des méthodes permettant de procéder au mesurage de la distribution de densité de puissance (d'énergie) et définit les paramètres de caractérisation des propriétés spatiales des fonctions de distribution de densité de puissance (d'énergie) laser dans un plan donné. Les méthodes d'essai données dans le présent document sont destinées à être utilisées dans le cadre des essais et de la caractérisation des faisceaux laser continus et impulsionnels. Le présent document donne des définitions de la terminologie et des symboles à utiliser dans le cadre de la distribution de la densité de puissance, ainsi que les spécifications relatives au mesurage de cette distribution. Pour les lasers impulsionnels, la distribution de la densité de puissance intégrée sur le temps (c'est-à-dire la densité d'énergie) représente la grandeur la plus souvent mesurée.

General Information

Status
Published
Publication Date
01-Nov-2018
Current Stage
9092 - International Standard to be revised
Start Date
20-Sep-2024
Completion Date
13-Dec-2025
Ref Project

Relations

Standard
ISO 13694:2018 - Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam power (energy) density distribution Released:11/2/2018
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Standard
ISO 13694:2018 - Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de distribution de la densité de puissance (d'énergie) du faisceau laser Released:11/2/2018
French language
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Standards Content (Sample)


INTERNATIONAL ISO
STANDARD 13694
Third edition
2018-11
Optics and photonics — Lasers and
laser-related equipment — Test
methods for laser beam power
(energy) density distribution
Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux
lasers — Méthodes d'essai de distribution de la densité de puissance
(d'énergie) du faisceau laser
Reference number
©
ISO 2018
© ISO 2018
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be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting
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CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
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Phone: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2018 – All rights reserved

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
3.1 Measured quantities . 1
3.2 Characterizing parameters . 3
4 Coordinate system . 7
5 Characterizing parameters derived from the measured spatial distribution .7
6 Test principle . 7
7 Measurement arrangement and test equipment . 8
7.1 General . 8
7.2 Preparation . 8
7.3 Control of environment . 8
7.4 Detector system . 8
7.5 Beam-forming optics, optical attenuators, and beam splitters . 9
8 Test procedure . 9
8.1 Equipment preparation . 9
8.2 Detector calibration procedure .10
8.2.1 Spatial calibration .10
8.2.2 Power (energy) calibration .10
8.3 Data recording and noise correction .10
8.3.1 General.10
8.3.2 Correction by background-map subtraction .11
8.3.3 Correction by average background subtraction.11
9 Evaluation .12
10 Test report .12
Annex A (informative) Test report .13
Bibliography .16
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso
.org/iso/foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee
SC 9, Laser and electro-optical systems.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 13694:2015), which has been technically
revised. The main changes compared to the previous edition are as follows:
a) the definition of beam ellipticity has been harmonized with ISO 11145 and ISO 11146-1;
b) the term “second linear moments” has been replaced by “second moments”;
c) the term “field of view” has been replaced by “aperture”;
d) Clause 9 was rewritten; the paragraphs on clip-levels were corrected to reflect that they are no
longer intended for noise cancelation;
e) the entries “Fitted distribution type”, “Roughness of fit R”, and “Goodness of fit G” have been
removed from the Test Report;
f) the term “aspect ratio” has been removed from the test report.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/members .html.
iv © ISO 2018 – All rights reserved

