ISO 9358:1994
(Main)Optics and optical instruments - Veiling glare of image forming systems - Definitions and methods of measurement
Optics and optical instruments - Veiling glare of image forming systems - Definitions and methods of measurement
Adopts both the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of the veiling glare characteristics of optical and electrooptical imaging systems. Laboratory measurement techniques are described in general terms and recommendations are made regarding the performance of the main subunits of the equipment. The measurement techniques described are chiefly valid for the visual spectral range. Also gives guidelines for the operation of measuring equipment such that accurate results can be achieved.
Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure
La présente Norme internationale adopte à la fois l'indice de la lumière parasite diffuse (VGI) et la fonction de diffusion de la lumière parasite diffuse (GSF) comme mesures des caractéristiques de la lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie optiques et électro-optiques. Elle décrit les techniques de mesure en laboratoire en termes généraux et donne des recommandations en ce qui concerne les performances des principaux sous-ensembles de l'équipement. Les techniques de mesure décrites dans la présente Norme internationale sont surtout valables pour le domaine spectral visuel. Pour les domaines spectraux adjacents, des modifications de ces techniques pourront s'avérer nécessaires. La présente Norme internationale donne les méthodes normalisées de spécification des conditions d'essai et d'expression des résultats alors que pour faciliter une comparaison réciproque des chiffres de l'indice VGI, elle spécifie les conditions d'essai normalisées. La présente Norme internationale a également pour objet de fournir des lignes directrices pour l'utilisation de l'appareillage de mesure de manière à obtenir des résultats aussi précis que possible. La présente Norme internationale considère comme valables les résultats de mesures de l'indice de la lumière parasite diffuse effectuées au moyen d'un appareillage qui n'est pas strictement conforme aux configurations décrites, à condition que la méthode de mesure soit essentiellement similaire (c'est-à-dire qu'elle permette la mesure du rapport de la luminance énergétique dans l'ima 292ge de la tache noire à la luminance énergétique du champ lumineux environnant) et à condition que les résultats des essais puissent être corrélés avec l'exactitude nécessaire aux résultats obtenus avec un équipement strictement conforme à la présente Norme internationale.
General Information
Overview
ISO 9358:1994 - "Optics and optical instruments - Veiling glare of image‑forming systems - Definitions and methods of measurement" defines how to quantify and measure veiling glare in optical and electro‑optical imaging systems. The standard adopts two complementary measures: the Veiling Glare Index (VGI) and the Glare Spread Function (GSF), provides laboratory measurement techniques (general instrumentation configurations and recommendations), and gives practical guidance for producing accurate, repeatable results-chiefly in the visual spectral range.
Key topics and technical requirements
- Definition of veiling glare: unwanted irradiation in the image plane caused by stray radiation that entered the system via the entrance pupil or input face.
- Two measurement approaches:
- Integral (black‑patch) method - VGI: ratio of irradiance at the centre of a black patch image to the irradiance of the surrounding bright field. VGI is expressed as a percentage.
- Analytical method - GSF / GSFR: spatial distribution of veiling irradiance in the image plane normalized to unit source flux (GSF in m⁻²). The related GSFR (radiant intensity form) is used for afocal systems (units sr⁻¹).
- Measurement configurations: recommended laboratory setups include integrating sphere methods, two‑hemisphere arrangements, integrating‑sphere + collimator, and irradiated rectangular box cavities. Specifications and performance recommendations are given for detectors, apertures and auxiliary optics.
- Specimen classification: test methods depend on specimen class-object at infinity, finite object area, or inaccessible image plane-and the standard specifies suitable adaptations for each class.
- Scope and limitations: techniques are primarily for the visual spectral range; adjustments may be needed for other wavelengths. Definitions and radiometric terms refer to established ISO vocabularies.
Practical applications and users
Who uses ISO 9358:
- Optical designers and lens manufacturers validating stray‑light and contrast performance
- Camera, projector, and telescope manufacturers assessing image contrast degradation
- Electro‑optical system developers (night‑vision, image intensifiers, star sensors) where isolated bright sources or internal scatter are critical
- Test laboratories, metrology facilities and quality control teams performing standardized veiling glare measurements
Why it matters:
- VGI is practical for scenes with broadly uniform radiance (e.g., diffuse daylight).
- GSF is essential when isolated bright sources dominate the scene (e.g., star sensors or sun‑near‑field scenarios) and enables prediction of VGI by convolution with scene radiance.
- Standardized measurement enables objective specification, design optimization and comparative testing.
Related standards
- References radiometric/photometric terminology (see ISO 31‑6 and ISO terminology for optics).
- Prepared under ISO/TC 172 (Optics and optical instruments) - useful to consult related ISO optics standards for complementary test methods and definitions.
Frequently Asked Questions
ISO 9358:1994 is a standard published by the International Organization for Standardization (ISO). Its full title is "Optics and optical instruments - Veiling glare of image forming systems - Definitions and methods of measurement". This standard covers: Adopts both the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of the veiling glare characteristics of optical and electrooptical imaging systems. Laboratory measurement techniques are described in general terms and recommendations are made regarding the performance of the main subunits of the equipment. The measurement techniques described are chiefly valid for the visual spectral range. Also gives guidelines for the operation of measuring equipment such that accurate results can be achieved.
Adopts both the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of the veiling glare characteristics of optical and electrooptical imaging systems. Laboratory measurement techniques are described in general terms and recommendations are made regarding the performance of the main subunits of the equipment. The measurement techniques described are chiefly valid for the visual spectral range. Also gives guidelines for the operation of measuring equipment such that accurate results can be achieved.
ISO 9358:1994 is classified under the following ICS (International Classification for Standards) categories: 37.020 - Optical equipment. The ICS classification helps identify the subject area and facilitates finding related standards.
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Standards Content (Sample)
INTERNATIONAL
ISO
STANDARD
First edition
1994-07-15
Optics and Optical instruments - Veiling
glare of image-forming Systems -
Definitions and methods of measurement
lt ins trumen Urniere parasite diffuse des
Optique e ts d’optique - L
d ‘imagerie - Definitions et methodes de mesure
systemes
Reference number
ISO 9358: 1994(E)
Foreword
ISO (the international Organization for Standardization) is a worldwide
federation of national Standards bodies (ISO member bodies). The work
of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Esch member body interested in a subject for
which a technical committee has been established has the right to be
represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(1 EC) on all matters of electrotechnical standardization.
Draft International Standards adopted by the technical committees are
circulated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.
International Standard ISO 9358 was prepared by Technical Committee
ISO/TC 172, Optics and Optical instruments, Subcommittee SC 1, Funda-
mental s tandards.
0 ISO 1994
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced
or utilized in any form or by any means, electronie or mechanical, including photocopying and
microfilm, without Permission in writing from the publisher.
international Organkation for Standardization
Case Postale 56 l CH-l 211 Geneve 20 l Switzerland
Printed in Switzerland
ii
0 ISO
ISO 9358: 1994(E)
Introduction
The image plane of an Optical or electrooptical imaging System normally
receives not only the image forming radiation, but also stray (unwanted)
radiation which tan reduce image contrast.
