IEC 60947-6-2:1992/AMD1:1997

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
60947-6-2
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
1997-09
Amendement 1
Appareillage à basse tension –
Partie 6:
Matériels à fonctions multiples –
Section 2: Appareils (ou matériel) de connexion
de commande de protection (ACP)
Amendment 1
Low-voltage switchgear and controlgear –
Part 6:
Multiple function equipment –
Section 2: Control and protective switching
devices (or equipment) (CPS)
 IEC 1997 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE Q
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60947-6-2 amend.1  CEI:1997

AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le sous-comité 17B: Appareillage à basse tension, du

comité d'études 17 de la CEI: Appareillage.

Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
17B/813/FDIS 17B/849/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de cet amendement.
__________
Page 2
SOMMAIRE
Ajouter, à la page 4, le titre du nouveau paragraphe suivant:
8.3 Compatibilité électromagnétique (CEM)
Ajouter, à la page 6, les titres des nouveaux paragraphes suivants:
9.3.5 Essais de fonctionnement CEM
9.4.8 Séquence d'essai VIII: CEM
Page 12
2 Références normatives
Ajouter, à la liste existante, les titres des normes suivantes:

CEI 61000-4-1: 1992, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 1: Vue d'ensemble sur les essais d'immunité – Publication fondamentale
en CEM
CEI 61000-4-2: 1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 2: Essai d'immunité aux décharges électrostatiques – Publication
fondamentale en CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
CEI 61000-4-3: 1995,
de mesure – Section 3: Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux
fréquences radioélectriques
CEI 61000-4-4: 1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et
de mesure – Section 4: Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves –
Publication fondamentale en CEM

60947-6-2 Amend.1  IEC:1997 – 3 –

FOREWORD
This amendment has been prepared by the subcommittee 17B: Low-voltage switchgear and

controlgear, of IEC technical committee 17: Switchgear and controlgear.

The text of this amendment is based on the following documents:

FDIS Report on voting
17B/813/FDIS 17B/849/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report of
voting indicated in the above table.
___________
Page 3
CONTENTS
Add, on page 5, the title of the following new subclause:
8.3 Electromagnetic compatibility (EMC)
Add, on page 7, the titles of the following new subclauses:
9.3.5 Performance under EMC tests
9.4.8 Test sequence VIII: EMC
Page 13
2 Normative references
Add, to the existing list, the titles of the following standards:

IEC 61000-4-1:1992, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 1: Overview of immunity tests – Basic EMC publication
IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 2: Electrostatic discharge immunity test – Basic EMC publication
IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
IEC 61000-4-4:1995,
techniques – Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test – Basic EMC publication

– 4 – 60947-6-2 amend.1  CEI:1997

CEI 61000-4-5: 1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et

de mesure – Section 5: Essai d'immunité aux ondes de choc

CEI 61000-4-6: 1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et

de mesure – Section 6: Immunité aux perturbations conduites, induites par des champs à
fréquence radioélectrique
CISPR 11: 1990, Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations

électromagnétiques des appareils industriels, scientifiques et médicaux (ISM) à fréquence

radioélectrique
Page 30
6.1.2 Caractéristiques
Ajouter, à la page 32, après le point u), les deux nouveaux points suivants:
v) Environnement 1 ou 2 (voir 8.3.1).
w) Prescriptions spéciales si applicable, par exemple conducteurs blindés ou torsadés.
NOTE – Des conducteurs non blindés ou non torsadés sont considérés comme des conditions normales
d'installation.
Page 32
6.3 Instructions d'installation, de fonctionnement et d'entretien
Ajouter, après la phrase existante, la nouvelle phrase suivante:
Le constructeur doit fournir des informations pour indiquer à l'utilisateur les mesures à prendre
pour l'ACP s'il y en a concernant la CEM.
Page 40
Déplacer la figure 1 avant l'annexe A, page 94.
Page 58
Ajouter, après 8.2.6, les nouveaux paragraphes suivants:

8.3 Compatibilité électromagnétique (CEM)
8.3.1 Généralités
Le paragraphe 7.3.1 de la partie 1 s'applique avec les compléments suivants:
Les essais au champ magnétique à fréquence industrielle ne sont pas requis étant donné que
ces appareils sont naturellement soumis à de tels champs. L'immunité est prouvée si les
essais de vérification de l'aptitude au fonctionnement en service sont effectués avec succès
(voir 9.3.3.5 et 9.3.3.6).
8.3.2
Immunité
Les résultats des essais sont spécifiés en utilisant les critères de fonctionnement de la
CEI 61000-4-1 tels que cités ci-après:

60947-6-2 Amend.1  IEC:1997 – 5 –

IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement

techniques – Section 5: Surge immunity tests

IEC 61000-4-6:1996 Electromagnetic compatibility (EMC). Part 4: Testing and measurement

techniques – Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

CISPR 11:1990, Limits and methods of measurement of electromagnetic disturbance

characteristics of industrial, scientific and medical (ISM) radio-frequency equipment

Page 31
6.1.2 Characteristics
Add, on page 33, after item u), the following two new items:
v) Environment 1 or 2 (see 8.3.1).
w) Special requirements if applicable, for example shielded or twisted conductors.
NOTE – Unshielded or untwisted conductors are considered as normal installation conditions.
Page 33
6.3 Instructions for installation, operation and maintenance
Add, after the existing sentence, the following new sentence:
Information shall be provided by the manufacturer to advise the user on the measures to be
taken with regard to the CPS, if any, concerning EMC.
Page 41
Move figure 1 before annex A, page 95.
Page 59
Add, after 8.2.6, the following new subclauses:

8.3 Electromagnetic compatibility (EMC)
8.3.1 General
Subclause 7.3.1 of part 1 applies with the following addition:
Power frequency magnetic field tests are not required because such devices are naturally
submitted to such fields. Immunity is demonstrated by the successful completion of the
operating capability tests (see 9.3.3.5 and 9.3.3.6).
8.3.2 Immunity
The test results are specified using the performance criteria of IEC 61000-4-1 as listed below:

– 6 – 60947-6-2 amend.1  CEI:1997

1) Fonctionnement normal dans les limites spécifiées.

2) Dégradation ou perte de fonction ou de fonctionnement temporaire qui est

autorécupérable.
3) Dégradation ou perte de fonction temporaire nécessitant l'intervention d'un opérateur ou
un réarmement du système. Les fonctions normales doivent pouvoir être restaurées par

simple intervention, par exemple par réarmement manuel ou redémarrage. Aucun

composant ne doit être endommagé.

Tableau 16 – Critères d'acceptation spécifiques pour les essais d'immunité

Article Critères d'acceptation

Fonctionnement des circuits Pas de dysfonctionnement Dysfonctionnement Déclenchement du relais
de puissance et de temporaire sans de surcharge; séparation
commande déclenchement; la ou fermeture non
séparation ou la fermeture intentionnelle des contacts
des contacts non
intentionnelle n'est pas
acceptée
Autorécupérable
Fonctionnement des Pas de changement visible Changements temporaires Perte permanente
afficheurs et des circuits de l'information affichée visibles par exemple d'affichage de l'information
auxiliaires illumination de DEL non
intentionnelle
Seulement de légères Pas de dysfonctionnement Dysfonctionnement des
fluctuations de l'intensité des contacts auxiliaires contacts auxiliaires
lumineuse des DEL ou un
léger mouvement des
caractères
8.3.2.1 Matériel ne comprenant pas de circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.2.1 de la partie 1 s'applique.
8.3.2.2 Matériel comprenant des circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.2.2 de la partie 1 s'applique.
Les valeurs d'essai et les procédures sont données en 9.3.5.2.
8.3.3 Emission
8.3.3.1 Matériel ne comprenant pas de circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.3.1 de la partie 1 s'applique.
8.3.3.2 Matériel comprenant des circuits électroniques
Le paragraphe 7.3.3.2 de la partie 1 s'applique.
Les valeurs d'essai et les procédures sont données en 9.3.5.3.

60947-6-2 Amend.1  IEC:1997 – 7 –

1) Normal performance within the specification limits.

2) Temporary degradation or loss of function or performance which is self-recoverable.

3) Temporary degradation or loss of function or performance which requires operator
intervention or system reset. Normal functions shall be restorable by simple intervention, for
example by manual reset or restart. There shall not be any damaged component.