Introduction
Many applications of lasers involve using the near-field as well as the far-field power (energy) density
distribution of the beam. The power (energy) density distribution of a laser beam is characterized by the
spatial distribution of irradiant power (energy) density with lateral displacement in a particular plane
perpendicular to the direction of propagation. In general, the power (energy) density distribution of the
beam changes along the direction of propagation. Depending on the power (energy), size, wavelength,
polarization, and coherence of the beam, different methods of measurement are applicable in different
situations. Five methods are commonly used: camera arrays (1D and 2D), apertures, pinholes, slits, and
knife edges.
According to ISO 11145, it is possible to use two different definitions for describing and measuring the
laser beam diameter. One definition is based on the measurement of the encircled power (energy); the
other is based on determining the spatial moments of the power (energy) density distribution of the
laser beam.
The use of spatial moments is necessary for calculating the beam propagation factor, K, and the
beam propagation ratio, M , from measurements of the beam widths at different distances along the
propagation axis. ISO 11146-1 describes this measurement procedure. For other applications, other
definitions for the beam diameter can be used. For some quantities used in this document the first
definition (encircled power (energy)) is more appropriate and easier to use.
INTERNATIONAL STANDARD ISO 13694:2018(E)
Optics and photonics — Lasers and laser-related
equipment — Test methods for laser beam power (energy)
density distribution
1 Scope
This document specifies methods by which the measurement of power (energy) density distribution is
made and defines parameters for the characterization of the spatial properties of laser power (energy)
density distribution functions at a given plane.
The methods given in this document are intended to be used for the testing and characterization of
both continuous wave (cw) and pulsed laser beams used in optics and optical instruments.
This document provides definitions of terms and symbols to be used in referring to power density
distribution, as well as requirements for its measurement. For pulsed lasers, the distribution of time-
integrated power density (i.e. energy density) is the quantity most often measured.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 11145, Optics and photonics — Laser and laser-related equipment — Vocabulary and symbols
ISO 11146-1, Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam widths, divergence angles
and beam propagation ratios — Part 1: Stigmatic and simple astigmatic beams
ISO 11554, Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test methods for laser beam
power, energy and temporal characteristics
IEC 61040, Power and energy measuring detectors, instruments and equipment for laser radiation
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 11145 and IEC 61040 and the
following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at http: //www .iso .org/obp
— IEC Electropedia: available at http: //www .electropedia .org/
3.1 Measured quantities
3.1.1
power density distribution
E(x, y, z)
set of all power densities at location z of a certain cw beam with non-negative values for all transverse
coordinates (x, y)
3.1.1.1
power density
E(x , y , z)
P P
portion of the beam power at location z which impinges on the area δA at the location P(x , y ) divided
P P
by the area δA in the limit δA → 0
[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.13.6, modified —Notes to entry omitted.]
3.1.2
energy density distribution
H(x, y, z)
set of all energy densities at location z of a certain pulsed beam with non-negative values for all
transverse coordinates (x, y)
Hx,,yz = Ex,,yz dt
() ()

3.1.2.1
energy density
H(x , y , z)
P P
portion of the beam energy (time-integrated power) at location z which impinges
on the area δA at the location P(x , y ) divided by the area δA in the limit δA → 0
P P
Hx ,,yz = Ex ,,yz dt
() ()
PP PP

[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.13.4, modified — Notes to entry omitted and Formula added.]
3.1.3
power
P(z)
rate of energy transfer in a continuous wave (cw) beam at location z
Pz = Ex,,yz ddxy
() ()
∫∫
3.1.4
pulse energy
Q(z)
energy in one pulse measured at location z
Qz = Hx,,yz ddxy
() ()
∫∫
[SOURCE: ISO 11145:2018, term 3.13.3 modified — Included "Measured at location z" and formula Q(z)]
3.1.5
maximum power (energy) density
E (z) [H (z)]
max max
maximum of the spatial power (energy) density distribution function E (x, y, z) [H (x, y, z)] at location z
3.1.6
location of the maximum
(x , y , z)
max max
location of E (z) or H (z) in the xy plane at location z
max max
Note 1 to entry: (x , y , z) cannot be uniquely defined when measuring with detectors having a high spatial
max max
resolution and a relatively small dynamic range.
2 © ISO 2018 – All rights reserved