This unwanted radiation is referred to as “veiling glare”. In lens Systems
it usually arises from one or more of the following Causes:
internal multiple reflections between the lens surfaces;
a)
scatter from the surfaces of the lens elements due to scratches and
b)
other imperfections in the polish, dir? and dust, fingerprints, grease,
poor antireflection coatings and faulty reflective coatings on mirrors;
bulk scatter from the interior of the glass and from bubbles and striae;
d
scatter from Optical cements;
d)
scatter and reflections from ground edges of the lens elements, from
e)
internal lens mounts and from the internal surfaces of the lens barrel;
reflections from the surfaces of diaphragms and shutter blades;
fluorescence of the glass Optical cements.
I ne veiling glare of lens on its own tan be considerably different from the
veiling glare of a lens System and Camera body combination. In the latter
case, reflection of part of the image-forming radiation from the
photosensitive material in combination with further reflections and scatter
from the lens System and Camera body contribute significantly to the
veiling glare.
In electrooptical devices, veiling glare arises from similar Causes. For in-
stance, in an image intensifier tube glare tan arise from:
a) radiation transmitted through the photocathode being scattered and
reflected by internal structures back onto the photocathode;
b) radiation emitted from the Phosphor going back to the photocathode;
c) in tubes with microchannel plates some electrons incident on the input
face tan be back-scattered from this face before returning to it with
the primary electrons.
For the purposes of this International Standard, it is important to differen-
tiate between veiling glare which originates from radiation incident on the
entrance pupil or input face of an Optical or electrooptical System and other
factors which may Cause a reduction in contrast and which may therefore
influence a measurement of veiling glare.
. . .
Ill
CJ ISO
Examples of these are:
a) radiation entering a System through leaks in the casing or body of the
System;
radiation from internal sources in a System such as LEDs;
b)
c) reflection of ambient radiation from projection screens or CRT dis-
Play%
dark current in electrooptical devices;
d)
fog in photographic emulsions.
There a re two principle 1 methods of measuring veiling glare, namely the
integral (or black patch) and the analytical (or gla re spread function).
In the integral method, the target Object is a small black area surrounded
by an extended uniform Source. The veiling glare index (VGI) is specified
as the ratio of the irradiance in the image of the black area to the irradiance
in the image of the extended Source. For definitions of this and other
radiometric and photometric terms, see ISO 31-6.
In the analytical method, the Object is a small Source with a dark surround.
The distribution of irradiance in the image plane normalised in a particular
way, is defined as the glare spread function (GSF).
Esch of these two methods of measuring veiling glare has its own partic-
ular areas of usefulness. In general, the integral method is applicable to
Systems where the Scene will normally be of roughly uniform radiance
(e.g. a landscape photographed in overcast conditions or with the sun be-
hind the Camera) whilst the analytical method is relevant to applications
where intense isolated sources may be present in the Scene (e.g. a star
Sensor System on a space vehicle, designed to operate with the sun just
outside its field of view).
The analytical method has the further advantage that in principle it tan be
used to calculate glare levels in a specified real Situation and in fact the
VGI tan be predicted from the GSF (e.g. by convolution and integration
of the GSF with the radiance distribution in the Scene) whilst the reverse
is not possible.
INTERNATIONAL STANDARD 0 ISO
ISO 9358: 1994(E)
Optics and Optical instruments - Veiling glare of
image-forming Systems - Definitions and methods of
measurement
2.1 veiling glare: Unwanted irradiation in the image
1 Scope
plane of an Optical or electrooptical System, caused
This International Standard adopts both the veiling by a proportion of the radiation which enters the sys-
glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) tem through its normal entrance aperture. The radi-
as measures of the veiling glare characteristics of op- ation may be from inside or outside the field of view
of the System.
tical and electrooptical imaging Systems. Laboratory
measurement techniques are described in general
terms and recommendations are made regarding the
2.2 veiling glare index (VGI): Ratio of the irradiance
Performance of the main subunits of the equipment.
at the centre of the image of a small, circular, per-
fectly black area superimposed on an extended field
The measurement techniques described in this Inter-
of uniform radiance, to the irradiance at the same
national Standard are chiefly valid for the visual spec-
Point of the image plane when the black area is re-
tral range. For adjacent spectral ranges, modifications
moved. VGI is expressed as a percentage unless oth-
of these techniques will possibly be necessary.
erwise specified.
Standard methods of specifying conditions of test and
of expressing the results are given, while to assist in NOTE 1 The size of the black area and of the surrounding
field, as weil as the Proportion of the black area used for
the intercomparison of VGI figures, Standard test
measurement, shall be specified.
conditions are specified.
This International Standard also gives guidelines for
2.3 veiling glare index - band target (VGIB):
the Operation of measuring equipment such that ac-
Ratio of the irradiance at a specified Position along the
curate results tan be achieved.
centreline of the image of a narrow, perfectly black
band superimposed on an extended field of uniform
Results of veiling glare index measurements made
radiance, to the irradiance at the same Point of the
using equipment which does not conform in detail to
image plane when the black band is removed. VGIB
the configurations described in this International
Standard are accepted as valid, provided the method is expressed as a percentage unless otherwise spec-
of measurement is substantially similar (i.e. measures ified.
the ratio of the radiance in the image of the black area
NOTE 2 The black band, or Strip, shall extend across a
to the radiance in a surrounding bright field) and pro-
diagonal of the image format. Its width and length, as weil
vided the test results tan be correlated to the required
as the size of the surrounding field and the Proportion of the
accuracy with results obtained on equipment which
black area used for measurement shall be specified.
conforms strictly to this International Standard.
2.4 glare spread function (GSF): Irradiance distrib-
2 Definitions
ution in the image plane, produced by a small Source
For the purposes of this International Standard, the Object, normalised to unit total flux in the on-axis im-
following definitions apply* age of the small Source.
0 ISO
ISO 9358: 1994(E)
irradiance due to veiling glare Table 1 illustrates how these conditions are classified
i.e. GSF =
for the purpose of this International Standard and
total flux in image of Source
gives examples of classifications for typical speci-
mens.
GSF is expressed in units of reciprocal Square metres
(m-2).
The classification given in table 1 is based on Object
distance and area and image distance and as shown
The GSF only has meaning outside the primary image
in table 2.
of the Source.
4 Measurement methods
2.5 glare spread function - radiant intensity
(GSFR): Radiant intensity in image space of an
equivalent veiling glare Source at the exit pupil of the
4.1 Vsiling glare index
test System which gives rise to the measured veiling
glare irradiance in the image plane. This intensity is
4.1.1 General technique
normalised to unit total flux in the on-axis image of the
A typical arrangement for measuring the VGI of a lens
actual illuminating Source.
is illustrated diagrammatically in figure 1.
radiant intensity of equivalent veiling The extended bright field (subtending 27~ sr in this
glare Source
case) is produced by illuminating an integrating sphere
i.e. GSFR =
with several lamps through suitable portholes.
total flux in image of actual Source
The “black area” is an absorbing cavity in the wall of
the integrating sphere which tan be interchanged
GSFR is expressed in units of reciprocal steradians
with a section having the same reflecting character-
(sr-l).
istics as the remainder of the internal surface of the
GSFR is normally used in preference to GSF when integrating sphere. The lens under test is placed with
dealing with afocal Systems. GSFR only has meaning its front end protruding into an exit port which is
outside the primary image of the Source. diametrically opposite the “black area” in the inte-
grating sphere. The front of the lens should protrude
into the sphere at least as far as the line of the inte-
grating surface.
3 Classification sf test specimen
The irradiance in the image of the black area is
measured with a suitable photoelectric detector in
The arrangement of test equipment used in measur-
ing veiling glare will depend on the test specimen and front of which is a small aperture (with, if necessary
shall be representative of the conditions under which a small integrating sphere, or condenser lens System,
it will normally be used. and/or diffuser between the two).
