IEC 62129:2006

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-01
Etalonnage des analyseurs de spectre optique
Calibration of optical spectrum analyzers

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62129:2006
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

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exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
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par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-01
Etalonnage des analyseurs de spectre optique
Calibration of optical spectrum analyzers

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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
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– 2 – 62129  CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6

1 Domaine d'application.10

2 Références normatives .10

3 Termes et définitions .12

4 Exigences d’étalonnage d’essai .20

4.1 Préparation.20

4.2 Conditions de référence pour les essais.20
4.3 Traçabilité .20
5 Essai de résolution spectrale .22
5.1 Vue d’ensemble.22
5.2 Essai de la résolution spectrale.22
6 Etalonnage du niveau affiché de puissance .26
6.1 Vue d’ensemble.26
6.2 Etalonnage du niveau affiché de puissance (DPL) dans les conditions de
référence.28
6.3 Etalonnage du niveau affiché de puissance (DPL) pour des conditions de
fonctionnement.32
6.4 Calcul de l’incertitude étendue du niveau affiché de puissance.42
7 Etalonnage de la longueur d’onde .44
7.1 Vue d’ensemble.44
7.2 Etalonnage de la longueur d’onde dans les conditions de référence .46
7.3 Etalonnage de la longueur d’onde pour des conditions de fonctionnement .48
7.4 Calcul de l’incertitude étendue en longueur d’onde.52
8 Documents .54
8.1 Données de mesure et incertitude.54
8.2 Conditions de mesure .54

Annexe A (normative) Bases mathématiques pour le calcul de l’incertitude

d’étalonnage .56
Annexe B (informative) Exemples de calcul de l’incertitude d’étalonnage .64
Annexe C (informative) En utilisant les résultats de l’étalonnage.80
Annexe D (informative) Références de longueur d’onde.90

Annexe E (informative) Lecture et références supplémentaires pour l’étalonnage de
l’échelle de longueur d’onde . 100

Figure 1 – Montage utilisant un laser à gaz dont la longueur d’onde est connue .22
Figure 2 – Montage utilisant une source à large bande avec un dispositif de
transmission .22
Figure 3 – Montage utilisant une diode laser avec une longueur d’onde inconnue.24
Figure 4 – Montage pour l’étalonnage du niveau affiché de puissance dans les
conditions de référence .28
Figure 5 – Configuration d’essai pour déterminer la dépendance en longueur d’onde de
l’incertitude du niveau affiché de la puissance .32
Figure 6 – Configuration d’essai pour déterminer la dépendance en polarisation de
l’incertitude du niveau affiché de la puissance .36

62129  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7

1 Scope.11

2 Normative references.11

3 Terms and definitions .13

4 Calibration test requirements .21

4.1 Preparation.21

4.2 Reference test conditions .21
4.3 Traceability.21
5 Resolution bandwidth (spectral resolution) test.23
5.1 Overview .23
5.2 Resolution bandwidth (spectral resolution) test.23
6 Displayed power level calibration .27
6.1 Overview .27
6.2 Displayed power level (DPL) calibration under reference conditions.29
6.3 Displayed power level (DPL) calibration for operating conditions .33
6.4 Calculation of expanded uncertainty in displayed power level .43
7 Wavelength calibration.45
7.1 Overview .45
7.2 Wavelength calibration under reference conditions.47
7.3 Wavelength calibration for operating conditions.49
7.4 Calculation of expanded uncertainty in wavelength.53
8 Documentation .55
8.1 Measurement data and uncertainty .55
8.2 Measurement conditions .55

Annex A (normative) Mathematical basis for calculation of calibration uncertainty .57
Annex B (informative) Examples of calculation of calibration uncertainty.65
Annex C (informative) Using the calibration results .81
Annex D (informative) Wavelength references .91
Annex E (informative) Further reading and references for calibration of wavelength scale . 101

Figure 1 – Setup using a gas laser whose wavelength is known .23
Figure 2 – Setup using a broadband source with a transmission device.23
Figure 3 – Setup using an LD with an unknown wavelength.25
Figure 4 – Setup for calibration of displayed power level under reference conditions .29
Figure 5 – Test configuration for determining the wavelength dependence of displayed
power level uncertainty.33

– 4 – 62129  CEI:2006
Figure 7 – Configuration pour tester l’erreur de linéarité de l’incertitude du niveau

affiché de puissance .38

Figure 8 – Configuration d’essai pour déterminer la dépendance en température de

l’incertitude du niveau affiché de la puissance .40

Figure 9 – La configuration d’essai pour déterminer la dépendance en température de

l’incertitude en longueur d’onde.52

Figure A.1 – Ecart et incertitude de type B, et comment remplacer chacune avec une
incertitude de largeur plus grande de manière appropriée.58