3.1.7
clip-level power (energy) density
E (z) [H (z)]
ηCL ηCL
fraction η of the maximum power (energy) density (3.1.5) at location z
Ez =ηEz
() ()
ηCL max
Hz =ηHz
() ()
ηCL max
0 ≤ η < 1
Note 1 to entry: When no confusion is possible, the explicit dependence on z is dropped in the text description
using some quantities, but not in the definitions or in the Formulae involving the quantities.
3.2 Characterizing parameters
3.2.1
clip-level power (energy)
P (z) [Q (z)]
η η
integral of the power (energy) distribution at location z, evaluated by summing only over locations (x,y)
for which E (x, y, z) > E (z) [H (x, y, z) > H (z)]
ηCL ηCL
3.2.2
fractional power (energy)
f (z)
η
fraction of the clip-level power (energy) (3.2.1) for a given η to the total power (energy) in the distribution
at location z
Pz
()
η
fz =  for cw-beams
()
η
Pz
()
Qz
()
η
fz =  for pulsed beams
()
η
Qz
()
0 ≤ f (z) ≤ 1
η
3.2.3
beam centroid
xz , yz
() ()
()
coordinates of the first-order moments of a power(energy) distribution of a beam at location z
xE⋅ xy,,zx⋅ddy
()
∫∫
xz =
()
Ex,,yz ⋅ddxy
()
∫∫
yE⋅ xy,,zx⋅ddy
()
∫∫
yz =
()
Ex,,yz ⋅ddxy
()
∫∫
where the integration shall be performed over an area such that at least 99 % of the beam power
(energy) is captured
Note 1 to entry: The power density E is replaced by the energy density H for pulsed lasers.
Note 2 to entry: For a more detailed definition, see ISO 11145 and ISO 11146-1.
3.2.4
beam widths
d (z), d (z)
σx σy
widths d (z) and d (z) of the beam in the respective x and y directions at z, equal to four times the
σx σy
square root of the second moments of the power (energy) density distribution about the centroid
Note 1 to entry: For a more detailed definition, see ISO 11145 and ISO 11146-1.
Note 2 to entry: The provisions of ISO 11146-1 apply to definitions and measurements of:
a) second moment beam widths d and d ;
σx σy
b) beam widths d and d in terms of the smallest centred slit width that transmits u % of the total power
x,u y,u
(energy) density (usually u = 86,5);
c) scanning narrow slit measurements of beam widths d and d in terms of the separation between positions
x,s y,s
where the transmitted power density (3.1.1.1) is reduced to 0,135 E , where E is the peak power (energy)
p p
density;
d) measurements of beam widths d and d in terms of the separation between 0,84 P and 0,16 P obscuration
x,k y,k
positions of a movable knife-edge, where P is the maximum, unobstructed power (energy) recorded by the
large area detector behind the knife-edge plane;
e) correlation factors which relate these different definitions and methods for measuring beam widths.
3.2.5
beam ellipticity
ε (z)
parameter for quantifying the circularity or squareness of a power (energy) distribution at z
dz
()
σ y
ε z =
()
dz
()
σx
where the direction of x is chosen to be along the major axis of the distribution, such that d ≥ d
σx σy
Note 1 to entry: If ε ≥ 0,87, elliptical distributions can be regarded as circular.
Note 2 to entry: In case of a rectangular distribution, ellipticity is often referred to as aspect ratio.
Note 3 to entry: Technically identical to ISO 11146-1 and ISO 11145.
Note 4 to entry: In contrast to the definition given here, in literature the term ellipticity is sometimes related to
dz
()
σ y
1− . The definition given here has been chosen to be in concordance with the same definition of ellipticity
dz
()
σx
in ISO 11146-1 and ISO 11145.
3.2.6
beam cross-sectional area
A (z)
σ
area of a beam with circular
cross-section
 π 2
Ad= ⋅ ()z
σσ 
 
or elliptical cross-section
π
 
Ad= ⋅ zd⋅ z
() ()
σσxyσ
 
 
4 © ISO 2018 – All rights reserved

Note 1 to entry: For clarity, the term “beam cross-sectional area” is always used in combination with the symbol
and its appropriate subscript: A or A .
u σ
[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.6.2]
3.2.7
clip-level irradiation area
i
Az
()
η
irradiation area at location z for which the power (energy) density exceeds the clip-level power (energy)
density (3.1.7)
Note 1 to entry: To allow for distributions of all forms, for example hollow “donut” types, the clip-level irradiation
area is not defined in terms of the beam widths (3.2.4) d or d .
σx σy
Note 2 to entry: See clip-level power (energy) density (3.1.7).
3.2.8
clip-level average power (energy) density
E (z), [H (z)]
ηave ηave
spatially averaged power (energy) density of the distribution at location z, defined as the weighted mean
Pz
()
η
Ez()=  for cw-beams
ηave
i
Az
()
η
Qz
()
η
Hz =  for pulsed beams
()
ηave
i
Az
()
η
Note 1 to entry: E (z) and E (z) (see 3.1.7) refer to different parameters.
ηave ηCL
3.2.9
flatness factor
F (z)
η
ratio of the clip-level average power (energy) density to the maximum power (energy) density of the
distribution at location z
Ez
()
ηave
Fz =  for cw-beams
()
η
Ez
()
max
Hz
()
ηave
Fz =  for pulsed beams
()
η
Hz
()
max
0 < F ≤ 1
η
Note 1 to entry: For a power (energy) density distribution having a perfectly flat top F = 1.
η
3.2.10
beam uniformity
U (z)
η
normalized root mean square (rms) deviation of power (energy) density distribution from its clip-level
average value at location z
 