Table 1
Image distance
Object distance
Infinity or greater than 10 x
Finite Finite but inaccessible
focal length
A Object at infinity or greater
W Systems, cameras, eine
Telescopes, also image
than 10 x focal length (un- Photographit lenses
cameras
intensifier telescopes
limited Object area)
Enlarging lenses, process
Projection lenses, magnifi- lenses, photographic lenses,
B Finite (limited Object area) TV microscopes
ers, microscopes image converter tubes with
fibre plates
C Finite but not directly
Image converter tubes with
accessible/(limited Object (Microscopes)
glass discs (TV microscopes)
area)
L
ISO 9358: 1994(E)
sufficiently great Object distance to give a measure-
ment of VGI which is the same as that which would
Table 2
result if the distances were infinite. For the purposes
of this International Standard, it is assumed that the
Object distance shall be greater than ten times the
focal length of a lens tested in its own, or of the ob-
jective, if the test piece is an electrooptical System
(such as a night Vision sight) or afocal System. When
The Object distance and area are finite.
a lens is tested in conjunction with the remainder of
The radiating Source corresponds, with
exceptions, only to the maximum Object the System it forms patt of (e.g. a lens tested with a
area used (limited Object area).
Camera body), a further Stipulation is made that the
Object distance is also greater than the minimum fo-
The Object distance and area are finite;
cusing distance of the System.
the Object is not, however, directly ac-
cessible as it is,
for example, covered by
Several different arrangements of equipment tan be
used for making measurements under these con-
ditions and four of these are described in 4.1.2.1.1 to
4.1.2.1.4. Specifications for the Performance of each
The image plane is at a finite distance part of a test System will be found in clause 5.
and is of finite area.
4.1.2.1.1 Single integrating sphere method
The image plane is at a finite distance but
is inaccessible because, for example, it is
C
covered by a glass disc.
For lenses of relatively short focal length, the Single
integrating sphere arrangement illustrated in figure 1
and described briefly earlier in this clause may be
The ratio of the detector Signal in the above Situation
used. The equipment tan be used for testing Optical
to the detector Signal when the black area is replaced
Systems with the black area in different Parts of the
by a section of normal integrating sphere surface,
field of view of the System. To do this, Provision shall
gives the veiling glare index.
be made for interchanging sections of the sphere wall
by the absorbing cavity, at the appropriate field an-
For the Situation where the black area cannot be re-
.
placed with a normal section of the surface; the sec- gles
ond measurement tan be obtained by moving the
4.1.2.1.2 Two hemisphere method
aperture and detector to a Position clear of, but adja-
cent to the image of the black area.
Where the Object distance required are so large that
The exact form taken by the measuring equipment
the use of a Single integrating sphere would be inap-
will depend on the classification of the test specimen
propriate, the arrangement illustrated in figure2 may
(see clause 3). For measurements of veiling glare us-
be used.
ing a black area in the form of a band across a diag-
This method employs a uniformly irradiated hemi-
onal of the image format (i.e. VGIB), suitable
sphere close to the test specimen to provide most of
adaptations of the general technique are used. An
the 271 sr of irradiation, with a second hemisphere at
important consideration in this case is that the black
the required Object distance containing the black area
band or Strip needs to be in focus over its whole
(absorbing cavity) and providing the remaining part of
length and will normally therefore be on a flat surface.
the 2~ sr extended Source. The second hemisphere
Suitable configurations for the extended Source and
is seen through an aperture in the first hemisphere,
for the detector System are discussed in the following
whose diameter shall be such that it does not Vignette
subclause.
the aperture of the test specimen, as far as imaging
of the black area is concerned, and at the same time
4.1.2 Extended Source and black area
limits the Object field to something less than the area
subtended by the second hemisphere.
4.1.2.1 Object at infinity (Classification A)
For off-axis measurements, the first hemisphere and
For this case, the extended Source ideally subtends
the test specimen shall be tiltable and the aperture in
27~ sr. lt is obviously impossible to have such a Source
this hemisphere shall be movable.
and black area actually at infinity and it is therefore
acceptable that the equipment simulates a Situation
The effective radiances of the hemispheres shall be
where the black area and bright surround are at a identical.
Integrating sphere
Light trap
- Veiling glare measurement in the case of an unlimited Object field
Figure 1
4.1.2.1.3 Integrating sphere and collimator themselves introduce significant levels of veiling glare
method which would affect the accuracy of measurements
(see clause 5 for recommendations regarding
When long Object distances are required, an alterna- collimators).
tive to the two hemisphere method is to use a Single
integrating sphere with a collimator, as illustrated in 4.1.2.1.4 Irradiated rectangular box method
figure3. For off-axis measurements, the test speci-
A rectangular box integrating cavity may be used in-
men is tilted about the centre of its entrance pupil.
stead of a Single integrating sphere, provided its de-
sign is such that it meets the radiance specification in
Great care is required in any technique using auxiliaty
optics, such as a collimator, to ensure that they do not clause 5.
ISO 9358: 1994(E)
Hemispheres, variable distance
Measurlng aperture
Variable sphere apertures
about 0 axis)
The infinite Object distance is obtained using a second hemisphere.
NOTE -
Veiling glare measurement with unlimited Object field and infinite Object distance
Figure 2 -
Light trap
The image field is off-axis.
NOTE -
Veiling glare measurement with unlimited Object field using an auxiliary lens
Figure 3 -
ISO 9358: 1994(E)
,
t
Peripheral part
Test lens
CO
Absorbing cavity
A-Dark area
r
MovabLe front part
/
Figure 4 - Schematic diagram of Square box type radiation Source
the extended Source is strictly limited to being that
Such an arrangement is illustrated in figure4. lt has
of the size and shape of the Object format of the test
the advantage that it tan be built with a movable front
specimen.
or rear end in Order to accomodate objectives of vari-
ous focal lengths.
Figure5 illustrates the normal arrangement used for
measuring VGI under these conditions.
This form of integrating cavity may be used in VGI
measurements where the black area is circular in
The extended field is a uniformly irradiated diffusely
shape. lt is particularly suited however to VGIB
transmitting Screen with size and shape equal to the
measurements where a black area in the form of an
Object format of the test piece. For VGI measure-
absorbing Strip extended diagonally across the full
ments, the black area is a circular opaque patch, usu-
field of view of a System is used. Such an arrange-
ally arranged so that it tan be moved to different Parts
ment has, in particular, been used with the rectangu-
of the field of view. A black opaque diagonal band is
lar cavity as a convenient means of rapidly scanning
used for VGIB measurements.
through several different field positions. The absorb-
ing Strip is mounted on a Pivot at the centre of the
4.1.2.3 Inaccessible Object plane
field of view so that it tan be rotated to cover the full
(Classification C)
field. This arrangement may be used in conjuction
with an array of detectors in the image plane to
Where the Object plane is inaccessible (and the Object
measure the VGI at different image positions.
area is of limited size), it usually becomes necessary
to project the extended Source and black area into the
4.1.2.2 Object at a finite distance with limited Object plane by means of auxiliary optics. The ar-
rangement of equipment tan be similar to that de-
Object area (Classification B)
scribed in 4.1.2.2 for classification B Systems with the
addition of a projection lens System.