Figure C.1 – Etalonnage de l’échelle de la longueur d’onde de l’OSA en utilisant des
raies d’émission de krypton Intervalles de confiance de 95 % montrés.88

Figure D.1 – Absorption de la lumière d’une DEL par l’acétylène ( C H ) .94
2 2
13 14
Figure D.2 – Absorption de la lumière d’une DEL par l'acide cyanhydrique (H C N) .96

Tableau 1 – Sources de lumière recommandées.24
Tableau C.1 – Résultats de l’étalonnage de l’OSA .86
Tableau C.2 – Résumé des paramètres d’étalonnage de l’OSA.88
Tableau D.1 – Longueurs d’onde dans le vide (nm) des raies laser à gaz sélectionnées.90
Tableau D.2 – Longueurs d’onde dans le vide (nm) des raies de référence de gaz rares .90
Tableau D.3 – Longueurs d’onde dans le vide (nm) pour les raies d’absorptions de la
bande ν +ν de l’acétylène C H [11] .92
1 3 2 2
Tableau D.4 – Longueurs d’onde dans le vide (nm) pour les raies d’absorptions de la
bande ν +ν de l’acétylène C H [11] .94
1 3 2 2
Table D.5 – Longueurs d’onde dans le vide (nm) pour les raies d’absorptions de l'acide
13 14
cyanhydrique (H C N) sélectionnée [12].96

62129  IEC:2006 – 5 –
Figure 6 – Test configuration for determining the polarization dependence of displayed

power level uncertainty.37

Figure 7 – Configuration for testing linearity error of displayed power level uncertainty.39

Figure 8 – Test configuration for determining the temperature dependence of displayed
power level uncertainty.41

Figure 9 – Test configuration for determining the temperature dependence of
wavelength uncertainty.53

Figure A.1 – Deviation and uncertainty type B, and how to replace both with an

appropriately larger uncertainty .59

95 % confidence intervals shown.89

Figure C.1 – Calibration of OSA wavelength scale using krypton emission lines .89
Figure D.1 – Absorption of LED light by acetylene ( C H ) .95
2 2
13 14
Figure D.2 – Absorption of LED light by hydrogen cyanide (H C N).97

Table 1 – Recommended light sources .25
Table C.1 – OSA calibration results .87
Table C.2 – Summary of OSA calibration parameters .89
Table D.1 – Vacuum wavelengths (nm) of selected gas laser lines.91
Table D.2 – Vacuum wavelengths (nm) of noble gas reference lines .91
Table D.3 – Vacuum wavelengths (nm) for the ν +ν band of acetylene C H
1 3 2 2
absorption lines [11].93
Table D.4 – Vacuum wavelengths (nm) for the ν +ν band of acetylene C H
1 3 2 2
absorption lines [11].95
13 14
Table D.5 – Vacuum wavelengths (nm) of selected hydrogen cyanide (H C N)
absorption lines [12].97

– 6 – 62129  CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHINIQUE INTERNATIONALE

____________
ÉTALONNAGE DES ANALYSEURS DE SPECTRE OPTIQUE

AVANT-PROPOS
1) La Commission Électrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée

de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de

favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,

des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme tels par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toute divergence entre toute Publication de la CEI et toute publication nationale ou
régionale correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est indispensable pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 62129 a été établie par le Comité d’Etudes 86: Fibres optiques.
La CEI 62129 annule et remplace la CEI/PAS 62129 et constitue une révision technique.

Le texte de la présente norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
86/245/FDIS 86/250/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de la présente Norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.

62129  IEC:2006 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
CALIBRATION OF OPTICAL SPECTRUM ANALYZERS

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising

all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote

international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,

Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 62129 has been prepared by IEC technical committee 86: Fibre
optics.
IEC 62129 cancels and replaces IEC/PAS 62129, published in 2004, and constitutes a
technical revision.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
86/245/FDIS 86/250/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.

– 8 – 62129  CEI:2006
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les données

relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera

• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
62129  IEC:2006 – 9 –
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until the
maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in the data

related to the specific publication. At this date, the publication will be

• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or

• amended.
– 10 – 62129  CEI:2006
ÉTALONNAGE DES ANALYSEURS DE SPECTRE OPTIQUE

1 Domaine d'application
La présente Norme internationale fournit des procédures pour étalonner un analyseur de

spectre optique destiné à mesurer la distribution en puissance d’un spectre optique. Cet

analyseur est équipé d’un port d’entrée à utiliser avec un connecteur à fibres optiques.