Uz = Ex,,yz −Ez ddxy  for cw-beams
() () ()
η ηave
∫∫
 
i
Ez
()
ηave Az
()
η
 
Uz = Hx,,yz −Hz ddxy  for pulsed beams
() () ()
η ηave
∫∫ 
i
Hz
()
Az
ηave ()
η
Note 1 to entry: U = 0 indicates a completely uniform distribution having a profile with a flat top and vertical
η
edges, U is expressed as either a fraction or a percentage.
η
Note 2 to entry: By using integration over the beam area between set clip-level limits, this definition allows for
arbitrarily shaped beam footprints to be quantified in terms of their uniformity. Hence uniformity measurements
can be made for different fractions of the total beam power (energy) without specifically defining a windowing
aperture or referring to the shape or size of the distribution. Thus using the formulae in 3.2.2 and 3.2.10,
statements such as: “Using a setting η = 0,3, 85 % of the beam power (energy) was found to have a uniformity of
±4,5 % r.m.s. from its mean value at z” can be made without reference to the distribution shape, size, etc.
3.2.11
plateau uniformity
U (z)
p
quantitative measure for the homogeneity of nearly flat-top profiles
ΔE
FWHM
Uz =  for cw-beams
()
p
E
max
ΔH
FWHM
Uz =  for pulsed beams
()
p
H
max
where ΔE [ΔH ] is the full-width at half-maximum (FWHM) of the peak near E [H ] of
FWHM FWHM max max
the power (energy) density histogram N(E ) [N(H )], i.e. the number of (x, y) locations at which a given
i i
power (energy) density E [H ] is recorded
i i
Note 1 to entry: 0< U (z) < 1; U (z) → 0 as distributions become more flat-topped.
p p
3.2.12
edge steepness
s (z)
η,ε
i i
normalized difference between clip-level irradiation areas (3.2.7) Az and Az with clip-level
() ()
η ε
power (energy) density (3.1.7) values above η E (z) [η H (z)] and above ε E (z) [ε H (z)]
max max max max
respectively
ii
Az −Az
() ()
ηε
sz =
()
ηε,
i
Az
()
η
01≤<ηε <
01 ()
ηε,
Note 1 to entry: s (z) → 0 as the edges of the distribution become more vertical.
η,ε
Note 2 to entry: η is typically set to 10 %, ε to 90 % of the maximum power (energy) density.
i
Note 3 to entry: Parameters E , E , P , A , F , and U
...


NORME ISO
INTERNATIONALE 13694
Troisième édition
2018-11
Optique et photonique — Lasers et
équipements associés aux lasers —
Méthodes d'essai de distribution de
la densité de puissance (d'énergie) du
faisceau laser
Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Test
methods for laser beam power (energy) density distribution
Numéro de référence
©
ISO 2018
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publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
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Fax: +41 22 749 09 47
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2018 – Tous droits réservés

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
3.1 Grandeurs mesurées . 2
3.2 Paramètres de caractérisation . 3
4 Système de coordonnées . 7
5 Paramètres de caractérisation dérivés de la distribution spatiale mesurée .7
6 Principe d'essai . 8
7 Dispositif de mesure et équipement d'essai . 8
7.1 Généralités . 8
7.2 Préparation . 8
7.3 Contrôle de l'environnement . 8
7.4 Système de détection . 9
7.5 Instruments d'optique formant le faisceau, atténuateurs optiques et séparateurs
de faisceaux . 9
8 Mode opératoire d'essai .10
8.1 Préparation de l'équipement .10
8.2 Mode opératoire d'étalonnage du détecteur .10
8.2.1 Étalonnage spatial .10
8.2.2 Étalonnage de la puissance (de l’énergie) .10
8.3 Enregistrement des données et correction du bruit .11
8.3.1 Généralités .11
8.3.2 Correction par soustraction de la carte du bruit de fond .11
8.3.3 Correction par soustraction du bruit de fond moyen .12
9 Évaluation .12
10 Rapport d'essai .12
Annexe A (informative) Rapport d'essai .13
Bibliographie .16
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/iso/fr/avant -propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 172, Optique et Photonique, sous-
comité SC 9, Systèmes électro-optiques.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 13694:2015), qui a fait l’objet d’une
révision technique. Les principales modifications par rapport à l’édition précédente sont les suivantes:
a) la définition de l’ellipticité du faisceau a été harmonisée avec l’ISO 11145 et l’ISO 11146-1;
b) le terme «moments linéaires de deuxième ordre» a été remplacé par «moments de deuxième ordre»;
c) le terme «champ de vision» a été remplacé par «ouverture»;
d) l’Article 9 a été ré-écrit; les paragraphes sur l’écrêtage ont été corrigés pour refléter qu’ils ne sont
plus destinés à la suppression du bruit;
e) les entrées «Type de distribution ajustée», «Approximation de l’ajustement R» et «Qualité de
l’ajustement G» ont été supprimées du rapport d’essai;
f) le terme «rapport» a été supprimé du rapport d’essai.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/fr/members .html.
iv © ISO 2018 – Tous droits réservés