Table 16 – Specific acceptance criteria for immunity tests

Item Acceptance criteria
12 3
Operation of power and No mal-operation Temporary mal-operation Tripping of overload relay;

control circuits which cannot cause unintentional separation or
tripping; unintentional closure of contacts
separation or closure of
contact is not accepted
Self-recoverable
Operation of displays and No change to visible Temporary visible changes Permanent loss of display
auxiliary circuits display information e.g. unwanted LED information
illumination
Only slight light intensity No mal-operation of Mal-operation of auxiliary
fluctuations of LEDs or auxiliary contacts contacts
movement of characters
8.3.2.1 Equipment not incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.2.1 of part 1 applies.
8.3.2.2 Equipment incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.2.2 of part 1 applies.
The test values and procedures are given in 9.3.5.2
8.3.3 Emission
8.3.3.1 Equipment not incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.3.1 of part 1 applies.

8.3.3.2 Equipment incorporating electronic circuits
Subclause 7.3.3.2 of part 1 applies.
The test values and procedures are given in 9.3.5.3.

– 8 – 60947-6-2 amend.1  CEI:1997

Page 74
Ajouter, après 9.3.4.1.8, les nouveaux paragraphes suivants:

9.3.5 Essais CEM
9.3.5.1 Généralités
Les paragraphes 8.3.2.1, 8.3.2.3 et 8.3.2.4 de la partie 1 s'appliquent avec les compléments

suivants:
Avec l'accord du constructeur plus d'un essai CEM ou tous les essais CEM peuvent être
effectués sur un seul et même échantillon, qui peut être neuf ou avoir subi les séquences
d'essai selon 9.3.1. L'ordre des essais CEM est laissé au choix.
Sauf spécification contraire mentionnée dans cette norme ou sauf si cela est spécifié par le
constructeur, les critères de fonctionnement 2 s'appliquent et cela doit être indiqué dans le
rapport d'essai.
Sauf prescription contraire dans le paragraphe correspondant, après les essais, les limites de
fonctionnement de 9.3.3.2 et, s'il convient de 8.2.1.5.1 doivent être vérifiées.
Le rapport d'essai doit inclure toute mesure spéciale prise pour satisfaire à l'essai, par
exemple l'emploi de câbles blindés ou spéciaux. Lorsqu'un matériel auxiliaire est utilisé avec
l'appareil afin de satisfaire aux prescriptions relatives à l'immunité ou l'émission, cela doit être
inclus dans le rapport.
Sauf prescription contraire dans les paragraphes concernés, l'échantillon en essai doit être en
position ouverte ou fermée, en choisissant le cas le moins favorable et doit être mis en
fonctionnement avec l'alimentation assignée de commande.
Selon leur catégorie d'emploi et leur protection contre les surintensités les ACP comprenant
des circuits électroniques doivent être associés dans les groupes d'emploi suivants et essayés
en conséquence:
– Groupe d'emploi A pour les ACP de catégories d'emploi AC-40, AC-41, AC-45a, AC-45b,
DC-40, DC-41, et DC-46, non pourvus de protection électronique contre les surintensités et
pour tous les ACP de catégorie d'emploi AC-42, AC-43, AC-44, DC-43, et DC-45.
– Groupe d'emploi B pour les ACP de catégories d'emploi AC-40, AC-41, AC-45a, AC-45b,
DC-40, DC-41 et DC-46, pourvus de protection électronique contre les surintensités.

9.3.5.2  Immunité
Les essais du tableau 23 de la partie 1 sont requis. Des prescriptions spéciales sont spécifiées
de 9.3.5.2.1 à 9.3.5.2.6. Si, pendant les essais CEM, des conducteurs doivent être raccordés à
l'échantillon en essai, la section et le type de conducteurs sont laissés au choix, mais ils
doivent être en accord avec les instructions du constructeur.
9.3.5.2.1 Décharge électrostatique
L'essai doit être effectué en utilisant les méthodes de la CEI 61000-4-2. Seule la décharge
dans l'air est requise, sauf pour les parties métalliques pour lesquelles la décharge au contact
est effectuée. 10 impulsions positives et 10 impulsions négatives doivent être appliquées à
chacun des points choisis, l'intervalle de temps entre chaque décharge étant de 1 s. Il n'est
pas nécessaire d'essayer les bornes.

60947-6-2 Amend.1  IEC:1997 – 9 –

Page 75
Add, after 9.3.4.1.8, the following new subclauses:

9.3.5 EMC tests
9.3.5.1 General
Subclauses 8.3.2.1, 8.3.2.3 and 8.3.2.4 of part 1 apply with the following additions:

With the agreement of the manufacturer, more than one EMC test or all EMC tests may be

conducted on one and the same sample, which initially may be new, or
...