Un analyseur de spectre optique est équipé des caractéristiques minimales suivantes:
a) la capacité de visualiser à l’écran un spectre optique en fonction de longueurs d’onde
absolues;
b) un marqueur/curseur qui affiche la puissance optique et la longueur d’onde d’un point sur la
visualisation de spectre.
NOTE La présente norme s’applique aux analyseurs de spectre optique développés pour être utilisés dans les
communications par fibres optiques et elle est limitée aux équipements pouvant mesurer directement la sortie de
spectre optique à partir d’une fibre optique, lorsque celle-ci est connectée au port d’entrée installé dans l’analyseur
de spectre optique, au travers d’un connecteur de fibre optique.
En plus, un analyseur de spectre optique peut mesurer la distribution spectrale de puissance
en fonction des longueurs d’onde absolues de la lumière testée et afficher les résultats de
telles mesures. Il n’inclura pas d’appareil de mesure de la longueur d’onde optique mesurant
uniquement les longueurs centrales, un interféromètre Fabry-Perot ou un monochromateur ne
possédant pas d’unité d’affichage.
Les procédures décrites dans la présente norme sont considérées comme destinées à être
effectuées principalement par des utilisateurs des analyseurs de spectre optique. Le document
n’inclut donc pas les corrections utilisant les résultats de l’étalonnage dans le corps principal.
Les procédures de correction sont décrites dans l'Annexe C. La présente norme sera à
l’évidence utile aux laboratoires d’étalonnage et aux fabricants d’analyseurs de spectre
optique.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60050-731, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 731: Télécom-
munications par fibres optiques
CEI 60359, Appareils de mesures électriques et électroniques – Expression des performances
CEI 60793-1 (toutes les parties), Fibres optiques – Partie 1: Méthodes de mesure et
procédures d’essai
CEI 60825-1, Sécurité des appareils à laser – Partie 1: Classification des matériels,
prescriptions et guide de l'utilisateur
CEI 60825-2, Sécurité des appareils à laser – Partie 2: Sécurité des systèmes de
communication par fibres optiques
CEI 61290-3-1, Amplificateurs optiques – Méthodes d’essai – Partie 3-1: Paramètres du facteur
de bruit –Méthode d'analyseur de spectre optique

62129  IEC:2006 – 11 –
CALIBRATION OF OPTICAL SPECTRUM ANALYZERS

1 Scope
This International Standard provides procedures for calibrating an optical spectrum analyzer

designed to measure the power distribution of an optical spectrum. This analyzer is equipped

with an input port for use with a fibre-optic connector.

An optical spectrum analyzer is equipped with the following minimum features:

a) the ability to present a display of an optical spectrum with respect to absolute wavelength;
b) a marker/cursor that displays the optical power and wavelength at a point on the spectrum
display.
NOTE This standard applies to optical spectrum analyzers developed for use in fibre-optic communications, and is
limited to equipment that can directly measure the optical spectrum output from an optical fibre, where the optical
fibre is connected to an input port installed in the optical spectrum analyzer through a fibre-optic connector.
In addition, an optical spectrum analyzer can measure the spectral power distribution with
respect to the absolute wavelength of the tested light and display the results of such measure-
ments. It will not include an optical wavelength meter that measures only centre wavelengths, a
Fabry-Perot interferometer or a monochromator that has no display unit.
The procedures outlined in this standard are considered to be mainly performed by users of
optical spectrum analyzers. The document, therefore, does not include correction using the
calibration results in the main body. The correction procedures are described in Annex C.
Of course, this standard will be useful in calibration laboratories and for manufacturers of
optical spectrum analyzers.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For
dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of
the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60050-731, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 731: Optical fibre
communication
IEC 60359, Electrical and electronic measurement equipment – Expression of performance
IEC 60793-1 (all parts), Optical fibres – Part 1: Measurement methods and test procedures

IEC 60825-1, Safety of laser products – Part 1: Equipment classification, requirements and
user's guide
IEC 60825-2, Safety of laser products – Part 2: Safety of optical fibre communication systems
IEC 61290-3-1, Optical amplifiers – Test methods – Part 3-1: Noise figure parameters – Optical
spectrum analyzer method
– 12 – 62129  CEI:2006
BIPM, CEI, FICC, ISO, UICPA, UIPPA, et OIML:1993, Vocabulaire international des termes
fondamentaux et généraux de métrologie

BIPM, CEI, FICC, ISO, UICPA, UIPPA, et OIML, Guide pour l’expression de l’incertitude de

mesure (GUM)
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions contenus dans la CEI 60050-

731 ainsi que ceux qui suivent s'appliquent.