Introduction
De nombreuses applications de la technologie laser impliquent l'utilisation de la distribution de densité
de puissance (d'énergie) du faisceau en champ proche ainsi qu'en champ lointain. La distribution de
la densité de puissance (d’énergie) d'un faisceau laser se caractérise par la distribution spatiale d'une
densité de puissance (d’énergie) de rayonnement, avec un déplacement latéral dans un plan particulier
perpendiculaire à la direction de propagation. En général, la distribution de la densité de puissance
(d’énergie) du faisceau change le long de l'axe de la propagation. Selon la puissance (l’énergie), la taille,
la longueur d'onde, la polarisation et la cohérence du faisceau, il est possible d'appliquer différentes
méthodes de mesure en fonction de la situation. Les cinq méthodes les plus couramment utilisées sont:
le réseau de récepteurs pour chambre photographique (1D et 2D), les ouvertures, les trous d'aiguille, les
fentes et les lames mobiles.
Selon l'ISO 11145, il est possible d'utiliser deux définitions pour définir et mesurer le diamètre du
faisceau laser. L'une de ces définitions est fondée sur le mesurage de la puissance (l’énergie) transmise
par une ouverture circulaire, l'autre est basée sur la détermination des moments spatiaux de la
distribution de densité de puissance (d’énergie) du faisceau laser.
L'utilisation de moments spatiaux est nécessaire pour calculer le facteur de propagation du faisceau
K et le rapport de propagation du faisceau M à partir des mesurages des largeurs des faisceaux à des
distances différentes, le long de l'axe de propagation. L'ISO 11146-1 est la norme appropriée car elle
décrit le mode opératoire de mesurage. Pour les autres applications, d'autres définitions peuvent être
utilisées pour le diamètre du faisceau. Pour certaines des grandeurs utilisées dans le présent document,
la première définition (puissance (énergie)) par une ouverture circulaire) est plus adaptée et plus facile
à utiliser.
NORME INTERNATIONALE ISO 13694:2018(F)
Optique et photonique — Lasers et équipements associés
aux lasers — Méthodes d'essai de distribution de la densité
de puissance (d'énergie) du faisceau laser
1 Domaine d’application
Le présent document spécifie des méthodes permettant de procéder au mesurage de la distribution de
densité de puissance (d’énergie) et définit les paramètres de caractérisation des propriétés spatiales
des fonctions de distribution de densité de puissance (d’énergie) laser dans un plan donné.
Les méthodes d'essai données dans le présent document sont destinées à être utilisées dans le cadre
des essais et de la caractérisation des faisceaux laser continus et impulsionnels.
Le présent document donne des définitions de la terminologie et des symboles à utiliser dans le cadre
de la distribution de la densité de puissance, ainsi que les spécifications relatives au mesurage de cette
distribution. Pour les lasers impulsionnels, la distribution de la densité de puissance intégrée sur le
temps (c'est-à-dire la densité d'énergie) représente la grandeur la plus souvent mesurée.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu’ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique.
Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les
éventuels amendements).
ISO 11145, Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Vocabulaire et symboles
ISO 11146-1, Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai des largeurs du faisceau, angles
de divergence et facteurs de limite de diffraction — Partie 1: Faisceaux stigmatiques et astigmatiques simples
ISO 11554, Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d'essai de la
puissance et de l'énergie des faisceaux lasers et de leurs caractéristiques temporelles
IEC 61040, Détecteurs, instruments et matériels de mesurage de puissance et d’énergie des
rayonnements laser
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l'ISO 11145 et l’IEC 61040,
ainsi que les termes et définitions suivants s'appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https: //www .iso .org/obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http: //www .electropedia .org/
3.1 Grandeurs mesurées
3.1.1
distribution de densité de puissance
E(x, y, z)
ensemble de toutes les densités de puissance à la cote z d'un faisceau d'onde continu donné ayant des
valeurs positives pour toutes les coordonnées transversales (x,y)
3.1.1.1
densité de puissance
E(x , y , z)
P P
partie de la puissance d'un faisceau, à la cote z, en contact avec la surface δA au point P(x , y ) divisée
P P
par la surface δA dans la limite δA → 0
[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.13.6, modifiée —Notes à l’article omises.]
3.1.2
distribution de densité d'énergie
H(x, y, z)
ensemble de toutes les densités de puissance à la cote z d'un faisceau pulsé donné ayant des valeurs
positives pour toutes les coordonnées transversales (x,y)
Hx,,yz = Ex,,yz dt
() ()