For this type of measurement, the size and shape of
(Q ISO
ISO 9358: 1994(E)
- Extented Source
Dif f using Screen
Figure 5 - Equipment for measurement of veiling glare at finite Object distance
The veiling glare introduced by the auxiliary optics System (i.e. the area surrounding the measuring ap-
shall be kept as small as possible. lt will in any case erture) has the same area and reflectivity character-
be necessaty to correct for any residual veiling glare istics as the surface normally present in the image
by subtracting its measured value from the total veil- plane of the test specimen. Similar considerations
ing glare measurement. apply to any mechanical structures in this area (e.g.
the Camera body in the case of a photographic objec-
tive). lt may be necessary to simulate these or use the
4.1.3 Detector System
actual structures in Order to get a true veiling glare
measurement for a complete System.
The detector System normally consists of a circular
measuring aperture, a filter holder and the detector.
Where the image plane of the test specimen is at in-
The polar responsivity of the detector System shall be finity a collimator may be used to image the radiation
uniform for the angular range over which it will re- from the test specimen to a finite distance. The ap-
ceive radiation. To achieve this it may be necessary
erture of the collimator shall not Vignette any radiation
to incorporate additional components between the
from the test specimen. Moreover the collimator shall
aperture and the detector such as a diffuser and/or
be selected so as to introduce negligible veiling glare
condensing optics.
of its own (see clause 5 ).
In some applications, reflections from the surface When the image plane is inaccessible, a relay lens tan
normally in the image plane of the test specimen (e.g. be used to transfer the image plane to a plane where
the film in the case of photographic objectives) tan measurements tan be made. Again the relay lens
have a substantial effect on the veiling glare of the should introduce negligible veiling glare of its own, but
System. To simulate this effect, it may be necessary if this is not possible it may be necessary to measure
its veiling glare and apply a correction.
to arrange that the extemal surface of the detector
ISO 9358: 1994(E)
Ba
Source Collimator
- Pivot
\
t
\
I L
Detector
I L
Test lens
a) Testing an image forming System
b) Testing an afocal System
Figure 6 - Equipment for measuring glare spread function
irradiance distribution in the image plane of the lens
4.2 Glare spread function
is measured by the detector unit which normally con-
sists of a small aperture, filters for adjusting the
4.2.1 General technique spectral content of the Source and a photoelectric
detector. The detector unit is mounted so that it tan
A typical arrangement for measuring GSF or GSFR of
be positioned anywhere in the image field of the test
a lens working with an infinite Object conjugate is il- specimen.
lustrated diagrammatically in figure 6.
A particular requirement of GSF measurements is that
A small circular Source of uniform radiance is pos- the detector System must cover a very large dynamic
itioned at the focus of a collimator whose aperture it range of irradiances. Typically this may be 1 O4 to 106
irradiates uniformly. The test specimen is mounted in or greater, depending on the type of lens or System
being tested. To accommodate such a large dynamic
the beam from the collimator in such a way that it tan
range the detector System is usually designed to have
be rotated to vary the an
...
NORME
ISO
INTERNATIONALE
Première édition
3 994-07-l 5
Optique et instruments d’optique -
Lumière parasite diffuse des systèmes
d’imagerie -
Définitions et méthodes de
mesure
Op tics and op tical instruments - Veiling glare of image-forming
systems - Definitions and methods of measurement
Numéro de référence
ISO 9358: 1994(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une féderation
mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de
I’ISO). L’elaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comite membre interesse par une
étude a le droit de faire partie du comité technique crée à cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent egalement aux travaux. L’ISO colla-
bore etroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptes par les comités techniques
sont soumis aux comites membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des co-
mites membres votants.
La Norme internationale ISO 9358 a été elaboree par le comité technique
lSO/rC 172, Optique et instruments d’optique, sous-comite SC 1, Nor-
mes fondamentales.
0 60 1994
Droits de reproduction reserves. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cedé, electronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
6crit de I’bditeur.
Organisation internationale de normalisation
Case Postale 56 l CH-121 1 Geneve 20 l Suisse
Imprimé en Suisse
ii
0 ISO
ISO 9358: 1994(F)
Introduction
Le plan image d’un système d’imagerie optique ou électro-optique reçoit
normalement non seulement le rayonnement formant l’image mais
également un rayonnement parasite (indésirable) susceptible de réduire le
contraste de l’image.
Ce rayonnement parasite constitue ce qu’on appelle ((lumiere parasite
diffuse)). Dans les systémes de lentilles, il resulte généralement d’une ou
plusieurs des causes suivantes:
a) réflexions internes multiples entre les surfaces des lentilles;
b) diffusion à partir des surfaces des lentilles due à des rayures ou autres
imperfections de polissage, à des impuretés ou de la poussiére, des
traces de doigts, de la graisse, un traitement optique de mauvaise
qualité et à des revêtements refléchissants defectueux sur les miroirs;
c) diffusion générale provenant de I’interieur du verre, de bulles et de
stries;
d) diffusion due aux adhésifs d’optique;
e) diffusion et réflexions provenant des bords dépolis des lentilles, des
montures internes des lentilles et des surfaces internes du tube
d’objectif;
f) réflexions provenant des surfaces des diaphragmes et des lamelles
d’obturateur;
g)
fluorescence du verre ou des adhesifs d’optique.
La lumiere parasite diffuse d’une lentille seule peut differer conside-
rablement de celle qui résulte d’une combinaison de systéme de
lentilles/chambre d’appareil de prise de vues. Dans ce dernier cas, la re-
flexion d’une partie du rayonnement de formation d’image issu du maté-
riau photosensible combinee aux reflexions et a la dispersion provenant
du système de lentilles et de la chambre contribuent de maniere non ne-
gligeable au phénoméne de lumière parasite diffuse.
Dans les dispositifs électro-optiques, la lumiere parasite diffuse resulte de
causes similaires. Par exemple, dans un amplificateur d’image, la lumière
parasite diffuse peut resulter des causes suivantes:
a)
le rayonnement traversant la photocathode est diffuse et renvoyé vers
la photocathode par les structures internes;
b) le rayonnement émis par le phosphore est renvoyé vers la
photocathode;
. . .
III
0 ISO
ISO 9358: 1994(F)
c) dans les tubes à galettes de microcanaux, certains electrons incidents
sur la face d’entrée peuvent être rétrodiffusés à partir de cette face
avant d’y revenir avec les électrons primaires.
Aux fins de la présente Norme internationale, il est important de faire la
différence entre la lumiére parasite diffuse qui resulte du rayonnement
incident sur la pupille d’entree ou la face d’entree d’un systéme optique
ou électro-optique, et d’autres facteurs susceptibles d’entraîner une ré-
duction du contraste et, par conséquent, d’avoir une incidence sur la me-
sure de la lumiere parasite diffuse.
Quelques exemples:
rayonnem ent pénétrant dans un système par des interstices du boîtier
a)
ou de la c hambre du systèm e;
b) rayonnement Amis par des sources internes dans le cas d’un système
a diodes électroluminescentes;
dû aux écrans de proj ection ou aux
cl réflexion du rayonnement ambiant
affichages sur ecrans cath odiques;
d) courant d’obscurite dans les dispositifs électro-optiques;
voile dans les emulsions photographiques.
e)
II existe deux méthodes principales de mesure de la lumiere parasite dif-
fuse, la méthode intégrale (tache noire) et la methode analytique (fonction
de diffusion de la lumiere parasite diffuse).