3.1
étalonnage
ensemble des opérations qui établissent, dans des conditions spécifiées, la relation entre les
valeurs indiquées par l’instrument de mesure et les valeurs connues correspondantes de cette
quantité (voir aussi VIM, définition 6.11)
3.2
étalonnage dans les conditions de référence
étalonnage qui inclut l’évaluation de l’incertitude d’essai de l’analyseur dans les conditions de
référence (3.17)
3.3
étalonnage pour les conditions de fonctionnement
étalonnage pour les conditions de fonctionnement d’un analyseur de spectre optique (3.16)
incluant l’étalonnage de l’incertitude d’essai fonctionnel de l’analyseur
3.4
longueur d’onde centrale
λ
centrale
longueur d’onde moyenne pondérée en puissance dans le vide d’une source de lumière,
exprimée en nanomètre (nm)
Pour un spectre continu, la longueur d’onde centrale est définie par:
λ = (1 / P ) ρ(λ) λ dλ (1)
centrale totale
∫
Pour un spectre constitué de modes discrets, la longueur d’onde centrale est définie par:
λ = Pλ / P (2)
centrale ∑ i i ∑ i
ii
où
ρ(λ) est la densité spectrale de puissance de la source, par exemple exprimée en W/nm;
e
λ est la i longueur d’onde discret;
i
P est la puissance à λ , par exemple, exprimée en watts;
i i
P est ΣP = puissance totale, par exemple, exprimée en watts.
totale i
NOTE Les intégrales et les sommes ci-dessus s’étendent théoriquement sur le spectre entier de la source de
lumière.
3.5
niveau de confiance
estimation de la probabilité que la valeur réelle d’un paramètre mesuré se trouve dans la plage
donnée (voir incertitude étendue (3.11))

62129  IEC:2006 – 13 –
BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, and OIML:1993, International vocabulary of basic terms
in metrology (VIM)
BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, and OIML, Guide to the expression of uncertainty in

measurement (GUM)
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions contained in IEC 60050-731 and
the following terms and definitions apply.

3.1
calibration
set of operations which establishes, under specified conditions, the relationship between the
values indicated by the measuring instrument and the corresponding known values of that
quantity (see also VIM, definition 6.11)
3.2
calibration under reference conditions
calibration which includes the evaluation of the test analyzer uncertainty under reference
conditions (3.17)
3.3
calibration for operating conditions
the calibration for operating conditions of an optical spectrum analyzer (3.16) including the
evaluation of the test analyzer operational uncertainty
3.4
centre wavelength
λ
centre
the power-weighted mean wavelength of a light source in a vacuum, in nanometers (nm)
For a continuous spectrum the centre wavelength is defined as:
∫
λcentre = (1 / Ptotal ) ρ(λ) λ dλ (1)
For a spectrum consisting of discrete lines, the centre wavelength is defined as:
λ = Pλ / P (2)
centre ∑ i i ∑ i
ii
where
ρ(λ) is the power spectral density of the source, for example in W/nm;

th
λ is the i discrete wavelength;
i
P is the power at λ , for example, in watts;
i i
P is ΣP = total power, for example, in watts.
total i
NOTE The above integrals and summations theoretically extend over the entire spectrum of the light source.
3.5
confidence level
an estimation of the probability that the true value of a measured parameter lies in the given
range (see expanded uncertainty (3.11))

– 14 – 62129  CEI:2006
3.6
facteur de couverture
k
facteur utilisé pour calculer l’incertitude étendue U (3.11) à partir de l’incertitude type σ

(3.21), (voir 3.11)
3.7
niveau affiché de puissance
DPL
niveau de puissance indiqué par un analyseur de spectre optique (3.16) soumis à un

étalonnage (3.1) à une résolution spécifiée de longueur d’onde réglée

NOTE Avec un analyseur de spectre optique, le niveau de puissance pour une résolution donnée est mesuré et
visualisé.
3.8
écart du niveau affiché de puissance
∆P
différence entre le niveau affiché de la puissance mesurée par l’analyseur d’essai, P , et la
OSA
puissance de référence correspondante, P , le tout divisé par la puissance de référence
ref
∆P = (P – P ) / P = P / P –1 (3)
OSA ref ref OSA ref
3.9
incertitude affichée du niveau de puissance
σ
∆P
incertitude type (3.21) de l’écart du niveau affiché de puissance
σ = σ(P / P – 1) (4)
∆P OSA ref
NOTE Dans les formules ci-dessus, σ est à soumettre comme l’incertitude type (3.21).
3.10
plage de longueur d’onde affichée
la plage complète de longueur d’onde pour une visualisation d’un analyseur de spectre
optique (3.16) un état particulier de l’instrument (3.12)
3.11
incertitude étendue
U
intervalle de confiance
plage de valeurs dans laquelle le paramètre de mesure, au niveau de confiance indiqué (3.5),
est sensé se trouver. Il est égal au produit du facteur de couverture (3.6), k, par l’incertitude