3.1.2.1
densité d'énergie
H(x , y , z)
P P
partie de l'énergie du faisceau, à la cote z, en contact avec la
surface δA au point P(x ,y ), divisée par la surface δA dans la limite δA → 0
P P
Hx ,,yz = Ex ,,yz dt
() ()
PP PP

[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.13.4, modifiée — Notes à l’article omises et Formule ajoutée.]
3.1.3
puissance
P(z)
taux de transfert d’énergie dans un faisceau d'onde continu (cw) à la cote z
Pz = Ex,,yz ddxy
() ()
∫∫
3.1.4
énergie pulsée
Q(z)
énergie contenue dans un faisceau impulsionnel mesuré à la cote z
Qz = Hx,,yz ddxy
() ()
∫∫
[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.13.3 modifiée — «Mesuré à la cote z» et Formule Q(z) ajoutées]
3.1.5
densité de puissance (d’énergie) maximale
E (z) [H (z)]
max max
valeur maximale de la fonction de distribution de la densité de puissance (d’énergie) spatiale E (x, y, z)
[H (x, y, z)] à la cote z
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3.1.6
emplacement du maximum
(x , y , z)
max max
emplacement de E (z) ou H (z) dans le plan xy à la cote z
max max
Note 1 à l'article: Une valeur unique peut ne pas être définie pour (x , y , z) lorsque le mesurage est réalisé
max max
au moyen de détecteurs dotés d'une résolution spatiale élevée et d'une plage dynamique relativement réduite.
3.1.7
densité de puissance (d'énergie) d'écrêtage
E (z) [H (z)]
ηCL ηCL
fraction η de la densité de puissance (d’énergie) maximale (3.1.5) à la cote z
Ez =ηEz
() ()
ηCL max
Hz =ηHz
() ()
ηCL max
0 ≤ η < 1
Note 1 à l'article: Lorsque aucune confusion n’est possible, la dépendance explicite sur z est supprimée dans la
description de texte en utilisant certaines quantités, mais pas dans les définitions ni dans les formules portant
sur les quantités.
3.2 Paramètres de caractérisation
3.2.1
puissance (énergie) d'écrêtage
P (z) [Q (z)]
η η
intégrale de la distribution de puissance (d’énergie) à la cote z, évaluée en additionnant uniquement les
points (x,y) pour lesquels E (x, y, z) > E (z) [H (x, y, z) > H (z)]
ηCL ηCL
3.2.2
puissance (énergie) fractionnelle
f (z)
η
rapport entre la densité de puissance (d’énergie) d'écrêtage (3.2.1), pour une valeur η donnée et la
puissance (l’énergie) totale de la distribution à la cote z
Pz
()
η
fz = pour les faisceaux cw
()
η
Pz
()
Qz
()
η
fz = pour les faisceaux impulsionnels
()
η
Qz
()
0 ≤ f (z) ≤ 1
η
3.2.3
position du centroïde du faisceau
xz , yz
() ()
()
coordonnées des moments linéaires de premier ordre d’une distribution de densité de puissance
(d’énergie) à la cote z
xE⋅ xy,,zx⋅ddy
()
∫∫
xz =
()
Ex,,yz ⋅ddxy
()
∫∫
yE⋅ xy,,zx⋅ddy
()
∫∫
yz =
()
Ex,,yz ⋅ddxy
()
∫∫
où l’intégration doit être menée sur une surface telle qu’au moins 99 % de la puissance (énergie) du
faisceau est capturé
Note 1 à l'article: La densité de puissance E est remplacée par la densité d’énergie H pour les lasers pulsés.
Note 2 à l'article: Pour une définition détaillée, voir l'ISO 11145 et l’ISO 11146-1.
3.2.4
largeurs de faisceau
d (z), d (z)
σx σy
largeurs d (z) et d (z) du faisceau dans les directions respectives x et y, à la cote z, dont la valeur
σx σy
correspond à quatre fois la racine carrée des moments de deuxième ordre de la distribution de la
densité de puissance (d’énergie) autour du centre de gravité
Note 1 à l'article: Pour une définition détaillée, se reporter à l'ISO 11145 et l'ISO 11146-1.
Note 2 à l'article: Les dispositions de l'ISO 11146 s'appliquent aux définitions et aux mesurages:
a) des largeurs de faisceau dérivées du moment de deuxième ordre d et d ;
σx σx
b) des largeurs de faisceau d et d en termes des plus petites largeurs de fente centrées qui transmettent