Dans la methode intégrale, l’objet cible est une petite tache noire entouree
d’une source uniforme étendue. L’indice de lumiere parasite diffuse (VGI)
est spécifié comme etant le rapport de I’eclairement énergetique dans
l’image géométrique de la tache noire sur l’eclairement énergétique dans
l’image géométrique de la source étendue. Pour les définitions de ces
termes et autres termes radiométriques et photométriques, voir ISO 31-6.
Dans la méthode analytique, l’objet est une petite source entourée d’une
zone sombre. La répartition de l’eclairement énergétique dans le plan
image normalise de façon particuliére est definie comme etant la fonction
de diffusion de la lumiere parasite diffuse (GSF).
Chacune de ces deux methodes de mesure de la lumiere parasite diffuse
a ses propres domaines d’utilitk En général, la methode intégrale est ap-
plicable aux systémes dont la scene a normalement une luminance ener-
gétique plus ou moins uniforme (par exemple un paysage photographie
par ciel couvert ou lorsque le soleil se trouve derrière l’appareil photogra-
phique) alors que la méthode analytique est appropriée pour des applica-
tions où des sources intenses isolees peuvent être présentes dans la
scéne (par exemple un systéme detecteur d’étoiles pour vehicule spatial,
conçu pour fonctionner avec le soleil immediatement en dehors du champ
optique).
La methode analytique présente en outre l’avantage de pouvoir être utili-
sée, en principe, pour calculer les niveaux de la lumiere parasite diffuse
dans une situation réelle spécifiée et, de fait, l’indice VGI peut être prévu
à partir de la fonction GSF (par exemple par convolution et intégration de
la fonction GSF avec la répartition de la luminance énergétique dans la
scéne) alors que l’inverse n’est pas possible.
NORME INTERNATIONALE 0 ISO ISO 9358: 1994(F)
- Lumière parasite
Optique et instruments d‘optique
Définitions et
diffuse des systèmes d’imagerie -
méthodes de mesure
être correles avec l’exactitude nécessaire aux resul-
1 Domaine d’application
tats obtenus avec un équipement strictement
conforme à la présente Norme internationale.
La présente Norme internationale adopte à la fois
l’indice de la lumiere parasite diffuse (VGI) et la fonc-
tion de diffusion de la lumière parasite diffuse (GSF)
2 Définitions
comme mesures des caractéristiques de la lumiere
parasite diffuse des systémes d’imagerie optiques et
Pour les besoins de la présente Norme internationale,
électro-optiques. Elle decrit les techniques de mesure
les définitions suivantes s’appliquent.
en laboratoire en termes généraux et donne des re-
commandations en ce qui concerne les performances
2.1 lumihre parasite diffuse: Rayonnement indesi-
des principaux sous-ensembles de l’équipement.
rable dans le plan image d’un systéme optique ou
Les techniques de mesure decrites dans la présente électro-optique, cause par une proportion du rayon-
Norme internationale sont surtout valables pour le nement qui pénétre dans le systéme par son ouver-
ture normale d’entrée. Ce rayonnement peut provenir
domaine spectral visuel. Pour les domaines spectraux
de I’interieur ou de I’exterieur du champ optique du
adjacents, des modifications de ces techniques pour-
ront s’averer necessaires. systéme.
La présente Norme internationale donne les metho-
2.2 indice de la lumière parasite diffuse (VGI):
des normalisées de spécification des conditions d’es-
Rapport de l’éclairement énergétique au centre de
sai et d’expression des resultats alors que pour
l’image d’une petite tache circulaire parfaitement
faciliter une comparaison réciproque des chiffres de
noire superposée à un champ étendu de luminance
l’indice VGI, elle spécifie les conditions d’essai nor-
énergétique uniforme, à l’eclairement énergétique au
malisees.
même point du plan image lorsqu’on supprime la ta-
che noire. Sauf specification contraire, l’indice VGI est
La présente Norme internationale a egalement pour
exprime en pourcentage.
objet de fournir des lignes directrices pour l’utilisation
de l’appareillage de mesure de maniere à obtenir des NOTE 1 La taille de la tache noire et du champ environ-
resultats aussi precis que possible. nant, ainsi que la proportion de la tache noire utilisée pour
effectuer la mesure devraient être spécifiées.
La présente Norme internationale considère comme
valables les résultats de mesures de l’indice de la lu- 2.3 indice de la lumière parasite diffuse - bande
miere parasite diffuse effectuees au moyen d’un ap-
cible (VGIB): Rapport de l’éclairement énergétique
pareillage qui n’est pas strictement conforme aux en un endroit spécifié sur l’axe de l’image d’une
configurations décrites, à condition que la methode bande etroite parfaitement noire superposée à un
de mesure soit essentiellement similaire (c’est-a-dire champ etendu de luminance énergétique uniforme, à
qu’elle permette la mesure du rapport de la luminance
l’eclairement Anergétique au même point du plan
energétique dans l’image de la tache noire à la lumi-
image lorsqu’on supprime la bande noire. Sauf speci-
nance energétique du champ lumineux environnant) fication contraire, l’indice VGIB est exprime en pour-
et a condition que les resultats des essais puissent centage.
Q3 ISO
La bande noire devrait se situer sur la diagonale
NOTE 2
du format image. Sa largeur et sa longueur, ainsi que la taille
intensité énergétique d’une source equi-
du champ environnant et la proportion de la tache noire uti-
lisée pour effectuer la mesure devraient être spécifiées. valente de lumiére parasite diffuse
GSFR =
flux total de la source réelle dans l’image
2.4 fonction de diffusion de la lumière parasite
diffuse (GSF): Répartition de l’éclairement énergéti-
que dans le plan image, produite par un petit objet
La fonction GSFR s’exprime en steradians a la puis-
source, normalisee conformement au flux unitaire to-
sance moins un (sr-1).
tal dans l’image axiale du petit objet source.
On utilise généralement GSFR de préférence à GSF
pour des systèmes afocaux. GSFR n’a de sens que
éclairement énergétique dû à la lumière
hors de l’image géométrique de la source.
parasite diffuse
GSFR =
flux total de la source dans l’image
3 Classification des échantillons pour
essai
La fonction GSF s’exprime en metres à la puissance
moins deux (m-2).
La configuration de l’équipement d’essai utilise pour
mesurer la lumiere parasite diffuse dépendra de
La fonction GSF n’a de sens que hors de l’image gé-
l’echantillon pour essai lui-même et elle doit être re-
ométrique de la source.
présentative des conditions normales d’utilisation.
2.5 fonction de diffusion de la lumière parasite
Le tableau 1 indique comment ces conditions sont
diffuse - intensité hergétique (GSFR): Intensité
classées aux fins de la présente Norme internationale
énergétique dans l’espace image d’une source de lu-
et donne des exemples de classifications d’echan-
mière parasite diffuse au niveau de la pupille de sortie
tillons types.
du systéme d’essai, qui donne lieu a un rayonnement
La classification donnee au tableau 1 est fonction de
équivalent à la lumière parasite diffuse dans le plan
la distance objet et de la surface objet ainsi que de la
image. Cette intensite est normalisee conformément
au flux unitaire total dans l’image axiale de la source distance image, et elle s’etablit comme montre au
tableau 2.
lumineuse réelle.