normalisée combinée σ (3.21).
U = k σ (5)
NOTE Lorsque la distribution des incertitudes est considérée comme normale et qu’un grand nombre de mesures
ont été effectuées, alors les niveaux de confiance (3.5) de 68,3 %, 95,5 % et 99,7 % correspondent,
respectivement, à des valeurs de k de 1, 2 et 3.
Il convient que l’incertitude de mesure d’un analyseur de spectre optique (3.16) soit spécifiée
sous la forme d’une incertitude étendue, U
3.12
mode de l’appareil
description complète des conditions de mesure et de l’état d’un analyseur de spectre optique
(3.16) pendant le processus d’étalonnage
NOTE Les paramètres typiques de l’état de l’instrument sont la plage de longueur d’onde affichée (3.10) en
utilisation, la résolution spectrale (3.18), le mode d’affichage (watt or dBm), le temps de pré-chauffage et les
autres réglages de l’instrument.

62129  IEC:2006 – 15 –
3.6
coverage factor
k
the coverage factor, k, is used to calculate the expanded uncertainty (3.11) U from the

standard uncertainty (3.21), σ (see 3.11)

3.7
displayed power level
DPL
the power level indicated by an optical spectrum analyzer (3.16) undergoing calibration (3.1)

at a specified wavelength resolution setting

NOTE With an optical spectrum analyzer, the power level for a set resolution is measured and displayed.
3.8
displayed power level deviation
∆P
the difference between the displayed power level measured by the test analyzer, P , and the
OSA
corresponding reference power, P , divided by the reference power
ref
∆P = (P – P ) / P = P / P –1 (3)
OSA ref ref OSA ref
3.9
displayed power level uncertainty
σ
∆P
the standard uncertainty (3.21) of the displayed power level deviation
= σ(P / P – 1) (4)
σ
∆P OSA ref
NOTE In the above formula, σ is to be understood as the standard uncertainty (3.21).
3.10
displayed wavelength range
the complete wavelength range shown in an optical spectrum analyzer (3.16) display for a
particular instrument state (3.12)
3.11
expanded uncertainty
U
confidence interval
the expanded uncertainty, U, is the range of values within which the measurement parameter,
at the stated confidence level (3.5), can be expected to lie. It is equal to the coverage factor
(3.6), k, times the combined standard uncertainty (3.21) σ:

U = k σ (5)
NOTE When the distribution of uncertainties is assumed to be normal and a large number of measurements are
made, then confidence levels (3.5) of 68,3 %, 95,5 % and 99,7 % correspond to k values of 1, 2 and 3 respectively.
The measurement uncertainty of an optical spectrum analyzer (3.16) should be specified in
the form of expanded uncertainty, U.
3.12
instrument state
a complete description of the measurement conditions and state of an optical spectrum
analyzer (3.16) during the calibration process
NOTE Typical parameters of the instrument state are the displayed wavelength range (3.10) in use, the
resolution bandwidth (spectral resolution) (3.18), the display mode (watt or dBm), warm-up time and other
instrument settings.
– 16 – 62129  CEI:2006
3.13
résultat de mesure
sortie affichée ou électrique de tout analyseur de spectre optique (3.16) en longueur d’onde,

exprimée en nm ou en µm, et en niveau de puissance, exprimé en mW ou en dBm, après

toutes les opérations suggérées par les instructions d’utilisation, par exemple le pré-chauffage

3.14
plage de mesure de longueur d’onde

la plage de longueur d’onde de la lumière injectée sur laquelle une performance de

l’analyseur de spectre optique (3.16) est spécifiée

3.15
conditions de fonctionnement
toutes les conditions des qualités de mesure et d’influence, et autres exigences importantes
que l’incertitude étendue (3.11) d’un analyseur de spectre optique (3.16) est destinée à
satisfaire
[VIM, définition 5.5, modifiée]
3.16
analyseur du spectre optique
OSA
instrument optique pour mesurer la distribution de puissance d’un spectre en fonction de la
longueur d’onde (fréquence)
NOTE Un OSA est équipé d’un port d’entrée à utiliser avec un connecteur à fibres optiques et le spectre est
obtenu à partir de la lumière injectée à l’intérieur du port d’entrée; l’instrument comporte également une fonction
de visualisation à l’écran.
3.17
conditions de référence
réglage
...