x,u y,u
u % de la densité de puissance (d’énergie) totale (généralement, u = 86,5);
c) des mesurages des largeurs de faisceau par fentes étroites de balayage d et d en termes de séparation
x,s y,s
entre les positions où la densité de puissance transmise (3.1.1.1) est réduite à 0,135 E où E est la densité
p p
(énergie) de puissance maximale;
d) des mesurages des largeurs de faisceau d et d en termes de séparation entre les positions de diaphragme
x,k y,k
0,84 P et 0,16 P d'une lame mobile où P est la puissance (l’énergie) non obstruée, maximale, enregistrée par
le détecteur à surface large derrière le plan de lame;
e) des facteurs de corrélation qui rassemblent ces différentes définitions et méthodes de mesure des largeurs
de faisceau.
3.2.5
ellipticité du faisceau
ε(z)
paramètre permettant de quantifier la circularité ou la rectangularité d’une distribution de puissance
(d’énergie) à la cote z
dz
()
σ y
ε z =
()
dz
()
σx
où la direction de l'axe x est choisie pour être située le long de l'axe principal de la distribution soit
d ≥ d
σx σy
Note 1 à l'article: Si ε ≥ 0,87, les distributions elliptiques peuvent être considérées comme étant de type circulaire.
Note 2 à l'article: Dans le cas d’une distribution rectangulaire, l’ellipticité est souvent désignée sous le nom de
rapport.
Note 3 à l'article: Techniquement identique à l’ISO 11146-1 et à l’ISO 11145.
Note 4 à l'article: Contrairement à la définition donnée ici, dans la littérature, le terme ellipticité est parfois lié à
dz()
σ y
1− . La définition donnée ici a été choisie pour correspondre à la même définition d'ellipticité dans
dz
()
σx
l’ISO 11146-1 et l’ISO 11145.
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3.2.6
surface de la section du faisceau
A (z)
σ
surface du faisceau
avec une section circulaire
 π
Ad= ⋅ z
()
σσ 
 
ou une section elliptique
 π
Ad= ⋅ zd⋅ z
() ()
σσ  xyσ
 
Note 1 à l'article: Pour clarifier, le terme «surface de section transversale» est toujours utilisé combiné à un
symbole et son indice approprié: A ou A .
u σ
[SOURCE: ISO 11145:2018, 3.6.2]
3.2.7
surface de rayonnement d'écrêtage
i
Az
()
η
surface du rayonnement à la cote z pour laquelle la densité de puissance (d’énergie) dépasse le niveau
d'écrêtage de la densité de puissance (d’énergie) (3.1.7)
Note 1 à l'article: Pour permettre tous les types de distribution, par exemple, en «donut», la surface de
rayonnement d'écrêtage n'est pas définie en termes de largeurs de faisceau (3.2.4) d ou d .
σx σy
Note 2 à l'article: Voir densité de puissance (d'énergie) d'écrêtage (3.1.7).
3.2.8
densité de puissance (d’énergie) d'écrêtage moyenne
E (z), [H (z)]
ηave ηave
moyenne spatiale de la densité de puissance (d’énergie) de la distribution à la cote z, définie par la
moyenne pondérée:
Pz
()
η
Ez = pour les faisceaux cw
()
ηave
i
Az
()
η
Qz
()
η
Hz = pour les faisceaux impulsionnels
()
ηave
i
Az
()
η
Note 1 à l'article: E (z) et E (z) (voir 3.1.7) se réfèrent à différents paramètres.
ηave ηCL
3.2.9
facteur de planéité
F (z)
η
rapport entre la densité de puissance (d’énergie) d'écrêtage moyenne et la densité de puissance
(d’énergie) maximale de la distribution à la cote z
Ez
()
ηave
Fz = pour les faisceaux cw
()
η
Ez
()
max
Hz
()
ηave
Fz = pour les faisceaux impulsionnels
()
η
Hz
()
max
0 < F ≤ 1
η
Note 1 à l'article: Pour une distribution de la densité de puissance (d’énergie) ayant un sommet plat parfait F = 1.
η
3.2.10
uniformité du faisceau
U (z)
η
écart moyen quadratique normalisé de la distribution de la densité de puissance (d’énergie) par rapport
à sa valeur moyenne d'écrêtage à la cote z
 