Tableau 1
Distance image
Distance objet
Distance infinie ou plus de Distance finie mais inacces-
Distance finie
10 fois la distance focale sible
Systèmes de télévision, ap-
A Objet à l’infini ou à plus de Télescopes, également téle-
pareils photographiques, ca-
10 fois la distance focale scopes a amplificateur Objectifs photographiques
méras
(surface objet infinie) d’image
Objectifs pour agrandis-
sements, objectifs pour pro-
Objectifs de projection, lou-
B Distance finie (surface ob- cédés, objectifs
Microscopes de télévision
jet finie) pes, microscopes photographiques, tubes
convertisseurs d’images à
panneaux de fibre
Tubes convertisseurs d’ima-
C Distance finie mais non
ges à disques de verre (mi-
directement accessible (sur- (Microscopes)
croscopes de télévision)
face objet finie)
petite ouverture (avec, si besoin est, une petite
sphère intégrante ou un systéme condenseur et/ou
Tableau 2
un diffuseur entre les deux).
L’objet est a l’infini ou nominalement a
Le rapport du signal du détecteur se trouvant dans la
l’infini. Dans ce cas le rayonnement pro-
situation ci-dessus au signal du détecteur, lorsqu’on
A venant de l’espace semi-infini total (su-
remplace la tache noire par une section de la surface
perficie objet illimitée) atteint l’échantillon
de la sphére intégrante normale, donne l’indice de la
pour essai.
lumiere parasite diffuse.
La distance et la surface objet sont finies.
Espace La source de rayonnement ne corres-
Pour la situation dans laquelle la tache noire ne peut
objet B pond, avec des exceptions, qu’à la sur-
être remplacée par une section normale de la surface,
face objet maximale utilisée (surface
la seconde mesure peut être obtenue en déplaçant
objet finie).
l’ouverture et le détecteur jusqu’à un endroit où ils se
La distance et la surface objet sont finies.
trouvent à l’ecart mais en position adjacente a l’image
Toutefois, l’objet n’est pas directement
C
de la tache noire.
accessible car il est, par exemple, cou-
vert par un disque de verre.
La forme exacte de l’appareillage de mesure depen-
Le plan image est à l’infini ou nomi- dra de la classe de l’échantillon pour essai (voir
a
nalement à l’infini.
article 3). Pour les mesures de la lumiére parasite
diffuse au moyen d’une tache noire sous forme de
Le plan image est à une distance finie et
Espace b
bande situee sur la diagonale du format image (VGIB),
sa surface est également finie.
image
on procede à des adaptations appropriées de la tech-
Le plan image est à une distance finie
nique générale. Dans ce cas il faut tenir compte d’un
C mais il est inaccessible car, par exemple,
facteur important: la bande noire doit être focalisee
il est couvert par un disque de verre.
sur toute sa longueur et, par conséquent, se situera
en général sur une surface plane. Les configurations
4 Méthodes de mesure appropriées de la source etendue et du systéme de-
tecteur font l’objet de 4.1.2.
4.1 Indice de la lumière parasite diffuse
4.1.2 Source 6tendue et tache noire
4.1.1 Technique g6nérale
4.1.2.1
Objet 81 l’infini (Classe A)
Une configuration type de mesure de l’indice VGI
d’une lentille est schématiquement illustree à la
Dans ce cas, la source étendue sous-tend un angle
figure 1.
solide de 271 sr. II est bien évidemment impossible
d’avoir une telle source et la tache noire reellement à
Le champ lumineux etendu (sous-tendant un angle
l’infini et il est donc acceptable de simuler, avec I’ap-
solide de 2x sr dans ce cas) est produit par éclairage
pareillage, une situation dans laquelle la tache noire
d’une sphére intégrante au moyen de plusieurs lam-
et son environnement lumineux se trouvent à une
pes à travers des diaphragmes appropries.
distance objet suffisamment grande pour donner une
mesure de VGI identique à celle qu’on obtiendrait si
La ((tache noire)) est une cavite absorbante dans la
les distances étaient infinies. Aux fins de la presente
paroi de la sphére intégrante; elle peut être échangée
Norme internationale, on retient une distance objet
contre une section présentant les mêmes caractéris-
plus de 10 fois supérieure à la distance focale d’une
tiques reflechissantes que le reste de la surface
lentille essayée - individuellement, ou d’un objectif si
interne de la sphére intégrante. La lentille en essai est
l’echantillon pour essai est un système electro-
placée de sorte que son extremité avant dépasse par
optique (une lunette de visee nocturne, par exemple)
une ouverture de sortie diamétralement opposée à la
ou un système afocal. Lorsqu’une lentille est essayée
((tache noire)) de la sphère intégrante. L’avant de la
conjointement au reste du système dont elle fait par-
lentille doit dépasser dans la sphère de manière a at-
tie intégrante (par exemple lentille essayée avec le
teindre au moins la ligne de la surface d’intégration.
boîtier de l’appareil photographique), une stipulation
L’eclairement énergétique dans l’image de la tache supplémentaire veut que la distance objet soit
noire est mesur au moyen d’un détecteur pho- également supérieure à la distance minimale de
toélectrique approprie devant lequel se trouve une
focalisation du systéme.
Sphère integrante
Échantillon pour essai
Pi$ge h lumière
Mesure de la lumière parasite diffuse dans le cas d’un champ objet infini
Figure 1 -
ISO 9358: 1994(F)
NOTE - La distance objet est obtenue au moyen d’un second hémisphére.
Figure 2 - Mesure de la lumière parasite diffuse avec un champ objet infini et la distance objet infinie
Plusieurs configurations differentes d’appareillage des 27~ sr d’éclairement énergétique, associe à un
peuvent être utilisees pour effectuer les mesures second hémisphére se trouvant à la distance objet
dans ces conditions et quatre d’entre elles sont dé- spécifiée et contenant la tache noire (cavité absor-
crites de 4.1.2.1 .l à 4.1.2.1.4. On trouvera les spéci- bante) et fournissant la partie restante des 2~ sr de la
fications de performances de chaque element d’un
source etendue. Le second hémisphère est vu par
système d’essai a l’article 5. une ouverture aménagée dans le premier hemis-
phére, le diametre de cette ouverture etant tel qu’il
ne vignette pas l’ouverture de l’echantillon pour essai,
4.1.2.1.1 M6thode de la sphère intégrante simple
en ce qui concerne l’imagerie de la tache noire, tout
en limitant le champ objet à une valeur Iégérement
Pour les lentilles de distance focale relativement
inferieure à la zone sous-tendue par le second he-
courte, on pourra utiliser la configuration à sphére in-
misphère.
tégrante simple illustree à la figure 1 et décrite brie-
vement plus haut. L’appareillage peut être utilise pour
Pour les mesures effectuées hors axe, le premier he-
essayer des systèmes optiques pour lesquels la tache
misphère et l’echantillon pour essai doivent pouvoir
noire se situera en différents endroits du champ opti-
être inclines et l’ouverture aménagée dans cet he-
que du systéme. Pour cela, il faudra prévoir des sec-
misphere doit être mobile.
tions interchangeables de la paroi de la sphére par la
cavité absorbante, selon des angles de champ appro-
La luminance énergétique reelle doit bien entendu
pries.
être la même pour les deux hémisphéres.
4.1.2.1.3 Mbthode de la sphère intbgrante et du
4.1.2.1.2 Méthode des deux hbmisphères
collimateur
Lorsque les distances objet necessaires sont si gran-
Lorsque les distances objet doivent être grandes, on
des que l’utilisation d’une sphére intégrante unique
peut utiliser une autre solution que la méthode des
serait inappropriée, on peut utiliser la configuration il-
deux hémisphéres. Cette methode consiste à utiliser
Iwtree à la figure2.
un hémisphère intégrant avec un collimateur, comme
Cette methode utilise un hémisphére expose a un
illustre à la figure3. Pour les mesures effectuées hors
éclairement énergétique uniforme, situe près de
axe, l’echantillon pour essai doit être incline par rap-
l’echantillon pour essai pour fournir la majeure partie port au centre de sa pupille d’entree.
0 ISO
ISO 9358: 1994(F)
Pi@ge h lumibe
NOTE - Le champ image est hors axe.
Mesure de la lumière parasite diffuse avec un champ objet infini au moyen d’une lentille
Figure 3 -
auxiliaire
Pour toute technique faisant appel à des optiques a notamment éte utilisee avec la cavité rectangulaire
auxiliaires (un collimateur, par exemple), il faut pren-
comme moyen pratique d’explorer rapidement plu-
dre soin de s’assurer que ces optiques auxiliaires sieurs positions differentes du champ. La bande ab-
n’introduisent pas de niveaux significatifs de la lu- sorbante est montee sur un pivot au centre du champ
mière parasite diffuse susceptibles d’alterer I’exacti- optique de manier-e à pouvoir tourner et couvrir la to-
tude des mesures (pour les recommandations talite du champ. Cette configuration peut être utilisee
relatives aux collimateurs, voir l’article 5). conjointement a une rangée de detecteurs dans le
plan image pour mesurer l’indice VGI à différentes
4.1.2.1.4 Méthode de la boîte rectangulaire positions d’image.
exposée à un éclairement énergétique
4.1.2.2 Distance objet finie et surface objet finie
On peut utiliser une cavite intégrante rectangulaire à
(Classe B)
la place d’une sphère intégrante dans la mesure où
elle a ete conçue de maniére a répondre aux spéci-
Pour ce type de mesure, la taille et la forme de la
fications de luminance énergétique donnees dans source étendue sont strictement limitées à la taille et
l’article 5. à la forme du format objet de I’echantillon pour essai.
Une telle configuration est illustree à la figure4. Elle La figure 5 illustre la configuration normale utilisee
presente l’avantage de pouvoir être réalisee avec une
pour mesurer l’indice VGI dans ces conditions.
extremité avant ou arrière mobile permettant de re-
Le champ etendu est un ecran expose à un eclai-
cevoir des objectifs de distances focales différentes.
rement énergétique uniforme et à transmission dif-
Cette forme de cavité intégrante peut être utilisée
fuse dont la taille et la forme sont identiques au
pour effectuer les mesures de l’indice VGI lorsque la
format objet de l’echantillon pour essai. Pour les me-
tache noire est de forme circulaire. Elle convient par- sures de l’indice VGI, la tache noire est une tache
ticuliérement bien pour les mesures de l’indice VGIB
opaque circulaire généralement prévue de manière à
lorsqu’on utilise une tache noire ayant la forme d’une
pouvoir être déplacée a differents endroits du champ
bande absorbante situee en diagonale sur l’intégralité
optique. Pour les mesures de l’indice VGIB, c’est une
du champ optique du système. Une telle configuration
bande diagonale opaque noire qui est utilisee.
Élement péripherique
Objectif d’essai
Cavite absorbante
Tache noire
A-Partie mobile h l’avant
Schéma d’une source de rayonnement du type B boîte rectangulaire
Figure 4 -
Source etendue
/-
Photomultiplicateur Photomultiplicateur
. .
L L
Systeme Systeme detecteur detecteur
Systeme Systeme optique optique en en essai essai
Ecran Ecran dit dit f f useur useur
Figure 5 - Appareillage de mesure de la lumière parasite diffuse B une distance objet finie
ISO 9358: 1994(F)
43 ISO
4.1.2.3 Plan objet inaccessible (Classe C)
miére parasite diffuse qu’il introduit soit négligeable
(voir article 5).
Lorsque le plan objet est inaccessible (et la taille de
la surface objet est limitée) il devient généralement Lorsque le plan image est inaccessible, on peut utili-
necessaire de projeter la source étendue et la tache ser une lentille relais pour transférer le plan image sur
un plan où il est possible d’effectuer les mesures. Là
noire dans le plan objet au moyen d’optiques auxiliai-
encore, il importe que la lentille relais introduise une
res. La configuration de l’appareillage peut être simi-
lumiere parasite diffuse négligeable mais si cela n’est
laire a celle décrite en 4.1.2.2 pour les systèmes de
la classification B avec, en plus, un systeme à objectif pas possible, il peut s’averer necessaire de mesurer
sa lumière parasite diffuse et d’effectuer une correc-
de projection.
tion.
La lumiere parasite diffuse introduit par les optiques
auxiliaires doit être maintenu aussi faible que possible.
4.2 Fonction de diffusion de la lumière
II sera en tout cas nécessaire d’effectuer une correc-
parasite diffuse
tion tenant compte de toute lumiere parasite resi-
duelle en soustrayant sa valeur mesuree de la mesure
totale de la lumiére parasite diffuse. 4.2.1 Technique g6n6rale
La figure 6 illustre schématiquement une configu-
4.1.3 Système détecteur
ration type de mesure de la fonction GSF ou de la
Le système détecteur comprend normalement une fonction GSFR d’une lentille opérant avec un conju-
ouverture circulaire de mesure, un porte-filtre et le gue objet infini.
détecteur lui-même. La sensibilité polaire du système
Une petite source circulaire de luminance énergétique
detecteur doit être uniforme pour la plage angulaire
uniforme est placée au foyer d’un collimateur dont il
dans laquelle il doit recevoir le rayonnement. Pour
eclaire uniformément l’ouverture. L’échantillon pour
cela, il peut s’avérer nécessaire d’intégrer des Rle-
essai est monte dans le faisceau issu du collimateur
ments suplémentaires entre l’ouverture et le détec-
de telle sorte qu’il soit possible de le faire tourner
teur, un diffuseur et/ou des condenseurs optiques,
pour varier la position angulaire de la source dans son
par exemple.
champ optique alors qu’en même temps l’ouverture
Dans certaines applications, les réflexions provenant
d’entree de l’echantillon pour essai reste entièrement
de la surface normalement dans le plan image de
éclairee. Des moyens adaptes (par exemple des
l’échantillon pour essai (le film, dans le cas des ob- baffles ou diaphragmes) sont necessaires pour em-
jectifs photographiques, par exemple) peuvent avoir pêcher que le detecteur mesure tout rayonnement qui
une incidence importante sur la lumiere parasite dif-
traverserait le système en essai. La répartition de
fuse du système. Pour simuler cet effet, il peut être
l’eclairement énergétique dans le plan image de la
necessaire de faire en sorte que la surface externe
lentille est mesuree par le systéme detecteur qui se
du système detecteur (c’est-à-dire la surface entou- compose normalement d’une petite ouverture, de fil-
rant l’ouverture de mesure) ait la même superficie et tres destines à ajuster la répartition spectrale de la
les mêmes caractéristiques que la surface nor- source et d’un detecteur photoélectrique. Le systéme
malement présente dans le plan image de I’echan- detecteur est monte de sorte qu’il puisse être posi-
tillon pour essai. Des considérations similaires
tionne n’importe où dans le champ image de I’échan-
s’appliquent a toutes structures mécaniques dans
tillon pour essai.
cette zone (par exemple le boîtier de l’appareil de
Une prescription particulière des mesures de la fonc-
prise de vues dans le cas d’un objectif photographi-
tion GSF est que le système detecteur doit couvrir
que). II peut être nécessaire de simuler ces dernières
une tres large gamme dynamique d’eclairements
ou d’utiliser des structures réelles afin d’obtenir une
énergétiques. D’une maniere générale, cette valeur
mesure juste de la lumière parasite diffuse d’un sys-
peut être de 1 O4 à 1 O6 ou plus, selon le type de lentille
tème complet.
ou de systéme à essayer. Pou
...