Uz = Ex,,yz −Ez ddxy pour les faisceaux cw
() () ()
η ηave
∫∫
i  
Ez
()
Az
ηave ()
η
 
Uz = Hx,,yz −Hz ddxy pour les faisceaux impulsionnels
() () ()
η ηave
∫∫ 
i
Hz
()
Az
ηave ()
η
Note 1 à l'article: U = 0 indique une distribution complètement uniforme ayant un profil à sommet plat et arêtes
η
verticales, U est exprimé sous forme de fraction ou de pourcentage.
η
Note 2 à l'article: En utilisant l'intégration sur une surface de faisceau comprise dans les limites d'écrêtage fixées,
cette définition permet de quantifier les empreintes de forme arbitraire en termes d'uniformité. Des mesurages
de l'uniformité peuvent par conséquent être réalisés pour différentes fractions de la puissance (l’énergie) totale
du faisceau, sans définir de manière spécifique une fenêtre délimitant l'ouverture ou sans se référer à la forme ou
à la taille de la distribution. Ainsi, en utilisant les calculs réalisés en 3.2.2 et 3.2.10, il a été possible d'affirmer par
exemple: «En utilisant un paramètre η = 0,3, 85 %, on constate que 85 % de la puissance (l’énergie) du faisceau a
une uniformité égale à ±4,5 % de l'écart moyen quadratique par rapport à sa valeur moyenne à la cote z», sans se
référer à la forme, à la taille de la distribution, etc.
3.2.11
uniformité présentant un plateau
U (z)
p
mesure quantitative pour l’homogénéité des profils à sommet pratiquement plat
ΔE
FWHM
Uz = pour les faisceaux cw
()
p
E
max
ΔH
FWHM
Uz = pour les faisceaux impulsionnels
()
p
H
max
où ΔE [ΔH ] est la largeur totale à mi-hauteur (FWHM) de la crête proche de E [H ] de
FWHM FWHM max max
l'histogramme de densité de puissance (d’énergie) N N(E ) [N(H )], c’est-à-dire le nombre de points (x,y)
i i
auxquels une densité de puissance (d’énergie) E [H ] donnée est enregistrée
i i
Note 1 à l'article: 0 < U (z) < 1; U (z) → 0 lorsque les distributions tendent à avoir un sommet de plus en plus plat.
p p
3.2.12
pente de l'arête
s (z)
η,ε
i i
différence normalisée entre les surfaces de rayonnement d'écrêtage (3.2.7) Az et Az et les
() ()
η ε
valeurs de densité de puissance (d’énergie) d'écrêtage supérieures à η E (z) [η H (z)] et ε E (z) [ε
max max max
H (z)] respectivement
max
ii
Az()− Az()
ηε
sz()=
ηε,
i
Az()
η
01≤<ηε <
01< ηε,
Note 1 à l'article: s (z) → 0 lorsque les arêtes de la distribution tendent vers la verticale.
η,ε
6 © ISO 2018 – Tous droits réservés

Note 2 à l'article: η est généralement réglée à 10 %, ε à 90 % de la densité de puissance (d’énergie) maximale.
i
Note 3 à l'article: Les paramètres E , E , P , A , F , et U sont représentés à la Figure 1 pour une distribution
max ηave η η η
η
de densité de puissance (3.1.1) unidime
...

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