제목: ISO 9358:1994 - 광학 및 광학 기기 - 영상 형성 시스템의 가리개 섬광 - 정의 및 측정 방법 내용: 이 기준은 광학 및 전자광학 영상 시스템의 가리개 섬광 특성을 측정하기 위해 가리개 섬광 지수 (VGI)와 가리개 섬광 확산 함수 (GSF) 두 가지 측정 방법을 채택하고 있다. 실험실 측정 기법에 대한 일반적인 설명과 장비의 주요 하위 단위의 성능에 대한 권고사항이 제시되었다. 이 기준에서는 주로 시각 스펙트럼 범위에 적용되는 측정 기법에 관한 내용을 다루고 있다. 또한 측정 장비를 정확하게 운용하여 정확한 결과를 얻기 위한 가이드라인도 제공하고 있다.
記事のタイトル：ISO 9358:1994 - 光学と光学機器-画像形成システムの光芒遮蔽現象-定義と測定方法 記事の内容：ISO 9358:1994は、光学および電子光学イメージングシステムの光芒遮蔽特性を測定するために光芒遮蔽指数（VGI）および光芒拡散関数（GSF）の2つの指標を採用しています。一般的な実験室での測定手法について概説し、機器の主要なサブユニットの性能に関する推奨事項も提供しています。本基準で説明されている手法は、主に視覚スペクトル範囲に適用されます。また、正確な測定結果を得るために測定機器を適切に操作するためのガイドラインも示されています。
제목: ISO 9358:1994 - 광학 및 광학 기기 - 이미지 형성 시스템의 가림 빛 - 정의 및 측정 방법 내용: ISO 9358:1994는 광학 및 전기 광학 이미징 시스템의 가림 빛 특성을 측정하는 방법으로서, 가림 빛 지수(VGI)와 가림 빛 분산 함수(GSF)를 사용한다. 실험실 측정 기술에 대한 일반적인 설명과 장비의 주요 하위 단위 성능에 대한 권고 사항이 제시된다. 설명된 측정 기술은 주로 시각적인 스펙트럼 범위에 적용된다. 또한 정확한 결과를 얻기 위해 측정 장비의 운용에 대한 지침도 제공된다.
ISO 9358:1994 is a standard that discusses the measurement of veiling glare in optical and electrooptical imaging systems. It introduces two measures, the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF), to assess the veiling glare characteristics. The article provides general descriptions of laboratory measurement techniques and suggests recommendations for the performance of equipment subunits. The techniques outlined in the standard are primarily applicable to the visual spectral range. Additionally, guidelines are given to ensure accurate measurement results by properly operating the measuring equipment.
기사 제목 : ISO 9358:1994 - 광학 및 광학 기기 - 영상 형성 시스템의 향샹 빛 - 정의와 측정 방법 기사 내용 : ISO 9358:1994는 광학 및 전자 광학 영상 시스템의 향샹 빛 특성을 측정하기 위한 표준으로서, 향샹 빛 지수(VGI)와 빛 확산 함수(GSF)를 측정 기준으로 채택합니다. 실험실 측정 기술은 일반적인 용어로 설명되며, 장비의 주요 하위 단위의 성능에 대한 권고사항이 제시됩니다. 설명된 측정 기술은 주로 시각적 스펙트럼 범위에 적용됩니다. 또한 정확한 결과를 도출하기 위해 측정 장비의 운용에 대한 지침도 제공됩니다.
The article discusses ISO 9358:1994, which is a standard for measuring veiling glare in optical and electrooptical imaging systems. It adopts the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of veiling glare characteristics. The article provides general descriptions of laboratory measurement techniques and recommendations for equipment performance. The measurement techniques described are mainly applicable to the visual spectral range. It also offers guidelines for operating the measuring equipment to ensure accurate results.
The article discusses ISO 9358:1994, which is a standard for measuring veiling glare in optical and electrooptical imaging systems. It adopts the use of both the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of veiling glare. The article provides general descriptions of laboratory measurement techniques and recommendations for the equipment used. It also offers guidelines for operating the measuring equipment to obtain accurate results. The techniques described are mainly applicable to the visual spectral range.
記事のタイトル：ISO 9358:1994 - 光学と光学機器-画像形成システムの蔭乱の定義と測定方法 記事内容：ISO 9358:1994は、光学および電子光学イメージングシステムの蔭乱特性を測定するための標準です。蔭乱乱数（VGI）と蔭乱拡散関数（GSF）を測定手法の指標として採用しています。一般的な用語で実験室での測定技術を説明し、装置の主要な部分の性能に関する推奨事項も提供しています。説明された測定技術は主に視覚スペクトル範囲に適用されます。また、正確な結果を得るための計測装置の操作ガイドラインも示しています。
The article discusses ISO 9358:1994, which focuses on veiling glare in image forming systems. It adopts the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of veiling glare characteristics. The article provides general descriptions of laboratory measurement techniques and recommendations for equipment performance. The guidelines also ensure accurate results from the measuring equipment. The techniques described are mainly applicable to the visual spectral range.
記事タイトル: ISO 9358:1994 - 光学および光学機器 - 画像形成システムの乱反射光 - 定義と測定方法 記事内容: ISO 9358:1994は、光学および電子光学の画像形成システムの乱反射光特性を測定するための規格です。乱反射光指数（VGI）と乱反射光の拡散関数（GSF）の両方を使用します。一般的な実験室での測定技術の説明と、装置の主要なサブユニットの性能に関する推奨事項が記載されています。説明された測定技術は主に視覚スペクトル範囲に適用されます。また、正確な結果を得るための測定装置の操作に関するガイドラインも提供されています。
기사 제목: ISO 9358:1994 - 광학 및 광학 기기 - 이미지 형성 시스템의 빛의 어둡기 - 정의와 측정 방법 기사 내용: 이 기사는 광학 및 전자 광학 이미징 시스템의 빛의 어둡기 특성을 측정하기 위해 빛의 어둡기 지수(VGI)와 빛의 분산 함수(GSF)를 도입하는 ISO 9358:1994를 다룹니다. 실험실에서의 측정 기술은 일반적인 용어로 설명되고 장비의 주요 부분의 성능에 대한 권고사항이 제시됩니다. 설명된 측정 기술은 주로 시각적 범위에 적용됩니다. 또한 정확한 결과를 얻을 수 있도록 측정 장비의 작동 지침도 제공됩니다.
記事のタイトル： ISO 9358:1994 - 光学と光学機器−画像形成システムの光の乱れ−定義と測定方法 記事内容：ISO 9358:1994は、光学および電子光学イメージングシステムの光の乱れ特性を測定するために、乱れ指数（VGI）と乱れ拡散関数（GSF）を採用しています。一般的なラボの測定技術の説明と、装置の主要なサブユニットの性能に関する推奨事項が記載されています。説明された測定技術は主に視覚的なスペクトル範囲に適用されます。また、正確な結果を得るための測定装置の操作ガイドラインも提供されています。
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